JPH0735716A - 厚膜ガスセンサおよびその製造方法 - Google Patents
厚膜ガスセンサおよびその製造方法Info
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- JPH0735716A JPH0735716A JP22766193A JP22766193A JPH0735716A JP H0735716 A JPH0735716 A JP H0735716A JP 22766193 A JP22766193 A JP 22766193A JP 22766193 A JP22766193 A JP 22766193A JP H0735716 A JPH0735716 A JP H0735716A
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- oxide
- gas sensor
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- film gas
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Abstract
(57)【要約】
【目的】抵抗値の経時安定性と、初期鳴動特性に優れる
厚膜ガスセンサを得る。 【構成】基板1に対して酸化スズに白金を担持した第一
の被覆層3と、酸化パラジウムの薄膜である第一の触媒
層4と酸化スズからなる感ガス層5と、酸化パラジウム
の薄膜である第二の触媒層6と、酸化スズに白金を担持
した第二の被覆層7を順次積層する。
厚膜ガスセンサを得る。 【構成】基板1に対して酸化スズに白金を担持した第一
の被覆層3と、酸化パラジウムの薄膜である第一の触媒
層4と酸化スズからなる感ガス層5と、酸化パラジウム
の薄膜である第二の触媒層6と、酸化スズに白金を担持
した第二の被覆層7を順次積層する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はLPガス,都市ガス,
水素ガス等を検出するガス漏れ警報器用の厚膜ガスセン
サに係り、特に初期鳴動時間の短い圧膜ガスセンサの構
成に関する。
水素ガス等を検出するガス漏れ警報器用の厚膜ガスセン
サに係り、特に初期鳴動時間の短い圧膜ガスセンサの構
成に関する。
【0002】
【従来の技術】ガスセンサの一つとして酸化スズや酸化
亜鉛等の金属酸化物半導体を用いるものが知られてい
る。これら金属酸化物半導体は大気中において300な
いし500℃程度に加熱されると粒子表面に大気中の酸
素が活性化吸着し、高抵抗化するが還元性ガスである被
検ガス中では還元性ガスが吸着酸素に替えて金属酸化物
半導体に吸着され電気抵抗値が減少する。このような性
質を利用して金属酸化物半導体を利用するガスセンサが
LPガスや都市ガス等のガス漏れ警報器用に利用されて
いる。
亜鉛等の金属酸化物半導体を用いるものが知られてい
る。これら金属酸化物半導体は大気中において300な
いし500℃程度に加熱されると粒子表面に大気中の酸
素が活性化吸着し、高抵抗化するが還元性ガスである被
検ガス中では還元性ガスが吸着酸素に替えて金属酸化物
半導体に吸着され電気抵抗値が減少する。このような性
質を利用して金属酸化物半導体を利用するガスセンサが
LPガスや都市ガス等のガス漏れ警報器用に利用されて
いる。
【0003】図9は従来の厚膜ガスセンサを示す平面図
である。図10は従来の厚膜ガスセンサを示す図9のC
−C矢視断面図である。従来の厚膜ガスセンサはアルミ
ナ等の絶縁性基板1の一主面上に感ガス層4と酸化燃焼
層3Aを積層して形成される。基板1の他の主面にはヒ
ータ8が形成され厚膜ガスセンサを所定の温度に加熱す
る。感ガス層4は例えば酸化スズからなる層である。酸
化燃焼層3Aは酸化スズに白金のような貴金属触媒を担
持して形成される。この酸化燃焼層3Aは感ガス層4の
可燃性ガスに対する感度の経時的な安定性を高めるとと
もに、可燃ガスに対する選択性を高めてアルコール等に
対する感度を低減させる。感ガス層4またはヒータ8に
は電極2,2Aを介して商用電源が直接的に印加され
る。
である。図10は従来の厚膜ガスセンサを示す図9のC
−C矢視断面図である。従来の厚膜ガスセンサはアルミ
ナ等の絶縁性基板1の一主面上に感ガス層4と酸化燃焼
層3Aを積層して形成される。基板1の他の主面にはヒ
ータ8が形成され厚膜ガスセンサを所定の温度に加熱す
る。感ガス層4は例えば酸化スズからなる層である。酸
化燃焼層3Aは酸化スズに白金のような貴金属触媒を担
持して形成される。この酸化燃焼層3Aは感ガス層4の
可燃性ガスに対する感度の経時的な安定性を高めるとと
もに、可燃ガスに対する選択性を高めてアルコール等に
対する感度を低減させる。感ガス層4またはヒータ8に
は電極2,2Aを介して商用電源が直接的に印加され
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述のよ
うな従来の二層型厚膜ガスセンサにおいては初期鳴動時
間が長くなるという問題があった。図11は従来の厚膜
ガスセンサの初期鳴動特性を示す線図である。この初期
鳴動はガスセンサに電源を投入してガスセンサの使用を
開始したときにセンサの抵抗が一旦減少してから上昇す
るために抵抗の減少している間は警報を発することとな
り初期鳴動時間はその警報を発している時間を指す。従
ってこの鳴動時間中はガスセンサが警報を発しないよう
に制御するがこの初期鳴動時間が長くなるとガスセンサ
の使用開始に手間取り好ましくないのである。二層型の
厚膜ガスセンサにおいて初期鳴動時間が長くなる原因は
電源投入後に感ガス層の金属酸化物半導体が酸素を吸着
して電気抵抗値を増大するがこの酸素吸着に時間がかか
るためである。従って酸素吸着速度を増大させる触媒を
感ガス層の金属酸化物半導体に担持すればよいが触媒の
種類によっては活性度の変化により金属酸化物半導体の
酸素吸着量を減少させて電気抵抗値の低下をもたらす。
うな従来の二層型厚膜ガスセンサにおいては初期鳴動時
間が長くなるという問題があった。図11は従来の厚膜
ガスセンサの初期鳴動特性を示す線図である。この初期
鳴動はガスセンサに電源を投入してガスセンサの使用を
開始したときにセンサの抵抗が一旦減少してから上昇す
るために抵抗の減少している間は警報を発することとな
り初期鳴動時間はその警報を発している時間を指す。従
ってこの鳴動時間中はガスセンサが警報を発しないよう
に制御するがこの初期鳴動時間が長くなるとガスセンサ
の使用開始に手間取り好ましくないのである。二層型の
厚膜ガスセンサにおいて初期鳴動時間が長くなる原因は
電源投入後に感ガス層の金属酸化物半導体が酸素を吸着
して電気抵抗値を増大するがこの酸素吸着に時間がかか
るためである。従って酸素吸着速度を増大させる触媒を
感ガス層の金属酸化物半導体に担持すればよいが触媒の
種類によっては活性度の変化により金属酸化物半導体の
酸素吸着量を減少させて電気抵抗値の低下をもたらす。
【0005】この発明は上述の点に鑑みてなされ、その
目的は金属酸化物半導体の抵抗値は変動させないが酸素
吸着速度は増大させる触媒を用いることにより安定性と
初期鳴動特性に優れる厚膜ガスセンサおよびその製造方
法を提供することにある。
目的は金属酸化物半導体の抵抗値は変動させないが酸素
吸着速度は増大させる触媒を用いることにより安定性と
初期鳴動特性に優れる厚膜ガスセンサおよびその製造方
法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上述の目的は第一の発明
によれば、金属酸化物半導体の抵抗値の変化を利用して
ガスの有無を検出する厚膜ガスセンサであって、基板
と、一対の電極と、第一の酸化燃焼層と、感ガス層と、
第二の酸化燃焼層とを包含し、基板はガスセンサの支持
体であり、一対の電極は基板上に離間して直接的に被着
され、第一の酸化燃焼層は基板と一対の電極上に選択的
に積層され、感ガス層は第一の酸化燃焼層と一対の電極
上に選択的に積層され、第二の酸化燃焼層は感ガス層の
全部を被覆して積層され、第一の酸化燃焼層は金属酸化
物担体に貴金属触媒を担持してなり、第二の酸化燃焼層
は金属酸化物担体に貴金属触媒を担持してなり、感ガス
層は金属酸化物半導体に酸化コバルト,酸化マンガン,
酸化ニッケル,酸化銅,酸化鉄,酸化亜鉛,酸化クロ
ム,酸化バナジウム,酸化チタン,酸化アルミニウムの
群から選ばれた少なくとも一つを含有させてなるとする
ことにより達成される。
によれば、金属酸化物半導体の抵抗値の変化を利用して
ガスの有無を検出する厚膜ガスセンサであって、基板
と、一対の電極と、第一の酸化燃焼層と、感ガス層と、
第二の酸化燃焼層とを包含し、基板はガスセンサの支持
体であり、一対の電極は基板上に離間して直接的に被着
され、第一の酸化燃焼層は基板と一対の電極上に選択的
に積層され、感ガス層は第一の酸化燃焼層と一対の電極
上に選択的に積層され、第二の酸化燃焼層は感ガス層の
全部を被覆して積層され、第一の酸化燃焼層は金属酸化
物担体に貴金属触媒を担持してなり、第二の酸化燃焼層
は金属酸化物担体に貴金属触媒を担持してなり、感ガス
層は金属酸化物半導体に酸化コバルト,酸化マンガン,
酸化ニッケル,酸化銅,酸化鉄,酸化亜鉛,酸化クロ
ム,酸化バナジウム,酸化チタン,酸化アルミニウムの
群から選ばれた少なくとも一つを含有させてなるとする
ことにより達成される。
【0007】第二の発明によれば金属酸化物半導体の抵
抗値の変化を利用してガスの有無を検出する厚膜ガスセ
ンサであって、基板と、一対の電極と、第三の酸化燃焼
層と、感ガス層とを包含し、基板はガスセンサの支持体
であり、一対の電極は基板上に離間して直接的に被着さ
れ、感ガス層は基板と一対の電極上に選択的に積層さ
れ、第三の酸化燃焼層は感ガス層の全部を被覆して積層
され、第三の酸化燃焼層は金属酸化物担体に貴金属触媒
を担持してなり、感ガス層は金属酸化物半導体に酸化コ
バルト,酸化マンガン,酸化ニッケル,酸化銅,酸化
鉄,酸化亜鉛,酸化クロム,酸化バナジウム,酸化チタ
ン,酸化アルミニウムの群から選ばれた少なくとも一つ
を含有させてなるとすることにより達成される。
抗値の変化を利用してガスの有無を検出する厚膜ガスセ
ンサであって、基板と、一対の電極と、第三の酸化燃焼
層と、感ガス層とを包含し、基板はガスセンサの支持体
であり、一対の電極は基板上に離間して直接的に被着さ
れ、感ガス層は基板と一対の電極上に選択的に積層さ
れ、第三の酸化燃焼層は感ガス層の全部を被覆して積層
され、第三の酸化燃焼層は金属酸化物担体に貴金属触媒
を担持してなり、感ガス層は金属酸化物半導体に酸化コ
バルト,酸化マンガン,酸化ニッケル,酸化銅,酸化
鉄,酸化亜鉛,酸化クロム,酸化バナジウム,酸化チタ
ン,酸化アルミニウムの群から選ばれた少なくとも一つ
を含有させてなるとすることにより達成される。
【0008】また第三の発明によれば金属酸化物半導体
の抵抗値の変化を利用してガスの有無を検出する厚膜ガ
スセンサの製造方法であって、(1)酸化燃焼層の成膜
工程と、(2)感ガス層の成膜工程とを包含し、酸化燃
焼層の成膜工程は貴金属触媒を担持した金属酸化物粉体
のペーストを調製し、塗布乾燥し、熱処理する工程であ
り、感ガス層の成膜工程は金属酸化物半導体の粉体にニ
ッケル,鉄,アルミニウムまたはクロムの金属粉体を添
加したペーストを調製し、塗布乾燥し、熱処理する工程
であるとすることにより達成される。
の抵抗値の変化を利用してガスの有無を検出する厚膜ガ
スセンサの製造方法であって、(1)酸化燃焼層の成膜
工程と、(2)感ガス層の成膜工程とを包含し、酸化燃
焼層の成膜工程は貴金属触媒を担持した金属酸化物粉体
のペーストを調製し、塗布乾燥し、熱処理する工程であ
り、感ガス層の成膜工程は金属酸化物半導体の粉体にニ
ッケル,鉄,アルミニウムまたはクロムの金属粉体を添
加したペーストを調製し、塗布乾燥し、熱処理する工程
であるとすることにより達成される。
【0009】酸化燃焼層はアルコール等の干渉ガスを酸
化燃焼して厚膜ガスセンサに対する干渉ガスの影響をな
くす。感ガス層はLPガス等の被検ガスを吸着して電気
抵抗値を減少し被検ガスを検出する。第一の酸化燃焼層
と第二の酸化燃焼層は感ガス層に対する空気の供給速度
を高める。
化燃焼して厚膜ガスセンサに対する干渉ガスの影響をな
くす。感ガス層はLPガス等の被検ガスを吸着して電気
抵抗値を減少し被検ガスを検出する。第一の酸化燃焼層
と第二の酸化燃焼層は感ガス層に対する空気の供給速度
を高める。
【0010】
【作用】酸化コバルト,酸化マンガン,酸化ニッケル,
酸化銅,酸化鉄,酸化亜鉛,酸化クロム,酸化バナジウ
ム,酸化チタン,酸化アルミニウム等の酸化物は感ガス
層の金属酸化物半導体中に含有された状態で金属酸化物
半導体が酸素吸着する際の触媒として機能する。
酸化銅,酸化鉄,酸化亜鉛,酸化クロム,酸化バナジウ
ム,酸化チタン,酸化アルミニウム等の酸化物は感ガス
層の金属酸化物半導体中に含有された状態で金属酸化物
半導体が酸素吸着する際の触媒として機能する。
【0011】前記酸化物触媒は感ガス層の金属酸化物半
導体中に含有された状態で粒成長を起こさず、触媒活性
を一定に維持し金属酸化物半導体の酸素吸着量で決定さ
れる電気抵抗値を安定に維持する。
導体中に含有された状態で粒成長を起こさず、触媒活性
を一定に維持し金属酸化物半導体の酸素吸着量で決定さ
れる電気抵抗値を安定に維持する。
【0012】
【実施例】次にこの発明の実施例を図面に基づいて説明
する。 実施例1 図1は第一の発明の実施例に係る厚膜ガスセンサを示す
平面図である。図2は第一の発明の実施例に係る厚膜ガ
スセンサを示す図1のA−A矢視断面図である。
する。 実施例1 図1は第一の発明の実施例に係る厚膜ガスセンサを示す
平面図である。図2は第一の発明の実施例に係る厚膜ガ
スセンサを示す図1のA−A矢視断面図である。
【0013】第一の発明の実施例に係る厚膜ガスセンサ
の構造は次の通りである。基板1の一主面上に離間して
二つの電極2が設けられる。基板1と電極2の上に第一
の酸化燃焼層3Bが選択的に設けられる。第一の酸化燃
焼層3Bと電極2の上に感ガス層4が選択的に形成され
る。感ガス層4を完全に被覆して第二の酸化燃焼層3C
が設けられる。電極2にリード線7が接続される。基板
1の他の主面には電極2Aが形成され、電極2Aと基板
1の上に選択的にヒータ8が形成され、電極2Aにはリ
ード線9が接続される。
の構造は次の通りである。基板1の一主面上に離間して
二つの電極2が設けられる。基板1と電極2の上に第一
の酸化燃焼層3Bが選択的に設けられる。第一の酸化燃
焼層3Bと電極2の上に感ガス層4が選択的に形成され
る。感ガス層4を完全に被覆して第二の酸化燃焼層3C
が設けられる。電極2にリード線7が接続される。基板
1の他の主面には電極2Aが形成され、電極2Aと基板
1の上に選択的にヒータ8が形成され、電極2Aにはリ
ード線9が接続される。
【0014】基板1は厚さ0.5mmで縦3mm、横3
mmの研磨されたアルミナ基板である。ヒータは酸化ル
テニウム抵抗体からなる。このような厚膜ガスセンサは
次のようにして調製される。基板1の二つの主面に白金
電極ペーストを所定のパターンでスクリーン印刷し、乾
燥後約1100℃の温度で焼成した。酸化ルテニウムか
らなるヒータ用ペーストを所定のパターンでスクリーン
印刷し所定の温度で焼成した。
mmの研磨されたアルミナ基板である。ヒータは酸化ル
テニウム抵抗体からなる。このような厚膜ガスセンサは
次のようにして調製される。基板1の二つの主面に白金
電極ペーストを所定のパターンでスクリーン印刷し、乾
燥後約1100℃の温度で焼成した。酸化ルテニウムか
らなるヒータ用ペーストを所定のパターンでスクリーン
印刷し所定の温度で焼成した。
【0015】酸化スズ粉体を乾燥空気中で温度730℃
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に白金の含有量が
酸化スズ粉体に対して2%になるように調整した塩化白
金酸H2PtCl6 の水溶液を加え、混練したのち、乾燥し
た。この粉体を温度600℃で3h熱処理し、塩化白金
酸H2PtCl6 を分解して酸化スズ粉体上に白金を担持させ
た。得られた粉体をボールミルで粉砕したのち、エチル
シリケート,エチルセルロース,カルビトール等を適量
加え、混練して第一の酸化燃焼層用のペーストを得た。
得られた第一の酸化燃焼層用のペーストを所定のパター
ンにより20μm厚さにスクリーン印刷し、120℃で
2h乾燥した。
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に白金の含有量が
酸化スズ粉体に対して2%になるように調整した塩化白
金酸H2PtCl6 の水溶液を加え、混練したのち、乾燥し
た。この粉体を温度600℃で3h熱処理し、塩化白金
酸H2PtCl6 を分解して酸化スズ粉体上に白金を担持させ
た。得られた粉体をボールミルで粉砕したのち、エチル
シリケート,エチルセルロース,カルビトール等を適量
加え、混練して第一の酸化燃焼層用のペーストを得た。
得られた第一の酸化燃焼層用のペーストを所定のパター
ンにより20μm厚さにスクリーン印刷し、120℃で
2h乾燥した。
【0016】酸化スズ粉体を乾燥空気中で温度730℃
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に酸化コバルトCo
O ,酸化マンガMnO ,酸化ニッケルNiO, 酸化銅CuO ,
酸化鉄Fe2O3 ,酸化亜鉛ZnO ,酸化クロムCr2O3 ,酸化
バナジウムV2O5,酸化チタンTiO2もしくは酸化アルミニ
ウムAl2O3 の粉体を酸化スズ粉体に対して0.1重量%
の割合になるように加え混合しさらにエチルシリケー
ト,エチルセルロース,カルビトール等を適量加え混練
して感ガス層用のペーストを得た。得られたペーストを
所定のパターンにより50μm厚さにスクリーン印刷
し、120℃で2h乾燥した。
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に酸化コバルトCo
O ,酸化マンガMnO ,酸化ニッケルNiO, 酸化銅CuO ,
酸化鉄Fe2O3 ,酸化亜鉛ZnO ,酸化クロムCr2O3 ,酸化
バナジウムV2O5,酸化チタンTiO2もしくは酸化アルミニ
ウムAl2O3 の粉体を酸化スズ粉体に対して0.1重量%
の割合になるように加え混合しさらにエチルシリケー
ト,エチルセルロース,カルビトール等を適量加え混練
して感ガス層用のペーストを得た。得られたペーストを
所定のパターンにより50μm厚さにスクリーン印刷
し、120℃で2h乾燥した。
【0017】酸化スズ粉体を乾燥空気中で温度730℃
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に白金の含有量が
酸化スズ粉体に対して2%になるように調整した塩化白
金酸H2PtCl6 の水溶液を加え、混練したのち、乾燥し
た。この粉体を温度600℃で3h熱処理し、塩化白金
酸H2PtCl6 を分解して酸化スズ粉体上に白金を担持させ
た。得られた粉体をボールミルで粉砕したのち、エチル
シリケート,エチルセルロース,カルビトール等を適量
加え、混練して第二の酸化燃焼層用のペーストを得た。
得られた第二の酸化燃焼層用のペーストを所定のパター
ンにより20μm厚さにスクリーン印刷し、120℃で
2h乾燥した。
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に白金の含有量が
酸化スズ粉体に対して2%になるように調整した塩化白
金酸H2PtCl6 の水溶液を加え、混練したのち、乾燥し
た。この粉体を温度600℃で3h熱処理し、塩化白金
酸H2PtCl6 を分解して酸化スズ粉体上に白金を担持させ
た。得られた粉体をボールミルで粉砕したのち、エチル
シリケート,エチルセルロース,カルビトール等を適量
加え、混練して第二の酸化燃焼層用のペーストを得た。
得られた第二の酸化燃焼層用のペーストを所定のパター
ンにより20μm厚さにスクリーン印刷し、120℃で
2h乾燥した。
【0018】第一の酸化燃焼層と感ガス層と第二の酸化
燃焼層を印刷し乾燥した後にこれらを630℃の温度で
3h同時に焼成して第一の酸化燃焼層3B、感ガス層
4、第二の酸化燃焼層3Cを形成した。続いて電極2,
2Aにそれぞれ白金リード線7,9を接続して厚膜ガス
センサを得た。それぞれのリード線を警報器の回路に接
続した。 比較例1 実施例1の厚膜ガスセンサと同一の構造のセンサを用い
た。
燃焼層を印刷し乾燥した後にこれらを630℃の温度で
3h同時に焼成して第一の酸化燃焼層3B、感ガス層
4、第二の酸化燃焼層3Cを形成した。続いて電極2,
2Aにそれぞれ白金リード線7,9を接続して厚膜ガス
センサを得た。それぞれのリード線を警報器の回路に接
続した。 比較例1 実施例1の厚膜ガスセンサと同一の構造のセンサを用い
た。
【0019】比較例1に係る厚膜ガスセンサ次のように
して調製される。基板1の二つの主面に白金電極ペース
トをが所定のパターンでスクリーン印刷し、乾燥後約1
100℃の温度で焼成した。酸化ルテニウムからなるヒ
ータ用ペーストを所定のパターンでスクリーン印刷し所
定の温度で焼成した。酸化スズ粉体を乾燥空気中で温度
730℃で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に白金の
含有量が酸化スズ粉体に対して2%になるように調整し
た塩化白金酸H2PtCl6 の水溶液を加え、混練したのち、
乾燥した。この粉体を温度600℃で3h熱処理し、塩
化白金酸H2PtCl6 を分解して酸化スズ粉体上に白金を担
持させた。得られた粉体をボールミルで粉砕したのち、
エチルシリケート,エチルセルロース,カルビトール等
を適量加え、混練して第一の酸化燃焼層用のペーストを
得た。得られた第一の酸化燃焼層用のペーストを所定の
パターンにより20μm厚さにスクリーン印刷し、12
0℃で2h乾燥した。
して調製される。基板1の二つの主面に白金電極ペース
トをが所定のパターンでスクリーン印刷し、乾燥後約1
100℃の温度で焼成した。酸化ルテニウムからなるヒ
ータ用ペーストを所定のパターンでスクリーン印刷し所
定の温度で焼成した。酸化スズ粉体を乾燥空気中で温度
730℃で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に白金の
含有量が酸化スズ粉体に対して2%になるように調整し
た塩化白金酸H2PtCl6 の水溶液を加え、混練したのち、
乾燥した。この粉体を温度600℃で3h熱処理し、塩
化白金酸H2PtCl6 を分解して酸化スズ粉体上に白金を担
持させた。得られた粉体をボールミルで粉砕したのち、
エチルシリケート,エチルセルロース,カルビトール等
を適量加え、混練して第一の酸化燃焼層用のペーストを
得た。得られた第一の酸化燃焼層用のペーストを所定の
パターンにより20μm厚さにスクリーン印刷し、12
0℃で2h乾燥した。
【0020】酸化スズ粉体を乾燥空気中で温度730℃
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体にエチルシリケー
ト,エチルセルロース,カルビトール等を適量加え混練
して感ガス層用のペーストを得た。得られたペーストを
所定のパターンにより50μm厚さにスクリーン印刷
し、120℃で2h乾燥した。酸化スズ粉体を乾燥空気
中で温度730℃で2h処理し、得られた酸化スズ粉体
に白金の含有量が酸化スズ粉体に対して2%になるよう
に調整した塩化白金酸H2PtCl6 の水溶液を加え、混練し
たのち、乾燥した。この粉体を温度600℃で3h熱処
理し、塩化白金酸H2PtCl6 を分解して酸化スズ粉体上に
白金を担持させた。得られた粉体をボールミルで粉砕し
たのち、エチルシリケート,エチルセルロース,カルビ
トール等を適量加え、混練して第二の酸化燃焼層用のペ
ーストを得た。得られた第二の酸化燃焼層用のペースト
を所定のパターンにより20μm厚さにスクリーン印刷
し、120℃で2h乾燥した。
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体にエチルシリケー
ト,エチルセルロース,カルビトール等を適量加え混練
して感ガス層用のペーストを得た。得られたペーストを
所定のパターンにより50μm厚さにスクリーン印刷
し、120℃で2h乾燥した。酸化スズ粉体を乾燥空気
中で温度730℃で2h処理し、得られた酸化スズ粉体
に白金の含有量が酸化スズ粉体に対して2%になるよう
に調整した塩化白金酸H2PtCl6 の水溶液を加え、混練し
たのち、乾燥した。この粉体を温度600℃で3h熱処
理し、塩化白金酸H2PtCl6 を分解して酸化スズ粉体上に
白金を担持させた。得られた粉体をボールミルで粉砕し
たのち、エチルシリケート,エチルセルロース,カルビ
トール等を適量加え、混練して第二の酸化燃焼層用のペ
ーストを得た。得られた第二の酸化燃焼層用のペースト
を所定のパターンにより20μm厚さにスクリーン印刷
し、120℃で2h乾燥した。
【0021】第一の酸化燃焼層と感ガス層と第二の酸化
燃焼層を印刷し乾燥した後にこれらを630℃の温度で
3h同時に焼成して第一の酸化燃焼層3B、感ガス層
4、第二の酸化燃焼層3Cを形成した。続いて電極2,
2Aにそれぞれ白金リード線7,9を接続して厚膜ガス
センサを得た。それぞれのリード線を警報器の回路に接
続した。
燃焼層を印刷し乾燥した後にこれらを630℃の温度で
3h同時に焼成して第一の酸化燃焼層3B、感ガス層
4、第二の酸化燃焼層3Cを形成した。続いて電極2,
2Aにそれぞれ白金リード線7,9を接続して厚膜ガス
センサを得た。それぞれのリード線を警報器の回路に接
続した。
【0022】実施例1と比較例1に係る厚膜ガスセンサ
につき30日間放置後の初期鳴動時間を測定した。結果
が表1に示される。
につき30日間放置後の初期鳴動時間を測定した。結果
が表1に示される。
【0023】
【表1】
【0024】感ガス層に酸化物触媒を含む厚膜ガスセン
サは初期鳴動時間が短いことがわかる。これに対し感ガ
ス層に酸化物触媒を含まない厚膜ガスセンサは初期鳴動
時間が長いことがわかる。図3は第一の発明の実施例に
係る厚膜ガスセンサの抵抗特性を示す線図である。厚膜
ガスセンサの抵抗値は0.2%イソブタンガス中で測定
された。第一の発明の実施例に係る厚膜ガスセンサは感
ガス層に酸化物触媒を含むが長期にわたってセンサ抵抗
値が安定であることがわかる。 実施例2 図4は第二の発明の実施例に係る厚膜ガスセンサを示す
平面図である。
サは初期鳴動時間が短いことがわかる。これに対し感ガ
ス層に酸化物触媒を含まない厚膜ガスセンサは初期鳴動
時間が長いことがわかる。図3は第一の発明の実施例に
係る厚膜ガスセンサの抵抗特性を示す線図である。厚膜
ガスセンサの抵抗値は0.2%イソブタンガス中で測定
された。第一の発明の実施例に係る厚膜ガスセンサは感
ガス層に酸化物触媒を含むが長期にわたってセンサ抵抗
値が安定であることがわかる。 実施例2 図4は第二の発明の実施例に係る厚膜ガスセンサを示す
平面図である。
【0025】図5は第二の発明の実施例に係る厚膜ガス
センサを示す図4のB−B矢視断面図である。第二の発
明の実施例に係る厚膜ガスセンサの構造は次の通りであ
る。基板1の一主面上に離間して二つの電極2が設けら
れる。基板1と電極2の上に感ガス層4が選択的に形成
される。感ガス層4を完全に被覆して第三の酸化燃焼層
3Dが設けられる。電極2にリード線7が接続される。
基板1の他の主面には電極2Aが形成され、電極2Aと
基板1の上に選択的にヒータ8が形成され、電極2Aに
はリード線9が接続される。
センサを示す図4のB−B矢視断面図である。第二の発
明の実施例に係る厚膜ガスセンサの構造は次の通りであ
る。基板1の一主面上に離間して二つの電極2が設けら
れる。基板1と電極2の上に感ガス層4が選択的に形成
される。感ガス層4を完全に被覆して第三の酸化燃焼層
3Dが設けられる。電極2にリード線7が接続される。
基板1の他の主面には電極2Aが形成され、電極2Aと
基板1の上に選択的にヒータ8が形成され、電極2Aに
はリード線9が接続される。
【0026】基板1は厚さ0.5mmで縦3mm、横3
mmの研磨されたアルミナ基板である。ヒータは酸化ル
テニウム抵抗体からなる。このような厚膜ガスセンサは
次のようにして調製される。基板1の二つの主面に白金
電極ペーストを所定のパターンでスクリーン印刷し、乾
燥後約1100℃の温度で焼成した。酸化ルテニウムか
らなるヒータ用ペーストを所定のパターンでスクリーン
印刷し所定の温度で焼成した。
mmの研磨されたアルミナ基板である。ヒータは酸化ル
テニウム抵抗体からなる。このような厚膜ガスセンサは
次のようにして調製される。基板1の二つの主面に白金
電極ペーストを所定のパターンでスクリーン印刷し、乾
燥後約1100℃の温度で焼成した。酸化ルテニウムか
らなるヒータ用ペーストを所定のパターンでスクリーン
印刷し所定の温度で焼成した。
【0027】酸化スズ粉体を乾燥空気中で温度730℃
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に酸化コバルトCo
O ,酸化マンガMnO ,酸化ニッケルNiO, 酸化銅CuO ,
酸化鉄Fe2O3 ,酸化亜鉛ZnO ,酸化クロムCr2O3 ,酸化
バナジウムV2O5,酸化チタンTiO2または酸化アルミニウ
ムAl2O3 を酸化スズ粉体に対して0.1重量%の割合に
なるように加え混合しさらにエチルシリケート,エチル
セルロース,カルビトール等を適量加え混練して感ガス
層用のペーストを得た。得られたペーストを所定のパタ
ーンにより50μm厚さにスクリーン印刷し、120℃
で2h乾燥した。
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に酸化コバルトCo
O ,酸化マンガMnO ,酸化ニッケルNiO, 酸化銅CuO ,
酸化鉄Fe2O3 ,酸化亜鉛ZnO ,酸化クロムCr2O3 ,酸化
バナジウムV2O5,酸化チタンTiO2または酸化アルミニウ
ムAl2O3 を酸化スズ粉体に対して0.1重量%の割合に
なるように加え混合しさらにエチルシリケート,エチル
セルロース,カルビトール等を適量加え混練して感ガス
層用のペーストを得た。得られたペーストを所定のパタ
ーンにより50μm厚さにスクリーン印刷し、120℃
で2h乾燥した。
【0028】酸化スズ粉体を乾燥空気中で温度730℃
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に白金の含有量が
酸化スズ粉体に対して2%になるように調整した塩化白
金酸H2PtCl6 の水溶液を加え、混練したのち、乾燥し
た。この粉体を温度600℃で3h熱処理し、塩化白金
酸H2PtCl6 を分解して酸化スズ粉体上に白金を担持させ
た。得られた粉体をボールミルで粉砕したのち、エチル
シリケート,エチルセルロース,カルビトール等を適量
加え、混練して第三の酸化燃焼層用のペーストを得た。
得られた第三の酸化燃焼層用のペーストを所定のパター
ンにより20μm厚さにスクリーン印刷し、120℃で
2h乾燥した。
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に白金の含有量が
酸化スズ粉体に対して2%になるように調整した塩化白
金酸H2PtCl6 の水溶液を加え、混練したのち、乾燥し
た。この粉体を温度600℃で3h熱処理し、塩化白金
酸H2PtCl6 を分解して酸化スズ粉体上に白金を担持させ
た。得られた粉体をボールミルで粉砕したのち、エチル
シリケート,エチルセルロース,カルビトール等を適量
加え、混練して第三の酸化燃焼層用のペーストを得た。
得られた第三の酸化燃焼層用のペーストを所定のパター
ンにより20μm厚さにスクリーン印刷し、120℃で
2h乾燥した。
【0029】感ガス層と第三の酸化燃焼層を印刷し乾燥
した後にこれらを630℃の温度で3h同時に焼成して
感ガス層4、第三の酸化燃焼層3Dを形成した。続いて
電極2,2Aにそれぞれ白金リード線7,9を接続して
厚膜ガスセンサを得た。それぞれのリード線を警報器の
回路に接続した。 比較例2 実施例2の厚膜ガスセンサと同一の構造のセンサを用い
た。
した後にこれらを630℃の温度で3h同時に焼成して
感ガス層4、第三の酸化燃焼層3Dを形成した。続いて
電極2,2Aにそれぞれ白金リード線7,9を接続して
厚膜ガスセンサを得た。それぞれのリード線を警報器の
回路に接続した。 比較例2 実施例2の厚膜ガスセンサと同一の構造のセンサを用い
た。
【0030】比較例2に係る厚膜ガスセンサ次のように
して調製される。基板1の二つの主面に白金電極ペース
トをが所定のパターンでスクリーン印刷し、乾燥後約1
100℃の温度で焼成した。酸化ルテニウムからなるヒ
ータ用ペーストを所定のパターンでスクリーン印刷し所
定の温度で焼成した。酸化スズ粉体を乾燥空気中で温度
730℃で2h処理し、得られた酸化スズ粉体にエチル
シリケート,エチルセルロース,カルビトール等を適量
加え混練して感ガス層用のペーストを得た。得られたペ
ーストを所定のパターンにより50μm厚さにスクリー
ン印刷し、120℃で2h乾燥した。
して調製される。基板1の二つの主面に白金電極ペース
トをが所定のパターンでスクリーン印刷し、乾燥後約1
100℃の温度で焼成した。酸化ルテニウムからなるヒ
ータ用ペーストを所定のパターンでスクリーン印刷し所
定の温度で焼成した。酸化スズ粉体を乾燥空気中で温度
730℃で2h処理し、得られた酸化スズ粉体にエチル
シリケート,エチルセルロース,カルビトール等を適量
加え混練して感ガス層用のペーストを得た。得られたペ
ーストを所定のパターンにより50μm厚さにスクリー
ン印刷し、120℃で2h乾燥した。
【0031】酸化スズ粉体を乾燥空気中で温度730℃
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に白金の含有量が
酸化スズ粉体に対して2%になるように調整した塩化白
金酸H2PtCl6 の水溶液を加え、混練したのち、乾燥し
た。この粉体を温度600℃で3h熱処理し、塩化白金
酸H2PtCl6 を分解して酸化スズ粉体上に白金を担持させ
た。得られた粉体をボールミルで粉砕したのち、エチル
シリケート,エチルセルロース,カルビトール等を適量
加え、混練して第三の酸化燃焼層用のペーストを得た。
得られた第三の酸化燃焼層用のペーストを所定のパター
ンにより20μm厚さにスクリーン印刷し、120℃で
2h乾燥した。
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に白金の含有量が
酸化スズ粉体に対して2%になるように調整した塩化白
金酸H2PtCl6 の水溶液を加え、混練したのち、乾燥し
た。この粉体を温度600℃で3h熱処理し、塩化白金
酸H2PtCl6 を分解して酸化スズ粉体上に白金を担持させ
た。得られた粉体をボールミルで粉砕したのち、エチル
シリケート,エチルセルロース,カルビトール等を適量
加え、混練して第三の酸化燃焼層用のペーストを得た。
得られた第三の酸化燃焼層用のペーストを所定のパター
ンにより20μm厚さにスクリーン印刷し、120℃で
2h乾燥した。
【0032】感ガス層と第三の酸化燃焼層を印刷し乾燥
した後にこれらを630℃の温度で3h同時に焼成して
感ガス層4、第三の酸化燃焼層3Dを形成した。続いて
電極2,2Aにそれぞれ白金リード線7,9を接続して
厚膜ガスセンサを得た。それぞれのリード線を警報器の
回路に接続した。実施例2と比較例2に係る厚膜ガスセ
ンサにつき30日間放置後の初期鳴動時間を測定した。
結果が表2に示される。
した後にこれらを630℃の温度で3h同時に焼成して
感ガス層4、第三の酸化燃焼層3Dを形成した。続いて
電極2,2Aにそれぞれ白金リード線7,9を接続して
厚膜ガスセンサを得た。それぞれのリード線を警報器の
回路に接続した。実施例2と比較例2に係る厚膜ガスセ
ンサにつき30日間放置後の初期鳴動時間を測定した。
結果が表2に示される。
【0033】
【表2】
【0034】感ガス層に酸化物触媒を含む厚膜ガスセン
サは初期鳴動時間が短いことがわかる。これに対し感ガ
ス層に酸化物触媒を含まない厚膜ガスセンサは初期鳴動
時間が長いことがわかる。厚膜ガスセンサの抵抗特性は
図示しないが長期にわたって安定である。実施例1,実
施例2においては一種類の酸化物を添加しているが一種
類の酸化物触媒に限定されるものではなく複数の種類の
酸化物触媒を混合して添加した場合においても同様な効
果が認められる。厚膜ガスセンサの熱処理温度は630
℃であり、この熱処理温度においては異なる酸化物間の
反応は起こらない。
サは初期鳴動時間が短いことがわかる。これに対し感ガ
ス層に酸化物触媒を含まない厚膜ガスセンサは初期鳴動
時間が長いことがわかる。厚膜ガスセンサの抵抗特性は
図示しないが長期にわたって安定である。実施例1,実
施例2においては一種類の酸化物を添加しているが一種
類の酸化物触媒に限定されるものではなく複数の種類の
酸化物触媒を混合して添加した場合においても同様な効
果が認められる。厚膜ガスセンサの熱処理温度は630
℃であり、この熱処理温度においては異なる酸化物間の
反応は起こらない。
【0035】実施例1,実施例2においては金属酸化物
半導体に酸化スズを用いているが酸化スズに替えて酸化
亜鉛を用いても同様な効果が得られる。酸化亜鉛は例え
ば塩化亜鉛とエチルナトリウムから合成したアルコキシ
ドを熱処理して製造することができる。実施例1,実施
例2においては酸化燃焼層に酸化スズを用い白金を担持
しているが酸化スズに替えて酸化亜鉛ZnO ,酸化アルミ
ニウムAl2O3 ,酸化マグネシウムMgO ,酸化ジルコニウ
ムZrO2,アルミニウムマグネシウムスピネルMgAl2O4 を
用いることができる。
半導体に酸化スズを用いているが酸化スズに替えて酸化
亜鉛を用いても同様な効果が得られる。酸化亜鉛は例え
ば塩化亜鉛とエチルナトリウムから合成したアルコキシ
ドを熱処理して製造することができる。実施例1,実施
例2においては酸化燃焼層に酸化スズを用い白金を担持
しているが酸化スズに替えて酸化亜鉛ZnO ,酸化アルミ
ニウムAl2O3 ,酸化マグネシウムMgO ,酸化ジルコニウ
ムZrO2,アルミニウムマグネシウムスピネルMgAl2O4 を
用いることができる。
【0036】感ガス層に酸化コバルトを0.1重量%の
割合で加え第一の酸化燃焼層と第二の酸化燃焼層の金属
酸化物担体に酸化亜鉛ZnO ,酸化アルミニウムAl2O3 ,
酸化マグネシウムMgO または酸化ジルコニウムZrO2を用
いた三層型の厚膜ガスセンサにつき30日間放置後の初
期鳴動時間を測定した。結果が表3に示される。
割合で加え第一の酸化燃焼層と第二の酸化燃焼層の金属
酸化物担体に酸化亜鉛ZnO ,酸化アルミニウムAl2O3 ,
酸化マグネシウムMgO または酸化ジルコニウムZrO2を用
いた三層型の厚膜ガスセンサにつき30日間放置後の初
期鳴動時間を測定した。結果が表3に示される。
【0037】
【表3】
【0038】酸化燃焼層に担持する触媒には白金の他パ
ラジウムを用いることができ、触媒の担持量としては1
ないし10重量%が適当である。さらに酸化燃焼層の金
属酸化物担体には前記酸化コバルトCoO ,酸化マンガMn
O ,酸化ニッケルNiO, 酸化銅CuO ,酸化鉄Fe2O3 ,酸
化亜鉛ZnO ,酸化クロムCr2O3 ,酸化バナジウムV2O5,
酸化チタンTiO2または酸化アルミニウムAl2O3 等を触媒
として添加することができる。 実施例3 実施例1に示す厚膜ガスセンサと同一の構造のセンサを
用いた。
ラジウムを用いることができ、触媒の担持量としては1
ないし10重量%が適当である。さらに酸化燃焼層の金
属酸化物担体には前記酸化コバルトCoO ,酸化マンガMn
O ,酸化ニッケルNiO, 酸化銅CuO ,酸化鉄Fe2O3 ,酸
化亜鉛ZnO ,酸化クロムCr2O3 ,酸化バナジウムV2O5,
酸化チタンTiO2または酸化アルミニウムAl2O3 等を触媒
として添加することができる。 実施例3 実施例1に示す厚膜ガスセンサと同一の構造のセンサを
用いた。
【0039】このような厚膜ガスセンサは次のようにし
て調製される。基板1の二つの主面に白金電極ペースト
を所定のパターンでスクリーン印刷し、乾燥後約110
0℃の温度で焼成した。酸化ルテニウムからなるヒータ
用ペーストを所定のパターンでスクリーン印刷し所定の
温度で焼成した。酸化スズ粉体を乾燥空気中で温度73
0℃で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に白金の含有
量が酸化スズ粉体に対して2%になるように調整した塩
化白金酸H2PtCl6 の水溶液を加え、混練したのち、乾燥
した。この粉体を温度600℃で3h熱処理し、塩化白
金酸H2PtCl6 を分解して酸化スズ粉体上に白金を担持さ
せた。得られた粉体をボールミルで粉砕したのち、エチ
ルシリケート,エチルセルロース,カルビトール等を適
量加え、混練して第一の酸化燃焼層用のペーストを得
た。得られた第一の酸化燃焼層用のペーストを所定のパ
ターンにより20μm厚さにスクリーン印刷し、120
℃で2h乾燥した。
て調製される。基板1の二つの主面に白金電極ペースト
を所定のパターンでスクリーン印刷し、乾燥後約110
0℃の温度で焼成した。酸化ルテニウムからなるヒータ
用ペーストを所定のパターンでスクリーン印刷し所定の
温度で焼成した。酸化スズ粉体を乾燥空気中で温度73
0℃で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に白金の含有
量が酸化スズ粉体に対して2%になるように調整した塩
化白金酸H2PtCl6 の水溶液を加え、混練したのち、乾燥
した。この粉体を温度600℃で3h熱処理し、塩化白
金酸H2PtCl6 を分解して酸化スズ粉体上に白金を担持さ
せた。得られた粉体をボールミルで粉砕したのち、エチ
ルシリケート,エチルセルロース,カルビトール等を適
量加え、混練して第一の酸化燃焼層用のペーストを得
た。得られた第一の酸化燃焼層用のペーストを所定のパ
ターンにより20μm厚さにスクリーン印刷し、120
℃で2h乾燥した。
【0040】酸化スズ粉体を乾燥空気中で温度730℃
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に酸化コバルトCo
O ,酸化マンガMnO ,酸化ニッケルNiO, 酸化銅CuO ,
酸化鉄Fe2O3 ,酸化亜鉛ZnO ,酸化クロムCr2O3 ,酸化
バナジウムV2O5,酸化チタンTiO2または酸化アルミニウ
ムAl2O3 を酸化スズ粉体に対して0.008ないし1.
2重量%の割合になるように加え混合しさらにエチルシ
リケート,エチルセルロース,カルビトール等を適量加
え混練して感ガス層用のペーストを得た。得られたペー
ストを所定のパターンにより50μm厚さにスクリーン
印刷し、120℃で2h乾燥した。
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に酸化コバルトCo
O ,酸化マンガMnO ,酸化ニッケルNiO, 酸化銅CuO ,
酸化鉄Fe2O3 ,酸化亜鉛ZnO ,酸化クロムCr2O3 ,酸化
バナジウムV2O5,酸化チタンTiO2または酸化アルミニウ
ムAl2O3 を酸化スズ粉体に対して0.008ないし1.
2重量%の割合になるように加え混合しさらにエチルシ
リケート,エチルセルロース,カルビトール等を適量加
え混練して感ガス層用のペーストを得た。得られたペー
ストを所定のパターンにより50μm厚さにスクリーン
印刷し、120℃で2h乾燥した。
【0041】酸化スズ粉体を乾燥空気中で温度730℃
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に白金の含有量が
酸化スズ粉体に対して2%になるように調整した塩化白
金酸H2PtCl6 の水溶液を加え、混練したのち、乾燥し
た。この粉体を温度600℃で3h熱処理し、塩化白金
酸H2PtCl6 を分解して酸化スズ粉体上に白金を担持させ
た。得られた粉体をボールミルで粉砕したのち、エチル
シリケート,エチルセルロース,カルビトール等を適量
加え、混練して第二の酸化燃焼層用のペーストを得た。
得られた第二の酸化燃焼層用のペーストを所定のパター
ンにより20μm厚さにスクリーン印刷し、120℃で
2h乾燥した。
で2h処理し、得られた酸化スズ粉体に白金の含有量が
酸化スズ粉体に対して2%になるように調整した塩化白
金酸H2PtCl6 の水溶液を加え、混練したのち、乾燥し
た。この粉体を温度600℃で3h熱処理し、塩化白金
酸H2PtCl6 を分解して酸化スズ粉体上に白金を担持させ
た。得られた粉体をボールミルで粉砕したのち、エチル
シリケート,エチルセルロース,カルビトール等を適量
加え、混練して第二の酸化燃焼層用のペーストを得た。
得られた第二の酸化燃焼層用のペーストを所定のパター
ンにより20μm厚さにスクリーン印刷し、120℃で
2h乾燥した。
【0042】第一の酸化燃焼層と感ガス層と第二の酸化
燃焼層を印刷し乾燥した後にこれらを630℃の温度で
3h同時に焼成して第一の酸化燃焼層3B、感ガス層
4、第二の酸化燃焼層3Cを形成した。続いて電極2,
2Aにそれぞれ白金リード線7,9を接続して厚膜ガス
センサを得た。それぞれのリード線を警報器の回路に接
続した。
燃焼層を印刷し乾燥した後にこれらを630℃の温度で
3h同時に焼成して第一の酸化燃焼層3B、感ガス層
4、第二の酸化燃焼層3Cを形成した。続いて電極2,
2Aにそれぞれ白金リード線7,9を接続して厚膜ガス
センサを得た。それぞれのリード線を警報器の回路に接
続した。
【0043】表4に初期鳴動時間(s)の酸化物触媒添
加量依存性が示される。初期鳴動時間は30日放置後の
ものである。
加量依存性が示される。初期鳴動時間は30日放置後の
ものである。
【0044】
【表4】
【0045】酸化物の種類に依存せず添加量が0.01
ないし1.0重量%の範囲で初期鳴動時間が短くなるこ
とがわかる。 実施例4 感ガス層用のペーストの調製において酸化コバルトCoO
,酸化マンガMnO ,酸化ニッケルNiO, 酸化銅CuO ,
酸化鉄Fe2O3 ,酸化亜鉛ZnO ,酸化クロムCr2O3,酸化
バナジウムV2O5,酸化チタンTiO2もしくは酸化アルミニ
ウムAl2O3 の粉体を酸化スズ粉体に対して0.1重量%
の割合になるように加え混合することに替えて金属ニッ
ケル.金属クロム,金属鉄もしくは金属アルミニウムの
粉体を100ないし5000ppmの範囲で添加してエ
チルアルコールを分散媒としてボールミルで20h混合
しアルコールを自然乾燥して混合することにする他は実
施例1と同様にして厚膜ガスセンサを調製した。上記金
属は熱処理により金属酸化物半導体中において酸化物に
変わり触媒として機能する。
ないし1.0重量%の範囲で初期鳴動時間が短くなるこ
とがわかる。 実施例4 感ガス層用のペーストの調製において酸化コバルトCoO
,酸化マンガMnO ,酸化ニッケルNiO, 酸化銅CuO ,
酸化鉄Fe2O3 ,酸化亜鉛ZnO ,酸化クロムCr2O3,酸化
バナジウムV2O5,酸化チタンTiO2もしくは酸化アルミニ
ウムAl2O3 の粉体を酸化スズ粉体に対して0.1重量%
の割合になるように加え混合することに替えて金属ニッ
ケル.金属クロム,金属鉄もしくは金属アルミニウムの
粉体を100ないし5000ppmの範囲で添加してエ
チルアルコールを分散媒としてボールミルで20h混合
しアルコールを自然乾燥して混合することにする他は実
施例1と同様にして厚膜ガスセンサを調製した。上記金
属は熱処理により金属酸化物半導体中において酸化物に
変わり触媒として機能する。
【0046】図6は第三の発明の実施例に係る厚膜ガス
センサの初期鳴動特性(イ)を従来の厚膜ガスセンサの
特性(ア)と対比して示す線図である。触媒はニッケル
である。本発明の実施例に係る厚膜ガスセンサは無通電
時間の如何に係わらず初期鳴動時間は小さい。これに対
し従来の厚膜ガスセンサは初期鳴動時間が無通電時間と
ともに急速に増大することがわかる。
センサの初期鳴動特性(イ)を従来の厚膜ガスセンサの
特性(ア)と対比して示す線図である。触媒はニッケル
である。本発明の実施例に係る厚膜ガスセンサは無通電
時間の如何に係わらず初期鳴動時間は小さい。これに対
し従来の厚膜ガスセンサは初期鳴動時間が無通電時間と
ともに急速に増大することがわかる。
【0047】図7は第三の発明の実施例に係る厚膜ガス
センサにつきセンサ抵抗値の経時安定性(ウ)を従来の
厚膜ガスセンサの特性(エ)と対比して示す線図であ
る。触媒はニッケルである。測定は0,2%のイソブタ
ンガス中で行われた。第一の発明の異なる実施例に係る
厚膜ガスセンサは7日間でほぼ抵抗値が安定するが従来
の厚膜ガスセンサは徐徐に抵抗値が減少することがわか
る。
センサにつきセンサ抵抗値の経時安定性(ウ)を従来の
厚膜ガスセンサの特性(エ)と対比して示す線図であ
る。触媒はニッケルである。測定は0,2%のイソブタ
ンガス中で行われた。第一の発明の異なる実施例に係る
厚膜ガスセンサは7日間でほぼ抵抗値が安定するが従来
の厚膜ガスセンサは徐徐に抵抗値が減少することがわか
る。
【0048】図8は第三の発明の実施例に係る厚膜ガス
センサにつきセンサ抵抗値の電圧依存性(オ)を従来の
厚膜ガスセンサの特性(カ)と対比して示す線図であ
る。触媒はニッケルを用いた。第三の発明の実施例に係
る厚膜ガスセンサは空気中でのセンサ抵抗値が従来のも
のに比し大きい。この結果同一のセンサ抵抗値を示す電
圧が本発明の厚膜ガスセンサにおいては従来のものに比
し5V程度高くなり、厚膜ガスセンサの警報発信の電圧
依存性が少なくなる。
センサにつきセンサ抵抗値の電圧依存性(オ)を従来の
厚膜ガスセンサの特性(カ)と対比して示す線図であ
る。触媒はニッケルを用いた。第三の発明の実施例に係
る厚膜ガスセンサは空気中でのセンサ抵抗値が従来のも
のに比し大きい。この結果同一のセンサ抵抗値を示す電
圧が本発明の厚膜ガスセンサにおいては従来のものに比
し5V程度高くなり、厚膜ガスセンサの警報発信の電圧
依存性が少なくなる。
【0049】クロム,鉄もしくはアルミニウム等の触媒
についても同様の特性が観測される。
についても同様の特性が観測される。
【0050】
【発明の効果】第一の発明によれば、金属酸化物半導体
の抵抗値の変化を利用してガスの有無を検出する厚膜ガ
スセンサであって、基板と、一対の電極と、第一の酸化
燃焼層と、感ガス層と、第二の酸化燃焼層とを包含し、
基板はガスセンサの支持体であり、一対の電極は基板上
に離間して直接的に被着され、第一の酸化燃焼層は基板
と一対の電極上に選択的に積層され、感ガス層は第一の
酸化燃焼層と一対の電極上に選択的に積層され、第二の
酸化燃焼層は感ガス層の全部を被覆して積層され、第一
の酸化燃焼層は金属酸化物担体に貴金属触媒を担持して
なり、第二の酸化燃焼層は金属酸化物担体に貴金属触媒
を担持してなり、感ガス層は金属酸化物半導体に酸化コ
バルト,酸化マンガン,酸化ニッケル,酸化銅,酸化
鉄,酸化亜鉛,酸化クロム,酸化バナジウム,酸化チタ
ン,酸化アルミニウムの群から選ばれた少なくとも一つ
を含有させてなるとし、また第二の発明によれば金属酸
化物半導体の抵抗値の変化を利用してガスの有無を検出
する厚膜ガスセンサであって、基板と、一対の電極と、
第三の酸化燃焼層と、感ガス層とを包含し、基板はガス
センサの支持体であり、一対の電極は基板上に離間して
直接的に被着され、感ガス層は基板と一対の電極上に選
択的に積層され、第三の酸化燃焼層は感ガス層の全部を
被覆して積層され、第三の酸化燃焼層は金属酸化物担体
に貴金属触媒を担持してなり、感ガス層は金属酸化物半
導体に酸化コバルト,酸化マンガン,酸化ニッケル,酸
化銅,酸化鉄,酸化亜鉛,酸化クロム,酸化バナジウ
ム,酸化チタン,酸化アルミニウムの群から選ばれた少
なくとも一つを含有させてなるとし、第三の発明によれ
ば金属酸化物半導体の抵抗値の変化を利用してガスの有
無を検出する厚膜ガスセンサの製造方法であって、
(1)酸化燃焼層の成膜工程と、(2)感ガス層の成膜
工程とを包含し、酸化燃焼層の成膜工程は貴金属触媒を
担持した金属酸化物粉体のペーストを調製し、塗布乾燥
し、熱処理する工程であり、感ガス層の成膜工程は金属
酸化物半導体の粉体にニッケル,鉄,アルミニウムまた
はクロムの金属粉体を添加したペーストを調製し、塗布
乾燥し、熱処理する工程であるとするので、酸化コバル
ト,酸化マンガン,酸化ニッケル,酸化銅,酸化鉄,酸
化亜鉛,酸化クロム,酸化バナジウム,酸化チタン,酸
化アルミニウム等の酸化物触媒は感ガス層の金属酸化物
半導体中に含有された状態で金属酸化物半導体が酸素吸
着する際の触媒として機能しまた前記酸化物触媒は感ガ
ス層の金属酸化物半導体中に含有された状態で粒成長を
起こさず、触媒活性を一定に維持し金属酸化物半導体の
酸素吸着量を安定に維持し、その結果初期鳴動特性と安
定性に優れる厚膜ガスセンサが得られる。
の抵抗値の変化を利用してガスの有無を検出する厚膜ガ
スセンサであって、基板と、一対の電極と、第一の酸化
燃焼層と、感ガス層と、第二の酸化燃焼層とを包含し、
基板はガスセンサの支持体であり、一対の電極は基板上
に離間して直接的に被着され、第一の酸化燃焼層は基板
と一対の電極上に選択的に積層され、感ガス層は第一の
酸化燃焼層と一対の電極上に選択的に積層され、第二の
酸化燃焼層は感ガス層の全部を被覆して積層され、第一
の酸化燃焼層は金属酸化物担体に貴金属触媒を担持して
なり、第二の酸化燃焼層は金属酸化物担体に貴金属触媒
を担持してなり、感ガス層は金属酸化物半導体に酸化コ
バルト,酸化マンガン,酸化ニッケル,酸化銅,酸化
鉄,酸化亜鉛,酸化クロム,酸化バナジウム,酸化チタ
ン,酸化アルミニウムの群から選ばれた少なくとも一つ
を含有させてなるとし、また第二の発明によれば金属酸
化物半導体の抵抗値の変化を利用してガスの有無を検出
する厚膜ガスセンサであって、基板と、一対の電極と、
第三の酸化燃焼層と、感ガス層とを包含し、基板はガス
センサの支持体であり、一対の電極は基板上に離間して
直接的に被着され、感ガス層は基板と一対の電極上に選
択的に積層され、第三の酸化燃焼層は感ガス層の全部を
被覆して積層され、第三の酸化燃焼層は金属酸化物担体
に貴金属触媒を担持してなり、感ガス層は金属酸化物半
導体に酸化コバルト,酸化マンガン,酸化ニッケル,酸
化銅,酸化鉄,酸化亜鉛,酸化クロム,酸化バナジウ
ム,酸化チタン,酸化アルミニウムの群から選ばれた少
なくとも一つを含有させてなるとし、第三の発明によれ
ば金属酸化物半導体の抵抗値の変化を利用してガスの有
無を検出する厚膜ガスセンサの製造方法であって、
(1)酸化燃焼層の成膜工程と、(2)感ガス層の成膜
工程とを包含し、酸化燃焼層の成膜工程は貴金属触媒を
担持した金属酸化物粉体のペーストを調製し、塗布乾燥
し、熱処理する工程であり、感ガス層の成膜工程は金属
酸化物半導体の粉体にニッケル,鉄,アルミニウムまた
はクロムの金属粉体を添加したペーストを調製し、塗布
乾燥し、熱処理する工程であるとするので、酸化コバル
ト,酸化マンガン,酸化ニッケル,酸化銅,酸化鉄,酸
化亜鉛,酸化クロム,酸化バナジウム,酸化チタン,酸
化アルミニウム等の酸化物触媒は感ガス層の金属酸化物
半導体中に含有された状態で金属酸化物半導体が酸素吸
着する際の触媒として機能しまた前記酸化物触媒は感ガ
ス層の金属酸化物半導体中に含有された状態で粒成長を
起こさず、触媒活性を一定に維持し金属酸化物半導体の
酸素吸着量を安定に維持し、その結果初期鳴動特性と安
定性に優れる厚膜ガスセンサが得られる。
【図1】第一の発明の実施例に係る厚膜ガスセンサを示
す平面図
す平面図
【図2】第一の発明の実施例に係る厚膜ガスセンサを示
す図1のA−A矢視断面図
す図1のA−A矢視断面図
【図3】第一の発明の実施例に係る厚膜ガスセンサの抵
抗特性を示す線図
抗特性を示す線図
【図4】第二の発明の実施例に係る厚膜ガスセンサを示
す平面図
す平面図
【図5】第二の発明の実施例に係る厚膜ガスセンサを示
す図4のB−B矢視断面図
す図4のB−B矢視断面図
【図6】第三の発明の実施例に係る厚膜ガスセンサの初
期鳴動特性(イ)を従来の厚膜ガスセンサの特性(ア)
と対比して示す線図
期鳴動特性(イ)を従来の厚膜ガスセンサの特性(ア)
と対比して示す線図
【図7】第三の発明の実施例に係る厚膜ガスセンサにつ
きセンサ抵抗値の経時安定性(ウ)を従来の厚膜ガスセ
ンサの特性と対比して示す線図
きセンサ抵抗値の経時安定性(ウ)を従来の厚膜ガスセ
ンサの特性と対比して示す線図
【図8】第三の発明の実施例に係る厚膜ガスセンサにつ
きセンサ抵抗値の電圧依存性(オ)を従来の厚膜ガスセ
ンサの特性(カ)と対比して示す線図
きセンサ抵抗値の電圧依存性(オ)を従来の厚膜ガスセ
ンサの特性(カ)と対比して示す線図
【図9】従来の厚膜ガスセンサを示す平面図
【図10】従来の厚膜ガスセンサを示す図6のC−C矢
視断面図
視断面図
【図11】厚膜ガスセンサの初期鳴動特性を示す線図
1 基板 2 電極 2A 電極 3A 酸化燃焼層 3B 第一の酸化燃焼層 3C 第二の酸化燃焼層 3D 第三の酸化燃焼層 4 感ガス層 7 リード線 8 ヒータ 9 リード線
Claims (10)
- 【請求項1】金属酸化物半導体の抵抗値の変化を利用し
てガスの有無を検出する厚膜ガスセンサであって、 (1)基板と、 (2)一対の電極と、 (3)第一の酸化燃焼層と、 (4)感ガス層と、 (5)第二の酸化燃焼層とを包含し、 基板はガスセンサの支持体であり、 一対の電極は基板上に離間して直接的に被着され、 第一の酸化燃焼層は基板と一対の電極上に選択的に積層
され、 感ガス層は第一の酸化燃焼層と一対の電極上に選択的に
積層され、 第二の酸化燃焼層は感ガス層の全部を被覆して積層さ
れ、 第一の酸化燃焼層は金属酸化物担体に貴金属触媒を担持
してなり、 第二の酸化燃焼層は金属酸化物担体に貴金属触媒を担持
してなり、 感ガス層は金属酸化物半導体に酸化コバルト,酸化マン
ガン,酸化ニッケル,酸化銅,酸化鉄,酸化亜鉛,酸化
クロム,酸化バナジウム,酸化チタン,酸化アルミニウ
ムの群から選ばれた少なくとも一つを含有させてなるこ
とを特徴とする厚膜ガスセンサ。 - 【請求項2】金属酸化物半導体の抵抗値の変化を利用し
てガスの有無を検出する厚膜ガスセンサであって、 (1)基板と、 (2)一対の電極と、 (3)第三の酸化燃焼層と、 (4)感ガス層とを包含し、 基板はガスセンサの支持体であり、 一対の電極は基板上に離間して直接的に被着され、 感ガス層は基板と一対の電極上に選択的に積層され、 第三の酸化燃焼層は感ガス層の全部を被覆して積層さ
れ、 第三の酸化燃焼層は金属酸化物担体に貴金属触媒を担持
してなり、 感ガス層は金属酸化物半導体に酸化コバルト,酸化マン
ガン,酸化ニッケル,酸化銅,酸化鉄,酸化亜鉛.酸化
クロム,酸化バナジウム,酸化チタン,酸化アルミニウ
ムの群から選ばれた少なくとも一つを含有させてなるこ
とを特徴とする厚膜ガスセンサ。 - 【請求項3】請求項1または2に記載の厚膜ガスセンサ
において、金属酸化物半導体はn型金属酸化物半導体で
あることを特徴とする厚膜ガスセンサ。 - 【請求項4】請求項3記載の厚膜ガスセンサにおいて、
n型金属酸化物半導体は酸化スズであることを特徴とす
る厚膜ガスセンサ。 - 【請求項5】請求項3記載の厚膜ガスセンサにおいて、
n型金属酸化物半導体は酸化亜鉛であることを特徴とす
る厚膜ガスセンサ。 - 【請求項6】請求項1または2に記載の厚膜ガスセンサ
において、金属酸化物担体は酸化スズ,酸化亜鉛.酸化
アルミニウム,酸化マグネシウム,酸化ジルコニウムの
群から選ばれた少なくとも一つからなることを特徴とす
る厚膜ガスセンサ。 - 【請求項7】請求項1または2に記載の厚膜ガスセンサ
において、金属酸化物担体は酸化コバルト,酸化マンガ
ン,酸化ニッケル,酸化銅,酸化鉄,酸化亜鉛.酸化ク
ロム,酸化バナジウム,酸化チタン,酸化アルミニウム
の群から選ばれた少なくとも一つを含有してなることを
特徴とする厚膜ガスセンサ。 - 【請求項8】請求項1または2に記載の厚膜ガスセンサ
において、金属酸化物半導体は酸化コバルト,酸化マン
ガン,酸化ニッケル,酸化銅,酸化鉄,酸化亜鉛.酸化
クロム,酸化バナジウム,酸化チタン,酸化アルミニウ
ムの群から選ばれた少なくとも一つを0.01ないし
1.0重量%の割合で含有してなることを特徴とする厚
膜ガスセンサ。 - 【請求項9】金属酸化物半導体の抵抗値の変化を利用し
てガスの有無を検出する厚膜ガスセンサの製造方法であ
って、 (1)酸化燃焼層の成膜工程と、 (2)感ガス層の成膜工程とを包含し、 酸化燃焼層の成膜工程は貴金属触媒を担持した金属酸化
物粉体のペーストを調製し、塗布乾燥し、熱処理する工
程であり、 感ガス層の成膜工程は金属酸化物半導体の粉体にニッケ
ル,鉄,アルミニウムまたはクロムの金属粉体を添加し
たペーストを調製し、塗布乾燥し、熱処理する工程であ
ることを特徴とする厚膜ガスセンサの製造方法。 - 【請求項10】請求項9に記載の厚膜ガスセンサの製造
方法において、金属酸化物半導体の粉体に対する金属粉
体の添加量は100ないし5000ppmの範囲にある
ことを特徴とする厚膜ガスセンサの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22766193A JP3271635B2 (ja) | 1993-05-18 | 1993-09-14 | 厚膜ガスセンサおよびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11508293 | 1993-05-18 | ||
| JP5-115082 | 1993-05-18 | ||
| JP22766193A JP3271635B2 (ja) | 1993-05-18 | 1993-09-14 | 厚膜ガスセンサおよびその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0735716A true JPH0735716A (ja) | 1995-02-07 |
| JP3271635B2 JP3271635B2 (ja) | 2002-04-02 |
Family
ID=26453685
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22766193A Expired - Fee Related JP3271635B2 (ja) | 1993-05-18 | 1993-09-14 | 厚膜ガスセンサおよびその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3271635B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100483304B1 (ko) * | 2002-04-15 | 2005-04-15 | 한라산업개발 주식회사 | 후막형 가스 센서의 제조 방법 |
| KR101131702B1 (ko) * | 2009-02-27 | 2012-04-03 | 포항공과대학교 산학협력단 | 가스센서용 조성물, 이를 포함하는 가스센서 및 가스센서용 조성물의 제조방법 |
| CN113433171A (zh) * | 2021-06-24 | 2021-09-24 | 兰州大学 | 一种气敏材料、气敏传感器及其制备方法和应用 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101256166B (zh) * | 2008-04-16 | 2012-05-09 | 北京航空航天大学 | 氧化锌/二氧化钛复合自组装薄膜气敏器件的制备方法 |
-
1993
- 1993-09-14 JP JP22766193A patent/JP3271635B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| KR101131702B1 (ko) * | 2009-02-27 | 2012-04-03 | 포항공과대학교 산학협력단 | 가스센서용 조성물, 이를 포함하는 가스센서 및 가스센서용 조성물의 제조방법 |
| CN113433171A (zh) * | 2021-06-24 | 2021-09-24 | 兰州大学 | 一种气敏材料、气敏传感器及其制备方法和应用 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3271635B2 (ja) | 2002-04-02 |
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