JPH0752601Y2 - 差圧伝送器 - Google Patents

差圧伝送器

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JPH0752601Y2
JPH0752601Y2 JP11323589U JP11323589U JPH0752601Y2 JP H0752601 Y2 JPH0752601 Y2 JP H0752601Y2 JP 11323589 U JP11323589 U JP 11323589U JP 11323589 U JP11323589 U JP 11323589U JP H0752601 Y2 JPH0752601 Y2 JP H0752601Y2
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JP
Japan
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chamber
diaphragm
differential pressure
communication hole
seal
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JPH0352649U (ja
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龍造 浅田
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Yokogawa Electric Corp
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Yokogawa Electric Corp
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Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本考案は、静電容量型差圧測定装置に関する。
(従来の技術) 次に図面を用いて従来例を説明する。第2図は従来の第
1の差圧伝送器の主要部の断面構成図、第3図は従来の
第2の差圧伝送器の主要部の断面構成図である。
まず、第2図を用いて第1の従来例を説明する。この図
において、1はセンサハウジング、2はセンサハウジン
グ1内に設けられ、内部に第3室3が形成されたアルミ
ナブロックである。この第3室3内には差圧センサ4が
配設されている。
差圧センサ4は移動電極として作用するメインダイアフ
ラム5と、このメインダイアフラムの両サイドに設けら
れた固定電極6,7とから構成されている。
8はセンサハウジング1に連設された受圧部ボディであ
る。この受圧部ボディ8内にはセンタダイアフラム9に
よって仕切られた第1室10及び第2室11が形成されてい
る。そして、第1室10の波形加工が施された開放面には
第1のバックアップネスト12が、第2室11の波形加工が
施された開放面には第2のバックアップネスト13がそれ
ぞれ設けられている。そして、バックアップネスト12,1
3に対向して、第1のシールダイアフラム14,第2のシー
ルダイアフラム15が設けられている。
更に、第1及び第2のシールダイアフラム14,15の外縁
には第1及び第2の環状ダイアフラム16,17が設けられ
ている。
18は第1室10から差圧センサ4へ連通するように設けら
れた第1の連通孔、19は第2室11から差圧センサ4へ連
通するように設けられた第2の連通孔である。20は第1
の環状ダイアフラム16と受圧部ボディ8により形成され
る隙間と第3室3とを連通する第3の連通孔、21は第2
の環状ダイアフラム17と受圧部ボディ8により形成され
る隙間と第3室3とを連通する第4の連通孔である。
そして、第1乃至第3室10,113,および第1乃至第4の
連通孔18,19,20,21には封入液(例えば、シリコンオイ
ル)22が充填されている。
また、23はパッキン24を介して受圧部ボディ8に取り付
けられるフランジである。
次に、上記構成の作動を説明する。シールダイアフラム
14,15に印加された差圧は第1及び第2の連通穴18,19を
経由して差圧センサ4へ伝達される。そして、差圧セン
サ4のメインダイアフラム5を変位させる。この差圧に
比例する変位を測定ダイアフラム5と固定電極6,7間の
静電容量の変化として検出し、電子信号に変換する。
高い静圧の測定圧が加わった場合には、シールダイアフ
ラム14,15に高い静圧が加わると共に、環状ダイアフラ
ム16,17にも高い静圧が加わり、第3及び第4の連通孔2
0,21を介して第3室3に静圧が加わるので、差圧センサ
4は静圧中におかれることになり、メインダイアフラム
5には、静圧に起因するひずみが生じないので、静圧に
よるスパン変動は生じない。
一方、過大圧印加時には、センタダイアフラム9が変形
し、高圧側の封入液22の移動量を吸収する。そして、シ
ールダイアフラム14又は15がバックアップネスト12又は
13に着座することにより、以後、封入液22の移動はなく
なり、メインダイアフラム5は過大圧は加わらず、した
がって、過大圧から保護される。
次に、第3図を用いて第2の従来例を説明する。この図
において、31はセンサハウジング、32はセンサハウジン
グ31内に設けられた半導体式の差圧センサ(シリコンセ
ンサ)である。
33はセンサハウジング31に連設された受圧部ボディであ
る。この受圧部ボディ33内にはセンタダイアフラム34に
よって仕切られた第1室35及び第2室36が形成されてい
る。そして、この第1室35は差圧センサ32の下面まで形
成され、第2室36は差圧センサ32の上面まで形成されて
いる。
第1室35の波形加工が施された開放面には第1のバック
アップネスト37が、第2室36の波形加工が施された開放
面には第2のバックアップネスト38がそれぞれ設けられ
ている。そして、バックアップネスト37,38に対向し
て、第1のシールダイアフラム39,第2のシールダイア
フラム40が設けられている。
そして、第1及び第2室35,36には第1及び第2の封入
液(例えば、シリコンオイル)41,42が充填されてい
る。
次に、上記構成の作動を説明する。シールダイアフラム
39,40に印加された差圧は第1及び第2の封入液41,42を
介して差圧センサ32の上面及び下面へ伝達される。そし
て、差圧センサ32の上面及び下面に作用する圧力によっ
て、半導体の抵抗値が変化する圧抵抗効果を利用して第
1のシールダイアフラム39と第2のシールダイアフラム
40とに作用する圧力の差を検出する。
(考案が解決しようとする課題) 上記構成の第1の従来例において、シールダイアフラム
14,15の外縁に環状ダイアフラム16,17を設けている。よ
って、シールダイアフラム16,17が有効に利用されてい
ないという問題点がある。つまり、測定圧力を受けるシ
ールダイアフラム14,15の径が小さいと、ダイアフラム
の容積変化定数が小さく、ばね定数が大きくなる。よっ
て、フランジ23の締め付けによるシールダイアフラム1
4,15の変形に起因するゼロ点スパン変化が大きくなり、
差圧センサ4のドリフトが大きくなる。又、ダイアフラ
ムの容積変化定数が小さいので、左右の封入液22のアン
バランスから出る温度誤差が大きくなる。更に、センタ
ダイアフラム9の変形に起因する温度誤差,静圧誤差も
大きくなる。
また、第2の従来例においては、2つの作用する圧力を
差圧センサ32の上面及び下面に作用させなければならな
いので、第2室42の容積が大きくなり、第2の封入液42
の量が多くなる。
よって、封入液の熱膨張による体積の増加のためセンタ
ダイアフラム34の強度面で制約があり、センタダイアフ
ラム34の特性面でも温度変動の影響を受けやすくなる。
本考案は上記問題点に鑑みてなされたもので、その第1
の目的は、シールダイアフラムを有効に利用して、外乱
の影響を受ける割合が少なく、差圧伝送器を提供するこ
とにある。
また、第2の目的は、封入液が少なく、封入液によるセ
ンタダイアフラムの強度面での制約が軽減され、特性面
でも向上する差圧伝送器を提供することにある。
(課題を解決するための手段) 上記課題を解決する本考案は、センサハウジング内に設
けられた第3室と、この第3室内に設けられた差圧セン
サと、前記センサハウジングに連設されたボディと、ボ
ディに内に設けられたセンタダイアフラムによって仕切
られた第1室及び第2室と、これら第1室及び第2室の
それぞれの開放面全面に設けられ、測定圧を受ける第1
及び第2のシールダイアフラムと、前記第1室及び第2
室のセンタダイアフラム近傍に設けられた第1及び第2
の内部シールダイアフラムと、前記第1室から前記差圧
センサへ連通するように設けられた第1の連通孔と、前
記第2室から前記差圧センサへ連通するように設けられ
た第2の連通孔と、前記第1の内部シールダイアフラム
とボディにより形成される隙間と前記第3室とを連通す
る第3の連通孔と、前記第2の内部シールダイアフラム
とボディにより形成される隙間と前記第3室とを連通す
る第4の連通孔と、前記第1乃至第3室および前記第1
乃至第4の連通孔を充填する封入液とからなるものであ
る。
(作用) 本考案の差圧伝送器において、第1及び第2のシールダ
イアフラムは第1及び第2室の開放面全面に設けられて
いるので、シールダイアフラムの径が広がる。
(実施例) 次に図面を用いて本考案の一実施例を説明する。第1図
は本考案の一実施例を説明する断面構成図である。
この図において、51はセンサハウジング、52はセンサハ
ウジング51内に設けられ、内部に第3室53が形成された
アルミナブロックである。この第3室53内には差圧セン
サ54が配設されている。
差圧センサ54は移動電極として作用するメインダイアフ
ラム55と、このメインダイアフラム55の両サイドに設け
られた固定電極56,57とから構成されている。
58はセンサハウジング51に連設された受圧部ボディであ
る。この受圧部ボディ58内にはセンタダイアフラム59に
よって仕切られた第1室60及び第2室61が形成されてい
る。そして、第1室60の波形加工が施された開放面には
第1のバックアップネスト62が、第2室61の波形加工が
施された開放面には第2のバックアップネスト63がそれ
ぞれ設けられている。第1及び第2室60及び61の開放面
の外周近傍には第1及び第2のシールダイアフラム64,6
5が設けられている。
一方、第1室60及び第2室61のセンタダイアフラム59近
傍には、第1及び第2のシールダイアフラム66,67が設
けられている。
68は第1室60から差圧センサ54へ連通するように設けら
れた第1の連通孔、69は第2室61から差圧センサ54へ連
通するように設けられた第2の連通孔である。70は第1
の内部シールダイアフラム66と受圧部ボディ58により形
成される隙間と第3室53とを連通する第3の連通孔、71
は第2の内部シールダイアフラム67と受圧部ボディ58に
より形成される隙間と第3室53とを連通する第4の連通
孔である。
そして、第1乃至第3室60,61,53および第1乃至第4の
連通孔68,69,70,71には封入液(例えば、シリコンオイ
ル)72が充填されている。
また、73はパッキン74を介して受圧部ボディ58に取り付
けられるフランジである。
次に、上記構成の作動を説明する。シールダイアフラム
66,67に印加された差圧は第1及び第2の連通穴68,69を
経由して差圧センサ54へ伝達される。そして、差圧セン
サ54のメインダイアフラム55を変位させる。この差圧に
比例する変位を測定ダイアフラム55と固定電極56,57間
の静電容量の変化として検出し、電気信号に変換する。
高い静圧の測定圧が加わった場合には、シールダイアフ
ラム66,67に高い静圧が加わると共に、内部シールダイ
アフラム64,65にも高い静圧が加わり、第3及び第4の
連通孔70,71を介して第3室53に静圧が加わるので、差
圧センサ54は静圧中におかれることになり、メインダイ
アフラム55には、静圧に起因するひずみが生じないの
で、静圧によるスパン変動は生じない。
一方、過大圧印加時には、センタダイアフラム59は変形
し、高圧側の封入液72の移動量を吸収する。そして、シ
ールダイアフラム66又は67がバックアップネスト62又は
63に着座することにより、以後、封入液72の移動はなく
なり、メインダイアフラム55は過大圧は加わらず、した
がって、過大圧から保護される。
上記構成によれば、測定圧力を受けるシールダイアフラ
ム66,67は第1室60及び第2室61の開放面いっぱいに設
けられているので、シールダイアフラム66,67の径が広
がり、シールダイアフラム66,67が有効に利用されてい
る。よって、ダイアフラムの容量変化定数が大きく、ば
ね定数が小さくなる。このダイアフラムの容積変化定数
は径の6乗に比例して大きくなり、ばね定数は径の4乗
に逆比例する。
従って、フランジ73の締め付けによるシールダイアフラ
ム66,67の変形に起因するゼロ点スパン変化が小さく、
差圧センサ54のドリフトが小さくなる。又、ダイアフラ
ムの容積変化定数が大きくいので、左右の封入液72のア
ンバランスから出る温度誤差が小さく。更に、センタダ
イアフラム59の変形に起因する温度誤差,静圧誤差も小
さくなる。
また、第2の従来例に比べて、封入液72が少ないので、
封入液によるセンタダイアフラム59の強度面での制約が
軽減され、特性面でも向上する。
(考案の効果) 以上述べたように本考案によれば、センサハウジング内
に設けられた第3室と、この第3室に設けられた差圧セ
ンサと、前記センサハウジングに連設されたボディと、
ボディに内に設けられたセンタダイアフラムによって仕
切られた第1室及び第2室と、これら第1室及び第2室
のそれぞれの開放面全面に設けられ、測定圧を受ける第
1及び第2のシールダイアフラムと、前記第1室及び第
2室のセンタダイアフラム近傍に設けられた第1及び第
2の内部シールダイアフラムと、前記第1室から前記差
圧センサへ連通するように設けられた第1の連通孔と、
前記第2室から前記差圧センサへ連通するように設けら
れた第2の連通孔と、前記第1の内部シールダイアフラ
ムとボディにより形成される隙間と前記第3室とを連通
する第3の連通孔と、前記第2の内部シールダイアフラ
ムとボディにより形成される隙間と前記第3室とを連通
する第4の連通孔と、前記第1乃至第3室および前記第
1乃至第4の連通孔を充填する封入液とを設けた。
よって、シールダイアフラムの有効利用が図れ、外乱の
影響を受ける割合が少ない差圧伝送器を実現できる。
また、封入液が少なく、封入液によるセンタダイアフラ
ムの強度面での制約が軽減され、特性面でも向上する差
圧伝送器を実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を説明する断面構成図、 第2図は従来の第1の差圧伝送器の主要部の断面構成
図、 第3図は従来の第2の差圧伝送器の主要部の断面構成図
である。 これらの図において、 1,31,51…センサハウジング 3,53…第3室 4,54…差圧センサ 5,55…メインダイアフラム 8,58…受圧ボディ 9,59…センタダイアフラム 10,60…第1室 11,61…第2室 12,37,62…第1のバックアップネスト 13,38,63…第2のバックアップネスト 14,39,66…第1のシールダイアフラム 15,40,67…第2のシールダイアフラム 16…第1の環状ダイアフラム 17…第2の環状ダイアフラム 18,68…第1の連通孔 19,69…第2の連通孔 20,70…第3の連通孔 21,71…第4の連通孔 22,72…封入液 66…第1の内部シールダイアフラム 67…第2の内部シールダイアフラム

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】センサハウジング(51)内に設けられた第
    3室(53)と、 この第3室(53)内に設けられた差圧センサ(51)と、 前記センサハウジング(51)に連設されたボディ(58)
    と、 ボディ(58)に内に設けられたセンタダイアフラム(5
    9)によって仕切られた第1室(60)及び第2室(61)
    と、 これら第1室及び第2室(60,61)のそれぞれの開放面
    全面に設けられ、測定圧を受ける第1及び第2のシール
    ダイアフラム(64,65)と、 前記第1室及び第2室(60,61)のセンタダイアフラム
    (59)近傍に設けられた第1及び第2の内部シールダイ
    アフラム(66,67)と、 前記第1室(60)から前記差圧センサ(54)へ連通する
    ように設けられた第1の連通孔(68)と、 前記第2室(61)から前記差圧センサ(54)へ連通する
    ように設けられた第2の連通孔(69)と、 前記第1の内部シールダイアフラム(59)とボディ(5
    8)により形成される隙間と前記第3室(53)とを連通
    する第3の連通孔(70)と、 前記第2の内部シールダイアフラム(67)とボディ(5
    8)により形成される隙間と前記第3室(53)とを連通
    する第4の連通孔(71)と、 前記第1乃至第3室(60,61,53)および前記第1乃至第
    4の連通孔(68,69,70,71)を充填する封入液(72)と
    からなることを特徴とする差圧伝送器。
JP11323589U 1989-09-27 1989-09-27 差圧伝送器 Expired - Lifetime JPH0752601Y2 (ja)

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JP11323589U JPH0752601Y2 (ja) 1989-09-27 1989-09-27 差圧伝送器

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JP11323589U JPH0752601Y2 (ja) 1989-09-27 1989-09-27 差圧伝送器

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Publication Number Publication Date
JPH0352649U JPH0352649U (ja) 1991-05-22
JPH0752601Y2 true JPH0752601Y2 (ja) 1995-11-29

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ID=31661654

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JP11323589U Expired - Lifetime JPH0752601Y2 (ja) 1989-09-27 1989-09-27 差圧伝送器

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