JPH07312254A - 導通接触端子 - Google Patents

導通接触端子

Info

Publication number
JPH07312254A
JPH07312254A JP6139274A JP13927494A JPH07312254A JP H07312254 A JPH07312254 A JP H07312254A JP 6139274 A JP6139274 A JP 6139274A JP 13927494 A JP13927494 A JP 13927494A JP H07312254 A JPH07312254 A JP H07312254A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contactor
liquid crystal
conductive contact
crystal cell
contact terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6139274A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2668653B2 (ja
Inventor
Yasuyuki Hitomi
保幸 人見
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nittoseiko Co Ltd
Original Assignee
Nittoseiko Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nittoseiko Co Ltd filed Critical Nittoseiko Co Ltd
Priority to JP6139274A priority Critical patent/JP2668653B2/ja
Publication of JPH07312254A publication Critical patent/JPH07312254A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2668653B2 publication Critical patent/JP2668653B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Connector Housings Or Holding Contact Members (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Non-Insulated Conductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】接触子の折損を防止するとともに、接触子が液
晶セルのパターンからずれることのない導通接触端子を
提供することを目的とする。 【構成】複数本の接触子2を等間隔に配列し、これらの
先端が所定量突出するように絶縁部材であるPガラス4
とホルダ5とによって挾持した導通接触端子1であっ
て、ホルダ5の先端付近には弾性体であるシリコンゴム
6が接着固定されている。このシリコンゴム6には前記
接触子2が先端を僅かにシリコンゴム6から突出させて
接着固定されている。 【効果】本願発明の導通接触端子は、接触子をシリコン
ゴムによって支持しているため、接触子においてある位
置に集中して応力が作用することがなくなり、接触子の
折損等の破損を避けることができる。しかも、シリコン
ゴムから突出する接触子先端は僅かであるため、接触子
を液晶セルのパターン等に押し付けた際に接触子がパタ
ーンからずれることがない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば液晶セルの点灯
試験に使用される導通接触端子に関する。
【0002】
【従来の技術】近年液晶分野における技術の発展は目覚
ましく、液晶技術を用いた製品が数多く一般に普及する
に至っている。これらの液晶製品は例えば液晶テレビモ
ニタに代表されるように、液晶による映像、あるいは文
字、数字等を表示する液晶ディスプレイを備えている。
この液晶ディスプレイには必ず液晶セルが使用される。
この液晶セルは、基本的な構造としてテフロン粒子など
で一方向に擦って処理した2枚の透明電極を摩擦方向が
互いに直角となるように対向して配置し、この間に液晶
分子膜を挟んだもので、このような方式のものは一般に
TNモードと称呼される。このTNモードの他に、最近
のカラー表示に対応して液晶分子膜に少量の二色性色素
を混合したゲストーホスト型に代表されるカラー表示対
応の液晶セルも多く生産され、一般に広く使用されてい
る。
【0003】このような液晶セルにおいて、その生産工
程における製品検査は極めて高精度が要求される。それ
というのも、液晶セルの透明電極には図8及び図9に示
すように液晶分子の配向を電場によって制御するため
に、多数のパターン8aと称される電線がピッチ100
〜160μmという間隔で格子状に張り巡らされてお
り、このうちの1本でも何らかの欠陥で導通しないもの
があれば液晶表示に即座に影響してくるためである。そ
のため、液晶セル8は完成時にその縁部に渡って表示部
8bを囲んでコの字状に設けられるパターン8aの検査
部8cに図10乃至図12に示す点灯試験用の導通接触
端子50を押し付けて点灯検査が行われる。
【0004】この導通接触端子50はパターン8aのピ
ッチに相当するピッチに配列された1本1本が極めて繊
細な横断面積の接触子51を有し、この接触子51はそ
の後方でガラス板等の絶縁部材52に挾持され、さらに
後端には液晶セル点灯試験用の試験機におけるドライブ
基板に接続される電子基板(図示せず)が接続される。
このような導通接触端子50における接触子51の絶縁
部材52からの突出量は、接触子51を液晶セル8のパ
ターン8aに押しつけた際にパターン8aに対して充分
に撓み、パターン8aとの接触面積を多く得ることが可
能なように2mmから4mm程度と、横断面積に対して
比較的長く設定されいる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記構成の
導通接触端子50を用いて液晶セル8の点灯試験に臨む
と、導通接触端子50の接触子51が極めて繊細で、か
つ絶縁部材52からの接触子51の突出量が多いため、
接触子51のピッチ安定性が乏しく、導通接触端子50
を液晶セル8の検査部8cに押しつけた際に接触子51
がパターン8aからずれてしまい、隣接するパターン8
aに接触して短絡してしまうことが多々ある。このこと
によって、液晶セル8の表示面8bの点灯状態は短絡し
ている接触子51に対応するパターン8aが点灯してい
ない状態、即ち表示面に無点灯部が線となって表示され
ている状態となる。これは線欠陥と見なされてその液晶
セル8は不良品として摘出される。このように、上記構
成の導通接触端子50を用いて液晶セル8の点灯試験を
行うと、実際は不良要素を有しない液晶セル8をも不良
品として摘出してしまうため、点灯試験の信頼性が失わ
れてしまい、以後の点灯試験を行うことができない等の
欠点が指摘されている。
【0006】また、接触子51の撓みは接触子51とな
る金属材料の弾性力のみに頼っているため、各接触子5
1の幅及び厚みが極めて微少であることも影響して各接
触子51への荷重力の伝達が一様に行われず、パターン
8aとの導通抵抗が不安定となり、液晶セル8の点灯状
態に不良条件となる点灯斑等が発生してしまうととも
に、繰り返し使用によって絶縁部材52の挾持部で接触
子51の金属疲労が進み、この部分から容易に折損等の
破損を生じてしまう等の欠点も挙げられる。
【0007】本発明は上記課題に鑑みて創成されたもの
であり、接触子の曲がり及び折損を防止し、接触圧を常
に安定させるとともに、接触子がパターンからずれるこ
とのない導通接触端子を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、複数本の接触子を等間隔に配列し、これらの先端が
所定量突出するように絶縁部材で挾持した導通接触端子
において、絶縁部材の先端付近に弾性体を設け、この弾
性体により接触子を保持するように構成されている。
【0009】
【作用】上記構成の導通接触端子を用いて液晶セルの点
灯試験を行う際には、先ず導通接触端子の接触子を液晶
セルのパターンに対して傾斜させて一致させ、その後、
導通接触端子を下降させて接触子に垂直方向の荷重を負
荷する。すると、弾性体はその荷重力によって変形し、
この弾性体に支持された接触子もこれと一体となって撓
みを生じる。このとき、絶縁部材から突出する接触子の
大半は弾性体に支持されているから、接触子の何者にも
支持されない部分は僅かとなり、接触子のピッチ安定性
が向上される。
【0010】接触子が液晶セルの検査部に押し付けられ
た状態において全ての接触子に電流を負荷すると、液晶
セルの表示部は点灯状態となる。このとき、液晶セルの
パターンに何らかの異常がある場合、液晶セルの表示部
の点灯にも異常があらわれ、その液晶セルは不良品とし
て摘出される。また液晶セルに異常がない場合は全ての
パターンに電流が導通し、液晶セルの表示部は全て斑な
く点灯した状態となる。
【0011】このようにして液晶セルの良否を判定して
後、導通接触端子を上昇させると、接触子にかかってい
た荷重は除去され、接触子は撓んだ状態から真直な状態
に復帰する。このとき、接触子はそれまで撓んでいたこ
とにより完全に元の形状まで戻ることはないが、弾性体
の弾性力のほうが圧倒的に接触子のそれを上回ることか
ら、荷重が加えられることにより変形していた弾性体が
元の形状に復帰するときの復帰力によって、接触子は容
易に真直となる。
【0012】
【実施例】以下図面に基づき本発明の一実施例を説明す
る。図1乃至図5において1は導通接触端子であり、被
測定物である液晶セル8の表示面を囲むように配置され
るパターン8aに対応して等間隔に複数本並べられる接
触子2と、この接触子2の後方に位置し接触子2と連結
される中継基板3と、これら接触子2と中継基板3とが
接着固定される絶縁部材であるPガラス4と称されるガ
ラス板と、接触子2及び中継基板3の上面に位置し、こ
れらを前記Pガラス4とで挾持する絶縁部材である樹脂
材からなるホルダ5と、このホルダ5先端下面側に位置
し、ホルダ5、接触子2両方に接着固定される弾性体で
あるシリコンゴム6と、以上の構成が載置固定されるベ
ースガラス板7とからなる。
【0013】前記接触子2は、厚さ、幅共に極めて微細
な寸法の板材をピッチPの間隔をおいて複数本並列にか
つ隣接する板材が相互に接触しないように配列したもの
であり、詳細を後述する液晶セル8の点灯試験時には直
接液晶セル8のパターン8aに接触する部品である。本
実施例において、接触子2はピッチP=160μmの間
隔で150本配列される導通接触端子の例について述べ
るが、導通接触端子の種類は、例えば接触子のピッチP
が90μm、140μm等極めて煩雑である。この接触
子2の後方には、半導体の結線時に用いられるボンディ
ング処理2aにより接触子2の1本1本を結線する中継
基板3が設けられており、この中継基板3の後端には図
示しない液晶セルの点灯試験機に接続され、接触子2か
らの導通信号を制御するためのTAB−IC3aと称呼
するIC基板が接続されている。
【0014】前記液晶セル8は図8及び図9に示すよう
に液晶分子を挾持する2枚の透明電極からなる表示部8
bを備え、この表示部8bにおける透明電極には液晶分
子の配向を電場によって制御するために、多数のパター
ン8aと称される電線がピッチ160μmという間隔で
格子状に張り巡らされている。このパターン8aは液晶
セル8の縁部において検査部8cとして区画されて配置
されている。この検査部8cは液晶セル8の縁部を囲む
ようにコの字状に配置され、液晶セル8の点灯試験時に
はここにそれぞれ本導通接触端子1が当接するように構
成されている。
【0015】前述の接触子2及び中継基板3の下面はP
ガラス4に接着固定されている。このPガラス4は透明
なガラス板よりなる絶縁部材であり、接触子2側、中継
基板3側にそれぞれ1枚づつ設けられ、それぞれ接触子
2、中継基板3を下方向から保持する。これらPガラス
4はPガラス4よりも若干肉厚の厚いベースガラス板7
に載置固定されている。このベースガラス板7もPガラ
ス4同様透明なガラス板である。また、接触子2及び中
継基板3の上方には、絶縁部材である樹脂材によって形
成されるホルダ5が位置している。このホルダ5にはそ
の幅方向に渡って2つの脚部5a,5aが形成され、前
方の脚部5aには接触子2の上面が、また後方の脚部5
aには中継基板3の上面がそれぞれ接着固定される。こ
のように接触子2及び中継基板3はそれぞれ絶縁部材で
あるPガラス4とホルダ5とによって挾持されるように
構成される。
【0016】前記ホルダ5は点灯試験機に導通接触端子
1を取付ける際に使用されるもので、その上面には取付
けに適したねじ穴5bが穿設されている。また、このホ
ルダ5の下部先端はその断面形状が鋭角に形成され、接
触子2先端上方に延び、接触子2と一定の間隔を置いて
位置するように構成される。
【0017】前記ホルダ5下部先端と接触子2の間には
導通接触端子1の全幅に渡って弾性体であるシリコンゴ
ム6が嵌入され、ホルダ5、接触子2それぞれに両面テ
ープあるいは接着剤等を用いて固定されている。このシ
リコンゴム6はPガラス4から突出する接触子2の長さ
方向の大半を覆うように構成されており、接触子2が撓
んだときにその撓みをシリコンゴム6の弾性力によって
支えるように構成される。また、このシリコンゴム6の
前面にはシリコンゴム6の厚さがホルダ5側に向かうに
従って増すように傾斜面6aが形成され、導通接触端子
1の接触子2を液晶セル8のパターン8aに押し付けた
際にシリコンゴム6が柔軟に変形するように構成されて
いる。また、このシリコンゴム6の下面に接着固定され
る接触子2の先端はシリコンゴム6から図5中m分前方
に突出する。この図5に示す突出量mは本実施例におい
て約0.5mmである。
【0018】前述のようにシリコンゴム6の接着手段と
しては両面テープあるいは接着剤を使用すれば良いが、
接着剤を使用するとシリコンゴム6下面と接触子2を接
着する際に接着剤の流動によって接触子2が一体に流動
してしまい、接触子2のピッチが損なわれることが多い
ため、本実施例においては両面テープを用いて接触子2
及びホルダとシリコンゴム6とを接着固定するように構
成している。
【0019】上記構成の導通接触端子1を用いて液晶セ
ル8の点灯試験を行う際には、先ず図6(a)及び図7
(a)に示すように導通接触端子1の接触子2を液晶セ
ル8のパターン8aの検査部8cに対して一定の角度に
傾斜させて一致させ、その後、図6(b)及び図7
(b)に示すように導通接触端子1を下降させて接触子
2に垂直方向の荷重を負荷する。すると、シリコンゴム
6はその荷重力によって変形し、このシリコンゴム6に
支持された接触子2もこれと一体となって撓みを生じ
る。このとき、ホルダ5及びPガラス4の挾持部から突
出する接触子2の大半はシリコンゴム6に支持されてい
るから、接触子2の何者にも支持されない部分は僅かと
なり、接触子2のピッチ安定性が向上する。
【0020】続いて接触子2がパターン8aの検査部8
cに押し付けられた状態において、全ての接触子2に電
流を負荷すると、液晶セル8の表示部8bは点灯状態と
なる。このとき、液晶セル8のパターン8aに何らかの
異常がある場合、液晶セル8の表示部8bの点灯にも異
常があらわれ、その液晶セル8は不良品として摘出され
る。異常パターン8aを有する液晶セル8の点灯状態の
具体例には、異常パターン8aの位置だけ線状に点灯し
ない線欠陥、パターン8aの導通抵抗のばらつきによっ
て生じる点灯の斑等が挙げられる。また液晶セル8に異
常がない場合は全てのパターン8aに電流が導通し、液
晶セル8の表示部8bは全点灯と称呼される表示部8b
が全て斑なく点灯した状態となり、良品として摘出され
る。
【0021】このようにして液晶セル8の良否を判定し
て後、導通接触端子1を上昇させると、接触子2にかか
っていた荷重は除去され、接触子2は撓んだ状態から真
直な状態に復帰する。このとき、接触子2はそれまで撓
んでいたことにより完全に元の形状まで戻ることはない
が、本導通接触端子1においては、シリコンゴム6の弾
性力のほうが圧倒的に接触子2のそれを上回ることか
ら、荷重が加えられることにより変形していたシリコン
ゴム6が元の形状に復帰するときの復帰力によって接触
子2は容易に真直となる。
【0022】この液晶セル8の点灯試験工程において、
従来であれば接触子2をパターン8aの検査部8cへ押
し付ける際に、接触子2は金属的な弾性力のみによって
撓んでいたが、本導通接触端子1において接触子2の撓
みはシリコンゴム6の弾性力によって支えられるため、
接触子2の撓みから生じる疲労を最小限に抑制すること
ができ、また接触子2への荷重を解除して後の接触子2
の原形復帰を補助することができる。しかも、シリコン
ゴム6の弾性力によって各接触子2には一様に導通接触
端子1の下降による荷重が作用し、このことによって各
接触子2を一様に撓ませることが可能である。さらに、
接触子2のPガラス4からの突出量は従来と大きく異な
るものではないが、液晶セル8のパターン8aに接触す
る必要最小限の突出部分を残して、その大半を接触子2
と一体に撓むシリコンゴム6で接着固定することによっ
て、各接触子2が隣接する接触子2に干渉することを防
止している。
【0023】また、本導通接触端子1におけるシリコン
ゴム6の前面には傾斜面6aが形成されることは先に述
べたが、このようにシリコンゴム6の前面に傾斜面6a
を設けることによってシリコンゴム6の厚さは接触子2
の先端に向かうに従って次第に薄くなる傾向をとる。こ
のことによってシリコンゴム6に荷重がかかった際の変
形量は先端に向かうに従って次第に大きくなる。従っ
て、点灯試験時に導通接触端子1を液晶セル8のパター
ン8aに押し付けた際に、接触子2は滑らかな略円弧状
に撓む。
【0024】尚、本実施例において、弾性体として特殊
合成ゴムの一種であるシリコンゴムを選択したが、これ
はシリコンゴムが電気絶縁性、耐熱性、耐寒性に優れた
特性を有するためである。ここで、耐熱性、耐寒性を選
定の基準としたことは、導通接触端子において、温度変
化による弾性体の変形によって接触子のピッチが変わっ
てしまうためである。このような弾性体としては、本導
通接触端子のシリコンゴム以外にも、フッ化シリコンゴ
ム、フッ素ゴム等の耐熱性及び耐寒性に優れた特性を示
すゴム材料の使用が考えられる。また、本導通接触端子
は液晶セルの点灯試験のみに適用されるものではなく、
他の電子基板等における等間隔をおいて並列に配置され
たパターン部の点灯試験に対しても容易に適用可能であ
る。
【0025】
【発明の効果】以上詳述のとおり本願発明の導通接触端
子は、絶縁部材であるPガラスとホルダとに挾持される
複数本の接触子のPガラス及びホルダの挾持部から突出
する先端の大半を、ホルダの先端に設けられる弾性体で
あるシリコンゴムによって支持する構成であるため、接
触子に荷重をかけた際の接触子の撓みは弾性体の変形に
依存し、また荷重を除去した際の接触子の元の形状への
復帰も弾性体の復帰力によって行われる。このことによ
って、接触子の耐久性を増すことができ、また接触子が
撓んだときにPガラス及びホルダによって挾持された位
置に集中して応力が作用することがなくなり、この位置
での接触子の折損等の破損を避けることができる。しか
も、接触子がシリコンゴムにより支持されていることか
ら、接触子が何者にも支持されない部分が0.5mm程
度と非常に僅かとなり、このことによって、接触子のピ
ッチが安定し、接触子を液晶セルのパターンの検査部に
押し付けた際に接触子がパターンからずれることがな
く、常に正確な点灯試験を行うことが可能となる等の利
点がある。以上詳述のとおり本発明の導通接触端子はそ
の構成によって優れた特有の効果を有するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る導通接触端子の斜視図である。
【図2】 本発明に係る導通接触端子の側面図である。
【図3】 本発明に係る導通接触端子の平面図である。
【図4】 図3の要部拡大図であって接触子の配列状態
を示すものである。
【図5】 図2の要部拡大断面図であって、シリコンゴ
ムのホルダ及び接触子への取付け状態を示すものであ
る。
【図6】 本発明に係る導通接触端子の動作説明図であ
って、(a)は荷重を負荷する前、(b)は荷重を負荷
して後の導通接触端子先端を示すものである。
【図7】 本発明に係る導通接触端子の動作説明図であ
って、(a)は荷重を負荷する前、(b)は荷重を負荷
して後のそれぞれの接触子のピッチを示すものである。
【図8】 液晶セルの簡略説明図である。
【図9】 図8の 部拡大図であって、パターンの配列
を示すものである。
【図10】 従来の導通接触端子の側面図である。
【図11】 従来の導通接触端子の動作説明図であっ
て、(a)は荷重を負荷する前、(b)は荷重を負荷し
て後の接触子の撓みの状態を示すものである。
【図12】 従来の導通接触端子の動作説明図であっ
て、(a)は荷重を負荷する前、(b)は荷重を負荷し
て後の接触子と液晶セルのパターンとの一致状態を示す
ものである。
【符号の説明】
1 導通接触端子 2 接触子 3 中継基板 4 Pガラス 5 ホルダ 5a 脚部 5b ねじ穴 6 シリコンゴム 6a 傾斜面 7 ベースガラス板 8 液晶セル 8a パターン 8b 表示部 8c 検査部 P 接触子のピッチ=160μm m 接触子先端のシリコンゴムからの突出量=0.
5mm

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数本の接触子を等間隔に配列し、これら
    の先端が所定量突出するように絶縁部材で挾持した導通
    接触端子において、 絶縁部材の先端付近に弾性体を設け、この弾性体により
    絶縁部材から突出する接触子先端の大半を保持し、僅か
    に接触子先端を弾性体から突出させたことを特徴とする
    導通接触端子。
JP6139274A 1994-05-17 1994-05-17 導通接触端子 Expired - Lifetime JP2668653B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6139274A JP2668653B2 (ja) 1994-05-17 1994-05-17 導通接触端子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6139274A JP2668653B2 (ja) 1994-05-17 1994-05-17 導通接触端子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07312254A true JPH07312254A (ja) 1995-11-28
JP2668653B2 JP2668653B2 (ja) 1997-10-27

Family

ID=15241473

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6139274A Expired - Lifetime JP2668653B2 (ja) 1994-05-17 1994-05-17 導通接触端子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2668653B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006145514A (ja) * 2004-10-19 2006-06-08 Micronics Japan Co Ltd プローブ組立体
JP2012519867A (ja) * 2009-03-10 2012-08-30 プロ−2000・カンパニー・リミテッド パネルテストのためのプローブユニット
JP2012519869A (ja) * 2009-03-12 2012-08-30 プロ−2000・カンパニー・リミテッド フィルム型パッケージをテストするためのプローブカード

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04297876A (ja) * 1991-03-27 1992-10-21 Nippon Maikuronikusu:Kk 表示パネル用プローバ
JPH0584869U (ja) * 1992-04-20 1993-11-16 日東精工株式会社 ガラス基板バーイン用微細パターン導通接触端子

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04297876A (ja) * 1991-03-27 1992-10-21 Nippon Maikuronikusu:Kk 表示パネル用プローバ
JPH0584869U (ja) * 1992-04-20 1993-11-16 日東精工株式会社 ガラス基板バーイン用微細パターン導通接触端子

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006145514A (ja) * 2004-10-19 2006-06-08 Micronics Japan Co Ltd プローブ組立体
JP2012519867A (ja) * 2009-03-10 2012-08-30 プロ−2000・カンパニー・リミテッド パネルテストのためのプローブユニット
JP2012519868A (ja) * 2009-03-10 2012-08-30 プロ−2000・カンパニー・リミテッド パネルテストのためのプローブユニット
TWI482972B (zh) * 2009-03-10 2015-05-01 Pro 2000 Co Ltd 檢測面板之探針單元
JP2012519869A (ja) * 2009-03-12 2012-08-30 プロ−2000・カンパニー・リミテッド フィルム型パッケージをテストするためのプローブカード
TWI472770B (zh) * 2009-03-12 2015-02-11 普歐2000有限公司 用於薄膜封裝測試之探針卡

Also Published As

Publication number Publication date
JP2668653B2 (ja) 1997-10-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4943768A (en) Testing device for electrical circuit boards
KR20050016101A (ko) 플랫 판넬 디스플레이 검사용 프로브 장치
JPH07312254A (ja) 導通接触端子
JPH0659269A (ja) 液晶表示パネルユニットの電気接続の試験方法
JPH088023A (ja) 表示装置およびその接続状態検査方法
JPH08304846A (ja) 液晶表示素子の検査装置
JP2006276115A (ja) 液晶モジュール
JPH10274662A (ja) 液晶表示パネル検査方法および検査用コンタクトプローブ
KR100313105B1 (ko) 액정디스플레이 패널과 그 구동소자 사이의 접촉 저항값 측정방법
JP3069360B2 (ja) 表示パネル用プローブ
JP2000131341A (ja) プローブカード
JPS6361965A (ja) パタ−ン基板の検査方法および装置
KR200444681Y1 (ko) 프로브유닛
KR100684869B1 (ko) 액정 표시 패널 검사용 접촉 필름 및 검사 방법
US4887030A (en) Testing device for electrical circuit boards
JPH09127542A (ja) 液晶表示装置及びその検査方法
KR100670557B1 (ko) 프로브 어셈블리
JPH10186394A (ja) 検査装置及び液晶表示装置の検査方法
JP3396316B2 (ja) 電子部品用コネクタ
JP2544186B2 (ja) プロ―ブ装置
JPH08313557A (ja) プローブ装置
KR100820277B1 (ko) 프로브 장치 및 이를 포함하는 프로브 블록
JP3072207B2 (ja) ディスプレイパネル用検査装置
JP2003066067A (ja) プローブユニット、検査装置、電気光学パネル基板の検査方法および電気光学装置の製造方法
JPS6259871A (ja) 回路基板の検査方法