JPH07201146A - 磁気ディスク装置のヘッド位置決め制御装置とヘッド位置決め制御方法 - Google Patents
磁気ディスク装置のヘッド位置決め制御装置とヘッド位置決め制御方法Info
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- JPH07201146A JPH07201146A JP35116993A JP35116993A JPH07201146A JP H07201146 A JPH07201146 A JP H07201146A JP 35116993 A JP35116993 A JP 35116993A JP 35116993 A JP35116993 A JP 35116993A JP H07201146 A JPH07201146 A JP H07201146A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明の目的は、セクタサーボ方式の磁気ディ
スク装置において、ヘッドの位置情報であるバーストデ
ータに、その振幅値が大小となるノイズが影響した場合
でも、その振幅値の平均値を検出してDC電圧レベルに
変換するサンプル・ホールド回路を使用することによ
り、結果的にノイズによる影響を解消して、ヘッドの位
置決め制御の精度を向上することにある。 【構成】サンプル・ホールド回路20A〜23Dはヘッ
ド1により読出されたバーストデータの振幅値をサンプ
リングしてホールドする回路であって、バーストデータ
の振幅のピーク値を検出して順次加算し、予め決定され
たビット数倍の電圧レベルに変換する。サーボコントロ
ーラ170はサンプリング期間でのホールドされた振幅
値の平均値を算出して、この平均値に基づいてヘッド1
の位置情報を生成する。
スク装置において、ヘッドの位置情報であるバーストデ
ータに、その振幅値が大小となるノイズが影響した場合
でも、その振幅値の平均値を検出してDC電圧レベルに
変換するサンプル・ホールド回路を使用することによ
り、結果的にノイズによる影響を解消して、ヘッドの位
置決め制御の精度を向上することにある。 【構成】サンプル・ホールド回路20A〜23Dはヘッ
ド1により読出されたバーストデータの振幅値をサンプ
リングしてホールドする回路であって、バーストデータ
の振幅のピーク値を検出して順次加算し、予め決定され
たビット数倍の電圧レベルに変換する。サーボコントロ
ーラ170はサンプリング期間でのホールドされた振幅
値の平均値を算出して、この平均値に基づいてヘッド1
の位置情報を生成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、特にセクタサーボ方式
を採用した磁気ディスク装置のヘッド位置決め制御装置
に関する。
を採用した磁気ディスク装置のヘッド位置決め制御装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ハードディスク装置(HDD)で
は、記録媒体(ディスク)上にサーボデータとユーザデ
ータとが混在して記録されるセクタサーボ方式が周知で
ある。サーボデータは、ヘッドをディスク上の目標トラ
ック(目標シリンダ)に位置決めするためのデータであ
り、大別してアドレスコード(シリンダアドレス)とバ
ーストデータからなる。アドレスコードは、ヘッドが位
置するトラック(シリンダ)のアドレスを示すデータで
ある。また、バーストデータはヘッドを目標トラックの
中心に位置決めするためのデータである。
は、記録媒体(ディスク)上にサーボデータとユーザデ
ータとが混在して記録されるセクタサーボ方式が周知で
ある。サーボデータは、ヘッドをディスク上の目標トラ
ック(目標シリンダ)に位置決めするためのデータであ
り、大別してアドレスコード(シリンダアドレス)とバ
ーストデータからなる。アドレスコードは、ヘッドが位
置するトラック(シリンダ)のアドレスを示すデータで
ある。また、バーストデータはヘッドを目標トラックの
中心に位置決めするためのデータである。
【0003】HDDは、図6に示すように、大別してヘ
ッド駆動系とデータ記録/再生系の各構成要素を有す
る。ヘッド駆動系は、ヘッド1を搭載したヘッドアクチ
ュエータ4およびヘッドアクチュエータ4を駆動するボ
イスコイルモータ(VCM)3を有する。ヘッドアクチ
ュエータ4は、VCM3の駆動力によりディスク2の半
径方向にヘッド1を移動させる。ディスク2はスピンド
ルモータ5により高速回転運動している。
ッド駆動系とデータ記録/再生系の各構成要素を有す
る。ヘッド駆動系は、ヘッド1を搭載したヘッドアクチ
ュエータ4およびヘッドアクチュエータ4を駆動するボ
イスコイルモータ(VCM)3を有する。ヘッドアクチ
ュエータ4は、VCM3の駆動力によりディスク2の半
径方向にヘッド1を移動させる。ディスク2はスピンド
ルモータ5により高速回転運動している。
【0004】データ記録/再生系はデータ記録回路とデ
ータ再生回路からなる。データ記録回路は、インターフ
ェース制御回路6から出力されるライトデータ(NRZ
符号列)WDをRLL(Run Length Lim
ited)符号のライト信号に変調するためのエンコー
ダ7とライト信号に応じた書込み電流をヘッド1に供給
するためのリード/ライト(R/W)アンプ8を有す
る。インターフェース制御回路6は、HDC(ディスク
コントローラ)とHDD間のデータ転送や各種インター
フェース信号の交換を制御するための回路である。エン
コーダ7はライト同期回路15からの同期パルスに応じ
て動作し、ライトゲートWGの期間にライト信号に変換
する処理を実行する。
ータ再生回路からなる。データ記録回路は、インターフ
ェース制御回路6から出力されるライトデータ(NRZ
符号列)WDをRLL(Run Length Lim
ited)符号のライト信号に変調するためのエンコー
ダ7とライト信号に応じた書込み電流をヘッド1に供給
するためのリード/ライト(R/W)アンプ8を有す
る。インターフェース制御回路6は、HDC(ディスク
コントローラ)とHDD間のデータ転送や各種インター
フェース信号の交換を制御するための回路である。エン
コーダ7はライト同期回路15からの同期パルスに応じ
て動作し、ライトゲートWGの期間にライト信号に変換
する処理を実行する。
【0005】R/Wアンプ8はデータ再生回路のヘッド
アンプを兼ねている。データ再生回路は、R/Wアンプ
8から出力されたヘッド1の読出し信号を一定レベルに
維持するためのAGC(Auto Gain Cont
rol)アンプ9、高周波のノイズを除去するためのロ
ーパスフィルタ(LPF)11、リードパルス生成回路
12およびデコーダ13を有する。リードパルス生成回
路12は、LPF11から出力された読出し信号からリ
ードパルスRPを生成するための2値化回路を有する。
デコーダ13はリードパルスRPからNRZ符号列のリ
ードデータRDを復調する回路である。AGC回路10
は、LPF11の出力信号のレベルに応じてAGCアン
プ9のゲインを調整するための回路である。デコーダ1
3はリード同期回路14からの同期パルスに応じて動作
する。
アンプを兼ねている。データ再生回路は、R/Wアンプ
8から出力されたヘッド1の読出し信号を一定レベルに
維持するためのAGC(Auto Gain Cont
rol)アンプ9、高周波のノイズを除去するためのロ
ーパスフィルタ(LPF)11、リードパルス生成回路
12およびデコーダ13を有する。リードパルス生成回
路12は、LPF11から出力された読出し信号からリ
ードパルスRPを生成するための2値化回路を有する。
デコーダ13はリードパルスRPからNRZ符号列のリ
ードデータRDを復調する回路である。AGC回路10
は、LPF11の出力信号のレベルに応じてAGCアン
プ9のゲインを調整するための回路である。デコーダ1
3はリード同期回路14からの同期パルスに応じて動作
する。
【0006】さらに、HDDにはデータ再生回路を利用
して、ディスク2に予め記録されたサーボデータを再生
し、このサーボデータに基づいてヘッド1を目標トラッ
クに位置決めするためのサーボ系が設けられている。サ
ーボ系は、サーボコントローラ17、CPU18および
バーストデータの処理回路からなる。CPU18は、H
DDの各構成要素を制御するための制御回路であり、サ
ーボ系の処理の一部を実行している。サーボコントロー
ラ17は、発振回路16からサーボシステムクロックが
供給されている。また、CPU18は発振回路16から
CPUクロックが供給されている。発振回路16は、ラ
イト同期回路15にリード・リファレンスクロック(R
RC)を供給している。
して、ディスク2に予め記録されたサーボデータを再生
し、このサーボデータに基づいてヘッド1を目標トラッ
クに位置決めするためのサーボ系が設けられている。サ
ーボ系は、サーボコントローラ17、CPU18および
バーストデータの処理回路からなる。CPU18は、H
DDの各構成要素を制御するための制御回路であり、サ
ーボ系の処理の一部を実行している。サーボコントロー
ラ17は、発振回路16からサーボシステムクロックが
供給されている。また、CPU18は発振回路16から
CPUクロックが供給されている。発振回路16は、ラ
イト同期回路15にリード・リファレンスクロック(R
RC)を供給している。
【0007】サーボコントローラ17は、リードパルス
生成回路12から出力されたリードパルスRPからアド
レスコードADを抽出し、ヘッド1が位置しているトラ
ック(シリンダ)を認識する。アドレスコードADは、
通常ではグレイコード等の2値化データによりディスク
2のサーボエリアに記録されている。
生成回路12から出力されたリードパルスRPからアド
レスコードADを抽出し、ヘッド1が位置しているトラ
ック(シリンダ)を認識する。アドレスコードADは、
通常ではグレイコード等の2値化データによりディスク
2のサーボエリアに記録されている。
【0008】バーストデータの処理回路は、全波整流回
路(FWR回路)19、サンプル・ホールド回路20〜
23、サンプルゲート生成回路24およびA/D変換回
路25を有する。
路(FWR回路)19、サンプル・ホールド回路20〜
23、サンプルゲート生成回路24およびA/D変換回
路25を有する。
【0009】ここで、バーストデータは、図7に示すよ
うに、例えば4相のデータA〜Dからなり、トラック中
心に対して1/2トラックずれた位置に分割されて記録
されている。サンプル・ホールド回路20〜23はそれ
ぞれ、FWR回路19により全波整流されたLPF11
の出力信号において、順番に送られてくるバーストデー
タA〜Dを振り分けられて、各信号の振幅値A〜DをD
Cレベルでホールドする。サンプル・ホールド回路20
〜23は、図7に示すように、サンプルゲート生成回路
24から出力されるサンプル信号A〜Dのタイミングに
よりサンプル・ホールド動作を実行する。サンプルゲー
ト生成回路24は、サーボコントローラ17からのサン
プルタイミング信号に基づいて、サンプルゲートA〜D
を生成する。
うに、例えば4相のデータA〜Dからなり、トラック中
心に対して1/2トラックずれた位置に分割されて記録
されている。サンプル・ホールド回路20〜23はそれ
ぞれ、FWR回路19により全波整流されたLPF11
の出力信号において、順番に送られてくるバーストデー
タA〜Dを振り分けられて、各信号の振幅値A〜DをD
Cレベルでホールドする。サンプル・ホールド回路20
〜23は、図7に示すように、サンプルゲート生成回路
24から出力されるサンプル信号A〜Dのタイミングに
よりサンプル・ホールド動作を実行する。サンプルゲー
ト生成回路24は、サーボコントローラ17からのサン
プルタイミング信号に基づいて、サンプルゲートA〜D
を生成する。
【0010】A/D変換回路25は、サーボコントロー
ラ17からの制御信号に従って、サンプル・ホールド回
路20〜23から出力されるバーストデータA〜Dの各
振幅値を位置情報にコード化し、サーボコントローラ1
7に出力する。サーボコントローラ17は位置情報を使
用して、ヘッド1の位置誤差を演算する。
ラ17からの制御信号に従って、サンプル・ホールド回
路20〜23から出力されるバーストデータA〜Dの各
振幅値を位置情報にコード化し、サーボコントローラ1
7に出力する。サーボコントローラ17は位置情報を使
用して、ヘッド1の位置誤差を演算する。
【0011】具体的には、サーボコントローラ17は、
図8に示すように構成されており、バーストデータA,
Bの各位置情報の誤差であるオフセット(X−Y又はY
−X)を算出し、符号(+又は−)と共にCPU18に
出力する。図9は、サーボコントローラ17の動作に関
係するタイミングチャートを示す。図9は、セクタパル
スをスタート信号として、ホールドクリア信号HCとサ
ンプルタイミング信号がt1〜t10のカウント値によ
り作成されることを示している。ホールドクリア信号H
Cは、新たなサンプリングのために、サンプル・ホール
ド回路20〜23の出力電圧をクリアするものである。
サンプルタイミング信号は、サンプルゲート生成回路2
4に送られて、各サンプル・ホールド回路20〜23に
振り分けられる。
図8に示すように構成されており、バーストデータA,
Bの各位置情報の誤差であるオフセット(X−Y又はY
−X)を算出し、符号(+又は−)と共にCPU18に
出力する。図9は、サーボコントローラ17の動作に関
係するタイミングチャートを示す。図9は、セクタパル
スをスタート信号として、ホールドクリア信号HCとサ
ンプルタイミング信号がt1〜t10のカウント値によ
り作成されることを示している。ホールドクリア信号H
Cは、新たなサンプリングのために、サンプル・ホール
ド回路20〜23の出力電圧をクリアするものである。
サンプルタイミング信号は、サンプルゲート生成回路2
4に送られて、各サンプル・ホールド回路20〜23に
振り分けられる。
【0012】サーボコントローラ17は、A/D変換回
路25から出力されたバーストデータAの位置情報Xを
レジスタ17gに格納し、バーストデータBの位置情報
Yをレジスタ17hに格納する。減算回路17dは、偶
数/奇数判定回路17cの判定結果に基づいて、「X−
Y」または「Y−X」の演算処理を実行し、位置誤差量
(オフセット)と移動制御方向を指示する符号(+又は
−)をCPU18に出力する。
路25から出力されたバーストデータAの位置情報Xを
レジスタ17gに格納し、バーストデータBの位置情報
Yをレジスタ17hに格納する。減算回路17dは、偶
数/奇数判定回路17cの判定結果に基づいて、「X−
Y」または「Y−X」の演算処理を実行し、位置誤差量
(オフセット)と移動制御方向を指示する符号(+又は
−)をCPU18に出力する。
【0013】ここで、サーボコントローラ17は「X−
Y」又は「Y−X」の選択については、ヘッド1を位置
決めするための目標トラック番号が奇数または偶数のい
ずれの場合であるかにより決定する。具体例を図10と
図11を参照して説明する。
Y」又は「Y−X」の選択については、ヘッド1を位置
決めするための目標トラック番号が奇数または偶数のい
ずれの場合であるかにより決定する。具体例を図10と
図11を参照して説明する。
【0014】図10に示すように、目標トラック番号が
偶数の例えば「2」の場合には、サーボコントローラ1
7はバーストデータAの位置情報XとバーストデータB
の位置情報Yとから「Y−X」の演算処理を実行する。
ヘッド1が目標トラック番号2の中心である位置P2に
位置していれば、バーストデータA,Bの各LPF出力
値は最大レベルの50%であり、「Y−X」の演算結果
は「0」となる。ヘッド1がトラック番号3の方向(フ
ォワード方向)にずれた位置P2に位置していれば、
「Y−X」の演算結果は「−M」となる。CPU18
は、サーボコントローラ17から誤差量「M」と符号
「−」を受取ると、ヘッド1をリバース方向にオフトラ
ック量Mだけ移動させるような移動制御を実行する。即
ち、CPU18はVCM3に移動制御量Mに対応する駆
動電流を供給させるように制御する。一方、ヘッド1が
トラック番号1の方向(リバース方向)にずれた位置P
3に位置していれば、「Y−X」の演算結果は「+M」
となる。CPU18は、サーボコントローラ17から誤
差量「M」と符号「+」を受取ると、ヘッド1をフォワ
ード方向にオフトラック量Mだけ移動させるような移動
制御を実行する。
偶数の例えば「2」の場合には、サーボコントローラ1
7はバーストデータAの位置情報XとバーストデータB
の位置情報Yとから「Y−X」の演算処理を実行する。
ヘッド1が目標トラック番号2の中心である位置P2に
位置していれば、バーストデータA,Bの各LPF出力
値は最大レベルの50%であり、「Y−X」の演算結果
は「0」となる。ヘッド1がトラック番号3の方向(フ
ォワード方向)にずれた位置P2に位置していれば、
「Y−X」の演算結果は「−M」となる。CPU18
は、サーボコントローラ17から誤差量「M」と符号
「−」を受取ると、ヘッド1をリバース方向にオフトラ
ック量Mだけ移動させるような移動制御を実行する。即
ち、CPU18はVCM3に移動制御量Mに対応する駆
動電流を供給させるように制御する。一方、ヘッド1が
トラック番号1の方向(リバース方向)にずれた位置P
3に位置していれば、「Y−X」の演算結果は「+M」
となる。CPU18は、サーボコントローラ17から誤
差量「M」と符号「+」を受取ると、ヘッド1をフォワ
ード方向にオフトラック量Mだけ移動させるような移動
制御を実行する。
【0015】また、図11に示すように、目標トラック
番号が奇数の例えば「5」の場合には、サーボコントロ
ーラ17はバーストデータAの位置情報Xとバーストデ
ータBの位置情報Yとから「X−Y」の演算処理を実行
する。ヘッド1が目標トラック番号5の中心である位置
P4に位置していれば、バーストデータA,Bの各LP
F出力値は最大レベルの50%であり、「X−Y」の演
算結果は「0」となる。ヘッド1がトラック番号6の方
向(フォワード方向)にずれた位置P5に位置していれ
ば、「X−Y」の演算結果は「−M」となる。CPU1
8は、サーボコントローラ17から誤差量「M」と符号
「−」を受取ると、ヘッド1をリバース方向にオフトラ
ック量Mだけ移動させるような移動制御を実行する。一
方、ヘッド1がトラック番号4の方向(リバース方向)
にずれた位置P6に位置していれば、「X−Y」の演算
結果は「+M」となる。CPU18は、サーボコントロ
ーラ17から誤差量「M」と符号「+」を受取ると、ヘ
ッド1をフォワード方向にオフトラック量Mだけ移動さ
せるような移動制御を実行する。なお、目標トラック番
号の奇数/偶数の判定は、サーボコントローラ17の奇
数/偶数判定回路によりなされているが、CPU18が
行なう方式もある。
番号が奇数の例えば「5」の場合には、サーボコントロ
ーラ17はバーストデータAの位置情報Xとバーストデ
ータBの位置情報Yとから「X−Y」の演算処理を実行
する。ヘッド1が目標トラック番号5の中心である位置
P4に位置していれば、バーストデータA,Bの各LP
F出力値は最大レベルの50%であり、「X−Y」の演
算結果は「0」となる。ヘッド1がトラック番号6の方
向(フォワード方向)にずれた位置P5に位置していれ
ば、「X−Y」の演算結果は「−M」となる。CPU1
8は、サーボコントローラ17から誤差量「M」と符号
「−」を受取ると、ヘッド1をリバース方向にオフトラ
ック量Mだけ移動させるような移動制御を実行する。一
方、ヘッド1がトラック番号4の方向(リバース方向)
にずれた位置P6に位置していれば、「X−Y」の演算
結果は「+M」となる。CPU18は、サーボコントロ
ーラ17から誤差量「M」と符号「+」を受取ると、ヘ
ッド1をフォワード方向にオフトラック量Mだけ移動さ
せるような移動制御を実行する。なお、目標トラック番
号の奇数/偶数の判定は、サーボコントローラ17の奇
数/偶数判定回路によりなされているが、CPU18が
行なう方式もある。
【0016】サンプル・ホールド回路20〜23は、図
12に示すように、FWR回路19の出力に応じたDC
電圧レベルをホールドするためのコンデンサ202と抵
抗201からなるCR回路、コンデンサ202にチャー
ジするためのチャージ電流源200、ホールドをクリア
するためのスイッチ回路203およびバッファ回路20
4を有する。コンデンサ202には、FWR回路19の
出力に応じてチャージ電流源200からのチャージ電流
がCR時定数によりチャージされる。
12に示すように、FWR回路19の出力に応じたDC
電圧レベルをホールドするためのコンデンサ202と抵
抗201からなるCR回路、コンデンサ202にチャー
ジするためのチャージ電流源200、ホールドをクリア
するためのスイッチ回路203およびバッファ回路20
4を有する。コンデンサ202には、FWR回路19の
出力に応じてチャージ電流源200からのチャージ電流
がCR時定数によりチャージされる。
【0017】即ち、図13に示すように、サンプルゲー
トが論理レベル“H”の期間に、FWRの出力電圧がサ
ンプリングされて、コンデンサ202によりホールドさ
れる(ホールドC電圧)。サンプルゲートが論理レベル
“L”になり、サンプリングが終了しても、コンデンサ
202により出力電圧はホールドされた状態である。こ
こで、A/D変換回路25は、ホールドC電圧をサンプ
リングして入力し、ディジタルの位置情報に変換する。
A/D変換回路25には入力インピーダンスが小さいも
のがあるため、通常ではバッファ回路204が設けられ
ている。
トが論理レベル“H”の期間に、FWRの出力電圧がサ
ンプリングされて、コンデンサ202によりホールドさ
れる(ホールドC電圧)。サンプルゲートが論理レベル
“L”になり、サンプリングが終了しても、コンデンサ
202により出力電圧はホールドされた状態である。こ
こで、A/D変換回路25は、ホールドC電圧をサンプ
リングして入力し、ディジタルの位置情報に変換する。
A/D変換回路25には入力インピーダンスが小さいも
のがあるため、通常ではバッファ回路204が設けられ
ている。
【0018】サンプル・ホールド回路21〜23は、サ
ーボコントローラ17からのホールドクリアHCにより
ホールドが解除される。即ち、図12に示すように、ホ
ールドクリアHCによりスイッチ回路203がオンする
と、コンデンサ202は放電状態となる。
ーボコントローラ17からのホールドクリアHCにより
ホールドが解除される。即ち、図12に示すように、ホ
ールドクリアHCによりスイッチ回路203がオンする
と、コンデンサ202は放電状態となる。
【0019】ところで、ヘッド1の目標トラックに対す
る位置決め制御を行なう場合に、前記のように、位置ず
れ量(誤差量「M」)はサンプル・ホールド回路20〜
23の出力電圧(バッファ出力)に比例することにな
る。このため、サンプル・ホールド回路の入力振幅(F
WR出力)に対する出力電圧の直線性が極めて重要であ
る。
る位置決め制御を行なう場合に、前記のように、位置ず
れ量(誤差量「M」)はサンプル・ホールド回路20〜
23の出力電圧(バッファ出力)に比例することにな
る。このため、サンプル・ホールド回路の入力振幅(F
WR出力)に対する出力電圧の直線性が極めて重要であ
る。
【0020】さらに、同一入力値に対して同一出力であ
ること(繰り返し精度)も重要である。但し、特にヘッ
ド1がオントラックの状態では、A=Bであり、各出力
電圧は同一となり、共に全振幅の1/2(50%)で等
しくなるため、1/2振幅付近の直線性が特に重要とな
る。言い換えれば、CH−AとCH−Bの各出力電圧が
0または全振幅に近い(80%以上)ときは、ヘッド1
が1/2トラックも大きく位置ずれしているため、それ
ほどの精度を必要としていない。
ること(繰り返し精度)も重要である。但し、特にヘッ
ド1がオントラックの状態では、A=Bであり、各出力
電圧は同一となり、共に全振幅の1/2(50%)で等
しくなるため、1/2振幅付近の直線性が特に重要とな
る。言い換えれば、CH−AとCH−Bの各出力電圧が
0または全振幅に近い(80%以上)ときは、ヘッド1
が1/2トラックも大きく位置ずれしているため、それ
ほどの精度を必要としていない。
【0021】サンプル・ホールド回路20〜23では、
図12に示すように、コンデンサ202と抵抗201の
CR時定数はサンプリングの追従速度を決めているだけ
でなく、チャージ電流に対して積分型フィルタとなって
おり、全波整流波形にノイズがのっている場合でも、振
幅値を平均値として検出するようにしている。
図12に示すように、コンデンサ202と抵抗201の
CR時定数はサンプリングの追従速度を決めているだけ
でなく、チャージ電流に対して積分型フィルタとなって
おり、全波整流波形にノイズがのっている場合でも、振
幅値を平均値として検出するようにしている。
【0022】ところが、従来のサンプル・ホールド回路
20〜23では、図14に示すように、サンプルゲート
がオフされる直前のノイズ(消去ノイズと不要ノイズ)
に影響されやすく、DC出力は最後のサンプリング波形
に対する依存度が大きくなる。したがって、図14に示
すように、サンプル・ホールド回路20〜23の出力エ
ラーが発生する。この出力エラーの発生は、ヘッドの位
置決め精度が低下する原因となる。
20〜23では、図14に示すように、サンプルゲート
がオフされる直前のノイズ(消去ノイズと不要ノイズ)
に影響されやすく、DC出力は最後のサンプリング波形
に対する依存度が大きくなる。したがって、図14に示
すように、サンプル・ホールド回路20〜23の出力エ
ラーが発生する。この出力エラーの発生は、ヘッドの位
置決め精度が低下する原因となる。
【0023】ここで、仮に、図15に示すように、高周
波のノイズに反応しないようなCR時定数のフィルタを
使用した場合には、今度は平均値検波ではなく、ピーク
ホールド回路となり、サンプリング波形の波形ピークに
依存する形となってしまうため、効果的でない。
波のノイズに反応しないようなCR時定数のフィルタを
使用した場合には、今度は平均値検波ではなく、ピーク
ホールド回路となり、サンプリング波形の波形ピークに
依存する形となってしまうため、効果的でない。
【0024】
【発明が解決しようとする課題】従来のセクタサーボ方
式のHDDにおいて、サーボデータのバーストデータに
基づいてヘッド1の位置制御を行なう場合に、ヘッド1
により読出したバーストデータの振幅値をサンプル/ホ
ールドし、この振幅値を位置情報に変換して位置誤差を
求める演算を実行している。この場合、サンプル・ホー
ルド回路において、振幅値が大小となるノイズがバース
トデータに影響すると、サンプル・ホールド回路の出力
誤差が発生する。従来では、ローパスフィルタの特性を
改善するなどして、ヘッドの位置決め精度を維持するこ
とがなされてきたが、大容量かつ高記録密度化のHDD
では困難になりつつある。
式のHDDにおいて、サーボデータのバーストデータに
基づいてヘッド1の位置制御を行なう場合に、ヘッド1
により読出したバーストデータの振幅値をサンプル/ホ
ールドし、この振幅値を位置情報に変換して位置誤差を
求める演算を実行している。この場合、サンプル・ホー
ルド回路において、振幅値が大小となるノイズがバース
トデータに影響すると、サンプル・ホールド回路の出力
誤差が発生する。従来では、ローパスフィルタの特性を
改善するなどして、ヘッドの位置決め精度を維持するこ
とがなされてきたが、大容量かつ高記録密度化のHDD
では困難になりつつある。
【0025】本発明の目的は、セクタサーボ方式の磁気
ディスク装置において、ヘッドの位置情報であるバース
トデータに、その振幅値が大小となるノイズが影響した
場合でも、その振幅値の平均値を検出してDC電圧レベ
ルに変換するサンプル・ホールド回路を使用することに
より、結果的にノイズによる影響を解消して、ヘッドの
位置決め制御の精度を向上することにある。
ディスク装置において、ヘッドの位置情報であるバース
トデータに、その振幅値が大小となるノイズが影響した
場合でも、その振幅値の平均値を検出してDC電圧レベ
ルに変換するサンプル・ホールド回路を使用することに
より、結果的にノイズによる影響を解消して、ヘッドの
位置決め制御の精度を向上することにある。
【0026】
【課題を解決するための手段】本発明は、セクタサーボ
方式の磁気ディスク装置において、サーボデータおよび
ユーザデータが混在して記録される記録媒体、バースト
データの振幅値をサンプリングしてホールドするサンプ
ル・ホールド手段、サンプリング期間を検出するカウン
タ手段およびホールドされた振幅値の平均値を算出して
ヘッドの位置情報を生成する位置情報生成手段を備えた
装置である。
方式の磁気ディスク装置において、サーボデータおよび
ユーザデータが混在して記録される記録媒体、バースト
データの振幅値をサンプリングしてホールドするサンプ
ル・ホールド手段、サンプリング期間を検出するカウン
タ手段およびホールドされた振幅値の平均値を算出して
ヘッドの位置情報を生成する位置情報生成手段を備えた
装置である。
【0027】
【作用】本発明では、サンプル・ホールド手段はヘッド
により読出されたバーストデータの振幅値をサンプリン
グしてホールドする回路であって、バーストデータの振
幅のピーク値を検出して順次加算し、予め決定されたビ
ット数倍の電圧レベルに変換する。位置情報生成手段
は、サンプル・ホールド手段のサンプリング期間でのホ
ールドされた振幅値の平均値を算出して、この平均値に
基づいてヘッドの位置情報を生成する。
により読出されたバーストデータの振幅値をサンプリン
グしてホールドする回路であって、バーストデータの振
幅のピーク値を検出して順次加算し、予め決定されたビ
ット数倍の電圧レベルに変換する。位置情報生成手段
は、サンプル・ホールド手段のサンプリング期間でのホ
ールドされた振幅値の平均値を算出して、この平均値に
基づいてヘッドの位置情報を生成する。
【0028】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。
する。
【0029】図1は同実施例に係わるHDDの要部を示
すブロック図、図2は同実施例に係わるサンプル・ホー
ルド回路の構成を示すブロック図、図4は同実施例に係
わるサーボコントローラの構成を示すブロック図であ
る。
すブロック図、図2は同実施例に係わるサンプル・ホー
ルド回路の構成を示すブロック図、図4は同実施例に係
わるサーボコントローラの構成を示すブロック図であ
る。
【0030】同実施例に係わるHDDは、図1に示すよ
うに、サーボ系のバーストデータ処理回路おいて、従来
の全波整流回路(FWR回路)19が削除されて、何時
手以上のサンプル出力を検出するためのコンパレータ3
0を有する。
うに、サーボ系のバーストデータ処理回路おいて、従来
の全波整流回路(FWR回路)19が削除されて、何時
手以上のサンプル出力を検出するためのコンパレータ3
0を有する。
【0031】即ち、サンプル・ホールド回路20A,2
1B,22Cおよび23Dは、LPF11からの差動出
力が直接入力されている。サンプル・ホールド回路は、
具体例としては、図2に示すように、定電流源31a〜
31c、トランジスタTr1〜Tr6、スイッチ回路S
W1〜SW3およびコンデンサC1〜C3を有する。
1B,22Cおよび23Dは、LPF11からの差動出
力が直接入力されている。サンプル・ホールド回路は、
具体例としては、図2に示すように、定電流源31a〜
31c、トランジスタTr1〜Tr6、スイッチ回路S
W1〜SW3およびコンデンサC1〜C3を有する。
【0032】さらに、同実施例のサーボコントローラ1
70は、図4に示すように、セクタパルス生成回路17
a、アドレスコード検出回路17b、偶数/奇数判定回
路17c、減算回路17d、カウンタ17e,17k、
A/D変換制御回路17f、レジスタ17g,17h、
サンプルタイミング生成回路17iおよびホールドクリ
ア生成回路17jを備えている。
70は、図4に示すように、セクタパルス生成回路17
a、アドレスコード検出回路17b、偶数/奇数判定回
路17c、減算回路17d、カウンタ17e,17k、
A/D変換制御回路17f、レジスタ17g,17h、
サンプルタイミング生成回路17iおよびホールドクリ
ア生成回路17jを備えている。
【0033】セクタパルス生成回路17aは、リードパ
ルス生成回路12から出力されたリードパルスRPに基
づいてセクタパルスを生成する。セクタパルスは、トラ
ックを分割している各セクタのスタートタイミングとな
るパルスである。アドレスコード検出回路17bは、リ
ードパルスRPからトラックのアドレスコードADを検
出して、トラックアドレスデータとしてCPU18に出
力する。偶数/奇数判定回路17cは、アドレスコード
検出回路17bからのアドレスコードからトラック番号
の偶数/奇数を判定する。
ルス生成回路12から出力されたリードパルスRPに基
づいてセクタパルスを生成する。セクタパルスは、トラ
ックを分割している各セクタのスタートタイミングとな
るパルスである。アドレスコード検出回路17bは、リ
ードパルスRPからトラックのアドレスコードADを検
出して、トラックアドレスデータとしてCPU18に出
力する。偶数/奇数判定回路17cは、アドレスコード
検出回路17bからのアドレスコードからトラック番号
の偶数/奇数を判定する。
【0034】カウンタ17eは、発振回路16からのサ
ーボシステムクロックをカウントし、各種回路の動作に
必要なタイミングパルスを生成する。同実施例では、カ
ウンタ17e以外に、リードパルスRPをカウントする
ためのカウンタ17kが設けられている。カウンタ17
kは、カウンタ17eからの出力(サンプルゲートスタ
ート信号)によりカウント動作し、バーストデータのピ
ーク位置に相当するリードパルスRPをカウントする。
ーボシステムクロックをカウントし、各種回路の動作に
必要なタイミングパルスを生成する。同実施例では、カ
ウンタ17e以外に、リードパルスRPをカウントする
ためのカウンタ17kが設けられている。カウンタ17
kは、カウンタ17eからの出力(サンプルゲートスタ
ート信号)によりカウント動作し、バーストデータのピ
ーク位置に相当するリードパルスRPをカウントする。
【0035】A/D変換制御回路17fは、A/D変換
回路25の動作に必要なチャネル選択信号(ch se
lect)をA/D変換回路25に出力する。レジスタ
17g,17hはそれぞれ、A/D変換回路25から出
力されたバーストデータAの位置情報Xとバーストデー
タBの位置情報Yを格納する。減算回路17dは、偶数
/奇数判定回路17cの判定結果に基づいて、「X−
Y」または「Y−X」の演算処理を実行し、位置誤差量
(オフセット)と移動制御方向を指示する符号(+又は
−)をCPU18に出力する。
回路25の動作に必要なチャネル選択信号(ch se
lect)をA/D変換回路25に出力する。レジスタ
17g,17hはそれぞれ、A/D変換回路25から出
力されたバーストデータAの位置情報Xとバーストデー
タBの位置情報Yを格納する。減算回路17dは、偶数
/奇数判定回路17cの判定結果に基づいて、「X−
Y」または「Y−X」の演算処理を実行し、位置誤差量
(オフセット)と移動制御方向を指示する符号(+又は
−)をCPU18に出力する。
【0036】サンプルタイミング生成回路17iは、コ
ンパレータ30の出力に応じてカウンタ17eのカウン
ト値またはカウンタ17kのカウント値に基づいてサン
プルタイミングを生成する。ホールドクリア生成回路1
7jはホールドクリアHCを生成する。
ンパレータ30の出力に応じてカウンタ17eのカウン
ト値またはカウンタ17kのカウント値に基づいてサン
プルタイミングを生成する。ホールドクリア生成回路1
7jはホールドクリアHCを生成する。
【0037】なお、図1において、前記説明以外の他の
回路の構成は、図6に示すものと同様のため、説明を省
略する。
回路の構成は、図6に示すものと同様のため、説明を省
略する。
【0038】次に、同実施例の動作を説明する。
【0039】まず、基本的には、サーボ系はヘッド1を
目標トラックの中心に位置決めする位置制御を実行す
る。この位置制御時に、サンプル・ホールド回路20A
〜23Dはそれぞれ、バーストデータA〜Dの振幅値A
〜DをDCレベル(ホールド電圧値)でホールドする。
A/D変換回路25は、サーボコントローラ170から
の制御信号に従って、サンプル・ホールド回路から出力
されるバーストデータA〜Dの各振幅値を位置情報にコ
ード化し、サーボコントローラ170に出力する。サー
ボコントローラ170は位置情報を使用して、ヘッド1
の位置誤差を演算し、その演算結果(オフセット値と符
号+/−)をCPU18に出力する。CPU18は、位
置誤差を0にするようにヘッド1を移動制御して、目標
トラックの中心に位置決めさせる。
目標トラックの中心に位置決めする位置制御を実行す
る。この位置制御時に、サンプル・ホールド回路20A
〜23Dはそれぞれ、バーストデータA〜Dの振幅値A
〜DをDCレベル(ホールド電圧値)でホールドする。
A/D変換回路25は、サーボコントローラ170から
の制御信号に従って、サンプル・ホールド回路から出力
されるバーストデータA〜Dの各振幅値を位置情報にコ
ード化し、サーボコントローラ170に出力する。サー
ボコントローラ170は位置情報を使用して、ヘッド1
の位置誤差を演算し、その演算結果(オフセット値と符
号+/−)をCPU18に出力する。CPU18は、位
置誤差を0にするようにヘッド1を移動制御して、目標
トラックの中心に位置決めさせる。
【0040】ここで、同実施例のサンプル・ホールド回
路20A〜23Dは、LPF11からの差動出力信号
(+,−)を直接に入力する。サンプル・ホールド回路
は、図2に示すように、アナログ波形のLPF11の差
動出力信号(+,−)が入力されている状態で、ホール
ドクリアHCが解除されると、スイッチ回路SW3はオ
フとなる。続いて、サンプルゲート生成回路24からの
サンプルゲートが論理レベル“H”になると、スイッチ
回路SW1,SW2はオフとなる。
路20A〜23Dは、LPF11からの差動出力信号
(+,−)を直接に入力する。サンプル・ホールド回路
は、図2に示すように、アナログ波形のLPF11の差
動出力信号(+,−)が入力されている状態で、ホール
ドクリアHCが解除されると、スイッチ回路SW3はオ
フとなる。続いて、サンプルゲート生成回路24からの
サンプルゲートが論理レベル“H”になると、スイッチ
回路SW1,SW2はオフとなる。
【0041】このスイッチ回路SW1〜SW3の動作に
伴って、コンデンサC1〜C3の各電位(コンデンサC
3ではホールド電位)はバイアス電圧より増加する正側
のバーストデータ(LPF11の差動出力信号+)に追
従して、コンデンサC1,C2に基準電圧Vrefとの
電位差分の電圧を充電する。
伴って、コンデンサC1〜C3の各電位(コンデンサC
3ではホールド電位)はバイアス電圧より増加する正側
のバーストデータ(LPF11の差動出力信号+)に追
従して、コンデンサC1,C2に基準電圧Vrefとの
電位差分の電圧を充電する。
【0042】次に、負側のバーストデータ(LPF11
の差動出力信号−)がバイアス電圧の正側に増加してく
ると、同様に基準電圧Vrefとの電位差分の電圧が、
コンデンサC1,C2に充電される。この電位差分の電
圧がコンデンサC3のホールド電位に加算されて増加す
る。
の差動出力信号−)がバイアス電圧の正側に増加してく
ると、同様に基準電圧Vrefとの電位差分の電圧が、
コンデンサC1,C2に充電される。この電位差分の電
圧がコンデンサC3のホールド電位に加算されて増加す
る。
【0043】即ち、図3に示すように、LPF11の差
動出力信号の一方チャネル(+または−)毎の振幅を、
コンデンサC1,C2に充電、加算を繰り返すことによ
りサンプルする。予め決定されたバーストデータが10
であれば、10倍の振幅値に相当するDCレベル出力
(バッファ出力)を得ることができる。
動出力信号の一方チャネル(+または−)毎の振幅を、
コンデンサC1,C2に充電、加算を繰り返すことによ
りサンプルする。予め決定されたバーストデータが10
であれば、10倍の振幅値に相当するDCレベル出力
(バッファ出力)を得ることができる。
【0044】ここで、サンプルゲートの期間(サンプリ
ング期間)は、サーボコントローラ170のカウンタ1
7kのカウント値に基づいて作成される。カウンタ17
kは、カウンタ17eと連動してサンプルタイミングを
作成する。
ング期間)は、サーボコントローラ170のカウンタ1
7kのカウント値に基づいて作成される。カウンタ17
kは、カウンタ17eと連動してサンプルタイミングを
作成する。
【0045】即ち、図5に示すように、カウンタ17e
はセクタパルスをスタート信号として、サーボシステム
クロックをカウントし、ホールドクリアHCのオン/オ
フ、サンプルゲートのスタート時間をカウントする。カ
ウンタ17kは、カウンタ17eのスタート時間をカウ
ント出力により動作し、バーストデータのピーク位置に
相当するリードパルスRPをカウントする。これによ
り、予め決定されたサンプルビット数だけサンプルホー
ルドする。
はセクタパルスをスタート信号として、サーボシステム
クロックをカウントし、ホールドクリアHCのオン/オ
フ、サンプルゲートのスタート時間をカウントする。カ
ウンタ17kは、カウンタ17eのスタート時間をカウ
ント出力により動作し、バーストデータのピーク位置に
相当するリードパルスRPをカウントする。これによ
り、予め決定されたサンプルビット数だけサンプルホー
ルドする。
【0046】但し、バーストデータの振幅値が0付近の
場合には、リードパルスRPは発生しないので、サンプ
ル値が一定以上に増大しないときには、カウンタ17e
のカウント値(サーボシステムクロックのカウント値)
によりサンプルタイミングを作成し、そのバーストエリ
ア内のサンプリングは終了となる。カウンタ17eとカ
ウンタ17kの出力選択は、サンプルタイミング生成回
路17iがコンパレータ30の出力に応じて決定する。
コンパレータ30は、サンプル・ホールド回路の出力
(バーストデータの振幅値)が一定値以上であれば、カ
ウンタ17kを選択させる出力信号を出力する。また、
一定値未満であれば、カウンタ17eを選択させる出力
信号を出力する。
場合には、リードパルスRPは発生しないので、サンプ
ル値が一定以上に増大しないときには、カウンタ17e
のカウント値(サーボシステムクロックのカウント値)
によりサンプルタイミングを作成し、そのバーストエリ
ア内のサンプリングは終了となる。カウンタ17eとカ
ウンタ17kの出力選択は、サンプルタイミング生成回
路17iがコンパレータ30の出力に応じて決定する。
コンパレータ30は、サンプル・ホールド回路の出力
(バーストデータの振幅値)が一定値以上であれば、カ
ウンタ17kを選択させる出力信号を出力する。また、
一定値未満であれば、カウンタ17eを選択させる出力
信号を出力する。
【0047】サンプル・ホールド回路の出力は1/2付
近の直線性があればよいので、0付近の信頼性について
はあまり重要ではない。したがって、リードパルスRP
は発生しないような振幅の小さい領域では、サンプル個
数の信頼性は問題ないので、サーボシステムクロックに
よりサンプリング期間を決定することができる。
近の直線性があればよいので、0付近の信頼性について
はあまり重要ではない。したがって、リードパルスRP
は発生しないような振幅の小さい領域では、サンプル個
数の信頼性は問題ないので、サーボシステムクロックに
よりサンプリング期間を決定することができる。
【0048】このようにして、同実施例では、LPF1
1の差動出力信号の一方チャネル(+または−)毎の振
幅を充電、加算を繰り返すことにより、振幅値の平均値
のサンプル個数倍のDCレベル出力(バッファ出力)を
得ることができる。したがって、バーストデータにノイ
ズ(消去,付加ノイズ)が含まれていても、大小連続し
たサンプル中のLPF出力を加算して平均化してしまう
ため、ノイズによる出力誤差の発生を防止することがで
きる。
1の差動出力信号の一方チャネル(+または−)毎の振
幅を充電、加算を繰り返すことにより、振幅値の平均値
のサンプル個数倍のDCレベル出力(バッファ出力)を
得ることができる。したがって、バーストデータにノイ
ズ(消去,付加ノイズ)が含まれていても、大小連続し
たサンプル中のLPF出力を加算して平均化してしまう
ため、ノイズによる出力誤差の発生を防止することがで
きる。
【0049】ヘッド1の位置制御では、バーストデータ
に基づいて算出される位置誤差量は、サンプル・ホール
ド回路の出力電圧に比例するはずであるから、サンプル
・ホールド回路の入力信号に対する出力信号の直線性が
重要である。バーストデータにノイズが含まれている
と、サンプル・ホールド回路はそれに追従して、ノイズ
分だけずれたDCレベルを出力してしまう。従来では、
全波整流回路(FWR回路)19が使用されているた
め、全波整流波形のピーク値で決定されて、サンプルゲ
ートのオフ直前のノイズに影響される。
に基づいて算出される位置誤差量は、サンプル・ホール
ド回路の出力電圧に比例するはずであるから、サンプル
・ホールド回路の入力信号に対する出力信号の直線性が
重要である。バーストデータにノイズが含まれている
と、サンプル・ホールド回路はそれに追従して、ノイズ
分だけずれたDCレベルを出力してしまう。従来では、
全波整流回路(FWR回路)19が使用されているた
め、全波整流波形のピーク値で決定されて、サンプルゲ
ートのオフ直前のノイズに影響される。
【0050】そこで、本発明では、LPF11の差動出
力信号を直接入力するサンプル・ホールド回路を使用す
ることにより、ノイズがサンプル中のバーストデータの
どこで発生しても、サンプル出力を平均化させて、結果
的にノイズの影響を抑制してしまう。
力信号を直接入力するサンプル・ホールド回路を使用す
ることにより、ノイズがサンプル中のバーストデータの
どこで発生しても、サンプル出力を平均化させて、結果
的にノイズの影響を抑制してしまう。
【0051】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、セ
クタサーボ方式の磁気ディスク装置において、ヘッドの
位置情報であるバーストデータに、その振幅値が大小と
なるノイズが影響した場合でも、その振幅値の平均値を
検出してDC電圧レベルに変換するサンプル・ホールド
回路を使用することにより、結果的にノイズによる影響
を解消して、ヘッドの位置決め制御の精度を向上するこ
とができる。
クタサーボ方式の磁気ディスク装置において、ヘッドの
位置情報であるバーストデータに、その振幅値が大小と
なるノイズが影響した場合でも、その振幅値の平均値を
検出してDC電圧レベルに変換するサンプル・ホールド
回路を使用することにより、結果的にノイズによる影響
を解消して、ヘッドの位置決め制御の精度を向上するこ
とができる。
【図1】本発明の実施例に係わるHDDの要部を示すブ
ロック図。
ロック図。
【図2】同実施例に係わるサンプル・ホールド回路の構
成を示すブロック図。
成を示すブロック図。
【図3】同実施例のサンプル・ホールド回路の動作を説
明するためのタイミングチャート。
明するためのタイミングチャート。
【図4】同実施例に係わるサーボコントローラの構成を
示すブロック図。
示すブロック図。
【図5】同実施例の動作を説明するためのタイミングチ
ャート。
ャート。
【図6】従来のHDDの要部を示すブロック図。
【図7】従来の動作を説明するためのタイミングチャー
ト。
ト。
【図8】従来のサーボコントローラの構成を示すブロッ
ク図。
ク図。
【図9】従来のHDDの動作を説明するためのタイミン
グチャート。
グチャート。
【図10】従来のHDDの動作を説明するための概念
図。
図。
【図11】従来のHDDの動作を説明するための概念
図。
図。
【図12】従来のサンプルホールド回路の構成を示すブ
ロック図。
ロック図。
【図13】従来のサンプルホールド回路の動作を説明す
るためのタイミングチャート。
るためのタイミングチャート。
【図14】従来のサンプルホールド回路の動作を説明す
るためのタイミングチャート。
るためのタイミングチャート。
【図15】従来のサンプルホールド回路の動作を説明す
るためのタイミングチャート。
るためのタイミングチャート。
1…ヘッド、2…ディスク、12…リードパルス生成回
路、17,170…サーボコントローラ、18…CP
U、20〜23,20A〜23D…サンプルホールド回
路、24…サンプルゲート回路、25…A/D変換回
路。
路、17,170…サーボコントローラ、18…CP
U、20〜23,20A〜23D…サンプルホールド回
路、24…サンプルゲート回路、25…A/D変換回
路。
Claims (4)
- 【請求項1】 ヘッドをトラック中心に位置決めするた
めのバーストデータとトラック番号に対応するアドレス
コードを有するサーボデータおよびユーザデータが混在
して記録される記録媒体を使用する磁気ディスク装置に
おいて、 前記ヘッドにより読出された前記バーストデータの振幅
値をサンプリングしてホールドする回路であって、前記
バーストデータの振幅のピーク値を検出して順次加算
し、予め決定されたビット数倍の電圧レベルに変換する
サンプル・ホールド手段と、 このサンプル・ホールド手段のサンプリング期間を検出
するカウンタ手段と、 このカウンタ手段により検出された前記サンプリング期
間での前記サンプル・ホールド手段によりホールドされ
た前記振幅値の平均値を算出して、この平均値に基づい
て前記ヘッドの位置情報を生成する位置情報生成手段と
を具備したことを特徴とする磁気ディスク装置のヘッド
位置決め制御装置。 - 【請求項2】 ヘッドをトラック中心に位置決めするた
めのバーストデータとトラック番号に対応するアドレス
コードを有するサーボデータおよびユーザデータが混在
して記録される記録媒体を使用する磁気ディスク装置に
おいて、 前記ヘッドにより読出された前記バーストデータの振幅
値をサンプリングして、前記バーストデータの振幅のピ
ーク値を検出して順次加算するステップと、 前記ピーク値の加算結果を予め決定されたビット数倍の
電圧レベルに変換してホールドするステップと、 前記振幅値のサンプリング期間を検出するステップと、 検出された前記サンプリング期間にホールドされた前記
振幅値の平均値を算出して、この平均値に基づいて前記
ヘッドの位置情報を生成するステップとからなることを
特徴とするヘッド位置決め制御方法。 - 【請求項3】 各トラック毎にトラック番号に対応する
アドレスコード及びヘッドをトラック中心に位置決めす
るための複数相のバーストデータを有するサーボデータ
が予め記録されて、前記各相のバーストデータはトラッ
ク中心から1/2の位置ずれを以て記録されて、前記サ
ーボデータとユーザデータとが混在して記録される記録
媒体を有するセクタサーボ方式の磁気ディスク装置にお
いて、 前記ヘッドの読出し信号の電磁変換位置に相当する波形
ピーク点を検出し、前記読出し信号を2値化データに変
換するパルス生成手段と、 前記各相のバーストデータ毎に独立に設けられて、前記
各バーストデータのピーク値を検出して順次加算し、予
め決定されたビット数倍のDC電圧レベルに変換するサ
ンプル・ホールド手段と、 この各サンプル・ホールド手段のサンプリングとホール
ド期間を前記バーストデータの入力タイミングに応じて
制御する制御手段と、 前記パルス生成手段から出力されるパルスをカウントす
ることにより前記サンプル・ホールド手段のサンプリン
グ中の前記バーストデータのビット数をカウントし、前
記サンプル・ホールド手段のサンプリング期間を検出す
る検出手段とを具備したことを特徴とする磁気ディスク
装置のヘッド位置決め制御装置。 - 【請求項4】 各トラック毎にトラック番号に対応する
アドレスコード及びヘッドをトラック中心に位置決めす
るための複数相のバーストデータを有するサーボデータ
が予め記録されて、前記各相のバーストデータはトラッ
ク中心から1/2の位置ずれを以て記録されて、前記サ
ーボデータとユーザデータとが混在して記録される記録
媒体を有するセクタサーボ方式の磁気ディスク装置にお
いて、 前記ヘッドの読出し信号の電磁変換位置に相当する波形
ピーク点を検出し、前記読出し信号を2値化データに変
換するパルス生成手段と、 前記各相のバーストデータ毎に独立に設けられて、前記
各バーストデータのピーク値を検出して順次加算し、予
め決定されたビット数倍のDC電圧レベルに変換するサ
ンプル・ホールド手段と、 この各サンプル・ホールド手段のサンプリングとホール
ド期間を前記バーストデータの入力タイミングに応じて
制御する制御手段と、 前記パルス生成手段から出力されるパルスをカウントす
ることにより前記サンプル・ホールド手段のサンプリン
グ中の前記バーストデータのビット数をカウントし、前
記サンプル・ホールド手段のサンプリング期間を検出す
る検出手段と、 この検出手段により検出された前記サンプリング期間で
の前記サンプル・ホールド手段によりホールドされた前
記バーストデータの振幅値の平均値を算出して、この平
均値に基づいて前記ヘッドの位置情報を生成する位置情
報生成手段とを具備したことを特徴とする磁気ディスク
装置のヘッド位置決め制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35116993A JPH07201146A (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 磁気ディスク装置のヘッド位置決め制御装置とヘッド位置決め制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35116993A JPH07201146A (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 磁気ディスク装置のヘッド位置決め制御装置とヘッド位置決め制御方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07201146A true JPH07201146A (ja) | 1995-08-04 |
Family
ID=18415524
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35116993A Pending JPH07201146A (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 磁気ディスク装置のヘッド位置決め制御装置とヘッド位置決め制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07201146A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0825589A1 (en) * | 1996-08-07 | 1998-02-25 | STMicroelectronics S.r.l. | A precision servo-demodulator |
| JP2000322850A (ja) * | 1999-04-21 | 2000-11-24 | Guzik Technical Enterp Inc | 熱ドリフトを補正する閉ループ位置付けシステムを持った磁器ヘッド/ディスクテスター |
| US6603616B2 (en) | 2000-10-03 | 2003-08-05 | Matsushita Electric Industrial Co. Ltd. | Control method and apparatus of magnetic disc device, recording medium, and inspection method and apparatus of magnetic disc device |
-
1993
- 1993-12-28 JP JP35116993A patent/JPH07201146A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0825589A1 (en) * | 1996-08-07 | 1998-02-25 | STMicroelectronics S.r.l. | A precision servo-demodulator |
| JP2000322850A (ja) * | 1999-04-21 | 2000-11-24 | Guzik Technical Enterp Inc | 熱ドリフトを補正する閉ループ位置付けシステムを持った磁器ヘッド/ディスクテスター |
| JP2010267376A (ja) * | 1999-04-21 | 2010-11-25 | Guzik Technical Enterp Inc | 熱ドリフトを補正する閉ループ位置付けシステムを持った磁器ヘッド/ディスクテスター |
| US6603616B2 (en) | 2000-10-03 | 2003-08-05 | Matsushita Electric Industrial Co. Ltd. | Control method and apparatus of magnetic disc device, recording medium, and inspection method and apparatus of magnetic disc device |
| CN1316452C (zh) * | 2000-10-03 | 2007-05-16 | 松下电器产业株式会社 | 磁盘装置的检查方法和装置 |
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