JPH0726714Y2 - Icソケット - Google Patents
IcソケットInfo
- Publication number
- JPH0726714Y2 JPH0726714Y2 JP1988106118U JP10611888U JPH0726714Y2 JP H0726714 Y2 JPH0726714 Y2 JP H0726714Y2 JP 1988106118 U JP1988106118 U JP 1988106118U JP 10611888 U JP10611888 U JP 10611888U JP H0726714 Y2 JPH0726714 Y2 JP H0726714Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- socket
- probe
- lead terminal
- devices
- spring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は、ICソケットに関する。
この考案は、表面実装ICデバイスのICソケットにおい
て、ICデバイスの位置決めガイドを設けることにより、
ICデバイスの端子とICソケットの測子を固定し、しかも
同時に複数個をワンタッチに固定できるようにしたもの
である。
て、ICデバイスの位置決めガイドを設けることにより、
ICデバイスの端子とICソケットの測子を固定し、しかも
同時に複数個をワンタッチに固定できるようにしたもの
である。
従来、1個だけをワンタッチに固定できるソケットが知
られていた。
られていた。
しかし、従来の技術ではICデバイスを1個しかICソケッ
トに固定できないので、バーンイン試験等のようにバッ
チ処理を必要とする工程においては、著しく処理個数が
少なくなるという欠点があった。この考案は、従来のこ
のような欠点を解決するためにICソケットに位置決めガ
イドを設け、ICデバイスをICソケットに複数個同時に固
定し、処理個数を増やすとともに、試験時の加圧による
ICデバイスのリード端子の変形を防ぐことを目的として
いる。
トに固定できないので、バーンイン試験等のようにバッ
チ処理を必要とする工程においては、著しく処理個数が
少なくなるという欠点があった。この考案は、従来のこ
のような欠点を解決するためにICソケットに位置決めガ
イドを設け、ICデバイスをICソケットに複数個同時に固
定し、処理個数を増やすとともに、試験時の加圧による
ICデバイスのリード端子の変形を防ぐことを目的として
いる。
上記課題を解決するために、この考案はICソケットにIC
デバイスを複数個、固定できるように位置決めガイドを
設けるようにした。
デバイスを複数個、固定できるように位置決めガイドを
設けるようにした。
ICソケットにおいて、ICデバイスを一列に並べ各ICデバ
イスの四隅のリード外形で位置出しできるように、ICデ
バイスをのせるプレートに位置決めガイドを設け、この
プレートごと一度に測子と固定することにより、同時に
複数個のICデバイスをワンタッチに固定することができ
る。
イスの四隅のリード外形で位置出しできるように、ICデ
バイスをのせるプレートに位置決めガイドを設け、この
プレートごと一度に測子と固定することにより、同時に
複数個のICデバイスをワンタッチに固定することができ
る。
以下にこの考案の実施例を図面にもとづいて詳細に説明
する。第1図はこの考案のICソケットの平面の図、第2
図は第1図のA−A′線に沿った断面図である。第1図
と第2図において例えばICデバイスを同時に4個のせる
ことができるSPソケットの場合、ソケット台8にバ
ネ3の弾力を通してICデバイス固定枠7が上下に動作で
きる構造をもち、この上下動作により、測子4がICデバ
イス6のリード端子5とコンタクトしたりはずしたりす
る。つまり、ICデバイス固定枠7を下へ押しつけた時
に、測子4が広がり、ICデバイス6をプレート2上にあ
る位置決めガイド1によって、適切な位置にガイドされ
プレート2上にセットされる。その後、ICデバイス固定
枠7を押す力をゆるめ、元の位置にバネ3のバネ圧で戻
ると、バネ3に固定されたプレート2の端部2aと測子4
の接触端部4aに挟まれて、リード端子5は、ICデバイス
本体とリード端子5のつけ根部分に何ら力が加わること
なく、測子4とコンタクトする。ICデバイス6をソケッ
トより取り出すには、ICデバイス固定枠7を押さえつ
け、測子4がリード端子5からはずれたら、エアーピン
セット等でICデバイス6を抜去するか、又は、ソケット
を反対にうつむきにしてソケット台8を押しつけてやれ
ば、ICデバイス6は、自由落下により抜去される。
する。第1図はこの考案のICソケットの平面の図、第2
図は第1図のA−A′線に沿った断面図である。第1図
と第2図において例えばICデバイスを同時に4個のせる
ことができるSPソケットの場合、ソケット台8にバ
ネ3の弾力を通してICデバイス固定枠7が上下に動作で
きる構造をもち、この上下動作により、測子4がICデバ
イス6のリード端子5とコンタクトしたりはずしたりす
る。つまり、ICデバイス固定枠7を下へ押しつけた時
に、測子4が広がり、ICデバイス6をプレート2上にあ
る位置決めガイド1によって、適切な位置にガイドされ
プレート2上にセットされる。その後、ICデバイス固定
枠7を押す力をゆるめ、元の位置にバネ3のバネ圧で戻
ると、バネ3に固定されたプレート2の端部2aと測子4
の接触端部4aに挟まれて、リード端子5は、ICデバイス
本体とリード端子5のつけ根部分に何ら力が加わること
なく、測子4とコンタクトする。ICデバイス6をソケッ
トより取り出すには、ICデバイス固定枠7を押さえつ
け、測子4がリード端子5からはずれたら、エアーピン
セット等でICデバイス6を抜去するか、又は、ソケット
を反対にうつむきにしてソケット台8を押しつけてやれ
ば、ICデバイス6は、自由落下により抜去される。
この様に、ICデバイス固定枠7を押す操作だけで、同時
に複数個のICデバイスをソケットに固定することがで
き、面積当りの処理個数を、大幅に増やし、さらに、試
験時の加圧によるICデバイスのリード端子の変形を防ぐ
ことができコストを低減させることができる。
に複数個のICデバイスをソケットに固定することがで
き、面積当りの処理個数を、大幅に増やし、さらに、試
験時の加圧によるICデバイスのリード端子の変形を防ぐ
ことができコストを低減させることができる。
第1図は、この考案のICソケットの平面図、第2図は、
第1図のA−A′線に沿った断面図である。 1……位置決めガイド 2……プレート 3……バネ 4……測子 5……リード端子 6……ICデバイス 7……ICデバイス固定枠 8……ソケット台
第1図のA−A′線に沿った断面図である。 1……位置決めガイド 2……プレート 3……バネ 4……測子 5……リード端子 6……ICデバイス 7……ICデバイス固定枠 8……ソケット台
Claims (1)
- 【請求項1】表面実装タイプにパッケージされたICデバ
イスのリード端子と弾性をもって接触するICソケットの
測子と、ICデバイスの脱着時に前記測子を変形させるIC
デバイス固定枠と、ICデバイスを押し上げるバネとを有
し、同時に複数個のICデバイスを載置して試験するICソ
ケットにおいて、 ICデバイスを押し上げるバネに固定されたプレートに、 リード端子を前記測子の接触端部とで挟むようにした端
部と、 複数のICデバイスの本体とリード端子の形状に合わせ
て、それぞれのICデバイスが前記プレートと隙間がない
ように設けた突起を形成し、 リード端子を前記測子の接触端部と前記端部の間で加圧
することを特徴とするICソケット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988106118U JPH0726714Y2 (ja) | 1988-08-11 | 1988-08-11 | Icソケット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988106118U JPH0726714Y2 (ja) | 1988-08-11 | 1988-08-11 | Icソケット |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0227578U JPH0227578U (ja) | 1990-02-22 |
| JPH0726714Y2 true JPH0726714Y2 (ja) | 1995-06-14 |
Family
ID=31339344
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1988106118U Expired - Lifetime JPH0726714Y2 (ja) | 1988-08-11 | 1988-08-11 | Icソケット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0726714Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2716663B2 (ja) * | 1993-09-21 | 1998-02-18 | マイクロン・テクノロジー・インコーポレイテッド | 半導体ダイの試験装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5961051A (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-07 | Fujitsu Ltd | Icソケツト |
| JPS62160676A (ja) * | 1985-12-31 | 1987-07-16 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | ソケツト |
-
1988
- 1988-08-11 JP JP1988106118U patent/JPH0726714Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0227578U (ja) | 1990-02-22 |
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