JPH07266059A - 溶接品質管理方法およびその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】 溶接電極の汚れおよび溶接品質を管理するこ
との出来る溶接品質管理方法およびその装置の提供。 【構成】 溶接電極の汚れ状態の許容範囲を示す第１の
しきい値と被溶接物の溶接品質の判定基準を示す第２の
しきい値を判定用の設定値としてＣＰＵ部に入力し、溶
接電極に印可される電圧と電流から抵抗値を算出し、こ
の値が汚れのしきい値内にある時は溶接を続行し、この
しきい値を越える時は溶接を中止し、溶接終了後、溶接
電極に、被溶接物を挾持した状態で微弱電流を流し、電
極間の抵抗値を算出し、この値が第２のしきい値内にあ
る時は溶接良好と判定し、しきい値を越える時は溶接不
良と判定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は，プリント基板の補
修，各種センサと極細線あるいはリボン材の接合等の溶
接をするとともに，溶接電極の汚れ状態および溶接箇所
の溶接品質をも管理することの出来る溶接品質管理方法
およびその装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】一般に，プリント基板の補修や各種セン
サと極細線あるいはリボン材を接合する場合の一つの方
法として抵抗溶接がある。この抵抗溶接は，被溶接物に
溶接電流を流し，その時発生するジュ−ル熱により，被
溶接物を溶融し接合する方法である。

【０００３】そして，抵抗溶接用の電源としては，各種
の方式があり，その内の一つに整流器の出力側に接続さ
れているコンデンサに蓄えられたエネルギ−を，トラン
ジスタで電流を制御して溶接するトランジスタ方式があ
る。

【０００４】これは，図４に示すように，商用交流電源
のＡＣ１００Ｖは，トランス１によりＡＣ２４Ｖに降圧
された後，整流器２でＤＣ２４Ｖに変換され，コンデン
サ３に充電される。このコンデンサ３に蓄えられたエネ
ルギ−は，パワ−トランジスタ４で電流が制御されて溶
接電極５に給電される。そこで，図５に示すように，こ
の溶接電極５が被溶接物に接触すると，被溶接物として
のプリント基板１０と補修用リボン１１に溶接電流が流
れ，ここにジュ−ル熱が発生して抵抗溶接される。

【０００５】一方，溶接電極５には，ピックアップ用の
ワイヤ（図示せず）が接続されており，これにより溶接
電極５の電圧Ｖが検出されて，この電圧Ｖは帰還増幅器
６で増幅された後，電圧制御部７に入力される。この電
圧制御部７では，電圧Ｖと溶接条件設定部８から入力さ
れた設定条件とが比較され，設定時間だけパワ−トラン
ジスタ４に電流が流れるように電圧帰還制御される。こ
のように，従来方法では，パワ−トランジスタ４からの
溶接電流とこの電流の流れる時間とが制御される電圧制
御方式が採用されている。

【０００６】

【発明が解決しようとする問題点】しかしながら，例え
ば，図５に示すように，プリント基板１０は合成樹脂で
形成されており，このプリント基板１０の上に形成され
ているプリント配線の断線箇所を補修用リボン１１で溶
接して補修する場合，溶接時には，プリント基板１０
は，溶接電極５により局部的には１０００°Ｃ程度迄加
熱される。そのため，この加熱された箇所のプリント基
板１０の合成樹脂が溶融するとともに，昇華して溶接電
極５の下面に付着し，絶縁物である合成樹脂の絶縁膜１
２が形成される。

【０００７】このように，溶接電極５が絶縁膜１２で覆
われたいわゆる汚れた状態になると，溶接電極５には溶
接電流が流れなくなる。従って，この場合，電圧制御方
式が採用されていると，溶接電極５に電圧が印加され検
出されても，実際には，被溶接物には溶接電流が流れて
おらず，実際には，溶接不良の状態が発生している。こ
のような場合，実際に溶接電流が被溶接物に流れたかど
うか判定できず，その上，溶接不良の状態も発見できな
いという問題があった。その上，溶接状態を判定する場
合には，目視で判断されており，不便であった。

【０００８】

【問題点を解決するための手段】この発明は，溶接電極
の汚れ状態の許容範囲を示す第１のしきい値と，被溶接
物の溶接品質の判定基準を示す第２のしきい値とを判定
用の設定値としてＣＰＵ部に入力し，溶接電極に印加さ
れる第１回目の電圧と電流とをそれぞれ検出し，この検
出された第１回目の電圧と電流とから第１の抵抗値を算
出し，この第１の抵抗値が，溶接電極の汚れ状態を示す
第１のしきい値以内であるときは溶接を続行し，この第
１のしきい値を越える時は溶接を中止し，被溶接物の溶
接終了後，溶接電極に被溶接物を挟んだ状態で微弱電流
を流し，この溶接電極に印加されている第２回目の電圧
と電流とを検出し，これら検出された第２回目の電圧と
電流とから第２の抵抗値を算出し，この第２の抵抗値が
被溶接物の溶接状態を示す判定基準である第２のしきい
値以内の時は溶接良好と判定し，この第２のしきい値を
越える時は溶接不良と判定するようにしたものである。

【０００９】又，この発明は，溶接電極に流れる溶接電
流の一部を検出する電流検出器と，溶接電極に印加され
る電圧を検出する電圧検出部と，この電圧検出部からの
電圧と電流検出器からの電流とをそれぞれ増幅する増幅
部と，ＣＰＵ部に，溶接電極の汚れ状態の許容範囲を示
す第１のしきい値と被溶接物の溶接品質の判定基準を示
す第２のしきい値とを判定用の設定値として設定入力す
るとともに，増幅部からこのＣＰＵ部に入力した第１回
目の電圧，電流の値から第１の抵抗値を算出し，この第
１の抵抗値と前記第１のしきい値とを比較して溶接電極
の汚れ状態を判定し，溶接終了後に増幅部から入力した
第２回目の電圧，電流の値から第２の抵抗値を算出し，
この第２の抵抗値と前記第２のしきい値とを比較して被
溶接物の溶接品質を判定する判定部と，この判定部から
の判定結果を表示する表示部とを備えたのもである。

【００１０】

【作用】コンデンサ３に蓄えられたエネルギ−は，パワ
−トランジスタ４で電流が制御されて溶接電極５に溶接
電圧，溶接電流が印加され，被溶接物は抵抗溶接され
る。溶接電流の一部は電流検出器２０により検出され，
溶接電圧は溶接電極５で検出される。

【００１１】この検出された帰還用の電圧と電流の値
は，いずれもＡ／Ｄ変換されてＣＰＵ部２２Ｄに入力さ
れ，この帰還値とＣＰＵ部２２Ｄで設定されている帰還
制御用の設定値とが比較制御され，その結果がＤ／Ａ変
換されてパワ−トランジスタ４に帰還される。従って，
このパワ−トランジスタ４はそれぞれ電圧制御モ−ドあ
るいは電流制御モ−ド更には電力制御モ−ドで制御され
る。

【００１２】一方，第１回目に検出された電圧，電流と
は，ＣＰＵ部２２Ｄに入力され，これらの値から第１の
抵抗値Ｒ₁ が算出される。この算出された抵抗値Ｒ₁ と
第１のしきい値とが比較され，第１のしきい値の範囲内
の場合には，溶接電極５の汚れはなしとして溶接続行と
判定される。しきい値を越える場合には，溶接中止と判
定される。

【００１３】被溶接物への溶接終了後，再度，溶接電極
５に被溶接物を挟んだ状態で微弱電流を流し，上記と同
様にして，第２回目の帰還用の電流Ｉ，電圧Ｖが再度検
出され，この検出された電流Ｉ，電圧ＶはＣＰＵ部２２
Ｄへ入力される。これらの値から第２の抵抗値Ｒ₂ が算
出され，第２のしきい値と比較される。

【００１４】第２の抵抗値Ｒ₂ が第２のしきい値の範囲
内の場合には，被溶接物の溶接品質は良好と判定され，
第２のしきい値を越える場合には，溶接品質は不良と判
定される。

【００１５】

【発明の実施例】この発明の実施例を，図１〜図３に基
づいて詳細に説明する。図１はこの発明の実施例を示す
要部構成図，図２は図１の詳細な構成図，図３はこの発
明の実施例を示すフロ−チャ−ト図である。なお，従来
例と同一のものは，同一名称を使用するとともに，同一
符号を付しその説明を省略する。

【００１６】図１〜図２において，１はトランス，２は
整流器で，３はコンデンサ，４はパワ−トランジスタ
で，この実施例の場合には，パワ−ＭＯＳＦＥＴが使用
されており，このパワ−ＭＯＳＦＥＴを１０個並列に接
続して使用されており，１８００Ａ迄出力可能となって
いる。５は溶接電極である。９は充電制御部で，整流器
２の出力をＤＣ２４Ｖに維持するために，整流器２のサ
イリスタの位相制御している。

【００１７】２０は電流検出器で，この実施例の場合に
は，ホ−ル電流検出器が用いられており，パワ−トラン
ジスタ４の出力側に接続されている。この電流検出器２
０は，溶接電極５に供給される溶接電流の一部を検出す
るためのもので，この検出された電流は増幅部２１の互
いに並列に接続されている３個の電流帰還用増幅器２１
Ｉ_A ，２１Ｉ_B ，２１Ｉ_C に帰還用信号を得るために印
加される。その内，電流帰還用増幅器２１Ｉ_C に帰還さ
れた電流は，そのままアナログ出力端１９に出力され，
電流の溶接波形が観察される。

【００１８】なお，アナログ出力端１９では，後述する
ように，その他の溶接波形の電圧もストレ−ジスコ−プ
（図示せず）等で波形観測することが出来るように構成
されている。

【００１９】ここで，ホ−ル電流検出器は，電流に比例
して発生する磁束を磁気鉄心と磁気センサ（ホ−ル素
子）の組み合わせにより非接触で電流測定することので
きる装置である。なお，上記実施例に限定されることな
く，その他の方法で帰還用の電流を検出してもよい。

【００２０】増幅部２１は，この実施例の場合には，電
流帰還用増幅器２１Ｉ_A 〜２１Ｉ_C，電圧帰還用増幅器
２１Ｖ_A 〜２１Ｖ_C ，電力帰還用増幅器２１Ｗ_A 〜２１
Ｗ_Cおよび乗算器２１Ｍとにより構成されており，電流
検出器２０から帰還される電流Ｉと溶接電極５に接続さ
れている検出用のワイヤにより溶接電圧の一部を検出す
る電圧検出部（図示せず）で検出されて入力側に帰還さ
れる電圧Ｖとが入力される。

【００２１】ここで，実施例では，増幅部２１には乗算
器２１Ｍが具備されており，検出された電圧，電流がこ
の乗算器２１Ｍで乗算されて電力が算出され，この電力
による電力制御も出来るように構成されている。即ち，
電力帰還用増幅器２１Ｗ_A 〜２１Ｗ_C および乗算器２１
Ｍとは，電力制御する場合に必要で，この電力制御する
場合には，検出された電流と電圧とは乗算器２１Ｍで乗
算されて電力が算出される。この算出された電力が電
圧，電流制御する場合と同様に，電力帰還用増幅器２１
Ｗ_A 〜２１Ｗ_C ，Ａ／Ｄ変換器２２Ｃ，ＣＰＵ部２２
Ｄ，Ｄ／Ａ変換器２２Ｂ，差動増幅器２２Ａからパワ−
トランジスタ４に帰還して，このパワ−トランジスタ４
を帰還制御するように構成されている。

【００２２】ここで，この実施例における抵抗溶接電源
は，トランス１，整流器２，コンデンサ３，パワ−トラ
ンジスタ４，充電制御部９，増幅部２１，制御部２２，
溶接条件設定部２３とにより構成されており，電圧制御
と電流制御と電力制御の３つの制御モ−ドを備えてい
る。従って，以下，電力制御をも含めた説明がなされて
いるが，この発明では，制御モ−ドについては限定して
おらず，少なくとも，抵抗値を算出するための電圧と電
流とを検出することが必要である。

【００２３】２２は制御部で，差動増幅器２２ＡとＤ／
Ａ変換器２２Ｂ，Ａ／Ｄ変換器２２ＣおよびＣＰＵ部２
２Ｄとにより構成されており，増幅部２１からの電圧
Ｖ，電流Ｉ，電力Ｗの帰還値は，Ａ／Ｄ変換器２２Ｃで
デジタル信号に変換された後，ＣＰＵ部２２Ｄに入力さ
れる。この帰還用の電圧Ｖ，電流Ｉ，電力Ｗの各帰還値
は，溶接条件設定部２３でそれぞれ設定された帰還制御
用の電圧，電流，電力の各設定値とＣＰＵ部２２Ｄで比
較され，設定値と帰還値とがいずれも同一の値となるよ
うに制御され，この値はＤ／Ａ変換器２２Ｂでアナログ
信号に変換されて，差動増幅器２２Ａで比較増幅され
て，パワ−トランジスタ４へゲ−ト信号として送出され
る。

【００２４】なお，溶接条件設定部２３は，最適な溶接
条件を示す帰還制御用の電圧，電流，電力の設定値を初
期設定するとともに，溶接電極５の汚れ状態の許容範囲
を示す第１のしきい値と被溶接物の溶接品質の判定基準
を示す第２のしきい値とを判定の基準となる設定値とし
て設定するもので，キ−スイッチ２３Ａによりそれぞれ
帰還制御用の電圧，電流，電力の各設定値と判定用の設
定値とが入力される。そして，それぞれ帰還制御用の設
定値に対応する電圧制御，電流制御，電力制御のいずれ
かの制御モ−ドが設定される。

【００２５】２４は判定部で，溶接電極５の汚れ状態を
判定して溶接続行，中止を判定するとともに，被溶接物
の溶接品質の良否を判定するもので，増幅部２１から入
力した第１回目の電圧Ｖ，電流Ｉ，電力Ｗは，それぞれ
Ａ／Ｄ変換器２２Ｃでデジタル信号に変換され，ＣＰＵ
部２２Ｄに入力され，これら電流Ｉ，電圧Ｖから第１の
抵抗値Ｒ₁ が算出される。

【００２６】この抵抗値Ｒ₁ は，判定の基準として設定
されている設定値（抵抗値）と比較されて溶接電極５の
汚れ状態が判定される。なお，この第１の抵抗値Ｒ₁ は
溶接電極５の抵抗値に対応しており，その箇所の状態を
表している。又，ＣＰＵ部２２Ｄに入力された電力は，
電力帰還制御用の電力としてパワ−トランジスタ４に帰
還される。

【００２７】同様に，溶接終了後に，増幅部２１から入
力した第２回目の電圧Ｖ，電流Ｉ，電力Ｗは，それぞれ
Ａ／Ｄ変換器２２Ｃでデジタル信号に変換され，ＣＰＵ
部２２Ｄに入力され，電流Ｉ，電圧Ｖから第２の抵抗値
Ｒ₂ が算出される。この抵抗値Ｒ₂ は，溶接品質の判定
の基準として設定されている設定値（抵抗値）と比較さ
れて良否が判定される。

【００２８】判定の基準となる抵抗値Ｒ₁ ，Ｒ₂ で表さ
れている設定値は，しきい値設定部２５に入力される。
実際には，これらの値はキ−スイッチ２３Ａから上限下
限が設定されて判定用の設定値としてＣＰＵ部２２Ｄに
入力される。

【００２９】２６は表示部で，ＬＣＤ２６ＡとＬＥＤブ
ザ−２６Ｂとにより構成されており，判定部２４の判定
結果が表示されるとともに，装置本体の非常事態，例え
ばトランス１の異常加熱，パワ−トランジスタ４の短絡
破壊，又，溶接動作自体の異常，例えば，過電流等の場
合にエラ−メッセ−ジが表示される。

【００３０】２７はＩ／Ｏ入出力端で，Ｉ／Ｏインタフ
ェ−スコネクタより溶接条件を外部から切り換えたり，
各種のタイミング信号が出力される。２８は通信回線端
で，外部機器（パソコン等）から溶接条件の入力，外部
機器への出力値の表示，判定部２４からの判定結果が出
力できるように構成されている。

【００３１】次に，作用動作について説明する。商用交
流電源（図示せず）からのＡＣ１００Ｖの電圧は，トラ
ンス１でＡＣ２４Ｖに降圧された後，整流器２でＤＣ２
４Ｖに変換され，コンデンサ３に充電される。この充電
電圧を２４Ｖに一定に維持するために，整流器２のサイ
リスタの位相制御が行われている。

【００３２】コンデンサ３に蓄えられたエネルギ−は，
パワ−トランジスタ４で電流が制御されて溶接電極５に
溶接電流が給電される。この溶接電極５が被溶接物に接
触すると，被溶接材料としてのプリント基板１０と補修
用リボン１１に溶接電流が流れ，ここにジュ−ル熱が発
生して抵抗溶接される。

【００３３】この溶接電流の一部は，電流検出器２０に
より検出され，この電流は帰還電流として電流帰還用増
幅器２１Ｉ_A 〜２１Ｉ_C へ帰還され，電流帰還用増幅器
２１Ｉ_C からは，アナログ出力端１９に出力され，溶接
電流波形が観察される。その他の電流帰還用増幅器２１
Ｉ_A の出力はサ−ボ端１８を介して差動増幅器２２Ａ
へ，電流帰還用増幅器２１Ｉ_B の出力は，ホ−ルド端１
８を介してＡ／Ｄ変換器２２Ｃへ入力され，デジタル信
号に変換されてＣＰＵ部２２Ｄに入力される。

【００３４】一方，溶接電極５では，ピックアップ用の
ワイヤ（図示せず）により，この溶接電極５に印加され
ている溶接電圧の一部が検出されて，この電圧は帰還電
圧として電圧帰還用増幅器２１Ｖ_A 〜２１Ｖ_C に帰還さ
れる。電圧帰還用増幅器２１Ｖ_C からは，アナログ出力
端１９に出力され，溶接電圧波形が観察される。その他
の電圧帰還用増幅器２１Ｖ_A の出力は，サ−ボ端１８を
介して制御部２２の差動増幅器２２Ａへ，電圧帰還用増
幅器２１Ｖ_B の出力は，ホ−ルド端１８を介して同様に
制御部２２のＡ／Ｄ変換器２２Ｃへ入力され，デジタル
信号に変換されてＣＰＵ部２２Ｄに入力される。

【００３５】一方，電流検出器２０で検出された溶接電
流の一部の電流Ｉと溶接電極５に印加されている溶接電
圧として検出された電圧Ｖは，乗算器２１Ｍに入力さ
れ，この帰還用の電圧Ｖと電流Ｉとの積である電力Ｗが
算出される。この帰還用の電力Ｗは電力帰還用増幅器２
１Ｗ_A 〜２１Ｗ_C に入力され，電力帰還用増幅器２１Ｗ
_C からは，アナログ出力端１９に出力され，溶接電力波
形が観察される。その他の電力帰還用増幅器２１Ｗ_A の
出力は，サ−ボ端１８を介して制御部２２の差動増幅器
２２Ａへ，電力帰還用増幅器２１Ｗ_B の出力は，ホ−ル
ド端１８を介して同様に制御部２２のＡ／Ｄ変換器２２
Ｃへ入力され，デジタル信号に変換されてＣＰＵ部２２
Ｄに入力される。

【００３６】ここで，ＣＰＵ部２２Ｄには，キ−スイッ
チ２３Ａにより最適な溶接条件を示す電圧，電流，電力
の値が初期設定されて，帰還制御用の設定値が入力され
ており，ＣＰＵ部２２Ｄに入力された帰還用の電流Ｉ，
電圧Ｖ，電力Ｗの値とそれぞれ設定値とが差動増幅器２
２Ａで比較され増幅されて，設定値と帰還用の電流Ｉ，
電圧Ｖ，電力Ｗの値とがそれぞれ同じ値となるように，
パワ−トランジスタ４へゲ−ト信号が送出され，それぞ
れ選択された電圧制御，電流制御，電力制御のいずれか
の制御モ−ドで溶接状態が制御される。なお，いずれの
制御モ−ドを選択するかは，被溶接物の材質や用途等に
より選択される。

【００３７】次に，図１，図２および図３を参照しつつ
溶接品質の管理方法について説明する。ここで，ＣＰＵ
部２２Ｄには，キ−スイッチ２３Ａから上限下限の設定
値として溶接電極５の汚れ状態の許容範囲を示す第１の
しきい値と溶接箇所の溶接品質の判定基準として良品の
範囲を示す第２のしきい値とが設定されて入力される
（ステップ５０）。

【００３８】次いで，テ−ブル（図示せず）上に被溶接
物（図示せず）が載置され，この被溶接物に溶接電極５
を軽くのせた状態で，被溶接物に損傷を与えない程度に
予備的に最初の電圧が短時間与えられる（ステップ５
１）。この時，上記のようにして検出された電圧Ｖ，電
流Ｉおよびこれらの値から算出された電力Ｗ（ステップ
５２）が上記のようにしてＣＰＵ部２２Ｄに入力され
る。

【００３９】ＣＰＵ部２２Ｄに入力された電力Ｗ，電流
Ｉ，電圧Ｖの内，電流Ｉと電圧Ｖとから第１の抵抗値Ｒ
₁ が算出される（ステップ５３）。そこで，この算出さ
れた第１の抵抗値Ｒ₁ と第１のしきい値とが比較され，
溶接電極５の汚れ状態を見る第１回目の判定が行われる
（ステップ５４）。即ち，第１のしきい値の範囲内の場
合には，溶接電極５の汚れはなしとして溶接続行と判断
され，通電され溶接が実行される（ステップ５６）。

【００４０】しきい値を越える場合には，即ち，算出さ
れた抵抗値Ｒが設定値より大の場合であるから，溶接電
極５の先端面は，合成樹脂の絶縁膜１２（図５）で覆わ
れていることになり，溶接電極５が汚染されているとし
て溶接中止と判定され，溶接は中止されるとともに（ス
テップ５５），表示部２６のＬＣＤ２６Ａ画面にメッセ
−ジが表示され，ＬＥＤブザ−２６Ｂで警報が発せられ
る。従って，この場合には，溶接電極５の交換あるいは
洗浄がおこなわれる。なお，ＣＰＵ部２２Ｄに入力した
電力Ｗは，パワ−トランジスタ４の電力制御用として用
いられる。

【００４１】被溶接物の溶接終了後，溶接電極５に被溶
接物を挟んだ状態で微弱電流を流し，上記と同様にし
て，第２回目の電流Ｉ，電圧Ｖが再度検出される（ステ
ップ５７）。この検出された第２回目の電流Ｉ，電圧Ｖ
の値から電力Ｗが算出されるとともに（ステップ５
８），それぞれ電流帰還用増幅器２１Ｉ_B ，電圧帰還用
増幅器２１Ｖ_B ，電力帰還用増幅器２１Ｗ_B で増幅され
た後，ホ−ルド端１８を介して同様に制御部２２のＡ／
Ｄ変換器２２Ｃへ入力され，デジタル信号に変換されて
ＣＰＵ部２２Ｄに入力される。

【００４２】次いで，被溶接物の溶接品質の良否を見る
第２回目の判定がなされる。即ち，ＣＰＵ部２２Ｄに入
力された電流Ｉ，電圧Ｖの値から第２の抵抗値Ｒ₂ が算
出され（ステップ５９），この抵抗値Ｒ₂ と第２のしき
い値とが比較される（ステップ６０）。

【００４３】その結果，抵抗値Ｒ₂ が第２のしきい値の
範囲内の場合には，被溶接物の溶接品質は良好と判定さ
れる（ステップ６２）。抵抗値Ｒ₂ が第２のしきい値を
越える場合には，即ち，算出された抵抗値Ｒ₂ が大の場
合であるから，被溶接物の溶接品質は不良と判定され
（ステップ６１），被溶接物は不良品と判定される。こ
の結果は，表示部２６のＬＣＤ２６Ａ画面にメッセ−ジ
が表示されるとともに，ＬＥＤブザ−２６Ｂで警報が発
せられる。

【００４４】このようにして，被溶接物の溶接が終了す
ると，次の被溶接物がテ−ブル上に載置されている場合
には，溶接続行として同様な手順で溶接が開始される
（ステップ６３）。このようにして，すべての被溶接物
の溶接が終了する（ステップ６４）。

【００４５】このように溶接中の電流Ｉ，電圧Ｖ，電力
Ｗを定期的にサンプリングし，溶接終了後，各々平均値
が算出され，その結果がＬＣＤ２６Ａ画面に表示され
る。なお，Ｉ／Ｏ入出力端２７からも溶接品質の良品，
不良品の信号が出力される。

【００４６】なお，この実施例の装置では，電圧制御，
電流制御，電力制御の３つの制御モードを備えており，
必要に応じていずれかを選択できるように構成されてい
る。従って，被溶接物の材質や用途により制御モードが
選択可能である。

【００４６】

【発明の効果】この発明は，溶接電極の汚れ状態の許容
範囲を示す第１のしきい値と，被溶接物の溶接品質の判
定基準を示す第２のしきい値とを判定用の設定値として
ＣＰＵ部に入力し，溶接電極に印加される第１回目の電
圧と電流とをそれぞれ検出し，この検出された第１回目
の電圧と電流とから第１の抵抗値を算出し，この第１の
抵抗値が，溶接電極の汚れ状態を示す第１のしきい値以
内であるときは溶接を続行し，この第１のしきい値を越
える時は溶接を中止し，被溶接物の溶接終了後，溶接電
極に被溶接物を挟んだ状態で微弱電流を流し，この溶接
電極に印加されている第２回目の電圧と電流とを検出
し，これら検出された第２回目の電圧と電流とから第２
の抵抗値を算出し，この第２の抵抗値が被溶接物の溶接
状態を示す判定基準である第２のしきい値以内の時は溶
接良好と判定し，この第２のしきい値を越える時は溶接
不良と判定するようにしたので，一連の溶接工程におい
て，溶接電極の汚れ状態の判定結果により，溶接電極を
常に最良の状態に維持することが出来るとともに，溶接
品質をも同時に判定することが出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施例を示す構成図である。

【図２】この発明の実施例を示すもので，図１の詳細構
成図である。

【図３】この発明の実施例を示すフロ−チャ−ト図であ
る。

【図４】従来例を示す構成図である。

【図５】従来例を示す説明図である。

【符号の説明】

４ パワ−トランジスタ ５ 溶接電極 ２０ 電流検出器 ２１ 増幅部 ２２ 制御部 ２２Ｄ ＣＰＵ部 ２３ 溶接条件設定部 ２４ 判定部 ２５ しきい値設定部 ２６ 表示部

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 抵抗溶接電源を備えた溶接品質管理方法
   において，溶接電極の汚れ状態の許容範囲を示す第１の
   しきい値と，被溶接物の溶接品質の判定基準を示す第２
   のしきい値とを判定用の設定値としてＣＰＵ部に入力
   し，前記溶接電極に印加される第１回目の電圧と電流と
   をそれぞれ検出し，この検出された第１回目の電圧と電
   流とから第１の抵抗値を算出し，この第１の抵抗値が，
   前記溶接電極の汚れ状態を示す第１のしきい値以内であ
   るときは溶接を続行し，この第１のしきい値を越える時
   は溶接を中止し，前記被溶接物の溶接終了後，前記溶接
   電極に前記被溶接物を挟んだ状態で微弱電流を流し，こ
   の溶接電極に印加されている第２回目の電圧と電流とを
   検出し，これら検出された第２回目の電圧と電流とから
   第２の抵抗値を算出し，この第２の抵抗値が，前記被溶
   接物の溶接状態を示す判定基準である第２のしきい値以
   内の時は溶接良好と判定し，この第２のしきい値を越え
   る時は溶接不良と判定することを特徴とする溶接品質管
   理方法。
2. 【請求項２】 抵抗溶接電源を備えた溶接品質管理装置
   において，溶接電極に流れる溶接電流の一部を検出する
   電流検出器と，前記溶接電極に印加される電圧を検出す
   る電圧検出部と，この電圧検出部からの電圧と前記電流
   検出器からの電流とをそれぞれ増幅する増幅部と，前記
   ＣＰＵ部に，前記溶接電極の汚れ状態の許容範囲を示す
   第１のしきい値と被溶接物の溶接品質の判定基準を示す
   第２のしきい値とを判定用の設定値として設定入力する
   とともに，前記増幅部からこのＣＰＵ部に入力した第１
   回目の電圧，電流の値から第１の抵抗値を算出し，この
   第１の抵抗値と前記第１のしきい値とを比較して前記溶
   接電極の汚れ状態を判定し，溶接終了後に前記増幅部か
   ら入力した第２回目の電圧，電流の値から第２の抵抗値
   を算出し，この第２の抵抗値と前記第２のしきい値とを
   比較して前記被溶接物の溶接品質を判定する判定部と，
   この判定部からの判定結果を表示する表示部とを備えた
   溶接品質管理装置。