JPH0727948B2 - 配線層のエレクトロマイグレーション寿命測定法及びそれに用いる装置 - Google Patents

配線層のエレクトロマイグレーション寿命測定法及びそれに用いる装置

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JPH0727948B2
JPH0727948B2 JP1213767A JP21376789A JPH0727948B2 JP H0727948 B2 JPH0727948 B2 JP H0727948B2 JP 1213767 A JP1213767 A JP 1213767A JP 21376789 A JP21376789 A JP 21376789A JP H0727948 B2 JPH0727948 B2 JP H0727948B2
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Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
本発明は、半導体集積回路などに用いている配線層の評
価パラメータの1つとしてのエレクトロマイグレーショ
ン寿命を測定する方法、及びそれに用いる装置に関す
る。
【従来の技術】
従来、第8図を伴って次に述べる配線層のエレクトロマ
イグレーション寿命測定法、及びそれに用いる配線層の
エレクトロマイグレーション寿命測定装置が提案されて
いる。 まず、従来提案されている配線層のエレクトロマイグレ
ーション寿命測定用装置について述べるに、測定せんと
する配線層として用意された配線層1が接続される接続
端子P1及びP2を有する。 また、それら接続端子P1及びP2間に接続される配線層1
に、接続端子P1及びP2を通じて電流を供給させる電流供
給路L1及びL2を有する。 さらに、接続端子P1及びP2間に配線層1が接続されてい
るとき、電流供給路L1及びL2を通じて配線層1に、一方
向に供給する第9図に示すような一定値Iaを有する直流
電流Iを出力する電流源2を有する。 また、接続端子P1及びP2間の電圧または抵抗を測定する
電圧または抵抗測定器3を有する。 さらに、電圧または抵抗測定器3からの、接続端子P1及
びP2間に配線層1を接続し且つ電流源2から直流電流I
を出力させたときに得られる測定出力Sから、配線層1
への直流電流Iの供給開始時点t0から配線層1が断線す
る時点tsまでの時間Tを、測定せんとする配線層のエレ
クトロマイグレーション寿命として測定し、その測定出
力Eを出力する時間測定器4を有する。 以上が、従来提案されている配線層のエレクトロマイグ
レーション寿命測定用装置の構成である。 次に、上述した従来の配線層のエレクトロマイグレーシ
ョン寿命測定用装置を用いた従来提案されている配線層
のエレクトロマイグレーション寿命測定法を述べるに、
測定せんとする配線層として配線層1を用意する。 そして、その配線層1を、第8図に示すように、配線層
のエレクトロマイグレーション寿命測定用装置の接続端
子P1及びP2間に接続して、その配線層1に、電流源1か
ら、第9図で上述した直流電流Iを、その配線層1が断
線するまで一方向に供給する。 しかるときは、接続端子P1及びP2間でみた電圧または抵
抗の値が、配線層1に直流電流Iを供給開始したときの
時点t0と配線層1が断線したときの時点tsとで変化する
ことから、電圧または抵抗測定器3からの測定出力S
が、配線層1に直流電流Iを供給開始したときの時点t0
と配線層1が断線したときの時点tsとで変化しているこ
とを表している出力で得られる。 また、そのような測定出力Sが電圧または抵抗測定器3
から得られれば、時間測定器4からの測定出力Eが、時
点t0及びts間の時間Tを表している出力で得られる。 従って、そのような時間測定器4から得られる測定出力
Eによって、配線層1に直流電流Iを供給開始した時点
t0から配線層1が断線する時点tsまでの時間Tを、測定
せんとする配線層のエレクトロマイグレーション寿命と
して測定する。 以上が、従来提案されている配線層のエレクトロマイグ
レーション寿命測定法である。
【発明が解決しようとする課題】
上述した従来の配線層のエレクトロマイグレーション寿
命測定法によれば、測定せんとする配線層としての配線
層1に直流電流Iを供給開始してから、配線層1が断線
するまでの間において、配線層が、それに流される直流
電流Iによって、ジュール発熱を伴い、その配線層1内
に温度勾配が生ずることから、配線層1の断線は、サー
マルマイグレーション効果の加味されたエレクトロマイ
グレーション効果によるものである。 従って、上述した従来の配線層のエレクトロマイグレー
ション寿命測定法の場合、エレクトロマイグレーション
寿命が、サーマルマイグレーション効果にもとずく誤差
を含んでいるものとして得られる。という欠点を有して
いた。 よって、本発明は、上述した欠点のない配線層のエレク
トロマイグレーション寿命測定法、及びそれに用いる装
置を提案せんとするものである。
【課題を解決するための手段】
本願第1番目の発明による配線層のエレクトロマイグレ
ーション寿命測定法は、測定せんとする配線層とし
て、同じ2つの第1及び第2の配線層を用意し、そし
て、(i)上記第1の配線層に、第1の直流電流を、
第1の方向に連続的に供給することを、当該第1の配線
層が断線するまで行い、その断線までの時間T1を測定す
ることと、(ii)上記第2の配線層に、上記第1の直流
電流と同じ値の第2の直流電流を、第1の方向に連続的
に供給し、次で上記第1の方向とは逆の第2の方向に連
続的に供給することとを、当該第2の配線層が断線する
まで順次交互に繰返し行い、その断線までの時間T2を測
定することとを、時間的に前後してまたは同時的に行
い、次で、上記時間T1及びT2から、 TE=T1・T2/(T2−T1) で表される時間TEを測定せんとする配線層のエレクトロ
マイグレーション寿命として測定する。 本願第2番目の発明による配線層のエレクトロマイグレ
ーション寿命測定用装置は、測定せんとする配線層と
して用意された第1及び第2の配線層が選択的に接続さ
れる第1及び第2の接続端子と、それら第1及び第2
の接続端子間に選択的に接続される第1及び第2の配線
層に、上記第1及び第2の接続端子を通じて電流を供給
させる電流供給路と、(i)上記第1及び第2の接続
端子間に上記第1の配線層が接続されているとき、上記
電流供給路を通じて上記第1の配線層に第1の方向に供
給する第1の直流電流を出力し、(ii)上記第1及び第
2の接続端子間に上記第2の配線層が接続されていると
き、上記電流供給路を通じて上記第2の配線層に第1の
方向に供給し、次で第1の方向とは逆の第2の方向に供
給することを交互順次に繰返す時間測定器第1の直流電
流と同じ値の第2の直流電流を出力する電流源と、上
記第1及び第2の接続端子間の電圧または抵抗を測定す
る電圧または抵抗測定器と、(i)上記電圧または抵
抗測定器からの、上記第1及び第2の接続端子間に上記
第1の配線層を接続し且つ上記電流源から上記第1の直
流電流を出力させたときに得られる測定出力から、上記
第1の配線層への上記第1の直流電流の供給開始時点か
ら上記第1の配線層が断線する時点まで時間T1を測定
し、且つ(ii)上記電圧または抵抗測定器からの、上記
第1及び第2の接続端子間に上記第2の配線層を接続し
且つ上記電流源から上記第2の直流電流を出力させたと
きに得られる測定出力から、上記第2の配線層への上記
第2の直流電流の供給開始時点から上記第2の配線層が
断線する時点まで時間T2を測定するとともに、(iii)
上記時間T1及びT2から、TE=T1・T2/(T1−T2)で表さ
れる時間TEを測定せんとする配線層のエレクトロマイグ
レーション寿命として測定する時間測定器とを有する。 本願第3番目の発明による配線層のエレクトロマイグレ
ーション寿命測定用装置は、測定せんとする配線層と
して用意された第1及び第2の配線層の一端がそれぞれ
接続される第1及び第2の接続端子と、上記第1及び
第2の配線層の他端がそれぞれ接続される第3及び第4
の接続端子または上記第1及び第2の配線層の他端がと
もに接続される第5の接続端子と、上記第1及び第2
の接続端子を選択する選択スイッチと、上記第1の接
続端子及び上記第3または第5の接続端子間、及び上記
第2の接続端子及び上記第4または第5の接続端子間に
上記選択スイッチを通じてそれぞれ接続される第1及び
第2の配線層に、上記選択スイッチを通じ且つ上記第1
の接続端子及び上記第3または第5の接続端子、及び上
記第2の接続端子及び上記第4または第5の接続端子を
それぞれ通じて電流を供給させる電流供給路と、
(i)上記第1の接続端子及び上記第3または第5の接
続端子間に上記選択スイッチを通じて上記第1の配線層
が接続されているとき、上記電流供給路を通じて上記第
1の配線層に第1の方向に供給する第1の直流電流を出
力し、(ii)上記第2の接続端子及び上記第4または第
5の接続端子間に上記選択スイッチを通じて上記第2の
配線層が接続されているとき、上記電流供給路を通じて
上記第2の配線層に第1の方向に供給し、次で第2の方
向に供給することを交互順次に繰返す上記第1の直流電
流と同じ値の第2の直流電流を出力する電流源と、上
記第1の接続端子及び上記第3または第5の接続端子
間、及び上記第2の接続端子及び上記第4または第5の
接続端子間の電圧または抵抗を測定する電圧または抵抗
測定器と、(i)上記電圧または抵抗測定器からの、
上記第1の接続端子及び上記第3または第5の接続端子
間に上記第1の配線層を接続し且つ上記電流源から上記
第1の直流電流を出力させたときに得られる出力から、
上記第1の配線層への上記第1の直流電流の供給開始時
点から上記第1の配線層が断線する時点まで時間T1を測
定し、且つ(ii)上記電圧または抵抗測定器からの、上
記第2の接続端子及び上記第4または第5の接続端子間
に上記第2の配線層を接続し且つ上記電流源から上記第
2の直流電流を出力させたときに得られる出力から、上
記第2の配線層への上記第2の直流電流の供給開始時点
から上記第2の配線層が断線する時点まで時間T2を測定
するとともに、(iii)上記時間T1及びT2から、TE=T1
・T2/(T1−T2)で表される時間TEを測定せんとする配
線層のエレクトロマイグレーション寿命として測定する
時間測定器とを有する。 本願第4番目の発明による配線層のエレクトロマイグレ
ーション寿命測定用装置は、測定せんとする配線層と
して用意された第1及び第2の配線層の一端がそれぞれ
接続される第1及び第2の接続端子と、上記第1及び
第2の配線層の他端がそれぞれ接続される第3及び第4
の接続端子または上記第1及び第2の配線層の他端がと
もに接続される第5の接続端子と、上記第1の接続端
子及び上記第3または第5の接続端子間に接続される第
1の配線層に、上記第1の接続端子及び上記第3または
第5の接続端子を通じて電流を供給させる第1の電流供
給路と、上記第2の接続端子及び上記第4または第5
の接続端子間に接続される第2の配線層に、上記第2の
接続端子及び上記第4または第5の接続端子を通じて電
流を供給させる第2の電流供給路と、(i)上記第1
の電流供給路を通じて上記第1の配線層に第1の方向に
供給する第1の直流電流を出力し、且つ(ii)上記第2
の電流供給路を通じて上記第2の配線層に第1の方向に
供給し、次で第2の方向に供給することを交互順次に繰
返す上記第1の直流電流と同じ値の第2の直流電流を出
力する電流源と、上記第1の接続端子及び上記第3ま
たは第5の接続端子間の電圧または抵抗を測定する第1
の電圧または抵抗測定器と、上記第2の接続端子及び
上記第4または第5の接続端子間の電圧または抵抗を測
定する第2の電圧または抵抗測定器と、(i)上記第
1の電圧または抵抗測定器からの、上記電流源から上記
第1の直流電流を出力させたときに得られる出力から、
上記第1の配線層への上記第1の直流電流の供給開始時
点から上記第1の配線層が断線する時点まで時間T1を測
定し、且つ(ii)上記第2の電圧または抵抗測定器から
の、上記電流源から上記第2の直流電流を出力させたと
きに得られる出力から、上記第2の配線層への上記第2
の直流電流の供給開始時点から上記第2の配線層が断線
する時点まで時間T2を測定するとともに、(iii)上記
時間T1及びT2から、TE=T1・T2/(T1−T2)で表される
時間TEを測定せんとする配線層のエレクトロマイグレー
ション寿命として測定する時間測定器とを有する。
【作用・効果】
本願第1番目の発明による配線層のエレクトロマイグレ
ーション寿命測定法による場合、第1の直流電流が供給
される第1の配線層に関する時間T1の測定は、第8図で
前述した従来の配線層のエレクトロマイグレーション寿
命測定法における時間Tの測定と同様であるので、その
時間T1は、第8図で前述した従来の配線層のエレクトロ
マイグレーション寿命測定法の場合と同様に、サーマル
マイグレーション効果を加味したエレクトロマイグレー
ション効果にもとずいた時間を表している。 一方、第2の直流電流が供給される第2の配線層に関す
る時間T2の測定は、第2の配線層に第2の直流電流を第
1及び第2の方向に順次交互に繰返し供給して行ってい
ることから、第2の直流電流を第2の配線層に第1の方
向に流すときと第2の方向に流すときとで、エレクトロ
マイグレーション効果が相殺されるため、その時間T
2は、実質的にサーマルマイグレーション効果のみにも
とずいた時間を表している。 しかしながら、時間T1及びT2にもとずく測定せんとする
配線層のエレクトロマイグレーション寿命として測定さ
れる時間TEは、T1・T2/(T2−T1)で表される時間で測
定されるので、次に述べる理由で、実質的にエレクトロ
マイグレーション効果の加味されていないエレクトロマ
イグレーション効果のみにもとずく時間を表している。 すなわち、いま、第1の配線層に第1の直流電流を供給
した場合において、第1の配線層がエレクトロマイグレ
ーション効果のみによって断線に到る速度をVTとし、ま
た、第2の配線層に第2の直流電流を供給した場合にお
いて、第2の配線層がエレクトロマイグレーション効果
(上述したようにエレクトロマイグレーション効果は伴
わないので)によって断線に到る速度をVEとするとき、
一般に、第1及び第2の配線層が断線に到る場合、上述
した時間T2及びTEをそれぞれサーマルマイグレーション
効果及びエレクトロマイグレーション効果のみにもとず
く時間として用いることによって、 VE・TE=VT・T2=Q ……(1) Q=(VE+VT)・TT ……(2) の関係が成立し、よって、(1)及び(2)式から、 1/T1=1/TT+1/TE ……(3) が得られ、従って、 TE=T1・T2/(T2−T1) ……(4) が得られるからである。 以上のことから、本願第1番目の発明による配線層のエ
レクトロマイグレーション寿命測定法によれば、時間TE
が表している配線層のエレクトロマイグレーション寿命
を、サーマルマイグレーション効果にもとずく誤差を含
んでいないものとして正確に得ることができる。 また、本願第2番目の発明による配線層のエレクトロマ
イグレーション寿命測定用装置によれば、第1及び第2
の接続端子間に、まず、第1の配線層を接続すれば、そ
の第1の配線層に、電流源から、第1の直流電流を、第
1の配線層が断線するまで、供給させることができ、そ
して、この場合、第1及び第2の接続端子間でみた電圧
または抵抗の値が、第1の配線層に第1の直流電流を供
給したときの時点と第1の配線層が断線したときの時点
とで変化することから、電圧または抵抗測定器からの、
第1の配線層に第1の直流電流を供給開始した時点と第
1の配線層が断線したときの時点とで変化していること
を表している測定出力が得られ、また、そのような測定
出力が電圧または抵抗測定器から得られれば、時間測定
器において、第1の配線層に第1の直流電流を供給開始
した時点と第1の配線層が断線したときの時点の間の時
間T1を表している測定出力を得ることができる。 また、第1及び第2の接続端子間に、第2の配線層を接
続すれば、その第2の配線層に、電流源から、第2の直
流電流を供給させることができ、そして、この場合、第
1及び第2の接続端子間でみた電圧または抵抗の値が、
第2の配線層に第2の直流電流を供給したときの時点と
第2の配線層が断線したときの時点とで変化することか
ら、電圧または抵抗測定器から、第2の配線層に第2の
直流電流を供給開始した時点と第2の配線層が断線した
ときの時点とで変化していることを表している測定出力
が得られ、また、そのような測定出力が電圧または抵抗
測定器から得られれば、時間測定器において、第2の配
線層に第2の直流電流を供給開始した時点と第2の配線
層が断線したときの時点の間の時間T2を表している測定
出力を得ることができる。 さらに、時間測定器において、上述した時間T1及びT2
それぞれ表している測定出力が得られれば、それら時間
T1及びT2から、TE=T1・T2/(T2−T1)で表される時間
TEを表している測定出力を得ることができる。 従って、本願第2番目の発明による配線層のエレクトロ
マイグレーション寿命測定用装置によれば、上述した本
願第1番目の発明による配線層のエレクトロマイグレー
ション寿命測定法に用い得る。 また、本願第3番目の発明による配線層のエレクトロマ
イグレーション寿命測定用装置によれば、第1の接続端
子及び第3または第5の接続端子間に第1の配線層を接
続し、また、第2の接続端子及び第4または第5の接続
端子間に第2の配線層を接続し、そして、その状態か
ら、選択スイッチによって、まず、例えば第1の接続端
子を選択すれば、第1の配線層に、電流源から、第1の
直流電流を、第1の配線層が断線するまで、供給させる
ことができ、そして、この場合、第1の接続端子及び第
3または第5の接続端子間でみた電圧または抵抗の値
が、第1の配線層に第1の直流電流を供給したときの時
点と第1の配線層が断線したときの時点とで変化するこ
とから、電圧または抵抗測定器から、第1の配線層に第
1の直流電流を供給開始した時点と第1の配線層が断線
したときの時点とで変化していることを表している測定
出力が得られ、また、そのような測定出力が電圧または
抵抗測定器から得られれば、時間測定器において、第1
の配線層に第1の直流電流を供給開始した時点と第1の
配線層が断線したときの時点の間の時間T1を表している
測定出力を得ることができる。 また、次に、選択スイッチによって、第2の接続端子を
選択すれば、第2の配線層に電流源から、第2の直流電
流を供給させることができ、そして、この場合、第2の
接続端子及び第4または第5の接続端子間でみた電圧ま
たは抵抗の値が、第2の配線層に第2の直流電流を供給
したときの時点と第2の配線層が断線したときの時点と
で変化することから、電圧または抵抗測定器から、第2
の配線層に第2の直流電流を供給開始した時点と第2の
配線層が断線したときの時点とで変化していることを表
している測定出力が得られ、また、そのような測定出力
が電圧または抵抗測定器から得られれば、時間測定器に
おいて、第2の配線層に第2の直流電流を供給開始した
時点と第2の配線層が断線したときの時点の間の時間T2
を表している測定出力を得ることができる。 さらに、時間測定器において、上述した時間T1及びT2を
それぞれ表している測定出力が得られれば、それら時間
T1及びT2から、TE=T1・T2/(T2−T1)で表される時間
TEを表している測定出力を得ることができる。 従って、本願第3番目の発明による配線層のエレクトロ
マイグレーション寿命測定用装置によれば、上述した本
願第1番目の発明による配線層のエレクトロマイグレー
ション寿命測定法に用い得る。 また、本願第4番目の発明による配線層のエレクトロマ
イグレーション寿命測定用装置によれば、第1の接続端
子及び第3または第5の接続端子間に第1の配線層を接
続し、また、第2の接続端子及び第4または第5の接続
端子間に第2の配線層を接続すれば、第1の配線層に、
電流源から、第1の直流電流を、第1の配線層が断線す
るまで、供給させることができ、そして、この場合、第
1の接続端子及び第3または第5の接続端子間でみた電
圧または抵抗の値が、第1の配線層に第1の直流電流を
供給したときの時点と第1の配線層が断線したときの時
点とで変化することから、第1の電圧または抵抗測定器
から、第1の配線層に第1の直流電流を供給開始した時
点と第1の配線層が断線したときの時点とで変化してい
ることを表している測定出力が得られ、また、そのよう
な測定出力が第1の電圧または抵抗測定器から得られれ
ば、時間測定器において、第1の配線層に第1の直流電
流を供給開始した時点と第1の配線層が断線したときの
時点の間の時間T1を表している測定出力を得ることがで
きる。 また、第1の配線層に電流源から第1の直流電流を供給
させると同時的にまたは前後して、第2の配線層に、電
流源から、第2の直流電流を、供給させることができ、
そして、この場合、第2の接続端子及び第4または第5
の接続端子間でみた電圧または抵抗の値が、第2の配線
層に第2の直流電流を供給したときの時点と第2の配線
層が断線したときの時点とで変化することから、第2の
電圧または抵抗測定器から、第2の配線層に第2の直流
電流を供給開始した時点と第2の配線層が断線したとき
の時点とで変化していることを表している測定出力が得
られ、また、そのような測定出力が第2の電圧または抵
抗測定器から得られれば、時間測定器において、第2の
配線層に第2の直流電流を供給開始した時点と第2の配
線層が断線したときの時点の間の時間T2を表している測
定出力が得られる。 さらに、時間測定器において、上述した時間T1及びT2
それぞれ表している測定出力が得られれば、それら時間
T1及びT2から、TE=T1・T2/(T2−T1)で表される時間
TEを表している測定出力を得ることができる。 従って、本願第4番目の発明による配線層のエレクトロ
マイグレーション寿命測定用装置によれば、上述した本
願第1番目の発明による配線層のエレクトロマイグレー
ション寿命測定法に用い得る。
【実施例1】 次に、第1図を伴って本発明による配線層のエレクトロ
マイグレーション寿命測定法、及びそれに用いる装置の
第1の実施例を述べよう。 まず、本発明による配線層のエレクトロマイグレーショ
ン寿命測定用装置の第1の実施例について述べるに、測
定せんとする配線層として用意された2つの配線層11及
び12が選択的に接続される接続端子P1及びP2を有する。 また、それら接続端子P1及びP2間に選択的に接続される
配線層11及び12に、接続端子P1及びP2を通じて電流を供
給させる電流供給路L1及びL2を有する。 さらに、接続端子P1及びP2間に配線層11が接続されてい
るとき、電流供給路L1及びL2を通じて配線層11に第1の
方向に供給する第2図に示すような一定値Iaを有する直
流電流I1を出力し、また、接続端子P1及びP2間に配線層
12が接続されているとき、電流供給路L1及びL2を通じて
配線層11に第1の方向に供給し、次に第1の方向とは逆
に第2の方向に供給する第3図に示すような直流電流I1
と同じ値Iaの直流電流I2を出力する電流源2を有する。 また、接続端子P1及びP2間の電圧または抵抗を測定する
電圧または抵抗測定器3を有する。 さらに、電圧または抵抗測定器3からの、接続端子P1及
びP2間に配線層11を接続し且つ電流源2から直流電流I
を出力させたときに得られる測定出力S1から、配線層11
への直流電流Iの供給開始時点t0から配線層1が断線す
る時点tsまでの時間T1を測定し、電圧または抵抗測定器
3からの、接続端子P1及びP2間に配線層12を接続し且つ
電流源2から直流電流I2を出力させたときに得られる測
定出力S2から、配線層12への直流電流I2の供給開始時点
tsまで時間T2を測定するとともに、時間T1及びT2から、
TE=T1・T2/(T1−T2)で表される時間TEを、測定せん
とする配線層のエレクトロマイグレーション寿命として
測定し、その測定出力Eを出力する時間測定器4を有す
る。 以上が、本発明による配線層のエレクトロマイグレーシ
ョン寿命測定用装置の第1の実施例の構成である。 次に、上述した本発明による配線層のエレクトロマイグ
レーション寿命測定用装置を用いた本発明による配線層
のエレクトロマイグレーション寿命測定法の第1の実施
例を述べるに、測定せんとする配線層として、同じ2つ
の配線層11及び12を用意する。 そして、まず、例えば配線層11を、第1図に示すよう
に、配線層のエレクトロマイグレーション寿命測定用装
置の接続端子P1及びP2間に接続して、その配線層11に、
電流源2から、第2図で上述した直流電流I1を、その配
線層11が断線するまで一方向に供給する。 しかるときは、接続端子P2及びP2間でみた電圧または抵
抗の値が、配線層11に直流電流Iを供給開始したときの
時点t0と配線層11が断線したときの時点Tsとで変化する
ことから、電圧または抵抗測定器3からの測定出力S1
が、配線層11に直流電流I1を供給開始したときの時点t0
と配線層11が断線したときの時点tsとで変化しているこ
とを表している出力で得られる。 また、そのような測定出力S1が電圧または抵抗測定器3
から得られれば、時間測定器4において、時点t0及びts
間の時間T1を表している測定出力を得ることができる。 また、次に、配線層12を、配線層11に代え、配線層のエ
レクトロマイグレーション寿命測定用装置の接続端子P1
及びP2間に接続して、その配線層12に、電流源2から、
第3図で上述した直流電流I2を、その配線層12が断線す
るまで一方向に供給する。 しかるときは、接続端子P1及びP2間でみた電圧または抵
抗の値が、配線層12に直流電流Iを供給開始したときの
時点t0と配線層12が断線したときの時点tsとで変化する
ことから、電圧または抵抗測定器3からの測定出力S2
が、配線層12に直流電流I1を供給開始したときの時点t0
と配線層11が断線したときの時点tsとで変化しているこ
とを表している出力で得られる。 また、そのような測定出力S2が電圧または抵抗測定器3
から得られれば、時間測定器4において、時点t0及びts
間の時間T2を表している測定出力を得ることができる。 さらに、上述したように、時間測定器4において、上述
した時間T1及びT2が得られることから、TE=T1・T2
(T1−T2)で表される時間TEを表している測定出力Eを
得ることができる。 従って、そのような時間測定器4から得られる測定出力
Eによって、それが表している時間TEを、測定せんとす
る配線層のエレクトロマイグレーション寿命として測定
する。 以上が、本発明による配線層のエレクトロマイグレーシ
ョン寿命測定法である。 このような本発明による配線層のエレクトロマイグレー
ション寿命測定法による場合、直流電流I1が供給される
配線層11に関する時間T1の測定は、第8図で前述した従
来の配線層のエレクトロマイグレーション寿命測定法に
おける時間Tの測定と同様であるので、その時間T1は、
第8図で前述した従来の配線層のエレクトロマイグレー
ション寿命測定法の場合と同様に、サーマルマイグレー
ション効果を加味したエレクトロマイグレーション効果
にもとずいた時間を表している。 一方、直流電流I2が供給される配線層12に関する時間T2
の測定は、配線層12に直流電流I2を第1及び第2の方向
に順次交互に繰返し供給して行っていることから、直流
電流I2を配線層12に第1の方向に流すときと第2の方向
に流すときとで、エレクトロマイグレーション効果が相
殺されるため、その時間T2は、実質的にサーマルマイグ
レーション効果のみにもとずいた時間を表している。 しかしながら、時間T1及びT2にもとずく測定せんとする
配線層のエレクトロマイグレーション寿命として測定さ
れる時間TEは、T1・T2/(T2−T1)で表される時間で測
定されるので、次に述べる理由で、実質的にエレクトロ
マイグレーション効果の加味されていないエレクトロマ
イグレーション効果のみにもとずく時間を表している。 すなわち、いま、配線層11に直流電流I1を供給した場合
において、配線層11がエレクトロマイグレーション効果
のみによって断線に到る速度をVTとし、また、配線層12
に直流電流I2を供給した場合において、配線層12がエレ
クトロマイグレーション効果(上述したようにエレクト
ロマイグレーション効果は伴わないので)によって断線
に到る速度をVEとするとき、一般に、配線層11及び12が
断線に到る場合、上述した時間T2及びTEをそれぞれサー
マルマイグレーション効果及びエレクトロマイグレーシ
ョン効果のみにもとずく時間として用いることによっ
て、 VE・TE=VT・T2=Q ……(1) Q=(VE+VT)・TT ……(2) の関係が成立し、よって、(1)及び(2)式から、 1/T1=1/TT+1/TE ……(3) が得られ、従って、 TE=T1・T2/(T2−T1) ……(4) が得られるからである。 以上のことから、本発明による配線層のエレクトロマイ
グレーション寿命測定法の第1の実施例によれば、時間
TEが表している配線層のエレクトロマイグレーション寿
命を、サーマルマイグレーション効果にもとずく誤差を
含んでいないものとして正確に得ることができる。 また、第1図に示す本発明による配線層のエレクトロマ
イグレーション寿命測定用装置の第1の実施例によれ
ば、上述したところから明らかなように、上述した本発
明による配線層のエレクトロマイグレーション寿命測定
法の第1の実施例に用い得る。
【実施例2】 次に、第4図を伴って本発明による配線層のエレクトロ
マイグレーション寿命測定法、及びそれに用いる装置の
第2の実施例を述べよう。 第4図において、第1図との対応部分には同一符号を付
し、詳細説明を省略する。 まず、本発明による配線層のエレクトロマイグレーショ
ン寿命測定用装置の第2の実施例について述べるに、第
1図で上述した本発明による配線層のエレクトロマイグ
レーション寿命測定用装置の第1の実施例において、そ
の「接続端子P2」が「接続端子P3」と読み替えられ、従
って、配線層11が接続される接続端子P1及びP2を有し、
また、配線層12が接続される接続端子P2及びP4を有し、
さらに、接続端子P1及びP2を選択する選択スイッチ5を
有し、従って、電流供給路L1及びL2が選択スイッチ5を
通じて接続端子P1及びP2、及びP3及びP2に選択的に接続
されることを除いて、第4図で上述した本発明による配
線層のエレクトロマイグレーション寿命測定用装置の第
2の実施例の場合と同様の構成を有する。 次に、本発明による配線層のエレクトロマイグレーショ
ン寿命測定法の第3の実施例について述べるに、第1図
で上述した本発明による配線層のエレクトロマイグレー
ション寿命測定法の第2の実施例において、配線層11及
び12に、選択スイッチ5を介して、洗濯的に直流電流I1
及びI2がそれぞれ供給されることを除いて、第1図で上
述した本発明による配線層のエレクトロマイグレーショ
ン寿命測定法の第1の実施例と同様である。 上述した本発明による配線層のエレクトロマイグレーシ
ョン寿命測定法の第2の実施例によれば、上述した事項
を除いて、上述した本発明による配線層のエレクトロマ
イグレーション寿命測定法の第1の実施例の場合と同様
であるので、詳細説明は省略するが、上述した本発明に
よる配線層のエレクトロマイグレーション寿命測定法の
第1の実施例の場合と同様の作用効果が得られる。 また、上述した本発明による配線層のエレクトロマイグ
レーション寿命測定用装置の第2の実施例によれば、上
述した事項を除いて、上述した本発明による配線層のエ
レクトロマイグレーション寿命測定用装置の第1の実施
例の場合と同様の構成を有するので、詳細説明は省略す
るが、上述した本発明による配線層のエレクトロマイグ
レーション寿命測定用装置の第2の実施例の場合と同様
の作用効果が得られる。
【実施例3】 次に、第5図を伴って本発明による配線層のエレクトロ
マイグレーション寿命測定法、及びそれに用いる装置の
第3の実施例を述べよう。 第5図において、第4図との対応部分には同一符号を付
し、詳細説明を省略する。 まず、本発明による配線層のエレクトロマイグレーショ
ン寿命測定用装置の第3の実施例について述べるに、第
4図で上述した本発明による配線層のエレクトロマイグ
レーション寿命測定用装置の第2の実施例において、そ
の接続端子P3及びP4が、第1及び第2の配線層11及び12
の他端がともに接続される1つの接続端子P5に置換さ
れ、従って、「接続端子P3及びP4」を「接続端子P5」と
読み替えたことを除いて、第4図で上述した本発明によ
る配線層のエレクトロマイグレーション寿命測定用装置
の第2の実施例の場合と同様の構成を有する。 次に、本発明による配線層のエレクトロマイグレーショ
ン寿命測定法の第3の実施例について述べるに、第4図
で上述した本発明による配線層のエレクトロマイグレー
ション寿命測定法の第2の実施例において、「接続端子
P3及びP4」を「接続端子P5」と読み替えたことを除い
て、第4図で上述した本発明による配線層のエレクトロ
マイグレーション寿命測定法の第2の実施例と同様であ
る。 上述した本発明による配線層のエレクトロマイグレーシ
ョン寿命測定法の第3の実施例によれば、上述した事項
を除いて、上述した本発明による配線層のエレクトロマ
イグレーション寿命測定法の第2の実施例の場合と同様
であるので、詳細説明は省略するが、上述した本発明に
よる配線層のエレクトロマイグレーション寿命測定法の
第2の実施例の場合と同様の作用効果が得られる。 また、上述した本発明による配線層のエレクトロマイグ
レーション寿命測定用装置の第3の実施例によれば、上
述した事項を除いて、上述した本発明による配線層のエ
レクトロマイグレーション寿命測定用装置の第2の実施
例の場合と同様の構成を有するので、詳細説明は省略す
るが、上述した本発明による配線層のエレクトロマイグ
レーション寿命測定用装置の第2の実施例の場合と同様
の作用効果が得られる。
【実施例4】 次に、第6図を伴って本発明による配線層のエレクトロ
マイグレーション寿命測定法、及びそれに用いる装置の
第4の実施例を述べよう。 第6図において、第4図との対応部分には同一符号を付
し、詳細説明を省略する。 まず、本発明による配線層のエレクトロマイグレーショ
ン寿命測定用装置の第3の実施例について述べるに、第
4図で上述した本発明による配線層のエレクトロマイグ
レーション寿命測定用装置の第2の実施例において、電
流供給路L1及びL2が、接続端子P1及びP2に接続されてい
る電流供給路L1及びL2、及び接続端子P3及びP2に接続さ
れている電流供給路L21及びL22に置換され、これに応じ
て、電圧または抵抗測定器3が、接続端子P1及びP2の電
圧または抵抗を測定する電圧または抵抗測定器31と、接
続端子P3及びP4の電圧または抵抗を測定する電圧または
抵抗測定器32とに置換されていることを除いて、第4図
で上述した本発明による配線層のエレクトロマイグレー
ション寿命測定用装置の第2の実施例の場合と同様の構
成を有する。 次に、本発明による配線層のエレクトロマイグレーショ
ン寿命測定法の第4の実施例について述べるに、第4図
で上述した本発明による配線層のエレクトロマイグレー
ション寿命測定法の第2の実施例において、配線層11に
直流電流I1を供給するとき「電流供給路L1及びL2」を、
「電流供給路L11及びL12」と読み替え且つ「電圧または
抵抗測定器3」を「電圧または抵抗測定器31」に読み替
え、また、配線層12に直流電流I2を供給するとき「電流
供給路L1及びL2」を、「電流供給路L21及びL22」と読み
替え且つ「電圧または抵抗測定器3」を「電圧または抵
抗測定器32」に読み替えたことを除いて、第4図で上述
した本発明による配線層のエレクトロマイグレーション
寿命測定法の第2の実施例と同様である。 上述した本発明による配線層のエレクトロマイグレーシ
ョン寿命測定法の第4の実施例によれば、上述した事項
を除いて、上述した本発明による配線層のエレクトロマ
イグレーション寿命測定法の第2の実施例の場合と同様
であるので、詳細説明は省略するが、上述した本発明に
よる配線層のエレクトロマイグレーション寿命測定法の
第2の実施例の場合と同様の作用効果が得られる。 また、上述した本発明による配線層のエレクトロマイグ
レーション寿命測定用装置の第4の実施例によれば、上
述した事項を除いて、上述した本発明による配線層のエ
レクトロマイグレーション寿命測定用装置の第2の実施
例の場合と同様の構成を有するので、詳細説明は省略す
るが、上述した本発明による配線層のエレクトロマイグ
レーション寿命測定用装置の第2の実施例の場合と同様
の作用効果が得られる。
【実施例5】 次に、第7図を伴って本発明による配線層のエレクトロ
マイグレーション寿命測定法、及びそれに用いる装置の
第5の実施例を述べよう。 第7図において、第6図との対応部分には同一符号を付
し、詳細説明を省略する。 まず、本発明による配線層のエレクトロマイグレーショ
ン寿命測定用装置の第5の実施例について述べるに、第
6図で上述した本発明による配線層のエレクトロマイグ
レーション寿命測定用装置の第4の実施例において、そ
の接続端子P3及びP4が、第1及び第2の配線層11及び12
の他端がともに接続される1つの接続端子P5に置換さ
れ、従って、「接続端子P3及びP4」を「接続端子P5」と
読み替えたことを除いて、第6図で上述した本発明によ
る配線層のエレクトロマイグレーション寿命測定用装置
の第4の実施例の場合と同様の構成を有する。 次に、本発明による配線層のエレクトロマイグレーショ
ン寿命測定法の第5の実施例について述べるに、第6図
で上述した本発明による配線層のエレクトロマイグレー
ション寿命測定法の第2の実施例において、「接続端子
P3及びP4」を「接続端子P5」と読み替えたことを除い
て、第6図で上述した本発明による配線層のエレクトロ
マイグレーション寿命測定法の第2の実施例と同様であ
る。 上述した本発明による配線層のエレクトロマイグレーシ
ョン寿命測定法の第5の実施例によれば、上述した事項
を除いて、上述した本発明による配線層のエレクトロマ
イグレーション寿命測定法の第4の実施例の場合と同様
であるので、詳細説明は省略するが、上述した本発明に
よる配線層のエレクトロマイグレーション寿命測定法の
第4の実施例の場合と同様の作用効果が得られる。 また、上述した本発明による配線層のエレクトロマイグ
レーション寿命測定用装置の第5の実施例によれば、上
述した事項を除いて、上述した本発明による配線層のエ
レクトロマイグレーション寿命測定用装置の第4の実施
例の場合と同様の構成を有するので、詳細説明は省略す
るが、上述した本発明による配線層のエレクトロマイグ
レーション寿命測定用装置の第4の実施例の場合と同様
の作用効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による配線層のエレクトロマイグレー
ション寿命測定法、及びそれに用いる装置の第1の実施
例を示す系統的接続図である。 第2図及び第3図は、その説明に供する電流波形を示す
図である。 第4図、第5図、第6図及び第7図は、本発明による配
線層のエレクトロマイグレーション寿命測定法、及びそ
れに用いる装置の第2、第3、第4及び第5の実施例を
示す系統的接続図である。 第8図は、従来の配線層のエレクトロマイグレーション
寿命測定法、及びそれに使用する装置を示す系統的接続
図である。 第9図は、その説明に供する電流波形を示す図である。 2……電流源 3……抵抗測定器 4……時間測定器 5……選択スイッチ 11……第1の配線層 12……第2の配線層 I……直流電流 L1、L2、L11、L12、L21、L22……電流供給路 P1、P2、P3、P4、P5……接続端子

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】測定せんとする配線層として、同じ2つの
    第1及び第2の配線層を用意し、 上記第1の配線層に、第1の直流電流を、第1の方向に
    連続的に供給することを、当該第1の配線層が断線する
    まで行い、その断線までの時間T1を測定することと、上
    記第2の配線層に、上記第1の直流電流と同じ値の第2
    の直流電流を、第1の方向に連続的に供給し、次で上記
    第1の方向とは逆の第2の方向に連続的に供給すること
    とを、当該第2の配線層が断線するまで順次交互に繰返
    し行い、その断線までの時間T2を測定することとを、時
    間的に前後してまたは同時的に行い、 上記時間T1及びT2から、TE=T1・T2/(T2−T1)で表さ
    れる時間TEを測定せんとする配線層のエレクトロマイグ
    レーション寿命として測定することを特徴とする配線層
    のエレクトロマイグレーション寿命測定法。
  2. 【請求項2】測定せんとする配線層として用意された第
    1及び第2の配線層が選択的に接続される第1及び第2
    の接続端子と、 上記第1及び第2の接続端子間に選択的に接続される第
    1及び第2の配線層に、上記第1及び第2の接続端子を
    通じて電流を供給させる電流供給路と、 上記第1及び第2の接続端子間に上記第1の配線層が接
    続されているとき、上記電流供給路を通じて上記第1の
    配線層に第1の方向に供給する第1の直流電流を出力
    し、上記第1及び第2の接続端子間に上記第2の配線層
    が接続されているとき、上記電流供給路を通じて上記第
    2の配線層に第1の方向に供給し、次で第1の方向とは
    逆の第2の方向に供給することを交互順次に繰返す上記
    第1の直流電流と同じ値の第2の直流電流を出力する電
    流源と、 上記第1及び第2の接続端子間の電圧または抵抗を測定
    する電圧または抵抗測定器と、 上記電圧または抵抗測定器からの、上記第1及び第2の
    接続端子間に上記第1の配線層を接続し且つ上記電流源
    から上記第1の直流電流を出力させたときに得られる測
    定出力から、上記第1の配線層への上記第1の直流電流
    の供給開始時点から上記第1の配線層が断線する時点ま
    で時間T1を測定し、且つ上記電圧または抵抗測定器から
    の、上記第1及び第2の接続端子間に上記第2の配線層
    を接続し且つ上記電流源から上記第2の直流電流を出力
    させたときに得られる測定出力から、上記第2の配線層
    への上記第2の直流電流の供給開始時点から上記第2の
    配線層が断線する時点まで時間T2を測定するとともに、
    上記時間T1及びT2から、TE=T1・T2/(T1−T2)で表さ
    れる時間TEを測定せんとする配線層のエレクトロマイグ
    レーション寿命として測定する時間測定器とを有するこ
    とを特徴とする配線層のエレクトロマイグレーション寿
    命測定用装置。
  3. 【請求項3】測定せんとする配線層として用意された第
    1及び第2の配線層の一端がそれぞれ接続される第1及
    び第2の接続端子と、 上記第1及び第2の配線層の他端がそれぞれ接続される
    第3及び第4の接続端子または上記第1及び第2の配線
    層の他端がともに接続される第5の接続端子と、 上記第1及び第2の接続端子を選択する選択スイッチ
    と、 上記第1の接続端子及び上記第3または第5の接続端子
    間、及び上記第2の接続端子及び上記第4または第5の
    接続端子間に上記選択スイッチを通じてそれぞれ接続さ
    れる第1及び第2の配線層に、上記選択スイッチを通じ
    且つ上記第1の接続端子及び上記第3または第5の接続
    端子、及び上記第2の接続端子及び上記第4または第5
    の接続端子をそれぞれ通じて電流を供給させる電流供給
    路と、 上記第1の接続端子及び上記第3または第5の接続端子
    間に上記選択スイッチを通じて上記第1の配線層が接続
    されているとき、上記電流供給路を通じて上記第1の配
    線層に第1の方向に供給する第1の直流電流を出力し、
    上記第2の接続端子及び上記第4または第5の接続端子
    間に上記選択スイッチを通じて上記第2の配線層が接続
    されているとき、上記電流供給路を通じて上記第2の配
    線層に第1の方向に供給し、次で第2の方向に供給する
    ことを交互順次に繰返す上記第1の直流電流と同じ値の
    第2の直流電流を出力する電流源と、 上記第1の接続端子及び上記第3または第5の接続端子
    間、及び上記第2の接続端子及び上記第4または第5の
    接続端子間の電圧または抵抗を測定する電圧または抵抗
    測定器と、 上記電圧または抵抗測定器からの、上記第1の接続端子
    及び上記第3または第5の接続端子間に上記第1の配線
    層を接続し且つ上記電流源から上記第1の直流電流を出
    力させたときに得られる出力から、上記第1の配線層へ
    の上記第1の直流電流の供給開始時点から上記第1の配
    線層が断線する時点まで時間T1を測定し、且つ上記電圧
    または抵抗測定器からの、上記第2の接続端子及び上記
    第4または第5の接続端子間に上記第2の配線層を接続
    し且つ上記電流源から上記第2の直流電流を出力させた
    ときに得られる出力から、上記第2の配線層への上記第
    2の直流電流の供給開始時点から上記第2の配線層が断
    線する時点まで時間T2を測定するとともに、上記時間T1
    及びT2から、TE=T1・T2/(T1−T2)で表される時間TE
    を測定せんとする配線層のエレクトロマイグレーション
    寿命として測定する時間測定器とを有することを特徴と
    する配線層のエレクトロマイグレーション寿命測定用装
    置。
  4. 【請求項4】測定せんとする配線層として用意された第
    1及び第2の配線層の一端がそれぞれ接続される第1及
    び第2の接続端子と、 上記第1及び第2の配線層の他端がそれぞれ接続される
    第3及び第4の接続端子または上記第1及び第2の配線
    層の他端がともに接続される第5の接続端子と、 上記第1の接続端子及び上記第3または第5の接続端子
    間に接続される第1の配線層に、上記第1の接続端子及
    び上記第3または第5の接続端子を通じて電流を供給さ
    せる第1の電流供給路と、 上記第2の接続端子及び上記第4または第5の接続端子
    間に接続される第2の配線層に、上記第2の接続端子及
    び上記第4または第5の接続端子を通じて電流を供給さ
    せる第2の電流供給路と、 上記第1の電流供給路を通じて上記第1の配線層に第1
    の方向に供給する第1の直流電流を出力し、且つ上記第
    2の電流供給路を通じて上記第2の配線層に第1の方向
    に供給し、次で第2の方向に供給することを交互順次に
    繰返す上記第1の直流電流と同じ値の第2の直流電流を
    出力する電流源と、 上記第1の接続端子及び上記第3または第5の接続端子
    間の電圧または抵抗を測定する第1の電圧または抵抗測
    定器と、 上記第2の接続端子及び上記第4または第5の接続端子
    間の電圧または抵抗を測定する第2の電圧または抵抗測
    定器と、 上記第1の電圧または抵抗測定器からの、上記電流源か
    ら上記第1の直流電流を出力させたときに得られる出力
    から、上記第1の配線層への上記第1の直流電流の供給
    開始時点から上記第1の配線層が断線する時点まで時間
    T1を測定し、且つ上記第2の電圧または抵抗測定器から
    の、上記電流源から上記第2の直流電流を出力させたと
    きに得られる出力から、上記第2の配線層への上記第2
    の直流電流の供給開始時点から上記第2の配線層が断線
    する時点まで時間T2を測定するとともに、上記時間T1
    びT2から、TE=T1・T2/(T1−T2)で表される時間TE
    測定せんとする配線層のエレクトロマイグレーション寿
    命として測定する時間測定器とを有することを特徴とす
    る配線層のエレクトロマイグレーション寿命測定用装
    置。
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