JPH07312290A - 有機薄膜el素子 - Google Patents
有機薄膜el素子Info
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Abstract
製造プロセスにおける物理的安定性を向上させた有機薄
膜EL素子を提供する。 【構成】 陰極14として、仕事関数が4eV以上の金
属に0.01〜5モル%のスカンジウム及び0.01〜
0.3モル%のアルカリ金属を含有させた合金を用い
る。陰極14の膜厚としては1〜30nm程度が好適であ
る。又、陰極14上に陰極保護層15としてシリコン、
銅、スカンジウム、マンガン等が0.1〜5モル%含ま
れる膜厚50nm以上のアルミニウム合金を用いることも
できる。
Description
リクス状に発光画素が配置されてなる有機薄膜ELデバ
イスの陰極に関する。
グ(Tang)とバンスリケ(VanSlyke)らの
新しい構成の有機薄膜EL素子の報告(アプライド・フ
ィジックス・レターズ(Applied Physic
s Letters)、51巻、913ページ、198
7年)以来、その豊富な材料数と分子レベルの合成技術
で、安価な大面積カラー表示デバイスを実現するものと
して注目され、その発光特性が検討されている。
正孔と陰極から注入された電子が発光層内で再結合し、
励起状態を経て発光する現象を利用するもである。従っ
て、有機薄膜層は発光層の発光材料の性質によって種々
の素子構成が検討されているが基本的には強い蛍光を発
する有機発光層を陽極と陰極で挟むことで素子が完成で
きる。更に、発光の高効率化や安定駆動のためには、正
孔注入層、正孔輸送層、電子注入層、および電子輸送層
を設けたり、有機発光層へゲスト分子をドーピングする
ことが有効とされている。また、有機発光層への電子及
び正孔の注入を効率良く行う目的で電極、特に陰極材料
の検討も進んでいる。
きるだけ低い仕事関数をもつ金属を陰極として使用する
ことがよく、その点でタングらの報告に示されたマグネ
シウム合金が効果的であった。有機薄膜との密着の小さ
なマグネシウム蒸着の困難性も、微量の銀を共蒸着法で
添加することでマグネシウム単独の場合より電極が均一
に形成できるようになる。添加する銀は少なすぎると効
果がなく、また多すぎると仕事関数の増加をもたらし好
ましくない。通常は10モル%程度の銀を添加してい
る。更に、アルミニウムにリチウムを含有させた合金陰
極は、マグネシウムー銀合金よりも電荷注入特性に優
れ、発光量子効率、輝度においても優れている(特開平
5−121172号公報)。発光層にキナクリドン誘導
体をドーピングし、アルミニウム−リチウム合金を陰極
として使用した系で、1平方メートル当たり10万カン
デラ以上の輝度と1ワット当たり最高で10ルーメン以
上の視感度効率を達成している(第54回応用物理学学
術講演会講演予稿集、1127頁、1993年)。これ
は無機のELやプラズマディスプレイ等他の発光デバイ
スの性質を越えるものである。(但し、上記の性能は、
直流駆動した場合である)。
膜EL素子を利用した高精細なマトリクスディスプレイ
とその駆動方法の例が報告されている(特願平05−2
53866号公報)。前記報告によると新規の電流制御
用薄膜トランジスタ(以下TFTと記す)を含む構成の
駆動回路が有機薄膜EL素子に適用された。単純マトリ
クス型の有機ELデバイスで課題とされた駆動パルスの
高デューティ化に伴う輝度低下が抑えられた。すなわ
ち、画素が増加しても輝度低下を伴わず有機薄膜EL素
子を駆動できることが示された。
高効率で発光表示させるために、有機薄膜EL素子の研
究開発は材料を含んだ素子の改良から駆動方法の改良に
到るまで幅広く行われている。
EL素子やマトリクス型の有機薄膜ELデバイスは他の
発光デバイスでは達成できなかった高輝度・高効率発光
を示す。しかし、素子を定電圧駆動すると電流が流れに
くくなり発光効率が経時に減少する。また、素子を定電
流駆動すると、電圧上昇と効率低下を招く。これらの現
象は、有機薄膜と陰極との界面の密着性が経時に低下し
接触界面の剥離が生じやすくなることや、酸化や電気化
学反応によって前記界面のエネルギー障壁が大きくなる
ために生じると考えられている。界面の密着性の低下や
エネルギー障壁が大きくなる原因は、陰極を構成する材
料に依存するところが大きい。
金属はマグネシウムなど仕事関数の低い金属でなければ
充分な発光特性が得られない。しかし、このような仕事
関数が低い金属と有機物の密着性は悪い。陰極の密着性
はセロテープによるピーリング試験で容易に有機薄膜層
やTFTから剥離するほど弱いものであった。このよう
な状況では、信頼性ある素子が得られにくい。
界面のエネルギー障壁の制御において重要であり、更
に、TFT駆動のマトリクス型有機薄膜ELデバイスの
実現において重要である。図3に示すようにTFT駆動
のマトリクス型有機薄膜ELデバイスにおいて陰極はT
FTの上部に形成される。このため、従来報告されてい
る陰極、例えばマグネシウム−銀合金、アルミニウム−
リチウム合金など軽量でもろい合金をTFT上に成長す
る場合、TFTの凹凸のために陰極の段差切れが生じ
た。その結果、例えばマグネシウム−銀合金の陰極では
画素全体の20%に、アルミニウム−リチウム合金では
15%に非発光部すなわち欠陥が生じた。また、陰極を
パターニングする際に、上記金属材料では陰極表面にマ
グネシウムやリチウムなどの柔らかく、また腐食され易
い金属が存在しているのでエッチングによって表面が腐
食されたり、微小な傷や凹凸を形成した。これらは、T
FT駆動のマトリクス型有機薄膜ELデバイスの発光効
率を減少させたり、劣化の加速と不均一な発光を招い
た。
ロセス上の物理的安定性の高い陰極および陰極保護層を
設けることが、有機薄膜EL素子やTFT駆動のマトリ
クス型有機薄膜ELデバイスの実用化の上で極めて重要
である。しかし、従来の陰極と陰極保護層を使用する限
りこれらの課題解決が困難であった。
リクス型有機ELデバイスにおいて低電力性を有効に発
揮しながら駆動安定性の向上や製造プロセスにおける物
理的安定性を向上させるために、新規の陰極と陰極保護
層を備えた有機薄膜EL素子を提供することにある。
めに、低仕事関数であり、しかも有機薄膜との密着性に
優れ、合金の安定性や強度を増すアルカリ金属含有の合
金を探索した結果、銀、アルミニウム、インジウムなど
の金属にスカンジウムを含有させることで、物理的安定
性にも優れた合金が作成できることを見いだし本発明に
到った。
陰極の間に少なくとも1以上の発光層を有する有機薄膜
層を挟持してなる有機薄膜EL素子に於いて、前記陰極
は0.01〜5モル%のスカンジウムと0.01〜0.
3モル%のアルカリ金属を含有した金属よりなることを
特徴とする有機薄膜EL素子である。更に好ましくは、
前記陰極が銀、アルミニウム、インジウムより選ばれた
少なくとも1以上の金属よりなることが望ましい。更に
好ましくは、膜厚1〜30nmの陰極上に膜厚50〜30
00nmの陰極保護層を有し、かつ前記陰極保護層は50
〜3000nmの厚さで且つ、スカンジウム、シリコン、
マンガン、銅より選ばれた少なくとも1つ以上を0.1
〜5モル%含有するアルミニウム合金よりなることが望
ましい。
から5モル%程度が適当である。スカンジウムが0.0
1モル%未満である場合、素子特性の本質的な改善には
到らない。また、スカンジウムの量が少ないと有機薄膜
層やTFTとの密着性が弱くなり、剥離が問題となる。
さらには、陰極の仕事関数が下がらないために電荷注入
に十分な威力を発揮しない。十分に仕事関数を下げ、電
荷注入特性を改善すべくアルカリ金属の濃度を増すこと
は、素子の駆動による劣化の加速と製造プロセスにおけ
る物理的安定性の減少を招く。一方、スカンジウムが5
モル%を越えると完全固溶とならず均一な組成とならな
い。そのため、陰極に混入させるスカンジウムは0.0
1から5モル%の範囲に混入させる必要がある。
1から0.3モル%程度が適当であった。アルカリ金属
は、陰極の仕事関数を下げることと有機薄膜層との密着
性の向上の役割をなす。石田らの報告によると、アルミ
ニウムなどの金属にアルカリ金属が添加される場合、理
論的には25モル%のアルカリ金属が添加される場合
が、仕事関数を下げるのに最も有効である。例えば、ア
ルミニウムにナトリウムを25モル%添加した合金の仕
事関数は2.2eVまで下げることができる(フィジカ
ルレビューB(Physical Review
B)、38巻、5752頁、1988年)。
多量に添加すれば、仕事関数を下げるのに有効である
が、アルカリ金属は腐食速度が大きく素子の劣化を加速
させる結果を招く。また、有機薄膜EL素子のように高
電界が有機薄膜に印加される場合、陰極のアルカリ金属
が有機薄膜層にマイグレーションすると考えられてい
る。その結果、陰極近傍での有機薄膜層の発光効率を減
少させる結果を招く。これは、アルカリ金属の添加量が
多いほど顕著に観測される。従って、有機薄膜層に接す
る陰極に含まれるアルカリ金属は、適切な量の範囲に抑
える必要がある。
ウム含有の金属にアルカリ金属を添加する場合、アルカ
リ金属が0.01から0.3モル%の微量でも仕事関数
が下げられることが分かった。スカンジウム含有の金属
においては添加するアルカリ金属は0.3モル%で仕事
関数が極小値に達する。アルカリ金属の添加量が少なく
ても十分仕事関数を下げることができるのは、スカンジ
ウムによって金属内部の電子状態が変化し、仕事関数を
下げるのに有効に作用したためであると考えられる。ア
ルカリ金属が0.01モル%未満の場合には、仕事関数
を本質的に変動させるものではなかった。
金属はそれ自体不安定なものであるから、他の安定な金
属に少量含ませることが理想的であり、酸化や水分によ
る影響を考慮すると4eV以上の金属にスカンジウムと
アルカリ金属を含ませることが望ましい。4eV以上の
金属としては、例えばミカエルソン(Michaels
on)の報文(IBM、ジャーナル・オブ・リサーチ・
ディベロップメント(Journal of Rese
arch Development)、22巻、1号、
72頁、1978年)から選択できる。スカンジウムと
の合金形成の容易性や成膜の安定性の観点から、本発明
の陰極の金属として銀、アルミニウム、インジウムを少
なくとも1つ以上含むものでなくてはならない。
には、陰極は、1nm以上30nm以下の厚さが好ましい。
前記陰極が1nm以下の場合には、有機薄膜層を前記陰極
成分で完全に覆うことが困難であるからである。有機薄
膜層を前記陰極成分で完全に覆うには30nmで十分であ
る。不必要に陰極を厚くすることは素子全体の膜厚を厚
くすることになり好ましくない。
性や加工性に優れたアルミニウム合金が好ましい。アル
ミニウムに添加する添加物質としては合金形成の容易性
や成膜の安定性の観点からスカンジウム、シリコン、マ
ンガン、銅が特に好ましい。有機薄膜EL素子やTFT
駆動のマトリクス型有機薄膜ELデバイスにおいて、単
独のアルミニウムは物理的強度が十分ではなく、素子駆
動時に熱膨張による局部的な凹凸や亀裂を生じ段差切れ
の原因になった。一方、前記添加物質を添加するこで、
熱膨張を抑えることができ、特に輝度が大きい場合、す
なわち発光による発熱が大きい場合、局部的な凹凸や亀
裂が格段に減少する。前記添加物質は前記保護層を形成
する合金の0.1〜5モル%であると明瞭な効果が得ら
れる。0.1モル%未満ではアルミニウム単独のものと
比べ熱膨張係数をはじめ諸物性に影響を与えないためで
ある。一方、5モル%を越える場合には、アルミニウム
と添加物質の間で層分離が生じ易くなる。特に、シリコ
ンを5モル%を越えて添加したアルミニウム合金では層
分離が著しく、合金表面の約50%に粒界を生じ、保護
層のみならず陰極層や有機薄膜層の膜構造の乱れを招い
た。陰極保護層は、陰極への酸素や水分の影響を防ぐ目
的で50〜3000nmが望ましい。
蒸着法で形成してもよいし、密着性を向上させる目的
で、例えば特開平4−019993号公報に示すように
蒸着物質を不活性ガスイオンでスパッタする方法を用い
てもよい。前記スパッタによる陰極及び陰極保護層の成
膜方法は数eV以上の運動エネルギーをもつイオンを成
膜に用いているために表面マイグレーションが大きく、
有機薄膜層やTFTとの密着性に優れた成膜が可能であ
ることを特徴としている。成膜条件を適切に選ぶことに
よって有機薄膜層への物理的あるいは化学的ダメージを
少なくし、かつ従来より密着性が格段に向上した陰極と
陰極保護層を形成することができるようになる。蒸気圧
が大きく異なる金属の混合物をターゲットとして用いて
もターゲットと陰極もしくはターゲットと陰極保護層と
の組成のずれは少ない。大きな基板を用いても均一に電
極が形成できるため、実用的である。
属酸化物、金属硫化物、金属沸化物等から形成される封
止層を設けることも有効である。
る。
1について説明する。ガラス基板上にITO(インジウ
ム錫酸化物)をスパッタリングによってシート抵抗が1
5Ω/□になるように製膜し、陽極とした。その上に正
孔注入層として、昇華精製した無金属フタロシアニンを
抵抗加熱式の真空蒸着によって10nm形成した。次にポ
リ(メチルフェニルシリレン)約60重量%にN,N,
N′,N′−テトラフェニル−4,4′−ジアミノビフ
ェニルを約40重量%混合したポリシリレンからなる有
機正孔輸送層3を46nm、トルエン溶媒を使用したディ
ップコーティング法で形成した。充分乾燥させた後、分
子線蒸着法によって6×10-10 Torr真空下、有機
発光層としてN−(2,4−キシリル)−4−アミノナ
フタルイミドと3,9−ペリレンジカルボン酸ジフェニ
ルエステルとを各々別の蒸着源からの共蒸着法によって
3,9−ペリレンジカルボン酸ジフェニルエステルが発
光層の1.4モル%含まれるように70nm形成した。
まれるアルミニウム合金をアルゴンガス中でRFスパッ
タ法で蒸発し、リチウムを抵抗加熱源から蒸発させる方
法でリチウムが陰極の0.3モル%を占めるように20
nm形成した。更に、陰極の保護層としてスカンジウムが
1モル%含まれるアルミニウム合金をアルゴンガス中の
RFスパッタ法により300nm形成した。尚、本実施例
1に用いた陰極の仕事関数を光電子放出法で調べた結
果、約3.1eVであった。
た。図5に示すように、本実施例における電流密度−電
圧特性は、比較例1と比べて同じ電流密度において電圧
が小さい。これは、本発明の陰極を用いたことで電荷の
注入効率が向上したことを示唆するものである。図7に
示すように、本実施例における輝度−電圧特性は、比較
例1と比べて同じ輝度において電圧が小さい。印加電圧
10Vの直流電圧で6300cd/m 2 の明るい黄色の
発光が得られた。また、2mA/cm2 の一定電流密度で
10時間エージングした後、4mA/cm2 の一定電流密
度で連続して発光させた(このときの電圧は6.64V
である)ところ、500時間経過しても面発光の状態を
持続し、電圧は7.87Vに上昇し、発光輝度は105
cd/m2 から64cd/m 2 に減少した。これは、比
較例1と比べ本発明の有機薄膜EL素子の陰極と陰極保
護層の効果による駆動安定性の向上を示唆するものであ
る。
モル%含まれるアルミニウム合金をアルゴンガス中でR
Fスパッタ法で蒸発し、ナトリウムとインジウムからな
る合金を抵抗加熱源からナトリウムが蒸発するよう制御
してナトリウムが陰極の0.1モル%を占めるように2
0nm形成した。更に、陰極の保護層としてシリコンが1
モル%含まれるアルミニウム合金をアルゴンガス中のR
Fスパッタ法により450nm形成した以外、実施例1と
同様にして素子を作成した。尚、本実施例2に用いた陰
極の仕事関数を光電子放出法で調べた結果、約3.0e
Vであった。
た。図5に示すように、本実施例における電流密度−電
圧特性は、比較例1と比べて同じ電流密度において電圧
が小さい。これは、本発明の陰極を用いたことで電荷の
注入効率が向上したことを示唆するものである。図7に
示すように、本実施例における輝度−電圧特性は、比較
例1と比べて同じ輝度において電圧が小さい。印加電圧
10Vの直流電圧で5100cd/m 2 の明るい黄色の
発光が得られた。また、2mA/cm2 の一定電流密度で
10時間エージングした後、4mA/cm2 の一定電流密
度で連続して発光させた(このときの電圧は6.93V
である)ところ、500時間経過しても面発光の状態を
持続し、電圧は7.98Vに上昇し、発光輝度は95c
d/m 2 から56cd/m 2 に減少した。これは、比較
例1と比べ本発明の有機薄膜EL素子の陰極と陰極保護
層の効果による駆動安定性の向上を示唆するものであ
る。
モル%含まれる銀合金をアルゴンガス中でRFスパッタ
法で蒸発し、リチウムを抵抗加熱源から蒸発させる方法
でリチウムが陰極の0.3モル%を占めるように20nm
形成した。更に、陰極の保護層としてスカンジウムが1
モル%含まれるアルミニウム合金をアルゴンガス中のR
Fスパッタ法により300nm形成した以外実施例1と同
様にして素子を作成した。尚、本実施例3で用いた陰極
の仕事関数を光電子放出法で調べた結果、約3.1eV
であった。
た。図5に示すように、本実施例における電流密度−電
圧特性は、比較例1と比べて同じ電流密度において電圧
が小さい。これは、本発明の陰極を用いたことで電荷の
注入効率が向上したことを示唆するものである。図7に
示すように、本実施例における輝度−電圧特性は、比較
例1と比べて同じ輝度において電圧が小さい。印加電圧
10Vの直流電圧で2650cd/m 2 の明るい黄色の
発光が得られた。また、2mA/cm2 の一定電流密度で
10時間エージングした後、4mA/cm2 の一定電流密
度で連続して発光させた(このときの電圧は7.25V
である)ところ、500時間経過しても面発光の状態を
持続し、電圧は8.31Vに上昇し、発光輝度は81c
d/m 2から48cd/m 2 に減少した。これは、比較
例1と比べ本発明の有機薄膜EL素子の陰極と陰極保護
層の効果による駆動安定性の向上を示唆するものであ
る。
モル%含まれるインジウム合金をアルゴンガス中でRF
スパッタ法で蒸発し、リチウムを抵抗加熱源から蒸発さ
せる方法でリチウムが陰極の0.3モル%をしめるよう
に20nm形成した。更に、陰極の保護層としてスカンジ
ウムが1モル%含まれるアルミニウム合金をアルゴンガ
ス中のRFスパッタ法により300nm形成した以外実施
例1と同様にして素子を作成した。尚、本実施例4で用
いた陰極の仕事関数を光電子放出法で調べた結果、約
3.1eVであった。
た。図6に示すように、本実施例における電流密度−電
圧特性は、比較例1と比べて同じ電流密度において電圧
が小さい。これは、本発明の陰極を用いたことで電荷の
注入効率が向上したことを示唆するものである。図8に
示すように、本実施例における輝度−電圧特性は、比較
例1と比べて同じ輝度において電圧が小さい。印加電圧
10Vの直流電圧で2100cd/m 2 の明るい黄色の
発光が得られた。また、2mA/cm2 の一定電流密度で
10時間エージングした後、4mA/cm2 の一定電流密
度で連続して発光させた(このときの電圧は6.25V
である)ところ、500時間経過しても面発光の状態を
持続し、電圧は6.98Vに上昇し、発光輝度は51c
d/m 2から32cd/m 2 に減少した。これは、比較
例1と比べ本発明の有機薄膜EL素子の陰極と陰極保護
層の効果による駆動安定性の向上を示唆するものであ
る。
モル%含まれるアルミニウム合金をアルゴンガス中でR
Fスパッタ法で蒸発し、リチウムを抵抗加熱源から蒸発
する方法でリチウムが陰極の0.3モル%を占めるよう
に20nm形成した。更に、陰極の保護層としてシリコン
が1モル%、更に銅が1.5モル%含まれるアルミニウ
ム合金をアルゴンガス中のRFスパッタ法により450
nm形成した以外、実施例1と同様にして素子を作成し
た。尚、本実施例5で用いた陰極の仕事関数を光電子放
出法で調べた結果、約3.0eVであった。
た。図6に示すように、本実施例における電流密度−電
圧特性は、比較例1と比べて同じ電流密度において電圧
が小さい。これは、本発明の陰極を用いたことで電荷の
注入効率が向上したことを示唆するものである。図8に
示すように、本実施例における輝度−電圧特性は、比較
例1と比べて同じ輝度において電圧が小さい。印加電圧
10Vの直流電圧で1910cd/m 2 の明るい黄色の
発光が得られた。また、2mA/cm2 の一定電流密度で
10時間エージングした後、4mA/cm2 の一定電流密
度で連続して発光させた(このときの電圧は6.2Vで
ある)ところ、500時間後経過しても面発光の状態を
持続し、電圧は6.94Vに上昇し、発光輝度は75c
d/m 2から42cd/m 2 に減少した。これは、比較
例1と比べ本発明の有機薄膜EL素子の陰極と陰極保護
層の効果による駆動安定性の向上を示唆するものであ
る。
モル%含まれるアルミニウム合金をアルゴンガス中でR
Fスパッタ法で蒸発し、ナトリウムとインジウムからな
る合金を抵抗加熱源からナトリウムが蒸発するよう制御
してナトリウムが陰極の0.1モル%を占めるように2
0nm形成した。更に、陰極の保護層としてマンガンが1
モル%含まれるアルミニウム合金をアルゴンガス中のR
Fスパッタ法により350nm形成した以外、実施例1と
同様にして素子を作成した。尚、本実施例5で用いた陰
極の仕事関数を光電子放出法で調べた結果、約3.0e
Vであった。
図6に示すように、本実施例における電流密度−電圧特
性は、比較例1と比べて同じ電流密度において電圧が小
さい。これは、本発明の陰極を用いたことで電荷の注入
効率が向上したことを示唆するものである。図8に示す
ように、本実施例における輝度−電圧特性は、比較例1
と比べて同じ輝度において電圧が小さい。印加電圧10
Vの直流電圧で1920cd/m 2 の明るい黄色の発光
が得られた。また、2mA/cm2 の一定電流密度で10
時間エージングした後、4mA/cm2 の一定電流密度で
連続して発光させた(このときの電圧は6.75Vであ
る)ところ、500時間経過しても面発光の状態を持続
し、電圧は7.88Vに上昇し、発光輝度は42cd/
m 2 から28cd/m 2 に減少した。これは、比較例1
と比べ本発明の有機薄膜EL素子の陰極と陰極保護層の
効果による駆動安定性の向上を示唆するものである。
素子に逆スタガ型のa−SiTFTを適用し、ガラス基
板上に有機薄膜EL素子を駆動する回路を作成した場合
の実施例7の平面図および断面図である。以下、図2お
よび図3を用いて実施例7の作成手順について述べる。
成長し、走査電極線3N 及び3N+1、電荷保持容量Cの
一方の電極、スイッチングトランジスタのゲート電極G
QS、電流制御トランジスタのゲート電極GQIをパターン
ニングし、更にゲート絶縁膜としてSiO2 を400nm
成長した後、第一コンタクトホール56Aを開ける。
成するためのイントリンジックアモルファスシリコン
(i−a−Si)、オーミックコンタクトを取るための
n+ アモルファスシリコン(n+ −a−Si)をそれぞ
れ300nmおよび50nm成長し、パターニングしてアイ
ランドを形成する。このアイランドは、後にTFT(電
流制御用トランジスタQI 及びスイッチングトランジス
タQS )のチャネル部が形成される部分である。
して信号線1M 、電流制御用トランジスタQI のソース
電極SQI及びドレイン電極DQI、スイッチングトランジ
スタQS のドレイン電極及びソース電極、電荷保持容量
Cのもう一方の電極を形成する。更に、電流制御用及び
スイッチングの各TFTのアイランドのi−a−Si及
びn+ −a−Siを、各TFTのソース電極及びドレイ
ン電極用のCrをマスクとしてi−a−Siの途中まで
エッチングし、各TFTのチャネル部を形成する。
御用トランジスタQI のソース電極SQIとこの後の工程
で成長される陰極(有機薄膜EL素子の一方の電極)5
5とを接続するための第2コンタクトホール56Bをエ
ッチングして開ける。
5モル%含まれるアルミニウム合金をアルゴンガス中で
RFスパッタ法にて陰極保護層として300nm形成した
した後、陰極としてスカンジウムが1モル%含まれるア
ルミニウム合金をアルゴンガス中でRFスパッタ法にて
蒸発させ、リチウムを抵抗加熱源から蒸発させる方法で
リチウムが陰極の0.3モル%を占めるように30nm形
成した。こうして形成した陰極と陰極保護層をリフトオ
フ法によりパターニングして有機薄膜EL素子の陰極と
陰極保護層を形成する。
m 2 サイズで400×640画素数のパネルが作られ
る。
機薄膜層を形成する。本実施例に用いる有機薄膜EL素
子の有機薄膜層52は陰極側からスペサー層52C、有
機発光層52Bおよび正孔注入層52Aが積層された3
層構造となっている。スペサー層52CとしてN−
(2,4−キシリル)−4−アミノナフタルイミドを真
空蒸着法によって50nm形成した後、有機発光層52B
としてN−(2,4−キシリル)−4−アミノナフタル
イミドと3,9−ペリレンジカルボン酸ジフェニルエス
テルとを各々別の蒸着源からの共蒸着法によって3,9
−ペリレンジカルボン酸ジフェニルエステルが発光層の
1.4モル%含まれるように70nm形成した。更に、正
孔注入層52AとしてN,N′−ジフェニル−N,N′
−ジ(3−メチルフェニル)1,1′−ビフェニル−
4,4′−ジアミンを用い真空蒸着法によって50nm形
成した。最後に陽極としてITOを1μm 形成し、本発
明の陰極と陰極保護層が含まれるTFT駆動のマトリク
ス型有機ELデバイスが完成する。
デバイスの動作を図4を用いて説明する。図4におい
て、いま、走査電極線3N+1 が選択されスイッチングト
ランジスタQS がオン状態になると、M列目の信号電極
線1M の電圧がスイッチングトランジスタQS を通して
電荷保持用容量Cに供給される。走査電極線3N+1 が非
選択の状態になるとスイッチングトランジスタQS がオ
フになって、信号線1Mの電圧が電荷保持用容量Cに保
持される。容量Cの端子電圧は電流制御用トランジスタ
QI のゲート・ソース間に印加され、トランジスタQI
のゲート電圧・ドレイン電流特性に応じた電流が、電源
電極5→有機薄膜EL素子→トランジスタQI →走査電
極線3N という経路で流れ、有機薄膜EL素子が発光す
る。この時、有機薄膜EL素子の輝度と容量Cに印加す
る電圧との関係が分かっていれば、所定の輝度で有機薄
膜EL素子を発光させるとが可能である。
端の電圧が7Vで駆動したところ、約420cd/m 2
の輝度を示した。この時、全画素に対するの画素欠陥部
の割合は約7%であり、比較例2の陰極で作成した場合
より大幅に欠陥部が少なくなったことを示した。また、
有機薄膜EL素子部分の消費電力は1.4W以下であ
り、比較例2のそれの約半分であった。
素子はTFT上に陰極保護層,陰極,スペーサー層,有
機発光層,正孔注入層,陽極の順に形成し、光を陽極を
通して取り出す方法を用いたが、TFT上に陽極,正孔
注入層,有機発光層,スペーサー層,陰極,陰極保護層
の順に形成し、光をTFTのガラス基板を通して取り出
す方法を用いても良い。
と同様である。陰極としてスカンジウムが1モル%含ま
れるアルミニウム合金をアルゴンガス中でRFスパッタ
法で蒸発し、リチウムを抵抗加熱源から蒸発させる方法
でリチウムが陰極の0.3モル%を占めるるように12
0nm形成した。陰極保護層は形成しなかった。尚、本実
施例1に用いた陰極の仕事関数を光電子放出法で調べた
結果、約3.1eVであった。
た。図10に示すように、本実施例における電流密度−
電圧特性は、比較例3と比べて同じ電流密度において電
圧が小さい。これは、本発明の陰極を用いたことで電荷
の注入効率が向上したことを示唆するものである。図1
1に示すように、本実施例における輝度−電圧特性は、
比較例3と比べて同じ輝度において電圧が小さい。印加
電圧10Vの直流電圧で5940cd/m 2 の明るい黄
色の発光が得られた。また、2mA/cm2 の一定電流密
度で10時間エージングした後、4mA/cm2 の一定電
流密度で連続して発光させた(このときの電圧は6.6
8Vである)ところ、500時間経過しても面発光の状
態を持続し、電圧は7.98Vに上昇し、発光輝度は1
02cd/m 2 から58cd/m 2 に減少した。これ
は、比較例3と比べ本発明の有機薄膜EL素子の陰極の
効果による駆動安定性の向上を示唆するものである。
ッタリングによってシート抵抗が15Ω/□になるよう
に製膜し、陽極とした。その上に正孔注入層として、昇
華精製した無金属フタロシアニンを抵抗加熱式の真空蒸
着によって10nm形成した。次にポリ(メチルフェニル
シリレン)約60重量%にN,N,N′,N′−テトラ
フェニル−4,4′−ジアミノビフェニルを約40重量
%混合したポリシリレンからなる有機正孔輸送層3を4
6nm、トルエン溶媒を使用したディップコーティング法
で形成した。充分乾燥させたのち、分子線蒸着法によっ
て6×10-10 Torr真空下、有機発光層としてN−
(2,4−キシリル)−4−アミノナフタルイミドと
3,9−ペリレンジカルボン酸ジフェニルエステルとを
各々別の蒸着源からの共蒸着法によって3,9−ペリレ
ンジカルボン酸ジフェニルエステルが発光層の1.4モ
ル%含まれるように70nm形成した。次に陰極としてリ
チウムが0.3モル%含まれるようにアルミニウムと共
蒸着して陰極を20nm形成した。更に、陰極保護層とし
てアルミニウムを抵抗加熱の蒸着法で80nm形成した。
このようにして、比較例1の有機薄膜EL素子が完成す
る。
ころ、印加電圧10Vの直流電圧で380cd/m 2 の
黄色の発光が得られた。また、2mA/cm2 の一定電流
密度で10時間エージングした後、4mA/cm2 の一定
電流密度で連続して発光させた(このときの電圧は7.
98Vである)ところ、500時間経過後、面発光は維
持されず、素子全体の40%が黒点に覆われていた。電
圧は13.4Vに上昇し、発光輝度は24cd/m 2 か
ら8cd/m 2 に減少した。
ウムを抵抗加熱の蒸着法で300nm形成し、更に陰極と
してリチウムが陰極の2モル%含まれるようにアルミニ
ウムと共蒸着して20nm形成した以外、実施例2と同様
のTFT駆動のマトリクス型有機EL素子を作成した。
端の電圧を7Vで駆動したところ、約100cd/m 2
の輝度を示した。この時、全画素に対するの画素欠陥部
の割合は約15%であった。また、有機薄膜EL素子部
分の消費電力は2.7Wであった。
モル%含まれるようにアルミニウムと共蒸着して陰極を
120nm形成した以外、実施例8と同様に素子を形成し
た。
ころ、印加電圧10Vの直流電圧で358cd/m 2 の
黄色の発光が得られた。また、2mA/cm2 の一定電流
密度で10時間エージングした後、4mA/cm2 の一定
電流密度で連続して発光させた(このときの電圧は8.
18Vである)ところ、350時間経過後、電圧は1
5.3Vに上昇し、発光輝度は20cd/m 2 から3c
d/m 2 に減少した。420時間後、素子は完全に消光
した。
陰極保護層を有機薄膜EL素子に適用することで、電荷
注入特性など素子の基本特性を従来のものより高めるこ
とができる。また、有機薄膜EL素子やマトリクス型有
機ELデバイスにおいて低電力性を有効に発揮しながら
駆動安定性の向上や物理的強度を向上させることがで
き、高精細のマトリクス型有機ELデバイスの作成が可
能となる。
護層を有する有機薄膜EL素子の説明図である。
膜ELデバイスを構成する画素を示す平面レイアウト図
である。
膜ELデバイスを構成する画素の断面図である。
膜ELデバイスを駆動する回路図である。
密度−電圧特性を示すグラフである。
密度−電圧特性を示すグラフである。
−電圧特性を示すグラフである。
−電圧特性を示すグラフである。
い有機薄膜EL素子の説明図である。
−電圧特性を示すグラフである。
圧特性を示すグラフである。
Claims (3)
- 【請求項1】陽極と陰極の間に少なくとも1以上の発光
層を有する有機薄膜層を挟持してなる有機薄膜EL素子
に於いて、前記陰極は0.01〜5モル%のスカンジウ
ムと0.01〜0.3モル%のアルカリ金属を含有した
金属よりなることを特徴とする有機薄膜EL素子。 - 【請求項2】陰極が銀、アルミニウム、インジウムより
選ばれた少なくとも1以上の金属よりなることを特徴と
する請求項1記載の有機薄膜EL素子。 - 【請求項3】膜厚1〜30nmの陰極上に膜厚50〜30
00nmの陰極保護層を有し、かつ前記陰極保護層はスカ
ンジウム、シリコン、マンガン、銅より選ばれた少なく
とも1つ以上を0.1〜5モル%含有するアルミニウム
合金よりなることを特徴とする請求項1記載の有機薄膜
EL素子。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10146894A JP2701738B2 (ja) | 1994-05-17 | 1994-05-17 | 有機薄膜el素子 |
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| EP19950107481 EP0684753B1 (en) | 1994-05-17 | 1995-05-16 | Organic thin film electroluminescent device |
| US08/443,174 US5747930A (en) | 1994-05-17 | 1995-05-17 | Organic thin film electroluminescent device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP10146894A JP2701738B2 (ja) | 1994-05-17 | 1994-05-17 | 有機薄膜el素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| JPH07312290A true JPH07312290A (ja) | 1995-11-28 |
| JP2701738B2 JP2701738B2 (ja) | 1998-01-21 |
Family
ID=14301557
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10146894A Expired - Lifetime JP2701738B2 (ja) | 1994-05-17 | 1994-05-17 | 有機薄膜el素子 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5747930A (ja) |
| EP (1) | EP0684753B1 (ja) |
| JP (1) | JP2701738B2 (ja) |
| DE (1) | DE69507196T2 (ja) |
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| DE69507196D1 (de) | 1999-02-25 |
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| US5747930A (en) | 1998-05-05 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970902 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081003 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091003 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091003 Year of fee payment: 12 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
| R371 | Transfer withdrawn |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371 |
|
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091003 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101003 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111003 Year of fee payment: 14 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121003 Year of fee payment: 15 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131003 Year of fee payment: 16 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131003 Year of fee payment: 16 |
|
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