JPH0735551A - 地磁気方位センサー - Google Patents

地磁気方位センサー

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Publication number
JPH0735551A
JPH0735551A JP18026093A JP18026093A JPH0735551A JP H0735551 A JPH0735551 A JP H0735551A JP 18026093 A JP18026093 A JP 18026093A JP 18026093 A JP18026093 A JP 18026093A JP H0735551 A JPH0735551 A JP H0735551A
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JP
Japan
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magnetic field
level
bias magnetic
direction sensor
waveform
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Application number
JP18026093A
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English (en)
Inventor
Naoko Kawamura
尚古 川村
Kietsu Iwabuchi
喜悦 岩渕
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 MR素子の出力特性に、バルクハウゼンノイ
ズやヒステリシス特性の影響を与えることなく、地磁気
方位検出の信頼性の向上及び検出精度の向上を図る。 【構成】 2つのMR素子1a及び1bをそれぞれ容易
軸方向を違えて配置し、各MR素子1a及び1bに対応
して、容易軸方向にセンス電流を流すセンス電流源3
と、あるレベルを基準として、磁界レベルが一定周期で
単極性の信号波形に準じて変化するバイアス磁界HB
印加するバイアス磁界印加手段4と、バイアス磁界HB
の磁界レベルの変化に応じて周期的に変化する抵抗値R
のセンス電流に基づく端子間の電圧レベルVsのうち、
外部磁界によって周期的に現れる電圧レベルを取り出し
て平均化する信号処理手段13とを設けて構成する。信
号処理手段13としては、ダイオードD及びCR積分回
路22にて構成することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気抵抗効果素子を用
いた地磁気方位センサーに関する。
【0002】
【従来の技術】従来の地磁気方位センサーとしては、図
36に示すような磁石式の地磁気方位センサーが知られ
ている。
【0003】図35に示す地磁気方位センサーは、方位
盤101の中心に、上端に方位を指示する指針102を
有する磁針(図示せず)を回転自在に支持した構成を有
する。方位盤101の周囲には、北,東,南,西を表す
記号が時計回りにN,E,S,Wの英文字で印刷されて
いる。
【0004】この図35で示す磁石式の地磁気方位セン
サーは、回転、振動等の加速度が磁針に慣性モーメント
の影響を与えるため、方位の決定に時間がかかるという
問題があり、可動部があるため、耐久性・耐振性にも問
題があった。また、方位決定の精度も不十分であるとい
う問題もある。
【0005】そこで、従来では、直交配列された2つの
磁気抵抗効果素子(以下、単にMR素子と記す)による
地磁気方位センサーが提案されている(例えば特開昭6
1−262613号公報参照)。
【0006】この地磁気方位センサーは、測定すべき磁
界を、直交配列された2つのMR素子で計測し、その計
測値をベクトル合成して地磁気の方位を求めるようにし
ている。この地磁気方位センサーによれば、上記磁石式
の地磁気方位センサーのような可動部がないため、耐久
性・耐振性に優れ、方位決定も短時間で済むという利点
がある。
【0007】この地磁気方位センサーは、MR素子のR
−H特性、即ちMR素子の抵抗値が、MR素子の困難軸
方向に印加される磁界の強さによって変化する特性を利
用したものであり、このR−H特性は、図36に示すよ
うに、困難軸方向の磁界成分の絶対値が大きくなるに従
って、抵抗値Rが徐々に減少する特性を有する。
【0008】上記地磁気方位センサーにて、実際に地磁
気方位を検出する場合には、マグネットを配置して、M
R素子の困難軸方向に予め固定のバイアス磁界HB(DC)
を印加することにより、その動作点AをR−H特性曲線
の直線部分の中央にもってくるようにしている。これ
は、検出感度を高めるためである。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
地磁気方位センサーにおいては、各MR素子に固定のバ
イアス磁界HB(DC) を印加するようにしているため、そ
の出力特性、即ちR−H特性に、バルクハウゼンノイズ
と、ヒステリシス特性の影響を受け易く、地磁気方位セ
ンサーとしての信頼性に欠けるという問題がある。
【0010】一般に、MR素子のような形状磁気異方性
を有する小さな素子は、不均一な磁壁移動(バルクハウ
ゼン効果)によるノイズ(以下、BHNと記す)が現れ
易い。例えば、図39に示すように、MR素子103の
長軸に対して誘導磁気異方性の傾きを0°とし、このM
R素子103に外部磁界HE をMR素子103の短軸方
向とΔφの角度で印加した場合、そのときのR−H特性
をみると、図38Bに示すように、Δφ=0°のとき
は、BHNの無い特性となるが、外部磁界HE の方向が
上記短軸方向からどちらに傾いてもBHNが現れる。図
38A及びCは、それぞれΔφ=−2°及びΔφ=+2
°の場合のR−H特性を示す。これらの図で示す特性曲
線のうち、不連続な部分がBHNである。
【0011】地磁気方位センサーは、その用途上、全方
位にわたって地磁気を受けるため、従来の地磁気方位セ
ンサーのように、固定のバイアス磁界HB(DC) を印加し
た場合、例えば図39に示すように、BHNによる不連
続部が、特性曲線上、固定のバイアス磁界HB(DC) に対
応した部分よりも小さい磁界レベルに対応した部分にあ
る場合、短軸成分の方向が、固定のバイアス磁界H
B(DC) の方向と反対の方向である外部磁界HE が存在す
るときに、2値の抵抗値R1 及びR2 を示すことにな
り、検出誤差の増大を招く。
【0012】また、MR素子103を一軸異方性多磁区
粒子としてみた場合、図40に示すように、方位θによ
ってヒステリシスを有する。従って、例えば図41に示
すように、外部磁界HE の方位角θが45°から90°
に変化した場合、その方位角90°に移る過程が履歴と
なって残り、最終状態である方位角90°の状態が一義
的に決まらず、検出した方位θの正確性に欠けるという
問題がある。
【0013】ところで、本出願人は、上記課題を解決す
るため、ACバイアスを用いた磁気方位センサーを提案
した。この例では、磁気抵抗効果素子にバイアス磁界と
して磁界レベルが一定周期で交番するバイアス磁界を印
加していたため、この電圧レベルのうち外部磁界によっ
て周期的に現れるバイアス磁界と特定の位相関係にある
電圧レベルを検出する手段として同期検出手段が必要で
あった。このため回路構成が複雑になる傾向があった。
【0014】本発明は、上記の課題に鑑みてなされたも
ので、その目的とするところは、MR素子の出力特性
に、バルクハウゼンノイズやヒステリシス特性の影響を
受けることがなく、信頼性の向上及び検出精度の向上を
図ることができ、低消費電力化が図られ、さらに、製品
コストを削減できる地磁気方位センサーを提供するもの
である。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明の地磁気方位セン
サーは、上記課題を解決するため少なくとも2つの磁気
抵抗効果素子1a及び1bをそれぞれ容易軸方向を違え
て配置し、各磁気抵抗効果素子1a及び1bに対応し
て、容易軸方向にセンス電流を流すセンス電流供給手段
3と、あるレベルを基準として、磁界レベルが一定周期
で単極性の信号波形に準じて変化するバイアス磁界HB
を印加するバイアス磁界印加手段4と、上記バイアス磁
界HB の磁界レベルの変化に応じて周期的に変化する抵
抗値Rの上記センス電流に基づく端子間の電圧レベルV
sのうち、外部磁界HE によって周期的に現れる電圧レ
ベルVsを取り出して平均化する信号処理手段13とを
設けて構成する。
【0016】この場合、上記バイアス磁界HB の一部
に、上記磁気抵抗効果素子1a及び1bが飽和状態に達
する磁界レベルHsをもたせるようにしてもよいし、あ
るいは、磁界レベルが平均化された単極性の矩形状の波
形Psに準じたレベル波形、又は、飽和磁界レベルHs
を有するインパルス的な波形Ppが重畳されたレベル波
形となるように設定してもよい。
【0017】また、各磁気抵抗効果素子1a及び1bと
信号処理手段13の初段とを容量結合又はトランス結合
して構成するようにしてもよい。なお、信号処理手段1
3は平滑回路又は微分回路を設けて構成することができ
る。
【0018】
【作用】本発明に係る地磁気方位センサーにおいては、
センス電流供給手段3により容易軸方向にセンス電流が
供給された磁気抵抗効果素子(以下、単にMR素子と記
す)1a及び1bに対して、バイアス磁界印加手段4に
よりあるレベルを基準として、磁界レベルが一定周期で
単極性の信号波形に準じて変化するバイアス磁界H
B(t) が印加される。このとき、MR素子1a及び1
bの抵抗値Rが変化し、このMR素子にセンス電流が流
れることによってMR素子1a及び1bの両端の端子2
a、2b間に発生する電圧レベルVs(以下、端子間電
圧レベルVsと記す)は、バイアス磁界HB(t) の磁
界レベルの変化に応じて周期的に変化する。この状態
で、ある方位θを有する外部磁界(地磁気)HE が存在
しているとき、バイアス磁界HB (t)の基準レベルが
外部磁界HE の短軸方向成分で示すレベルほどシフトす
る。
【0019】このとき、MR素子1a及び1bの端子間
電圧レベルVsは、同じように、バイアス磁界H
B(t) の磁界レベルの変化に応じて周期的に変化する
ことになるが、バイアス磁界HB(t) の基準レベル
が、外部磁界HE の短軸方向成分で示すレベルほどシフ
トしているため、バイアス磁界の周期にしたがって外部
磁界H E の方位θを間接的に示す電圧レベルが現れる。
【0020】本発明においては、信号処理手段13に
て、バイアス磁界の周期にしたがって現れる上記電圧レ
ベルVsを取り出して平均化する。この平均化処理は、
配置されたMR素子1a及び1b全てに対して行われ
る。従って、各MR素子1a及び1bに対応した平均化
された信号Sv1 及びSv2 を例えば演算回路23でベ
クトル合成することにより、外部磁界HE の方位θが検
出される。
【0021】このように、本発明に係る地磁気方位セン
サーにおいては、MR素子1a及び1b自体が有するバ
ルクハウゼンノイズやヒステリシス特性に起因する出力
(端子間電圧)の不安定さを、単極性の信号波形に準じ
て変化するバイアス磁界によって平均化するため、安定
した出力を得ることができ、精度の高い地磁気の方位角
を測定できる。
【0022】特に、バイアス磁界HB の一部に、上記M
R素子1a及び1bが飽和状態に達する磁界レベルHs
を有するように設定すれば、MR素子1a及び1bに残
る方位θの前歴を、上記飽和状態に達する磁界レベルH
sにて消去することができるため、ヒステリシス特性に
よる検出誤差の発生を防止できる。
【0023】これは、MR素子1a及び1bの製造中、
あるいは使用中において、帯磁等の不具合が生じても、
上記飽和状態に達する磁界レベルHsの印加による消磁
効果により、上記帯磁が消去され、MR素子1a及び1
bの出力特性に影響を及ぼすことがなくなる。
【0024】
【実施例】本発明に係る磁気抵抗効果素子(以下、単に
MR素子と記す)を用いた地磁気方位センサーは、超高
精細度陰極線管において、地磁気によって発生するミス
ランディングを自動的に補正するシステムにおける地磁
気検出用センサーとして使用される。
【0025】通常、カラー陰極線管では、電子銃から出
射された電子ビームが、地磁気により、その軌道が曲げ
られ、蛍光面上でのビーム到達位置(ランディング)が
変化する。特に、高精細度陰極線管においては、ランデ
ィング余裕度が小さいため、このランディングの位置ず
れが色純度の劣化等の問題を引き起こす。
【0026】これを補正するために、ランディング補正
コイルが陰極線管に取り付けられ、このランディング補
正コイルに地磁気の方位・強度に応じて自動的にランデ
ィング補正に必要な最適電流を流すことにより、電子ビ
ームを制御して、ミスランディングを防止するようにし
ている。
【0027】本発明に係る地磁気方位センサーは、この
ようなミスランディング補正における地磁気方位検出用
として使用されるものである。
【0028】また、本発明に係る地磁気方位センサー
は、携帯型の方位計として、従来から用いられてきた磁
石式の地磁気方位センサー(磁気コンパス)の代替とし
ても使用されるものであり、また、自動車等の進路指標
として使用されるナビゲータ装置の方位検出用としても
使用されるものである。
【0029】以下、本発明に係る地磁気方位センサーの
いくつかの実施例を図1〜図34を参照しながら説明す
る。
【0030】まず、第1実施例に係る地磁気方位センサ
ーは、図1に示すように、2つのMR素子(第1のMR
素子1a及び第2のMR素子1b)を有する。
【0031】各MR素子1a及び1bは、図2に示すよ
うに、下地ガラス板上に、FeNi系の強磁性体膜(抵
抗変化率3%)を蒸着法等にて形成した後、フォトリソ
グラフィ等のドライプロセスによりパターニングを行っ
て短冊状に形成されて構成され、各MR素子1a及び1
bの両端にはCuによる電極導体2a及び2bがそれぞ
れ形成される。なお、各MR素子1a及び1bは、その
長軸方向に誘導磁気異方性を有するように磁界中にて蒸
着され、長軸方向が容易軸となっている。本実施例にお
いて、各MR素子1a及び1bの感知部の長さnは10
mm、幅wは10μm、厚さは25〜100nmであ
る。
【0032】そして、この実施例においては、図1に示
すように、各MR素子1a及び1bが、それぞれの長軸
方向が互いに垂直の関係となるように配置される。各M
R素子1a及び1bの両端電極2a及び2b間には、そ
れぞれMR素子1a及び1bの長軸方向にセンス電流を
流すセンス電流供給手段である定電流源3が接続され、
各MR素子1a及び1bに、それぞれMR素子1a及び
1bに対してバイアス磁界HB を印加するバイアス磁界
印加手段4が設けられている。各MR素子1a及び1b
の一方の電極2bは、GNDに接続されてそれぞれ接地
電位に固定されている。
【0033】1つのバイアス磁界印加手段4は、図1に
示すように、励磁電流iB を供給する波形発生回路31
と、この波形発生回路31からの励磁電流iB の供給に
よって、それぞれのMR素子1a(及び1b)の短軸方
向にバイアス磁界HB を発生させる励磁コイル12とか
ら構成されている。
【0034】この波形発生回路31は、図5に示すよう
に、第1のパルスが出力されてから第2のパルスが出力
されるまでの周期Tを10として、パルスの幅T1 が1
であり、以下の式で表される波形を有する正極の矩形波
Psを発生する。
【0035】Ps=e0 u(t) u(t)=1{nT<t≦(n+0.1)T、T1の期
間中} u(t)=0{(n+0.1)T<t≦(n+1、T2
の期間中)T} ここで、n:整数、周期T=1/f、周波数f=3kH
z、T=T1 +T2 、T1 :パルス幅
【0036】従って、MR素子1a及び1bの短軸方向
に印加されるバイアス磁界は、この第1のパルスが出力
されてから第2のパルスが出力されるまでの周期Tを1
0として、パルスの幅T1 が1である矩形波Psに準じ
た以下の式で表される波形H B (t)となる。
【0037】HB (t)=HB0 u(t) u(t)=1{nT<t≦(n+0.1)T、T1の期
間中} u(t)=0{(n+0.1)T<t≦(n+1)T、
2の期間中} ここで、n:整数、周期T=1/f、周波数f=3kH
z、T=T1 +T2 、T1 :パルス幅
【0038】そして、この実施例においては、上記バイ
アス磁界HB (t)とMR素子1a及び1bのR−H特
性曲線との対応関係を以下のようにする。即ち、レベル
Hh(=HB0 )を磁界レベル=0付近のMR素子の不
感帯BZよりも大きく、かつMR素子の異方性磁界レベ
ルHwより小さくする。望ましくは、直線部のほぼ中心
磁界レベルHM (MR素子の最高感度領域での磁界レベ
ル)に設定する。
【0039】また、T1 とTとの関係は、T1 << T
であることが望ましい。本実施例ではT1 :Tを1:1
0となるように設定した。
【0040】また、各MR素子1a及び1bの両端電極
2a及び2bには、それぞれ信号処理回路13が接続さ
れている。各信号処理回路13は、半波整流を行なうダ
イオードDと、両端電極2a及び2bの電圧(端子間電
圧)Vsを平均化して直流化信号Svとして取り出すC
R積分回路22により構成されている。また、このダイ
オードDとMR素子1a(及び1b)の両端電極2a及
び2bは直流ドリフト成分除去のためコンデンサCによ
り容量結合されている。
【0041】ここで、外部磁界による1つのMR素子
(例えば第1のMR素子1a)の抵抗値の変化を図3〜
図14に基づいて説明すると、まず、図3に示すよう
に、第1のMR素子1aに対して、第1のMR素子1a
の短軸方向に外部磁界Hexが印加されると、第1のM
R素子1aの両端の抵抗値Rは、以下の(1)式で表さ
れる。
【0042】
【数1】
【0043】上記(1)式から、外部磁界Hex(又は
φ)の変化に対する第1のMR素子1aの抵抗値Rの変
化の関係、即ちR−H(ρ−H)特性は、図4の特性図
で示すことができる。
【0044】そして、実際に、図6に示すように、例え
ば第1のMR素子1aに対してある角度から外部磁界H
E が印加された場合は、第1のMR素子1aの長軸方向
と外部磁界HE のなす角(方位)をθとしたとき、第1
のMR素子1aの抵抗変化に寄与する磁界は、バイアス
磁界HB (t)と外部磁界HE の短軸方向成分 HEsi
nθとの合成成分(HB (t)+ HE sinθ) であ
る。R−H特性からみると、図7に示すように、第1の
MR素子1aの抵抗変化に寄与する磁界は、外部磁界H
E の短軸方向成分 HE sinθを基準レベルとし、こ
の基準レベルHE sinθにバイアス磁界HB (t)が
重畳された磁界となる。
【0045】具体的に、図8〜図12に基づいて説明す
ると、外部磁界(地磁気)HE の方向と第1のMR素子
1aの長軸とのなす角(方位)θが0°又は180°の
とき、第1のMR素子1aの抵抗変化に寄与する磁界
は、HB(t)+ HEsin0°(又はHB (t)+ H
Esin180°)=HB (t)となり、この磁界によ
って変化する抵抗値Rの変化波形、即ち端子間電圧Vs
の波形は、図8に示すように、バイアス磁界HB(t)
が0レベル(抵抗変化に寄与する磁界が0レベル))の
期間中抵抗値Rが最大で、一定の高レベルを保持し、抵
抗変化に寄与する磁界が最大レベル(バイアス磁界HB
(t)=HB0 )の期間中抵抗値Rが最小で、一定の低
レベルを保持する矩形波に準じた波形となる。
【0046】次に、方位θが30°のとき、第1のMR
素子1aの抵抗変化に寄与する磁界は、HB(t)+ H
Esin30°=HB(t)+ HE/2となり、この磁界
によって変化する抵抗値Rの変化波形は、図9に示すよ
うに、バイアス磁界HB(t)が0レベル(抵抗変化に
寄与する磁界が最小レベル(HE/2))の期間中抵抗
値Rが最大で、一定の高レベルを保持し、抵抗変化に寄
与する磁界が最大レベル(HB0 +HE/2)の期間中抵
抗値Rが最小で、一定の低レベルを保持する矩形波に準
じた波形となる。
【0047】次に、方位θが90°のとき、第1のMR
素子1aの抵抗変化に寄与する磁界は、HB(t)+ H
E sin90°=HB(t)+ HEとなり、この磁界に
よって変化する抵抗値Rの変化波形は、図10に示すよ
うに、バイアス磁界HB(t)が0レベル(抵抗変化に
寄与する磁界が最小レベル(HE ))の期間中抵抗値R
が最大で、一定の高レベルを保持し、抵抗変化に寄与す
る磁界が最大レベル(HB0 +HE )の期間中抵抗値R
が最小で、一定の低レベルを保持する矩形波に準じた波
形となる。
【0048】次に、方位θが210°のとき、第1のM
R素子1aの抵抗変化に寄与する磁界は、HB(t)+
Esin210°=HB(t)− HE/2となり、この
磁界によって変化する抵抗値Rの変化波形は、図11に
示すように、バイアス磁界H B(t)が0レベル(抵抗
変化に寄与する磁界が最小レベル(−HE/2))の期
間中、一定の高レベルを保持し、この場合は、抵抗変化
に寄与する磁界が0レベルの点を介して変化するため、
抵抗変化に寄与する磁界が0レベル(すなわちバイアス
磁界HB(t)= HE/2)のとき抵抗値Rが最大とな
り、抵抗変化に寄与する磁界が最大レベル(HB0 −HE
/2)の期間中抵抗値Rが最小で、一定の低レベルを
保持する矩形波に準じた波形となる。
【0049】次に、方位θが270°のとき、第1のM
R素子1aの抵抗変化に寄与する磁界は、HB(t)+
Esin270°=HB(t)− HEとなり、この磁界
によって変化する抵抗値Rの変化波形は、図12に示す
ように、、バイアス磁界HB(t)が0レベル(抵抗変
化に寄与する磁界が最小レベル(−HE ))の期間中、
一定の高レベルを保持し、この場合は、抵抗変化に寄与
する磁界が0レベルの点を介して変化するため、抵抗変
化に寄与する磁界が0レベル(すなわちバイアス磁界H
B(t)= HE )のとき抵抗値Rが最大となり、抵抗変
化に寄与する磁界が最大レベル(HB0 −HE )の期間
中抵抗値Rが最小で、一定の低レベルを保持する矩形波
に準じた波形となる。
【0050】図8〜図12で示す抵抗値Rの変化波形
(端子間電圧Vs)のうち、一定の低レベル及び一定の
高レベルで示すレベルは方位θに対応した抵抗値R(端
子間電圧Vs)を示している。この一定の低レベル(又
は高レベル)を抽出すれば方位に関する情報が得られる
ことになる。
【0051】即ち、この端子間電圧Vsは外部磁界レベ
ルHE がバイアス磁界の矩形波によってPAM変調され
た信号となっているので、この端子間電圧Vsを復調、
例えば方位θに対応した直流化信号を抽出することによ
り方位に関する情報を得ることができる。
【0052】具体的な復調は、この第1実施例において
は、信号処理回路13の前段に結合コンデンサCを接続
し、第1のMR素子1aからの端子間電圧Vsの変動成
分が平均化されたレベルを0レベルとした信号Va、す
なわち図13に示すように、一定の高レベルが一定の正
レベル、一定の低レベルが一定の負レベルに対応した信
号波形Vaを取り出す。
【0053】本実施例では、T1 << Tであるから、
結合コンデンサCによって端子間電圧Vsの変動成分が
平均化された後の上記一定の負レベルに対して一定の正
レベルはほとんど無視できるため、ダイオードDにより
半波整流して一定の負レベルのみを抽出し、積分回路2
2により平均化して上記信号波形を直流化信号Sv1に
復調している。このときの直流化信号Sv1 の端子間電
圧Va中の信号成分に対する直流レベルの変動はT1
Tが小さいほど小さい。また、本実施例では、この積分
回路22はCR積分回路であるから、出力される直流化
信号Sv1 は、入力信号の極性と同極性の負極性の信号
となる。
【0054】そして、横軸に方位θをとり、縦軸に直流
化信号Sv1 の出力レベルをとると、その特性曲線は、
図14において実線で示すように、−KHEsinθで
示すサインカーブを描くことになる。ここで、Kは比例
定数である。
【0055】また、共通電極(2b1 及び2b2 )と信
号処理回路13とを接続する結合コンデンサCの存在に
より、MR素子1a(及び1b)で発生するDC的なド
リフトを除去することができる。
【0056】積分回路22からの直流化信号Sv1 の出
力レベルは、ある方位θの外部磁界HE によって変化し
たMR素子1aの抵抗値Rをバイアス周波数回だけ平均
化したものとなる。この実施例では、波形発生回路31
の周波数が3kHzであるから、積分回路22からの直
流化信号Sv1 は、上記抵抗値Rを1秒間に3000回
平均化したものとなる。従って、バルクハウゼンノイズ
(BHN)やヒステリシス特性から生じる出力レベルの
ばらつきが、平均化によって吸収され、一定の変動の少
ない出力値になる。
【0057】これは、図14の特性図でもわかるよう
に、実施例の出力特性曲線(実線で示す)は、上述した
ように、−KHEsinθのサインカーブを描き、BH
Nやヒステリシス特性による影響を受けず、変動の少な
い出力特性となっているが、従来の定常DCバイアス磁
界を印加したものは、破線で示すように、サインカーブ
から逸脱した曲線を描き、BHNやヒステリシス特性に
よる影響を受けていることがわかる。なお、図14で示
す特性曲線の各測定ポイントは、同一点で5回測った平
均である。
【0058】上述の動作説明は、第1のMR素子1aを
主体にしてその動作を説明したが、第2のMR素子1b
は、第1のMR素子1aに対してその長軸が90°違え
た方向に配置されていることから、この第2のMR素子
1bに対応する積分回路22からの直流化信号Sv2 の
外部磁界HE の方位θに対する出力特性は、ここでは図
示しないが、 −KHEcosθのコサインカーブを描く
ことになる。
【0059】従って、外部磁界HE の方位θは、以下の
(2)式から求めることができる。 θ = tan-1((−Sv1)/(−Sv2)) …………(2)
【0060】この実施例においては、上記演算を行うた
めに、各積分回路22の後段に演算回路23を接続し、
この演算回路23にて上記演算を行わせて、外部磁界H
E の方位θを求める。具体的には、例えば、各積分回路
22からの直流化信号Sv1及びSv2 をそれぞれデジ
タル信号に変換し、この変換されたデジタル信号に基づ
いて上記演算を行う。
【0061】演算結果(数値データ)は、例えば7セグ
メント構成の液晶ディスプレイを介してキャラクタ表示
すれば、操作者が容易にその方位を確認することができ
る。
【0062】このように、第1実施例に係る地磁気方位
センサーにおいては、MR素子1a及び1b自体が有す
るバルクハウゼンノイズやヒステリシス特性に起因する
出力(端子間電圧)の不安定さを、単極性のパルス状の
バイアス磁界によって平均化するため、安定した出力を
得ることができ、精度の高い地磁気の方位角を測ること
ができる。
【0063】また、バイアス磁界HB の大きさは、望ま
しくは、次の条件が満たされるとよい。
【0064】バイアス磁界HB の大きさが、外部磁界H
E より十分大きいことである。なぜなら、バイアス磁界
が外部磁界より十分大きい場合、MR素子1a及び1b
の動作がバイアス磁界HB の作用によってほぼ決定され
ることになり、外部磁界によるMR素子1a及び1bの
ヒステリシスの影響が軽減される。
【0065】なお、第1実施例においては、バイアス磁
界印加手段3により印加するバイアス磁界を図5に示す
ように正極性の矩形波Psに準じたバイアス磁界とした
が、図15に示すように負極性の矩形波Psをバイアス
磁界としてもよく、また、以下の表1に示すように、上
記矩形波Psの代わりに、半円波や放物線波などをバイ
アス磁界HB として用い、ダイオードDの極性を逆にし
ても検出される直流化信号Svの極性が逆となるだけで
その後の信号処理を変更すればよく有効である。
【0066】
【表1】
【0067】また、これらの波形で示されるバイアス磁
界は、MR素子1a及び1bのR−H動作に好適なバイ
アス波形(波形効率の良い波形)として効果を発揮し、
安定動作に寄与する。
【0068】また、図1で示す第1実施例に係る地磁気
方位センサーにおいては、2つのMR素子1a及び1b
を、それぞれの長軸方向が互いに垂直の関係となるよう
に配置した構成としたが、この変形例として以下のよう
な構成を採用してもよい。
【0069】図16に示すように、4つのMR素子(1
1 ,1a2 ,1b1 及び1b2 )を用意し、これら4
つのMR素子(1a1 ,1a2 ,1b1 及び1b2 )を
それぞれ2組(1a1 ,1a2 )及び(1b1 及び1b
2 )に分け、そのうちの一方の組における2つのMR素
子(1a1 ,1a2 )をそれぞれ一方の電極2b1 及び
2b2 を互いに対向させて、かつそれぞれの長軸方向を
同一方向に揃えて配置し、他方の組における2つのMR
素子(1b1 及び1b2 )をそれぞれ一方の電極2b1
及び2b2 を互いに対向させて、かつそれぞれの長軸方
向を、一方の組におけるMR素子(1a1 ,1a2 )の
長軸方向と90°違えて、同一方向に揃えて配置する。
【0070】そして、各組のそれぞれのMR素子(1a
1 ,1a2 )及び(1b1 及び1b 2 )の互いに対向す
る側の電極2b1 及び2b2 を共通接続して共通電極と
し、互いに対向しない側の電極2a1 及び2a2 間にそ
れぞれMR素子(1a1 ,1a2 )及び(1b1 及び1
2 )の長軸方向にセンス電流を流すためのセンス電流
供給手段として定電圧源51を接続する。そして更に、
各組においてそれぞれ2つのMR素子(1a1 ,1a
2 )及び(1b1 及び1b2 )に対してバイアス磁界H
B を印加するためのバイアス磁界印加手段4を設けて地
磁気センサーを構成する。
【0071】このバイアス磁界印加手段4は、波形発生
回路31と、この波形発生回路31からのパルス電流の
供給によって、各組の一方のMR素子1a1 (及び1b
1 )の短軸方向にバイアス磁界HB(=HB(t))を発
生させる第1の励磁コイル12a及び他方のMR素子の
短軸方向にパルス状バイアス磁界HB(=ーHB(t))
を発生させる第2の励磁コイル12bとで構成した。
【0072】そして、共通電極(2b1 及び2b2 )と
第1実施例と同様な信号処理回路13とを結合コンデン
サCを介して接続する。
【0073】この変形例に係る地磁気方位センサーによ
れば、第1実施例に係る地磁気方位センサーの出力と比
して2倍の出力を得ることができ、方位検出に関する感
度の向上及び出力信号のS/Nの向上が期待できる。
【0074】次に、第2実施例に係る地磁気方位センサ
ーを図1及び図17〜図34に基づいて説明する。な
お、図1と対応するものについては同符号を記す。
【0075】この第2実施例に係る地磁気方位センサー
は、図1に示す第1実施例の地磁気方位センサーと同じ
構成を有するが、バイアス磁界印加手段4の波形発生回
路31の構成と、この波形発生回路31で発生させる電
流波形が異なる。
【0076】この波形発生回路31は、図17に示すよ
うに、第1実施例に準じた正極の矩形波Psの立ち上が
り時に、インパルス的なピークパルスPpを示す擬似矩
形波を発生する。従って、MR素子1a及び1bの短軸
方向に印加されるバイアス磁界HB の波形は、この擬似
矩形波に準じた波形となる。
【0077】そして、バイアス磁界HB (t)とMR素
子1a及び1bのR−H特性曲線との対応関係を以下の
ようにする。即ち、バイアス磁界HB (t)のピークレ
ベルHpを、望ましくはMR素子の異方性磁界レベル以
上(Hp≧Hw)、更に望ましくは、飽和磁界レベル以
上(Hp≧Hs)に設定する。平坦部レベルHh(HB0
)を磁界レベル=0付近のMR素子の不感帯BZより
も大きく、かつMR素子の異方性磁界レベルHwより小
さくする。望ましくは、直線部のほぼ中心磁界レベルH
M (MR素子の最高感度領域の磁界レベル)に設定す
る。
【0078】なお、ピークパルスPpと平坦部Psとの
パルス幅の比は(T3/T2)は、消費電力が問題となら
ない程度にT3が小さく、T3の期間中でMR素子1a及
び1bの帯磁や前歴(前の磁化状態)を消去できる程度
であればよい。
【0079】上記擬似矩形波を発生させる上記波形発生
回路31の具体的な回路構成としては、例えば図18に
示すように、正極の矩形波Psが周期的に発生する矩形
波信号S1 を発生す矩矩形波信号発生回路34と、パル
ス幅が非常に短いパルス波Ppが上記矩形波信号発生回
路34からの矩形波信号S1 の出力タイミングと同期し
て発生する正極パルス信号S2 を発生するパルス信号発
生回路35と、上記矩形波信号発生回路34からの矩形
波信号S1 と上記パルス信号発生回路35からのパルス
信号S2 をミキシングする加算回路36とで構成するこ
とができる。この加算回路36からは、矩形波信号発生
回路34からの矩形波信号S1 に、パルス信号発生回路
35からのパルス信号S2 が重畳された信号、即ち図1
8で示す擬似矩形波信号が出力される。
【0080】上記擬似矩形波の平坦部は、その立ち下が
り部分の近傍において若干のレベル低下(サグ)があっ
てもよいが、その臨界は、図19に示すように、サグの
肩の部分ので発生するバイアス磁界HB の磁界レベルL
sがR−H特性の中心近傍の不感帯BZに達しない程度
である。
【0081】そして、この第2実施例に係る地磁気方位
センサーにおいても、第1実施例に係る地磁気方位セン
サーと同様に、実際に、例えば第1のMR素子1aに対
してある角度から外部磁界HE が印加された場合、第1
のMR素子1aの長軸方向と外部磁界のなす角(方位)
をθとしたとき、第1のMR素子1aの抵抗変化に寄与
する磁界は、擬似矩形波によるバイアス磁界HB と外部
磁界HE の短軸方向成分 HE sinθとの合成成分
(HB (t)+ HE sinθ)である。R−H特性か
らみると、図20に示すように、第1のMR素子1aの
抵抗変化に寄与する磁界は、外部磁界HE の短軸方向成
分HE sinθを基準レベルとし、この基準レベル HE
sinθに擬似矩形波による磁界HB (t)が重畳さ
れた磁界となる。
【0082】具体的に、図21〜図25に基づいて説明
すると、外部磁界(地磁気)HE の方位θが0°又は1
80°のとき、第1のMR素子1aの抵抗変化に寄与す
る磁界は、HB (t)+ HE sin0°(又はHB
(t)+ HE sin180°)=HB (t)となり、
この磁界によって変化する抵抗値Rの変化波形、即ち端
子間電圧Vsの波形は、図21に示すように、バイアス
磁界HB (t)が0レベル(抵抗変化に寄与する磁界が
0レベル)である期間中抵抗値Rが最大となり、一定の
高レベルを保持し、上記抵抗変化に寄与する磁界がピー
クレベルのとき(H B (t)=Hp)抵抗値Rが最小と
なり、上記抵抗変化に寄与する磁界が平坦部レベルHB0
(この場合、R−H特性直線部の中心レベルHM 、バ
イアス磁界HB(t)=HB0 )である期間中、抵抗値R
が一定の低レベルを保持する擬似矩形波に準じた波形と
なる。
【0083】次に、上記方位θが30°のとき、第1の
MR素子1aの抵抗変化に寄与する磁界は、HB (t)
+ HE sin30°=HB (t)+ HE/2となり、
この磁界によって変化する抵抗値Rの変化波形は、図2
2に示すように、上記バイアス磁界HB (t)磁界が0
レベルである期間中、抵抗値Rが最大で、かつ一定の高
レベルを保持し、上記抵抗変化に寄与する磁界がピーク
レベル(Hp+HE /2)のとき抵抗値Rが最小とな
り、上記抵抗変化に寄与する磁界が平坦部レベル(HB0
+HE /2)である期間中、抵抗値Rが一定の低レベ
ルを保持する擬似矩形波に準じた波形となる。
【0084】次に、上記方位θが90°のとき、第1の
MR素子1aの抵抗変化に寄与する磁界は、HB (t)
+ HE sin90°=HB (t)+ HE となり、この
磁界によって変化する抵抗値Rの変化波形は、図23に
示すように、上記バイアス磁界HB (t) が0レベル
のとき、抵抗値Rが最大で、かつ一定の高レベルを保持
し、上記抵抗変化に寄与する磁界がピークレベル(Hp
+HE )のとき抵抗値Rが最小となり、上記抵抗変化に
寄与する磁界が平坦部レベル(HB0 +HE )である期
間中、抵抗値Rが一定の低レベルを保持する擬似矩形波
に準じた波形となる。
【0085】次に、上記方位θが210°のとき、第1
のMR素子1aの抵抗変化に寄与する磁界は、HB
E sin210°=HB (t)− HE/2となり、こ
の磁界によって変化する抵抗値Rの変化波形は、図24
に示すように、上記抵抗変化に寄与する磁界が0レベル
(すなわちバイアス磁界HB(t)= HE/2)のと
き、抵抗値Rが最大で、上記抵抗変化に寄与する磁界が
ピークレベル(Hp−H E /2)のとき抵抗値Rが最小
となり、上記抵抗変化に寄与する磁界が平坦部レベル
(HB0 −HE /2)である期間中、抵抗値Rが一定の
低レベルを保持し、上記バイアス磁界HB(t)が0レ
ベル((上記抵抗変化に寄与する磁界が最小レベル(−
E/2))である期間中、抵抗値Rが一定の高レベル
を保持する擬似矩形波に準じた波形となる。
【0086】次に、上記方位θが270°のとき、第1
のMR素子1aの抵抗変化に寄与する磁界は、HB
Esin270°=HB (t)− HEとなり、この磁
界によって変化する抵抗値Rの変化波形は、図25に示
すように、上記抵抗変化に寄与する磁界が0レベル(す
なわちバイアス磁界HB(t)= HE )のとき抵抗値R
が最大で、上記抵抗変化に寄与する磁界がピークレベル
(Hp−HE )のとき抵抗値Rが最小となり、上記抵抗
変化に寄与する磁界が平坦部レベル(HB0 −HE)であ
る期間中、抵抗値Rが一定の低レベルを保持し、上記バ
イアス磁界HB(t)が0レベル(上記抵抗変化に寄与
する磁界が最小レベル(−HE ))である期間中、抵抗
値Rが一定の高レベルを保持する擬似矩形波に準じた波
形となる。
【0087】図21〜図25で示す抵抗値Rの変化波形
(端子間電圧Vsの波形)のうち、一定の低レベル又は
一定の高レベルで示すレベルは方位θに対応した抵抗値
R(端子間電圧Vs)を示している。この一定の低レベ
ル(又は高レベル)を抽出すれば方位に関する情報が得
られることになる。
【0088】第2実施例では、第1実施例と同様にバイ
アス磁界の矩形波によってPAM方式(パルス振幅変調
方式)で変調された端子間電圧Vsを復調することによ
り、図26に示すように方位θに対応した直流化信号S
v1 を検出している。
【0089】ここで、第1実施例と同様に、横軸に方位
θをとり、縦軸に上記直流化信号Sv1 の出力レベルを
とると、その特性曲線は、図14に示すように、−KH
Esinθで示すサインカーブを描くことになる。な
お、Kは比例定数である。
【0090】また、共通電極(2b1 及び2b2 )と信
号処理回路13とを接続する結合コンデンサCの存在に
より、MR素子1a(及び1b)で発生するDC的なド
リフトを除去することができる。
【0091】この第2実施例においても、積分回路22
からの直流化信号Sv1 の出力レベルは、ある方位θの
外部磁界HE によって変化したMR素子1aの抵抗値R
を波形発生回路31における周波数回だけ平均化したも
のとなる。この実施例では、波形発生回路31の周波数
が3kHzであるから、積分回路22からの直流化信号
Sv1 は、上記抵抗値Rを1秒間に3000回平均化し
たものとなる。従って、BHNやヒステリシス特性から
生じる出力レベルのばらつきが、上記平均化によって吸
収され、一定の変動の少ない出力値になる。
【0092】上記第2実施例の動作説明は、第1のMR
素子1aを主体にしてその動作を説明したが、第2のM
R素子1bは、第1のMR素子1aに対してその長軸が
90°違えた方向に配置されていることから、この第2
のMR素子1bに対応する積分回路22からの直流化信
号Sv2 の外部磁界HE の方位θに対する出力特性は、
−KHEcosθのコサインカーブを描くことになる。
従って、外部磁界HEの方位θは、第1実施例と同様
に、上記(2)式から求めることができ、この演算は、
同様に後段の演算回路23にて行われる。
【0093】このように、上記第2実施例に係る地磁気
方位センサーにおいても、MR素子1a及び1b自体が
有するバルクハウゼンノイズやヒステリシス特性に起因
する出力(端子間電圧)の不安定さを、周期的に変化す
るバイアス磁界によって平均化するため、安定した出力
を得ることができ、精度の高い地磁気の方位角を測るこ
とができる。
【0094】特に、この第2実施例においては、バイア
ス磁界HB (t)のピーク値HpがMR素子1a及び1
bの異方性磁界レベルHw以上としたため、バイアス磁
界H B 1サイクル毎に、MR素子1a及び1bの帯磁や
前歴(前の磁化状態)を消去することができ、MR素子
のヒステリシス特性による検出誤差の発生を防止するこ
とができる。
【0095】これは、MR素子1a及び1bの製造中、
あるいは使用中において、帯磁等の不具合が生じても、
上記飽和状態に達する磁界レベルHsの印加による消磁
効果により、帯磁が消去され、MR素子1a及び1bの
出力特性に影響を及ぼすことがなくなることによるもの
である。
【0096】この第2実施例の場合、上記MR素子の帯
磁や前歴を消去するバイアス磁界H B は、ピークパルス
波形であるため、そのピークレベルHpとしてはその値
が大きくても、実効パワー的には小さく、地磁気方位セ
ンサーとしての消費電力は少なくて済む。
【0097】また、バイアス磁界HB の平坦部レベルH
B0 (=Hh)をMR素子1a及び1bのR−H特性上
の直線部中心レベルHM (MR素子の最高感度領域での
磁界レベル)に合わせてあるため、出力信号としてダイ
ナミックレンジの大きい信号を得ることができ、地磁気
方位センサーの測定感度を高めることができる。特に、
この第2実施例においては、ピークレベルHp(前歴消
去用のバイアスレベル)と上記平坦部レベルHh(動作
用のバイアスレベル)を独立に設定できるため、いわゆ
るオーバーバイアス状態を克服することができる。つま
り、最適バイアス状態で動作させることができる。
【0098】また、疑似矩形波による単極性パルス状バ
イアス磁界HB としたから、信号処理手段13としてC
R積分回路22等の平均化機能を有する簡易な構成で地
磁気の方向を正確に測定でき、歪み出力による変動やゆ
らぎをなくすことができ、安定した動作を行わせること
ができ、低コストで製造できる地磁気方位センサーとな
る。
【0099】なお、第2実施例においては、正極性の矩
形波Psに、インパルス的なピークパルスPpを重畳し
た擬似矩形波をバイアス磁界HB として用いたが、負極
性の矩形波Psに、インパルス的なピークパルスPpを
重畳した擬似矩形波をバイアス磁界HB として用いても
よいし、その他、上記表1に示すように、上記矩形波P
sの代わりに、半円波や放物線波などにインパルス的な
ピークパルスを重畳した疑似半円波や疑似放物線波など
も有効である。
【0100】また、第2実施例に係る地磁気方位センサ
ーにおいては、各MR素子1a及び1bが、それぞれの
長軸方向が互いに垂直の関係となるように配置した構成
としたが、図16で示す上記第1実施例の変形例と同様
に、第2実施例の変形例として、4つのMR素子(1a
1 ,1a2 ,1b1 及び1b2 )をそれぞれ2組(1a
1 ,1a2 )及び(1b1 及び1b2 )に分け、そのう
ちの一方の組における2つのMR素子(1a1 ,1a
2 )をそれぞれ一方の電極2b1 及び2b2 を互いに対
向させて、かつそれぞれの長軸方向を同一方向に揃えて
配置し、他方の組における2つのMR素子(1b1 及び
1b2 )をそれぞれ一方の電極2b1 及び2b2 を互い
に対向させて、かつそれぞれの長軸方向を、上記一方の
組におけるMR素子(1a1 ,1a2 )の長軸方向と9
0°違えて、同一方向に揃えて配置する構成を採用して
もよい。この変形例に係る構成は、第1実施例の変形例
と同じ構成であるため、その詳細な説明は省略する。
【0101】この場合、第1実施例の変形例と同様に、
上記第2実施例に係る地磁気方位センサーの出力と比し
て2倍の出力を得ることができ、方位検出に関する感度
の向上及び出力信号のS/Nの向上が期待できる。
【0102】また、上記第1及び第2実施例において
は、信号処理手段13として積分回路22を用いたが、
図27に示すように積分回路22の前段に微分回路24
を有した構成として信号処理手段13を構成してもよ
い。この場合、Sv1及びSv2として検出される信号は
外部磁界の方位θの時間的変化となる。
【0103】上記第1及び第2実施例においては、信号
処理手段13として積分回路であるCR積分回路22を
用いたが、積分により平均化処理が可能であればCR積
分回路に限らずOPアンプ等の電圧増幅手段を使用して
構成した積分回路でもよい。
【0104】また、端子間電圧VsをADコンバータ等
のアナログ/デジタル変換器でサンプリングしてデジタ
ルデータとして積分演算を行なってもよく、さらに、端
子間電圧Vaをデジタルデータとしてデジタル演算機に
より積分演算以外の演算処理により平均化を行なっても
よい。
【0105】この場合は、演算回路23としての演算を
同時に行なうことができ、この場合は、ADコンバータ
の入力をマルチプレクサ等の入力切り替え手段を使用し
て切り替えることにより1つのADコンバータで複数の
MR素子の端子関電圧を測定でき、装置の低コスト化が
可能となる。
【0106】第1及び第2実施例においては、各MR素
子1a及び1bの両端電極2a及び2b間に、それぞれ
MR素子1a及び1bの長軸方向にセンス電流を流すセ
ンス電流供給手段として定電流源3を接続するようにし
たが、この定電流源3の代わりに定電圧源を接続するよ
うにしてもよい。
【0107】また、上記第1及び第2実施例において
は、MR素子1a及び1bからのDC的ドリフト成分を
除去する目的で、信号処理手段13の前段に結合コンデ
ンサCを接続するようにしたが、図28A及びBに示す
ように、結合コンデンサCの直前又は直後にバッファア
ンプ21を接続するようにしてもよい。
【0108】また、図29A及びBに示すように、結合
コンデンサCの替わりにバッファアンプ21の直後ある
いはその前段にトランス41を接続するようにして信号
処理手段13とトランス結合してもよい。図29Aに示
すように、バッファアンプ21の直後にトランス41を
接続した場合は、MR素子1a(及び1b)で発生する
DC的なドリフトを除去できるほか、バッファアンプ2
1のドリフトも除去することができる。また、トランス
41にて、バッファアンプ21からの出力信号を昇圧す
ることから、次段以降のノイズに対し、有利な伝達系と
なる。一方、図29Bに示すように、バッファアンプ2
1の前段にトランス41を接続した場合は、MR素子1
a(及び1b)で発生するDC的なドリフトを除去でき
るほか、バッファアンプ21の前段で出力信号を昇圧す
ることから、バッファアンプ21以降のノイズに対し、
有利な伝達系となる。
【0109】また、上記第1及び第2実施例において
は、バイアス磁界HB として、正極性の周期的に変化す
る擬似矩形波を連続出力することにより、外部磁界HE
の方位θを検出するようにしたが、その他、図30に示
すように、ある期間T(例えば30ms)を1周期と
し、この周期の最初のある期間tにおいて、正極性の周
期的に変化する擬似矩形波を例えば2連続で出力(5m
s)し、あとの期間ts(25ms)を休止期間とし
た、いわゆるバースト構成のバイアス磁界HB を印加し
て、外部磁界HE の方位θを検出するようにしてもよ
い。
【0110】また、図31に示すように、上記図30で
示すバイアス磁界HB の1周期Tを1ブロックとし、各
ブロック毎に方位を求め、5ブロック単位に平均化し、
この平均化して得た方位をキャラクタ表示するようにし
てもよい。これら図30及び図31で示すバイアス磁界
B の印加方法によれば、消費電力を大幅に低減させる
ことができる。特に、図31で示す方法によれば、方位
θが平均化されるため、安定に方位θを検出することが
できる。
【0111】しかも、休止期間tsに各種情報信号を設
けることにより、方位θ以外の情報を得ることが可能と
なる。例えば、図30に温度ドリフト用の情報信号Sa
を設けた図32のバイアス磁界HB とすることにより、
この地磁気方位センサーの温度ドリフトを検出すること
が可能となり、また、図33に示すように、休止期間t
sに故障診断用の情報信号Sbを設けることにより、こ
の地磁気方位センサーの故障情報を検出することが可能
となる。
【0112】なお、上記各実施例においては、MR素子
1a及び1bを、FeNi系の強磁性体膜にて形成する
ようにしたが、その他、CoNi系の強磁性体膜にて形
成してもよい。また、InSb,InAs,InAs
P,GaAs,Si,Ge等の磁電半導体素子にてMR
素子を構成するようにしてもよい。
【0113】この場合、図34に示すように、例えば感
知部の長さnが〜7mm、幅wが80μm、厚さtが〜
200nmの短冊状の磁電半導体素子42の両端にAu
からなる電極43a及び43bを形成することによりM
R素子1a及び1bが構成される。そして、バイアス磁
界HB 及び抵抗変化に寄与する外部磁界成分HS の印加
方向は、この磁電半導体素子42の板面を垂直方向に貫
く方向である。
【0114】
【発明の効果】上述のように、本発明に係る地磁気方位
センサーによれば、少なくとも2つの磁気抵抗効果素子
がそれぞれ容易軸方向を違えて配置し、各磁気抵抗効果
素子に対応して、容易軸方向にセンス電流を流す手段
と、磁界レベルが一定周期で単極性の信号波形に準じて
変化するバイアス磁界を印加する手段と、上記バイアス
磁界の磁界レベルの変化に応じて周期的に変化する抵抗
値の上記センス電流に基づく端子間の電圧レベルのう
ち、外部磁界によって周期的に現れる電圧レベルを取り
出して平均化する信号処理手段とを設けるようにしたの
で、磁気抵抗効果素子の出力特性に、バルクハウゼンノ
イズやヒステリシス特性の影響を受けることがなく、信
頼性の向上及び検出精度の向上を図ることができ、さら
に、低消費電力化が図られ、低コスト化を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る地磁気方位センサーの第1実施例
をその回路構成と共に示す構成図である。
【図2】第1実施例に係る地磁気方位センサーに使用さ
れるMR素子の構成を示す平面図である。
【図3】MR素子に対して、MR素子の短軸方向に外部
磁界が印加されたときの抵抗変化をベクトル解析して示
す説明図である。
【図4】外部磁界(又はθ)の変化に対するMR素子の
抵抗値の変化(R−H(ρ−H)特性)を示す特性図で
ある。
【図5】第1実施例に係る地磁気方位センサーのバイア
ス磁界印可手段によるバイアス磁界をMR素子のR−H
特性との対応で示す波形図である。
【図6】MR素子に対してある角度θから外部磁界HE
が印加された場合の状態を示す図である。
【図7】第1実施例に係る地磁気方位センサーにおい
て、そのMR素子に対してある角度θから外部磁界HE
が印加された場合のMR素子の抵抗変化に寄与する磁界
を、MR素子のR−H特性との対応で示す波形図であ
る。
【図8】第1実施例に係る地磁気方位センサーにおい
て、外部磁界の方位θが0°又は180°である場合の
MR素子の抵抗変化(端子間電圧の変化)をMR素子の
R−H特性との対応で示す波形図である。
【図9】第1実施例に係る地磁気方位センサーにおい
て、外部磁界の方位θが30°である場合のMR素子の
抵抗変化(端子間電圧の変化)をMR素子のR−H特性
との対応で示す波形図である。
【図10】第1実施例に係る地磁気方位センサーにおい
て、外部磁界の方位θが90°である場合のMR素子の
抵抗変化(端子間電圧の変化)をMR素子のR−H特性
との対応で示す波形図である。
【図11】第1実施例に係る地磁気方位センサーにおい
て、外部磁界の方位θが210°である場合のMR素子
の抵抗変化(端子間電圧の変化)をMR素子のR−H特
性との対応で示す波形図である。
【図12】第1実施例に係る地磁気方位センサーにおい
て、外部磁界の方位θが270°である場合のMR素子
の抵抗変化(端子間電圧の変化)をMR素子のR−H特
性との対応で示す波形図である。
【図13】第1実施例に係る地磁気方位センサーの信号
処理回路での信号処理を示すタイミングチャートであ
る。
【図14】第1実施例に係る地磁気方位センサーの出力
特性、即ち外部磁界の方位に対する直流化信号の出力レ
ベルの変化を示す特性図である。
【図15】第1実施例の変形例に係る地磁気方位センサ
ーのバイアス磁界印可手段によるバイアス磁界をMR素
子のR−H特性との対応で示す波形図である。
【図16】第1実施例の変形例に係る地磁気方位センサ
ーを一部省略して示す構成図である。
【図17】第2実施例に係る地磁気方位センサーのバイ
アス磁界印可手段によるバイアス磁界をMR素子のR−
H特性との対応で示す波形図である。
【図18】第2実施例に係る地磁気方位センサーの波形
発生回路の回路構成の一例を示すブロック図である。
【図19】擬似矩形波(バイアス磁界)における平坦部
のサグの臨界条件を示す説明図である。
【図20】第2実施例に係る地磁気方位センサーにおい
て、そのMR素子に対してある角度θから外部磁界HE
が印加された場合のMR素子の抵抗変化に寄与する磁界
を、MR素子のR−H特性との対応で示す波形図であ
る。
【図21】第2実施例に係る地磁気方位センサーにおい
て、外部磁界の方位θが0°又は180°である場合の
MR素子の抵抗変化(端子間電圧の変化)をMR素子の
R−H特性との対応で示す波形図である。
【図22】第2実施例に係る地磁気方位センサーにおい
て、外部磁界の方位θが30°である場合のMR素子の
抵抗変化(端子間電圧の変化)をMR素子のR−H特性
との対応で示す波形図である。
【図23】第2実施例に係る地磁気方位センサーにおい
て、外部磁界の方位θが90°である場合のMR素子の
抵抗変化(端子間電圧の変化)をMR素子のR−H特性
との対応で示す波形図である。
【図24】第2実施例に係る地磁気方位センサーにおい
て、外部磁界の方位θが210°である場合のMR素子
の抵抗変化(端子間電圧の変化)をMR素子のR−H特
性との対応で示す波形図である。
【図25】第2実施例に係る地磁気方位センサーにおい
て、外部磁界の方位θが270°である場合のMR素子
の抵抗変化(端子間電圧の変化)をMR素子のR−H特
性との対応で示す波形図である。
【図26】第2実施例に係る地磁気方位センサーの信号
処理回路での信号処理を示すタイミングチャートであ
る。
【図27】第1及び第2実施例において信号処理手段1
3を微分回路24及び積分回路22で構成した別例を示
す信号処理手段13の回路図である。
【図28】第1及び実施例に係る地磁気方位センサーに
おいての容量結合を示す回路構成図であり、同図Aは信
号処理手段に接続される結合コンデンサの前段にバッフ
ァアンプを接続した例を示し、同図Bは信号処理手段に
接続される結合コンデンサの次段にバッファアンプを接
続した回路構成を示す。
【図29】第1及び第2実施例に係る地磁気方位センサ
ーにおいてのトランス結合を示す回路構成図であり、同
図Aはバッファアンプの次段にトランスを接続した回路
構成を示し、同図Bはバッファアンプの前段にトランス
を接続した回路構成を示す。
【図30】第1及び第2実施例に係る地磁気方位センサ
ーにおいて、バイアス磁界の印加タイミングの他の例を
示すタイミングチャートである。
【図31】第1及び第2実施例に係る地磁気方位センサ
ーにおいて、バイアス磁界の印加タイミングの更に他の
例を示すタイミングチャートである。
【図32】第1及び第2実施例に係る地磁気方位センサ
ーにおいて、バイアス磁界印加の休止期間に温度ドリフ
ト用の情報信号を設けた例を示すタイミングチャートで
ある。
【図33】第1及び第2実施例に係る地磁気方位センサ
ーにおいて、バイアス磁界印加の休止期間に故障診断用
の情報信号を設けた例を示すタイミングチャートであ
る。
【図34】第1及び第2実施例に係る地磁気方位センサ
ーにおいて、磁電半導体素子にてMR素子を構成した場
合を示す斜視図である。
【図35】従来例に係る磁石式の地磁気方位センサーを
示す平面図である。
【図36】現用の通常的なMR素子の外部磁界に対する
抵抗変化特性(Δρ−H特性)を示す特性図である。
【図37】長軸に対して誘導磁気異方性の傾きを0°と
したMR素子に対して、外部磁界をMR素子の短軸方向
とΔφの角度で印加した場合の状態を示す図である。
【図38】MR素子に対して、外部磁界をMR素子の短
軸方向とΔφの角度で印加した場合のMR素子のR−H
特性を示す特性図であり、同図AはΔφ=−2°のと
き、同図BはΔφ=0°のとき、同図CはΔφ=+2°
のときをそれぞれ示す。
【図39】バルクハウゼンノイズによる不都合を示す説
明図である。
【図40】MR素子の外部磁界の方位によるヒステリシ
ス特性を示す特性図である。
【図41】外部磁界の方位θが45°から90°に変化
した場合、その方位変化のヒステリシスによる前歴を示
す説明図である。
【符号の説明】 1a及び1b MR素子 2a及び2b 電極 3 センス電流供給手段(定電流源) 4 バイアス磁界印加手段 12 励磁コイル 21 バッファアンプ 22 積分回路 23 演算回路 24 微分回路 31 波形発生回路 C 結合コンデンサ D ダイオード 34 矩形波信号発生回路 35 パルス信号発生回路 36 加算回路 41 トランス 42 磁電半導体素子 51 定電圧源(センス電流供給手段)

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも2つの磁気抵抗効果素子がそ
    れぞれ容易軸方向を違えて配置され、 各磁気抵抗効果素子に対応して、それぞれの容易軸方向
    にセンス電流を流すセンス電流供給手段と、 あるレベルを基準として、磁界レベルが一定周期で単極
    性の信号波形に準じて変化するバイアス磁界を印加する
    バイアス磁界印加手段と、 上記バイアス磁界の磁界レベルの変化に応じて周期的に
    変化する抵抗値の上記センス電流に基づく端子間の電圧
    レベルのうち、外部磁界によって周期的に現れる電圧レ
    ベルを取り出して平均化する信号処理手段とを有するこ
    とを特徴する地磁気方位センサー。
  2. 【請求項2】 上記バイアス磁界は、その一部におい
    て、上記磁気抵抗効果素子が望ましくは飽和状態以上に
    達する磁界レベルを有することを特徴する請求項1に記
    載の地磁気方位センサー。
  3. 【請求項3】 上記バイアス磁界は、磁界レベルが平均
    化された単極性の矩形波に準じたレベル波形を有するこ
    とを特徴する請求項1又は2記載の地磁気方位センサ
    ー。
  4. 【請求項4】 上記バイアス磁界は、磁界レベルが望ま
    しくは飽和磁界レベル以上のレベルを有するインパルス
    的な波形が重畳されたレベル波形を有することを特徴す
    る請求項1、2又は3記載の地磁気方位センサー。
  5. 【請求項5】 上記信号処理手段の初段が、それぞれ磁
    気抵抗効果素子と容量結合されていることを特徴する請
    求項1〜4のいずれか1記載の地磁気方位センサー。
  6. 【請求項6】 上記信号処理手段の初段が、それぞれ磁
    気抵抗効果素子とトランス結合されていることを特徴す
    る請求項1から5いずれか1記載の地磁気方位センサ
    ー。
  7. 【請求項7】 上記信号処理手段に平滑回路を有するこ
    とを特徴する請求項1〜6のいずれか1記載の地磁気方
    位センサー。
  8. 【請求項8】 上記信号処理手段に微分回路を有するこ
    とを特徴する請求項1〜7のいずれか1記載の地磁気方
    位センサー。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000055997A (ja) * 1998-08-05 2000-02-25 Tdk Corp 磁気センサ装置および電流センサ装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000055997A (ja) * 1998-08-05 2000-02-25 Tdk Corp 磁気センサ装置および電流センサ装置

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