JPH0715976B2 - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH0715976B2 JPH0715976B2 JP58003852A JP385283A JPH0715976B2 JP H0715976 B2 JPH0715976 B2 JP H0715976B2 JP 58003852 A JP58003852 A JP 58003852A JP 385283 A JP385283 A JP 385283A JP H0715976 B2 JPH0715976 B2 JP H0715976B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inputs
- cells corresponding
- pairs
- input
- semiconductor device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
- H10D84/90—Masterslice integrated circuits
Landscapes
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 本発明は、ゲートアレーを形成する基本セル(Basic Ce
lls以下、単にBCと略記)の構成に関する。最近、多様
化する製品に対応して、従来フルカスタムICより開発期
間が短縮出来る点からセミカスタムICとしてゲートアレ
ーが多く使われるようになってきた。ゲートアレーは、
チップ内に規則正しく配置されたゲート(正確には、何
対かのトランジスタであるが)を、使い、任意の回路を
作ろうとするものであり、通常配線パターンを一ないし
3層切換えることにより回路構成する。本発明では、ゲ
ートアレーを構成するトランジスタとしてPチャネル及
びNチャネル金属酸化膜半導体素子(以下単にPMOS,BMO
Sと略記)からなるCMOS(相補型金属酸化膜半導体)を
例に説明する。BCとして何対のCMOS素子を用いるかは、
各メーカーによって異なっているのが現状であるが、一
般には、2ないし3対が用いられている。第1図,第2
図に、2対(2入力相当)、3対(3入力相当)のBCの
構成例を示す。ゲート105,106を共通にしたPMOSトラン
ジスタ101,102及びNMOSトランジスタ103,104、各々2対
が、直列に形成されている図1−(a)このBCは図1−
(b)のように構成される、Pアクティブ領域107,Nア
クティブ領域108両領域に、2ゲート電極105,106がかか
っている。これによりPMOS素子101,102が、片方の拡散
層を共有する。同様にNMOS素子103,104も片方の拡散層
を共有するので、回路上は第1図(a)のようになる。
次に、3入力相当のBCの構成を第2図に示す。3入力で
は、2入力と同様に3対のPMOS及びNMOSトランジスタ20
1と204,202と205及び203と206よりなり、各々ゲートを
共有する。図2−(a) このBCの構成は、Pアクティブ領域210,Nアクティブ領
域211に3ゲート電極207,208,209が設置され、3対のP,
NMOSトランジスタ201と204,202と205及び203と206が形
成される。3対のPNトランジスタの接続は、図2−
(a)のようになる。
lls以下、単にBCと略記)の構成に関する。最近、多様
化する製品に対応して、従来フルカスタムICより開発期
間が短縮出来る点からセミカスタムICとしてゲートアレ
ーが多く使われるようになってきた。ゲートアレーは、
チップ内に規則正しく配置されたゲート(正確には、何
対かのトランジスタであるが)を、使い、任意の回路を
作ろうとするものであり、通常配線パターンを一ないし
3層切換えることにより回路構成する。本発明では、ゲ
ートアレーを構成するトランジスタとしてPチャネル及
びNチャネル金属酸化膜半導体素子(以下単にPMOS,BMO
Sと略記)からなるCMOS(相補型金属酸化膜半導体)を
例に説明する。BCとして何対のCMOS素子を用いるかは、
各メーカーによって異なっているのが現状であるが、一
般には、2ないし3対が用いられている。第1図,第2
図に、2対(2入力相当)、3対(3入力相当)のBCの
構成例を示す。ゲート105,106を共通にしたPMOSトラン
ジスタ101,102及びNMOSトランジスタ103,104、各々2対
が、直列に形成されている図1−(a)このBCは図1−
(b)のように構成される、Pアクティブ領域107,Nア
クティブ領域108両領域に、2ゲート電極105,106がかか
っている。これによりPMOS素子101,102が、片方の拡散
層を共有する。同様にNMOS素子103,104も片方の拡散層
を共有するので、回路上は第1図(a)のようになる。
次に、3入力相当のBCの構成を第2図に示す。3入力で
は、2入力と同様に3対のPMOS及びNMOSトランジスタ20
1と204,202と205及び203と206よりなり、各々ゲートを
共有する。図2−(a) このBCの構成は、Pアクティブ領域210,Nアクティブ領
域211に3ゲート電極207,208,209が設置され、3対のP,
NMOSトランジスタ201と204,202と205及び203と206が形
成される。3対のPNトランジスタの接続は、図2−
(a)のようになる。
さて、実際の回路をパターン化するのは、上記の2ない
し3対のCMOSBCを適当に、配線する。たとえば3入力NA
ND(図3−(a))を、3対のBCで構成するには1ケの
BCで済む(図3−(b))が、2対のBCでは、2ケのBC
を必要となる(図3−(c))。又逆に3対のBCで、イ
ンバータを構成すると2つのインバータしか出来ない。
図4−(a)ところが、2対のBCでも2つのインバータ
が出来る図4−(b)このように、BCの使用効率から考
えると、BCの構成が、2入力,3入力とも一長一短があ
り、3入力BC構成のゲートアレーの平均BC使用ゲートは
25程度となっている。つまり、2入力BCと3入力を1対
1に配置すれば、3入力BCの利点と2入力BCの利点をも
ち、ゲートの使用効率が高いものが出来ると考えられ
る。
し3対のCMOSBCを適当に、配線する。たとえば3入力NA
ND(図3−(a))を、3対のBCで構成するには1ケの
BCで済む(図3−(b))が、2対のBCでは、2ケのBC
を必要となる(図3−(c))。又逆に3対のBCで、イ
ンバータを構成すると2つのインバータしか出来ない。
図4−(a)ところが、2対のBCでも2つのインバータ
が出来る図4−(b)このように、BCの使用効率から考
えると、BCの構成が、2入力,3入力とも一長一短があ
り、3入力BC構成のゲートアレーの平均BC使用ゲートは
25程度となっている。つまり、2入力BCと3入力を1対
1に配置すれば、3入力BCの利点と2入力BCの利点をも
ち、ゲートの使用効率が高いものが出来ると考えられ
る。
第1図(a)(b)は2入力BC、第2図(a)(b),3
入力BC、第3図(a)(b)(c)は、3入力NANDの構
成例、第4図(a)(b)は、インバータの構成例であ
る。
入力BC、第3図(a)(b)(c)は、3入力NANDの構
成例、第4図(a)(b)は、インバータの構成例であ
る。
Claims (1)
- 【請求項1】配線パターンの切り替えによって、任意の
集積回路を作るマスタースライス方式の半導体装置であ
るゲートアレイにおいて、 2入力相当のセルと3入力相当のセルのみが交互に配列
された基本セル配列行を列方向に配列することにより、
2入力相当セルと3入力相当セルを均一に略1対1に配
置し、任意の回路をこれら2入力相当セルと3入力相当
セルのいずれか一方あるいは両方を組み合わせて配線す
ることにより形成可能に構成したことを特徴とする半導
体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58003852A JPH0715976B2 (ja) | 1983-01-13 | 1983-01-13 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58003852A JPH0715976B2 (ja) | 1983-01-13 | 1983-01-13 | 半導体装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59127848A JPS59127848A (ja) | 1984-07-23 |
| JPH0715976B2 true JPH0715976B2 (ja) | 1995-02-22 |
Family
ID=11568709
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58003852A Expired - Lifetime JPH0715976B2 (ja) | 1983-01-13 | 1983-01-13 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0715976B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61229103A (ja) * | 1985-04-04 | 1986-10-13 | Canon Inc | 複写機等の制御装置 |
| JPH05315448A (ja) * | 1992-04-27 | 1993-11-26 | Nec Corp | 集積回路装置およびそのレイアウト方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5538015A (en) * | 1978-09-08 | 1980-03-17 | Fujitsu Ltd | Semiconductor integrated circuit |
| JPS5864047A (ja) * | 1981-10-13 | 1983-04-16 | Nec Corp | マスタ−スライス半導体集積回路装置 |
| JPS5957452A (ja) * | 1982-09-27 | 1984-04-03 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
-
1983
- 1983-01-13 JP JP58003852A patent/JPH0715976B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59127848A (ja) | 1984-07-23 |
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