JPH07315874A - 熱線遮蔽ガラス - Google Patents

熱線遮蔽ガラス

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JPH07315874A JP4389195A JP4389195A JPH07315874A JP H07315874 A JPH07315874 A JP H07315874A JP 4389195 A JP4389195 A JP 4389195A JP 4389195 A JP4389195 A JP 4389195A JP H07315874 A JPH07315874 A JP H07315874A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 Ag薄膜の特性を利用する熱線遮蔽ガラスで
あって、複層ガラス等に加工することなく単板で使用で
きるほどに耐久性を向上させたものを提供する。 【構成】 Ag薄膜に、Pd、Pt、Sn、Zn、I
n、Cr、Ti、Si、Zr、Nb、Taからなる群の
うち少なくとも一つの元素をモル比で5〜20%添加し
た薄膜を、場合によっては他の薄膜とともに、ガラス基
板上に形成した熱線遮蔽ガラス。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、耐久性の高い熱線遮蔽
ガラスに関し、さらに詳しくは、Ag薄膜の熱線反射
性、低放射特性を利用する耐久性の高い熱線遮蔽ガラス
に関する。
【0002】
【従来の技術】導電性の高いAg、Au、Cu、Al等
の薄膜は、赤外光をよく反射すると同時にある程度の可
視光を透過する性質を有するため、ガラス基板上にこれ
らの薄膜を形成したものを熱線遮蔽ガラスとして利用す
ることが広く知られている。また、これらの金属薄膜を
誘電体薄膜で挟み込んで可視光透過率を引き上げた被膜
等も建築用途等に広く用いられている。
【0003】上記金属のなかではAgが価格が安く可視
光透過率が高い等の理由から最も一般的に用いられてい
る。しかし、Ag薄膜は化学的耐久性が悪く大気中では
数日以内で劣化するため、従来、Ag薄膜に他の金属を
添加すること等により耐久性を向上させる技術が知られ
ている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の技術で
は、Ag薄膜の耐久性は、一定の範囲で向上するもの
の、Ag薄膜が大気中に露出する状態で使用できる水準
までには至らなかったため、利用に際しては膜面を大気
中にさらさないように合わせガラスや複層ガラスに加工
する必要があり、製造コストや施工コストが高くなると
いう問題があった。また、合わせガラスや複層ガラスに
した場合であっても、長期の耐久性に関しては十分では
ないため、例えば、建築物の中でも竣工後はガラス入れ
替え工事が困難である部位については、使用が制限され
ざるを得ないという問題があった。
【0005】本発明は、かかる事情に鑑み、可視光透過
性、近赤外反射性及び熱放射性に優れるAg薄膜を形成
した熱線遮蔽ガラスであって、Ag薄膜の耐久性が、ガ
ラス単板での使用が可能であるほどに向上したものを提
供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明者は、Ag薄膜の
主要な劣化モードがAgの酸化や塩化物化といった化学
反応によるものではなく、Ag自体が微粒子状に凝集す
ることにより薄膜の連続性が失われて本来の高い導電性
を失うことに起因することを見いだし、Ag薄膜に添加
する元素及びその添加量について種々検討の結果、本発
明を完成するに至った。
【0007】即ち、本発明の第1は、ガラス基板の表面
上に金属薄膜を形成してなる熱線遮蔽ガラスにおいて、
前記金属薄膜は、Pd、Pt、Sn、Zn、In、C
r、Ti、Si、Zr、Nb、Taからなる群のうち少
なくとも1つの元素をモル%で5〜20%添加したAg
からなることを特徴とする熱線遮蔽ガラスである。
【0008】本発明の第2は、ガラス基板の表面上にこ
のガラス基板の側から順に、下地薄膜、金属薄膜、保護
薄膜を形成してなる熱線遮蔽ガラスにおいて、前記金属
薄膜は、Pd、Pt、Sn、Zn、In、Cr、Ti、
Si、Zr、Nb、Taからなる群のうち少なくとも1
つの元素をモル%で5〜20%添加したAgからなるこ
とを特徴とする熱線遮蔽ガラスである。
【0009】本発明の第2においては、さらに耐久性を
向上させるため、前記下地薄膜は多結晶体からなること
が好ましく、前記保護薄膜は非晶質体からなることが好
ましい。
【0010】
【作用】本発明においては、Ag薄膜にPd、Pt、S
n、Zn、In、Cr、Ti、Si、Zr、Nb、Ta
からなる群のうち少なくとも1つの元素をモル%で5〜
20%添加し合金化することにより、Agの凝集が抑制
されAg薄膜の連続性が保持されて耐久性が向上する。
【0011】Agに添加する元素が5モル%未満である
と、Agの拡散を抑制し凝集を防止する効果が十分では
なくなり、一方、添加元素の量が20モル%を超える
と、Ag薄膜の電気抵抗が高くなりすぎてAg薄膜本来
の特性が損なわれる結果となる。
【0012】また、Agに添加する元素がSi、Zr、
Nb、Taからなる群のうち少なくとも1つの元素であ
る場合には、Ag薄膜の機械的強度も向上する。この場
合は、添加量がモル%で5〜15%であれば特に効果が
ある。
【0013】本発明の第2においては、下地薄膜を多結
晶体とすることにより、下地薄膜とAg合金薄膜の密着
性が増し、Ag凝集がさらに抑制されて耐久性向上の効
果が増大する。この場合には、同時に、Ag合金薄膜自
体も緻密化するため、面積抵抗が非晶質基板の上部に直
接Ag合金薄膜を形成する場合よりも小さくなって熱線
遮蔽の効果も増大し、耐摩耗性も向上する。
【0014】多結晶性下地薄膜のうち、ZnO、IT
O、In2O3、 Y2O3 はAg合金薄膜の抵抗を下げる
効果に特に優れており、また、ZrO2 は耐薬品性を向
上させる効果をも有する。また、これらの酸化物は、ガ
ラス基板上にスパッタリング法で多結晶体の薄膜として
成膜する場合に、ガラス基板を意識的に加熱する必要が
なく、特に大型基板への成膜を行うときにはコスト低減
の効果が大きい。
【0015】また、本発明の第2においては、下地薄膜
を2以上の薄膜からなる多層構造としてもよい。例え
ば、下地薄膜を、ガラス基板側から順に、SnO2 から
なる薄膜と上記多結晶体薄膜の2層構造とすると、ガラ
ス基板と下地薄膜との密着性が向上して上記効果がさら
に増大する。また、耐久性をさらに向上させるために、
下地薄膜を、ガラス基板側から順に、上記多結晶性薄膜
と数オングストローム以下の金属薄膜の2層構造として
もよい。
【0016】Agの凝集は大気中の酸素や水分の存在に
より促進されるため、本発明の第2において形成する保
護薄膜はその存在自体がAg合金薄膜の耐久性向上の効
果を有する。しかし、保護薄膜が多結晶体である場合に
は、結晶粒界からの水分の進入等がAg合金薄膜の耐久
性に望ましくない影響を与えるため、保護薄膜は非晶質
体であることが好ましい。
【0017】非晶質体として形成できる保護薄膜として
は、SnOX 、TaOX 、TiOX、ZrBXOY、Si
OX 、SiNX 、SiNXOY(ここで、X、Y は非化学量
論比の場合を含むことを示す。)等がある。これらの物
質からなる保護薄膜は、スパッタリング法により非晶質
体として成膜する場合に意識的な加熱を行う必要がな
く、上記と同様、成膜コスト低減の効果もある。
【0018】また、本発明の第2においては、保護薄膜
を2以上の薄膜からなる多層構造としてもよい。例え
ば、保護薄膜を成膜する際の雰囲気を酸素雰囲気とする
場合には、Ag合金薄膜上に、Ar雰囲気で成膜する数
オングストローム以下の薄い金属膜やITO膜をあらか
じめ形成することにより、保護薄膜を2層化して雰囲気
中の酸素によるAgの凝集促進を防止してもよい。
【0019】本発明によるAg薄膜耐久性の向上は、A
g薄膜等各薄膜の膜厚に特に制限されることなく得られ
るが、熱線遮蔽ガラスとしては、一定の光学的熱的諸特
性を有することが使用上求められ、また、下地薄膜及び
保護薄膜については、Ag薄膜の耐久性を維持・向上さ
せることも求められるため、各薄膜の膜厚には好ましい
範囲が存在する。本発明の第2においては、各薄膜の膜
厚の好ましい範囲は以下のとおりである。
【0020】下地薄膜の膜厚 10〜60nmの範囲が好ましい。10nmより薄くな
ると膜中の結晶粒の発達が不十分となり、Ag薄膜の耐
久性向上への寄与が低下する。60nmよりも大きくな
ると下地薄膜自体の粒構造の発達が過剰になることや膜
応力の増大によりAg薄膜耐久性に却って悪影響を与え
る。
【0021】Ag薄膜の膜厚 3〜20nmの範囲が好ましい。この範囲のなかでは、
可視光透過率の向上を重視すると3〜8nmが好まし
く、熱線反射性や低放射性の向上を重視すると8〜20
nmが好ましい。
【0022】保護薄膜の膜厚 20〜200nmの範囲が好ましい。20nmより薄く
なるとAg薄膜保護の効果が得られにくくなる。200
nmよりも厚くなると成膜に対するコストが高くなると
共に膜応力の増大により保護性能が却って低下する。ま
た、保護薄膜の膜厚は、所望の可視光特性(反射率・色
調)を実現する上でも影響があるため、下地薄膜とAg
薄膜の膜厚をも考慮した光学設計により適切な範囲を選
択することが好ましい。
【0023】
【実施例】
(実施例1)Agのターゲット上にPdのチップを並
べ、チップの量により膜中に含まれるPdの量が変化す
るようにし、Ar雰囲気の下での直流スパッタリング法
により板厚3mmの無色フロートガラス上に膜厚が6n
m程度になるように制御して金属薄膜の成膜を行った。
これと同様の方法により厚く成膜した金属膜をICP法
により分析して組成を求めた。試料成膜直後の面積抵抗
値、可視光透過率を測定した後、大気中での昇温試験
(200℃、3時間放置)を行った。結果を表1に示
す。Pdの量が5モル%未満の試料ではいずれも昇温試
験によりAgの凝集が認められた。一方、5モル%以上
Pdが添加されている試料には凝集が認められなかっ
た。尚、凝集の有無は電子顕微鏡による観察により行っ
た。
【0024】上記と同様の方法により作製した試料につ
いて高温高湿試験(85℃、95%RH、48時間放
置)を行い、試験後、Ag薄膜の凝集の有無を調べた。
結果を同じく表1に示す。Pdの添加量が13モル%未
満の試料では凝集を生じていたが、13モル%以上Pd
を添加した試料では凝集は認められなかった。
【0025】Pdを添加した合金膜は、Pdの添加量が
増えるに従って電気抵抗が増加し、同時に可視光透過率
が減少した。一般に、熱線遮蔽ガラスとしては、視認性
や眺望の確保のため可視光透過率は50%以上、熱線反
射特性を確保するため被膜の面積抵抗値は40Ω/□以
下であることが好ましい。かかる条件を満たすPdの添
加量は表1より20モル%以下である。
【0026】尚、本実施例においては、合金ターゲット
の作製の容易さを考慮すると、Pdの添加量がモル%で
13〜17%が特に好ましい。
【0027】(実施例2)AgにSn、Pd、Znまた
はInを15モル%含ませた合金ターゲットをそれぞれ
の添加元素について準備し、板厚3mmの無色フロート
ガラス上に、Ar雰囲気の下で直流スパッタリング法に
より金属薄膜の成膜を行った。得られた膜の厚みは約8
nmであり、その面積抵抗はいずれも約20Ω/□前後
であった。また、これらの膜を付けたガラスの可視光透
過率はいずれも50%以上であった。ICP法による膜
の分析の結果、それぞれターゲットと同一組成の膜がで
きていることがわかった。これらの膜を付けたガラスに
対して実施例1と同様に大気中昇温試験と高温高湿試験
を実施したが、Ag薄膜の凝集は認められなかった。
【0028】(実施例3)Agのターゲット上にPt、
Cr、Ti、Si、Zr、Nb、Taのいずれかのチッ
プを並べ、Ar雰囲気の下での直流スパッタリング法に
より板厚3mmの無色フロートガラス上に膜厚がほぼ8
nm程度になるように制御して各々の元素を含むAg金
属膜の成膜を行った。得られた試料の成膜直後の面積抵
抗値はいずれも40Ω/□以下であり、可視光透過率は
50%以上であった。これと同様の方法により膜を厚く
つけて行った組成の測定結果を表2に示す。これらの試
料は大気中昇温試験によってはいずれも凝集を起こさな
かった。また、金属針を押しつけて傷つき性を調べたと
ころ、Ag単体の膜に比較して傷がつきにくく、添加元
素がSi、Zr、Nb、Taの場合にその効果が顕著で
あった。
【0029】(実施例4)板厚3mmの無色フロートガ
ラス基板上に、金属酸化物被膜(ZnO、ITO、In
2O3、ZrO2 、Y2O3、SnO2 、TiO2 またはS
iO2 )をスパッタリング法により約40nmの厚さに
なるように成膜し、その上層に、真空を破らずに続けて
Pdを15モル%含むAg合金ターゲットをAr雰囲気
においてスパッタして金属薄膜を約8nmの厚みに成膜
した。これらの膜を形成したガラスに対して高温高湿試
験(85℃、95%RH、240時間放置)を実施し、
膜に凝集等の劣化が生じるかを調べた。試験の結果を表
3に示す。
【0030】また、前記の金属酸化物膜を単独で成膜し
た試料を作製してX線回折を行い、膜に結晶粒が成長し
ているかどうかを調べた。その結果を表3に併せて示
す。膜の劣化が認められなかった試料は、ZnO、IT
O、In2O3、ZrO2 、Y2O3 のいずれかの下地薄
膜を成膜したものであり、これらの酸化物薄膜はいずれ
もX線回折の結果から膜は多結晶化しているものであっ
た。膜が劣化しやすかった試料の下地薄膜であるSnO
2 、TiO2 、SiO2 の酸化物薄膜はX線回折の結果
からは結晶粒がほとんど発達していない非晶質とみなし
得る膜であった。
【0031】(実施例5)実施例4に記載した下地薄膜
として約40nmのITO層またはSnO2 を形成し、
その上層にAgに15%のPdを添加したターゲットを
スパッタしてPdが添加されたAg合金薄膜を約10n
mの厚さに成膜した。さらに、その上層にITOをAr
雰囲気中で約1nm成膜した。続けて、その上層にSn
OX (約30nm)、SnO2 (約20nm)+TaO
X (約20nm)、またはZrOX(約30nm)を成
膜して、ITO膜との多層構造となる保護薄膜を形成し
た(ここで、X は非化学量論比の場合を含むことを示
す。)。これらの試料を加圧された恒温恒圧試験(プレ
ッシャクッカー試験;120℃、95%RH、72時間
放置)、塩水噴霧試験(120時間放置)を実施した。
結果を実施例4において作製した試料についての試験結
果と共に表4に示す。いずれの試験においても、下地薄
膜にSnO2 を用いた試料には劣化が認められた。下地
薄膜にITOを用いた試料は保護薄膜に多結晶性のZr
O2 を用いたもの以外は劣化がほとんど認められなかっ
た。
【0032】また、これらの試料のテーパー式摩耗試験
の劣化の程度は下地薄膜にITOを用いたもののほうが
少なかった。摩耗痕を分析すると、ITO下地薄膜の上
にAg合金薄膜をつけたものの疵部分には、Ag合金薄
膜が下地薄膜の上部に残っていたが、SnO2下地薄膜
の上にAg合金薄膜を成膜したものの疵部分には、Ag
合金薄膜は残存していなかった。
【0033】
【発明の効果】本発明によれば、従来、耐久性が十分で
はないために、合わせガラスや複層ガラスとしてしか利
用できなかったAg薄膜の諸特性を単板ガラスとしても
利用できる。また、合わせガラスや複層ガラスに本発明
の膜を使用すれば、耐久性を従来に比較して飛躍的に高
めることができるため、建築物において窓ガラス入れ替
え工事が困難な部分にも設置することができるなどの効
果が得られる。
【0034】
【表1】
【0035】
【表2】
【0036】
【表3】
【0037】
【表4】
【0038】
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第2による熱線遮蔽ガラスの断面構
造を示す模式図。
【図2】 実施例1においてAg薄膜の擬集が認められ
た試料の走査型電子顕微鏡による表面観察写真(倍率4
5000倍)。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 村田 健治 大阪市中央区道修町3丁目5番11号 日本 板硝子株式会社内 (72)発明者 角 俊雄 大阪市中央区道修町3丁目5番11号 日本 板硝子株式会社内

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ガラス基板の表面上に金属薄膜を形成し
    てなる熱線遮蔽ガラスにおいて、前記金属薄膜は、P
    d、Pt、Sn、Zn、In、Cr、Ti、Si、Z
    r、Nb、Taからなる群のうち少なくとも1つの元素
    をモル%で5〜20%添加したAgからなることを特徴
    とする熱線遮蔽ガラス。
  2. 【請求項2】 ガラス基板の表面上にこのガラス基板の
    側から順に、下地薄膜、金属薄膜、保護薄膜を形成して
    なる熱線遮蔽ガラスにおいて、前記金属薄膜は、Pd、
    Pt、Sn、Zn、In、Cr、Ti、Si、Zr、N
    b、Taからなる群のうち少なくとも1つの元素をモル
    %で5〜20%添加したAgからなることを特徴とする
    熱線遮蔽ガラス。
  3. 【請求項3】 前記下地薄膜は、多結晶体からなること
    を特徴とする請求項2に記載の熱線遮蔽ガラス。
  4. 【請求項4】 前記下地薄膜は、ZnO、In2O3、I
    TO、ZrO2 またはY2O3からなる多結晶体であるこ
    とを特徴とする請求項3に記載の熱線遮蔽ガラス。
  5. 【請求項5】 前記保護薄膜は、非晶質体からなること
    を特徴とする請求項2〜4のいずれかに記載の熱線遮蔽
    ガラス。
  6. 【請求項6】 前記金属薄膜に添加される元素の量は、
    モル%で13〜20%であることを特徴とする請求項1
    〜5のいずれかに記載の熱線遮蔽ガラス。
JP04389195A 1994-03-30 1995-03-03 熱線遮蔽ガラス Expired - Fee Related JP3404165B2 (ja)

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