JPH07210636A - カード用曲げ試験装置 - Google Patents
カード用曲げ試験装置Info
- Publication number
- JPH07210636A JPH07210636A JP6001373A JP137394A JPH07210636A JP H07210636 A JPH07210636 A JP H07210636A JP 6001373 A JP6001373 A JP 6001373A JP 137394 A JP137394 A JP 137394A JP H07210636 A JPH07210636 A JP H07210636A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- card
- bending test
- back surfaces
- cards
- vertical direction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 薄板状のＩＣメモリカード等の曲げ試験装置
に関し、曲げ試験に際してカードの測定位置がずれるこ
となく、かつカードの所定位置において、カード表裏面
の垂直方向に対し、表裏両方向から荷重を付加して、曲
げ試験を行うことができるカード用曲げ試験装置を提供
する。 【構成】 カードの両端部を一対の把持具により把持
し、カードの表裏面を挟持する押圧具をカード表裏面に
対して平行方向に移動自在とすると共に、カードの所定
位置においてカード表裏面に対して垂直方向に移動自在
としたカード用曲げ試験装置。 【効果】 曲げ試験に際してカードの測定位置がずれる
ことなく、かつカードの所定位置においてカード表裏面
の垂直方向に対し、カードの表裏両方向から荷重を付加
して、曲げ試験を簡便に行うことができる。
に関し、曲げ試験に際してカードの測定位置がずれるこ
となく、かつカードの所定位置において、カード表裏面
の垂直方向に対し、表裏両方向から荷重を付加して、曲
げ試験を行うことができるカード用曲げ試験装置を提供
する。 【構成】 カードの両端部を一対の把持具により把持
し、カードの表裏面を挟持する押圧具をカード表裏面に
対して平行方向に移動自在とすると共に、カードの所定
位置においてカード表裏面に対して垂直方向に移動自在
としたカード用曲げ試験装置。 【効果】 曲げ試験に際してカードの測定位置がずれる
ことなく、かつカードの所定位置においてカード表裏面
の垂直方向に対し、カードの表裏両方向から荷重を付加
して、曲げ試験を簡便に行うことができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、薄板状のＩＣメモリカ
ード等の曲げ試験装置に関し、とくに曲げ試験に際し
て、カードの測定位置がずれることなく、かつカードの
所定位置においてカード表裏面の垂直方向に対し、表裏
両方向から荷重を付加して、曲げ試験を行うことができ
るカード用曲げ試験装置に関する。
ード等の曲げ試験装置に関し、とくに曲げ試験に際し
て、カードの測定位置がずれることなく、かつカードの
所定位置においてカード表裏面の垂直方向に対し、表裏
両方向から荷重を付加して、曲げ試験を行うことができ
るカード用曲げ試験装置に関する。
【０００２】
【従来技術とその課題】従来、図５に斜視図で示すよう
に、この種カード用曲げ試験装置としては、カードＸを
台座Ｙに固定した支持部Ｚ，Ｚ上に載置して、カードＸ
を押圧する押圧具Ｓにより、カードＸを押圧して、曲げ
試験を行うものであった。
に、この種カード用曲げ試験装置としては、カードＸを
台座Ｙに固定した支持部Ｚ，Ｚ上に載置して、カードＸ
を押圧する押圧具Ｓにより、カードＸを押圧して、曲げ
試験を行うものであった。
【０００３】上記従来のものにおいては、曲げ試験中に
カードＸが支持部Ｚ，Ｚからずれたり、あるいはカード
Ｘが支持部Ｚ，Ｚから落ちる等の問題点があった。
カードＸが支持部Ｚ，Ｚからずれたり、あるいはカード
Ｘが支持部Ｚ，Ｚから落ちる等の問題点があった。
【０００４】また、カードＸを支持部Ｚ，Ｚに載置する
ものであるので、カードＸの上方のみから押圧具Ｓによ
り押圧して曲げ試験を行うことができ、同一位置におい
てカードＸの下方から押圧して曲げ試験を行う場合に
は、カードＸを裏返して再度位置合わせをする必要があ
り手間を要する等の問題点があった。
ものであるので、カードＸの上方のみから押圧具Ｓによ
り押圧して曲げ試験を行うことができ、同一位置におい
てカードＸの下方から押圧して曲げ試験を行う場合に
は、カードＸを裏返して再度位置合わせをする必要があ
り手間を要する等の問題点があった。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するものであって、その要旨は、カードの曲げ試験装
置であって、カードの両端部を一対の把持具により把持
し、カードの表裏面を挟持する押圧具をカード表裏面に
対して平行方向に移動自在とすると共に、カードの所定
位置においてカード表裏面に対して垂直方向に移動自在
として、曲げ試験に際してカードの測定位置がずれるこ
となく、かつカードの所定位置においてカード表面の垂
直方向に対し、表裏両方向から荷重を付加して、曲げ試
験を簡便に行うことができるようにしたものである。
決するものであって、その要旨は、カードの曲げ試験装
置であって、カードの両端部を一対の把持具により把持
し、カードの表裏面を挟持する押圧具をカード表裏面に
対して平行方向に移動自在とすると共に、カードの所定
位置においてカード表裏面に対して垂直方向に移動自在
として、曲げ試験に際してカードの測定位置がずれるこ
となく、かつカードの所定位置においてカード表面の垂
直方向に対し、表裏両方向から荷重を付加して、曲げ試
験を簡便に行うことができるようにしたものである。
【０００６】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づき具体的
に説明する。図１は本発明のカード用曲げ試験装置を示
す分解斜視図、図２は本発明のカード用曲げ試験装置を
示す側面図、図３は本発明の別のカード用曲げ試験装置
を示す平面図、図４は図３のカード用曲げ試験装置に使
用する把持具を示す斜視図である。
に説明する。図１は本発明のカード用曲げ試験装置を示
す分解斜視図、図２は本発明のカード用曲げ試験装置を
示す側面図、図３は本発明の別のカード用曲げ試験装置
を示す平面図、図４は図３のカード用曲げ試験装置に使
用する把持具を示す斜視図である。
【０００７】図１に分解斜視図で示し、又図２に側面図
で示すように、１０はＩＣメモリカードであって、ＩＣ
メモリカード１０は、ＩＣメモリ１１と、ＩＣメモリ１
１に接続された外部接続端子１２を有し、ＩＣメモリ１
１はプリント配線（図示略）を介して、外部接続端子１
２と接続されている。２０，２０は一対の把持具であっ
て、ＩＣメモリカード１０の両端部を把持する溝２１，
２１を有する。
で示すように、１０はＩＣメモリカードであって、ＩＣ
メモリカード１０は、ＩＣメモリ１１と、ＩＣメモリ１
１に接続された外部接続端子１２を有し、ＩＣメモリ１
１はプリント配線（図示略）を介して、外部接続端子１
２と接続されている。２０，２０は一対の把持具であっ
て、ＩＣメモリカード１０の両端部を把持する溝２１，
２１を有する。
【０００８】把持具１０，２０は台座３０に対して移動
自在としてあり、ＩＣメモリカード１０の両端部を把持
するよう調節した後、台座３０に固定する。２２は溝２
１，２１内に設けられた導電性ゴム材であって、該導電
性ゴム材２２を形成すると、導電性ゴム材２２の有する
弾性力により、無理なく確実にＩＣメモリカード１０の
両端部を把持することができると共に、発生した静電気
を逃がすことができるので好適である。
自在としてあり、ＩＣメモリカード１０の両端部を把持
するよう調節した後、台座３０に固定する。２２は溝２
１，２１内に設けられた導電性ゴム材であって、該導電
性ゴム材２２を形成すると、導電性ゴム材２２の有する
弾性力により、無理なく確実にＩＣメモリカード１０の
両端部を把持することができると共に、発生した静電気
を逃がすことができるので好適である。
【０００９】４０は、ＩＣメモリカード１０の表裏面を
挟持する押圧具であって、押圧具４０には溝４１が形成
してある。押圧具４０はＩＣメモリカード１０の表面に
対して平行に移動自在としてあり、ＩＣメモリカード１
０の所定位置でＩＣメモリカード１０の表裏面を挟持す
ることができる。また、押圧具４０はＩＣメモリカード
１０の表裏面の垂直方向に対し、移動自在としてあり、
ＩＣメモリカード１０の所定位置において表面の垂直方
向に対し、ＩＣメモリカード１０の表裏両方向から荷重
を付加して、曲げ試験をすることができる。
挟持する押圧具であって、押圧具４０には溝４１が形成
してある。押圧具４０はＩＣメモリカード１０の表面に
対して平行に移動自在としてあり、ＩＣメモリカード１
０の所定位置でＩＣメモリカード１０の表裏面を挟持す
ることができる。また、押圧具４０はＩＣメモリカード
１０の表裏面の垂直方向に対し、移動自在としてあり、
ＩＣメモリカード１０の所定位置において表面の垂直方
向に対し、ＩＣメモリカード１０の表裏両方向から荷重
を付加して、曲げ試験をすることができる。
【００１０】４２は溝４１内に設けられた導電性ゴム材
であって、該導電性ゴム材４２を形成すると、導電性ゴ
ム材４２，４２の有する弾性力により、無理なく確実に
ＩＣメモリカード１０の表裏面を挟持して、ＩＣメモリ
カード１０の表裏面の垂直方向に対し、両方向から荷重
を付加して、曲げ試験をすることができると共に、発生
した静電気を逃がすことができるので好適である。
であって、該導電性ゴム材４２を形成すると、導電性ゴ
ム材４２，４２の有する弾性力により、無理なく確実に
ＩＣメモリカード１０の表裏面を挟持して、ＩＣメモリ
カード１０の表裏面の垂直方向に対し、両方向から荷重
を付加して、曲げ試験をすることができると共に、発生
した静電気を逃がすことができるので好適である。
【００１１】図３は本発明の別のカード用曲げ試験装置
を示す平面図であって、ＩＣメモリカード１０の対向す
る隅角部を把持具２０，２０により把持してある。把持
具２０，２０は図４に斜視図で示すように、三角形状の
溝２１，２１が形成してあり、ＩＣメモリカード１０の
対向する隅角部を把持する。
を示す平面図であって、ＩＣメモリカード１０の対向す
る隅角部を把持具２０，２０により把持してある。把持
具２０，２０は図４に斜視図で示すように、三角形状の
溝２１，２１が形成してあり、ＩＣメモリカード１０の
対向する隅角部を把持する。
【００１２】
【発明の効果】以上の通り、本発明によれば、カードの
両端部を一対の把持具により把持し、カードの表裏面を
挟持する押圧具をカード表裏面に対して平行方向に移動
自在とすると共に、カードの所定位置においてカード表
裏面に対して垂直方向に移動自在としたので、曲げ試験
に際してカードの測定位置がずれることなく、かつカー
ドの所定位置においてカード表裏面の垂直方向に対し、
表裏両方向から荷重を付加して、曲げ試験を簡便に行う
ことができるなどの利点がある。
両端部を一対の把持具により把持し、カードの表裏面を
挟持する押圧具をカード表裏面に対して平行方向に移動
自在とすると共に、カードの所定位置においてカード表
裏面に対して垂直方向に移動自在としたので、曲げ試験
に際してカードの測定位置がずれることなく、かつカー
ドの所定位置においてカード表裏面の垂直方向に対し、
表裏両方向から荷重を付加して、曲げ試験を簡便に行う
ことができるなどの利点がある。
【図１】本発明のカード用曲げ試験装置を示す分解斜視
図
図
【図２】本発明のカード用曲げ試験装置を示す側面図
【図３】本発明の別のカード用曲げ試験装置を示す平面
図
図
【図４】図３のカード用曲げ試験装置に使用する把持具
を示す斜視図
を示す斜視図
【図５】従来のカード用曲げ試験装置を示す斜視図
１０ ＩＣメモリカード １１ ＩＣメモリ １２ 外部接続端子 ２０ 把持具 ２１ 溝 ２２ 導電性ゴム材 ３０ 台座 ４０ 押圧具 ４１ 溝 ４２ 導電性ゴム材
Claims (1)
- 【請求項１】カードの曲げ試験装置であって、カードの
両端部を一対の把持具により把持し、カードの表裏面を
挟持する押圧具をカード表裏面に対して平行方向に移動
自在とすると共に、カードの所定位置においてカード表
裏面に対して垂直方向に移動自在としたことを特徴とす
るカード用曲げ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6001373A JPH07210636A (ja) | 1994-01-11 | 1994-01-11 | カード用曲げ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6001373A JPH07210636A (ja) | 1994-01-11 | 1994-01-11 | カード用曲げ試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07210636A true JPH07210636A (ja) | 1995-08-11 |
Family
ID=11499698
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6001373A Pending JPH07210636A (ja) | 1994-01-11 | 1994-01-11 | カード用曲げ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07210636A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007037154A1 (ja) * | 2005-09-28 | 2007-04-05 | Nidec Sankyo Corporation | Ｉｃカード処理装置 |
| JP2010237179A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Dainippon Printing Co Ltd | 試験試料装着装置、曲げ強さ試験装置、曲げ強さ試験方法、曲げ強さ試験プログラム及び試験試料 |
| JP2016540227A (ja) * | 2013-12-18 | 2016-12-22 | クンシャン ニュー フラット パネル ディスプレイ テクノロジー センター カンパニー リミテッド | フレキシブルスクリーン曲げ試験方法及びシステム |
-
1994
- 1994-01-11 JP JP6001373A patent/JPH07210636A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007037154A1 (ja) * | 2005-09-28 | 2007-04-05 | Nidec Sankyo Corporation | Ｉｃカード処理装置 |
| KR100820512B1 (ko) * | 2005-09-28 | 2008-04-11 | 니혼 덴산 산쿄 가부시키가이샤 | Ｉｃ 카드 처리 장치 |
| JP2010237179A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Dainippon Printing Co Ltd | 試験試料装着装置、曲げ強さ試験装置、曲げ強さ試験方法、曲げ強さ試験プログラム及び試験試料 |
| JP2016540227A (ja) * | 2013-12-18 | 2016-12-22 | クンシャン ニュー フラット パネル ディスプレイ テクノロジー センター カンパニー リミテッド | フレキシブルスクリーン曲げ試験方法及びシステム |
| US10197482B2 (en) | 2013-12-18 | 2019-02-05 | Kunshan New Flat Panel Display Technology Center Co., Ltd. | Method and system for bending test of flexible screen |
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