JPH07153036A - 磁気抵抗効果型磁気ヘッド - Google Patents
磁気抵抗効果型磁気ヘッドInfo
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- JPH07153036A JPH07153036A JP30051593A JP30051593A JPH07153036A JP H07153036 A JPH07153036 A JP H07153036A JP 30051593 A JP30051593 A JP 30051593A JP 30051593 A JP30051593 A JP 30051593A JP H07153036 A JPH07153036 A JP H07153036A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁気的安定性を確保し、磁壁の移動に伴うバ
ルクハウゼンノイズの発生を抑え、再生出力の向上を実
現する。 【構成】 一対のシールド磁性体間に、MR素子5とこ
のMR素子5にバイアス磁界を印加するバイアス磁界印
加部材とを配してなるMRヘッドにおいて、MR素子5
の後端側に、媒体対接面と平行な方向の長さをL、垂直
な方向の幅をWとしたときにL>Wなる関係で、且つ磁
化容易軸をMR素子5の磁化容易軸と同じく媒体対接面
と平行な方向としたフラックスガイド9を設ける。
ルクハウゼンノイズの発生を抑え、再生出力の向上を実
現する。 【構成】 一対のシールド磁性体間に、MR素子5とこ
のMR素子5にバイアス磁界を印加するバイアス磁界印
加部材とを配してなるMRヘッドにおいて、MR素子5
の後端側に、媒体対接面と平行な方向の長さをL、垂直
な方向の幅をWとしたときにL>Wなる関係で、且つ磁
化容易軸をMR素子5の磁化容易軸と同じく媒体対接面
と平行な方向としたフラックスガイド9を設ける。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばハードディスク
に対して記録された情報を読み出すのに好適な磁気抵抗
効果型磁気ヘッドに関する。
に対して記録された情報を読み出すのに好適な磁気抵抗
効果型磁気ヘッドに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、磁気抵抗効果を有するパーマロイ
等の薄膜素子を用いた磁気抵抗効果型磁気ヘッド(以
下、MRヘッドと称する。)の開発が盛んに進められて
いる。
等の薄膜素子を用いた磁気抵抗効果型磁気ヘッド(以
下、MRヘッドと称する。)の開発が盛んに進められて
いる。
【0003】かかるMRヘッドは、磁気記録媒体から漏
れ出る信号磁界によりパーマロイよりなる薄膜素子の抵
抗が変化し、その抵抗変化を検出することによって上記
磁気記録媒体に記録された情報を読み取ることができる
ように構成されている。
れ出る信号磁界によりパーマロイよりなる薄膜素子の抵
抗が変化し、その抵抗変化を検出することによって上記
磁気記録媒体に記録された情報を読み取ることができる
ように構成されている。
【0004】このようなMRヘッドは、通常の電磁誘導
型磁気ヘッドに比べて、短波長感度に優れることから、
狭トラック再生、短波長再生、超低速再生において高い
感度が得られるとされている。
型磁気ヘッドに比べて、短波長感度に優れることから、
狭トラック再生、短波長再生、超低速再生において高い
感度が得られるとされている。
【0005】MRヘッドは、一対のシールド磁性体によ
って挟み込まれた磁気抵抗効果素子(以下、MR素子と
称する。)を有し、そのMR素子にバイアス磁界を印加
するバイアス導体を当該MR素子上に設けた構造とされ
るのが一般的である。
って挟み込まれた磁気抵抗効果素子(以下、MR素子と
称する。)を有し、そのMR素子にバイアス磁界を印加
するバイアス導体を当該MR素子上に設けた構造とされ
るのが一般的である。
【0006】ところで、MR素子の真上にバイアス導体
を設けた場合には、以下のような不都合が生ずる。第1
に、狭ギャップ化に伴う下部シールド磁性体の磁気的影
響からくる不安定性がある。すなわち、MR素子のすぐ
下にシールド磁性体があるとコアの磁区の乱れでMR素
子の磁壁が移動し、それに伴いバルクハウゼンノイズが
発生する。
を設けた場合には、以下のような不都合が生ずる。第1
に、狭ギャップ化に伴う下部シールド磁性体の磁気的影
響からくる不安定性がある。すなわち、MR素子のすぐ
下にシールド磁性体があるとコアの磁区の乱れでMR素
子の磁壁が移動し、それに伴いバルクハウゼンノイズが
発生する。
【0007】第2に、折角MR素子内に入ったバイアス
磁束が下部シールド磁性体に漏れてしまい、バイアス磁
界の不均一さが生じ、結果的に再生波形歪みが起こり線
記録密度の低下につながる。
磁束が下部シールド磁性体に漏れてしまい、バイアス磁
界の不均一さが生じ、結果的に再生波形歪みが起こり線
記録密度の低下につながる。
【0008】そこで、一対のシールド磁性体間に設けら
れたMR素子にバイアス磁界を印加するバイアス磁界印
加用部材を、下層の下部シールド磁性体に溝部を形成
し、その中に埋め込むようにしたものが提案されてい
る。
れたMR素子にバイアス磁界を印加するバイアス磁界印
加用部材を、下層の下部シールド磁性体に溝部を形成
し、その中に埋め込むようにしたものが提案されてい
る。
【0009】このように、バイアス磁界印加用部材を下
部シールド磁性体に形成した溝部に埋め込むようにすれ
ば、先端電極と後端電極とで挟まれるMR素子の感磁部
と、下部シールド磁性体との対向距離が大きくなり、M
R素子に印加されたバイアス磁界がシールド磁性体へ漏
洩しなくなる。その結果、MR素子に印加されるバイア
ス磁界のバイアス分布が均一なものとなり、線形性が良
くなって線記録密度が向上する。
部シールド磁性体に形成した溝部に埋め込むようにすれ
ば、先端電極と後端電極とで挟まれるMR素子の感磁部
と、下部シールド磁性体との対向距離が大きくなり、M
R素子に印加されたバイアス磁界がシールド磁性体へ漏
洩しなくなる。その結果、MR素子に印加されるバイア
ス磁界のバイアス分布が均一なものとなり、線形性が良
くなって線記録密度が向上する。
【0010】ところが、下部シールド磁性体に溝部を形
成すると、MR素子の磁気抵抗が上がり、実質的にMR
素子に入り込む磁束が減少する。かかる磁気抵抗による
信号磁界の減少は、直に再生出力の低下につながり、線
記録密度の向上の妨げとなる。
成すると、MR素子の磁気抵抗が上がり、実質的にMR
素子に入り込む磁束が減少する。かかる磁気抵抗による
信号磁界の減少は、直に再生出力の低下につながり、線
記録密度の向上の妨げとなる。
【0011】そこでさらに、従来においては、図8に示
すように、磁気記録媒体との対接面とは反対側のMR素
子101の後端側に磁性材料よりなるフラックスガイド
102を形成し、このフラックスガイド102によって
媒体対接面側よりMR素子101に入った信号磁束を後
端側へと引き込むようにしたものが提案されている。
すように、磁気記録媒体との対接面とは反対側のMR素
子101の後端側に磁性材料よりなるフラックスガイド
102を形成し、このフラックスガイド102によって
媒体対接面側よりMR素子101に入った信号磁束を後
端側へと引き込むようにしたものが提案されている。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記フラッ
クスガイド102は、平面略長方形状とされた横長形状
とされ、その長手方向をMR素子101の長手方向(信
号磁束の引き込み方向)と同一方向として設けられてい
るため、当該フラックスガイド102の磁化容易軸が信
号磁束の引き込み方向と同一方向となり易い。
クスガイド102は、平面略長方形状とされた横長形状
とされ、その長手方向をMR素子101の長手方向(信
号磁束の引き込み方向)と同一方向として設けられてい
るため、当該フラックスガイド102の磁化容易軸が信
号磁束の引き込み方向と同一方向となり易い。
【0013】このため、MR素子101に流れるセンス
電流によってフラックスガイド102には図8に示すよ
うな磁区の移動が生じ、この影響でその下に設けられる
MR素子101の磁区も誘起されてバルクハウゼンノイ
ズが発生する。
電流によってフラックスガイド102には図8に示すよ
うな磁区の移動が生じ、この影響でその下に設けられる
MR素子101の磁区も誘起されてバルクハウゼンノイ
ズが発生する。
【0014】そこで本発明は、上述の従来の有する技術
的な課題に鑑みて提案されたものであって、磁気的安定
性を確保し、磁壁の移動に伴うバルクハウゼンノイズの
発生を抑え、再生出力の向上を実現し得る磁気抵抗効果
型磁気ヘッドを提供することを目的とする。
的な課題に鑑みて提案されたものであって、磁気的安定
性を確保し、磁壁の移動に伴うバルクハウゼンノイズの
発生を抑え、再生出力の向上を実現し得る磁気抵抗効果
型磁気ヘッドを提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明は、磁気記録媒体
との対接面に対して長手方向が垂直となるように配され
る磁気抵抗効果素子と、上記磁気記録媒体との対接面に
臨み、磁気抵抗効果素子の先端側に積層される先端電極
と、上記磁気抵抗効果素子の後端側に積層される後端電
極と、上記先端電極と後端電極が積層された磁気抵抗効
果素子を挟み込む一対のシールド磁性体と、上記磁気抵
抗効果素子にバイアス磁界を印加するバイアス磁界印加
部材と、上記磁気抵抗効果素子の後端側に積層される磁
性材料よりなるフラックスガイドとを備え、上記フラッ
クスガイドを、媒体対接面と平行な方向の長さをL、垂
直な方向の幅をWとしたときにL>Wなる関係とし、且
つ磁化容易軸を磁気抵抗効果素子の磁化容易軸と同じく
媒体対接面と平行な方向となすと共に、その媒体対接面
と平行な方向における端部を円弧状とすることにより、
上述の課題を解決する。
との対接面に対して長手方向が垂直となるように配され
る磁気抵抗効果素子と、上記磁気記録媒体との対接面に
臨み、磁気抵抗効果素子の先端側に積層される先端電極
と、上記磁気抵抗効果素子の後端側に積層される後端電
極と、上記先端電極と後端電極が積層された磁気抵抗効
果素子を挟み込む一対のシールド磁性体と、上記磁気抵
抗効果素子にバイアス磁界を印加するバイアス磁界印加
部材と、上記磁気抵抗効果素子の後端側に積層される磁
性材料よりなるフラックスガイドとを備え、上記フラッ
クスガイドを、媒体対接面と平行な方向の長さをL、垂
直な方向の幅をWとしたときにL>Wなる関係とし、且
つ磁化容易軸を磁気抵抗効果素子の磁化容易軸と同じく
媒体対接面と平行な方向となすと共に、その媒体対接面
と平行な方向における端部を円弧状とすることにより、
上述の課題を解決する。
【0016】フラックスガイドは、磁気抵抗効果素子上
にTa膜を介して積層するか、または、磁気抵抗効果素
子上に設けられたTa膜上に膜厚10〜80nmのパー
マロイ膜を介して、さらにメッキによってパーマロイ膜
を積層して形成する。そして、このフラックスガイドに
は高透磁率を有する磁性材料を用いる。
にTa膜を介して積層するか、または、磁気抵抗効果素
子上に設けられたTa膜上に膜厚10〜80nmのパー
マロイ膜を介して、さらにメッキによってパーマロイ膜
を積層して形成する。そして、このフラックスガイドに
は高透磁率を有する磁性材料を用いる。
【0017】
【作用】本発明においては、MR素子の後端部に設けた
高透磁率を有する磁性材料からなるフラックスガイド
を、MR素子の長手方向に対して直交する方向(媒体対
接面と平行な方向)に縦長形状として形成し、磁化容易
軸をMR素子の磁化容易軸と同じく媒体対接面と平行な
方向となるようにしているので、当該フラックスガイド
の磁区が安定する。したがって、バルクハウゼンノイズ
の発生が回避されることになり、MR素子に入る信号磁
束がこのフラックスガイドによってABS面側より後方
側へと効率良く引き込まれることになる。
高透磁率を有する磁性材料からなるフラックスガイド
を、MR素子の長手方向に対して直交する方向(媒体対
接面と平行な方向)に縦長形状として形成し、磁化容易
軸をMR素子の磁化容易軸と同じく媒体対接面と平行な
方向となるようにしているので、当該フラックスガイド
の磁区が安定する。したがって、バルクハウゼンノイズ
の発生が回避されることになり、MR素子に入る信号磁
束がこのフラックスガイドによってABS面側より後方
側へと効率良く引き込まれることになる。
【0018】
【実施例】以下、本発明を適用した具体的な実施例につ
いて図面を参照しながら詳細に説明する。本実施例の磁
気抵抗効果型磁気ヘッドは、図1に示すように、スライ
ダの一側面(図示は省略する。)上に形成される一対の
シールド磁性体1,2と、これらシールド磁性体1,2
間に先端電極3と後端電極4が積層されてなるMR素子
5と、このMR素子5にバイアス磁界を印加するバイア
ス磁界印加部材6とを有して構成されている。
いて図面を参照しながら詳細に説明する。本実施例の磁
気抵抗効果型磁気ヘッドは、図1に示すように、スライ
ダの一側面(図示は省略する。)上に形成される一対の
シールド磁性体1,2と、これらシールド磁性体1,2
間に先端電極3と後端電極4が積層されてなるMR素子
5と、このMR素子5にバイアス磁界を印加するバイア
ス磁界印加部材6とを有して構成されている。
【0019】なお以下、下層に形成されるシールド磁性
体1を下部シールド磁性体1、上層に形成されるシール
ド磁性体2を上部シールド磁性体2と称する。
体1を下部シールド磁性体1、上層に形成されるシール
ド磁性体2を上部シールド磁性体2と称する。
【0020】MR素子5は、例えば平面形状が略長方形
パターンとして形成され、その長手方向が磁気記録媒体
との対接面(以下、ABS面7と称する。)に対して垂
直となるように設けられている。また、このMR素子5
の先端側の一側縁は、上記ABS面7に臨むようになさ
れている。
パターンとして形成され、その長手方向が磁気記録媒体
との対接面(以下、ABS面7と称する。)に対して垂
直となるように設けられている。また、このMR素子5
の先端側の一側縁は、上記ABS面7に臨むようになさ
れている。
【0021】かかるMR素子5は、例えばパーマロイ等
の強磁性体薄膜からなり、下部シールド磁性体1上に設
けられたギャップ膜として機能する絶縁膜8上に蒸着や
スパッタリング等の真空薄膜形成手段によって形成され
ている。
の強磁性体薄膜からなり、下部シールド磁性体1上に設
けられたギャップ膜として機能する絶縁膜8上に蒸着や
スパッタリング等の真空薄膜形成手段によって形成され
ている。
【0022】このMR素子5は、パーマロイよりなるM
R薄膜の単層膜であってもよいが、例えばSiO2 等よ
りなる非磁性の絶縁層を介して静磁的に結合する一対の
MR薄膜を積層するようにしてもよい。積層膜構造とす
ることによって、バルクハウゼンノイズの発生が回避で
きる。
R薄膜の単層膜であってもよいが、例えばSiO2 等よ
りなる非磁性の絶縁層を介して静磁的に結合する一対の
MR薄膜を積層するようにしてもよい。積層膜構造とす
ることによって、バルクハウゼンノイズの発生が回避で
きる。
【0023】先端電極3は、その一側縁がABS面7に
臨むようにしてMR素子5の先端部に直接積層され、こ
のMR素子5と電気的に接続されるようになっている。
かかる先端電極3は、MR素子5にセンス電流を通電す
る電極としての機能を有する他、再生用磁気ギャップg
のギャップ膜としても機能するようになっている。
臨むようにしてMR素子5の先端部に直接積層され、こ
のMR素子5と電気的に接続されるようになっている。
かかる先端電極3は、MR素子5にセンス電流を通電す
る電極としての機能を有する他、再生用磁気ギャップg
のギャップ膜としても機能するようになっている。
【0024】一方、後端電極4は、信号磁界の引き込み
の向上及びバイアス分布の均一化を図ることを目的とす
るフラックスガイド9を介してMR素子5の後端側に積
層されている。
の向上及びバイアス分布の均一化を図ることを目的とす
るフラックスガイド9を介してMR素子5の後端側に積
層されている。
【0025】フラックスガイド9は、図2に示すよう
に、MR素子5の後端部に形成されたTa膜9aと、こ
の上に蒸着やスパッタリングによって成膜される第1の
パーマロイ膜9bと、この第1のパーマロイ膜9b上に
メッキによって形成される第2のパーマロイ膜9cの積
層膜構造とされている。
に、MR素子5の後端部に形成されたTa膜9aと、こ
の上に蒸着やスパッタリングによって成膜される第1の
パーマロイ膜9bと、この第1のパーマロイ膜9b上に
メッキによって形成される第2のパーマロイ膜9cの積
層膜構造とされている。
【0026】Ta膜9aは、この上に形成される第1の
パーマロイ膜9bの下地膜として機能する。そして、こ
のTa膜9a上に成膜される第1のパーマロイ膜9b
は、該Ta膜9a上に直接メッキによってパーマロイを
成膜することはできないため、パーマロイを電気メッキ
する際の下地膜として機能するようになっている。ま
た、この第1のパーマロイ膜9bは、Ta膜9a上に成
膜されると磁気異方性がつき易いという性質を有する。
そして最上層の第2のパーマロイ膜9cは、MR素子5
に入り込んだ信号磁束を後端部まで効率良く引き込む役
目をする。この第2のパーマロイ膜9cを第1のパーマ
ロイ膜9bの上にメッキすると、第1のパーマロイ膜9
bの磁気異方性に従ってメッキ膜が成長する。
パーマロイ膜9bの下地膜として機能する。そして、こ
のTa膜9a上に成膜される第1のパーマロイ膜9b
は、該Ta膜9a上に直接メッキによってパーマロイを
成膜することはできないため、パーマロイを電気メッキ
する際の下地膜として機能するようになっている。ま
た、この第1のパーマロイ膜9bは、Ta膜9a上に成
膜されると磁気異方性がつき易いという性質を有する。
そして最上層の第2のパーマロイ膜9cは、MR素子5
に入り込んだ信号磁束を後端部まで効率良く引き込む役
目をする。この第2のパーマロイ膜9cを第1のパーマ
ロイ膜9bの上にメッキすると、第1のパーマロイ膜9
bの磁気異方性に従ってメッキ膜が成長する。
【0027】上記のように積層膜構造とされたフラック
スガイド9は、図3に示すように、MR素子5の長手方
向に対してその長軸が略垂直となるようにいわゆる縦長
の楕円形状として形成されている。すなわち、フラック
スガイド9は、ABS面7と平行な方向の長さをL、垂
直な方向の幅をWとしたときに、L>Wなる関係とさ
れ、しかもそのABS面7と平行な方向における両端縁
部10,11が円弧状とされている。
スガイド9は、図3に示すように、MR素子5の長手方
向に対してその長軸が略垂直となるようにいわゆる縦長
の楕円形状として形成されている。すなわち、フラック
スガイド9は、ABS面7と平行な方向の長さをL、垂
直な方向の幅をWとしたときに、L>Wなる関係とさ
れ、しかもそのABS面7と平行な方向における両端縁
部10,11が円弧状とされている。
【0028】また、上記フラックスガイド9の円弧状と
される両端縁部10,11は、ABS面7と平行な平行
面部12,13よりもさらに外側へ突出するようになさ
れている。そしてさらに、このフラックスガイド9は、
MR素子5の磁化容易軸と同じくその磁化容易軸が、図
3中矢印で示すABS面7と平行な方向とされている。
される両端縁部10,11は、ABS面7と平行な平行
面部12,13よりもさらに外側へ突出するようになさ
れている。そしてさらに、このフラックスガイド9は、
MR素子5の磁化容易軸と同じくその磁化容易軸が、図
3中矢印で示すABS面7と平行な方向とされている。
【0029】かかる構成とすることにより、フラックス
ガイド9には、図4に示すような向きの磁区が発生する
が、これら磁区は還流するために磁区の安定性が保たれ
る。したがって、MR素子5に流れるセンス電流によっ
てフラックスガイド9の磁区が乱されることが無くな
り、その結果MR素子5の磁区も安定する。
ガイド9には、図4に示すような向きの磁区が発生する
が、これら磁区は還流するために磁区の安定性が保たれ
る。したがって、MR素子5に流れるセンス電流によっ
てフラックスガイド9の磁区が乱されることが無くな
り、その結果MR素子5の磁区も安定する。
【0030】また、フラックスガイド9をMR素子5の
後端側に設けた場合、当該フラックスガイド9によるバ
ルクハウゼンノイズ等の不安定性が心配されるが、上述
のような形状とすることで、電磁変換特性においてその
ような不安定性は見られず、図7に示すような良好な出
力波形が得られる。
後端側に設けた場合、当該フラックスガイド9によるバ
ルクハウゼンノイズ等の不安定性が心配されるが、上述
のような形状とすることで、電磁変換特性においてその
ような不安定性は見られず、図7に示すような良好な出
力波形が得られる。
【0031】上記バイアス磁界印加部材6は、MR素子
5にバイアス磁界を印加するためのもので、先端電極3
と後端電極4の間であって、これら電極3,4が設けら
れる側とは反対側の下部シールド磁性体1に形成される
溝部14に配され、絶縁膜15によって埋め込まれる形
で設けられている。
5にバイアス磁界を印加するためのもので、先端電極3
と後端電極4の間であって、これら電極3,4が設けら
れる側とは反対側の下部シールド磁性体1に形成される
溝部14に配され、絶縁膜15によって埋め込まれる形
で設けられている。
【0032】かかるバイアス磁界印加部材6は、上記A
BS面7と垂直な方向であるMR素子5の長手方向に亘
ってバイアス磁界を印加する役目をする。このバイアス
磁界印加部材6は、例えば導電性を有する導体、または
ハード膜(高保磁力且つ高飽和磁束密度を有する永久磁
石)のいずれであってもかまわない。バイアス磁界印加
部材6が導体である場合には、その導体パターンの両端
子部に直流電源からのバイアス電流をその配線パターン
の長手方向であるトラック幅方向に通電する。
BS面7と垂直な方向であるMR素子5の長手方向に亘
ってバイアス磁界を印加する役目をする。このバイアス
磁界印加部材6は、例えば導電性を有する導体、または
ハード膜(高保磁力且つ高飽和磁束密度を有する永久磁
石)のいずれであってもかまわない。バイアス磁界印加
部材6が導体である場合には、その導体パターンの両端
子部に直流電源からのバイアス電流をその配線パターン
の長手方向であるトラック幅方向に通電する。
【0033】そして、上記MR素子5を上下方向から挟
み込む形で設けられる一対のシールド磁性体1,2は、
MR素子5から離れた位置の媒体からの磁界の影響を受
けないようにするシールドとして機能するもので、例え
ばパーマロイ等によって形成されている。これらシール
ド磁性体1,2のうち下部シールド磁性体1は、上記A
BS面7にその一側縁を臨ませるようにして、このAB
S面7に対して垂直方向に延在して設けられている。
み込む形で設けられる一対のシールド磁性体1,2は、
MR素子5から離れた位置の媒体からの磁界の影響を受
けないようにするシールドとして機能するもので、例え
ばパーマロイ等によって形成されている。これらシール
ド磁性体1,2のうち下部シールド磁性体1は、上記A
BS面7にその一側縁を臨ませるようにして、このAB
S面7に対して垂直方向に延在して設けられている。
【0034】そして、この下部シールド磁性体1には、
先端電極3と後端電極4で挟まれる領域に対応した位置
に先のバイアス磁界印加部材6を絶縁膜15によって埋
め込むための溝部14を有している。かかる溝部14
は、バイアス磁界印加部材6と平行な底面14aとこの
底面14aの両側に溝の開口幅を広げるようにして形成
される傾斜面14b,14cとを有した断面略コ字状を
なす溝として、上記下部シールド磁性体1の短辺方向
(トラック幅方向)に形成されている。
先端電極3と後端電極4で挟まれる領域に対応した位置
に先のバイアス磁界印加部材6を絶縁膜15によって埋
め込むための溝部14を有している。かかる溝部14
は、バイアス磁界印加部材6と平行な底面14aとこの
底面14aの両側に溝の開口幅を広げるようにして形成
される傾斜面14b,14cとを有した断面略コ字状を
なす溝として、上記下部シールド磁性体1の短辺方向
(トラック幅方向)に形成されている。
【0035】上記傾斜面14b,14cのうち、ABS
面7側に設けられる傾斜面14bのMR素子5に近接す
る溝先端部D1 は、上記先端電極3の後端部(再生磁気
ギャップgのデプス零位置)E1 と略同一の位置とされ
ている。これに対して他方の傾斜面14cのMR素子5
に近接する溝後端部D2 は、フラックスガイド9の先端
部E2 に対して後方とされている。逆の見かたをする
と、フラックスガイド9の先端部E2 が、傾斜面14c
の溝後端部D2 に対してABS面7寄りに設けられてい
ることになる。つまり、フラックスガイド9を、上記溝
部14の溝後端部D2 よりABS面7寄りに設ければ、
MR素子5に対してバイアスがより一層かかり易くな
る。
面7側に設けられる傾斜面14bのMR素子5に近接す
る溝先端部D1 は、上記先端電極3の後端部(再生磁気
ギャップgのデプス零位置)E1 と略同一の位置とされ
ている。これに対して他方の傾斜面14cのMR素子5
に近接する溝後端部D2 は、フラックスガイド9の先端
部E2 に対して後方とされている。逆の見かたをする
と、フラックスガイド9の先端部E2 が、傾斜面14c
の溝後端部D2 に対してABS面7寄りに設けられてい
ることになる。つまり、フラックスガイド9を、上記溝
部14の溝後端部D2 よりABS面7寄りに設ければ、
MR素子5に対してバイアスがより一層かかり易くな
る。
【0036】一方、これに対向して設けられる上部シー
ルド磁性体2は、先の下部シールド磁性体1と同様に上
記ABS面7にその一側縁を臨ませるようにしてこのA
BS面7に対して垂直にバック側へ延在して設けられて
いる。また、この上部シールド磁性体2は、ABS面7
側で先端電極3に対して直接積層されると共に、その後
方側において絶縁層16を介して積層されている。
ルド磁性体2は、先の下部シールド磁性体1と同様に上
記ABS面7にその一側縁を臨ませるようにしてこのA
BS面7に対して垂直にバック側へ延在して設けられて
いる。また、この上部シールド磁性体2は、ABS面7
側で先端電極3に対して直接積層されると共に、その後
方側において絶縁層16を介して積層されている。
【0037】ところで、上記フラックスガイド9を形成
するには、先ずMR素子5上にスパッタリングや蒸着等
の如き真空薄膜形成手段によってTa膜9aを成膜す
る。Ta膜9aの膜厚としては、例えば100nm以下
とすることが望ましい。また、このTa膜9aは、プロ
セス上熱が加わったとき、MR素子5への拡散が小さ
い。
するには、先ずMR素子5上にスパッタリングや蒸着等
の如き真空薄膜形成手段によってTa膜9aを成膜す
る。Ta膜9aの膜厚としては、例えば100nm以下
とすることが望ましい。また、このTa膜9aは、プロ
セス上熱が加わったとき、MR素子5への拡散が小さ
い。
【0038】次に、このTa膜9a上にスパッタリング
又は蒸着によって第1のパーマロイ膜9bを成膜する。
この第1のパーマロイ膜9bの膜厚としては、例えば1
0〜80nmとなるようにする。膜厚が10nm未満で
あると異方性が付き難くなり、80nmを越えると第2
のパーマロイ膜9cに対し磁気的結合ができなくなる。
本実施例では、第1のパーマロイ膜9bの膜厚を80n
mとした。なお、第1のパーマロイ膜9bと第2のパー
マロイ膜9cの磁歪定数は、−0.5×10-6〜−1.
0×10 -6となるようにすることが望ましい。
又は蒸着によって第1のパーマロイ膜9bを成膜する。
この第1のパーマロイ膜9bの膜厚としては、例えば1
0〜80nmとなるようにする。膜厚が10nm未満で
あると異方性が付き難くなり、80nmを越えると第2
のパーマロイ膜9cに対し磁気的結合ができなくなる。
本実施例では、第1のパーマロイ膜9bの膜厚を80n
mとした。なお、第1のパーマロイ膜9bと第2のパー
マロイ膜9cの磁歪定数は、−0.5×10-6〜−1.
0×10 -6となるようにすることが望ましい。
【0039】この結果、図5に示すように、第1のパー
マロイ膜9bに磁気異方性が付与される。
マロイ膜9bに磁気異方性が付与される。
【0040】次いで、上記第1のパーマロイ膜9bの上
に電気メッキによって第2のパーマロイ膜9cを成膜す
る。このときの膜厚は、磁区の安定性を考慮すると厚い
方がよいが、あまり厚すぎるとこれが段差となり後工程
に反映し、特に上部シールド磁性体2の磁気特性を乱す
ことも考えられるので、300nm程度とすることが望
ましい。
に電気メッキによって第2のパーマロイ膜9cを成膜す
る。このときの膜厚は、磁区の安定性を考慮すると厚い
方がよいが、あまり厚すぎるとこれが段差となり後工程
に反映し、特に上部シールド磁性体2の磁気特性を乱す
ことも考えられるので、300nm程度とすることが望
ましい。
【0041】本実施例では、第2のパーマロイ膜9cの
膜厚を220nmとした。
膜厚を220nmとした。
【0042】このとき、第2のパーマロイ膜9cは、第
1のパーマロイ膜9bに付与された磁気異方性に従って
メッキ膜が成長する。その結果を図6に示す。かかる図
からわかるように、第2のパーマロイ膜9cは第1のパ
ーマロイ膜9bの磁気異方性に反映して異方性が付与さ
れていることが判る。
1のパーマロイ膜9bに付与された磁気異方性に従って
メッキ膜が成長する。その結果を図6に示す。かかる図
からわかるように、第2のパーマロイ膜9cは第1のパ
ーマロイ膜9bの磁気異方性に反映して異方性が付与さ
れていることが判る。
【0043】そして最後に、フラックスガイド9を先に
説明した形状にパターンニングした後、これをエッチン
グしてフラックスガイド9を完成する。
説明した形状にパターンニングした後、これをエッチン
グしてフラックスガイド9を完成する。
【0044】なお、上記の例では、フラックスガイド9
としてパーマロイを用いたが、高透磁率を有する例えば
センダストやFe−Co系のアモルファス材等の磁性材
料を用いても同様の作用効果を得ることができる。
としてパーマロイを用いたが、高透磁率を有する例えば
センダストやFe−Co系のアモルファス材等の磁性材
料を用いても同様の作用効果を得ることができる。
【0045】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明の磁気抵抗効果型磁気ヘッドにおいては、MR素子の
後端部に設けた高透磁率を有する磁性材料からなるフラ
ックスガイドを、MR素子の長手方向に対して直交する
方向に縦長の楕円形状として形成し、その磁化容易軸を
MR素子の磁化容易軸と同じく媒体対接面と平行な方向
としているので、当該フラックスガイドの磁区を安定化
させることができ、その結果バルクハウゼンノイズの発
生を回避でき、再生出力の大幅な向上を達成することが
できる。
明の磁気抵抗効果型磁気ヘッドにおいては、MR素子の
後端部に設けた高透磁率を有する磁性材料からなるフラ
ックスガイドを、MR素子の長手方向に対して直交する
方向に縦長の楕円形状として形成し、その磁化容易軸を
MR素子の磁化容易軸と同じく媒体対接面と平行な方向
としているので、当該フラックスガイドの磁区を安定化
させることができ、その結果バルクハウゼンノイズの発
生を回避でき、再生出力の大幅な向上を達成することが
できる。
【図1】MRヘッドの拡大断面図である。
【図2】フラックスガイドの拡大断面図である。
【図3】フラックスガイドの拡大平面図である。
【図4】フラックスガイドに発生した磁区を示す模式図
である。
である。
【図5】Ta膜上に第1のパーマロイ膜を成膜したとき
に異方性が生じていることを現す特性図である。
に異方性が生じていることを現す特性図である。
【図6】第1のパーマロイ膜上に第2のパーマロイ膜を
メッキによって成膜したときにこの第1のパーマロイ膜
の異方性が反映されていることを現す特性図である。
メッキによって成膜したときにこの第1のパーマロイ膜
の異方性が反映されていることを現す特性図である。
【図7】本実施例のMRヘッドにおける再生波形を示す
特性図である。
特性図である。
【図8】横長とされた従来のフラックスガイドの拡大平
面図である。
面図である。
1・・・下部シールド磁性体 2・・・上部シールド磁性体 3・・・先端電極 4・・・後端電極 5・・・MR素子 6・・・バイアス磁界印加部材 7・・・ABS面 9・・・フラックスガイド 9a・・・Ta膜 9b・・・第1のパーマロイ膜 9c・・・第2のパーマロイ膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐々木 守 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 芳賀 秀一 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 陶山 英夫 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内
Claims (4)
- 【請求項1】 磁気記録媒体との対接面に対して長手方
向が垂直となるように配される磁気抵抗効果素子と、 上記磁気記録媒体との対接面に臨み、磁気抵抗効果素子
の先端側に積層される先端電極と、 上記磁気抵抗効果素子の後端側に積層される後端電極
と、 上記先端電極と後端電極が積層された磁気抵抗効果素子
を挟み込む一対のシールド磁性体と、 上記磁気抵抗効果素子にバイアス磁界を印加するバイア
ス磁界印加部材と、 上記磁気抵抗効果素子の後端側に積層される磁性材料よ
りなるフラックスガイドとを備え、 上記フラックスガイドは、媒体対接面と平行な方向の長
さをL、垂直な方向の幅をWとしたときにL>Wなる関
係とされ、且つ磁化容易軸が磁気抵抗効果素子の磁化容
易軸と同じく媒体対接面と平行な方向とされると共に、
その媒体対接面と平行な方向における端部が円弧状とさ
れていることを特徴とする磁気抵抗効果型磁気ヘッド。 - 【請求項2】 フラックスガイドは、磁気抵抗効果素子
上にTa膜を介して積層されていることを特徴とする請
求項1記載の磁気抵抗効果型磁気ヘッド。 - 【請求項3】 フラックスガイドは、高透磁率を有する
磁性材料からなることを特徴とする請求項1又は2記載
の磁気抵抗効果型磁気ヘッド。 - 【請求項4】 フラックスガイドは、磁気抵抗効果素子
上に設けられたTa膜と、このTa膜上に蒸着又はスパ
ッタリングによりその膜厚が10〜80nmとされる第
1のパーマロイ膜と、この第1のパーマロイ膜上にメッ
キによって積層される第2のパーマロイ膜との積層膜構
造とされていることを特徴とする磁気抵抗効果型磁気ヘ
ッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30051593A JPH07153036A (ja) | 1993-11-30 | 1993-11-30 | 磁気抵抗効果型磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30051593A JPH07153036A (ja) | 1993-11-30 | 1993-11-30 | 磁気抵抗効果型磁気ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07153036A true JPH07153036A (ja) | 1995-06-16 |
Family
ID=17885753
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30051593A Withdrawn JPH07153036A (ja) | 1993-11-30 | 1993-11-30 | 磁気抵抗効果型磁気ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07153036A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7068475B2 (en) * | 2001-02-27 | 2006-06-27 | Fujitsu Limited | Magnetic head having a flux-guide regulating film regulating a magnetic domain of a flux guide |
| US7170721B2 (en) * | 2002-06-25 | 2007-01-30 | Quantum Corporation | Method of producing flux guides in magnetic recording heads |
| US7290325B2 (en) | 2004-08-13 | 2007-11-06 | Quantum Corporation | Methods of manufacturing magnetic heads with reference and monitoring devices |
| US7751154B2 (en) | 2005-05-19 | 2010-07-06 | Quantum Corporation | Magnetic recording heads with bearing surface protections and methods of manufacture |
-
1993
- 1993-11-30 JP JP30051593A patent/JPH07153036A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7068475B2 (en) * | 2001-02-27 | 2006-06-27 | Fujitsu Limited | Magnetic head having a flux-guide regulating film regulating a magnetic domain of a flux guide |
| US7170721B2 (en) * | 2002-06-25 | 2007-01-30 | Quantum Corporation | Method of producing flux guides in magnetic recording heads |
| US7290325B2 (en) | 2004-08-13 | 2007-11-06 | Quantum Corporation | Methods of manufacturing magnetic heads with reference and monitoring devices |
| US7751154B2 (en) | 2005-05-19 | 2010-07-06 | Quantum Corporation | Magnetic recording heads with bearing surface protections and methods of manufacture |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010130 |