JPH0772921B2 - 磁気抵抗素子の保護回路 - Google Patents
磁気抵抗素子の保護回路Info
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- JPH0772921B2 JPH0772921B2 JP1186207A JP18620789A JPH0772921B2 JP H0772921 B2 JPH0772921 B2 JP H0772921B2 JP 1186207 A JP1186207 A JP 1186207A JP 18620789 A JP18620789 A JP 18620789A JP H0772921 B2 JPH0772921 B2 JP H0772921B2
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- G11B2005/0018—Controlling recording characteristics of record carriers or transducing characteristics of transducers by means not being part of their structure of transducers, e.g. linearisation, equalisation of magnetoresistive transducers by current biasing control or regulation
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Description
幅するための回路に関し、より詳しくは、磁気抵抗素子
を、望ましくない程度の大きい電流から保護するための
回路に関する。
れる磁気トランスジューサを開示しており、これは、高
い線密度の磁気表面からデータを読み出し得るものであ
ることが示されている。MRセンサは、磁気抵抗材料から
なる読み取り素子の抵抗の変化を通じて磁界信号を感知
する。この抵抗の変化は、その素子によってセンスされ
た磁束の大きさと方向の関数である。
ティブ・フィードバック抵抗の一部として働くように接
続された2つの末端装置であり、よって増幅回路が、MR
素子に駆動電流を供給することと、MR素子から得られた
信号を増幅すること、の2つの役目を果たすようにした
MRヘッドを開示する。
その中心端子がアース電位に接続されているようなMRセ
ンサを開示する。これにおいては、ヘッドによって拾い
上げられる外部ノイズを除去するために、他の2つの端
子からの出力が、差動増幅器によって差動的に増幅され
る。
みだすことができる領域密度を向上させることが望まれ
続けている。そして、この要望により、磁気記録トラッ
クに沿うより大きいビット密度と、より狭いトラック幅
へと向かう傾向がもたらされている。このより大きいビ
ット密度は、高い信頼性でデータを記録し読みだすため
に、より狭い変換ギャップと、より狭いトラック幅と、
より低い飛翔高さを要求するようになっている。
般的には小さい。この要因は、飛翔高さが低いことと相
俟って、その素子とその環境との間に流れる電流による
MR素子の破損の可能性の増大につながる。その1つの例
は、素子と磁気記録面の間の間欠的な接触によってもた
らされる電流であって、それは素子の磁気ディスク基板
電位に対する間欠的な短絡につながることがある。別の
例は、湿った雰囲気のもとでの、素子の材料とディスク
磁気材料または基板材料の間の異種金属接触腐食によっ
て流れる電流である。
は、MR素子によって発生された信号を増幅するための回
路を開示する。これらの回路は、上述の小型のMRセンサ
によって発生された信号を増幅するように有効に動作す
るものであることが示されている。
も、MR素子の環境に対するこれらの損傷電流から、MR素
子を保護するための回路を開示しない。
に起因するMR素子の損傷を防止するためのMR素子用の保
護回路を提供することにある。
有する、MR素子のための保護回路が提供される。これに
おいては、第1の電流源がMR素子を流れるバイアス電流
を発生するためにMR素子の第1の端子に接続され、第2
の電流源が基準電流を発生するためにMR素子の第2の端
子に接続される。MR素子の第1と第2の端子の間にわた
って、そのほぼ中央にMR素子の中心電位をセンスするた
めの回路手段が接続され、その中心電位を予定の基準電
圧に維持すべく第1の電流源の電流出力を調節するため
に、MR素子のセンスされた中心電位に応答するフィード
バック電流手段が設けられる。MR素子と磁気記録媒体の
導電領域の間に接触が生じた場合のMR素子に対する損傷
を防止するために、この基準電圧は、MR素子と基板の間
の(疑似的)キャパシタンスの放電電流が小さい値に保
たれるように選ばれる。好適には、この基準電圧は、基
板電圧と等しい。
によってセンスされる磁束の関数として変化する信号電
圧を発生するように増幅することができるということで
ある。この場合、MR素子にわたってセンスされた直流電
圧を補償し、以てヘッドにわたるバイアス電流によって
発生されたこの直流電圧を実質的に除去し、信号電圧の
みを残すように、第2のフィードバック回路が設けられ
る。
続される複数の入力回路を設ける事ができ、また、選択
されたMRセンサによってセンスされる磁束の関数として
出力電圧をセンスするとともにMR素子をこの発明の保護
回路に接続するために、その入力回路のうち予定の1つ
を選択するためのスイッチ手段が設けられる。
をもつ低ノズル高帯域差動増幅器を実現するための基本
的概念が説明される。第1の電流源Irefは、MR素子Rhの
第1の端子に接続され、第2の電流源J1は、MR素子Rhの
電流源に接続される。また、MR素子が適切にバイアスさ
れ、Rhの電気的中心が所望の電位Vcenterにセットされ
るように、Irefに対して電流源J1を制御するために第1
のフィードバック・ループが設けられている。この第1
のフィードバック・ループは、MR素子Rhにわたって接続
された2つの等しい抵抗Rからなる抵抗回路網を有し、
これがヘッド−中心電位と、このヘッド−中心電位と所
望の電位Vcenterとを比較する差動増幅器Bを駆動す
る。抵抗Rは、Rhよりも抵抗値が遥かに大きい。差動増
幅器Bの出力は、第2の電流源J1を制御するように接続
されている。この保護回路は、MR素子の露出部分が、通
常アース電位にあるディスク基板に短絡した時に流れる
アース帰還電流を打ち消すためにMR素子に流入する電流
をMR素子からの電流に等しくなるように維持することに
基づき動作する。そのために、制御可能な電流源J1は、
増幅器Bからの制御信号に緩慢にしか応答しないように
なされている。それゆえ、短期間の導電接触は電流源J1
と電流源Irefの間の電流平衡を覆さない。さらに、MR素
子の電気的中心電圧は、任意の所望の電位に維持するこ
とができる。磁気記録媒体の導電領域に対する短絡回路
に対して保護を行うために、その所望の電位は、論理的
には、アース電位に選択される。これは、MR素子とその
接続端子からアースへの疑似的キャパシタンスの容量的
な放電に対する保護を行うためでもある。MR素子を異種
金属接触腐食損傷から保護することが要望される場合に
は、その材料の組合せに関連する電池作用電圧と同程度
の大きさの小さい負の電位が所望の電位、Vcenterとし
て選択される。
流成分を抑えるために利得ブロックA内に第2のフィー
ドバック・ループが設けられ、これにより、小さい高周
波(データ)信号のみの増幅が行なわれる。
第2図に示されている。この図において、電流ibは、第
1図の利得ブロックAの入力トランジスタに必要なゼロ
でないベース・バイアス用電流を表す。抵抗R16、R17及
びR2は、トランジスタQ3及びQ4を有する差動増幅器Bの
ためのMR素子中心電位を形成する。抵抗R4及びR5は、第
1のフィードバック・ループのループ利得を制御するた
めに使用される。キャパシタC2は、電気的中心電位の変
化に対する、第1図のJ1の応答時間を決定するフィード
バック・ループの主要時定数を設定する。トランジスタ
Q1及びQ2からなるPNPダーリントン対は、低電流増幅器P
NPNデバイスをもってしても必要なキャパシタンスを低
減すべくQ1のベースで高インピーダンスを保証するため
に使用される。電流源J7は、差動増幅器Bのためのバイ
アス源としてのみならず、あらゆる統計的条件のもとで
の最小定常誤差を保証するためのフィードフォワード電
流としても使用される。なお、Vcenterは、広い範囲の
電位でよいのだが、MR素子を、アースされた基板をもつ
ディスク上の導通衝撃に対する短絡から保護するために
は、この電位は、アース電位に選択される。前に指摘し
たように、異種金属接触腐食の保護は、Vcenterをわず
かに負の電位に選択することにより達成することができ
る。
がQ1及びQ2と同様のベース・エミッタ電圧をもつなら
ば、次の式が成立する。
(時間=0+) Isit=最も正のヘッド端子からアースへの初期短絡電流 Isfb=最も負のヘッド端子からアースへの最終短絡電流
(時間=∞) Isit=最も正のヘッド端子からアースへの最終短絡電流 τ′=R1′C2 上記式に従う短絡回路電流が第3図に示されている。電
流は、時間t=0で、Isiで始まり、最終電流Isfに至る
指数関数的な特性をもつ。図示されているこの特性は、
低い最大値しか許容されない短絡回路電流に必要な比較
的遅いループ応答によって支配される。このことは、第
3図の最大安全閾値によって示されている。この短絡回
路が決して最大安全レベルを超えないことを保証するた
めには、短絡の期間が最大衝撃接触時間を超えることが
できない。前記式[1]を参照すると、電流J7がフィー
ドフォワード電流として働き、それが、公称的な場合、
定常状態エラーをゼロに設定することが出来る。磁気記
録媒体とMR素子の間のたいていの短絡回路は、その性質
上短い期間のものであるから、本発明の回路は、適切な
短絡回路保護を与える。
絡回路保護を与えることは重要である。なぜなら、これ
らの過渡的な短絡回路がMR素子を形成する材料の微少領
域に腐食をもたらすことがあるからである。この微少領
域の腐食の累積は、磁気記録媒体に体面するMR素子のセ
ンス端の窪みを形成し、この窪みが、MR素子の感度の相
当な低下をもたらすからである。もちろん、より大きい
短絡回路電流は、より大きい衝撃につながり、それは、
より大きく急速なMR素子の感度低下となる。本発明に係
る上述の回路は、これらの過渡的な短絡回路に対して適
切な短絡回路保護を与え、これらの電流を安全な最大許
容レベル以下に保つのである。本発明の回路はまた、MR
素子に対する容量性放電損傷にも対処する。さらに、異
種金属接触腐食に対しても同様に保護を与える。
非線型効果を考慮することによって、さらに短絡回路保
護を強化することができる。これは、ある種の回路値を
適切に選択することにより、上述のバイアス・ループの
線形時定数よりも有利にすることができる。
シタC2のチャージ電流IΔは次のように定義することが
できる。
シタC2の両端の電圧の変化はVΔであり、 ここで、 VΔ=IsR1′ [7b] 短絡電流Isを達成するのに十分なだけキャパシタをチャ
ージするために必要な時間は、TΔであり、 ここで、 もしJ7が小さくC2が大きく選ばれているなら、特定のIs
が流れることができるようになるまでに必要な時間は、
非線型の内在的なスルーレート限界のために、上述の線
型時定数よりも相当に長くなる。
第4図に示されており、個々では、入力デバイスQ17及
びQ18が増幅器Aに対応し、MR素子の信号電圧Viを増幅
する。相互コンダクタンス段(go)は、増幅された信号
を、電流源トランジスタQ21のベースに対する電流とし
てフィードバックする。キャパシタC1は、そのループの
主要時定数を生成し、以て、Viに対するVoの高域通過応
答をもたらす。Q17とQ18からなる差動入力段の全バイア
ス電流は、Rhの異なる値に応じて変化する。その理由
は、抵抗Reの両端に発生する電圧が、各入力デバイスを
流れる直流電流を等しく保つためにQ21を流れる直流電
流を調節する事によって、ヘッド抵抗Phの両端のバイア
ス電圧に等しくなされるからである。一般的には、第4
図に示すように、増幅器のノイズを低減するべくインピ
ーダンスZeを生成するために、ReをキャパシタCeによっ
てバイパスしてもよい。
が示されている。ここでは、2つの等価な抵抗分割回路
網によって、出力信号Voの一部だけがフィードバックさ
れる。この回路網は、それぞれ、R9/R11と、R10/R12
と、Q8及びQ9からなる差動電圧フォロワと、直列ダイオ
ードnD3及びnD4と、バイアス電流源J3及びJ4を有する。
電圧から電流への変換は、差動対Q15及びQ16と、バイア
ス源J5によって達成される。この段の出力電圧はミラー
され、差動電流がキャパシタC1に供給される。チャージ
電流は、トランジスタQ12、Q13、Q14と、抵抗R13、R1
4、R15からなるPNP電流ミラーによってミラーされる。
放電電流は、別のPNPミラーと、NPNミラーによってミラ
ーされる。この別のPNPミラーは、トランジスタQ5、Q
6、Q7及び抵抗R13、R14、R15からなる。NPNミラーは、
ダイオードD2とトランジスタQ20からなる。電流源J2
は、Rhの最小抵抗に必要な最小電流を入力段に供給する
フィードフォワード電流として使用される。電流源J8
は、追加のフィードフォワード電流を供給し、これは、
フィードフォワード電流J2と相俟って、公称の場合の抵
抗Rhが使用されている場合に、入力段に、正しい電流を
もたらす。このようにして、あらゆるRhの値に対して入
力デバイスに適正な電流出力を得るために、第2のフィ
ードバック・ループの電流出力を介して電流J8に電流を
加算(または減算)することができる。NPNミラーは、
特にQ21のコレクタ電流が極めて小さくなるときには(R
hの抵抗が最小の値の場合)、飽和に近付くことがある
ので、飽和が生じないようにミラーを構成する必要があ
る。このようにNPN電流ミラーという簡単な構成が、Rh
の最小値の場合にもQ21のコレクタ電流がゼロ以上の十
分な値であることを保障することと並んで、1つの解決
策である。このことは、J2からのフィードフォワード電
流の量をわずかに減少させ、それに対応して、前述の初
期設定値に対してJ8からのフィードフォワード電流を増
加させることによって達成することができる。
は、つぎのものである。
れたフィードフォワードの効果を含まず、 RL=R9+R11 K=NPNミラーの利得が−1であると仮定したときのNPN
ミラーの電流利得 βn=NPNデバイスの電流増幅率 s=ラプラス演算子 ここで、 ここで、Vo(dc)は、内部フィードフォワード及びベー
ス・バイアス電流ib=J1Rh/Reβnの場合の、Voにおけ
る直流オフセットである。
いる。このとき、第2のフィードバック・ループの主要
低周波極が、図示されている低周波ロール・オフをもた
らす。
る。ここでは、回路が抵抗Rhの範囲で動作しなくてはな
らないためVoにおける共通モード電圧変化によって引き
起こされるダイナミック・レンジの制約を除去するた
め、電圧フォロワ段には余分なダイオードが設けられて
いる。
るプリアンプの全体が示されている。これにおいては、
使用すべき複数の入力段のうちの1つに対処するため
に、トランジスタQ10及びQ11と、ダイオードD11及びD12
と、抵抗R23からなるカスコード段が設けられている。
各入力段は、MR素子に接続された増幅段からなってい
る。各増幅段は、ノードn3及びn4で、異なるカスコード
段への入力に対してドットOR構成されている。第7図
は、トランジスタQ17、Q18、Q19a、Q19b、Q26及びQ27、
抵抗Re、R17、R18及びヘッドRhからなるそのような段を
1つだけ示している。全ての入力増幅器に対するバイア
スは、ノードn5で共通である。トランジスタ・スイッチ
Q19は、上記複数の入力増幅段のうちのどれか1つにバ
イアス電流を供給するために、ノードncでの制御信号に
よりON、OFF切り換えされる。その制御信号と同時に、
ノードna及びnbの制御信号はまた、基準バイアス電流J1
が適切なヘッド素子をバイアスするように適切に変更さ
れる。ノードn1、n2、n3、n4、n5、n6は、個々の入力段
と、全ての入力段に共通な増幅器の一部の両方に共通で
ある。ノードna、nb、ncの制御信号は、個々のめいめい
の入力段のみ特有であり、そのうち一度に1つのみしか
ターンオンすることができない。
イッチング・モードに適合するように可変になされる。
この切り換えとして、1つのヘッドから別のヘッドへの
切り換え、またはディスク・ファイル・システムにおけ
るスタンバイまたは書込みモードから読み取りモードへ
の切り換えがある。切り換えに続いて直ちに、既知の長
さの信号が外部論理回路によりプリアンプに送られ、こ
れにより、その信号期間に、電流J5が増加される。電流
J5をN倍増加することは、第2フィードバック・ループ
のループ利得をNだけ増加させることになり、以て主要
低周波極をNだけ増加させる。もしNが十分に大きけれ
ば、切り換えの間の過渡的応答に関連する指数関数的減
衰を相当に短縮することができる。もしNが小さいと、
その過渡的応答に関連する減衰が、長くて直線的な減衰
となる。充電電流と放電電流もN倍増加するので、キャ
パシタC1の両端の調節に関連するスルーレート制限要因
も小さい程度に減少する。この、切り換え直後の過渡的
な高利得モードの間に、ループ利得が変化し、従って、
Voに定常状態誤差を生じる。この高利得モードにおける
公称の場合の定常状態誤差は、別のフィードフォワード
電流J6を一時的に印加することによって、通常の低利得
モードにおける公称的な場合の定常状態誤差と同様にす
ることができる。高利得期間の間のみのこのフィードフ
ォワード電流の一時的な印加は、一般的には、過渡的な
応答時間を最小限に抑える。
ている。ここでは、3つの異なる応答が示されている。
応答1は、公称抵抗のヘッドからそれと同じ抵抗の別の
ヘッドへ移行するときの応答である。この場合は、まさ
に一時的フィードフォワード電流J6の意図する通りの場
合であるので、過渡時間は可能なかぎり短くなる。応答
2は、最も低い仕様抵抗のヘッドから最も高い仕様抵抗
への切り換えをあらわし、応答3はその逆の場合であ
る。応答2及び3では、過渡的応答が複数の異なる効果
によって支配されることが明らかになる。その第1且つ
最も支配的な効果は、切り換え直後の高利得モードのス
ルーレート制限の効果である。この効果は、キャパシタ
C1に利用可能な電流を充放電する際の上記電流増加によ
って最小限に抑えられる。このスルーレート制限が収ま
った後は、第2フィードバック・ループの極周波数の増
大が、通常のループ応答の場合に期待されるよりもN倍
速く定常状態に減衰するように線形減衰を改善する。高
利得モードの完了後(この場合10μs)、第2のフィー
ドバック・ループの定常ループ利得が、高利得モードと
低利得モードの間の定常状態誤差の変化に応答する。こ
の応答の減衰後、過渡応答の残りの部分は、第1のフィ
ードバック・ループ中にある最低の極周波数によって支
配される。
の表面との接触により、磁気ヘッドのMR素子に短絡電流
が流れる時、MR素子が保護される。
的な概念をあらわすブロック図、 第2図は、第1図の回路の第1のフィードバック・ルー
プの回路図、 第3図は、本発明によって保護されるMR素子の短絡回路
電流をあらわす図、 第4図は、第1図の回路の第2のフィードバック・ルー
プの回路図、 第5図は、第4図のより詳細な回路図、 第6図は、第1図、第2図、第4図及び第5図に従い構
成された増幅器の単一経路の周波数応答をあらわすボー
デ図、 第7図は、増幅器及びバイアス回路要素のより詳細な回
路図、 第8図は、1つのヘッドから別のヘッドに切り換えるた
めのノードを示すプリアンプの回路図、 第9図は、第8図のプリアンプのヘッド切り換えの間の
過渡応答を、異なる3つの場合について示す図である。
Claims (2)
- 【請求項1】(a)第1及び第2の端子をもつ磁気抵抗
素子と、 (b)上記磁気抵抗素子にバイアス電流を流すように上
記第1の端子に接続された第1の電流源と、 (c)基準電流を発生するために上記第2の端子に接続
された第2の電流源と、 (d)上記第1及び第2の端子のほぼ中央の上記磁気抵
抗素子の中心電位を感知するように上記第1及び第2の
端子にわたって接続された回路手段と、 (e)上記感知された上記磁気抵抗素子の中心電位に応
答して、上記中心電位を予定の基準電位に維持するよう
に上記第1の電流源の電流出力を調整するためのフィー
ドバック手段と を含む、磁気抵抗素子の保護回路。 - 【請求項2】(a)第1及び第2の端子をもつ磁気抵抗
素子と、 (b)上記磁気抵抗素子にバイアス電流を流すように上
記第1の端子に接続された第1の電流源と、 (c)基準電流を発生するために上記第2の端子に接続
された第2の電流源と、 (d)上記第1及び第2の端子のほぼ中央の上記磁気抵
抗素子の中心電位を感知するように上記第1及び第2の
端子にわたって接続された回路手段と、 (e)上記感知された上記磁気抵抗素子の中心電位に応
答して、上記中心電位を予定の基準位置に維持するよう
に上記第1の電流源の電流出力を調整するためのフィー
ドバック手段と、 (f)上記磁気抵抗素子によって感知された磁束の関数
として発生された上記磁気抵抗素子にわたる信号電圧を
増幅するための手段と を含む、磁気抵抗素子の検出電圧増幅回路。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/250,784 US4879610A (en) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | Protective circuit for a magnetoresistive element |
| US250784 | 1988-09-28 | ||
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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Family
ID=26664435
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1186207A Expired - Fee Related JPH0772921B2 (ja) | 1988-09-28 | 1989-07-20 | 磁気抵抗素子の保護回路 |
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| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4879610A (ja) |
| EP (1) | EP0361781B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0772921B2 (ja) |
| DE (1) | DE68914075T2 (ja) |
| HK (1) | HK139294A (ja) |
| SG (1) | SG150794G (ja) |
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