JPH0785089B2 - デ−タ集録装置 - Google Patents

デ−タ集録装置

Info

Publication number
JPH0785089B2
JPH0785089B2 JP62036517A JP3651787A JPH0785089B2 JP H0785089 B2 JPH0785089 B2 JP H0785089B2 JP 62036517 A JP62036517 A JP 62036517A JP 3651787 A JP3651787 A JP 3651787A JP H0785089 B2 JPH0785089 B2 JP H0785089B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
trigger
time
clock
memory
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP62036517A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS62195564A (ja
Inventor
ローラ・ワイトサイド
トーマス・ケー・ボーレイ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HP Inc
Original Assignee
Hewlett Packard Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hewlett Packard Co filed Critical Hewlett Packard Co
Publication of JPS62195564A publication Critical patent/JPS62195564A/ja
Publication of JPH0785089B2 publication Critical patent/JPH0785089B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/20Cathode-ray oscilloscopes
    • G01R13/22Circuits therefor
    • G01R13/34Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
    • G01R13/345Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies for displaying sampled signals by using digital processors by intermediate A.D. and D.A. convertors (control circuits for CRT indicators)

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 <発明の技術分野> 本発明は一般的にはデジタルオシロスコープに関し、特
にランダムな繰り返しサンプリングを用いるデータ集録
装置に関する。
<従来技術とその問題点> デジタルオシロスコープはアナログ波形を離散的な時刻
にサンプルし、アナログ値をデジタル値に変換してこれ
らの値をそれぞれのサンプル時刻と共にメモリにストア
する。オシロスコープの表示は、例えば第4図に示すよ
うにデジタルサンプルをプロツトしたものである。表示
確度はサンプルされた波形の周期に対するサンプル点の
密度と遷移時間に依存する。Hewlett Packard社のモデ
ル54200A/Dの様な単発サンプリングオシロスコープでは
密度はオシロスコープの最高サンプルレートで制限され
る。Hewlett Packard社のモデル54100A/Dの様な繰り返
しサンプリングオシロスコープはランダム繰り返しサン
プリングを用いてサンプルされたくり返し波形の表示密
度を最大サンプルレート以上に上げる。ランダム繰り返
しサンプリングにおいては数回のデータ集録期間中にと
つたサンプルを共通のトリガ点に対して組み合わせて1
つの表示波形を形成する。データ集録期間が同一のトリ
ガ点に対してオーバーラツプしているため表示密度は高
くなつている。第2A図〜第2C図はそれぞれ1回、2回お
よび多数回データ集録した後の表示である。
ランダムくり返しサンプリングにおいて、もし波形期間
がオシロスコープのサンプルクロツクの周期より短か
く、かつ集録期間に対する共通の参照点の探索がサンプ
ルクロツクに同期した時刻に始まるとき、表示される情
報は第3図に示すように間隙が含まれる。間隙が生ずる
のはくり返し波形に対してトリガが常に1波形周期内に
あるからである。サンプルクロツクの位相をシフトする
のは従来技術による解決法であり、Hewlett Packard社
の54100A/Dに用いられている。ところがこの解決法はか
さばり、高価で、遅く、かつ特別なソフトが必要であ
る。さらに間けつ的に表示ギヤツプが現われる。
<発明の目的> 従つて本発明の目的は、擬似ランダムノイズ源を用いて
ランダムサンプリングをおこない。上記の欠点を解消す
ることである。
<発明の概要> 図示した本発明の好適な実施例によれば、ランダム繰り
返しサンプリングオシロスコープは擬似ランダムノイズ
源を用い、サンプルクロツクに対するトリガの関係をラ
ンダムに変える、このオシロスコープは集録したデータ
で間隙を埋め、サンプルクロツクに対して真にランダム
な時刻でトリガ点を見つけて改善された波形を表示す
る。本発明によるオシロスコープは安価かつ効果的であ
る。
<発明の実施例> 第1図は本発明の好適な1実施例に従つてランダム繰り
返しサンプリングデジタルオシロスコープの概略ブロツ
クダイアグラムである。本オシロスコープは波形トリガ
点の周りでサンプルをとる。数回の、すなわち数組のサ
ンプルを取り、各集録期間のトリガ点を共通の参照点と
して組み直す。アナログサンプルホールド10(サンプラ
10)、アナログ・デジタル変換器20(変換器20)および
メモリ30を単発データ集録に用いる。サンプラ10はタイ
ムベース40が発生するサンプルクロツク信号の各前縁で
波形をサンプルする。アナログサンプルは変換器20でデ
ジタルサンプルに変換され、メモリ30にストアされる。
遅延70は変換器20へのサンプルクロツク信号を遅らせサ
ンプラ10に存在する遅延を補償する。同様に遅延72はメ
モリ30へのサンプルクロツク信号を遅らせ変換器20に固
有な遅延を補償する。マイクロプロセツサ60はメモリ30
にストアされる各デジタル値の番地を決定する。メモリ
30にストアされた単発集録データはマイクロプロセツサ
60によつて、後で1つの表示波形としてデイスプレイ76
上で観察するためにメモリ78内に集められる。タイムベ
ース40とシンクロナイザ50はいつ各データ集録を行な
い、トリガ点に対してどの位置で集録するかを制御す
る。
タイムベース40を用いて集録期間中サンプリングとトリ
ガ点の認識を制御する。サンプリングは集録期間の開始
に先立つて始まる。トリガ点とはオシロスコープがトリ
ガ条件を探索して波形を調べている間に、例えば立ち上
りエツジのように使用者が定めたトリガ条件が起こると
きのことである。使用者はトリガ条件を求めて波形を調
べるまでのプリトリガ遅延とトリガ条件検出後のポスト
トリガ遅延を指定する。こうすることによつて使用者は
トリガ点を基準にサンプルされるべき波形部分を定め
る。
ポストトリガ遅延の終了は集録期間が終了することであ
り、そこでサンプリングが停止する。プリトリガ遅延、
トリガ条件探索およびポストトリガ遅延の間に取られた
サンプルは1つの集録データを形成し、オシロスコープ
によつて保持され、解析される。1つの集録データとし
てオシロスコープが保持できるサンプルの最大個数はメ
モリ30の最大サイズによつて制限される。
第5図は第1図に示したタイムベース40の展開ブロツク
図である。マイクロプロセツサ60はプリトリガ遅延カウ
ンタ24およびポストトリガ遅延カウンタ22を使用者が定
めたプリトリガ遅延およびポストトリガ遅延に初期化す
る。1つのデータ集録の開始時にマイクロプロセツサ60
はカウンタ24をイネーブルし、該カウンタ24は擬似ラン
ダムノイズ発生器26(発生器26)からのライン47上に現
われるクロツクリーデイングエツジをカウントする。
発生器26はランダムな持続時間の一連のパルスを発生す
る。持続時間には最小値が存在する。この実施例におい
て発生器26はNational Semiconductor社のMM5437であ
り、それは一連のパルスを発生し、各パルスの最小持続
時間は1.5マイクロ秒である。プリトリガ遅延カウンタ2
4は全てのパルスが最小持続時間であると仮定して使用
者が決めた値に初期化される。これはマイクロプロセツ
サ60に要求されるプリトリガ遅延が最低限満たされるこ
とを保証し、トリガ条件の探索開始時刻がサンプルクロ
ツクや他のクロツクに依存しないことを保証する。
もし、サンプルクロツクや他のクロツクをクロツクカウ
ンタ24に用いるならば第3図に示した問題が生ずる。こ
の場合トリガ探索が始まる時刻はサンプルクロツクに依
存しており、トリガ探索は各データ集録のサンプルクロ
ツクを基準として同じ時刻に始まる。この例では第7図
のAに示すように時刻は時刻102から時刻104の間に選ば
れる。
問題は時刻の組をどのように選ぼうとも起こる。第7図
のAは1つのデータ集録期間中のトリガ点の近傍の短か
い期間を表わし、サンプルクロツクの立ち上がりエツジ
が時刻101、102、および時刻103で起こる。トリガ信号
の周期はサンプルクロツクの周期より短かい。トリガ条
件の探索は時刻104に始まり、トリガは時刻104で直ちに
見つかる。第7図のBは2番目のデータ集録期間に対し
ての同じ期間を表わすが、サンプルクロツクの立ち上が
りエツジは時刻201、202および203で起こる。トリガ条
件の探索はサンプルクロツクに関して同時刻に始まり、
それは時刻204である。トリガ条件はトリガ信号期間の
終りに位置しており、それは時刻205である。もしトリ
ガ条件が時刻205より遅いならば、オシロスコープは第
7図のAの時刻104のようにトリガが1トリガ期間だけ
早く起つたものとみなす。第7図のCは第3のデータ集
録期間に対する同じ期間を表わしているが、サンプルク
ロツクの立ち上がりエツジは時刻301、302および303で
起こる。トリガ条件の探索はサンプルクロツクに関して
同じ時刻に始まり、それは時刻304である。トリガ条件
はトリガ信号期間の真中、時刻305にある。
第8図のA〜第8図のDは第7図のA〜第7図のCまで
をそれぞれのトリガ点に関して重ね合わせた集録データ
である。第8図のA、第8図のBおよび第8図のCは第
7図のA、第7図のBおよび第7図のCをそれぞれ調整
し、共通の参照点が一致するようにしたものである。第
8図のDは第8図のA、第8図のBおよび第8図のCの
集録データを集積したものである。各集録データのトリ
ガ点は時刻104、205、および305で起こるが第8図のD
では時刻404に重ねて示してある。結果として各集録デ
ータに対するサンプルクロツクの立ち上がりエツジは第
8図のDに合成して示してある。集録されたサンプルは
調べている波形の周期と同じ大きさの時間窓、たとえば
第8図のDに示すように時刻201〜101、202〜102および
203〜103に合致している。時間窓の先端から次の時間窓
の先端までの時間は第8図のDに示すように、例えば時
刻201〜202、202〜203、301〜302および102〜103のサン
プル間の時間である。もし調べている信号の周期がサン
プルクロツクの周期より短かいと、例えば第8図のDに
示すように時刻102〜202、および102〜203の間隙が時間
窓の間に現われる。もし、波形の周期がサンプルクロツ
クの周期に等しいか、それより大きいならば集録サンプ
ルを含む時間窓は重複し間隙は現われない。
第1図において、タイムベース40はシンクロナイザ50に
接続され、該シンクロナイザ50はタイムベース40に、い
つトリガ条件が起つたかを知らせる。以下に第5図と第
6図を参照して詳しく説明する。カウンタ24が使用者が
決めた値からゼロにカウントダウンしたときイネーブル
信号がシンクロナイザ50に送られる。このときシンクロ
ナイザは調べている波形上でトリガ条件を探索する。波
形の立ち上がりエツジ、すなわちこの実施例のトリガ条
件が現われるとD型フリツプフロツプ34がD型フリツプ
フロツプ36に信号を送る。ライン33上のトリガ条件もハ
ードウエア遅延ブロツク32を通つた後、ライン51上に現
われる。D型フリツプフロツプ36はライン49に信号があ
り、ライン51上に信号が現われるとライン35上のカウン
タ22にイネーブル信号を送る。2つのフリツプフロツプ
は競合状態の問題を避けるために用いられる。
ライン35上のイネーブル信号は第5図のカウンタ22をイ
ネーブルする。カウンタ22はデイバイダ14からのクロツ
クのリーデイングエツジをカウントする。デイバイダ14
は発振器74からのクロツクパルスを割り算し、サンプル
クロツク信号を生成するのに使われる。カウンタ22が使
用者が決めた値からカウントダウンしてゼロになると制
御イネーブル信号がANDゲート12(ゲート12)へ送られ
る。
ゲート12に接続されたカウンタ22はサンプル10をイネー
ブルしたり、デイスエイブルするのに使われる。カウン
タ22によりゲート12がイネーブルされるとデイバイダ14
からのサンプルクロツクパルスはサンプラ10に送られ
る。カウンタ22によりゲート12がデイスエイブルされる
とサンプラ10にクロツクパルスは行かず、非サンプリン
グ状態に留まる。変換器20およびメモリ30も非活動状態
である。
ハードウエア補間器18(補間器18)はバス27によつてマ
イクロプロセツサ60に、そしてライン25に、よつて発振
器74に接続されている。発振器74からのクロツクパルス
およびシンクロナイザ50からのトリガ条件位置を識別す
る信号を使つて補間器18は集録されたサンプルに対して
いつトリガ条件を起つたかを高分解能で決定する。好適
な実施例においては200対1のストレツチヤーを用いて
補間する。ストレツチヤーではトリガ条件と次のサンプ
ルクロツクパルスの間の時間に等しい期間だけキヤパシ
タが充電される。それからキヤパシタは充電されたとき
よりも200倍ゆつくりした割合で放電され、キヤパシタ
を放電するのに必要な時間が発振器クロツクにより測定
され、高分解能測定が可能となる。この補間法は従来技
術においてよく知られている。トリガ点はランダム繰り
返しサンプリングを用いるとき、異なつた集録データを
並べ変えるための共通の参照点となる。
<発明の効果> 以上詳述した本発明の1実施例から明らかなように、本
発明の実施により、トリガ点を探索する窓が狭くともそ
の位置がサンプルクロツクやその他のクロツクに依存し
ないので、集録波形にギヤツプが生じないデータ集録装
置が得られる。
また装置構成も簡単かつ低価格であり実用に供して有用
である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の1実施例を組み込んだデジタルオシロ
スコープのブロツク図、第2A図〜第2C図は従来技術のオ
シロスコープにおけるランダム繰返しサンプリングの相
異る段階の例を示す図。第3図は従来技術のオシロスコ
ープによつて発生される間隙を含む典形的な波形の例を
示す図。第4図は代表的な従来技術のデジタルオシロス
コープの表示を示す図。第5図は第1図のタイムベース
のブロツク図。第6図は第1図のシンクロナイザのブロ
ツク図。第7図は各集録におけるトリガ点とサンプルク
ロツク生起点を示す3つの相異る集録におけるタイミン
グ図。第8図は共通トリガ点に沿つて整列させた第7図
のタイミングと結合した集録のタイミングを表わす図。 10:サンプラ;12:ANDゲート;14:デバイダ;18:補間器;20:
アナログ・デジタル変換器;22,24:カウンタ;26:擬似ラ
ンダムノイズ源;30,78:メモリ;32:遅延ブロツク;34,36:
D型フリツプフロツプ;40:タイムベース;50;シンクロナ
イザ;60:マイクロプロセツサ;70,72:遅延;74:発振器;7
6:デイスプレイ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭59−34164(JP,A) 特開 昭60−224332(JP,A) 特公 昭47−48432(JP,B1) 特公 昭49−41579(JP,B1)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】次の(イ)〜(チ)より成るデータ収録装
    置。 (イ)サンプリングクロックの遷移点で入力信号をサン
    プリングし該入力信号のアナログ値を出力するサンプリ
    ング手段。 (ロ)前記アナログ値を入力しデジタル値に変換するた
    めの変換手段。 (ハ)前記デジタル値を所定の収録期間にわたりストア
    するための第1のメモリ手段。 (ニ)前記第1のメモリにストアされた前記デジタル値
    を複数の前記収録期間にわたり集積してストアするため
    の第2のメモリ手段。 (ホ)前記第2のメモリにストアされた前記デジタル値
    を表示するためのディスプレイ手段。 (ヘ)クロックを発生し該クロックに同期した前記収録
    期間の開始時刻からランダム化プリトリガ遅延経過後に
    トリガ条件の探索開始信号を出力し、前記トリガ条件の
    検出信号に応じて所定のポストトリガ遅延経過後に前記
    収録期間を終了せしめると共に前記クロック信号に同期
    した前記サンプリングクロックを発生するためのタイム
    ベース手段。 (ト)前記探索開始信号に応じて前記トリガ条件を探索
    し前記検出信号を出力するシンクロナイザ手段。 (チ)前記第1のメモリ手段と、前記第2のメモリ手段
    と、前記ディスプレイ手段と、前記タイムベース手段と
    を制御するとともの前記開始時刻を決定するためのマイ
    クロプロセッサ手段。
  2. 【請求項2】前記探索開始信号は、所定値をこえる持続
    時間を有する一連のランダムパルスの所定数を計数する
    に応じて発生されることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項記載のデータ収録装置。
JP62036517A 1986-02-21 1987-02-19 デ−タ集録装置 Expired - Lifetime JPH0785089B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/832,107 US4694244A (en) 1986-02-21 1986-02-21 Apparatus for random repetitive sampling
US832107 1986-02-21

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62195564A JPS62195564A (ja) 1987-08-28
JPH0785089B2 true JPH0785089B2 (ja) 1995-09-13

Family

ID=25260702

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62036517A Expired - Lifetime JPH0785089B2 (ja) 1986-02-21 1987-02-19 デ−タ集録装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4694244A (ja)
EP (1) EP0234883B1 (ja)
JP (1) JPH0785089B2 (ja)
DE (1) DE3786356T2 (ja)

Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4809189A (en) * 1986-10-09 1989-02-28 Tektronix, Inc. Equivalent time waveform data display
US4719416A (en) * 1986-11-10 1988-01-12 Hewlett Packard Company Method for determining the minimum number of acquisition sweeps to meet the risetime specifications of a digital oscilloscope
US5111191A (en) * 1988-06-23 1992-05-05 Motorola, Inc. Method and apparatus for waveform digitization
US5148230A (en) * 1990-04-25 1992-09-15 Tektronix, Inc. Measurement apparatus having improved sample density using nested data acquisitions
US5122734A (en) * 1990-07-19 1992-06-16 Tektronix, Inc. Method and apparatus for prescaler desynchronization
US5254983A (en) * 1991-02-05 1993-10-19 Hewlett-Packard Company Digitally synthesized gray scale for raster scan oscilloscope displays
US5283596A (en) * 1991-02-05 1994-02-01 Hewlett-Packard Company Digitally synthesized gray scale for raster scan oscilloscope color display of overlapping multichannel waveforms
US5115189A (en) * 1991-02-06 1992-05-19 Hewlett-Packard Company Anti-aliasing dithering method and apparatus for low frequency signal sampling
US5260647A (en) * 1991-09-18 1993-11-09 Hewlett-Packard Company Measuring an AC signal value with sampling when the sampling interval does not exactly divide the AC signal's period
ES2070667B1 (es) * 1992-05-26 1997-03-01 Y Martinez Antonio Ja Morcillo Analizador temporal por respuesta alineal.
DE4230853C2 (de) * 1992-09-15 1999-07-01 Tektronix Inc Abtastverfahren für verjitterte Signale
US5315627A (en) * 1993-02-22 1994-05-24 Hewlett-Packard Company Pseudo-random repetitive sampling of a signal
US5521512A (en) * 1993-08-16 1996-05-28 The Penn State Research Foundation Time domain reflectometer using successively delayed test pulses and an interleaved sampling procedure
US5416480A (en) * 1994-04-08 1995-05-16 Interactive Process Controls Corp. Analog interface circuits for process controllers and process monitors
JP3074594B2 (ja) * 1995-01-25 2000-08-07 アンリツ株式会社 波形観測装置
JPH09138243A (ja) * 1995-10-25 1997-05-27 Hewlett Packard Co <Hp> 捕捉クロックの位相変調装置
JPH09138244A (ja) * 1995-10-25 1997-05-27 Hewlett Packard Co <Hp> 捕捉クロックの位相変調装置
US5754439A (en) * 1995-12-26 1998-05-19 Hewlett-Packard Co. Method for reducing display locking in digital oscilloscopes or logic analyzers using inter-acquisition dithering techniques
US5877621A (en) * 1996-04-30 1999-03-02 Hewlett-Packard Company Digital oscilloscope with pan and zoom produced from time stamped data records indexed by trigger offset
US6233532B1 (en) 1998-01-14 2001-05-15 Dover Associates, Inc. Sensor assembly
JPH11271363A (ja) * 1998-03-19 1999-10-08 Ando Electric Co Ltd 電気光学サンプリングオシロスコープ
EP1330036B1 (en) * 2002-01-17 2006-06-28 Institute of Electronics and Computer Science of Latvia Method and apparatus for alias suppressed digitizing of high frequency analog signals
US7519874B2 (en) * 2002-09-30 2009-04-14 Lecroy Corporation Method and apparatus for bit error rate analysis
US7434113B2 (en) * 2002-09-30 2008-10-07 Lecroy Corporation Method of analyzing serial data streams
US7437624B2 (en) * 2002-09-30 2008-10-14 Lecroy Corporation Method and apparatus for analyzing serial data streams
US6700516B1 (en) * 2003-02-25 2004-03-02 Agilent Technologies, Inc. Mixer-based timebase for signal sampling
US7209061B2 (en) * 2005-03-30 2007-04-24 Silicon Laboratories, Inc. Method and system for sampling a signal
DE102005036855B4 (de) * 2005-08-04 2016-11-17 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Verfahren und System zur Triggerung von digitalisierten Signalen
US20070286267A1 (en) * 2006-06-08 2007-12-13 Jonathan Brereton Scott RF power sensor
US8531176B2 (en) 2010-04-28 2013-09-10 Teradyne, Inc. Driving an electronic instrument
US8542005B2 (en) 2010-04-28 2013-09-24 Teradyne, Inc. Connecting digital storage oscilloscopes
US8502522B2 (en) 2010-04-28 2013-08-06 Teradyne, Inc. Multi-level triggering circuit
US8098181B2 (en) 2010-04-28 2012-01-17 Teradyne, Inc. Attenuator circuit
DE102012208405A1 (de) * 2012-05-21 2013-11-21 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Messgerät und Verfahren zur verbesserten Abbildung von Spektralverläufen
US9729130B2 (en) * 2012-09-27 2017-08-08 Tektronix, Inc. Building sample rate independent timing diagrams using digital edge averaging
US10735115B2 (en) 2018-07-31 2020-08-04 Nxp B.V. Method and system to enhance accuracy and resolution of system integrated scope using calibration data
US10396912B1 (en) * 2018-08-31 2019-08-27 Nxp B.V. Method and system for a subsampling based system integrated scope to enhance sample rate and resolution

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4217524A (en) * 1978-05-11 1980-08-12 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Method and structure for generating representations of repetitive electrical waveforms
US4540938A (en) * 1983-01-21 1985-09-10 Tektronix, Inc. Displaying waveforms
US4578667A (en) * 1984-03-23 1986-03-25 Tektronix, Inc. Digital acquisition system including a high-speed sampling gate

Also Published As

Publication number Publication date
JPS62195564A (ja) 1987-08-28
EP0234883A2 (en) 1987-09-02
DE3786356D1 (de) 1993-08-05
EP0234883A3 (en) 1988-09-07
DE3786356T2 (de) 1993-10-21
EP0234883B1 (en) 1993-06-30
US4694244A (en) 1987-09-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4694244A (en) Apparatus for random repetitive sampling
JP2733746B2 (ja) ロジック信号表示方法
US4975636A (en) Method and apparatus for selecting and displaying a high resolution window from a main display
US5155431A (en) Very fast autoscale topology for digitizing oscilloscopes
US5959479A (en) Sampling timebase system
US6271773B1 (en) Coherent sampling method and apparatus
US5315627A (en) Pseudo-random repetitive sampling of a signal
US6137749A (en) Apparatus and method for measuring time intervals with very high resolution
KR100576226B1 (ko) 인터리브형 디지털 피크 검출기
US20040167733A1 (en) Mixer-based timebase for sampling multiple input signal references asynchronous to each other
US6700516B1 (en) Mixer-based timebase for signal sampling
EP0444875B1 (en) Method and apparatus for increasing throughput in random repetitive digitizing systems
US7068087B2 (en) Method and apparatus for an improved timer circuit and pulse width detection
JP2646173B2 (ja) メタステーブル状態検出装置
EP0235250A1 (en) Harmonic sampling logic analyzer
JPH06103293B2 (ja) 超音波測定装置のa/d変換処理方式
JPS6129671B2 (ja)
JPS6383677A (ja) サンプリング方式
JP2004020274A (ja) 波形表示トリガシステム
JP3163244B2 (ja) 多位相補間を用いてパルス幅をディジタル値に変換する回路
JPH0827313B2 (ja) スペクトラムアナライザ
JPS63247665A (ja) 波形デイジタイザの周期波形部分拡大アベレ−ジング装置
JPH0478140B2 (ja)
JPH04143669A (ja) 波形解析装置
JPH06242156A (ja) F/v変換回路