JPH07159468A - 映像信号の雑音測定方法 - Google Patents

映像信号の雑音測定方法

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JPH07159468A
JPH07159468A JP33924893A JP33924893A JPH07159468A JP H07159468 A JPH07159468 A JP H07159468A JP 33924893 A JP33924893 A JP 33924893A JP 33924893 A JP33924893 A JP 33924893A JP H07159468 A JPH07159468 A JP H07159468A
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JP
Japan
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noise
peak value
peak
video signal
value
Prior art date
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Pending
Application number
JP33924893A
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English (en)
Inventor
Koji Enomoto
康二 榎本
Hiromi Ozawa
廣美 小澤
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Publication date
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  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、映像信号の雑音レベルの測定にお
いて、ランダム雑音信号や、固定パターン雑音信号等の
ピーク・ピーク値と、+ピーク値と、−ピーク値を測定
することを目的とする。 【構成】 デジタル変換された映像信号を取り込むフレ
ーム・メモリ46を設けて、当該フレーム・メモリ46
に取り込んだ映像信号データを実効値演算し、これをも
とに実効値の出現回数を棒グラフ状に表現処理する為の
ヒストグラム演算部20を設けて、ヒストグラム演算処
理し、得られたヒストグラム・データから、雑音電圧の
最大値と最小値を取り出して雑音信号のピーク・ピーク
値や、+ピーク値や、−ピーク値を算出する構成手段。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、TVの映像信号に含
まれる雑音信号のピーク値を測定する手段に関する。
【0002】
【従来の技術】まず、図4の従来の映像信号のノイズ測
定ブロック図の一実施例を示して、従来の概要を説明す
る。 従来では、映像信号のノイズレベルを図4ー40
のS/N計算のように、白100%振幅値(以下これを
リファレンス電圧(Vref)と称す)に対するノイズ実効
値(Vrms)の比として計算した平均値として求めてい
る。これについての動作を以下に順次説明する。
【0003】ノイズの測定範囲は、図5に示すよう映像
波形において、測定区間32である。この測定区間は、
任意の区間に設定して測定できる。また、この図におい
てリファレンス電圧33は、通常NTSC信号では71
4mVpp、HDTV信号では700mVppである
が、入力映像信号のレベルに応じて任意に変更設定でき
る。
【0004】そして、通常、ノイズ測定する場合の入力
映像信号は、白色、又は灰色の映像信号を入力する。こ
の理由は、白色(又は灰色)の映像信号の場合の波形は
垂直変化成分のない横一直線となるので、ノイズ成分が
明確に検出測定が実施できる為である。以上のように条
件設定後に、ノイズ測定を開始する。
【0005】測定手順について、図4のノイズ測定構成
ブロック図を示して以下に説明する。入力ビデオ信号4
1を増幅器42でバッファし所定のレベルに増幅した
後、同期検出43に与えて水平同期信号を抽出し、これ
をサンプリング・タイミング発生器47に与えて測定区
間32の映像信号データの取得タイミングを発生制御す
る。他方、ビデオ信号は、フィルタ44で、必要により
ノイズ測定から除外する周波数成分(主に高周波数成
分)をフィルタした後、測定区間32のデータをAD変
換器45により、デジタル・データに変換出力する。こ
れを、前記サンプリング・タイミング発生器47からの
取得制御タイミングで行う。次に、変換出力データは、
フレーム・メモリ46の対応するアドレス位置に格納さ
れる。
【0006】ここで、取得データをフレーム・メモリ4
6に格納する回数により測定ノイズの対象が変わる。第
1の測定形態は、主に、ランダム雑音を測定する場合で
ある。この場合は、1回のみ取得する。そして、得られ
た測定区間32のフレーム・メモリ46のデータからリ
ファレンス電圧33を引いた後、DSP48により演算
処理して、ノイズ成分の実効値を計算し、図4の40の
ように平均値計算してS/N値を求める。通常、この平
均値計算は、統計処理上のバラツキ誤差(3σ)で行
う。
【0007】第2の測定形態は、主に、固定パターン雑
音を測定する場合である。この場合は、複数回データ取
得し、これを累積加算していく。いわゆるアベレージン
グ処理してデータを取得する形態である。これによって
得られるデータ成分は、ランダム雑音が相殺されて除去
され、逆に画像フレーム上の固定位置のノイズ(図5ー
51、52、53、54参照)である固定パターンノイ
ズ成分が、累積加算されて鮮明なデータとして得られ
る。そして、このデータを、前記同様にDSP48によ
り演算処理して、測定区間32のノイズ成分の実効値を
計算して平均値計算してS/N値を求める。又、この計
算も、通常は統計処理上のバラツキ誤差(3σ)で行
う。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、従
来では、映像信号の雑音レベルを図4の40のように、
平均値としてS/N値を求めていた。この為に、雑音信
号のピーク値を得ることが出来ず、固定パターンノイズ
や、ポップ性ノイズや、ランダムノイズ等があってもこ
のピーク値を測定出来ないという難点となっていた。例
えば、図5のCCDイメージセンサ上で、特定画素の感
度特性不良や欠陥(図5ー51、53参照)があって
も、平均値として求めていた為に、わからない場合が多
く、実用上の不便があった。
【0009】そこで、本発明が解決しようとする課題
は、ランダム雑音信号や、固定パターン雑音信号等の雑
音のピーク値を測定することを目的とする。
【0010】
【課題を解決する為の手段】上記課題を解決するため
に、本発明の構成では、デジタル変換された映像信号を
取り込むフレーム・メモリ46を設ける。そして、当該
フレーム・メモリ46に取り込んだ映像信号データを実
効値演算し、これをもとに実効値の出現回数を棒グラフ
状に表現処理する為のヒストグラム演算部20を設け
て、当該ヒストグラム演算部20でヒストグラム演算処
理する。得られたヒストグラム・データから、雑音電圧
の最大値と最小値を取り出して雑音信号のピーク・ピー
ク値13、23や、+ピーク値14、24や、−ピーク
値15、25を算出することで実現している。ここで、
得られたヒストグラム・データの中で、統計処理上のバ
ラツキ誤差(3σ)で出力する場合は、3σ以下のもの
を除去したデータで最大値と最小値を取り出して雑音信
号のピーク値を求めても良い。
【0011】
【作用】雑音信号の実効値データをヒストグラム演算処
理することで、このヒストグラム・データ中の雑音信号
の最大値と最小値が求まる。これから、目的とするピー
ク・ピーク値と、+ピーク値と、−ピーク値が得られる
作用がある。また、アベレージングする場合と、しない
場合のサンプリング・データをヒストグラム演算処理す
ることで、ランダム性の雑音ピークと、固定パターン性
の雑音ピークとに別々に分離してピーク値を測定する役
割がある。
【0012】
【実施例】本発明の実施例について、図1の本発明の映
像信号のノイズ測定ブロック図の一実施例と、図2の本
発明の複数回取得(アベレージング)データ時のピーク
値を示すヒストグラムと、図3の本発明の1回取得デー
タ時のピーク値を示すヒストグラムを参照して説明す
る。
【0013】本実施例の、実施概要を説明する。本実施
例は、フレーム・メモリ46に取り込んだ個々のデータ
を各々実効値演算した後、全部の実効値データ、又は、
必要によりバラツキ誤差3σのデータを使って、ヒスト
グラム演算部20でヒストグラム処理する。そして、こ
のヒストグラム・データの最大値(18、28)と最小
値(17、27)から、ピーク・ピーク値13、23
と、+ピーク値14、24と、−ピーク値15、25を
計算することにより、目的とするランダム雑音信号や、
固定パターン雑音信号のピーク値を測定実現する。
【0014】これについて、まず第1の例として、ラン
ダム雑音信号のピーク値測定の場合について、図3を参
照して以下に順次説明する。1回のサンプリングによる
映像信号のデータである為、フレーム・メモリ46に格
納されるデータは、映像信号の雑音成分がそのままの形
で格納される。一般には、例えばCCD等の個々のセン
サ素子の感度バラツキや、アンプ回路から発生するホワ
イト・ノイズ等である。これらの雑音レベルは、例えば
10mV前後ある。この、波形データが、そのままフレ
ーム・メモリ46のデータとして格納される(図3ー2
1参照)。
【0015】そして、このフレーム・メモリ・データ2
1を、従来と同様にしてDSP48により演算処理し
て、ノイズ成分の実効値を計算する。そして、この計算
された各フレーム位置毎の雑音実効値は、個々に各フレ
ーム位置毎に一時メモリに保存しておく。次に、得られ
た雑音実効値を基にして、ヒストグラム演算部20でヒ
ストグラム演算処理して、得られたヒストグラム22を
表示器50表示する。このヒストグラム表示は図3の例
のように表示される。ところで、得られた雑音実効値の
データ中で、統計処理上のバラツキ誤差(3σ)で表示
する場合は、3σ以下のものを除去してヒストグラム処
理する形態としても良い。
【0016】上記により得られたヒストグラム22から
容易に、最大値28と、最小値27が求まる。これか
ら、目的とするピーク・ピーク値23と、+ピーク値2
4と、−ピーク値25が求まる。
【0017】次に第2の例として、固定パターン雑音信
号のピーク値測定の場合について図2を参照して以下に
順次説明する。この場合は、複数回データ取得し、これ
を累積加算していく。これにより映像信号がアベレージ
ング処理されたデータとしてフレーム・メモリ46に格
納する。この場合は、図2のフレーム・メモリ・データ
11の例のように、ランダム雑音はアベレージングによ
り相殺されて小さなランダム雑音55aの信号として得
られ、逆に固定パターン雑音は同一極性の電圧の為、大
きな固定パターン雑音52a、54aの信号として得ら
れる。
【0018】次に、このフレーム・メモリ・データ11
を、同様にしてDSP48により演算処理して、ノイズ
成分の実効値を計算し、各フレーム位置毎に一時メモリ
に保存しておく。そして、得られた雑音実効値を基にし
て、ヒストグラム演算部20でヒストグラム演算処理す
ると、図2のようにヒストグラム12が得られる。そし
て、このヒストグラム12から、最大値18と、最小値
17が求まる。これから、目的とする固定パターン雑音
のピーク・ピーク値13と、+ピーク値14と、−ピー
ク値15が求まる。
【0019】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。従
来では、映像雑音信号のピーク値は測定できなかった
が、本発明により、ヒストグラム・データの最大値と最
小値から、ピーク・ピーク値と、+ピーク値と、−ピー
ク値が得られ、新しい測定機能を使用者に提供でき、こ
れにより一層の映像雑音信号の解析・評価に有効な手段
を提供できることとなった。
【0020】また、アベレージングする場合としない場
合で、2種類の独立したピーク値データも取得すること
ができる為、雑音信号のピーク値の原因要素が、ランダ
ム性の雑音ピークか、固定パターン性の雑音ピークかを
振り分けて、独立したピーク値を測定できることも可能
であり、この点についても、新しい測定機能を使用者に
提供できる利点が得られた。
【0021】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の映像信号のノイズ測定ブロック図の一
実施例である。
【図2】本発明の複数回取得(アベレージング)データ
時のピーク値を示すヒストグラムである。
【図3】本発明の1回取得データ時のピーク値を示すヒ
ストグラムである。
【図4】従来の映像信号のノイズ測定ブロック図の一実
施例である。
【図5】映像信号上のノイズを説明する図である。
【符号の説明】
11、21 フレーム・メモリ・データ 12、22 ヒストグラム 13、23 ピーク・ピーク値 14、24 +ピーク値 15、25 −ピーク値 17、27 最小値 18、28 最大値 20 ヒストグラム演算部 23 ピーク・ピーク値 32 測定区間 33 リファレンス電圧 41 入力ビデオ信号 42 増幅器 43 同期検出 44 フィルタ 45 AD変換器 46 フレーム・メモリ 47 サンプリング・タイミング発生器 48 DSP 50 表示器 52a、54a 固定パターン雑音 55a ランダム雑音

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 映像信号の雑音測定方法において、 デジタル変換された映像信号を取り込むフレーム・メモ
    リ(46)を設け、 当該フレーム・メモリ(46)に取り込んだ映像信号デ
    ータを実効値演算し、これをもとに実効値の出現回数を
    棒グラフ状に表現処理するヒストグラム演算部(20)
    を設け、 当該ヒストグラム演算部(20)で得られたヒストグラ
    ム・データから、雑音電圧の最大値と最小値を取り出し
    て雑音信号のピーク・ピーク値(13、23)や、+ピ
    ーク値(14、24)や、−ピーク値(15、25)を
    算出する手段を設け、 以上を具備していることを特徴とした映像信号の雑音測
    定方法。
JP33924893A 1993-12-03 1993-12-03 映像信号の雑音測定方法 Pending JPH07159468A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017224934A (ja) * 2016-06-14 2017-12-21 株式会社東芝 子局装置及びその受信電界強度測定方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017224934A (ja) * 2016-06-14 2017-12-21 株式会社東芝 子局装置及びその受信電界強度測定方法

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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20031202