JPH074008Y2 - 超音波診断装置 - Google Patents
超音波診断装置Info
- Publication number
- JPH074008Y2 JPH074008Y2 JP1985111380U JP11138085U JPH074008Y2 JP H074008 Y2 JPH074008 Y2 JP H074008Y2 JP 1985111380 U JP1985111380 U JP 1985111380U JP 11138085 U JP11138085 U JP 11138085U JP H074008 Y2 JPH074008 Y2 JP H074008Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gain
- stc
- gain setting
- data
- curve
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
- Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 本考案は、主としてSTCカーブを設定できるように構成
された超音波診断装置に関する。
された超音波診断装置に関する。
（ロ）従来技術とその問題点 一般に、被検体に超音波を放射した場合、被検体内から
反射される超音波エコーは近距離からのものは被検体内
での吸収減衰の影響が少ないので強く、また、遠距離か
らのものは途中での吸収減衰のために弱くなる。従っ
て、このような深度方向特性を有する超音波エコーを検
出してこれから得られる受波信号をそのまま画像表示器
に出力したのでは、その表示画像には被検体の深度によ
る影響が現われ、鮮明な画像が得られない。
反射される超音波エコーは近距離からのものは被検体内
での吸収減衰の影響が少ないので強く、また、遠距離か
らのものは途中での吸収減衰のために弱くなる。従っ
て、このような深度方向特性を有する超音波エコーを検
出してこれから得られる受波信号をそのまま画像表示器
に出力したのでは、その表示画像には被検体の深度によ
る影響が現われ、鮮明な画像が得られない。
そこで、これを補正するために、従来の超音波診断装置
には、第３図に示すような超音波エコーに基づく受波信
号の深さ方向のゲインを時間的に制御するSTC（Sensiti
vity Time Control）カーブ設定用の装置を設けたもの
がある。
には、第３図に示すような超音波エコーに基づく受波信
号の深さ方向のゲインを時間的に制御するSTC（Sensiti
vity Time Control）カーブ設定用の装置を設けたもの
がある。
従来のこの種の装置においては、操作パネルａに多数の
スライドボリュームｂが設けられており、これらのスラ
イドボリュームｂを操作すると、スライドボリュームｂ
で設定されたSTCカーブ設定データがA/Dコンバータｃ、
インタフェイスｄを介して制御回路ｅに入力される。制
御回路ｅは、各スライドボリュームｂからのSTCカーブ
設定データをバッファメモリｇに記憶する。
スライドボリュームｂが設けられており、これらのスラ
イドボリュームｂを操作すると、スライドボリュームｂ
で設定されたSTCカーブ設定データがA/Dコンバータｃ、
インタフェイスｄを介して制御回路ｅに入力される。制
御回路ｅは、各スライドボリュームｂからのSTCカーブ
設定データをバッファメモリｇに記憶する。
次いで、制御回路ｅによってバッファメモリｇに記憶さ
れているSTCカーブ設定データを読み出し、補間計算回
路ｈで読み出されたSTC設定データに基づいて各データ
間を直線補間してSTCカーブを作成する。そして、作成
されたSTCカーブのデータは、出力制御回路ｉ、ｊを介
して表示用STCメモリｋとゲイン補正用STCメモリｍとに
それぞれ記憶される。表示用STCメモリｋに記憶されたS
TCカーブのデータは、図外の超音波診断装置本体に設け
られたCRTモニタに出力され、これによってSTCカーブが
画像表示される。したがって、CRTモニタを見ながらス
ライドボリュームｂを調整することによって、STCカー
ブを自由に設定することができる。また、ゲイン補正用
メモリｍに記憶されたSTCカーブのデータは、図外のSTC
増幅器に送出され、これによってSTC増幅器のゲインが
時間制御される。
れているSTCカーブ設定データを読み出し、補間計算回
路ｈで読み出されたSTC設定データに基づいて各データ
間を直線補間してSTCカーブを作成する。そして、作成
されたSTCカーブのデータは、出力制御回路ｉ、ｊを介
して表示用STCメモリｋとゲイン補正用STCメモリｍとに
それぞれ記憶される。表示用STCメモリｋに記憶されたS
TCカーブのデータは、図外の超音波診断装置本体に設け
られたCRTモニタに出力され、これによってSTCカーブが
画像表示される。したがって、CRTモニタを見ながらス
ライドボリュームｂを調整することによって、STCカー
ブを自由に設定することができる。また、ゲイン補正用
メモリｍに記憶されたSTCカーブのデータは、図外のSTC
増幅器に送出され、これによってSTC増幅器のゲインが
時間制御される。
ところで、従来装置では、スライドボリュームｂによっ
てSTCカーブを設定しているので、STCカーブを細かく調
整したい場合には、多数のスライドボリュームが必要と
なる。その結果、スライドボリュームの操作パネル上に
占める面積が必要以上に大きくなり、また、部品点数も
多くなって装置が大形化するなどの不都合を生じてい
た。
てSTCカーブを設定しているので、STCカーブを細かく調
整したい場合には、多数のスライドボリュームが必要と
なる。その結果、スライドボリュームの操作パネル上に
占める面積が必要以上に大きくなり、また、部品点数も
多くなって装置が大形化するなどの不都合を生じてい
た。
本考案は、従来のかかる不都合を解消し、簡単な操作パ
ネルの構成でもって、細かなSTCカーブが設定できるよ
うにすることを目的とする。
ネルの構成でもって、細かなSTCカーブが設定できるよ
うにすることを目的とする。
（ハ）問題点を解決するための手段 本考案は、上記の目的を達成するために、STCカーブの
深度方向の調整点を設定する深度位置設定キーとこの深
度位置設定キーで設定された調整点におけるSTCカーブ
のゲインを設定するゲイン設定キーとが設けられた操作
パネルと、 この操作パネルの前記ゲイン設定キーから与えられるST
Cカーブのゲイン設定データが記憶されるゲイン設定メ
モリと、 前記深度位置設定キーから与えられる深度位置設定デー
タに基づいて前記ゲイン設定メモリへの前記ゲイン設定
データの書き込みアドレスを指定するアドレス指定回路
と、 前記ゲイン設定メモリへゲイン設定データを送出すると
ともに、該ゲイン設定メモリに記憶されたゲイン設定デ
ータを読み出す制御回路とを備えている。
深度方向の調整点を設定する深度位置設定キーとこの深
度位置設定キーで設定された調整点におけるSTCカーブ
のゲインを設定するゲイン設定キーとが設けられた操作
パネルと、 この操作パネルの前記ゲイン設定キーから与えられるST
Cカーブのゲイン設定データが記憶されるゲイン設定メ
モリと、 前記深度位置設定キーから与えられる深度位置設定デー
タに基づいて前記ゲイン設定メモリへの前記ゲイン設定
データの書き込みアドレスを指定するアドレス指定回路
と、 前記ゲイン設定メモリへゲイン設定データを送出すると
ともに、該ゲイン設定メモリに記憶されたゲイン設定デ
ータを読み出す制御回路とを備えている。
（ニ）作用 本考案の構成によれば、操作パネルに設けられた深度位
置設定キーを操作すると、この深度位置設定キーからは
STCカーブの深度方向の調整点を設定する深度位置設定
データが制御回路を介してアドレス指定回路に与えられ
る。アドレス指定回路は、入力されたこの深度位置設定
データをゲイン設定メモリに対して書き込みアドレス指
定データとして出力する。また、ゲイン設定キーを操作
すると、ゲイン設定キーからはSTCカーブのゲインを設
定するためのゲイン設定データが制御回路を介してゲイ
ン設定メモリに与えられる。これにより、ゲイン設定メ
モリには、アドレス指定回路によりアドレス指定された
位置にゲイン設定データが記憶される。
置設定キーを操作すると、この深度位置設定キーからは
STCカーブの深度方向の調整点を設定する深度位置設定
データが制御回路を介してアドレス指定回路に与えられ
る。アドレス指定回路は、入力されたこの深度位置設定
データをゲイン設定メモリに対して書き込みアドレス指
定データとして出力する。また、ゲイン設定キーを操作
すると、ゲイン設定キーからはSTCカーブのゲインを設
定するためのゲイン設定データが制御回路を介してゲイ
ン設定メモリに与えられる。これにより、ゲイン設定メ
モリには、アドレス指定回路によりアドレス指定された
位置にゲイン設定データが記憶される。
ゲイン設定メモリに記憶されているゲイン設定データは
制御回路によって読み出され、このゲイン設定データに
基づいて各データ間を補完したSTCカーブが作成され
る。
制御回路によって読み出され、このゲイン設定データに
基づいて各データ間を補完したSTCカーブが作成され
る。
（ホ）実施例 以下、本考案を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。
する。
第１図は、本考案の実施例に係る超音波診断装置におけ
るSTCカーブ設定装置部分のブロック図である。同図に
おいて、符号１は操作パネルであって、この操作パネル
１には、第２図に示すように、STCカーブの深度方向の
各調整点P1、P2、…を設定する深度位置設定キー２と、こ
の深度位置設定キー２で設定された調整点におけるSTC
カーブのゲインを設定するゲイン設定キー４とを備え、
深度位置設定キー２はアップキー2aとダウンキー2bとか
ら、また、ゲイン設定キー４は右矢印キー4aと左矢印キ
ー4bとからそれぞれ構成されている。
るSTCカーブ設定装置部分のブロック図である。同図に
おいて、符号１は操作パネルであって、この操作パネル
１には、第２図に示すように、STCカーブの深度方向の
各調整点P1、P2、…を設定する深度位置設定キー２と、こ
の深度位置設定キー２で設定された調整点におけるSTC
カーブのゲインを設定するゲイン設定キー４とを備え、
深度位置設定キー２はアップキー2aとダウンキー2bとか
ら、また、ゲイン設定キー４は右矢印キー4aと左矢印キ
ー4bとからそれぞれ構成されている。
８は操作パネル１から入力れる各データを後述の制御回
路14に送出するインターフェイスである。
路14に送出するインターフェイスである。
10は操作パネル１のゲイン設定キー４から入力されるゲ
イン設定データが記憶されるゲイン設定メモリ、12は深
度位置設定キー２から与えられる深度位置設定データに
基づいてゲイン設定メモリ10に対するゲイン設定データ
の書き込みアドレスを指定するアドレス指定回路、14は
ゲイン設定メモリ10へゲイン設定データを送出するとと
もに、ゲイン設定メモリ10に記憶されたゲイン設定デー
タを読み出す制御回路である。
イン設定データが記憶されるゲイン設定メモリ、12は深
度位置設定キー２から与えられる深度位置設定データに
基づいてゲイン設定メモリ10に対するゲイン設定データ
の書き込みアドレスを指定するアドレス指定回路、14は
ゲイン設定メモリ10へゲイン設定データを送出するとと
もに、ゲイン設定メモリ10に記憶されたゲイン設定デー
タを読み出す制御回路である。
16はゲイン設定メモリ10から読み出したゲイン設定デー
タに基づいてこれらのデータ間を補間したSTCカーブを
作成する補間計算回路、18は補間計算回路16で作成され
たSTCカーブデータをSTC表示用データとして記憶する表
示用STCメモリ、20は補間計算回路16からのSTCカーブデ
ータを次段の表示用メモリ18に記憶させるためにその出
力タイミングやアドレス指定等の制御を行なうととも
に、前記アドレス指定回路12から深度位置設定データに
基づくアドレス指定出力が与えられた場合に、このアド
レス指定出力に応答してマーク表示用のデータを発生す
る第１出力制御回路、22は補間計算回路16で作成された
STCカーブのデータを記憶するゲイン補正用STCメモリ、
24は補間計算回路16からのSTCカーブデータを次段のゲ
イン補正用STCメモリ22に記憶させるためにその出力タ
イミングやアドレス指定等の制御を行なう第２出力制御
回路である。
タに基づいてこれらのデータ間を補間したSTCカーブを
作成する補間計算回路、18は補間計算回路16で作成され
たSTCカーブデータをSTC表示用データとして記憶する表
示用STCメモリ、20は補間計算回路16からのSTCカーブデ
ータを次段の表示用メモリ18に記憶させるためにその出
力タイミングやアドレス指定等の制御を行なうととも
に、前記アドレス指定回路12から深度位置設定データに
基づくアドレス指定出力が与えられた場合に、このアド
レス指定出力に応答してマーク表示用のデータを発生す
る第１出力制御回路、22は補間計算回路16で作成された
STCカーブのデータを記憶するゲイン補正用STCメモリ、
24は補間計算回路16からのSTCカーブデータを次段のゲ
イン補正用STCメモリ22に記憶させるためにその出力タ
イミングやアドレス指定等の制御を行なう第２出力制御
回路である。
次に、このような構成を有する各部の動作を説明する。
STCカーブを調整する場合には、まず、操作パネル１に
設けられた深度位置設定キー２を操作する。たとえば、
第２図において、始めにSTCカーブの深度方向の調整点
がP5の位置にある場合、調整点を現在位置P5からP4、P3、
…というように被検体の浅部方向に向かって設定し直す
には、アップキー2aを連続して押すようにする。逆に、
始めに調整点がP1の位置にあるような場合に、調整点を
現在位置P1からP2、P3、…というように被検体の深部方向
に向かって設定し直すには、ダウンキー2bを連続して押
すようにする。すると、深度位置設定キー２からはSTC
カーブの深度方向の各調整点P1、P2、…の位置に対応する
深度位置設定データが出力され、この深度位置設定デー
タがインターフェイス８、制御回路14を介してアドレス
指定回路12に与えられる。アドレス指定回路12は、入力
されたこの深度位置設定データをゲイン設定メモリ10に
対する書き込みアドレス指定データとして出力するとと
もに、第１出力制御回路20にも送出される。
設けられた深度位置設定キー２を操作する。たとえば、
第２図において、始めにSTCカーブの深度方向の調整点
がP5の位置にある場合、調整点を現在位置P5からP4、P3、
…というように被検体の浅部方向に向かって設定し直す
には、アップキー2aを連続して押すようにする。逆に、
始めに調整点がP1の位置にあるような場合に、調整点を
現在位置P1からP2、P3、…というように被検体の深部方向
に向かって設定し直すには、ダウンキー2bを連続して押
すようにする。すると、深度位置設定キー２からはSTC
カーブの深度方向の各調整点P1、P2、…の位置に対応する
深度位置設定データが出力され、この深度位置設定デー
タがインターフェイス８、制御回路14を介してアドレス
指定回路12に与えられる。アドレス指定回路12は、入力
されたこの深度位置設定データをゲイン設定メモリ10に
対する書き込みアドレス指定データとして出力するとと
もに、第１出力制御回路20にも送出される。
上記のようにして調整点を設定すると、次に、ゲイン設
定キー４を操作する。たとえば、STCカーブの調整点がP
4に設定されている場合、この調整点P4におけるSTCカー
ブのゲインを増加させたい場合には、右矢印キー4aを押
すようにする。逆に、調整点P4におけるSTCカーブのゲ
インを減少させたい場合には、左矢印キー4bを押すよう
にする。すると、ゲイン設定キー４からはSTCカーブの
ゲイン設定用のゲイン設定データがインターフェイス
８、制御回路14を介してゲイン設定メモリ10に与えられ
る。この時、既にアドレス指定回路12からは、深度位置
設定データに基づく書き込みアドレス指定データがゲイ
ン設定メモリ10に出力されているので、ゲイン設定メモ
リ10には、アドレス指定回路12により指定されたアドレ
ス位置にゲイン設定データが記憶されることになる。つ
まり、上述の例で、調整点がP4に設定されている状態で
右矢印キー4aを押した場合には、ゲイン設定メモリ10に
は調整点の位置P4に対応するアドレス位置にゲイン設定
キー４で設定したSTCカーブのゲイン設定データG4が更
新されて記憶されることになる。
定キー４を操作する。たとえば、STCカーブの調整点がP
4に設定されている場合、この調整点P4におけるSTCカー
ブのゲインを増加させたい場合には、右矢印キー4aを押
すようにする。逆に、調整点P4におけるSTCカーブのゲ
インを減少させたい場合には、左矢印キー4bを押すよう
にする。すると、ゲイン設定キー４からはSTCカーブの
ゲイン設定用のゲイン設定データがインターフェイス
８、制御回路14を介してゲイン設定メモリ10に与えられ
る。この時、既にアドレス指定回路12からは、深度位置
設定データに基づく書き込みアドレス指定データがゲイ
ン設定メモリ10に出力されているので、ゲイン設定メモ
リ10には、アドレス指定回路12により指定されたアドレ
ス位置にゲイン設定データが記憶されることになる。つ
まり、上述の例で、調整点がP4に設定されている状態で
右矢印キー4aを押した場合には、ゲイン設定メモリ10に
は調整点の位置P4に対応するアドレス位置にゲイン設定
キー４で設定したSTCカーブのゲイン設定データG4が更
新されて記憶されることになる。
次いで、制御回路14によって、ゲイン設定メモリ10に記
憶されているゲイン設定データG1〜G6を総て読み出し、
このゲイン設定データG1〜G6を補間計算回路16に送出す
る。補間計算回路16は、入力されたゲイン設定データG1
〜G6に基づいて各データ間を補間したSTCカーブを作成
する。そして、補間計算回路16で作成されたSTCカーブ
のデータは、第１、第２出力制御回路20、24に入力され
る。
憶されているゲイン設定データG1〜G6を総て読み出し、
このゲイン設定データG1〜G6を補間計算回路16に送出す
る。補間計算回路16は、入力されたゲイン設定データG1
〜G6に基づいて各データ間を補間したSTCカーブを作成
する。そして、補間計算回路16で作成されたSTCカーブ
のデータは、第１、第２出力制御回路20、24に入力され
る。
第１出力制御回路20は、補間計算回路16から与えられる
STCカーブのデータの出力タイミング、アドレス指定等
の制御を行なって次段の表示用STCメモリに出力する。
その際、アドレス指定回路12から深度位置設定データに
基づくアドレス指定出力が与えられると、このアドレス
指定出力に応答してマーク表示用のデータを発生し、こ
のデータを補間計算回路16からのSTCカーブデータに加
える。これにより、STCカーブのデータとマーク表示用
のデータとが表示用STCメモリ18に記憶される。一方、
第２出力制御回路24は、補間計算回路16からのSTCカー
ブのデータを出力タイミング、アドレス指定等の制御を
行なって次段のゲイン補正用STCメモリ22に出力するの
で、ゲイン補正用STCメモリ22にSTCカーブのデータが記
憶される。そして、表示用STCメモリ18に記憶されたSTC
カーブのデータは、図外の超音波診断装置本体に設けら
れたCRTモニタに出力され、これによってSTCカーブが画
像表示される。しかもその場合、マーク表示用のデータ
も同時に転送されるために、表示されたSTCカーブのゲ
インを一部変更しようとする調整点たとえばP4の位置に
矢印等のマーク（第２図中符号Ｍで示される）が表示さ
れることになる。このため、STCカーブの調整点の位置
が明確に分かる。したがって、CRTモニタを見ながら操
作パネル１の深度位置設定キー２およびゲイン設定キー
４を操作すれば、STCカーブ形状を観察しながらこれを
自由に設定することができる。また、ゲイン補正用STC
メモリ22に記憶されたSTCカーブのデータは図外のSTC増
幅器に送出され、これによってSTC増幅器のゲインが時
間制御されることになる。
STCカーブのデータの出力タイミング、アドレス指定等
の制御を行なって次段の表示用STCメモリに出力する。
その際、アドレス指定回路12から深度位置設定データに
基づくアドレス指定出力が与えられると、このアドレス
指定出力に応答してマーク表示用のデータを発生し、こ
のデータを補間計算回路16からのSTCカーブデータに加
える。これにより、STCカーブのデータとマーク表示用
のデータとが表示用STCメモリ18に記憶される。一方、
第２出力制御回路24は、補間計算回路16からのSTCカー
ブのデータを出力タイミング、アドレス指定等の制御を
行なって次段のゲイン補正用STCメモリ22に出力するの
で、ゲイン補正用STCメモリ22にSTCカーブのデータが記
憶される。そして、表示用STCメモリ18に記憶されたSTC
カーブのデータは、図外の超音波診断装置本体に設けら
れたCRTモニタに出力され、これによってSTCカーブが画
像表示される。しかもその場合、マーク表示用のデータ
も同時に転送されるために、表示されたSTCカーブのゲ
インを一部変更しようとする調整点たとえばP4の位置に
矢印等のマーク（第２図中符号Ｍで示される）が表示さ
れることになる。このため、STCカーブの調整点の位置
が明確に分かる。したがって、CRTモニタを見ながら操
作パネル１の深度位置設定キー２およびゲイン設定キー
４を操作すれば、STCカーブ形状を観察しながらこれを
自由に設定することができる。また、ゲイン補正用STC
メモリ22に記憶されたSTCカーブのデータは図外のSTC増
幅器に送出され、これによってSTC増幅器のゲインが時
間制御されることになる。
なお、この実施例では調整点の段数が一定の場合である
が、操作パネル等に段数設定用のキーを設け、この段数
設定用キーからの段数設定用データを制御回路に入力す
ることによって調整定の数を任意に設定できるように構
成することも可能である。
が、操作パネル等に段数設定用のキーを設け、この段数
設定用キーからの段数設定用データを制御回路に入力す
ることによって調整定の数を任意に設定できるように構
成することも可能である。
（ヘ）効果 本考案によれば、従来のようなスライドボリュームを設
けていないにも拘わらず、深度位置設定キーを設けたこ
とによってSTCカーブを細かく設定することが可能とな
る結果、体表から遠近いずれの位置にある臓器であって
もCRT画面上において鮮明な状態で見ることができる。
また、操作パネルの簡素化および超音波診断装置の小型
化を図ることができるという効果も得られる。
けていないにも拘わらず、深度位置設定キーを設けたこ
とによってSTCカーブを細かく設定することが可能とな
る結果、体表から遠近いずれの位置にある臓器であって
もCRT画面上において鮮明な状態で見ることができる。
また、操作パネルの簡素化および超音波診断装置の小型
化を図ることができるという効果も得られる。
第１図は本考案の実施例の超音波診断装置におけるSTC
カーブ設定装置部分のブロック図、第２図は第１図の装
置で作成されるSTCカーブの説明図、第３図は従来の超
音波診断装置のSTCカーブ設定装置部分のブロック図で
ある。 １……操作パネル、２……深度位置設定キー、４……ゲ
イン設定キー、10……ゲイン設定メモリ、12……アドレ
ス指定回路、14……制御回路。
カーブ設定装置部分のブロック図、第２図は第１図の装
置で作成されるSTCカーブの説明図、第３図は従来の超
音波診断装置のSTCカーブ設定装置部分のブロック図で
ある。 １……操作パネル、２……深度位置設定キー、４……ゲ
イン設定キー、10……ゲイン設定メモリ、12……アドレ
ス指定回路、14……制御回路。
Claims (1)
- 【請求項１】STCカーブの深度方向の調整点を設定する
深度位置設定キーとこの深度位置設定キーで設定された
調整点におけるSTCカーブのゲインを設定するゲイン設
定キーとが設けられた操作パネルと、 この操作パネルの前記ゲイン設定キーから与えられるST
Cカーブのゲイン設定データが記憶されるゲイン設定メ
モリと、 前記深度位置設定キーから与えられる深度位置設定デー
タに基づいて前記ゲイン設定メモリへの前記ゲイン設定
データの書き込みアドレスを指定するアドレス指定回路
と、 前記ゲイン設定メモリへゲイン設定データを送出すると
ともに、該ゲイン設定メモリに記憶されたゲイン設定デ
ータを読み出す制御回路とを包含することを特徴とする
超音波診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985111380U JPH074008Y2 (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985111380U JPH074008Y2 (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 超音波診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6218111U JPS6218111U (ja) | 1987-02-03 |
| JPH074008Y2 true JPH074008Y2 (ja) | 1995-02-01 |
Family
ID=30991247
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985111380U Expired - Lifetime JPH074008Y2 (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH074008Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63197438A (ja) * | 1987-02-10 | 1988-08-16 | 横河メディカルシステム株式会社 | 超音波診断装置のｔｇｃカ−ブ設定回路 |
| JPH07110275B2 (ja) * | 1987-09-03 | 1995-11-29 | オリンパス光学工業株式会社 | 超音波診断装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51140749A (en) * | 1975-05-30 | 1976-12-03 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | Pulse echo system |
| JPS58160011U (ja) * | 1982-04-19 | 1983-10-25 | 株式会社日立メデイコ | 超音波断層装置 |
| JPS60119934A (ja) * | 1983-11-30 | 1985-06-27 | 横河メディカルシステム株式会社 | 超音波診断装置の時間利得補償回路 |
-
1985
- 1985-07-19 JP JP1985111380U patent/JPH074008Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6218111U (ja) | 1987-02-03 |
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