JPH07186335A - 二軸配向熱可塑性樹脂フイルム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【構成】 熱可塑性樹脂ＡからなるＡ層と熱可塑性樹脂
ＢからなるＢ層との積層構成を有し、Ａ層が少なくとも
一方の最外層を構成する積層フイルムであって、前記少
なくとも一方の最外層を構成するＡ層は、平均粒径が該
Ａ層の厚さの０．１〜１０倍の不活性粒子を０．００１
〜５０重量％含有し、その層厚さが０．００５〜３μｍ
または積層フイルム全厚の１０％以下であり、前記Ｂ層
は、平均粒径が０．００５〜２μｍの不活性粒子を０．
００１〜１重量％含有していることを特徴とする、二軸
配向熱可塑性樹脂フイルム。 【効果】 とくに耐スクラッチ性に優れたフイルムが得
られる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、二軸配向熱可塑性樹脂
フイルムに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】二軸配向熱可塑性樹脂フイルムとして
は、熱可塑性樹脂であるポリエステルにコロイド状シリ
カに起因する実質的に球形のシリカ粒子を含有せしめた
フイルムが知られている（たとえば特開昭５９−１７１
６２３号公報）。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の二
軸配向熱可塑性樹脂フイルムは、フイルムの種々の加工
工程、たとえば包装用途における印刷工程、磁気媒体用
途における磁性層塗布・カレンダー工程あるいは感熱転
写用途における感熱転写層塗布などの工程速度の増大に
ともない、接触するロールによってフイルム表面に傷が
つくという欠点が問題となってきている。

【０００４】また、上記従来の二軸配向熱可塑性樹脂フ
イルムは高温・高湿下で、フイルムを取り扱う時に摩擦
係数が高くなり、ハンドリング性が不良になるという問
題点があった。

【０００５】また、磁気記録媒体、例えばビデオテープ
においては、より良好な電磁変換特性が求められてきて
おり、さらに表面特性の改良が要望されている。

【０００６】本発明は、従来技術の種々の問題点を改善
し、かつ種々の要求を満たすために、とくに表面が傷つ
きにくい（以下耐スクラッチ性に優れるという）フイル
ムを提供することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】この目的に沿う本発明の
二軸配向熱可塑性樹脂フイルムは、熱可塑性樹脂Ａから
なるＡ層と熱可塑性樹脂ＢからなるＢ層との積層構成を
有し、Ａ層が少なくとも一方の最外層を構成する積層フ
イルムであって、前記少なくとも一方の最外層を構成す
るＡ層は、平均粒径が該Ａ層の厚さの０．１〜１０倍の
不活性粒子を０．００１〜５０重量％含有し、その層厚
さが０．００５〜３μｍまたは積層フイルム全厚の１０
％以下であり、前記Ｂ層は、平均粒径が０．００５〜２
μｍの不活性粒子を０．００１〜１重量％含有している
ことを特徴とするものから成る。

【０００８】本発明に係る熱可塑性樹脂Ａは、ポリエス
テル、ポリオレフィン、ポリアミド、ポリフェニレンス
ルフィドなど特に限定されることはないが、特に、ポリ
エステル、中でも、エチレンテレフタレート、エチレン
α，β−ビス（２−クロルフェノキシ）エタン−４，
４′−ジカルボキシレート、エチレン２，６−ナフタレ
ート単位から選ばれた少なくとも一種の構造単位を主要
構成成分とする場合に耐スクラッチ性、電磁変換特性、
摩擦係数がより一層良好となるので望ましい。

【０００９】また、本発明を構成する熱可塑性樹脂は結
晶性、あるいは溶融時光学異方性である場合に耐スクラ
ッチ性、電磁変換特性、摩擦係数がより一層良好となる
のできわめて望ましい。ここでいう結晶性とはいわゆる
非晶質ではないことを示すものであり、定量的には結晶
化パラメータにおける冷結晶化温度Ｔｃｃが検出され、
かつ結晶化パラメータΔＴｃｇが１５０℃以下のもので
ある。さらに、示差走査熱量計で測定された融解熱（融
解エンタルビー変化）が７．５ｃａｌ／ｇ以上の結晶性
を示す場合に耐スクラッチ性、電磁変換特性、摩擦係数
がより一層良好となるのできわめて望ましい。また、エ
チレンテレフタレートを主要構成成分とするポリエステ
ルの場合に電磁変換特性と耐スクラッチ性がより一層良
好となるので特に望ましい。なお、本発明を阻害しない
範囲内で、２種以上の熱可塑性樹脂を混合しても良い
し、共重合ポリマを用いても良い。

【００１０】本発明フイルムは、熱可塑性樹脂Ａからな
るＡ層と熱可塑性樹脂ＢからなるＢ層との積層構成を有
し、Ａ層が少なくとも一方の最外層を構成する積層フイ
ルムである。すなわち、Ａ／Ｂ、Ａ／Ｂ／Ａ、Ａ／Ｂ／
Ｃ、Ａ／Ｂ／Ｃ／Ｂ、Ａ／Ｂ／Ｃ／Ｂ／Ａ等の積層構成
を有するフイルムである。

【００１１】この少なくとも一方の最外層を構成するＡ
層には、平均粒径が該Ａ層の厚さの０．１〜１０倍の不
活性粒子が０．００１〜５０重量％含有される。

【００１２】上記不活性粒子の大きさは、Ａ層中での平
均粒径がＡ層厚さの０．１〜１０倍、好ましくは０．５
〜５倍、さらに好ましくは１．１〜３倍の範囲であるこ
とが必要である。平均粒径／フイルム厚さ比が上記の範
囲より小さいと耐スクラッチ性、摩擦係数が不良とな
り、逆に大きくても耐スクラッチ性、電磁変換特性、摩
擦係数が不良となるので好ましくない。このような粒径
とフイルム厚さの関係にすることにより、Ａ層表面に効
率よく所望の突起が形成される。

【００１３】また、本発明の熱可塑性樹脂Ａ中の不活性
粒子の含有量は０．００１〜５０重量％の範囲であるこ
とが必要である。不活性粒子の含有量が上記の範囲より
少なくても、逆に大きくても耐スクラッチ性が不良とな
るので好ましくない。

【００１４】熱可塑性樹脂Ａ中の不活性粒子の種類は特
に限定されないが、上記の好ましい粒子特性を満足する
にはアルミナ珪酸塩、１次粒子が凝集した状態のシリ
カ、内部析出粒子などは好ましくなく、コロイダルシリ
カに起因する実質的に球形のシリカ粒子、架橋高分子に
よる粒子（たとえば架橋ポリスチレン）などがあるが、
特に１０重量％減量時温度（窒素中で熱重量分析装置島
津ＴＧ−３０Ｍを用いて測定。昇温速度２０℃／分）が
３８０℃以上になるまで架橋度を高くした架橋高分子粒
子の場合に耐スクラッチ性、電磁変換特性がより一層良
好となるので特に望ましい。なお、コリダルシリカに起
因する球形シリカの場合にはアルコキシド法で製造され
た、ナトリウム含有量が少ない、実質的に球形のシリカ
の場合に耐スクラッチ性がより一層良好となるので特に
望ましい。しかしながら、その他の粒子、例えば炭酸カ
ルシウム、二酸化チタン、アルミナ等の粒子でもフイル
ム厚さと平均粒径の適切なコントロールにより十分使い
こなせるものである。

【００１５】上記Ａ層の厚さは、０．００５〜３μｍま
たは積層フイルム全厚の１０％以下であることが必要で
ある。この範囲から外れると、Ａ層表面に効率よく所望
の突起を形成することが困難となる。

【００１６】なお、本発明フイルムにおけるＡ層は、上
記熱可塑性樹脂Ａと不活性粒子からなる組成物を主要成
分とするが、本発明の目的を阻害しない範囲内で、他種
ポリマをブレンドしてもよいし、また酸化防止剤、熱安
定剤、滑剤、紫外線吸収剤などの有機添加剤が通常添加
される程度添加されていてもよい。

【００１７】Ｂ層を構成する熱可塑性樹脂Ｂとしては、
特に限定されないが、結晶性ポリマが望ましく、特に、
結晶性パラメータΔＴｃｇが２０〜１００℃の範囲の場
合に、電磁変換特性がより一層良好となるので望まし
い。具体例として、ポリエステル、ポリアミド、ポリフ
ェニレンスルフィド、ポリオレフィンが挙げられるが、
ポリエステルの場合に電磁変換特性がより一層良好とな
るので特に望ましい。また、ポリエステルとしては、エ
チレンテレフタレート、エチレンα，β−ビス（２−ク
ロルフェノキシ）エタン４−４′−ジカルボキシレー
ト、エチレン２，６−ナフタレート単位から選ばれた少
なくとも一種の構造単位を主要構成成分とする場合に耐
ダビング性が特に良好となるので望ましい。ただし、本
発明を阻害しない範囲内、望ましい結晶性を損なわない
範囲で、好ましくは５モル％以内であれば他成分が共重
合されていてもよい。

【００１８】本発明の熱可塑性樹脂Ｂにも、本発明の目
的を阻害しない範囲内で、他種ポリマをブレンドしても
よいし、また酸化防止剤、熱安定剤、滑剤、紫外線吸収
剤などの有機添加剤が通常添加される程度添加されてい
てもよい。

【００１９】熱可塑性樹脂Ｂを主成分とするフイルム層
中には、平均粒径が０．００５〜２μｍの不活性粒子が
０．００１〜１重量％含有される。

【００２０】このような特定粒径の不活性粒子が、特定
の少量だけ含有されることにより、摩擦係数、耐スクラ
ッチ性がより一層良好となるのみならず、フイルムの巻
姿が良好となる。含有する不活性粒子の種類は熱可塑性
樹脂Ａに好ましく用いられるものを使用することが望ま
しい。熱可塑性樹脂ＡとＢに含有する粒子の種類、大き
さは同じでも異なっていても良い。

【００２１】次に本発明フイルムの製造方法の代表例を
説明する。まず、熱可塑性樹脂に不活性粒子を含有せし
める方法としては、熱可塑性樹脂がポリエステルの場合
には、ジオール成分であるエチレングリコールのスラリ
ーの形で分散せしめ、このエチレングリコールを所定の
ジカルボン酸成分と重合せしめるのが延伸破れなく、本
発明範囲の厚さと平均粒径の関係、含有量、望ましい範
囲の配向状態のフイルムを得るのに有効である。また、
不活性粒子を含有するポリエステルの溶融粘度、共重合
成分などを調節して、その結晶化パラメータΔＴｃｇを
４０〜６５℃の範囲にしておく方法は延伸破れなく、本
発明範囲の厚さと平均粒径の関係、含有量、望ましい範
囲の配向状態、表層粒子濃度比、平均突起高さ等のフイ
ルムを得るのに有効である。

【００２２】また、不活性粒子のエチレングリコールの
スラリーを１４０〜２００℃、特に１８０〜２００℃の
温度で３０分〜５時間、特に１〜３時間熱処理する方法
は延伸破れなく、本発明範囲の厚さと平均粒径の関係、
含有量、さらには、望ましい範囲の配向状態、表層粒子
濃度比のフイルムを得るのに有効である。

【００２３】また熱可塑性樹脂（ポリエステルも含め
て）に不活性粒子を含有せしめる方法として、粒子をエ
チレングリコール中で１４０〜２００℃、特に１８０〜
２００℃の温度で３０分〜５時間、特に１〜３時間熱処
理した後、溶媒を水に置換したスラリーの形で熱可塑性
樹脂と混合し、ベント方式の二軸押出機を用いて混練し
て熱可塑性樹脂に練り込む方法も本発明で目標とするフ
イルムを得るのにきわめて有効である。

【００２４】粒子の含有量を調節する方法としては、上
記方法で高濃度マスターを作っておき、それを製膜時に
不活性粒子を実質的に含有しない熱可塑性樹脂で希釈し
て粒子の含有量を調節する方法が有効である。

【００２５】かくして、所定の不活性粒子を所定量含有
するペレットを必要に応じて乾燥したのち、所定の熱可
塑性樹脂Ａ組成物と熱可塑性樹脂Ｂ（Ａ、Ｂは同種、異
種どちらでもよい）を公知の溶融積層用押出機に供給
し、スリット状のダイからシート状に押出し、キャステ
ィングロール上で冷却固化せしめて未延伸フイルムを作
る。すなわち、２または３台の押出機、２または３層の
マニホールドまたは合流ブロックを用いて、熱可塑性樹
脂Ａ、Ｂを積層し、口金から２または３層のシートを押
し出し、キャスティングロールで冷却して未延伸フイル
ムを作る。この場合、熱可塑性樹脂Ａのポリマ流路に、
スタティックミキサー、ギヤポンプを設置する方法は延
伸破れなく、本発明範囲で目標とするフイルムを得るの
に有効である。また、熱可塑性樹脂Ａ側の押出機の溶融
温度を、熱可塑性樹脂Ｂ側より、１０〜４０℃高くする
ことが、延伸破れなく、かつ、本発明範囲で目標とする
フイルムを得るのに有効である。

【００２６】本発明フイルムは上記未延伸フイルムを二
軸配向せしめたフイルムである。一軸あるいは無配向フ
イルムでは耐スクラッチ性が不良となるので好ましくな
い。この配向の程度は特に限定されないが、、高分子の
分子配向の程度の目安であるヤング率が長手方向、幅方
向ともに３５０ｋｇ／ｍｍ² 以上である場合に耐スクラ
ッチ性がより一層良好となるので望ましい。分子配向の
程度の目安であるヤング率の上限は特に限定されない
が、通常、５０００ｋｇ／ｍｍ² 程度が製造上の限界で
ある。

【００２７】また、本発明フイルムは、ヤング率が上記
範囲内であっても、フイルムの厚さ方向の一部分、例え
ば、表層付近のポリマ分子の配向が無配向、あるいは、
一軸配向になっていない、すなわち、厚さ方向の全部分
の分子配向が二軸配向である場合に耐スクラッチ性、電
磁変換特性、摩擦係数がより一層良好となるので特に望
ましい。

【００２８】特にアッベ屈折率計、レーザーを用いた屈
折率計、全反射レーザーラマン法などによって測定され
る分子配向が、表面、裏面ともに二軸配向である場合に
耐スクラッチ性、電磁変換特性、摩擦係数がより一層良
好となるので特に望ましい。

【００２９】未延伸フイルムを二軸延伸し、二軸配向せ
しめる延伸方法としては、逐次二軸延伸法または同時二
軸延伸法を用いることができる。ただし、最初に長手方
向、次に幅方向の延伸を行なう逐次二軸延伸法を用い、
長手方向の延伸を３段階以上に分けて、総縦延伸倍率を
３．５〜６．５倍で行なう方法は延伸破れなく、本発明
範囲のフイルムを得るのに有効である。ただし、熱可塑
性樹脂が溶融光学異方性樹脂である場合は長手方向延伸
倍率は１〜１．１倍が適切である。長手方向延伸温度は
熱可塑性樹脂の種類によって異なり一概には言えない
が、通常、その１段目を５０〜１３０℃とし、２段目以
降はそれより高くすることが本発明範囲の厚さと平均粒
径の関係、含有量、望ましい範囲の配向状態、平均突起
高さ、表層粒子濃度比のフイルムを得るのに有効であ
る。長手方向延伸速度は５０００〜５００００％／分の
範囲が好適である。

【００３０】幅方向の延伸方法としてはステンタを用い
る方法が一般的である。延伸倍率は、３．０〜５．０倍
の範囲が適当である。幅方向の延伸速度は、１０００〜
２００００％／分、温度は８０〜１６０℃の範囲が好適
である。次にこの延伸フイルムを熱処理する。この場合
の熱処理温度は１７０〜２００℃、特に１７０〜１９０
℃、時間は０．５〜６０秒の範囲が好適である。

【００３１】［物性の測定方法および効果の評価方法］
以下に、本発明に係るフイルムの各物性の測定方法およ
び効果の評価方法について説明するとともに、それら物
性の測定および効果の評価で得られる値に関し、本発明
に係るフイルムの好ましい範囲についても述べる。ただ
し、単に評価対象となる物性や特性のみを掲げ、それら
における本発明フイルムの好ましい範囲について述べる
項目もある。

【００３２】（１）粒子含有量（主として基層部Ｂ層） 熱可塑性樹脂（たとえばポリエステル）は溶解し粒子は
溶解させない溶媒を選択し、粒子をポリエステルから遠
心分離し、粒子の全体重量に対する比率（重量％）をも
って粒子含有量とする。場合によっては赤外分光法の併
用も有効である。この測定法における本発明フイルムの
好ましい範囲は０．００５〜１重量％である。

【００３３】（２）粒子含有量（主として積層部Ａ層） フイルムから積層部Ａ層を削り取り、上記（１）項同様
の方法で測定した。この測定法における本発明フイルム
の好ましい範囲は０．１〜１０重量％である。

【００３４】（３）スピネル型酸化物の含有量 フイルムがスピネル型酸化物を含有する場合、本発明フ
イルムにおいて好ましい含有量は０．００１〜２０重量
％である。

【００３５】（４）球状シリカの含有量 積層部Ａ層に不活性粒子として球状シリカを含有する場
合には、その含有量は０．０２〜１０重量％であること
が好ましい。

【００３６】（５）球状シリカの濃度比 基層部Ｂ層が球状シリカ（Ｂ）（濃度Ｃ_B ）を含有し、
積層部Ａ層が球状シリカ（Ａ）（濃度Ｃ_A ）を含有する
場合、球状シリカの濃度比Ｃ_B ／Ｃ_A は０．０００００
５〜１０であることが好ましい。

【００３７】（６）表層粒子濃度比 ２次イオンマススペクトル（ＳＩＭＳ）を用いて、フイ
ルム中の粒子に起因する元素のうち最も高濃度の元素と
熱可塑性樹脂の炭素元素の濃度比を粒子濃度とし、厚さ
方向の分析を行う。ＳＩＭＳによって測定される最表層
粒子濃度（深さ３ｎｍの点）における粒子濃度Ａとさら
に深さ方向の分析を続けて得られる最高濃度Ｂの比、Ａ
／Ｂを表層粒子濃度比と定義した。測定装置、条件は下
記のとおりである。 １次イオン種 ：Ｏ₂ ⁺ １次イオン加速電圧：１２ｋＶ １次イオン電流 ：２００ｎＡ ラスター領域 ：４００μｍ□ 分析領域 ：ゲート３０％ 測定真空度 ：６．０×１０^-9Ｔｏｒｒ Ｅ−ＧＵＮ ：０．５ｋＶ−３．０Ａ Ａ層、Ｂ層表面ともに、表層粒子濃度比としては１以下
が好ましい。Ａ層が２種の不活性粒子を含有する場合に
おいても、１以下が好ましい。

【００３８】（７）粒子密度 表層Ａ層の粒子密度は、フイルム表面を極少量プラズマ
エッチングした後、走査型電子顕微鏡（５０００倍）に
よって表面突起の個数を１０ヵ所実測した。この測定法
における本発明フイルムの好ましい範囲は１００〜１０
００００００個／ｍｍ² である。

【００３９】（８）フイラー充填密度 本発明フイルムにおいて、粒子含有量に関してフイラー
充填密度（単位体積当りの粒子個数）として表わす場
合、その値は１０００〜１０００００個／ｍｍ²である
ことが好ましい。

【００４０】（９）破れ突起数の測定 フイルム表面にアルミニウム蒸着を施こし、走査型電子
顕微鏡にて２０００倍の倍率で観察し、突起の先端が消
失し陥没状となった個数を１ｍｍ² 当たりに換算する。
この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は１
０００個／ｍｍ² 以下である。

【００４１】（１０）粒子の凝集度 粒子を含有したフイルムを断面方向に厚さ１０００Åの
超薄切片とし、透過型電子顕微鏡（例えば日本電子製Ｊ
ＥＭ−１２００ＥＸなど）を用いて、１０万倍程度の倍
率で粒子を観察すると、これ以上粒子を分割できない最
小の粒子径（一次粒径）を観察することができる。この
一次粒子の観察と同様にして観察された一つの凝集粒子
が、いくつの一次粒子からできているかを数え、１００
視野についての平均した値を平均凝集度とした。この測
定法における本発明フイルムの好ましい範囲は１〜１０
０個である。

【００４２】（１１）粒子の平均粒径（その１） 粒子をエチレングリコール中に均一に分散してスラリー
とし、これを測定に便利な濃度に希釈し、遠心沈降式粒
子径測定装置（島津製作所製ＳＡ−ＣＰ２型）で測定す
る。得られた粒子径分布を対数確率紙にプロットし、積
算通過百分率が５０％となった点のメジアン径を、その
粒子の平均粒径とした。この測定法における本発明フイ
ルムの不活性粒子Ａ（Ａ層含有粒子）の好ましい範囲は
０．０１〜１．２μｍである。

【００４３】（１２）粒子の平均粒径（その２） フイルムからポリエステルをプラズマ低温灰化処理法
（たとえばヤマト科学製ＰＲ−５０３型）で除去し粒子
を露出させる。処理条件はポリエステルは灰化されるが
粒子はダメージを受けない条件を選択する。これをＳＥ
Ｍ（走査型電子顕微鏡）で観察し、粒子の画像（粒子に
よってできる光の濃淡）をイメージアナライザー（たと
えばケンブリッジインストルメント製ＱＴＭ９００）に
結び付け、観察箇所を変えて粒子数５０００個以上で次
の数値処理を行ない、それによって求めた数平均径Ｄを
平均粒径とする。 Ｄ＝ΣＤｉ／Ｎ ここで、Ｄｉは粒子の円相当径、Ｎは個数である。なお
不活性粒子Ｂ（Ｂ層含有粒子）については一次粒子の平
均粒径を測定する。この測定法における本発明フイルム
の不活性粒子Ｂの好ましい範囲は５〜１０００ｎｍであ
る。

【００４４】（１３）粒子の平均粒径（その３） 本発明フイルムのＡ層含有不活性粒子が球状シリカであ
る場合、その好ましい範囲は０．００５〜５μｍであ
る。また、Ａ層含有粒子の平均粒径Ｄ_A とＢ層含有不活
性粒子の平均粒径Ｄ_B との比Ｄ_B ／Ｄ_A の好ましい範囲
は０．００５〜４０である。

【００４５】（１４）粒子の平均一次粒径 粒子の平均一次粒径は次のような空気透過法によっても
測定、算出し得る。空気透過法は、球形均一粒子から成
る粉体に対して、粉体充填層を透過する流体（空気）の
透過性と粉体の比表面積との関係として、一般に下記コ
ーゼニイ・カーマン（Ｋｏｚｅｎｙ Ｃａｒｍａｎ）の
式（１）を用いて平均粒子径を求める方法である。 Ｓ_W ＝（１４／ρ）√［（ΔＰＡｔ）／（ηＬＱ）］［ε² ／（１−ε）² ］ （１） 但し、ε＝１−（Ｗ／ρＡＬ） ここに於いて； Ｓ_W ；粉体の比表面積（ｃｍ² ／ｇ） ε；粉体充填度の空隙率 ρ；粉体密度（ｇ／ｃｍ³ ） η；空気の粘性係数（ｇ／ｃｍ・ｓｅｃ） Ｌ；粉体充填層の厚さ（ｃｍ） Ｑ；粉体充填透過空気量（ｃ．ｃ） ΔＰ；充填層両面間圧力量（ｇ／ｃｍ² ） Ａ；充填層の断面積（ｃｍ² ） ｔ；Ｑｃ．ｃ．の空気の充填層透過時間（ｓｅｃ） Ｗ；粉体重量（ｇ） 前記式（１）に於いて、ρ、η、Ｌ、Ａ、及びεは独立
に測定可能であるので、Ｑとｔを与えこれに対するΔＰ
を測定すればＳ_W が求められる。該Ｓ_W の値を下記関係
式（２）に入れて平均粒子径ｄ_W が算出される。 ｄ_W ＝６／（ρＳ_W ） （２） 測定装置としてはＳＳ・１００（島津製作所）等があ
る。この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲
は０．０２〜１．４μｍである。

【００４６】（１５）平均粒径×粒子添加量 粒子の含有状態を平均粒径とその粒子の添加量の積とし
て評価することも可能である。例えば、平均粒径の測定
を次のように行う。エチレングリコールスラリー中で不
活性無機粒子を十分に分散して得られたスラリー中にお
ける粒度分布を光透過型遠心沈降式粒度分布測定機（Ｓ
Ａ−ＣＰ３型島津製作所製）を用いて測定し、その積算
５０％の値を用いた。このようにして測定した平均粒径
（μｍ）と、粒子添加量（ｐｐｍ）との積を求める。本
発明で対象となる粒子添加量は、例えば０．５〜２００
０００ｐｐｍ・μｍである。

【００４７】（１６）ポリマーの粗大粒子数 ポリマーの少量を２枚のカバーグラス間にはさんで２８
０℃で溶融プレスし、急冷したのち位相差顕微鏡を用い
て観察し、画像解析処理装置ルーゼックス５００（日本
レギュレーター製）で粒子像内の最大長が５μｍ以上の
粒子数をカウントする。この測定法における本発明フイ
ルムの好ましい範囲は２００個／１０ｍｍ³ 以下であ
る。

【００４８】（１７）粒径のばらつき度 フイルム中の粒子を走査型電子顕微鏡（日立Ｓ−５１０
型）で観察、写真撮影したものを拡大コピーし、さらに
トレースを行ってランダム２００個の粒子を黒く塗りつ
ぶした。この像を画像解析装置（ニレコ株式会社製ルー
ゼックス５００型）を用いて、水平方向のフエレ径を測
定し、その平均値を下式で使用する平均粒子径とした。
また、粒径のばらつき度は下式により算出した。 ばらつき度＝（粒子径の標準偏差／平均粒子径）×１０
０（％） この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は８
０％以下である。

【００４９】（１８）粒径比（その１） 走査型電子顕微鏡にてポリエステルに配合する粒子を観
察し、粒子毎に最大径と最小径を求めその比を算出し
た。少なくとも１００個の粒子についてこの値を求めそ
の相加平均を粒径比とした。含有粒子が架橋高分子粒子
である場合、この測定法における本発明フイルムの好ま
しい範囲は１〜５．０である。

【００５０】（１９）粒径比（その２） 球状シリカ粒子の長径、短径、面積円相当径は粒子表面
に金属を蒸着したのち電子顕微鏡にて例えば１万〜３万
倍に拡大した像から求め、平均粒径、粒径比は次式で求
める。 平均粒径＝測定粒子の面積円相当径の総和／測定粒子の
数 粒径比＝シリカ粒子の平均長径／該粒子の平均短径 含有粒子が球状シリカである場合、粒径比に関してこの
測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は１〜
２．０である。

【００５１】（２０）粒子の比表面積比 比表面積比Ｂは下式で定義する。 Ｂ＝ＢＥＴ法で求めた比表面積値／等価球換算の比表面
積値 ここでＢＥＴ法で求めた比表面積値とは、液体窒素の温
度における窒素ガスの吸着量から求めた値である。この
測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は１〜
１．５である。

【００５２】（２１）粒度分布幅指数 粒度分布幅指数（ＳＩ）は、次式で表される。 ＳＩ＝Ｄ₇₅／Ｄ₂₅×Ｄ₅ ／Ｄ₁ 式中Ｄ₇₅、Ｄ₂₅、Ｄ₅ 、Ｄ₁ は島津製作所製遠心沈降式
粒度分布測定装置によって得た等価球径分布における積
算分布が各々７５％、２５％、５％、１％の点における
粒径（μｍ）を示す。粒度分布幅指数は粒径の分布の広
がりを示すもので、１．０に近づくほど単分散に近くな
る。この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲
は０．５〜１である。

【００５３】（２２）粒径の相対標準偏差 次式で表される。 相対標準偏差＝√［Σ（（Ｄ１−Ｄ_AV）² ／ｎ）／
Ｄ_AV］ ここで、Ｄ１：個々の粒子の面積円相当径（μｍ） Ｄ_AV：面積円相当径の平均値 Σ：ｉ＝１〜ｎ Ｄ_AV＝（ΣＤ１）／ｎ（μｍ） この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は５
以下である。

【００５４】（２３）粒子の体積係状係数（ｆ） 下記式で表される。 ｆ＝Ｖ／Ｄ³ Ｖ：粒子１個当たりの平均体積（μｍ³ ） Ｄ：粒子の平均最大粒径（μｍ） π／６に近づく程、真球に近づく。この測定法における
本発明フイルムの好ましい範囲は０．３〜０．５２であ
る。

【００５５】（２４）粒子の真球度 フイルムからポリエステルをプラズマ低温灰化処理法
（例えばヤマト科学製ＰＲ−５０３型）で除去し粒子を
露出させる。処理条件はポリエステルは灰化されるが、
有機高分子粒子はダメージを受けない条件を選択する。
これをＳＥＭ（走査型電子顕微鏡）で観察し粒子の画像
（粒子によってできる光の濃淡）をイメージアナライザ
ー（例えばケンブリッジインストルメント製ＱＴＭ９０
０）に結び付け、観察箇所を変えて粒子数５０００個以
上で次の数値処理を行ない求めた長径短径の比である。 真球度＝Σ（Ｄ₁ ／Ｄ₂ ）／Ｎ Ｄ₁ 、Ｄ₂ は、それぞれ個々の粒子の長径（最大径）、
短径（最小径）、Ｎは総個数である。この測定法におけ
る本発明フイルムの好ましい範囲は１〜３である。

【００５６】（２５）粒子の細孔容積 細孔を有する粒子の細孔容積をいう。なお、粒子は内部
が中空になったものでもよい。例えば、細孔を有するシ
リカ粒子が挙げられる。細孔容積に関して、本発明フイ
ルムにおける好ましい範囲は０．７〜１．３ｃｃ／ｇで
ある。

【００５７】（２６）粒子の外接円に対する面積率 不活性粒子を走査型電子顕微鏡（日立Ｓ−５１０型）で
観察、写真撮影したものを拡大コピーし、更にトレース
を行ってランダムに２００個の粒子を黒く塗りつぶし
た。トレース像より任意に２０の粒子を選び、それぞれ
の粒子について投影断面積を画像解析装置（ニレコ
（株）製、ルーゼックス５００型）で測定した。また、
それらの粒子に外接する円の面積を算出することによ
り、下式を用いて面積率を求めた。 面積率＝（粒子の投影断面積／粒子に外接する円の面
積）×１００ この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
０．５〜１％である。

【００５８】（２７）粒子の硬さ モース硬度で表わす。この測定法における本発明フイル
ムの好ましい範囲は３〜９である。

【００５９】（２８）表面突起の平均高さ（その１） ２検出器方式の走査型電子顕微鏡（ＥＳＭ−３２００、
エリオニクス（株）製）と断面測定装置（ＰＭＳ−１、
エリオニクス（株）製）においてフイルム表面の平坦面
の高さを０として走査した時の突起の高さ測定値を画像
処理装置（ＩＢＡＳ２０００、カールツアイス（株）
製）に送り、画像処理装置上にフイルム表面突起画像を
再構築する。次に、この表面突起画像で突起部分を２値
化して得られた個々の突起部分の中で最も高い値をその
突起の高さとし、これを個々の突起について求める。こ
の測定を場所をかえて５００回繰り返し、突起個数を求
め、測定された全突起についてその高さの平均値を平均
高さとした。また個々の突起の高さデータをもとに、高
さ分布の標準偏差を求めた。また走査型電子顕微鏡の倍
率は、１０００〜８００００倍の間の値を選択する。こ
の測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は０．
００５〜１μｍである。

【００６０】（２９）表面突起の平均高さ（その２） タリーステップ表面粗さ計（テイラーホブソン社製）に
より表面粗さ曲線を求め、この曲線をピークとして認識
されるもの（ピークカウント値を超える突起）につい
て、平均線からの高さを測定し、０．０１０μｍ以上の
ものの突起の個数を、以下の条件で測定した。 測定長：１ｍｍ カットオフ：０．３３Ｈｚ （ハイパスフイルター） ピークカウント値：０．００５μｍ この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
０．０１〜２．５μｍである。また、最大突起高さ／平
均突起高さの比を求めた。この測定法における本発明フ
イルムの好ましい範囲は５０以下である。

【００６１】（３０）０．１μｍ以上の高さの突起数
（Ｈ_0.1 ）、及び０．０１〜０．０５μｍの高さの突起
数（Ｈ_0.01-0.05 ） フイルム表面を（株）小坂研究所製光学式非接触３次元
表面粗さ計（ＥＴ−３０ＨＸ）を用い、フイルム長手方
向に対して４５°方向にカットオフ値０．０８ｍｍで、
長さ０．２５ｍｍにわたって測定し、０．５μｍピッチ
で５００点に分割し、各点の高さを３次元粗さ解析装置
（ＳＰＡ−１１）に取り込んだ。これと同様の操作を
０．５μｍ間隔で１５０回、つまり０．０７５ｍｍにわ
たって行ない、解析装置にデータを取り込んだ。次に、
解析装置を用いて１０点平均粗さを求め、μｍ単位で表
した。次に解析装置を用いて突起密度の高さ分布を求め
た。このとき、±０．００６２５μｍのヒステリシス幅
を越えて突起と認識されたもののみをカウントした。突
起数が最も多くカウントされた面を基準面とし、基準面
から０．１μｍ高いレベルにおいて認識される突起数
を、１ｍｍ² 当りの個数に換算して、０．１μｍ以上の
高さの突起数（Ｈ_0.1 ）とした。また０．０１μｍ以上
の高さの突起数から０．０５μｍ以上の高さの突起数を
差し引いて、０．０１〜０．０５μｍの高さの突起数
（Ｈ_0.01-0.05 ）とした。この測定法における本発明フ
イルムの好ましい範囲は、Ｈ_0.1 は５０００個／ｍｍ²
以下、Ｈ_0.01-0.05 は２０００個／ｍｍ² 以上である。

【００６２】（３１）干渉縞による突起高さ評価 多重干渉法（フイルム表面にアルミニウム蒸着を施した
後、多重干渉法により測定波長０．５４μｍで干渉縞を
出し、干渉縞を写真撮影してｎ次の干渉縞の個数を数え
１ｍｍ² に換算する。なお、測定器は日本光学（株）製
サーフェイスフィッシュマイクロスコープを用い、ミラ
ー反射率は６５％、顕微鏡倍率は２００倍とした。）で
測定したｎ次の干渉縞の個数Ｎｎ（個／ｍｍ² ）の比Ｎ
₁ ／Ｎ₂として評価する。この測定法における本発明フ
イルムの好ましい範囲は０．５〜１５である。

【００６３】（３２）突起の最大高さの測定 （株）小坂研究所製の表面粗さ測定機（ＳＥ−３Ｆ）に
よって得られた断面曲線から、基準長さ（２．５ｍｍ）
だけ抜き取った部分（以下、抜き取り部分という）を平
均線に平行な２直線で挟み、この２直線の間隔を測定し
てその値をマイクロメートル（μｍ）単位で表したもの
を抜き取り部分の最大高さとした。突起の最大高さは、
試料フイルム表面から１０本の断面曲線を求め、これら
の断面曲線から求めた抜き取り部分の最大高さの平均値
で表した。なお、測定に使用した触針の半径は２．０μ
ｍ、荷重は３０ｍｇ、カットオフ値は０．０８ｍｍとし
た。この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲
は２μｍ以下である。

【００６４】（３３）突起高さの分布曲線 （株）小坂研究所製三次元表面粗さ計（ＳＥ−ＪＡＫ）
を用い、触針の先端半径５μｍ、針圧３０ｍｇ、測定長
０．５ｍｍ、サンプリングピッチ１．０μｍ、カットオ
フ０．２５ｍｍ、縦倍率５万倍、横倍率２００倍、走査
本数５００本の条件で突起高さと突起数を測定した。本
発明でいう突起高さ（Ｘ（μｍ））は突起個数が最大に
なる点の高さを０レベルとし、このレベルからの高さを
もって突起高さとし、各突起高さにおける突起数（Ｙ
（個／ｍｍ² ））の関係を図式化し、分布曲線として表
した。この測定法における本発明フイルムの好ましいＸ
とＹの範囲は次式を満たす領域である。 ２−２０Ｘ＜ｌｏｇ¹⁰Ｙ＜４−４Ｘ

【００６５】（３４）突起分布測定法 （株）小坂研究所製三次元粗さ計（ＳＥ−３ＣＫ）を用
いて、針径２μｍＲ、針圧３０ｍｇ、測定長１ｍｍ、サ
ンプリングピッチ２μｍ、カットオフ０．２５ｍｍ、縦
方向拡大倍率２万倍、横方向拡大倍率２００倍、走査本
数１５０本の条件にてフイルム表面の突起のプロファイ
ルを三次元的（立体的）にイメージさせる。そのプロフ
ァイルをフイルムの厚さと直角方向の平面でカットした
場合に、各突起のプロファイルの断面積の合計が、フイ
ルムの測定領域の面積の７０％となる平面を基準レベル
（０レベル）とし、その基準レベルの平面と平行に突起
の高さ方向に距離ｘだけ離れた平面でカットしたときに
カットされる突起の数をｙとする。ｘを順次増加又は減
少させ、そのときのｙの数を読み取り、グラフにプロッ
トすることにより、突起分布曲線を描くことができる。
上記距離ｘを「突起高さ（ｘ）」と、そして上記ｙを
「突起数（ｙ）」と定義する。この測定法における本発
明フイルムの好ましい範囲は突起高さが０．００１〜
０．８μｍである。

【００６６】（３５）表面突起の高さ分布の標準偏差 ２検出器方式の走査型電子顕微鏡〔ＥＳＭ−３２００、
エリオニクス（株）製〕と断面測定装置〔ＰＭＳ−１、
エリオニクス（株）製〕においてフイルム表面の平坦面
の高さを０として走査したときの突起の高さ測定値を画
像処理装置〔ＩＢＡＳ２０００、カールツァイス（株）
製〕に送り、画像処理装置上にフイルム表面突起画像を
再構築する。次に、この表面突起画像で突起部分を２値
化して得られた個々の突起の面積から円相当径を求めこ
れをその突起の平均径とする。また、この２値化された
個々の突起部分の中で最も高い値をその突起の高さと
し、これを個々の突起について求める。この測定を場所
をかえて５００回繰り返し、測定された突起についてそ
の高さ分布を正規分布（高さ０の点を中心とする正規分
布）とみなして最小２乗法で近似して高さ分布の標準偏
差を求めた。また、走査型電子顕微鏡の倍率は、１００
０〜８０００倍の間を選択する。この測定法における本
発明フイルムの好ましい範囲は１以下である。

【００６７】（３６）微細突起の高さ分布 シャドウィング法により突起高さを測定し、突起全数に
対し、高い方から０．０１％に相当する突起高さをＨ
_0.01、０．１％に相当する突起高さをＨ_0.1 、１％に相
当する突起高さをＨ₁ とする。この測定法における本発
明フイルムの好ましい範囲はＨ_0.01は５００〜１０００
ｎｍ、Ｈ_0.1 は４００〜７００ｎｍ、Ｈ₁ は３５０〜５
００ｎｍである。

【００６８】（３７）突起の個数 タリーステップ表面粗さ計（テイラーホブソン社製）に
より表面粗さ曲線を求め、この曲線をピークとして認識
されるもの（ピークカウント値を超える突起）につい
て、平均線からの高さを測定し、０．０１０μｍ以上の
ものの突起の個数を、以下の条件で測定した。 測定長：１ｍｍ カットオフ：０．３３Ｈｚ （ハイパスフィルター） ピークカウント値：０．００５μｍ ０．３０μｍ以上の高さの突起は頻度が小さいので、上
記測定を４００回繰り返して個数を求めた。 測定長：４００ｍｍ この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は高
さ０．３０μｍ以上の突起について１０００個以下であ
る。

【００６９】（３８）突起数（その１） 光学式表面粗さ計により測定し、高さ１００ｎｍ以上の
突起数を求めた。この測定法における本発明フイルムの
好ましい範囲は５０万個／ｍｍ² 以下である。

【００７０】（３９）突起数（その２） 光干渉式表面粗さ計により測定し、高さ０．５〜０．８
μｍの突起数を求めた。この測定法における本発明フイ
ルムの好ましい範囲は５００００個／ｍｍ² 以下であ
る。

【００７１】（４０）突起数（その３） フイルム表面にアルミニウム蒸着を施した後、日本光学
（株）製サーフェイスフィニッシュマイクロスコープを
用い多重干渉法により測定波長０．５４μｍで干渉縞を
出し、干渉縞の１次以上の数を１０ｃｍ² の面積分カウ
ントし、１００ｃｍ² に換算した。なお、測定の際のミ
ラー反射率は６５％とした。高さ０．２７μｍ以上の突
起数をカウントした。この測定法における本発明フイル
ムの好ましい範囲は０〜１００００個／ｍｍ² である。

【００７２】（４１）微細突起数 シャドウィング法により測定した。シャドウィング法と
は、Ａｕ−Ｐｄ合金等２次電子発生効率の高い重金属を
蒸発源とし、被測定粗面となる試料に斜めから薄く蒸着
し、真上から低加速ＦＥ−ＳＥＭ等高分解能電子顕微鏡
で影の長さを観察する方法である。蒸着入射角θを８５
°とし、Ａｕ−Ｐｄ膜厚を１０Åとすれば、個々の突起
高さを略８％の精度で測定できる。この様にして高さ分
布をとるときには、できるだけ大面積で測定する方が好
ましい。なお、ＦＥ−ＳＥＭとしては日立製Ｓ−８００
を用いた。この測定法における本発明フイルムの好まし
い範囲は１×１０² 〜１×１０⁶個／ｍｍ² である。

【００７３】（４２）微細突起密度 本発明でいう微細突起密度は、触針式表面粗さ計によっ
て測定できる。この時、触針の半径を２μｍ、針圧を３
０ｍｇ、カットオフ値を０．０８ｍｍ、縦方向拡大倍率
を１０万倍、横方向拡大倍率を５００倍としフイルム表
面を１ｍｍ測定する。得られた粗さ曲線のチャート上の
山頂のレベルとその左側の谷底のレベルとの差が１．０
μｍ以上のものを微細突起と定義する。この測定法にお
ける本発明フイルムの好ましい範囲は１μｍ以上のピー
クをカウントした場合、０〜５００個／ｍｍである。

【００７４】（４３）粗大突起数（その１） フイルム表面にアルミニウムを薄く蒸着した後、二光束
干渉顕微鏡を用いて四重環以上の粗大突起数（測定面積
１ｍｍ² 当りの個数）をカウントした。この測定法にお
ける本発明フイルムの好ましい範囲は１０個／ｍｍ² 以
下である。

【００７５】（４４）粗大突起数（その２） フイルム表面にアルミニウムを蒸着し、二光束干渉顕微
鏡を用いて観察し、測定波長０．５４μｍでｎ次の干渉
縞を示す個数を測定した。測定フイルム面積は２５ｃｍ
² とし、３次以上の突起数をＨ₃ 、４次以上の突起数を
Ｈ₄ として示した。この測定法における本発明フイルム
の好ましい範囲はＨ₃ が１００個／ｍｍ²以下である。

【００７６】（４５）粗大突起数（０．５４μｍ以上の
高さの突起数）（その３） フイルム表面にアルミニウムを５００Åの厚みで蒸着し
た後、ナッハ社製二光束干渉顕微鏡を用いて拡大倍率８
００倍で２０ｍｍ² の面積をくまなく走査する。２．０
次以上の干渉縞を有する突起の数を求め、１ｃｍ² 当り
の個数に換算して、これを粗大突起数とする。この測定
法における本発明フイルムの好ましい範囲は０〜１００
０００個／ｃｍ² である。

【００７７】（４６）粗大突起数（その４） 試料１０ｍｇを正確に秤量し、１８×１８ｍｍのカバー
グラスにはさみ、２８０〜２９０℃で熱プレスし、直径
約１０ｍｍのフイルムを作成し、このフイルムを位相差
顕微鏡（１００倍）で観察し、最大長さ１０μｍ以上の
粒子を測定し粗大突起数とした。この測定法における本
発明フイルムの好ましい範囲は０〜１０個である。

【００７８】（４７）フイルム中の粗大粒子数 フイルムの少量を２枚のカバーグラス間にはさんで２８
０℃で溶融プレスし、急冷したのち位相差顕微鏡を用い
て観察し、画像解析処理装置ルーゼックス５００（日本
レギュレーター製）を用いて処理し、粒子像内の最大長
が５μｍ以上の粒子数（測定面積４．８ｍｍ² 当りの個
数）をカウントした。この測定法における本発明フイル
ムの好ましい範囲は２０個／ｍｍ² 以下である。

【００７９】（４８）へこみの測定 フイルムにアルミニウムを蒸着し、これを微分干渉顕微
鏡で観察し、写真倍率５００倍の写真を複数枚得る。次
いでこの写真上に目視観察される長径５μｍ以上のへこ
みを数え、１ｃｍ² 当りの個数に換算する。この測定法
における本発明フイルムの好ましい範囲は０〜１００個
／ｃｍ² である。

【００８０】（４９）フイルム表面の中心線平均粗さ
（Ｒａ）、１０点平均表面粗さ（Ｒ_ZD） ＪＩＳ−８０６０１で定義される値であり、本発明では
（株）小坂研究所の触針式表面粗さ計（ＳＵＲＦＣＯＲ
ＤＥＲ ＳＥ−３０Ｃ）を用いて測定する。測定条件等
は次のとおりである。 （ａ）触針先端半径：２μｍ （ｂ）測定圧力 ：３０ｍｇ （ｃ）カットオフ ：０．２５ｍｍ （ｄ）測定長 ：１．０ｍｍ （ｅ）データーのまとめ方：同一試料について５回繰り
返し測定し、最も大きい値を１つ除き、残り４つのデー
ターの平均値で表示する。 フイルム表面の１０点平均表面粗さ（Ｒ_ZD）としては、
上記測定において測定長１ｍｍの粗さプロファイルの１
／５に等分したそれぞれの区間の最高の山頂と最低の谷
との差Ｒ_Z1、Ｒ_Z2……Ｒ_Z5の平均値でＲ_ZDを表示する。
この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲はＲ
_ZDが５〜５００ｎｍである。

【００８１】（５０）表面粗さ （株）小坂研究所製表面形状測定装置サーフコーダーＦ
Ｅ−３Ｆ型を用い、カットオフ０．０８ｍｍ、測定倍率
５万倍の条件にて測定。上記測定値から磁性面／非磁性
面の比を算出した。この測定法における本発明フイルム
の好ましい範囲は０．２〜１である。

【００８２】（５１）中心線平均粗さ（Ｒａ）、１０点
平均粗さ（Ｒｚ） ＪＩＳ−Ｂ０６０１に準じ、（株）小坂研究所製の高精
度表面粗さ計ＳＥ−３ＦＡＴを使用して、針の半径２μ
ｍ、荷重３０ｍｇで拡大倍率２０万倍、カットオフ０．
０８ｍｍの条件下にチャートをかかせ、フイルム表面粗
さ曲線からその中心線の方向に測定長さＬの部分を抜き
取り、この抜き取り部分の中心線をＸ軸、縦倍率の方向
をＹ軸として、粗さ曲線Ｙ＝ｆ（ｘ）で表したとき、次
の式で与えられた値をμｍ単位で表わす。 Ｒａ＝（１／Ｌ₀ ）∫^L ｜ｆ（ｘ）｜ｄｘ この測定は基準長を１．２５ｍｍとして４個測定し、平
均値で表わす。Ｒｚについては、ＪＩＳ−Ｂ０６０１に
準じ、Ｒａと同様の方法でチャートをかかせ、断面曲線
から基準長さだけ抜き取った部分において、平均線に平
行かつ、断面曲線を横切らない直線から縦倍率の方向に
測定した最高から５番目までの山頂の標高の平均値と最
深から５番目までの谷底の標高の平均値との差の値をマ
イクロメートル（μｍ）で表す。この測定は基準長を
１．２５ｍ／ｍとして４個測定し、平均値で表わす。こ
の測定法における本発明フイルムの好ましい範囲はＲａ
が０．０３μｍ以下、Ｒｚが５〜９００ｎｍである。

【００８３】（５２）フイルム表面粗さ（Ｒａ） 中心線平均粗さ（Ｒａ）としてＪＩＳ−Ｂ０６０１で定
義される値であり、本発明では（株）小坂研究所の触針
式表面粗さ計（ＳＵＲＦＣＯＲＤＥＲ ＳＥ−３０Ｃ）
を用いて測定する。測定条件等は次のとおりである。 （ａ）触針先端半径：２μｍ （ｂ）測定圧力 ：３０ｍｇ （ｃ）カットオフ ：０．０８ｍｍ （ｄ）測定長 ：１．０ｍｍ （ｅ）データーのまとめ方：同一試料について５回繰り
返し測定し、最も大きい値を１つ除き、残り４つのデー
ターの平均値の小数点以下５桁目を四捨五入し、小数点
以下４桁目までを表示する。 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は２
〜２５ｎｍである。

【００８４】（５３）表面粗さ（ＣＬＡ） ＤＩＮ基準４７６８に記載された方法にしたがい、ペル
テン（Ｐｅｒｔｈｅｎ）Ｓ６Ｐ型装置にて次の条件下で
測定した。 遮断波長値 ：０．０８μｍ 検知長さ ：１．７５μｍ センサーの曲率 ：５μｍ センサーに対する圧力：５０ｍｇｆ 測定する結果は、２０μｍ離間したプロフィルにつき行
った３０回の測定の平均である。この測定法における本
発明フイルムの好ましい範囲は２〜３０ｎｍである。

【００８５】（５４）表裏の表面粗さ（Ｒａ）の差 中心線平均粗さ（Ｒａ）としてＪＩＳ−Ｂ０６０１で定
義される値であり、本発明では（株）小坂研究所の触針
式表面粗さ計（ＳＵＲＦＣＯＲＤＥＲ ＳＥ−３０Ｃ）
を用いて測定する。測定条件は次のとおりである。 （ａ）触針先端半径：２μｍ （ｂ）測定圧力 ：３０ｍｇ （ｃ）カットオフ ：０．２５ｍｍ （ｄ）測定長 ：２．５ｍｍ （ｅ）データのまとめ方：同一試料について５回繰り返
し測定し、最も大きい値を１つ除き、残り４つのデータ
の平均値の小数点以下４桁目を四捨五入し、小数点以下
３桁目までを表示する。 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は表
裏のＲａの差が０〜０．０３０μｍである。

【００８６】（５５）表面粗さ（最大高さＲｍａｘ） 測定には、（株）小坂研究所製のＥＴ−３０ＨＫ＋ＳＰ
Ａ−１１を使用し、接触式により二次元粗さを求めた。
測定条件は下記のとおりである。 （ａ）針圧 ：６ｍｇ（針径２μｍＲ） （ｂ）倍率 ：高さ方向×５００００ （ｃ）カットオフ ：０．０８ｍｍ （ｄ）測定スピード：２０μｍ／秒 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
０．０１〜０．８μｍである。

【００８７】（５６）表面粗さパラメータＲｔ／Ｒａ
（Ｂ層） Ｒｔ（最大高さ）とＲａ（中心線平均粗さ）を、表面粗
さ計を用いて測定した。条件は下記のとおりであり、２
０回の測定の平均値をもって値とした。 （ａ）触針先端半径：０．５μｍ （ｂ）触針荷重 ：５ｍｇ （ｃ）測定長 ：１ｍｍ （ｄ）カットオフ ：０．０８ｍｍ この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は１
〜５０である。

【００８８】（５７）表面粗さパラメータＰ１０ 光干渉式三次元表面解析装置（ＷＹＫＯ社製ＴＯＰＯ−
３Ｄ、対物レンズ：４０〜２００倍、高解像度カメラ使
用が有効）を用いて、画像処理装置上にフイルム表面突
起画像を構築する。この表面突起画像で突起部分の最も
高い値から１０点について平均をＰ１０と定義した。２
０回の測定の平均値をもって値とした（単位ｎｍ）。こ
の測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は２０
〜１０００ｎｍである。

【００８９】（５８）三次元中心面平均粗さ（ＳＲａ） 粗さ曲面からその中心面上に面積Ｓｗの部分を抜き取
り、この抜き取り部分の中心面上に直交座標系Ｘ軸、Ｙ
軸を置き中心面に直交する軸をＺ軸で表すと、次の式で
与えられた値をμｍ単位で表す。 ＳＲａ＝（１／Ｓｗ）∬｜ｆ（Ｘ，Ｙ）｜ｄｘｄｙ 但し、∫は０からＬ_X まで、及び０からＬ_Y まで、 Ｌ_X Ｌ_Y ＝Ｓｗ この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
０．００５〜０．０５０μｍである。

【００９０】（５９）１０点平均粗さ（ＳＲｚ） フイルム表面を（株）小坂研究所製光学式非接触三次元
表面粗さ計（ＥＴ−３０ＨＸ）を用い、フイルム長手方
向に対して４５°方向にカットオフ値０．０８ｍｍで、
長さ０．２５ｍｍにわたって測定し、０．５μｍピッチ
で５００点に分割し、各点の高さを三次元粗さ解析装置
（ＳＰＡ−１１）に取り込んだ。これと同様の操作を
０．５μｍ間隔で１５０回、つまり０．０７５ｍｍにわ
たって行い、解析装置にデータを取り込んだ。次に、解
析装置を用いて１０点平均粗さを求め、μｍ単位で表し
た。この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲
は０．０２０〜０．７μｍである。

【００９１】（６０）三次元平均傾斜勾配（ＳΔａ） 表面形状（平均面基準による）の各切断平面により切断
して求まるバーティクルの面積と個数の平均円半径ｒの
変化をΔｒとして、ΔＺ／Δｒを各レベルの切断平面で
求め、各値を平均して三次元平均傾斜勾配とする。この
測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は０．０
０５〜０．０４である。

【００９２】（６１）三次元表面粗さの空間平均波長
（Ｓλａ） 測定長ｌ、空間角周波数ｗ₀ 、振幅Ａなる正弦関数ｙ＝
ＡｓｉｎＷｏｘなる表面形状を想定して下記の計算を行
うと、 （２πＲａ／Δａ）＝［（２π／ｌ）∫｜ｙ｜ｄｘ／ ［（１／ｌ）∫｜ｄｙ／ｄｘ｜ｄｘ］］ ＝（２π／Ｗ₀ ）［∫｜ｓｉｎＷｏｘ｜ｄｘ］／［∫｜ＷｓＷｏｘ｜ｄｘ］ ＝２π／Ｗ₀ ＝λ₀ （但し、∫は０からｌまで、（次式も同じ））となり、
空間平均波長λ₀ が求まる。ここで測定した表面粗さの
中心線をＸ軸としての関数ｙ＝ｆ（ｘ）で表すと、ｆ
（ｘ）について ２πＲａ／Δａ＝（２π／ｌ）∫｜ｆ（ｘ）｜ｄｘ／ ［（１／ｌ）∫｜ｄｆ（ｘ）／ｄｘ｜ｄｘ］ ＝［２π∫｜ＡｓｉｎＷａｘ｜ｄｘ］／ ∫｜（ｄ（ＡｓｉｎＷａｘ））／ｄｘ｜ ＝λａ なる関係を満足する正弦関数の空間波長λａを関数ｆ
（ｘ）の空間平均波長と定義する。したがって、三次元
表面粗さの空間平均長（Ｓλａ）は以下のように定義す
る。 Ｓλａ＝（２π・ＳＲａ／（ＳΔａ）） 但し、ＳＲａ：三次元中心面平均粗さ ＳΔａ：三次元平均傾斜勾配 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
０．０１〜１５μｍである。

【００９３】（６２）フイルムの表面平滑性（ＴＡＲ） フイルム表面を（株）小坂研究所製触針式三次元表面粗
さ計（ＳＥ−３ＡＫ）を用いて、針の半径２μｍ、荷重
３０ｍｇの条件下、フイルム長手方向にカットオフ値
０．２５ｍｍで測定長１ｍｍにわたって測定し、２μｍ
おきに高さ方向のデータを量子化幅０．００３１２μｍ
で外部記憶装置に取り込ませる。このような測定をフイ
ルムの横手方向について２μｍ間隔で連続的に１５０
回、つまりフイルムの横手方向０．３ｍｍの幅にわたっ
て測定する。このときの高さ方向のデータを ｈ（ｉ，ｊ）［ｉ＝１〜５００、ｊ＝１〜１５０］ としたとき、次式の計算を行って得られたものをμｍ単
位で表したものがＴＡＲ〔スリー・ディメンジョナル・
アベレージ・ラフネス〕である。 ＴＡＲ＝（１／７５０００）Σ₁ Σ₂ Δｈ（ｉ，ｊ） Δｈ（ｉ，ｊ）＝｜ｈ（ｉ，ｊ） −（１／７５０００）Σ₁ Σ₂ ｈ（ｉ，ｊ）｜ （但し、Σ₁ はｉが１〜５００、Σ₂ はｊが１〜１５
０） この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
０．００５〜０．０３６μｍである。

【００９４】（６３）粗面の表面粗さ 中心線平均粗さＲａ（μｍ）をもって表面粗さとした。
（株）小坂研究所製表面粗さ測定機（ＳＥ−３Ｆ）を用
い、フイルム断面曲線からその中心線の方向に基準長さ
Ｌ（２．５ｍｍ）の部分を抜き取り、この抜き取り部分
の中心線をＸ軸、縦倍率の方向をＹ軸として粗さ曲線ｙ
＝ｆ（ｘ）で表したとき、下記式で与えられた値を（μ
ｍ）で表し、中心線平均粗さは、試料フイルム表面から
１０本の断面曲線を求め、これらの断面曲線から求めた
抜き取り部分の中心線平均粗さの平均値で表した。な
お、触針の先端半径は２μｍ、荷重３０ｍｇとし、カッ
トオフ値は０．０８ｍｍとした。 Ｒａ＝（１／Ｌ）∫｜ｆ（ｘ）｜ｄｘ （但し、∫は０からＬまで） なお、このパラメータは、表裏の粗さを意識的に変える
場合に設定されるものである。この測定法における本発
明フイルムの好ましい範囲は６〜２５ｎｍである。

【００９５】（６４）表面うねり（Ｗｃａ） 表面粗さ・形状測定機（東京精密社製）「サーコム１５
００Ａ機」において、カットオフ値０．５００〜０．０
５０ｍｍに設定し、テープの幅方向に測定し、値を求め
た。この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲
は０．０３以下である。

【００９６】（６５）平滑性 （株）小坂研究所製の薄膜段差計ＥＴ−１０型で触針先
端半径０．５μｍ、触針荷重１ｇで測定し、突起の基底
部から頂上部までの高さで判定した。この測定法におけ
る本発明フイルムの好ましい範囲は上記頂上部までの高
さが１．５μｍ以下である。

【００９７】（６６）平滑面と粗面の中心線平均粗さ 中心線平均粗さＲａ（μｍ）をもって表面粗さとした。
（株）小坂研究所製表面粗さ測定機（ＳＥ−３Ｆ）を用
い、フイルム断面曲線からその中心線の方向に基準長さ
Ｌ（２．５ｍｍ）の部分を抜き取り、この抜き取り部分
の中心線をＸ軸、縦倍率の方向をＹ軸として粗さ曲線ｙ
＝ｆ（ｘ）で表したとき、下記式で与えられた値を（μ
ｍ）で表し、中心線平均粗さは、試料フイルム表面から
１０本の断面曲線を求め、これらの断面曲線から求めた
抜き取り部分の中心線平均粗さの平均値で表した。な
お、触針の先端半径は２μｍ、荷重３０ｍｇとし、カッ
トオフ値は０．０８ｍｍとした。この測定法における本
発明フイルムの好ましい範囲は平滑面が０．６〜１５ｎ
ｍ、粗面が６〜２５ｎｍである。

【００９８】（６７）ＳＲｚ、ＳΔａ、Ｓλａ ＳＲｚ、ＳΔａ、Ｓλａはそれぞれ三次元表面粗さ測定
における１０点平均粗さ（μｍ）、平均傾斜勾配、平均
波長（μｍ）及びＰ・Ｃは面積０．１２ｍｍ²における
突起数を表す。ＳＲｚ、ＳΔａ、Ｓλａは（株）小坂研
究所製三次元表面粗さ計で測定した。ＰＣはニコン社製
微分干渉顕微鏡を用いてアルミニウム蒸着したポリエス
テルフイルムを最終倍率１６０倍で写真をとり、透明な
フイルムに突起をトレースして、ニレコ（株）社製イメ
ージアナライザーでポリエステルフイルム０．１２ｍｍ
² に相当する面積を画像処理し、円相当としての突起数
を算出した数値である。ＳＲｚ及びＳΔａ・ＰＣ／Ｓλ
ａを評価対象とする。この測定法における本発明フイル
ムの好ましい範囲はＳＲｚが０．０１〜０．５、ＳΔａ
・ＰＣ／Ｓλａが０．０３〜３００００である。

【００９９】（６８）Ｒａ−Ｒａ₀ Ｒａ₀ はベースフイルムの表面平均粗さ（μｍ）、Ｒａ
は被膜層の表面平均粗さ（μｍ）である。ここで、表面
平均粗さはＪＩＳ−Ｓ０６０１に準じて測定する。すな
わち、東京精密社（株）製の触針式粗さ計（ＳＵＲＦＣ
ＯＭ ３Ｂ）を用いて、針の半径２μｍ、荷重０．０７
ｇの条件下にチャートにフイルム表面粗さ曲線を書か
せ、得られるフイルム表面粗さ曲線から、その中心線の
方向に測定長さＬの部分を抜き取り、この抜き取り部分
の中心線をＸ軸とし、縦方向をＹ軸として、粗さ曲線ｙ
＝ｆ（ｘ）で表したとき、次の式で与えられる値が（Ｒ
ａ：μｍ）をフイルム表面平均粗さとして定義する。 Ｒａ＝（１／Ｌ）∫｜ｆ（ｘ）｜ｄｘ （但し、∫は０からＬまで） 本発明では、基準長を０．２５ｍｍとして８個測定し、
値の大きい方から３個除いた５個の平均値としてＲａを
表す。この測定法における本発明フイルムの好ましい範
囲はベース面のＲａ−Ｒａ₀が０．１μｍ以下である。

【０１００】（６９）熱収縮率（その１） 無張力状態で１００℃雰囲気中３０分間、熱処理しその
前後のサンプルの長さを測定することにより次式にて計
算した。 熱収縮率（％）＝［（熱処理前のサンプル長−熱処理後
のサンプル長）／熱処理前のサンプル長］×１００
（％） この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は５
％以下である。

【０１０１】（７０）熱収縮率（その２） フイルムを長手方向に長さ５０ｃｍ（ｌ₀ ）、巾１５ｍ
ｍに切断し、オーブン中に１８０℃の温度で３０分熱処
理した後、フイルムの長さ（ｌ）を測定し下記式からそ
の収縮率を求めた。 熱収縮率＝［（ｌ₀ −ｌ）／ｌ₀ ］×１００（％） この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は１
０％以下である。１２０℃、５時間の熱収縮率の好まし
い範囲は１０％以下である。１５０℃、３０分の熱収縮
率の好ましい範囲は７％以下である。

【０１０２】（７１）熱収縮率（その３） １００℃における３０分保存後の熱収縮率を測定した。
この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は５
％以下である。

【０１０３】（７２）熱収縮率（その４） フイルム縦方向及び横方向に、それぞれ幅１０ｍｍ長さ
１００ｍｍの短冊状試片を切り出し、１５０℃及び１０
５℃に保持されたギアオーブン中に無緊張状態で放置し
て、３０分後に取り出して処理前後の試片長さから算出
した。この測定法における本発明フイルムの好ましい範
囲は、１０５℃における横方向熱収縮率が５％以下、１
５０℃における縦方向及び横方向熱収縮率がそれぞれ１
０％以下である。

【０１０４】（７３）熱収縮率（その５） 基材フイルムを幅１０ｍｍ、長さ６００ｍｍの短冊状に
切り出し、５００ｍｍ間隔の標点を付けた。このサンプ
ルを無張力下で１００℃のギアーオーブンにて１時間処
理したのち、室温まで冷却した。熱処理前後の寸法変化
から熱収縮率を算出した。寸法の測定はＭＩＴＵＴＯＹ
Ｏ製の微小寸法測定装置（ＰＲＯＦＩＬＥ ＰＲＯＪＥ
ＣＴＯＲ ＭＯＤＥＬＰＪ３２１Ｆ）を用いた。この測
定法における本発明フイルムの好ましい範囲は１００
℃、１時間のフイルム長手方向熱収縮率が７％以下、フ
イルムがポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）からなる
場合の該熱収縮率が０．３％以下である。

【０１０５】（７４）熱収縮率（その６） まず試料の長さを測定し、次にその試料を７０℃に保持
された空気恒温槽中に張力フリーの状態で１時間放置し
て熱処理を行い、冷却後の長さを室温において測定す
る。そして、その熱処理前後の各長さから熱収縮率を求
める。この測定法における本発明フイルムの好ましい範
囲はフイルム長手方向熱収縮率が３％以下である。

【０１０６】（７５）最高熱応力 大きさが５０ｍｍ（長さ）×４ｍｍ（幅）で、かつその
長手方向とフイルムの長手方向とが合致するようにして
採取した被測定サンプルを真空理工（株）製ＴＭＡ−３
０００型熱機械試験器により、その応力検出モードに
て、室温より４℃／分の昇温速度下に熱応力曲線を測定
し、１５０〜２２０℃で到達する最高熱応力（ｋｇ／ｍ
ｍ² ）を算出する。この測定法における本発明フイルム
の好ましい範囲は０．２〜２ｋｇ／ｍｍ²である。

【０１０７】（７６）残留収縮率 真空理工（株）製の熱機械試験器「タイプＴＭ−３００
０」を用いて所定の試験片の両端をチャックで把持して
所定荷重下で、毎分２℃の昇温速度で２５℃から４０℃
まで昇温し、そのまま１時間保持した後放冷して２５℃
にもどす。温度処理前後の寸法変化をチャートから読み
とり、下式にて残留収縮率を求める。なお５試料につき
測定し、平均値で絶対値として表示する。 残留収縮率（％）＝［［（原長）−（処理後長さ）］／
（原長）］×１００ 但し、試験片長さ（チャック間）：１５．０ｍｍ 試験片幅 ：３．８ｍｍ 荷 重 ：４００ｇ／ｍｍ² 、９００
ｇ／ｍｍ² とする。この測定法における本発明フイルムの好ましい
範囲は０〜０．０１％である。

【０１０８】（７７）熱収パラメータＣ フイルムの比重をＡ、９７５ｃｍ^-1の赤外線吸収強度／
７９５ｃｍ^-1の赤外線吸収強度をＢとするとき、 式 Ｃ＝４３．４Ａ−Ｂ で示される。この測定法における本発明フイルムの好ま
しい範囲は５０以上、より好ましくは５６．５以上であ
る。但し、Ｆ₅ 値は、東洋ボールドウィン社テンシロン
ＵＴＭ−ＩＩ−５００型を使用し、２３℃、６５％ＲＨ
の条件下で測定した。ここでいうＦ₅ 値とは、引張試験
を行った際の試料５％伸張時の単位断面積当りの応力を
意味する。Ｆ₅ 値は、測定するフイルムを長手方向１５
０ｍｍ、巾方向（長手方向と鉛直をなす方向）１０ｍｍ
の長方形に切り、チャック間１００ｍｍとして引張速度
１．００％／分で引張実験を行い求めた値である。比重
は、ｎ−ヘブタン、四塩化炭素の混合溶液による密度勾
配管を用いて、２５℃、６５％ＲＨの条件下で密度測定
し、これを比重とした。９７５ｃｍ^-1及び７９５ｃｍ^-1
の赤外線吸収ピークの強度比の測定はｓｃｈｍｉｄｔの
方法（Ｊｏｕｒｎａｌ ｏｆ Ｐｏｌｙｍｅｒ Ｓｃｉ
ｅｎｃｅ， Ｐａｒｔ Ａ， １．１２７１（１９６
３））に従った。ＰＥＲＫＩＮ ＥＬＭＥＲ社製９８３
型赤外線分光装置を用いて、９７５ｃｍ^-1の吸収高度
（Ｉ₉₇₅ ）、７９５ｃｍ^-1の吸収強度（Ｉ₇₉₅ ）を各々
求め、Ｉ₉₇₅ ／Ｉ₇₉₅ を強度比とした。

【０１０９】（７８）７０℃における熱収縮速度 フイルムの縦方向に、幅４ｍｍ長さ５０ｍｍの試片を切
り出し、真空理工（株）製ＴＭ−３０００型熱試験機に
より、定加重（９．４ｇ）下で７０℃の熱変形曲線を測
定し、試料雰囲気が７０℃に達してから（約３０分を要
する）、その後１時間にわたって生じた収縮量をもって
熱収縮速度とした。この測定法における本発明フイルム
の好ましい範囲は０．５％以下である。

【０１１０】（７９）熱処理表面温度 本発明フイルムにおいて、好ましい熱処理表面温度は１
８０〜２２０℃である。

【０１１１】（８０）面配向度（ΔＰ） アタゴ光学社製アッベ式屈折計を用い、フイルム面内の
屈折率の最大値ｎγ、それに直角の方向の屈折率ｎβ、
及びフイルムの厚さ方向の屈折率ｎαを測定し、次式よ
り面配向度を算出した。なお、屈折率の測定は、ナトリ
ウムＤ線を用い、２３℃で行った。 面配向度（ΔＰ）＝［（ｎγ＋ｎβ）／２］−ｎα この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲はベ
ース面（Ｂ面）の面配向度が０．１〜０．２である。フ
イルムがポリエチレン＋フタレート（ＰＥＮ）からなる
場合には、好ましい面配向度は０．２５５〜０．２８で
ある。

【０１１２】（８１）フイルム表面の水に対する接触角 本発明フイルムにおいて、好ましい水の接触角は６０〜
９０度である。

【０１１３】（８２）すべり係数 ２０℃・６５％ＲＨの室内で２４時間調湿した２枚の試
料の相反する面どおしを重ねて、その上に２００ｇの荷
重を乗せて、一枚の試料を１５０ｍｍ／分の速度で移動
させてその抵抗値を読み、抵抗値（ｇ）／２００ｇの計
算値で示した。この測定法における本発明フイルムの好
ましい範囲は０．８５以下である。

【０１１４】（８３）滑り性 ＡＳＴＭＤ１８９４−６３の方法に準じて摩擦係数を測
定し、滑り性の尺度とした。この測定法における本発明
フイルムの好ましい範囲は３以下である。

【０１１５】（８４）フイルムの滑り性 固定した硬質クロムメッキ金属ロール（直径６ｍｍ）に
フイルムを巻き付け、角１３５°（θ）で接触させ、５
３ｇ（Ｔ₂ ）の荷重を一端にかけて、１ｍ／分の速度で
これを走行させ、他端の抵抗力（Ｔ₁ （ｇ））を測定
し、次式により走行中の摩擦係数（μｄ）を求めた。 μｄ＝［１８０／（πθ）］ｌｎ（Ｔ₁ ／Ｔ₂ ） ＝０．４２４ｌｎ（Ｔ₁ ／５３） この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
０．３５以下である。

【０１１６】（８５）静摩擦係数（μｓ） 重ね合わせた２枚のフイルムの下側に固定したガラスを
置き、重ね合わせたフイルムの下側（ガラス板と接して
いるフイルム）のフイルムを定速ロールにて引き取り
（約１０ｃｍ／分）、上側のフイルムの一端（下側フイ
ルムの引き取り方向と逆端）に検出器を固定してフイル
ム／フイルム間の引張力（Ｆ）を検出する。なお、その
時に用いるスレッドは下側面積が５０ｃｍ² （８０ｍｍ
×６２．５ｍｍ）であり、フイルムに接する面は８０°
のネオプレンゴムであり、その重さ（Ｐ）は４００ｇあ
るいは８００ｇとする。静摩擦係数は下記式で算出され
る。 μＳ＝Ｆ（ｇ）／Ｐ（ｇ） この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は、
荷重８００ｇにおける値／荷重４００ｇにおける値との
比が０．２〜３である。

【０１１７】（８６）走行性（その１） 固定した硬質クロムメッキ金属ピン（直径６ｍｍ）にフ
イルムを巻き付け角１３５°で接触させ、一端に５３ｇ
の荷重をかけて１ｍ／分の速度で走行させ他端の抵抗力
を測定し、オイラーの式によりフイルムの摩擦係数を求
め、走行性の尺度とした。この測定法における本発明フ
イルムの好ましい範囲は０．０５〜０．５である。

【０１１８】（８７）走行性（その２） 平滑なガラス板上に、幅１５ｍｍ、長さ１５０ｍｍに切
り出したフイルム同士を２枚重ね、その上にゴム板を載
せ、２枚のフイルム接圧を２ｇ／ｃｍ² として、２０ｍ
ｍ／ｍｉｎでフイルム同士を滑らせて摩擦力を測定し、
５ｍｍ滑らせた点での摩擦係数を動摩擦係数として求め
た。なお、測定は、温度２３℃±１℃、湿度５０％±５
％の雰囲気下で行った。この測定法における本発明フイ
ルムの好ましい範囲は０．２〜３である。

【０１１９】（８８）フイルムの走行摩擦係数（その
１） 温度２０℃、湿度６０％の環境で、巾１／２インチに裁
断したフイルムをステンレス鋼ＳＵＳ３０４製の固定棒
に角度θ＝（１５２／１８１）πラジアン（１５２°）
で接触させて、毎分２００ｃｍの速さで移動（摩擦）さ
せる。入口テンションＴ₁ が４０ｇとなるようにテンシ
ョンコントローラーを調整した時の出口テンション（Ｔ
₂ ：ｇ）をフイルムが９０ｍ走行したのちに出口テンシ
ョン検出機で検出し、次式で走行摩擦係数（μ_K ）を算
出する。 μ_K ＝（２．３０３／θ）ｌｏｇ（Ｔ₂ ／Ｔ₁ ） ＝０．８６８ｌｏｇ（Ｔ₂ ／４０） この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
０．２〜０．５である。

【０１２０】（８９）フイルムの走行摩擦係数（その
２） 温度２０℃、湿度６０％の環境で、幅１／２インチに裁
断したフイルムをステンレス鋼ＳＵＳ３０４製の固定棒
（外径５ｍｍφ、表面粗さＲａ＝０．０２μｍ）に角度
θ＝（１５２／１８１）πラジアン（１５２°）で接触
させて、毎分２００ｃｍの速さで移動（摩擦）させる。
入口テンションＴ₁ が３５ｇとなるようにテンションコ
ントローラーを調整した時の出口テンション（Ｔ₂ ：
ｇ）をフイルムが９０ｍ走行したのちに出口テンション
検出機で検出し、次式で走行摩擦係数μ_K を算出する。 μ_K ＝（２．３０３／θ）ｌｏｇ（Ｔ₂ ／Ｔ₁ ） ＝０．８６８ｌｏｇ（Ｔ₂ ／３５） この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
０．３５以下である。

【０１２１】（９０）フイルムの走行摩擦係数の変化
（Δμｋ） 上記（８９）の走行摩擦係数を測定する装置を用いて、
フイルムの移動速度を２ｍ／分として１０ｍ長のフイル
ムを５０回繰り返し走行させる。その時の１回目の摩擦
係数をμｋ₁ ，５０回目の摩擦係数をμｋ₅₀として下記
式によりΔμｋを算出する。 Δμｋ＝μｋ₅₀−μｋ₁ この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
０．２以下である。

【０１２２】（９１）フイルムの動摩擦係数（その１） 動摩擦係数をＡＳＴＭ−Ｄ−１８９４−６３Ｔに準じ、
２３℃、６５％ＲＨ、引張速度２００ｍ／分の条件で測
定した。この測定法における本発明フイルムの好ましい
範囲は０．３２〜０．４５である。

【０１２３】（９２）フイルムの動摩擦係数（その２） ＡＳＴＭ−Ｄ−１８９４に準じて、新東科学（株）製表
面性測定機ＴＹＰＥ：ＨＥＩＤＯＮ−１４Ｄで測定し
た。スレッドの面寸法は３０×３０ｍｍであり、摩擦面
は９００ｍｍ² である。全荷重は１０００ｇである。一
般に、この値の低いフイルムほど滑り性が良好でハンド
リングが容易である。ただし、この場合の静摩擦係数を
μｓ、動摩擦係数をμｋとして表した。この測定法にお
ける本発明フイルムの好ましい範囲は動摩擦係数が０．
３以下である。

【０１２４】（９３）金属ピンとの動摩擦係数（μｄ） 固定した硬質クロムメッキ金属ロール（直径６ｍｍ）に
フイルムを巻き付け角１３５°（θ）で接触させ、５３
ｇ（Ｔ₂ ）の荷重を一端にかけて、１ｍ／ｍｉｎの速度
でこれを走行させ他端の抵抗力（Ｔ₁ （ｇ））を測定
し、次式により走行中の摩擦係数（μｄ）を求めた。 μｄ＝（１／θ）ｌｎ（Ｔ₁ ／Ｔ₂ ） ＝０．４２４ｌｎ（Ｔ₁ ／５３） この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
０．０５〜０．５である。

【０１２５】（９４）走行摩擦係数（μｋ） 温度２０℃、湿度６０％の環境で、幅１／２インチに裁
断したフイルムをステンレス鋼ＳＵＳ３０４製の固定棒
（外径５ｍｍφ、表面粗さ０．３μｍ）に角度θ＝（１
５２／１８１）πラジアン（１５２°）で接触させて、
毎分２００ｃｍの速さで移動（摩擦）させる。入口テン
ションＴ₁ が３５ｇとなるようにテンションコントロー
ラーを調整した時の出口テンション（Ｔ₂ ：ｇ）をフイ
ルムが９０ｍ走行したのちに出口テンション検出機で検
出し、次式で走行摩擦係数μｋを算出する。 μｋ＝（２．３０３／θ）ｌｏｇ（Ｔ₂ ／Ｔ₁ ） ＝０．８６８ｌｏｇ（Ｔ₂ ／３５） この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
０．２〜０．４５である。

【０１２６】（９５）金属に対するフイルムの摩擦係数
（μｋ） μｋの測定は、ヨーロッパ特許出願第０６６，９９７号
の第１１頁パラグラフ３に記載された方法にしたがい、
次の条件下で行った。 固定ローラの直径 ：１０ｍｍ テープ幅 ：２．５ｃｍ 移動速度 ：５ｍ／ｍｉｎ テープ張力 ：２００ｇ 時間 ：２０ｍｉｎ 温度 ：２５℃ 相対湿度 ：３５％ 接触面積 ：５ｃｍ² ローラーに対する巻き付け角度：２０５° この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
０．３以下である。

【０１２７】（９６）摩擦係数（対金属ピン） 背面処理層を有する幅１．０ｍｍのフイルムを直径４ｍ
ｍの金属固定ピンに巻き付け角９０度で接触させ、一端
に２１．９ｇの分銅による荷重をかけ、速度３３０ｍｍ
／分で走行させた。フイルムの巻き取りを２０秒間行
い、その後巻き出しを２０秒間行い、一行程が４０秒間
の走行の５０行程後の動摩擦係数を摩擦係数とした。こ
の測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は０．
１〜０．４である。

【０１２８】（９７）磁性層側の層の厚さと磁性層の厚
さとの比 本発明フイルムにおいて、磁気記録媒体とするときに
は、磁性層側の層の厚さｔ_B と磁性層の厚さｔ_M との比
ｔ_B ／ｔ_M は、０．０００２〜３０の範囲内にあること
が好ましい。

【０１２９】（９８）最表層部の厚さ 二次イオン質量分析装置（ＳＩＭＳ）を用いて、フイル
ム中の粒子の内最も高濃度の粒子に起因する元素とポリ
エステルの炭素元素の濃度比（Ｍ⁺ ／Ｃ⁺ ）を粒子濃度
とし、ポリエステルＡ層の表面から深さ（厚さ）方向の
分析を行う。表層では表面という界面のために粒子濃度
は低く、表面から遠ざかるにつれて粒子濃度は高くな
る。本発明フイルムの場合は深さ［Ｉ］で一旦極大値と
なった粒子濃度がまた減少し始める。この濃度分布曲線
をもとに極大値の粒子濃度の１／２になる深さ［ＩＩ］
（ここでＩＩ＞Ｉ）を積層厚さとした。なお、フイルム
中にもっとも多く含有する粒子が有機高分子粒子の場合
は、ＳＩＭＳでは測定が難しいので、表面からエッチン
グしながらＸＰＳ（Ｘ線光電子分光法）、ＩＲ（赤外線
分光法）あるいはコンフォーカル顕微鏡などで、その粒
子濃度のデプスプロファイルを測定し、上記同様の手法
から積層厚さを求めても良い。さらに上述のデプスプロ
ファイルからではなく、フイルムの断面観察あるいは薄
膜段差測定機等によって求めることができる。この測定
法における本発明フイルムの好ましい範囲は、最表層部
厚さが０．００１μｍ以上、該厚さと該層の含有粒子の
平均粒径との比が０．０１〜１００である。

【０１３０】（９９）最表層積層部厚さと含有粒子との
粒径 最表層積層部厚さｔとその層に含有される粒子の粒径ｄ
_p との比ｔ／ｄ_p は、さらに、０．１〜１５が好まし
い。

【０１３１】（１００）他層の厚さと含有粒子の粒径 他の層Ｂ層、あるいはさらに他の層Ｃ層の厚さｔと、そ
の層に含有される粒子の粒径ｄ_p の比ｔ／ｄ_p は、それ
ぞれ、０．０１〜３０の範囲内であることが好ましい。

【０１３２】（１０１）最表層積層厚さ比 最表層積層部の片面の積層厚さｔ₁ と、もう一方の最表
層積層部の積層厚さｔ₂ との比ｔ₁ ／ｔ₂ は０．０１〜
１０の範囲が好ましい。

【０１３３】（１０２）積層割合 フイルム全厚に対する積層部Ａ層の割合は、１〜２０％
の範囲にあることが好ましい。

【０１３４】（１０３）フイルム厚さ及び層厚さ フイルム断面を切断し、その断面写真から粗面を構成す
る層（たとえばＡ層）の厚さを測定した。この測定法に
おける本発明フイルムの好ましい範囲は、フイルム全厚
に対する上記層の厚さの割合が３０％以下である。

【０１３５】（１０４）ヤング率（その１） 本発明フイルムにおいて好ましいヤング率は、延伸方向
及びその垂直方向ともに４５０ｋｇ／ｍｍ² 以上であ
る。

【０１３６】（１０５）ヤング率（その２） フイルムを試料幅１０ｍｍ、長さ１５ｃｍに切り、チャ
ック間１００ｍｍにして引張速度１０ｍｍ／分、チャー
ト速度５００ｍｍ／分にインストロンタイプの万有引張
試験装置にて引っ張った。得られた荷重−伸び曲線の立
ち上がり部の接線よりヤング率を計算した。この測定法
における本発明フイルムの好ましい範囲は、ポリエチレ
ンナフタレート（ＰＥＮ）フイルムについて、長手方向
ヤング率が６５０ｋｇ／ｍｍ² 以上、幅方向ヤング率が
５５０ｋｇ／ｍｍ² 以上である。

【０１３７】（１０６）ヤング率の和と差 上記（１０５）と同じ測定法にて、フイルム長手方向の
ヤング率（Ｙ_M ）とフイルム幅方向のヤング率（Ｙ_T ）
の和（Ｙ_M ＋Ｙ_T ）と差（Ｙ_M −Ｙ_T ）を求めた。この
測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は、上記
和が２０００ｋｇ／ｍｍ² 以下、上記差が−６００〜６
００ｋｇ／ｍｍ² である。

【０１３８】（１０７）ヤング率の差 （株）インテスコ製引張試験機インテスコモデル２００
１型を用いて、温度２３℃、湿度５０％ＲＨに調節され
た室内において、長さ３００ｍｍ、幅２０ｍｍの試料フ
イルムを、１０％／ｍｉｎのひずみ速度で引っ張り、引
張応力−ひずみ曲線の初めの直線部分を用いて、次の式
によってヤング率を計算する。 Ｅ＝Δσ／Δε ここで、Ｅ＝引張弾性率（ｋｇ／ｍｍ² ） Δσ＝直線上の２点の元の平均断面積による応力差 Δε＝同じ２点間のひずみ差 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は、
フイルム長手方向ヤング率（Ｙ_M ）とフイルム幅方向の
ヤング率（Ｙ_T ）との差（Ｙ_M −Ｙ_T ）が−６００〜６
００ｋｇ／ｍｍ² である。

【０１３９】（１０８）ヤング率比 本発明フイルムにおいて、フイルム長手方向のヤング率
（Ｙ_M ）とフイルム幅方向のヤング率（Ｙ_T ）との比Ｙ
_M ／Ｙ_T が０．３〜３の範囲にあることが好ましい。

【０１４０】（１０９）残留歪み率 真空理工（株）製の熱機械試験機「タイプＴＨ−３００
０」を用いて、所定の試験片の両端をチャックで把持し
て所定荷重下で、毎分２℃の昇温速度で２５℃から４０
℃まで昇温し、そのまま１時間保持した後放冷して２５
℃にもどす。温度処理前後の寸法変化をチャートから読
みとり、下式にて残留歪み率を求める。なお５試料につ
き測定し、平均値で絶対値として表示する。 残留歪み率（％）＝［（（原長）−（処理後長さ））／
原長］×１００ 但し、試験片長さ（チャック間）：１５．０ｍｍ 試験片幅 ：３．８ｍｍ 荷 重 ：４００ｇ／ｍｍ² 、９００
ｇ／ｍｍ² とする。この測定法における本発明フイルムの好ましい
範囲は０．０１〜０．０４％である。

【０１４１】（１１０）収縮応力と収縮開始温度 （株）インテスコ製引張試験機インテスコモデル２００
１型恒温恒湿槽付で下記条件にて測定し、実荷重を断面
積で割り収縮応力とした。 測定温度範囲：室温〜２５０℃ 昇温速度 ：４℃／ｍｉｎ サンプル寸法：長さ２００ｍｍ×幅１０ｍｍ 上記の手法にて縦方向と横方向について測定し、それぞ
れ縦方向と横方向の収縮応力の温度依存性を求め、収縮
応力が立ち上がる温度を収縮開始温度とした。この測定
法における本発明フイルムの好ましい範囲は、収縮応力
が１００ｇ／ｍｍ² 以下、収縮開始温度が８０℃以上で
ある。

【０１４２】（１１１）破断強度（その１） 東洋ボールドウィン社製テンシロンＵＴＭ−ＩＩ−５０
０型を使用し、２３℃、６５％ＲＨの条件下で測定し
た。ここでいう破断強度とは、引張試験を行った際の試
料破断時の応力の値を試験前の試料の断面積で除した、
単位断面積当りの応力の値を意味する。この測定法にお
ける本発明フイルムの好ましい範囲は２０〜５０であ
る。

【０１４３】（１１２）破断強度（その２） （株）インテスコ製引張試験機インテスコモデル２００
１型を用いて、温度２３℃、湿度５０％ＲＨに調節され
た室内において、長さ５０ｍｍ、幅１５ｍｍの試料フイ
ルムを２００ｍｍ／ｍｉｎの速度で引張り、下記式に従
い次の各値を求めた。 引張破断強度 σ＝Ｆ／Ａ σ＝引張破断強度（ｋｇ／ｍｍ² ） Ｆ＝破断時に於ける荷重（ｋｇ） Ａ＝試験片の元の断面積（ｍｍ² ） この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は、
長手方向及び幅方向の破断強度の和が５０〜８０ｋｇ／
ｍｍ² である。

【０１４４】（１１３）１５０℃雰囲気下における１０
０％伸長時のフイルム強度Ｆ₁₀₀ （ｋｇ／ｍｍ² ） （株）インテスコ製恒温槽付引張試験機インテスコ２０
０１型の恒温槽を１５０℃に設定し、幅１５ｍｍのフイ
ルムをチャック間５０ｍｍとなるようにセットして２分
間放置後、引張速度２００ｍｍ／ｍｉｎで１００％伸長
時の強度を測定した。測定は、フイルムの縦及び横方向
について行い、その平均値をＦ₁₀₀ とした。なお、１０
０％伸長前に破断するフイルムについては、次式に従っ
て換算した。 １００％伸長時強度（ｋｇ／ｍｍ² ）＝破断時強度（ｋ
ｇ／ｍｍ² ）×（１００／破断時伸び（％）） この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は１
〜５ｋｇ／ｍｍ² である。

【０１４５】（１１４）Ｆ₅ 値（その１） 東洋ボールドウィン社製テンシロンＵＴＭ−ＩＩ−５０
０型を使用し、２３℃、６５％ＲＨの条件下で測定し
た。ここでいうＦ₅ 値とは、引張試験を行った際の試料
５％伸長時の単位断面積当りの応力を意味する。Ｆ₅ 値
は、測定するフイルムを長手方向１５０ｍｍ、幅方向
（長手方向と鉛直をなす方向）１０ｍｍの長方形に切
り、チャック間１００ｍｍとして引張速度１．００％／
分で引張実験を行い求めた値である。この測定法におけ
る本発明フイルムの好ましい範囲は１０ｋｇ／ｍｍ² 以
上である。

【０１４６】（１１５）Ｆ₅ 値（その２） ５％伸長時の応力で表し、測定はインストロン引張試験
機を用いて行った。二軸延伸フイルムからフイルムの縦
方向の長さ１５０ｍｍ、幅方向の長さ６．２５ｍｍのサ
ンプル片を５枚切り出し、引張速度５０ｍｍ／ｍｉｎ、
つかみ間隔及び標点間隔５０ｍｍにて引張試験を行っ
た。得られたＳ−Ｓ曲線から５％伸長時の荷重を読み取
り、次式に従ってＦ₅ 値を算出し５点の平均値を求め
た。 Ｆ₅ ＝５％伸長時の荷重（ｋｇ）／試験片断面積（ｍｍ
² ） この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は１
０ｋｇ／ｍｍ² 以上である。

【０１４７】（１１６）縦延伸後の平均屈折率ｎ アタゴ光学社製アッベ式屈折計を用い、フイルム面内の
屈折率の最大値ｎγ、それに直角の方向の屈折率ｎβ、
及びフイルムの厚さ方向の屈折率ｎαを測定し、次式よ
り平均屈折率を算出した。なお、屈折率の測定は、ナト
リウムＤ線を用い、２３℃で行った。 ｎ＝（１／３）（ｎα＋ｎβ＋ｎγ） この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
１．６〜１．７である。

【０１４８】（１１７）フイルムの厚み方向の屈折率及
び平均屈折率 アッベの屈折計を用いて、２３℃にて測定したナトリウ
ムＤ線に対する値である。平均屈折率ｎは厚み方向の屈
折率ｎα、主配向方向の屈折率をｎγ、主配向方向と直
角な方向の屈折率をｎβとすると、 ｎ＝（１／３）（ｎα＋ｎβ＋ｎγ） この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は、
厚み方向の屈折率が０．１４７５〜０．１５、平均屈折
率が１．６０１５〜１．６０５である。

【０１４９】（１１８）複屈折率 フイルムの屈折率の測定は、アタゴ（株）製アッベの屈
折計を使用し、光源には、ナトリウムランプを用いて行
った。フイルム長手方向の屈折率ｎ_MD、幅方向の屈折率
ｎ_TD、厚み方向の屈折率ｎ_Zを求め、次式に基づき複屈
折率Δｎを求めた。 Δｎ＝ｎ_MD−ｎ_TD この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は−
５０〜５０である。

【０１５０】（１１９）平均結晶粒径Ｘ₁₀₀ （Å） ［１００］面についてＸ線回折装置を用い、半価巾を求
めて次式から算出した。 Ｘ₁₀₀ （Å）＝（０．９×λ）／（Ｂｃｏｓθ） 式中θ＝２５．７°、λ＝２．２８９６（Å）、Ｂ＝半
価巾（ラジアン）で２θ＝３３°と２θ＝１９°の散乱
強度を示す点の間を結ぶ直線をベースラインとした。な
お、平均結晶粒径Ｘ₁₀₀ （Å）は、フイルム厚さ方向の
結晶サイズを示す。この測定法における本発明フイルム
の好ましい範囲は４５〜５８Åである。

【０１５１】（１２０）接着性（スルホン酸金属塩基含
有ジカルボン酸濃度） 接着性を評価するために、全ジカルボン酸成分に対する
スルホン酸金属塩基含有ジカルボン酸の濃度を測定し
た。この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲
は０．５〜１５モル％である。

【０１５２】（１２１）プライマー層のガラス転移温度
（Ｔｇ） 本発明フイルムを磁気テープ用のベースフイルムとして
用い、磁性層の接着性を向上するためにプライマー層を
設ける場合、そのプライマー層（例えば、エステル・ア
クリルコポリマー）のＴｇを測定した。この測定法にお
ける本発明フイルムの好ましい範囲は１０℃以上であ
る。

【０１５３】（１２２）帯電防止性（帯電圧半減期） 宍戸商会製のスタチックオネストメーターを用い、２０
℃、６５％ＲＨ、４０％ＲＨ及び３０％ＲＨにおける帯
電圧の半減期の値で示した。なお、付与電圧は１０ＫＶ
であり、試料の上１５ｍｍの距離より行った。この測定
法における本発明フイルムの好ましい範囲は３〜７秒で
ある。

【０１５４】（１２３）電荷減衰性 宍戸商会製のスタチックオネストメーター（商品名）を
用い、２３℃、５０％ＲＨの雰囲気下で試料上２ｃｍの
高さにある放電電極に１０ＫＶの電圧をかけ、フイルム
に帯電させ、帯電量が飽和した後に放電を中止する。そ
の後、試料上２ｃｍの位置にある電位計で試料の電荷減
衰性を測定し、その半減期で判定した。この測定法にお
ける本発明フイルムの好ましい範囲は０〜２０秒であ
る。

【０１５５】（１２４）表面固有抵抗 横河・ヒューレット・パッカード社の内側電極５０ｍｍ
径、外側電極７０ｍｍ径の同心円型電極である１６００
８Ａ（商品名）を２３℃、５０％ＲＨの雰囲気下で試料
に設置し、１００Ｖの電圧を印加し、同社の高抵抗計で
ある４３２９Ａ（商品名）で試料の表面固有抵抗を測定
した。この測定法における本発明フイルムの好ましい範
囲は１．００×１０〜１．００×１０¹²である。

【０１５６】（１２５）表面固有抵抗（表面比抵抗） サンプルを２３℃×５０％ＲＨの雰囲気下に２４Ｈｒｓ
放置した後、振動容量型電位差測定器ＴＲ−８４Ｈ型
（タケダ理研社製）で測定した。この測定法における本
発明フイルムの好ましい範囲は１×１０¹⁰〜１×１０¹⁶
Ω／□である。

【０１５７】（１２６）延伸後塗工重量 被覆ポリエステル（２０×２０ｃｍ）よりなるシート状
試料片５枚の重量を測定し、その後各試料片表面の被覆
樹脂を溶剤できれいに拭き取る。その後、溶剤を揮発除
去してからもう一度重量を測定し、拭き取り前後の重量
差を塗工重量とする。この測定法における本発明フイル
ムの好ましい範囲は０．００５〜０．２ｇ／ｍ² であ
る。

【０１５８】（１２７）極限粘度 ポリマーチップ又はフイルム１ｇをフェノール／テトラ
クロルエタン（５０／５０重量比）混合溶媒１００ｍｌ
に溶解し、３０．０℃で測定した。この測定法における
本発明フイルムの好ましい範囲は０．４〜１ポイズであ
る。

【０１５９】（１２８）固有粘度［η］ ｏ−クロロフェノールを溶媒として用い、３５℃で測定
した値、単位は１００ｃｃ／ｇである。この測定法にお
ける本発明フイルムの好ましい範囲は０．５〜１であ
る。

【０１６０】（１２９）密度ρ 本発明フイルムにおける密度ρの好ましい範囲は０．５
〜２ｇ／ｃｍ³ である。

【０１６１】（１３０）赤外線吸光度 フイルムの９７５ｃｍ^-1及び７９５ｃｍ^-1の赤外線吸収
ピークの強度比Ａと比重Ｂから下式を使って求めた値Ｃ
をもって評価する。 Ｃ＝（３５．３・Ｂ−４７．１）／Ａ この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
０．５１以上である。但し、９７５ｃｍ^-1及び７９５ｃ
ｍ^-1の赤外線吸収ピークの強度比の測定はＳｃｈａｌｄ
ｔの方法（Ｊｏｕｒｎａｌ ｏｆ Ｐｏｌｙｍｅｒ Ｓ
ｃｉｅｎｃｅ， Ｐａｒｔ Ａ．１．１２７１（１９
３））に従った。ＰＥＲＫＩＮ ＥＬＭＥＲ社製９８３
型赤外線分光装置を用いて、９７５ｃｍ^-1の吸収強度Ａ
₉₇₅ ，７９５ｃｍ^-1の吸収強度Ａ₇₉₅ を各々求め、Ａ
₉₇₅ ／Ａ₇₉₅ を強度比とした。

【０１６２】（１３１）ロジン−ラムラー線図における
ｎ値 本発明フイルムにおいては、ロジン−ラムラー（Ｒｏｓ
ｉｎ−Ｒａｍｍｌｅｒ）線図のｎ値が、１以上であるこ
とが好ましい。

【０１６３】（１３２）紫外線に対する蛍光強度 ３６０ｎｍの紫外線に対する蛍光強度を、日立蛍光分光
強度計（ＭＰＦ−２Ａ型）を用いて、次の方法で測定し
たものである。 （ａ） 得られたポリエステルをプレート状に成形して
３６０ｎｍの紫外線を照射し蛍光スペクトルを測定す
る。次いで測定チャート紙の３８０〜６００ｎｍの蛍光
強度曲線とベースラインに挟まれた部分の面積（Ａ₁ ）
を求める。 （ｂ） 標準としてアルミプレートを用い（ａ）同様に
して、測定チャート紙の３８０〜６００ｎｍの蛍光強度
曲線とベースラインに挟まれた部分の面積（Ａ₂ ）を求
める。 （ｃ） （ａ）（ｂ）で求めたＡ₁ 、Ａ₂ を用いて次式
で蛍光強度を計算する。 蛍光強度＝Ａ₁ ／Ａ₂ この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は
０．１〜１．０である。

【０１６４】（１３３）オリゴマー量 フイルムを約５ｍｍ×３ｃｍの細片とし、ソックスレー
抽出器を用いクロロホルムで２４時間抽出し、得られた
オリゴマーの元のフイルムに対する重量を算出した。こ
の測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は０．
１〜３重量％である。

【０１６５】（１３４）ヘーズ ＪＩＳ−Ｋ６７４に準じ、積分球式ＨＴＲメーターによ
りフイルムヘーズを求める。この測定法における本発明
フイルムの好ましい範囲は０．５〜２０である。

【０１６６】（１３５）フイルム中のボイド観察 フイルム表面を偏光顕微鏡で観察した不活性粒子の周り
のボイド面積の全視野に対する比を画像処理装置で定量
し、％で示した。この測定法における本発明フイルムの
好ましい範囲は０．２５％以下である。

【０１６７】（１３６）ボイド比 試料フイルム小片を走査型電子顕微鏡用試料台に固定
し、日本電子（株）製スパッタリング装置（ＪＦＣ−１
１００型イオンパッターリング装置）を用いて、フイル
ム表面を下記条件にてイオンエッチング処理を施す。ベ
ンジャー内に上記試料台を設置し、約１０^-3Ｔｏｒｒの
真空状態まで真空度を上げ電圧０．２５ｋＶ、電流１
２．５ｍＡにて約１０分間イオンエッチングを実施す
る。更に同装置にてフイルム表面に金スパッターを施
し、約２００Å程度の金薄膜層を形成し、走査型電子顕
微鏡を用いて、例えば１万〜３万倍の倍率にて測定を行
う。なお、ボイドは粒径０．２μｍ以上の滑剤にてのみ
測定を行う。この測定法における本発明フイルムの好ま
しい範囲は１．１〜２である。

【０１６８】（１３７）テープ引き抜き係数Ｆ シェアー式スリッター〔西村製作所（株）製ＲＴ型〕を
用いて３／２０インチのマイクロスリットを施したテー
プを、巻取装置を用いて巻き取り速度１０ｍ／分、巻き
張力３０ｇの条件にてパンケーキ（巻き幅５ｃｍ）に巻
き取る。このパンケーキを垂直にしてハブ（巻芯）を固
定し、パンケーキ最外層からテープを鉛直にたらし、こ
のテープ端をロードセルに固定し、ロードセルを鉛直方
向に２ｍｍ／秒の速度で移動させて、テープを引き抜
く。ロードセルの張力が急激に大きくなったらロードセ
ルを停止し、チャート上から引き抜き張力として、平均
張力（ｇ／テープ巾）を読み取り、またテープ引き抜き
長はテープを実測する。Ｎ＝５の測定値の平均値をテー
プ引き抜き係数（Ｆ）とる。 Ｆ＝［テープを引き抜いた平均張力（ｇ／テープ巾（ｍ
ｍ）／引き抜いたテープ長（ｍｍ）］×１００ この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は３
〜１５である。

【０１６９】（１３８）塗膜強度 フイルム上に塗布層を設けた場合のパラメータであり、
新東科学社製の表面性測定機であるＨＥＩＤＯＮ−１４
（商品名）を用い、０．２５ｍｍ径のサファイヤ針に荷
重をかけ、引掻速度１００ｍｍ／ｍｉｎで測定した。塗
布層が基体のポリエステルフイルムから剥離する荷重を
引掻試験後のフイルムの顕微鏡による表面写真から判定
した。この測定法における本発明フイルムの好ましい範
囲は４０〜１００ｇである。

【０１７０】（１３９）小角光散乱のピーク数 通常の小角光散乱測定装置を用いた（例えば、Ｔ．Ｈａ
ｓｈｉｍｏｔｏ、 Ｓ．Ｅｂｉｓｕ、 Ｎ．Ｉｎａｂ
ａ、 Ｈ．Ｋａｗａｉ、 Ｐｏｌｙｍ．Ｊ．，１３，７
０１（１９８１）参照）。光源には、Ｈｅ−Ｎｅガスレ
ーザー（波長；６３２８Å、出力；２４ｍＷ）を用い
た。偏光子と検光子との間にフイルムを置き、フイルム
の光軸方向と偏光方向とを一致させた。そして、検光子
の偏光方向と垂直に偏光子の偏光方向をセットしたとき
に得られるパターン（Ｈｖパターン）にて、散乱光が２
°の位置の散乱強度の全周方向の分布を測定した。得ら
れた散乱強度分布のうち、最大ピークの高さの１０％以
上の高さを有するピークをピークとして認め、その個数
を散乱強度分布のピーク数とした。この測定法における
本発明フイルムの好ましい範囲は４以下である。

【０１７１】（１４０）厚さ斑 安立電気社製連続フイルム厚さ測定器（電子マイクロメ
ーター使用）により、二軸延伸フイルムの縦方向に沿っ
て測定し、（５ｍ長さについて）次式より算出した。 厚さ斑＝［（フイルム最大厚さ−フイルム最小厚さ）／
フイルム平均厚さ］×１００ この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は０
〜５％（膜厚１４〜２０μｍ）である。

【０１７２】（１４１）フイルムの平面性 フイルムの縦方向１０００ｍ毎の１０ヶ所の各々につい
て、横方向１０ｃｍ毎に１０点、合計１００点のフイル
ム厚みを測定する。フイルム厚みの測定は安立電子製電
子マイクロメーターを用いて行い、該当する箇所の周辺
のフイルムを１０枚重ねて測定し、１枚当りに換算す
る。すべての測定値のうち、最大値をＸmax 、最小値を
Ｘmin 、相加平均値をＸave とするとき、（Ｘmax −Ｘ
min ）／Ｘave をフイルムの厚み斑とするが、この値は
小さいほど好ましい。この測定法における本発明フイル
ムの好ましい範囲は０．１５以下である。

【０１７３】（１４２）難燃性 アンダーライターラボラトリーズ社発行のプラスチック
材料の燃焼性試験規格ＵＬ９４の垂直燃焼試験法に準
じ、ＵＬ９４ＶＴＭランクを判定した。また、ＪＩＳＫ
−７２０１規格酸素指数法により極限酸素濃度（ＬＯ
Ｉ）を測定した。この難燃性を付与するためのアンチモ
ン化合物の含有量及びイミド化合物の含有量を測定し
た。この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲
は、アンチモン化合物含有量が１〜２０重量％、イミド
化合物含有量１〜２０重量％である。

【０１７４】（１４３）有機物フィラー添加量 本発明フイルムにおいて、有機物フィラーの好ましい添
加量は、０．００５〜５重量％である。

【０１７５】（１４４）有機性窒素 有機性窒素とは、ＥＳＣＡ法によって同定される結合窒
素であって、アミド基、アミノ基及びイミノ基で代表さ
れる。この窒素は、ＥＳＣＡ法で測定される１_S 軌道
（Ｎ_1S）スペクトルの結合エネルギーが３９８．１〜４
０１．１ｅＶの範囲にピークを有するものである。但
し、ポリエステルのＣ_1Sのメインピイーク（ベンゼン環
の炭素に対応）を２８５．０ｅＶとする。また、有機性
窒素の濃度は、ポリエステルポリマの炭素原子１００個
当たりの個数、あるいはその窒素と炭素の個数比（Ｎ／
Ｃ比）で表される。この測定法における本発明フイルム
の好ましい範囲は０以上である。

【０１７６】（１４５）溶融時の比抵抗 ブリティッシジアーナルオブアプライドフィジックス
（Ｂｒｉｔ．Ｊ．Ａｐｐｌ．Ｐｈｙａ）第１７巻、第１
１４９〜１１５４頁（１９６６年）に記載してある方
法。但し、この場合ポリマーの溶融温度は２９５℃と
し、直流１，０００Ｖを印加した直後の値を溶融時の比
抵抗とする。この測定法における本発明フイルムの好ま
しい範囲は、１．０×１０⁷ 〜１．０×１０¹⁰である。

【０１７７】（１４６）冷却過程結晶化温度 パーキンエルマー社製ＤＳＣ Ｉ−Ｂで測定した。５〜
７ｍｇの試料を１６℃／ｍｉｎで３００℃まで昇温し、
３００℃で５分間放置後１６℃／ｍｉｎで降温してゆ
き、その際の結晶化ピーク温度を値とした。この測定法
における本発明フイルムの好ましい範囲は１８０〜２１
０℃である。

【０１７８】（１４７）全反射ラマン結晶化指数 全反射ラマンスペクトルを測定し、カルボニル基の伸縮
振動である１７３０ｃｍ^-1の半価幅をもって表面の全反
射ラマン結晶化指数とした。測定条件は次の通りであ
る。但し、測定深さは表面から５００〜１０００Å程度
とした。 光源 アルゴンイオンレーザー（５．１４５Å） 試料のセッティング レーザー偏光方向（Ｓ偏光）とフイルム長手方向が平行
となるように、フイルム表面を全反射プリズムに圧着さ
せ、レーザーのプリズムへの入射角（フイルム厚さ方向
との角度）は６０°とした。 検出器 ＰＭ：ＲＣＡ３１０３４／Ｐｈｏｔｏｎ Ｃｏｕｎｔｉ
ｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ（Ｈａｍａｍａｔｓｕ Ｃ１２３
０） （ｓｕｐｐｌｙ １，６００Ｖ） 測定条件 ＳＬＩＴ １，０００μｍ ＬＡＳＥＲ １００ｍＷ ＧＡＴＥ ＴＩＭＥ １．０ｓｅｃ ＳＣＡＮ ＳＰＥＥＤ １２ｃｍ^-1／ｍ
ｉｎ ＳＡＭＰＬＩＮＧ ＩＮＴＥＲＶＡＬ ０．２ｃｍ^-1 ＲＥＰＥＡＴ ＴＩＭＥ ６ この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は、
Ｂ層（結晶性ポリエステル）、Ｃ層（結晶性ポリエステ
ル）ともに２００ｃｍ^-1以下である。

【０１７９】（１４８）結晶化促進係数、結晶化パラメ
ータ パーキンエルマー社製のＤＳＣ（示差走査熱量計）ＩＩ
型を用いて測定したポリマの冷結晶化温度Ｔｃｃとガラ
ス転移点Ｔｇの差（Ｔｃｃ−Ｔｇ）を結晶化パラメータ
ΔＴｃｇと定義し、１重量％の粒子を含有するポリエス
テルのΔＴｃｇ（Ｉ）、及びこれと同粘度の粒子を含有
しないポリエステルのΔＴｃｇ（ＩＩ）を測定し、ΔＴ
ｃｇ（ＩＩ）とΔＴｃｇ（Ｉ）の差［ΔＴｃｇ（ＩＩ）
−ΔＴｃｇ（Ｉ）］をもって、その粒子の結晶化促進係
数とした。なお、ＤＳＣの測定条件は次の通りである。
すなわち、試料１０ｍｇをＤＳＣ装置にセットし、３０
０℃の温度で５分間溶融した後、液体窒素中に急冷す
る。この急冷試料を１０℃／分で昇温し、ガラス転移点
Ｔｇを検知する。更に昇温を続け、ガラス状態からの結
晶化発熱ピーク温度をもって冷結晶化温度Ｔｃｃとし
た。この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲
は、結晶化パラメータΔＴｃｇが４０〜９５℃である。

【０１８０】（１４９）結晶融解熱 島津製作所製のＤＳＣ（示差走査熱量計）装置を用い、
ポリマーペレットを窒素気流中、２０℃／ｍｉｎの速度
で加熱昇温した場合に得られる結晶融解にともなう吸熱
エネルギーを試料重量で割ることにより求めた。この測
定法における本発明フイルムの好ましい範囲は１０〜２
０ｃａｌ／ｇである。

【０１８１】（１５０）融点 Ｐｅｒｋｉｎ−Ｅｌｍｅｒ社製示差走査熱量計Ｍｏｄｅ
ｌ ＤＳＣ−２型を用い、５ｍｇの試料を２０℃／分の
昇温速度で２８０℃まで昇温し、５分保持した後、同速
度で冷却し、再度昇温した時の、いわゆるセカンドラン
の融解曲線を取る。この曲線の最も高いピーク点を融点
とする。積層部、基層部について上記融点を求める。

【０１８２】（１５１）固着性（ブロッキング性） ポリエステルフイルムの塗布層面と非塗布層面、あるい
は塗布層面と塗布層面を恒温恒湿槽で４０℃、８０％Ｒ
Ｈで１時間調湿後に重ね、プレスで１０ｋｇ／ｃｍ² の
荷重をかけ、恒温恒湿槽中で２０時間処理した幅２０ｃ
ｍのフイルムをＡＳＴＭ−Ｄ−１８９３のピアノ線で剥
離する方法に準じて測定した。この測定法における本発
明フイルムの好ましい範囲は５０〜５００ｇである。

【０１８３】（１５２）フイルムの光沢度（Ｇｓ） 日本電色工業（株）製ＶＧＳ−１００１ＤＰ型光沢度計
を用いて、６０度鏡面光沢度Ｇｓ（６０°）をＪＩＳ−
Ｚ８７４１に準じて測定した。すなわち入射角、反射角
６０度における黒色標準板の反射率を基準に、試料の反
射率を求め光沢度とした。この測定法における本発明フ
イルムの好ましい範囲は、平滑面のＧｓが０〜２５０、
粗面のＧｓが０〜２００である。

【０１８４】（１５３）光透過率 島津マルチパーパス自記分光光度計（ＭＰＳ−５００
０）を用い、フイルム（厚み１５μｍ）の波長９００ｎ
ｍにおける光線透過率を測定する。この測定法における
本発明フイルムの好ましい範囲は６０〜９５％である。

【０１８５】（１５４）分散剤の含有 本発明フイルムにおいては、ポリエステルと相容性であ
って融点が２００℃未満の分散剤を０．００１〜１０重
量％含有させることができる。

【０１８６】（１５５）変形度 フイルム小片をエポキシ樹脂にて固定成形した後、ミク
ロトームで切断し、フイルムの長手方向の断面を観察し
た。フイルム表面から５μｍ以内に存在する粒子につ
き、粒子毎に最大径と最小径を求めその比を算出した。
少なくとも１００個の粒子についてこの値を求め、その
相加平均を変形度とした。この測定法における本発明フ
イルムの好ましい範囲は０．１２〜５０である。

【０１８７】（１５６）巻取ロールのフイルム層間空気
層の割合 一定長巻き取ったロールフイルムのロール径Ｄを実測
し、一方、フイルム厚みと長さとから計算して（空気層
は介在していない）ロール径Ｄ₀ を求め、この計算値と
実測値とを用いて次式から求める。 空気層の割合＝［（Ｄ−Ｄ₀ ）／Ｄ₀ ］×１００（％） この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は２
〜４％である。

【０１８８】（１５７）巻取ロールの巻硬度 巻硬度の測定はＪＩＳ−Ｋ−Ｋ６３０１に規定された硬
度測定によるゴム硬度計を使用して測定した。この測定
法における本発明フイルムの好ましい範囲は７５〜９５
度である。

【０１８９】（１５８）空気抜け速度比 台盤の上面に円形の穴を設け、該穴の外周側に溝孔を形
成して該溝孔と前記穴を連通路を介して連通させる。そ
して溝孔に吸引口を穿設して該吸引口にパイプを介して
真空ポンプを接続する。この様に構成した台盤の穴内に
直径７０ｍｍのガラス平板を固定し、その上にガラス平
板を覆う大きさの供試フイルムを重ね合わせ、その外周
側を粘着テープで台盤の上面に固定して密封する。この
状態で真空ポンプを駆動し、ガラス平板の外周側に干渉
縞が出現してからガラス平板の全面に干渉縞が広がり、
その動きが止まるまでの時間（秒）を測定し、この時間
をもって空気抜け速さとする。上記空気抜け速さの測定
において、ガラス平板の外周部に干渉縞が出現してから
２０秒後に写真撮影し、その楕円状リングの縦方向の径
（ｌ_MD）と横方向の径（ｌ_TD）を測定し、ｌ_MDとｌ_TDの
比の逆数（ｌ_MD／ｌ_TD）^-1を空気抜け速度比とする。こ
の測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は０．
４〜０．６である。

【０１９０】（１５９）含水率 フイルムの吸湿状態（含水率）は、乾燥前後の重量の測
定によって正確に計測できる。その測定における乾燥条
件は、例えば１０５〜１８０℃程度で数時間乾燥空気中
に放置すればよい。この測定法における本発明フイルム
の好ましい範囲は０．２〜０．７％である。

【０１９１】（１６０）突起の基部径 本発明フイルムにおいては、フイルム表面の突起の基部
径は０．１〜１．８μｍの範囲にあることが好ましい。

【０１９２】（１６１）裁断適性指標（Ｚ）、裁断適性
結晶指標（Ｙ） 裁断適性指標（Ｚ）は下記式（１） Ｚ＝３８３．３−２．７６Ａ−２０００Ｂ＋８４０Δｎ （１） （式中、Ａはヘイズ値であり、Ｂは面配向係数であっ
て、Ｂ＝（（ｎ_MD＋ｎ_TD）／２）−ｎ_ZD（ｎ_MDは長手方
向屈折率、ｎ_TDは幅方向屈折率、ｎ_ZDは厚み方向屈折率
である）で示され、ΔｎはΔｎ＝ｎ_MD−ｎ_TDで示される
屈折率の差である）で求められる値である。裁断適性結
晶指標（Ｙ）は下記式（２） Ｙ＝−６．３６−２８．４ｘ₁ ＋０．２５４ｘ_C −２６Δｎ （２） （式中、ｘ₁ はＸ線回折（１１０）面ピーク強度Ｉ（１
１０）とＸ線回折（１００）面ピーク強度Ｉ（１００）
との比Ｉ（１１０）／Ｉ（１００）であり、Ｘ_C は結晶
子サイズであり、Δｎは（１）式において示すものと同
じである）で求められる値である。この測定法における
本発明フイルムの好ましい範囲は、Ｙが−３０〜−５、
Ｚが−１５〜１０である。

【０１９３】（１６２）対金属ピン耐スクラッチ性 １／２幅のフイルム表面を直径５ｍｍのステンレス製固
定ピン（表面粗さ０．５Ｓ）に角度１５０°で接触さ
せ、毎分２ｍの速さで約１５ｃｍ程度往復移動、摩擦さ
せる（この時、入側テンションＴ₁ を６０ｇとする）。
この操作を繰り返し、往復４０回測定後摩擦面に生じた
スクラッチの程度を、下記の基準で目視判定する。 ◎：スクラッチがほとんど発生しない。 ○：スクラッチがわずかに発生する。 △：スクラッチが相当発生する。 ×：スクラッチが全面に発生する。 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は○
以上である。

【０１９４】（１６３）対ナイロンロール汚れ フイルムの走行面の削れ性を５段のミニスーパーカレン
ダーを使用して評価する。カレンダーはナイロンロール
とスチールロールの５段カレンダーであり、処理温度は
８０℃、フイルムにかかる線圧は２００ｋｇ／ｃｍ、フ
イルムスピードは５０ｍ／分で走行させる。走行フイル
ムは全長４０００ｍ走行させた時点で、カレンダーのト
ップローラーに付着する汚れでフイルムの削れ性を下記
の基準で評価する。 ◎：ナイロンロールの汚れまったく無し ○：ナイロンロールの汚れほとんど無し ×：ナイロンロールが汚れる ××：ナイロンロールが非常に汚れる この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は○
以上である。

【０１９５】（１６４）削れ性、スクラッチ性 フイルム走行摩擦係数を測定する装置において、ステン
レス鋼ＳＵＳ３０４製固定棒の代わりにＳＵＳ焼結板を
円柱形に曲げた６φの固定棒で表面粗さＲａが０．１５
μｍのもの及び第一精工社製カーボンブラック含有ポリ
アセタールの６φテープガイドを使い、角度を３０度と
し毎分３００ｍの速さで入口張力が５０ｇ／１／２イン
チとなるようにして２００ｍ走行させる。走行後にガイ
ド上に付着した削れ粉及び走行後テープのスクラッチを
評価する。 （削れ粉判定） ◎：削れ粉がまったく見られない ○：うっすらと削れ粉が見られる △：削れ粉の存在が一見して判る ×：削れ粉がひどく付着している （スクラッチ判定） ◎：スクラッチがまったく見られない ○：１〜５本のスクラッチが見られる △：６〜１５本のスクラッチが見られる ×：１６本以上のスクラッチが見られる この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は、
削れ性が○以上、スクラッチ性が１０本以内である。

【０１９６】（１６５）耐摩耗性（その１） 幅１２．５ｍｍにスリットしたフイルムを市販の剃刀に
接触させ、６０ｍ／分の速度で走行させたとき剃刀に付
着する白粉の量で評価し、次の４段階にランク付けし
た。 ◎：白粉の発生がほとんどない ○：白粉がうっすらと発生 △：白粉の発生が多い ×：白粉の発生が非常に多い この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲は○
以上である。

【０１９７】（１６６）耐摩耗性（その２） テープ摩耗評価機を用い、幅１０ｍｍのポリエステルフ
イルムを２００ｍの長さにわたって走行させ、固定ピン
（直径６ｍｍ、材質ＳＵＳ４２０−Ｊ２、仕上げ０．２
Ｓ）に付着した摩耗粉の量を目視評価し４ランクに分け
た。なお、フイルムの走行速度は１１．４ｍ／分とし、
張力をテンションピックアップで検出し、初期張力を３
００ｇ、フイルムとの巻き付け角θを１３５°とした。 ランクＡ：付着がまったく認められない。 ランクＢ：付着が極く僅か認められるが、実用上は問題
ない。 ランクＣ：付着量がやや多く、長時間使用すると問題と
なりうる。 ランクＤ：付着量が多く、実用上使用し難い。 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲はラ
ンクＢ以上である。

【０１９８】（１６７）フイルム表面硬度 １５ｍｍ×１５ｍｍの大きさに切り出した試料をスライ
ドグラス上に固定し、先端の曲率半径５０μｍのダイヤ
モンド針を１０ｇの荷重で押しつけ、０．２ｍｍ／秒の
一定速度で試料の表面を引っ掻き、得られたサンプルに
アルミニウム蒸着を施した後、顕微鏡による観察及び写
真撮影を行い、最終的に４００倍の拡大写真から上記引
っ掻きによる筋状痕の幅（μｍ）を測定する。この測定
法における本発明フイルムの好ましい範囲は０．２〜３
μｍである。

【０１９９】（１６８）耐擦り傷性 幅１／２インチにスリットした磁気テープを硬質クロム
メッキ金属ピン（直径ｍｍ、仕上げ３Ｓ）に張力５０
ｇ、巻き付け角１３５°、走行速度３ｍ／秒で磁気テー
プのベースフイルム面を１回擦過させる。次に擦過面に
アルミニウムを約１０００Å真空蒸着し、傷の量を目視
判定し以下の５ランクに分けた。 ランク１：傷の量が極めて多い。 ランク２：傷の量が多い。 ランク３：傷の量が２と４の中間。 ランク４：傷の量が少ない。 ランク５：傷が付かない。 この測定法における本発明フイルムの好ましい範囲はラ
ンク４以上である。

【０２００】

【実施例】

実施例１、２ 平均粒径の異なる架橋ポリスチレン粒子（実施例１、
０．３μｍ）、コロイダルシリカに起因するシリカ粒子
（実施例２、０．２μｍ）を含有するエチレングリコー
ルスラリーを調製し、このエチレングリコールスラリー
を１９０℃で１．５時間熱処理した後、テレフタル酸ジ
メチルとエステル交換反応後、重縮合し、該粒子を５重
量％含有するポリエチレンテレフタレート（以下ＰＥＴ
と略記する）のペレットを作った。この時、重縮合時間
を調節し固有粘度を０．７０とした（熱可塑性樹脂
Ａ）。また、常法によって、平均粒径０．０５μｍの不
活性粒子を０．１重量％含有する固有粘度０．６２のＰ
ＥＴを製造し、熱可塑性樹脂Ｂとした。

【０２０１】これらのポリマをそれぞれ１８０℃で３時
間減圧乾燥（３Ｔｏｒｒ）した。熱可塑性樹脂Ａを押出
機１に供給し３１０℃で溶融し、さらに、熱可塑性樹脂
Ｂを押出機２に供給、２８０℃で溶融し、これらのポリ
マを合流ブロック（フィードブロック）で合流積層し、
静電印加キャスト法を用いて表面温度３０℃のキャステ
ィング・ドラムに巻きつけて冷却固化し、２層構造の未
延伸フイルムを作った。この時、口金スリット間隙／未
延伸フイルム厚さの比を１０として未延伸フイルムを作
った。また、それぞれの押出機の吐出量を調節し総厚
さ、熱可塑性樹脂Ａ層の厚さを調節した。この未延伸フ
イルムを温度８０℃にて長手方向に４．５倍延伸した。
この延伸は２組ずつのロールの周速差で、４段階で行っ
た。この一軸延伸フイルムをステンタを用いて延伸速度
２０００％／分で１００℃で幅方向に４．０倍延伸し、
定長下で、２００℃にて５秒間熱処理し、総厚さ１５μ
ｍ、熱可塑性樹脂Ａ層厚さ０．３μｍの二軸配向積層フ
イルムを得た。得られたフイルムは、共に耐スクラッチ
性に優れたものであった。

【０２０２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の二軸配向
熱可塑性樹脂フイルムによるときは、Ａ層の厚さ、含有
粒子の含有量およびＡ層厚さとの関係、Ｂ層含有粒子の
平均粒径および含有量を特定したので、とくに耐スクラ
ッチ性に優れたフイルムが得られる。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ１１Ｂ 5/704 // Ｂ２９Ｋ 67:00 105:16 Ｂ２９Ｌ 9:00

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 熱可塑性樹脂ＡからなるＡ層と熱可塑性
   樹脂ＢからなるＢ層との積層構成を有し、Ａ層が少なく
   とも一方の最外層を構成する積層フイルムであって、前
   記少なくとも一方の最外層を構成するＡ層は、平均粒径
   が該Ａ層の厚さの０．１〜１０倍の不活性粒子を０．０
   ０１〜５０重量％含有し、その層厚さが０．００５〜３
   μｍまたは積層フイルム全厚の１０％以下であり、前記
   Ｂ層は、平均粒径が０．００５〜２μｍの不活性粒子を
   ０．００１〜１重量％含有していることを特徴とする、
   二軸配向熱可塑性樹脂フイルム。