JPH07201901A - 樹脂封止用金型装置 - Google Patents
樹脂封止用金型装置Info
- Publication number
- JPH07201901A JPH07201901A JP1211794A JP1211794A JPH07201901A JP H07201901 A JPH07201901 A JP H07201901A JP 1211794 A JP1211794 A JP 1211794A JP 1211794 A JP1211794 A JP 1211794A JP H07201901 A JPH07201901 A JP H07201901A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resin
- mold
- lead frame
- cavity
- upper mold
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000007789 sealing Methods 0.000 title claims abstract description 31
- 238000000465 moulding Methods 0.000 title abstract description 5
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 53
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 53
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims abstract description 13
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims abstract description 13
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 9
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 4
- 230000007774 longterm Effects 0.000 abstract description 3
- 238000013022 venting Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、樹脂注入ゲート側のキャビティ内
に生じる気泡の残留を防止し、耐湿性に優れた長期信頼
性の高い樹脂封止部を生産効率よく形成させることにあ
る。 【構成】 本発明は、上型25及び下型25aで半導体
素子23を搭載したリードフレーム24を位置決め圧接
挟持し、前記上型25及び下型25で形成されたキャビ
ティ21内に、溶融樹脂Sを樹脂圧流ランナー26及び
樹脂注入ゲート27を経て注入充填し、前記素子23及
びリードフレーム24の一端部を樹脂封止する樹脂封止
用金型装置において、少なくとも、前記上型25または
下型25aに設けた前記樹脂注入ゲート27の位置に対
向した前記上型25または下型25aのパッティングP
Lのエリア面に気泡排出用のエァーベント29を設けた
構成とされている。
に生じる気泡の残留を防止し、耐湿性に優れた長期信頼
性の高い樹脂封止部を生産効率よく形成させることにあ
る。 【構成】 本発明は、上型25及び下型25aで半導体
素子23を搭載したリードフレーム24を位置決め圧接
挟持し、前記上型25及び下型25で形成されたキャビ
ティ21内に、溶融樹脂Sを樹脂圧流ランナー26及び
樹脂注入ゲート27を経て注入充填し、前記素子23及
びリードフレーム24の一端部を樹脂封止する樹脂封止
用金型装置において、少なくとも、前記上型25または
下型25aに設けた前記樹脂注入ゲート27の位置に対
向した前記上型25または下型25aのパッティングP
Lのエリア面に気泡排出用のエァーベント29を設けた
構成とされている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体素子を搭載した
リードフレームを樹脂封止する樹脂封止用金型装置に係
る、詳細には、気泡排出用エァーベントを設けた樹脂封
止用金型装置に関する。
リードフレームを樹脂封止する樹脂封止用金型装置に係
る、詳細には、気泡排出用エァーベントを設けた樹脂封
止用金型装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の一例であるこの種の樹脂封止用金
型装置は、図3に示すように、複数の上型キャビティ2
1aを埋設した上型チェイスブロック22を設け、半導
体素子23を搭載したリードフレーム24の外枠24a
の上面に圧接する上型25と、複数の下型キャビティ2
1bを埋設した下型チェイスブロック22aと該ブロッ
ク22a面に溶融樹脂を圧流するランナー26及び樹脂
注入ゲート27とを設け、前記リードフレーム24の外
枠24aの下面に圧接する下型25aとを備え前記リー
ドフレーム24に樹脂封止部を形成するように構成され
ていた。
型装置は、図3に示すように、複数の上型キャビティ2
1aを埋設した上型チェイスブロック22を設け、半導
体素子23を搭載したリードフレーム24の外枠24a
の上面に圧接する上型25と、複数の下型キャビティ2
1bを埋設した下型チェイスブロック22aと該ブロッ
ク22a面に溶融樹脂を圧流するランナー26及び樹脂
注入ゲート27とを設け、前記リードフレーム24の外
枠24aの下面に圧接する下型25aとを備え前記リー
ドフレーム24に樹脂封止部を形成するように構成され
ていた。
【0003】上記のような樹脂封止用金型装置20を用
いて樹脂封止を行う場合には、前記上型25と下型25
aとの間に、半導体素子23を搭載し、前記素子23の
図示しない電極端子と前記リードフレーム24の端子リ
ード24bとをワイヤ24cでワイヤボンデングして電
気導通回路を形成した前記リードフレーム24を位置決
め圧接挟持する。そうして、前記上型25のキャビティ
21a及び下型25aのキャビティ21bで形成された
キャビティ21内に、前記下型25aに設けた前記樹脂
注入ゲート27から所定圧の溶融樹脂を注入し、前記キ
ャビティ21内の空気(エァー)を前記ゲートの反対側
に設けた空気排出用エァーベント28から徐々に排出し
つつ溶融樹脂が充填される。その後、注入樹脂の硬化後
に離型し、樹脂封止部が形成されたリードフレーム24
を回収する。
いて樹脂封止を行う場合には、前記上型25と下型25
aとの間に、半導体素子23を搭載し、前記素子23の
図示しない電極端子と前記リードフレーム24の端子リ
ード24bとをワイヤ24cでワイヤボンデングして電
気導通回路を形成した前記リードフレーム24を位置決
め圧接挟持する。そうして、前記上型25のキャビティ
21a及び下型25aのキャビティ21bで形成された
キャビティ21内に、前記下型25aに設けた前記樹脂
注入ゲート27から所定圧の溶融樹脂を注入し、前記キ
ャビティ21内の空気(エァー)を前記ゲートの反対側
に設けた空気排出用エァーベント28から徐々に排出し
つつ溶融樹脂が充填される。その後、注入樹脂の硬化後
に離型し、樹脂封止部が形成されたリードフレーム24
を回収する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記注
入ゲート27は、上型25または下型25aのパッティ
ング面に設けられ、リードフレーム24の外枠24aの
一面(図3の実施例では下面側)に重なるように位置す
ることになる。したがって、前記ゲート27上面が塞が
れた状態となる、この状態の前記ゲート27からキャビ
ティ21内に注入される樹脂は図中の矢印に示すように
流れてリードフレーム24に斜方向に衝突し渦巻きが発
生して空気(エァー)を包み込む現象が生じて気泡が発
生していた。その結果として、前記リードフレーム24
の一面側及びゲート27の位置する側の前記キャビティ
21の樹脂封止部24c中に気泡Qが残留することにな
る。この気泡Qが樹脂封止部24c中に残留すると該封
止部24cの耐湿性が低下して水分の侵入の要因となる
と共に、樹脂封止部24cの長期信頼性を低下させると
いう問題があった。
入ゲート27は、上型25または下型25aのパッティ
ング面に設けられ、リードフレーム24の外枠24aの
一面(図3の実施例では下面側)に重なるように位置す
ることになる。したがって、前記ゲート27上面が塞が
れた状態となる、この状態の前記ゲート27からキャビ
ティ21内に注入される樹脂は図中の矢印に示すように
流れてリードフレーム24に斜方向に衝突し渦巻きが発
生して空気(エァー)を包み込む現象が生じて気泡が発
生していた。その結果として、前記リードフレーム24
の一面側及びゲート27の位置する側の前記キャビティ
21の樹脂封止部24c中に気泡Qが残留することにな
る。この気泡Qが樹脂封止部24c中に残留すると該封
止部24cの耐湿性が低下して水分の侵入の要因となる
と共に、樹脂封止部24cの長期信頼性を低下させると
いう問題があった。
【0005】
【発明の目的】本発明は、上記の実情に鑑みてなされた
もので、前記ゲート27側の前記キャビティ21内に生
じる気泡Qの残留を防止し、耐湿性に優れた長期信頼性
の高い樹脂封止部24cを生産効率よく形成させること
にある。
もので、前記ゲート27側の前記キャビティ21内に生
じる気泡Qの残留を防止し、耐湿性に優れた長期信頼性
の高い樹脂封止部24cを生産効率よく形成させること
にある。
【0006】
【問題を解決するための手段】上記の目的に沿う請求項
1記載の樹脂封止用金型装置は、上型及び下型で半導体
素子を搭載したリードフレームを位置決め圧接挟持し、
前記上型及び下型で形成されたキャビティ内に、溶融樹
脂をランナー及び樹脂注入ゲートを経て注入充填し、前
記素子及びリードフレームの一端部を樹脂封止する樹脂
封止用金型装置において、少なくとも、前記上型または
下型に設けた前記樹脂注入ゲートの位置に対向した前記
下型または上型のパッティングエリア面に気泡排出用の
エァーベントを設けた構成としている。
1記載の樹脂封止用金型装置は、上型及び下型で半導体
素子を搭載したリードフレームを位置決め圧接挟持し、
前記上型及び下型で形成されたキャビティ内に、溶融樹
脂をランナー及び樹脂注入ゲートを経て注入充填し、前
記素子及びリードフレームの一端部を樹脂封止する樹脂
封止用金型装置において、少なくとも、前記上型または
下型に設けた前記樹脂注入ゲートの位置に対向した前記
下型または上型のパッティングエリア面に気泡排出用の
エァーベントを設けた構成としている。
【0007】
【作用】請求項1、2記載の樹脂封止用金型装置にあっ
ては、前記上型及び下型で形成されるキャビティ内のゲ
ート側の壁面に生じた気泡を排出するエァーベントをゲ
ートに対向する上型または下型のパッティングPL面に
設けた構成としているので、前記ゲート付近のキャビテ
ィ内に生じた気泡を前記エァーベントから速やかに排出
し気泡の残留を防ぐことができる。
ては、前記上型及び下型で形成されるキャビティ内のゲ
ート側の壁面に生じた気泡を排出するエァーベントをゲ
ートに対向する上型または下型のパッティングPL面に
設けた構成としているので、前記ゲート付近のキャビテ
ィ内に生じた気泡を前記エァーベントから速やかに排出
し気泡の残留を防ぐことができる。
【0008】さらに、前記キャビティ内に発生した気泡
を前記エァーベントから速やかに排出するように構成さ
れているので、従来の技術に比較して樹脂の注入速度を
速くすることができる。その結果として、樹脂封止の生
産効率が著しく向上すると共に、キャビテイ内の注入樹
脂の硬化速度を均一化することができる。
を前記エァーベントから速やかに排出するように構成さ
れているので、従来の技術に比較して樹脂の注入速度を
速くすることができる。その結果として、樹脂封止の生
産効率が著しく向上すると共に、キャビテイ内の注入樹
脂の硬化速度を均一化することができる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施の一例について添付図面
に基づき具体的に説明する、図1は本発明の実施例に係
る樹脂封止用金型装置の型締め状態を示す要部断面図、
図2は本発明の実施例に係る封止樹脂注入状態の概要を
示す要部断面図である。
に基づき具体的に説明する、図1は本発明の実施例に係
る樹脂封止用金型装置の型締め状態を示す要部断面図、
図2は本発明の実施例に係る封止樹脂注入状態の概要を
示す要部断面図である。
【0010】本発明の実施例の一例である樹脂封止用金
型装置は、図1、図2(従来例と同一構成要素は同一符
号を用いる)に示すように、複数の上型キャビティ21
aを埋設したチェイスブロック22を設け、半導体素子
23を搭載したリードフレーム24の外枠24aの上面
に圧接する上型25と、複数の上型キャビティ21bを
埋設したチェイスブロック22aと該ブロック面に溶融
樹脂を圧流するランナー26及びゲート27とを設けた
前記リードフレーム24の外枠24aの下面に圧接する
下型25aとを備えており、前記外枠24aの上面に圧
接する上型25のパッティングPL面には発生した気泡
Qを排出するエァーベント29を設けた図1にその主要
部分を示す樹脂封止用金型装置20の構成としている。
型装置は、図1、図2(従来例と同一構成要素は同一符
号を用いる)に示すように、複数の上型キャビティ21
aを埋設したチェイスブロック22を設け、半導体素子
23を搭載したリードフレーム24の外枠24aの上面
に圧接する上型25と、複数の上型キャビティ21bを
埋設したチェイスブロック22aと該ブロック面に溶融
樹脂を圧流するランナー26及びゲート27とを設けた
前記リードフレーム24の外枠24aの下面に圧接する
下型25aとを備えており、前記外枠24aの上面に圧
接する上型25のパッティングPL面には発生した気泡
Qを排出するエァーベント29を設けた図1にその主要
部分を示す樹脂封止用金型装置20の構成としている。
【0011】上記樹脂封止用金型装置を用いて、前記リ
ードフレーム24の樹脂封止を行う際には、前記上型2
5と下型25aとの間に、前記リードフレーム24を位
置決め圧接挟持し、前記上型25と下型25aで形成さ
れた前記キャビティ21内に、前記リードフレーム24
の外枠24aの下面に圧接した前記下型25aに設けた
前記ランナー26を経て前記ゲート27から溶融樹脂が
所定の圧力で流入し、前記キャビティ21内の空気を前
記ゲート27の反対側に設けた空気排出用エァーベント
28及び前記ゲート27側のキャビティ21付近に残留
した気泡Qを前記上型25に設けた気泡Qの排出用エァ
ーベント29から図示しないパッティング逃げ部に徐々
に排出しながら前記溶融樹脂が前記キャビテイ21内に
充填され、封止樹脂部24cを形成する。その後、注入
樹脂の硬化後に離型し、その一部が樹脂封止された前記
リードフレーム24を回収する。
ードフレーム24の樹脂封止を行う際には、前記上型2
5と下型25aとの間に、前記リードフレーム24を位
置決め圧接挟持し、前記上型25と下型25aで形成さ
れた前記キャビティ21内に、前記リードフレーム24
の外枠24aの下面に圧接した前記下型25aに設けた
前記ランナー26を経て前記ゲート27から溶融樹脂が
所定の圧力で流入し、前記キャビティ21内の空気を前
記ゲート27の反対側に設けた空気排出用エァーベント
28及び前記ゲート27側のキャビティ21付近に残留
した気泡Qを前記上型25に設けた気泡Qの排出用エァ
ーベント29から図示しないパッティング逃げ部に徐々
に排出しながら前記溶融樹脂が前記キャビテイ21内に
充填され、封止樹脂部24cを形成する。その後、注入
樹脂の硬化後に離型し、その一部が樹脂封止された前記
リードフレーム24を回収する。
【0012】上記実施例によれば、キャビティ21内の
空気及び気泡Qをエァーベント28、29から効率よく
完全に排出することができるから、樹脂封止部24cの
内部に気泡Qが残留することがなくなると共に、外面に
気泡Qの後が残ることがなくなり外観品質を向上させる
ことができる。
空気及び気泡Qをエァーベント28、29から効率よく
完全に排出することができるから、樹脂封止部24cの
内部に気泡Qが残留することがなくなると共に、外面に
気泡Qの後が残ることがなくなり外観品質を向上させる
ことができる。
【0013】さらに、従来技術では気泡Qの発生を防ぐ
ために樹脂充填速度を遅くしたのに比べて、実施例では
気泡Qを排出するエァーベント29を設けることによっ
て、樹脂充填速度を速くすることができる。ここで、前
記上型25に設けたエァーベントは、前記ゲート27の
位置に対向する実施例の位置に限るものでなく前記キャ
ビティ21の内容積によって前記上型25、下型25a
の一方またはその両方のパッティングPL面に複数設け
る構成とすればより効率よく気泡Qを排出することがで
きる。
ために樹脂充填速度を遅くしたのに比べて、実施例では
気泡Qを排出するエァーベント29を設けることによっ
て、樹脂充填速度を速くすることができる。ここで、前
記上型25に設けたエァーベントは、前記ゲート27の
位置に対向する実施例の位置に限るものでなく前記キャ
ビティ21の内容積によって前記上型25、下型25a
の一方またはその両方のパッティングPL面に複数設け
る構成とすればより効率よく気泡Qを排出することがで
きる。
【0014】
【発明の効果】上記記載の構成を有する本発明の樹脂封
止金型装置によれば、溶融樹脂注入の際に生じる気泡を
迅速に排除することができるので、樹脂封止部に気泡の
残留がなくなり耐湿性の優れた樹脂封止部を生産効率よ
く形成することができる。
止金型装置によれば、溶融樹脂注入の際に生じる気泡を
迅速に排除することができるので、樹脂封止部に気泡の
残留がなくなり耐湿性の優れた樹脂封止部を生産効率よ
く形成することができる。
【0015】さらに、充填速度が向上するので、キャビ
ティ内に充填された封止樹脂の硬化速度が均一となに樹
脂封止部の反り等の発生を防止することができる。
ティ内に充填された封止樹脂の硬化速度が均一となに樹
脂封止部の反り等の発生を防止することができる。
【図1】本発明の実施例に係る樹脂封止用金型装置の型
締め状態を示す要部断面図である。
締め状態を示す要部断面図である。
【図2】本発明の実施例に係る封止樹脂注入状態の概要
を示す要部断面図である。
を示す要部断面図である。
【図3】従来の実施例に係る樹脂封止用金型装置の型締
め状態を示す要部断面図である。
め状態を示す要部断面図である。
20 樹脂封止用金型装置 21 キャビティ 21a 上型キャビティ 21b 下型キャビティ 22 上型チェイスブロック 22a 下型チェイスブロック 23 半導体素子 24 リードフレーム 24a 外枠 24b 端子リード 24c ワイヤ 25 上型 25a 下型 26 樹脂圧流ランナー 27 樹脂注入ゲート 28 空気排出用エァーベント 29 気泡排出用エァーベント PL パッティング面 Q 気泡 S 溶融樹脂
Claims (1)
- 【請求項1】 上型及び下型で半導体素子を搭載したリ
ードフレームを位置決め圧接挟持し、前記上型及び下型
で形成されたキャビティ内に、溶融樹脂をランナー及び
樹脂注入ゲートを経て注入充填し、前記素子及びリード
フレームの一端部を樹脂封止する樹脂封止用金型装置に
おいて、少なくとも、前記上型または下型に設けた前記
樹脂注入ゲートの位置に対向した前記下型または上型の
パッティングエリア面に気泡排出用のエァーベントを設
けた構成としたことを特徴とする樹脂封止用金型装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1211794A JPH07201901A (ja) | 1994-01-06 | 1994-01-06 | 樹脂封止用金型装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1211794A JPH07201901A (ja) | 1994-01-06 | 1994-01-06 | 樹脂封止用金型装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07201901A true JPH07201901A (ja) | 1995-08-04 |
Family
ID=11796618
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1211794A Pending JPH07201901A (ja) | 1994-01-06 | 1994-01-06 | 樹脂封止用金型装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07201901A (ja) |
-
1994
- 1994-01-06 JP JP1211794A patent/JPH07201901A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100889422B1 (ko) | 반도체 장치의 제조 방법 및 반도체 장치 | |
| KR20070062413A (ko) | 반도체 장치 및 반도체 장치의 수지 밀봉용 금형 | |
| JPH01192154A (ja) | リードフレーム | |
| JP3727446B2 (ja) | 半導体装置の樹脂封止成形金型 | |
| JPH07183318A (ja) | 電子回路装置及びその製造方法 | |
| JP2973901B2 (ja) | 半導体樹脂封止用金型 | |
| JPH0745765A (ja) | 樹脂封止型半導体装置の樹脂封止法 | |
| JPH02154434A (ja) | 電子部品の樹脂封止成形方法 | |
| IE56790B1 (en) | Electronic device method using a leadframe with an integral mold vent means | |
| JP2857075B2 (ja) | 半導体パッケージの製造方法と、これに用いられるフィルムおよび金型 | |
| JPH04132234A (ja) | 樹脂封止型半導体集積回路の樹脂封止装置 | |
| JPH03153329A (ja) | 半導体装置用樹脂モールド金型装置 | |
| JP3207586B2 (ja) | 半導体装置及びこれを製造する樹脂モールド金型 | |
| JP4059764B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| KR100608356B1 (ko) | 반도체 칩 패키지 몰딩 방법 | |
| JPH10217275A (ja) | 半導体装置の樹脂封止方法 | |
| KR200148608Y1 (ko) | 반도체 패키지용 리드 프레임 및 패키지 성형용 금형 | |
| JP2757706B2 (ja) | 半導体装置用樹脂封入金型 | |
| JPH07308943A (ja) | モールド装置 | |
| JPS5839868Y2 (ja) | 樹脂封止金型 | |
| JPH0714965A (ja) | 半導体装置用リードフレーム | |
| JPH08148517A (ja) | 半導体装置 | |
| JP2895988B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| KR19980028434A (ko) | 반도체 패키지의 몰딩 금형 | |
| JPH0550456A (ja) | 薄型電子部品の樹脂封止方法 |