JPH0743798B2 - 自動動作確認試験装置 - Google Patents
自動動作確認試験装置Info
- Publication number
- JPH0743798B2 JPH0743798B2 JP61076709A JP7670986A JPH0743798B2 JP H0743798 B2 JPH0743798 B2 JP H0743798B2 JP 61076709 A JP61076709 A JP 61076709A JP 7670986 A JP7670986 A JP 7670986A JP H0743798 B2 JPH0743798 B2 JP H0743798B2
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- JP
- Japan
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- fault
- nth
- pseudo
- circuit
- alarm
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- Expired - Lifetime
Links
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 title claims description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 32
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Alarm Systems (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は障害状態を検出し，アラームを発生させる機能
を有するシステムに備えられた障害検出回路及びアラー
ム発生回路の動作試験に関する。
を有するシステムに備えられた障害検出回路及びアラー
ム発生回路の動作試験に関する。
従来，障害状態を検出して，アラームを発生させる機能
を有するシステムに備えられた障害検出回路及びアラー
ム発生回路の動作確認試験を行う場合，単に手動で行う
ことのできる実際の障害のみを発生させて，動作確認試
験を行なっている。さらに，アラーム発生回路のアラー
ム出力の確認の場合にも，アラーム発生回路のアラーム
出力状態を表示する簡単な治具を用いており，主に人間
による目視試験にたよっているのが現状である。
を有するシステムに備えられた障害検出回路及びアラー
ム発生回路の動作確認試験を行う場合，単に手動で行う
ことのできる実際の障害のみを発生させて，動作確認試
験を行なっている。さらに，アラーム発生回路のアラー
ム出力の確認の場合にも，アラーム発生回路のアラーム
出力状態を表示する簡単な治具を用いており，主に人間
による目視試験にたよっているのが現状である。
〔発明が解決しようとする問題点〕 ところで，上述のように，従来の障害検出回路及びアラ
ーム発生回路の動作確認試験の場合，単純に手動では行
うことのできない障害で障害検出回路及びアラーム発生
回路の動作確認試験を行うことができない。また近年，
技術進歩に伴う装置内機能の複雑化によって，動作確認
試験を必要とする障害検出回路及びアラーム発生回路の
数が増加の一途をたどり（つまり、障害の種類に応じて
障害検出回路等が備えられていることになる。言い換え
ると、システムには第１乃至第Ｎ（Ｎは２以上の整数）
の障害状態に応じてこれら第１乃至第Ｎの障害状態を検
出する第１乃至第Ｎの障害検出回路が備えられているこ
とになる），これら障害検出回路及びアラーム発生回路
のすべてを手作業による動作確認試験による場合，その
作業工数は膨大なものになってしまうという問題があ
る。
ーム発生回路の動作確認試験の場合，単純に手動では行
うことのできない障害で障害検出回路及びアラーム発生
回路の動作確認試験を行うことができない。また近年，
技術進歩に伴う装置内機能の複雑化によって，動作確認
試験を必要とする障害検出回路及びアラーム発生回路の
数が増加の一途をたどり（つまり、障害の種類に応じて
障害検出回路等が備えられていることになる。言い換え
ると、システムには第１乃至第Ｎ（Ｎは２以上の整数）
の障害状態に応じてこれら第１乃至第Ｎの障害状態を検
出する第１乃至第Ｎの障害検出回路が備えられているこ
とになる），これら障害検出回路及びアラーム発生回路
のすべてを手作業による動作確認試験による場合，その
作業工数は膨大なものになってしまうという問題があ
る。
［問題点を解決するための手段］ 本発明によれば、第１乃至第Ｎ（Ｎは２以上の整数）の
障害状態を検出してそれぞれ第１乃至第Ｎの障害検出信
号を送出する第１乃至第Ｎの障害検出回路と、前記第１
乃至前記第Ｎの障害権出信号にそれぞれ応答してアラー
ム信号を送出するアラーム発生回路とを有するシステム
に用いられ、疑似障害発生信号を送出する疑似障害発生
回路と、疑似障害モードの際前記疑似障害発生信号を順
次前記第１乃至前記第Ｎの障害検出回路に与える供給手
段と、動作確認試験の際前記疑似障害モードに設定して
前記疑似障害発生回路から前記疑似障害発生信号を発生
させるとともに前記アラーム信号を受けて該アラーム信
号の確認を行う自動動作確認回路とを有し、前記疑似障
害発生回路及び前記供給手段は前記システム内に備えら
れていることを特徴とする自動動作確認試験装置が得ら
れる。
障害状態を検出してそれぞれ第１乃至第Ｎの障害検出信
号を送出する第１乃至第Ｎの障害検出回路と、前記第１
乃至前記第Ｎの障害権出信号にそれぞれ応答してアラー
ム信号を送出するアラーム発生回路とを有するシステム
に用いられ、疑似障害発生信号を送出する疑似障害発生
回路と、疑似障害モードの際前記疑似障害発生信号を順
次前記第１乃至前記第Ｎの障害検出回路に与える供給手
段と、動作確認試験の際前記疑似障害モードに設定して
前記疑似障害発生回路から前記疑似障害発生信号を発生
させるとともに前記アラーム信号を受けて該アラーム信
号の確認を行う自動動作確認回路とを有し、前記疑似障
害発生回路及び前記供給手段は前記システム内に備えら
れていることを特徴とする自動動作確認試験装置が得ら
れる。
［実施例］ 以下本発明について実施例によって説明する。
図面を参照して，システム１は障害検出回路11,アラー
ム発生回路12,オアゲート２及び疑似障害発生制御回路
４を備えている。オアゲート２の出力は障害検出回路11
に接続され，オアゲート２の入力の一方は＋5V端子に接
続されている。オアゲート２の入力の他方はＤタイプフ
リップフロップ41で構成される疑似障害発生制御回路４
に接続されている（図面においては、一つの障害検出回
路11及び一つのオアゲート２のみが示され他の障害検出
回路及びオアゲートは省略されてるが、これら障害検出
回路及びオアゲートは通常障害状態の種類に応じて複数
備えられている。つまり、図中これら省略された障害検
出回路及びオアゲートは点線（破線）で示されている。
一般的にはシステムにおいては互いに異なる障害が発生
するが、このような障害（例えば、第１乃至第Ｎ（Ｎは
２以上の整数）の障害）に応じて複数の障害検出回路
（例えば、第１乃至第Ｎの障害検出回路）が備えられて
おり、これら障害検出回路に対応してオアゲートが備え
られている。そして、各オアゲートの一方の入力は同様
にして＋5V端子に接続されている。さらに、図中、疑似
障害発生制御回路４においては２個のＤタイプフリップ
フロップ41のみが示されているが、疑似障害発生制御回
路４は複数のＤタイプフリップフロップ41を備えてい
る。つまり、オアゲートがＮ個あれば、Ｄタイプフリッ
プフロップはＮ個必要であり、これらＮ個のＤタイプフ
リップフロップがカスケードに接続されている。
ム発生回路12,オアゲート２及び疑似障害発生制御回路
４を備えている。オアゲート２の出力は障害検出回路11
に接続され，オアゲート２の入力の一方は＋5V端子に接
続されている。オアゲート２の入力の他方はＤタイプフ
リップフロップ41で構成される疑似障害発生制御回路４
に接続されている（図面においては、一つの障害検出回
路11及び一つのオアゲート２のみが示され他の障害検出
回路及びオアゲートは省略されてるが、これら障害検出
回路及びオアゲートは通常障害状態の種類に応じて複数
備えられている。つまり、図中これら省略された障害検
出回路及びオアゲートは点線（破線）で示されている。
一般的にはシステムにおいては互いに異なる障害が発生
するが、このような障害（例えば、第１乃至第Ｎ（Ｎは
２以上の整数）の障害）に応じて複数の障害検出回路
（例えば、第１乃至第Ｎの障害検出回路）が備えられて
おり、これら障害検出回路に対応してオアゲートが備え
られている。そして、各オアゲートの一方の入力は同様
にして＋5V端子に接続されている。さらに、図中、疑似
障害発生制御回路４においては２個のＤタイプフリップ
フロップ41のみが示されているが、疑似障害発生制御回
路４は複数のＤタイプフリップフロップ41を備えてい
る。つまり、オアゲートがＮ個あれば、Ｄタイプフリッ
プフロップはＮ個必要であり、これらＮ個のＤタイプフ
リップフロップがカスケードに接続されている。
そして、第１のＤタイプフリップフロップのＱ端子が第
１のオアゲートに接続され、第ＮのＤタイプフリップフ
ロップのＱ端子が第Ｎのオアゲートに接続されることに
なる）。
１のオアゲートに接続され、第ＮのＤタイプフリップフ
ロップのＱ端子が第Ｎのオアゲートに接続されることに
なる）。
障害検出回路11及びアラーム発生回路12の動作を確認す
る際，上記のオアゲート２の入力の一方及び疑似障害発
生制御回路４は図示のようにマイクロプロセッサを備え
る自動動作確認回路３に接続される。また，アラーム発
生回路12の出力は自動動作確認回路３へ入力される。
る際，上記のオアゲート２の入力の一方及び疑似障害発
生制御回路４は図示のようにマイクロプロセッサを備え
る自動動作確認回路３に接続される。また，アラーム発
生回路12の出力は自動動作確認回路３へ入力される。
次に障害検出回路11及びアラーム発生回路12の動作確認
について説明する。
について説明する。
マイクロプロセッサ31の制御によって自動動作確認回路
３から疑似障害発生制御回路４に疑似障害シリアルデー
タＡと疑似障害書込みクロックＢとが送出される。
３から疑似障害発生制御回路４に疑似障害シリアルデー
タＡと疑似障害書込みクロックＢとが送出される。
この結果、第１乃至第ＮのＤタイプフリップフロップか
らは所定の時間ずれて（所定のタイミングずれて）順次
そのＱ端子から疑似障害シリアルデータＡが出力される
ことになる。そして、これら疑似障害シリアルデータＡ
はそれぞれ疑似障害発生信号Ｃとして第１乃至第Ｎのオ
アゲートに与えられる。ところで，図示のようにオアゲ
ート２の入力にはハイレベル（＋5V）が印加されてお
り，オアゲート２への疑似障害発生信号Ｃの入力にかか
わらず，オアゲート２は常にハイレベルを出力する。即
ち，疑似障害発生信号Ｃは障害検出回路11に対して出力
されないことになる。自動動作確認回路３では疑似障害
シリアルデータＡを送出すると、マイクロプロセッサ31
の制御によって＋5V端子を接地する（例えば、＋5V端子
は自動動作確認回路３内に備えられたスイッチングトラ
ンジスタ（図示せず）を介して接地されており、マイク
ロプロセッサ31ではこのスイッチングトランジスタをオ
ンすることによって＋5V端子を接地する）。このよう
に、＋5V端子が接地されると、第１乃至第Ｎのオアゲー
トの一方の入力はハイレベルからロウレベルに変化する
（今，このハイレベルからロウレベルへの変化を疑似障
害モード切換信号Ｄという）。この結果、第１乃至第Ｎ
のオアゲートからは順次（つまり、所定のタイミングず
れて）疑似障害発生信号（第１乃至第Ｎの疑似障害発生
信号）が送出されることになる。そして、これら第１乃
至第Ｎの疑似障害発生信号は所定のタイミングずれて第
１乃至第Ｎの障害検出回路に与えられる。
らは所定の時間ずれて（所定のタイミングずれて）順次
そのＱ端子から疑似障害シリアルデータＡが出力される
ことになる。そして、これら疑似障害シリアルデータＡ
はそれぞれ疑似障害発生信号Ｃとして第１乃至第Ｎのオ
アゲートに与えられる。ところで，図示のようにオアゲ
ート２の入力にはハイレベル（＋5V）が印加されてお
り，オアゲート２への疑似障害発生信号Ｃの入力にかか
わらず，オアゲート２は常にハイレベルを出力する。即
ち，疑似障害発生信号Ｃは障害検出回路11に対して出力
されないことになる。自動動作確認回路３では疑似障害
シリアルデータＡを送出すると、マイクロプロセッサ31
の制御によって＋5V端子を接地する（例えば、＋5V端子
は自動動作確認回路３内に備えられたスイッチングトラ
ンジスタ（図示せず）を介して接地されており、マイク
ロプロセッサ31ではこのスイッチングトランジスタをオ
ンすることによって＋5V端子を接地する）。このよう
に、＋5V端子が接地されると、第１乃至第Ｎのオアゲー
トの一方の入力はハイレベルからロウレベルに変化する
（今，このハイレベルからロウレベルへの変化を疑似障
害モード切換信号Ｄという）。この結果、第１乃至第Ｎ
のオアゲートからは順次（つまり、所定のタイミングず
れて）疑似障害発生信号（第１乃至第Ｎの疑似障害発生
信号）が送出されることになる。そして、これら第１乃
至第Ｎの疑似障害発生信号は所定のタイミングずれて第
１乃至第Ｎの障害検出回路に与えられる。
第１の障害検出回路では第１の疑似障害発生信号によっ
て障害状態となり、障害信号Ｅ（第１の障害信号）をア
ラーム発生回路12に送出する。この第１の障害信号を受
けると、アラーム発生回路12は第１の障害信号に対応す
るアラーム出力Ｆ（第１のアラーム信号）を送出する。
て障害状態となり、障害信号Ｅ（第１の障害信号）をア
ラーム発生回路12に送出する。この第１の障害信号を受
けると、アラーム発生回路12は第１の障害信号に対応す
るアラーム出力Ｆ（第１のアラーム信号）を送出する。
同様にして、第２乃至第Ｎの障害検出回路はそれぞれ第
２乃至第Ｎの疑似障害発生信号によって障害状態とな
り、第２乃至第Ｎの障害信号をアラーム発生回路12に送
出する。そして、第２乃至第Ｎの障害信号を受けると、
アラーム発生回路12は第２乃至第Ｎの障害信号に対応し
てそれぞれ第２乃至第Ｎのアラーム信号を送出する。な
お、上記の第１乃至第Ｎの障害信号は所定のタイミング
ずれてアラーム発生回路12に与えられることになり、こ
の結果、アラーム発生回路12からは所定のタイミングず
れて第１乃至第Ｎのアラーム信号が送出されることにな
る。
２乃至第Ｎの疑似障害発生信号によって障害状態とな
り、第２乃至第Ｎの障害信号をアラーム発生回路12に送
出する。そして、第２乃至第Ｎの障害信号を受けると、
アラーム発生回路12は第２乃至第Ｎの障害信号に対応し
てそれぞれ第２乃至第Ｎのアラーム信号を送出する。な
お、上記の第１乃至第Ｎの障害信号は所定のタイミング
ずれてアラーム発生回路12に与えられることになり、こ
の結果、アラーム発生回路12からは所定のタイミングず
れて第１乃至第Ｎのアラーム信号が送出されることにな
る。
これら第１乃至第Ｎのアラーム信号は自動動作確認回路
３に送られ、マイクロプロセッサ31によって予め設定さ
れた疑似障害に対応するアラームが発生したことが確認
される。
３に送られ、マイクロプロセッサ31によって予め設定さ
れた疑似障害に対応するアラームが発生したことが確認
される。
このようにして，すべての障害検出回路について疑似障
害発生信号を送出することによって，短時間ですべての
障害検出回路の動作を確認することができる。
害発生信号を送出することによって，短時間ですべての
障害検出回路の動作を確認することができる。
以上説明したように、本発明ではすべての障害発生回路
及びアラーム発生回路の動作確認試験を自動的に行うこ
とができ、この結果、障害発生回路及びアラーム発生回
路の信頼性の向上及び試験作業工数を大幅に削減できる
という効果がある。
及びアラーム発生回路の動作確認試験を自動的に行うこ
とができ、この結果、障害発生回路及びアラーム発生回
路の信頼性の向上及び試験作業工数を大幅に削減できる
という効果がある。
図面は本発明の一実施例を一部省略して示すブロック図
である。 １……システム,2……オアゲート,3……自動動作確認回
路,4……擬似障害発生制御回路,11……障害検出回路,12
……アラーム発生回路,31……マイクロプロセッサ,41…
…Ｄタイプフリップフロップ。
である。 １……システム,2……オアゲート,3……自動動作確認回
路,4……擬似障害発生制御回路,11……障害検出回路,12
……アラーム発生回路,31……マイクロプロセッサ,41…
…Ｄタイプフリップフロップ。
フロントページの続き (72)発明者 遠藤 金也 宮城県黒川郡大和町吉岡字雷神２番地 宮 城日本電気株式会社内 (56)参考文献 特開 昭60−54096（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】第１乃至第Ｎ（Ｎは２以上の整数）の障害
状態を検出してそれぞれ第１乃至第Ｎの障害検出信号を
送出する第１乃至第Ｎの障害検出回路と、前記第１乃至
前記第Ｎの障害検出信号にそれぞれ応答してアラーム信
号を送出するアラーム発生回路とを有するシステムに用
いられ、疑似障害発生信号を送出する疑似障害発生回路
と、疑似障害モードの際前記疑似障害発生信号を順次前
記第１乃至前記第Ｎの障害検出回路に与える供給手段
と、動作確認試験の際前記疑似障害モードに設定して前
記疑似障害発生回路から前記疑似障害発生信号を発生さ
せるとともに前記アラーム信号を受けて該アラーム信号
の確認を行う自動動作確認回路とを有し、前記疑似障害
発生回路及び前記供給手段は前記システム内に備えられ
ていることを特徴とする自動動作確認試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61076709A JPH0743798B2 (ja) | 1986-04-04 | 1986-04-04 | 自動動作確認試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61076709A JPH0743798B2 (ja) | 1986-04-04 | 1986-04-04 | 自動動作確認試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62233773A JPS62233773A (ja) | 1987-10-14 |
| JPH0743798B2 true JPH0743798B2 (ja) | 1995-05-15 |
Family
ID=13613059
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61076709A Expired - Lifetime JPH0743798B2 (ja) | 1986-04-04 | 1986-04-04 | 自動動作確認試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0743798B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102014223469A1 (de) * | 2014-11-18 | 2016-05-19 | Robert Bosch Gmbh | Elektronische Steuereinrichtung für Radarsensoren |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6054096A (ja) * | 1983-09-02 | 1985-03-28 | 株式会社東芝 | 警報装置 |
-
1986
- 1986-04-04 JP JP61076709A patent/JPH0743798B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62233773A (ja) | 1987-10-14 |
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