JPH0761590B2 - 工具干渉チェック方法 - Google Patents
工具干渉チェック方法Info
- Publication number
- JPH0761590B2 JPH0761590B2 JP10858187A JP10858187A JPH0761590B2 JP H0761590 B2 JPH0761590 B2 JP H0761590B2 JP 10858187 A JP10858187 A JP 10858187A JP 10858187 A JP10858187 A JP 10858187A JP H0761590 B2 JPH0761590 B2 JP H0761590B2
- Authority
- JP
- Japan
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- tool
- offset
- passage
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- feed point
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Program-control systems
- G05B19/02—Program-control systems electric
- G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form
- G05B19/406—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form characterised by monitoring or safety
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/49—Nc machine tool, till multiple
- G05B2219/49157—Limitation, collision, interference, forbidden zones, avoid obstacles
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Auxiliary Devices For Machine Tools (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は工具干渉チェック方法に係り、特にデジタイジ
ングされた位置データ（工具先端通路データ）に基づい
て工具をワークに対して相対的に移動させてワークを切
削する時、工具がワークと干渉するかどうかを事前にチ
ェックする工具干渉チェック方法に関する。
ングされた位置データ（工具先端通路データ）に基づい
て工具をワークに対して相対的に移動させてワークを切
削する時、工具がワークと干渉するかどうかを事前にチ
ェックする工具干渉チェック方法に関する。
＜従来技術＞ 数値制御装置（NC装置という）は予め作成されたNCデー
タに基づいて工具をワークに対して相対的に移動させ、
ワークに指令通りの数値制御加工を施す。かかる数値制
御において、工具中心の軌跡は所望の加工形状、換言す
ればNCデータ（工具先端通路データ）が特定する通路と
は一致せず、該加工形状より進行方向右側あるいは左側
に工具径相当量オフセットした通路となる。かかる工具
中心の軌跡は、加工形状と工具径が与えられ、且つ工具
径オフセット実行のＧ機能命令が与えられればNC装置が
自動的に計算し、得られた工具中心に沿った工具を移動
させ、ワークを所望の加工形状に仕上げる。尚、上記NC
データと工具径とから工具中心通路のNCデータ（オフセ
ットNCデータという）を作成し、該オフセットNCデータ
に従って工具を移動させ、ワークに所望の加工を施す場
合もある。
タに基づいて工具をワークに対して相対的に移動させ、
ワークに指令通りの数値制御加工を施す。かかる数値制
御において、工具中心の軌跡は所望の加工形状、換言す
ればNCデータ（工具先端通路データ）が特定する通路と
は一致せず、該加工形状より進行方向右側あるいは左側
に工具径相当量オフセットした通路となる。かかる工具
中心の軌跡は、加工形状と工具径が与えられ、且つ工具
径オフセット実行のＧ機能命令が与えられればNC装置が
自動的に計算し、得られた工具中心に沿った工具を移動
させ、ワークを所望の加工形状に仕上げる。尚、上記NC
データと工具径とから工具中心通路のNCデータ（オフセ
ットNCデータという）を作成し、該オフセットNCデータ
に従って工具を移動させ、ワークに所望の加工を施す場
合もある。
ところで、加工形状（部品形状）と工具径によっては、
オフセットして得られた工具中心通路に沿って工具を移
動させると工具がワークに干渉して工具析損を生じた
り、あるいは切り過ぎを生じ指令された形状通りの部品
を得ることができない事態を生じる。
オフセットして得られた工具中心通路に沿って工具を移
動させると工具がワークに干渉して工具析損を生じた
り、あるいは切り過ぎを生じ指令された形状通りの部品
を得ることができない事態を生じる。
このため、NCデータが作成され該作成されたNCデータに
従って工具径オフセットしながら切削するとき工具がワ
ークと干渉するかどうかを事前にチェックする必要があ
る。
従って工具径オフセットしながら切削するとき工具がワ
ークと干渉するかどうかを事前にチェックする必要があ
る。
第５図乃至第７図は工具干渉チェック方法の説明図であ
り、第５図は所望の部品形状図、第６図は工具干渉しな
い場合のオフセット通路説明図、第７図は工具干渉する
場合のオフセット通路説明図である。
り、第５図は所望の部品形状図、第６図は工具干渉しな
い場合のオフセット通路説明図、第７図は工具干渉する
場合のオフセット通路説明図である。
第５図に示す部品形状（B1→B2→・・B5→・・）通りに
加工を行うための工具中心通路（オフセット通路）は工
具TLの径が小さくその直径が溝幅Ｌ以下であれば第６図
に示すようになり、工具干渉は生じない。そして、かか
る第６図の場合、換言すれば工具干渉が生じない場合に
は工具中心通路TCPはループを形成しない（交差しな
い）。しかし、工具TLの径が大きくなり、その直径が溝
幅Ｌ以上になると、工具径オフセットした工具中心通路
TCPは第７図に示すようになり、工具TLはワークWKに干
渉し、切り過ぎ、切り残し、工具の析損が生じる。そし
て、かかる工具干渉が発生する場合には、工具中心通路
（オフセット通路）はループLpを形成し、ポイントPcで
交差する。
加工を行うための工具中心通路（オフセット通路）は工
具TLの径が小さくその直径が溝幅Ｌ以下であれば第６図
に示すようになり、工具干渉は生じない。そして、かか
る第６図の場合、換言すれば工具干渉が生じない場合に
は工具中心通路TCPはループを形成しない（交差しな
い）。しかし、工具TLの径が大きくなり、その直径が溝
幅Ｌ以上になると、工具径オフセットした工具中心通路
TCPは第７図に示すようになり、工具TLはワークWKに干
渉し、切り過ぎ、切り残し、工具の析損が生じる。そし
て、かかる工具干渉が発生する場合には、工具中心通路
（オフセット通路）はループLpを形成し、ポイントPcで
交差する。
以上から、従来は工具直径オフセット通路がループを形
成するか（交差するか）をチェックすることにより、工
具干渉チェックを行っている。
成するか（交差するか）をチェックすることにより、工
具干渉チェックを行っている。
＜発明が解決しようとしている問題点＞ しかし、従来の工具干渉チェック方法では第１軸方向
（たとえばＸ軸方向）に沿った工具移動と第２軸方向
（Ｙ軸方向）に沿ったピックフィード動作とを繰り返し
てワークを加工させるNCデータの工具干渉チェックを正
しく行えないという問題がある。尚、かかるNCデータは
第８図に示すように接触子STをならい制御（たとえば表
面往復ならい）によりモデルMDに沿ってＸ軸方向に往復
移動させ、かつＹ軸方向にピックフィードしながら該接
触子の現在位置データを所定時間毎に取り込んで作成さ
れる。
（たとえばＸ軸方向）に沿った工具移動と第２軸方向
（Ｙ軸方向）に沿ったピックフィード動作とを繰り返し
てワークを加工させるNCデータの工具干渉チェックを正
しく行えないという問題がある。尚、かかるNCデータは
第８図に示すように接触子STをならい制御（たとえば表
面往復ならい）によりモデルMDに沿ってＸ軸方向に往復
移動させ、かつＹ軸方向にピックフィードしながら該接
触子の現在位置データを所定時間毎に取り込んで作成さ
れる。
第９図はピックフィードを含むNCデータの工具干渉チェ
ックが従来の方法では正しく行えない理由の説明図であ
る。
ックが従来の方法では正しく行えない理由の説明図であ
る。
第ｉ番目の工具先端の通路を Pi-1→・・→Ａ→Ｂ→Ｃ→Pi とし、ピックフィード方向を紙面に垂直方向（Ｙ軸方
向）とし、第（ｉ−１）番目の通路から第ｉ番目の通路
へのピックフィード点をPi-1、第ｉ番目の通路から次の
第（ｉ＋１）番目の通路へのピックフィード点をPiとす
れば、第ｉ番目の工具先端通路から工具半径Ｒオフセッ
トしたオフセット通路は Pi-1′→・・・→Ａ′→Ｂ′→Ｃ′→Pi′ となり、Pi′点で紙面垂直にピックフィードする通路と
なる。この第９図から明らかなように工具オフセット通
路に沿って工具中心を移動させると工具TLはワークWKに
干渉するが、工具オフセット通路はどこにもループを形
成せず交差しない。
向）とし、第（ｉ−１）番目の通路から第ｉ番目の通路
へのピックフィード点をPi-1、第ｉ番目の通路から次の
第（ｉ＋１）番目の通路へのピックフィード点をPiとす
れば、第ｉ番目の工具先端通路から工具半径Ｒオフセッ
トしたオフセット通路は Pi-1′→・・・→Ａ′→Ｂ′→Ｃ′→Pi′ となり、Pi′点で紙面垂直にピックフィードする通路と
なる。この第９図から明らかなように工具オフセット通
路に沿って工具中心を移動させると工具TLはワークWKに
干渉するが、工具オフセット通路はどこにもループを形
成せず交差しない。
すなわち、従来の工具干渉チェック方法ではオフセット
通路の１部分がピックフィード点PiよりワークWKに対し
てＸ軸方向外側に存在する場合には（第９図の例ではポ
イントＡ′,B′）、工具干渉チェックができなかった。
通路の１部分がピックフィード点PiよりワークWKに対し
てＸ軸方向外側に存在する場合には（第９図の例ではポ
イントＡ′,B′）、工具干渉チェックができなかった。
以上から、本発明の目的は第１軸方向に沿った工具移動
と第２軸方向に沿ったピックフィードとを繰り返してワ
ークに数値制御加工を施すNCデータの工具干渉チェック
を確実に行える工具干渉チェック方法を提供することで
ある。
と第２軸方向に沿ったピックフィードとを繰り返してワ
ークに数値制御加工を施すNCデータの工具干渉チェック
を確実に行える工具干渉チェック方法を提供することで
ある。
＜問題点を解決するための手段＞ 第１図は本発明にかかる工具干渉チェック方法の概略説
明図である。
明図である。
Pi-1→・・→Ａ→Ｂ→Ｃ→Piはデジタイジングされた第
ｉ番目の工具先端通路、Pi-1はピックフィード方向を紙
面に垂直方向（Ｙ軸方向）とした時の第（ｉ−１）番目
の通路から第ｉ番目の通路へのピッイクフィード点、Pi
は第ｉ番目の通路から次の第（ｉ＋１）番目の通路への
ピックフィード点、Q1はピックフィード点Piからワーク
外側へＸ軸方向に工具半径Ｒ離れた仮想ピックフィード
点、Pi-1′→・・→Ａ′→Ｂ′→Ｃ′→Qi′は仮想ピッ
クフィード点Qiをピックフィード点とみなした場合にお
ける第ｉ番目の工具オフセット通路、LPはループ、TLは
工具、WKはワークである。
ｉ番目の工具先端通路、Pi-1はピックフィード方向を紙
面に垂直方向（Ｙ軸方向）とした時の第（ｉ−１）番目
の通路から第ｉ番目の通路へのピッイクフィード点、Pi
は第ｉ番目の通路から次の第（ｉ＋１）番目の通路への
ピックフィード点、Q1はピックフィード点Piからワーク
外側へＸ軸方向に工具半径Ｒ離れた仮想ピックフィード
点、Pi-1′→・・→Ａ′→Ｂ′→Ｃ′→Qi′は仮想ピッ
クフィード点Qiをピックフィード点とみなした場合にお
ける第ｉ番目の工具オフセット通路、LPはループ、TLは
工具、WKはワークである。
＜作用＞ ピックフィード点Piからワーク外側にＸ軸方向に工具半
径Ｒ離れた位置に仮想ピックフィード点Qiを設定し、該
仮想ピックフィード点Qiでピックフィードするものとし
て第ｉ番目の工具先端通路 Pi-1→・・→Ａ→Ｂ→Ｃ→Qi に対する工具オフセット通路 Pi-1′→・・・→Ａ′→Ｂ′→Ｃ′→Qi′ を求め、該第ｉ工具オフセット通路がループLPを形成す
るか（交差するか）チェックし、交差する場合には工具
は干渉すると判定する。
径Ｒ離れた位置に仮想ピックフィード点Qiを設定し、該
仮想ピックフィード点Qiでピックフィードするものとし
て第ｉ番目の工具先端通路 Pi-1→・・→Ａ→Ｂ→Ｃ→Qi に対する工具オフセット通路 Pi-1′→・・・→Ａ′→Ｂ′→Ｃ′→Qi′ を求め、該第ｉ工具オフセット通路がループLPを形成す
るか（交差するか）チェックし、交差する場合には工具
は干渉すると判定する。
＜実施例＞ 第２図はデジタイジング処理及び工具干渉チェック処理
を実行する装置（デジタイザ）のブロック図である。１
はデジタイザであり、ならい制御しながらトレーサヘッ
ドの現在位置を取り込んでデジタイジングする機能と共
に、工具干渉チェック機能を備え、プロセッサ1a、制御
プログラムを記憶するROM1b、デジタイジングした位置
データを記憶するRAM1c、ワーキングメモリ1dを有して
いる。
を実行する装置（デジタイザ）のブロック図である。１
はデジタイザであり、ならい制御しながらトレーサヘッ
ドの現在位置を取り込んでデジタイジングする機能と共
に、工具干渉チェック機能を備え、プロセッサ1a、制御
プログラムを記憶するROM1b、デジタイジングした位置
データを記憶するRAM1c、ワーキングメモリ1dを有して
いる。
２は操作盤であり、各種操作信号を入力すると共に、な
らい条件、ならい領域、ならい方法、工具半径Ｒ等を設
定する機能を有している。
らい条件、ならい領域、ならい方法、工具半径Ｒ等を設
定する機能を有している。
10X,10Y,10Zはデジタイザ１から指令された各軸方向の
速度データ（デジタル値）をアナログの速度信号VX,VY,
VZに変換するDA変換器、11X、11Y、11ZはＸ軸、Ｙ軸、
Ｚ軸サーボ回路、12X〜12ZはそれぞれＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸
モータ、13X〜13Zはそれぞれ対応するモータが所定角度
回転する毎に１個のパルスXf、Xf、Zfを発生するパルス
発生器、14はパルスXf,Yf,Zfをそれぞれ移動方向に応じ
て可逆計数して各軸現在位置を記憶する現在位置レジス
タである。尚、THはトレーサヘッド、SRはスタイラス、
MDLはモデルである。
速度データ（デジタル値）をアナログの速度信号VX,VY,
VZに変換するDA変換器、11X、11Y、11ZはＸ軸、Ｙ軸、
Ｚ軸サーボ回路、12X〜12ZはそれぞれＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸
モータ、13X〜13Zはそれぞれ対応するモータが所定角度
回転する毎に１個のパルスXf、Xf、Zfを発生するパルス
発生器、14はパルスXf,Yf,Zfをそれぞれ移動方向に応じ
て可逆計数して各軸現在位置を記憶する現在位置レジス
タである。尚、THはトレーサヘッド、SRはスタイラス、
MDLはモデルである。
第３図は本発明にかかる工具干渉チェックの処理の流れ
図である。以下、第１図乃至第３図に従って本発明の工
具干渉チェックを説明する。
図である。以下、第１図乃至第３図に従って本発明の工
具干渉チェックを説明する。
周知のデジタイジング処理により、Ｙ軸に沿ったピック
フィードとＸ軸に沿った移動を繰り返してモデル形状通
りに加工するための工具先端通路を作成してRAM1cに記
憶する（ステップ101）。
フィードとＸ軸に沿った移動を繰り返してモデル形状通
りに加工するための工具先端通路を作成してRAM1cに記
憶する（ステップ101）。
ついで、１→ｉとすると共に（ステップ102）、第ｉ番
目のピックフィード点Pi（第１図参照）をワーク外側Ｘ
軸方向に工具半径Ｒだけ延長したポイントQ1を求め、仮
想ピックフィード点とする（ステップ103）。
目のピックフィード点Pi（第１図参照）をワーク外側Ｘ
軸方向に工具半径Ｒだけ延長したポイントQ1を求め、仮
想ピックフィード点とする（ステップ103）。
しかる後、第（ｉ−１）番目のピックフィード点Pi-1か
ら仮想ピックフィード点Qiに到る第ｉ番目の工具先端通
路 Pi-1→・・→Ａ→Ｂ→Ｃ→Qi に対する工具オフセット通路 Pi-1′→・・・→Ａ′→Ｂ′→Ｃ′→Qi′ を求める（ステップ104）。尚、工具オフセット通路は
たとえば以下のようにして求めることができる。すなわ
ち、第４図に示すように現ブロック及び次ブロックの工
具先端通路が共に２つの直線L1,L2よりなっているもの
とすると、各工具先端通路L1,L2をそれぞれ工具径r1だ
けオフセットした直線L1′,L2′を求め、各直線L1′,
L2′の交点T1を求め、前ブロックのオフセット終点T0と
交点T1を結べば線分T0T1がオフセット通路となり、以後
同様な処理を繰り返してオフセット通路が生成される。
ら仮想ピックフィード点Qiに到る第ｉ番目の工具先端通
路 Pi-1→・・→Ａ→Ｂ→Ｃ→Qi に対する工具オフセット通路 Pi-1′→・・・→Ａ′→Ｂ′→Ｃ′→Qi′ を求める（ステップ104）。尚、工具オフセット通路は
たとえば以下のようにして求めることができる。すなわ
ち、第４図に示すように現ブロック及び次ブロックの工
具先端通路が共に２つの直線L1,L2よりなっているもの
とすると、各工具先端通路L1,L2をそれぞれ工具径r1だ
けオフセットした直線L1′,L2′を求め、各直線L1′,
L2′の交点T1を求め、前ブロックのオフセット終点T0と
交点T1を結べば線分T0T1がオフセット通路となり、以後
同様な処理を繰り返してオフセット通路が生成される。
第ｉ工具オフセット通路が求まれば、該第ｉ工具オフセ
ット通路はループLPを形成するか（交差するか）チェッ
クし（ステップ105）、交差する場合には工具は干渉す
ると判定すると共に交点Si′を求め（ステップ106）、
工具オフセット通路からループ通路S1′→Ｂ′→Ｃ′→
Si′を削除したオフセット通路 Pi-1′→・・・→Ａ′→Si′ を工具がワークに干渉しない工具オフセット通路である
としてRAM1cに記憶すると共に（ステップ107）、ポイン
トSi′を第ｉピックフィード点のオフセット点とみなす
（Si′→Pi′）・・・・・ステップ109。
ット通路はループLPを形成するか（交差するか）チェッ
クし（ステップ105）、交差する場合には工具は干渉す
ると判定すると共に交点Si′を求め（ステップ106）、
工具オフセット通路からループ通路S1′→Ｂ′→Ｃ′→
Si′を削除したオフセット通路 Pi-1′→・・・→Ａ′→Si′ を工具がワークに干渉しない工具オフセット通路である
としてRAM1cに記憶すると共に（ステップ107）、ポイン
トSi′を第ｉピックフィード点のオフセット点とみなす
（Si′→Pi′）・・・・・ステップ109。
一方、ステップ105においてオフセット通路が交差しな
い場合には、第（ｉ−１）ピックフィード点Pi-1から第
ｉピックフィード点Pi迄の工具先端通路から工具半径Ｒ
だけオフセットしたオフセット通路をRAM1cに記憶する
（ステップ110）。
い場合には、第（ｉ−１）ピックフィード点Pi-1から第
ｉピックフィード点Pi迄の工具先端通路から工具半径Ｒ
だけオフセットしたオフセット通路をRAM1cに記憶する
（ステップ110）。
ステップ109またはステップ110により第ｉ番目の工具オ
フセット通路が求まれば全ピックフィード点に対して上
記処理を完了したかチェックし（ステップ111）、完了
していれば工具干渉チェックを終了し、完了していなけ
れば、ｉ＋１→ｉによりｉを１歩進して（ステップ11
2）、以後ステップ103以降の処理を繰り返す。
フセット通路が求まれば全ピックフィード点に対して上
記処理を完了したかチェックし（ステップ111）、完了
していれば工具干渉チェックを終了し、完了していなけ
れば、ｉ＋１→ｉによりｉを１歩進して（ステップ11
2）、以後ステップ103以降の処理を繰り返す。
尚、以上ではデジタイジングにより工具先端通路を求め
た場合について説明したが、本発明はかかる場合に限ら
ず別の方法でピックフィードを含む工具先端通路を求め
た場合にも適用できるものである。
た場合について説明したが、本発明はかかる場合に限ら
ず別の方法でピックフィードを含む工具先端通路を求め
た場合にも適用できるものである。
尚、ピックフィード点PiよりＸ軸方向に工具半径Ｒ離し
て仮想ピックフィード点Qiを定めれば工具干渉する場合
には必ずループを形成する。
て仮想ピックフィード点Qiを定めれば工具干渉する場合
には必ずループを形成する。
＜発明の効果＞ 以上本発明によれば、ピックフィード点からワーク外側
水平方向（たとえばＸ軸方向）に所定量離れた位置に仮
想のピックフィード点を設定し、該仮想のピックフィー
ド点でピックフィードするものとして工具オフセット通
路を求め、該工具オフセット通路が交差するかチェック
し、交差する場合には工具は干渉すると判定するように
構成したから、ピックフィードを繰り返してワークに数
値制御加工を施すNCデータの工具干渉チェックを確実に
行えるようになった。
水平方向（たとえばＸ軸方向）に所定量離れた位置に仮
想のピックフィード点を設定し、該仮想のピックフィー
ド点でピックフィードするものとして工具オフセット通
路を求め、該工具オフセット通路が交差するかチェック
し、交差する場合には工具は干渉すると判定するように
構成したから、ピックフィードを繰り返してワークに数
値制御加工を施すNCデータの工具干渉チェックを確実に
行えるようになった。
第１図は本発明にかかる工具干渉チェック方法の概略説
明図、 第２図は本発明を実現するシステムのブロック図、 第３図は本発明の処理の流れ図、 第４図はオフセット通路算出法の説明図、 第５図乃至第７図は従来の工具干渉チェック方法の説明
図、 第８図及び第９図は従来方法では工具干渉チェックを確
実に行えない場合の説明図である。 Pi-1→・・→Ａ→Ｂ→Ｃ→Pi……第ｉ番目の工具先端通
路、 Pi-1……第（ｉ−１）番目の通路から第ｉ番目の通路へ
のピックフィード点、 Pi……第ｉ番目の通路から次の第（ｉ＋１）番目の通路
へのピックフィード点、 Qi……仮想ピックフィード点、 Pi-1′→・・・→Ａ′→Ｂ′→Ｃ′→Qi′……第ｉ番目
の工具オフセット通路、 LP……ループ、TL……工具
明図、 第２図は本発明を実現するシステムのブロック図、 第３図は本発明の処理の流れ図、 第４図はオフセット通路算出法の説明図、 第５図乃至第７図は従来の工具干渉チェック方法の説明
図、 第８図及び第９図は従来方法では工具干渉チェックを確
実に行えない場合の説明図である。 Pi-1→・・→Ａ→Ｂ→Ｃ→Pi……第ｉ番目の工具先端通
路、 Pi-1……第（ｉ−１）番目の通路から第ｉ番目の通路へ
のピックフィード点、 Pi……第ｉ番目の通路から次の第（ｉ＋１）番目の通路
へのピックフィード点、 Qi……仮想ピックフィード点、 Pi-1′→・・・→Ａ′→Ｂ′→Ｃ′→Qi′……第ｉ番目
の工具オフセット通路、 LP……ループ、TL……工具
Claims (2)
- 【請求項１】第１軸方向に沿った工具移動と第２軸方向
に沿ったピックフィードとを繰り返してワークを数値制
御加工させるNCデータの工具干渉チェック方法におい
て、 ピックフィード点から第１軸方向に所定量離れた位置に
仮想のピックフィード点を設定し、 該仮想のピックフィード点でピックフィードするものと
して工具をオフセット通路を求め、 該工具オフセット通路が交差するかチェックし、 交差する場合には工具は干渉すると判定することを特徴
とする工具干渉チェック方法。 - 【請求項２】前記所定量は工具半径であることを特徴と
する特許請求の範囲第１項記載の工具干渉チェック方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10858187A JPH0761590B2 (ja) | 1987-05-01 | 1987-05-01 | 工具干渉チェック方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10858187A JPH0761590B2 (ja) | 1987-05-01 | 1987-05-01 | 工具干渉チェック方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63272445A JPS63272445A (ja) | 1988-11-09 |
| JPH0761590B2 true JPH0761590B2 (ja) | 1995-07-05 |
Family
ID=14488442
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10858187A Expired - Lifetime JPH0761590B2 (ja) | 1987-05-01 | 1987-05-01 | 工具干渉チェック方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0761590B2 (ja) |
-
1987
- 1987-05-01 JP JP10858187A patent/JPH0761590B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63272445A (ja) | 1988-11-09 |
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