JPH0755966B2 - 光ディスクの溝材又は保護膜用樹脂組成物 - Google Patents

光ディスクの溝材又は保護膜用樹脂組成物

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JPH0755966B2
JPH0755966B2 JP60291949A JP29194985A JPH0755966B2 JP H0755966 B2 JPH0755966 B2 JP H0755966B2 JP 60291949 A JP60291949 A JP 60291949A JP 29194985 A JP29194985 A JP 29194985A JP H0755966 B2 JPH0755966 B2 JP H0755966B2
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哲男 大久保
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    • B41M—PRINTING, DUPLICATING, MARKING, OR COPYING PROCESSES; COLOUR PRINTING
    • B41M5/00—Duplicating or marking methods; Sheet materials for use therein
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、光信号を高速、高密度に記録、再生する光デ
ィスク記録媒体用溝材等として有用な、紫外線等により
硬化し、基材に対する接着性、耐熱水性の良好な耐ヒー
トシヨツク性、硬度の優れた光デイスク用樹脂組成物に
関する。
(従来の技術) 現在、民生用のデイスクの材料としては、ポリカーボネ
ート樹脂やメチルメタクリレート樹脂が使用されてい
る。又、2,2−ビス(4−(メタ)アクリロイルオキシ
フエニル)プロパンとスチレン等の単量体からなるデイ
スクの材料も提案されている。産業用の光デイスクは、
長期信頼性等の品質要求のため無機ガラスを基材として
デイスクの開発が行なわれており、同時にガラス基材用
の溝材の開発も進められている。
(発明が解決しようとする問題点) 産業用の光デイスクは、長期信頼性が要求されるため、
溝材に対する特性として、耐熱水性、耐ヒートシヨツク
性、高い硬度、透明性等の優れた品質が要求されてい
る。
従来、紫外線硬化型樹脂組成物としては、多くの組成物
が知られているが、上記の特性を十分に満たす組成物は
今日まで、見い出されていないのが実状である。特開昭
59−71317号公報には、ガラスを基材とした光デイスク
用の光硬化型接着性組成物が提案されている。この組成
物は、2−エチル−2−ヒドロキシエチル(メタ)アク
リレート等の分子中にOH基を持ったモノ(メタ)アクリ
レートを主成分としており、溝材として使用するには、
耐熱水性や硬度等が不十分であり、不向きである。
(問題点を解決するための手段) 上記の問題を解決するために、本発明者らは鋭意研究の
結果、紫外線による硬化が速く、耐熱水性、耐ヒートセ
ット性、硬度にすぐれた光ディスク用樹脂組成物を製出
することに成功し本発明を完成させた。すなわち、本発
明は下記一般式〔I〕で示される化合物(A) (式中Rは水素原子またはメチル基を意味する) 10〜80重量%と、ビスフェノール型エポキシアクリレー
ト(B)20〜90重量%及び光増感剤(C)0〜10重量%
(但し0を除く)を含有することを特徴とする光ディス
クの溝材又は保護膜用樹脂組成物を提供する。
本発明に使用される一般式〔I〕で表わされる化合物
は、ヒドロキシ・ジシクロペンタジエンを水素化するこ
とによって得られるヒドロキシトリシクロ〔5,2,1,
02,6〕デカンと(メタ)アクリル酸をエステル化反応さ
せることにより得ることができる。一般式〔I〕で示さ
れる化合物(A)としては、(メタ)アクリロイルオキ
シ基が8−位又は9−位に入った化合物等が挙げられ
る。一般式〔I〕で示される化合物(A)は、容易に市
販品として入手する事ができる(日立化成(株)製、FA
−513A(アクリレート)、FA−513M(メタクリレー
ト))。
ビスフェノールA型エポキシアクリレート(B)はビス
フェノール型エポキシ樹脂(例えばシェル石油化学社
製、エポコート828、1001、1004等のビスフェノールA
型エポキシ樹脂)と(メタ)アクリル酸との反応によっ
て得られるビスフェノールA型エポキシアクリレート類
で市販品が容易に入手できる。
ビスフェノールA型エポキシアクリレート(B)は、1
種又は、2種以上使用することができる。光増感剤
(C)としては、公知のどのような光増感剤でも使用す
ることができるが配合後の貯蔵安定性の良いものが望ま
しい。この様な光増感剤としては、例えばベンゾインエ
チルエーテル、ベンゾインブチルエーテルなどのベンゾ
インアルキルエーテル系、2,2−ジエトリキアセトフエ
ノン、4′−フエノキシ−2,2−ジクロロアセトフエノ
ンなどのアセトフエノン系、2−ヒドロキシ−2−メチ
ルプロピオフエノン、4′−イソプロピル−2−ヒドロ
キシ−2−メチルプロピオフエノンなどのプロピオフエ
ノン系、1−ヒドロキシシクロヘキシルフエニルケト
ン、ベンジルジメチルケトン及び2−エチルアントラキ
ノン、2−クロルアントラキノンなどのアントラキノン
系、2−クロルチオキサントン、2,4−ジメチルチオキ
サントンなどのチオキサントン系光増感剤などがあげら
れる。特に好ましいものとしては1−ヒドロキシシクロ
ヘキシルフエニルケトン等があげられる。これら光増感
剤は、1種または2種以上を任意の割合で混合して使用
する事が出来る。
本発明に使用される(A)成分の量は、光デイスク用材
料(組成物)の好ましくは10〜80重量%、特に好ましく
は、20〜60重量%が望ましい。
(B)成分の量は、光デイスク用材料(組成物)の好ま
しくは20〜90重量%、特に好ましくは40〜80重量%であ
る。(C)成分の量は、光デイスク用材料(組成物)の
好ましくは、0〜10重量%(但し、0を除く)、特に好
ましくは、1〜5重量%である。
本発明の光デイスク用樹脂組成物は、(A),(B)及
び(C)の成分物質だけで十分所期の目的を達成するも
のであるが、さらに性能改良のため、本来の特性を変え
ない範囲で、シランカツプリング剤,重合禁止剤、レベ
リング剤等の材料を添加することもできる。
シランカツプリング剤としては、γ−メタクリロキシプ
ロピルトリメトキシシラン、γ−(2−アミノエチル)
アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−メルカプトプ
ロピルトリメトキシシラン等が挙げられる。重合禁止剤
としては、メトキノン、メチル・ハイドロキノン、ベン
ゾキノン等が挙げられる。又、レベリング剤としては、
モダフロー(モンサント社製)、フルオラド(3M社製)
等が挙げられる。シランカツプリング剤、重合禁止剤、
レベリング剤の使用量としては、それぞれ組成物の0〜
3重量%の範囲が好ましい。
本発明の光デイスク用樹脂組成物の紫外線照射による硬
化は、常法により行うことができる。例えば、低圧又は
高圧水銀灯、キセノン灯等を用いて紫外線を照射すれば
よい。
本発明の光デイスク用樹脂組成物は、特に、無機ガラス
を基板とする光デイスク用溝材(無機ガラス基板上に溝
を形成させるための樹脂組成物)として、又、光デイス
クの記録膜の保護コーテイング剤として有用である。
本発明の光デイスク用樹脂組成物を用いたガラス基板上
の溝の形成は、スタンパ(金型)の上に光デイスク用樹
脂組成物(溝材)を例えばスピンコート法等により塗布
し、塗布面にガラス基板を空気が入らないようにのせ、
ガラス基板をとおして紫外線を照射して溝材を硬化し、
次いでスランパをガラス基板より離型させることによ
り、ガラス基板上に溝が形成される。スタンパの上に溝
材を塗布する場合、その厚さは通常10〜100μ程度とす
るのが好ましい。このようにして得られる溝が形成され
た基板の上に金属(例えば、Gd,Tb,Te,Ge,Au,Pt,Pb,Sb,
Ti,Ag,Se,TeO2,Fe等の合金を常法により蒸着させ記録膜
を形成させる。その後スピンコート法等によりスパツタ
リング膜(記録膜)上に光デイスク用材料(光デイスク
用保護コーテイング剤)を好ましくは1〜5μの厚さに
塗布し、紫外線を照射して保護コーテイング剤を硬化す
ると保護膜が形成される。
(実施例) 以下に、本発明を実施例により具体的に説明する。な
お、実施例中の部は、重量部である。
実施例1 アクリロイルオキシートリシクロ〔5,2,1,02,6〕デカン
(日立化成(株)製、FA−513A)(A)55部、エポキシ
アクリレート〔エピコート828(シエル石油化学社製、
ビスフエノール型エポキシ樹脂)をアクリル酸でエステ
ル化して得られた樹脂〕(B)15部、ジオキサングリコ
ールジアクリレート(日本化薬(株)製、KAYARAD,R−6
04)(B)30部、イルガキユアー184(チバ・ガイギー
社製、光増感剤)(1−ヒドロキシシクロヘキシルフエ
ニルケトン)(C)3部を混合し、紫外線硬化型樹脂組
成物(光デイスク用材料)を調製した。
清浄なソーダガラス板にα−メタクリロキシプロピルト
リメトキシシラン1重量%入りイソプロピルアルコール
を塗布し、100℃で30分間加熱し、該シランの焼付処理
を施した。上記の紫外線硬化剤樹脂組成物をニツケル板
の上にスピンコーターで塗布し、塗布面にシラン処理ガ
ラス板を気泡の入らない様にのせ、高圧水銀灯(東芝社
製2KW)によりガラス面より照射し該組成物を硬化させ
た。その後ニツケル板とガラス板を離すと、ガラス板上
に該組成物の硬化物が均一に密着したガラス基板を得
た。
得られた基板を100℃の熱水に1時間浸けて耐熱水性の
試験を行なった後、基板には全く異常がなかった。耐ヒ
ートシヨツク性について、液体窒素中に基板を5分間浸
ける試験を行なった所、基板には全く異常がなかった。
該組成物の硬度は、Shore Dで85であった。
硬度の測定は、該組成物をニツケル板の上に厚さ2mm塗
布し、高圧水銀灯でN2ガス中で硬化し、これをSnore D
硬度計を用いて硬度測定した。
実施例2 メタクリロイルオキシートリシクロ〔5,2,1,02,6〕デカ
ン(日立化成(株)製、FA−513M)(A)50部、トリメ
チロールプロパントリアクリレートイ(B)30部、テト
ラヒドロフルフリルアクリレート(B)10部、エポキシ
アクリレート〔エピコート828(シエル石油化学社製、
ビスフエノール型エポキシ樹脂)をアクリル酸でエステ
ル化して得られた樹脂〕(B)10部、イルガキユアー18
4(C)3部を混合し、紫外線硬化型樹脂組成物(光デ
イスク用材料)を調製した。これを用い、実施例1と同
様にして、硬化物が均一に密着したガラス基板を得た。
実施例1と同様に試験を行ない、耐熱水性及び耐ヒート
シヨツク性の試験の結果、基板にはいずれも全く異常が
なかった。硬度は、Shore Dで83であった。
実施例3 アクリロイルオキシートリシクロ〔5,2,1,02,6〕デカン
(A)40部、ジシクロペンタジエンオキシエチルアクリ
レート(B)10部、ペンタエリスリトールトリアクリレ
ート(日本化薬(株)製、KAYARAD,PET−30)(B)30
部、ジペンタエリスリトールのε−カプロラクトン付加
物のヘキサアクリレート(日本化薬(株)製、KAYARAD,
DPCA−20)(B)10部、エポキシアクリレート〔エピコ
ート828をアクリル酸でエステル化して得られた樹脂〕
(B)10部、イルガキユアー184(C)5部を混合し、
紫外線硬化型樹脂組成物(光デイスク用材料)を調製し
た。これを用いて、実施例1と同様にして硬化物が均一
に密着したガラス基板を得た。実施例1と同様に試験を
行ない、耐熱水性及び耐ヒートシヨツク性の試験の結
果、基板には、いずれも全く異常がなかった。硬度は、
Shore Dで、87であった。
実施例4 アクリロイルオキシートリシクロ〔5,2,1,02,6〕デカン
(A)55部、2,2−ビス(4−アクリロイルポリオキシ
エチレンオキシフエニル)プロパン(日本化薬(株)
製、KAYARAD,R−551)(B)35部、エポキシアクリレー
ト〔エピコート828をアクリル酸でエステル化して得ら
れた樹脂〕(B)10部を混合し、樹脂組成物(光デイス
ク用材料)を調製した。これにイルガキユアー184 3
部を混合し、これを用いて実施例1と同様にして、硬化
物が均一に密着したガラス基板を得た。実施例1と同様
に試験を行ない、耐熱水性及び耐ヒートシヨツク性の試
験の結果、基板には、いずれも全く異常がなかった。硬
度は、Shore Dで86であった。
比較例1 1−エチル−2−ヒドロキシアクリレート70部、2,2−
ビス(4−アクリロイルポリオキシエチレンオキシフエ
ニル)プロパン(日本化薬(株)製、KAYARAD,R−551)
30部、イルガキユアー184、3部を混合し、紫外線硬化
型樹脂組成物を調製した。これを用い実施例1と同様に
して、硬化物が均一に密着したガラス基板を得た。実施
例1と同様に試験を行なった。耐熱水性の試験の結果、
ガラス基板の硬化物は白化し、一部ガラスよりはがれが
発生した。耐ヒートシヨツク性の試験の結果、基板に
は、異常がなかった。
硬度は、Shore Dで51であった。
(発明の効果) 本発明の光デイスク用樹脂組成物は、硬化して得られる
硬化物の硬度は硬く、耐熱水性、耐ヒートシヨツク性に
優れ、吸水率が非常に低く、透明性に優れ、光デイスク
用溝材又は光デイスク用保護コーテイング剤(保護膜)
として特に有用である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−90204(JP,A) 特開 昭60−99111(JP,A) 特開 昭60−124604(JP,A) 特開 昭60−152515(JP,A)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】下記一般式〔I〕で示される化合物(A) (式中Rは水素原子またはメチル基を意味する) 10〜80重量%と、ビスフェノール型エポキシアクリレー
    ト(B)20〜90重量%及び光増感剤(C)0〜10重量%
    (但し0を除く)を含有することを特徴とする光ディス
    クの溝材又は保護膜用樹脂組成物
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