JPH0786741A - セラミックス多層基板の製造方法及びセラミックス多層基板 - Google Patents
セラミックス多層基板の製造方法及びセラミックス多層基板Info
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- JPH0786741A JPH0786741A JP22467993A JP22467993A JPH0786741A JP H0786741 A JPH0786741 A JP H0786741A JP 22467993 A JP22467993 A JP 22467993A JP 22467993 A JP22467993 A JP 22467993A JP H0786741 A JPH0786741 A JP H0786741A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 窒化アルミニウムセラミックス多層基板の製
造方法と多層基板とに関し、窒化アルミニウムセラミッ
クス基板に高融点金属導体を形成するにあたり、導体と
セラミックス基板との密着力を強くし、かつ導体の抵抗
を低減するようにするセラミックス多層基板の製造方法
を提供することを目的とする。 【構成】 窒化アルミニウムグリーンシート1にビアホ
ール2を形成し、ビアホール2の内壁にテレフタル酸末
混入の第1の高融点金属ペーストの薄膜3を形成した
後、テレフタル酸を混入し、焼成後に多孔質高融点金属
となる第2の高融点金属ペースト4を充填し、窒化アル
ミニウムグリーンシート1上に第1の高融点金属ペース
トと第2の高融点金属ペーストとを順次印刷して導電パ
ターンを形成したものを複数枚積層して焼成し、第2の
高融点金属ペースト4を焼成して形成した多孔質高融点
金属層6に銅を含浸させるようにする。
造方法と多層基板とに関し、窒化アルミニウムセラミッ
クス基板に高融点金属導体を形成するにあたり、導体と
セラミックス基板との密着力を強くし、かつ導体の抵抗
を低減するようにするセラミックス多層基板の製造方法
を提供することを目的とする。 【構成】 窒化アルミニウムグリーンシート1にビアホ
ール2を形成し、ビアホール2の内壁にテレフタル酸末
混入の第1の高融点金属ペーストの薄膜3を形成した
後、テレフタル酸を混入し、焼成後に多孔質高融点金属
となる第2の高融点金属ペースト4を充填し、窒化アル
ミニウムグリーンシート1上に第1の高融点金属ペース
トと第2の高融点金属ペーストとを順次印刷して導電パ
ターンを形成したものを複数枚積層して焼成し、第2の
高融点金属ペースト4を焼成して形成した多孔質高融点
金属層6に銅を含浸させるようにする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、窒化アルミニウムセラ
ミックス多層基板の製造方法とこの製造方法を使用して
製造した窒化アルミニウムセラミックス多層基板とに関
する。
ミックス多層基板の製造方法とこの製造方法を使用して
製造した窒化アルミニウムセラミックス多層基板とに関
する。
【0002】
【従来の技術】窒化アルミニウムセラミックス多層基板
に形成される導体の材料には、高融点金属のタングステ
ンまたはモリブデンが使用される。その理由は、タング
ステンペーストまたはモリブデンペーストが窒化アルミ
ニウムグリーンシートの焼成温度と同じ1800℃の温
度で同時に焼成することが可能であり、また窒化アルミ
ニウムと熱膨張係数が調和しているためである。しか
し、タングステンやモリブデンは低融点金属の銅や銀に
比べて導電抵抗が高いという欠点がある。
に形成される導体の材料には、高融点金属のタングステ
ンまたはモリブデンが使用される。その理由は、タング
ステンペーストまたはモリブデンペーストが窒化アルミ
ニウムグリーンシートの焼成温度と同じ1800℃の温
度で同時に焼成することが可能であり、また窒化アルミ
ニウムと熱膨張係数が調和しているためである。しか
し、タングステンやモリブデンは低融点金属の銅や銀に
比べて導電抵抗が高いという欠点がある。
【0003】この欠点を解決するために、タングステン
等の高融点金属ペーストが焼成後に多孔質高融点金属と
なるようにして、その空孔に低抵抗体である銅等を含浸
させて低抵抗化を図るという方法が考えられた。
等の高融点金属ペーストが焼成後に多孔質高融点金属と
なるようにして、その空孔に低抵抗体である銅等を含浸
させて低抵抗化を図るという方法が考えられた。
【0004】通常、焼成前の窒化アルミニウムグリーン
シートに導体パターンを形成するには、タングステン粉
末またはモリブデン粉末とエチルセルロースとテレピネ
オールとが混合されたペーストが使用されるが、焼成後
に多孔質となるようにするには、これにテレフタル酸を
混入したペーストを使用する。テレフタル酸は溶剤であ
るテレピネオールに溶けず、かつ、焼成の際に揮発する
ため、このテレフタル酸が混入されたペースト4を、図
4に示すように、窒化アルミニウムグリーンシート1に
形成されたビアホール2に充填して焼成すると、ペース
ト中に混入しているテレフタル酸5が揮発し、テレフタ
ル酸5が存在していた部位に空孔が形成されて多孔質高
融点金属となる。この多孔質高融点金属の空孔に溶融し
た銅を含浸させることによって導体抵抗を低減すること
ができる。
シートに導体パターンを形成するには、タングステン粉
末またはモリブデン粉末とエチルセルロースとテレピネ
オールとが混合されたペーストが使用されるが、焼成後
に多孔質となるようにするには、これにテレフタル酸を
混入したペーストを使用する。テレフタル酸は溶剤であ
るテレピネオールに溶けず、かつ、焼成の際に揮発する
ため、このテレフタル酸が混入されたペースト4を、図
4に示すように、窒化アルミニウムグリーンシート1に
形成されたビアホール2に充填して焼成すると、ペース
ト中に混入しているテレフタル酸5が揮発し、テレフタ
ル酸5が存在していた部位に空孔が形成されて多孔質高
融点金属となる。この多孔質高融点金属の空孔に溶融し
た銅を含浸させることによって導体抵抗を低減すること
ができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】多孔質高融点金属の空
孔は窒化アルミニウムセラミックス基板との界面にも形
成されるため、多孔質高融点金属導体と窒化アルミニウ
ムセラミックス基板との密着力が弱くなるという問題が
発生する。また、銅はセラミックスとの濡れ性が悪く、
セラミックスは銅をはじくので、銅を含浸させたときに
窒化アルミニウムセラミックス基板に接して存在する空
孔には銅が進入せずに空孔のまゝ残留し、多孔質高融点
金属導体の抵抗が充分に低減されないという問題も発生
する。
孔は窒化アルミニウムセラミックス基板との界面にも形
成されるため、多孔質高融点金属導体と窒化アルミニウ
ムセラミックス基板との密着力が弱くなるという問題が
発生する。また、銅はセラミックスとの濡れ性が悪く、
セラミックスは銅をはじくので、銅を含浸させたときに
窒化アルミニウムセラミックス基板に接して存在する空
孔には銅が進入せずに空孔のまゝ残留し、多孔質高融点
金属導体の抵抗が充分に低減されないという問題も発生
する。
【0006】本発明の目的は、これらの欠点を解消する
ことにあり、窒化アルミニウムセラミックス基板に高融
点金属導体を形成するにあたり、導体とセラミックス基
板との密着力を強くし、かつ、導体の抵抗を低減するよ
うにするセラミックス多層基板の製造方法とこの製造方
法を使用して製造するセラミックス多層基板を提供する
ことにある。
ことにあり、窒化アルミニウムセラミックス基板に高融
点金属導体を形成するにあたり、導体とセラミックス基
板との密着力を強くし、かつ、導体の抵抗を低減するよ
うにするセラミックス多層基板の製造方法とこの製造方
法を使用して製造するセラミックス多層基板を提供する
ことにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記のうち、第1の目的
(セラミックス多層基板の製造方法)は、窒化アルミニ
ウムグリーンシート(1)にビアホール(2)を形成
し、このビアホール(2)の内壁にテレフタル酸末混入
の第1の高融点金属ペーストの薄膜(3)を形成し、こ
の第1の高融点金属ペーストの薄膜(3)が形成された
前記のビアホール(2)内に、テレフタル酸が混入さ
れ、焼成後に多孔質高融点金属となる第2の高融点金属
ペースト(4)を充填し、この第2の高融点金属ペース
ト(4)の充填された前記の窒化アルミニウムグリーン
シート(1)上に前記の第1の高融点金属ペーストと前
記の第2の高融点金属ペーストとを順次印刷して導電パ
ターンを形成し、この導電パターンの形成された前記の
窒化アルミニウムグリーンシート(1)の複数枚を積層
して焼成し、前記の第2の高融点金属ペースト(4)が
焼成されて形成された多孔質高融点金属層(6)に銅を
含浸させる工程を有するセラミックス多層基板の製造方
法によって達成される。
(セラミックス多層基板の製造方法)は、窒化アルミニ
ウムグリーンシート(1)にビアホール(2)を形成
し、このビアホール(2)の内壁にテレフタル酸末混入
の第1の高融点金属ペーストの薄膜(3)を形成し、こ
の第1の高融点金属ペーストの薄膜(3)が形成された
前記のビアホール(2)内に、テレフタル酸が混入さ
れ、焼成後に多孔質高融点金属となる第2の高融点金属
ペースト(4)を充填し、この第2の高融点金属ペース
ト(4)の充填された前記の窒化アルミニウムグリーン
シート(1)上に前記の第1の高融点金属ペーストと前
記の第2の高融点金属ペーストとを順次印刷して導電パ
ターンを形成し、この導電パターンの形成された前記の
窒化アルミニウムグリーンシート(1)の複数枚を積層
して焼成し、前記の第2の高融点金属ペースト(4)が
焼成されて形成された多孔質高融点金属層(6)に銅を
含浸させる工程を有するセラミックス多層基板の製造方
法によって達成される。
【0008】上記のうち、第2の目的(セラミックス多
層基板)は、緻密なセラミックス基板(7)の積層体を
貫通して形成されたビアホール(2)の内壁に緻密な導
体層(8)が形成されており、この内壁に緻密な導体層
(8)が形成されているビアホール(2)の内部に、多
孔質導体層(6)中に銅(9)が分散している充填材が
充填されているセラミックス多層基板によって達成され
る。
層基板)は、緻密なセラミックス基板(7)の積層体を
貫通して形成されたビアホール(2)の内壁に緻密な導
体層(8)が形成されており、この内壁に緻密な導体層
(8)が形成されているビアホール(2)の内部に、多
孔質導体層(6)中に銅(9)が分散している充填材が
充填されているセラミックス多層基板によって達成され
る。
【0009】
【作用】窒化アルミニウムグリーンシートのビアホール
にテレフタル酸を混入した高融点金属ペーストを直接充
填するのではなく、図2(a)に示すように、ビアホー
ル2の内壁にテレフタル酸を含まない通常の第1の高融
点金属ペーストの薄膜3を形成した後に、図2(b)に
示すように、テレフタル酸を混入した第2の高融点金属
ペースト4を充填しているので、焼成後に、図1(a)
に示すように、テレフタル酸5が揮発して形成された多
孔質導体層6と窒化アルミニウムセラミックス基板7と
の間には空孔の存在しない緻密な導体層8が形成され
る。緻密な導体層8と窒化アルミニウムセラミックス基
板7とは良好に密着し、また、多孔質導体層6と緻密な
導体層8とは同一金属よりなるので良好に密着するた
め、ビアホール2内に形成された高融点金属導体と窒化
アルミニウムセラミックス基板7との密着性は向上す
る。
にテレフタル酸を混入した高融点金属ペーストを直接充
填するのではなく、図2(a)に示すように、ビアホー
ル2の内壁にテレフタル酸を含まない通常の第1の高融
点金属ペーストの薄膜3を形成した後に、図2(b)に
示すように、テレフタル酸を混入した第2の高融点金属
ペースト4を充填しているので、焼成後に、図1(a)
に示すように、テレフタル酸5が揮発して形成された多
孔質導体層6と窒化アルミニウムセラミックス基板7と
の間には空孔の存在しない緻密な導体層8が形成され
る。緻密な導体層8と窒化アルミニウムセラミックス基
板7とは良好に密着し、また、多孔質導体層6と緻密な
導体層8とは同一金属よりなるので良好に密着するた
め、ビアホール2内に形成された高融点金属導体と窒化
アルミニウムセラミックス基板7との密着性は向上す
る。
【0010】また、多孔質導体層6に形成される空孔9
は窒化アルミニウムセラミックス基板7と接する領域に
は存在しないので、すべての空孔に銅が良好に進入し、
導体の抵抗を充分低減することができる。
は窒化アルミニウムセラミックス基板7と接する領域に
は存在しないので、すべての空孔に銅が良好に進入し、
導体の抵抗を充分低減することができる。
【0011】以上、ビアホール内に高融点金属導体を形
成する場合について説明したが、窒化アルミニウムセラ
ミックス基板上に高融点金属導体を形成する場合につい
ても同様である。
成する場合について説明したが、窒化アルミニウムセラ
ミックス基板上に高融点金属導体を形成する場合につい
ても同様である。
【0012】
【実施例】以下、図面を参照して、本発明の一実施例に
係るセラミックス多層基板の製造方法について説明す
る。
係るセラミックス多層基板の製造方法について説明す
る。
【0013】窒化アルミニウムグリーンシートを所望の
大きさに切断してビアホールを形成し、このビアホール
の内壁に以下に示す方法で第1のタングステンペースト
の薄膜を形成する。なお、本実施例において使用した第
1のタングステンペーストは、粒径1μmのタングステ
ン粉末100gとエチルセルロース2gとテレピネオー
ル16mlとの混合物からなり、粘度は2万〜5万cp
sである。
大きさに切断してビアホールを形成し、このビアホール
の内壁に以下に示す方法で第1のタングステンペースト
の薄膜を形成する。なお、本実施例において使用した第
1のタングステンペーストは、粒径1μmのタングステ
ン粉末100gとエチルセルロース2gとテレピネオー
ル16mlとの混合物からなり、粘度は2万〜5万cp
sである。
【0014】図3参照 第1のタングステンペーストの薄膜をビアホール内壁に
形成するために、第3図に示すように、ビアホール2の
形成されたグリーンシート1を真空引き台11上に載置
し、真空引き台11とグリーンシート1との間に通気性
がよいがペーストを通さない特殊紙(例えば日東電工N
TF1026−P01)12を挟み、真空を引きながら
充填マスク13に入れた第1のタングステンペースト1
4をスキージー15で押し出す。
形成するために、第3図に示すように、ビアホール2の
形成されたグリーンシート1を真空引き台11上に載置
し、真空引き台11とグリーンシート1との間に通気性
がよいがペーストを通さない特殊紙(例えば日東電工N
TF1026−P01)12を挟み、真空を引きながら
充填マスク13に入れた第1のタングステンペースト1
4をスキージー15で押し出す。
【0015】図2(a)参照 真空引きすることによって、充填マスク13から押し出
された第1のタングステンペースト14はビアホール2
内に吸引され、ビアホール2の内壁に第1のタングステ
ンペーストの薄膜3が形成される。
された第1のタングステンペースト14はビアホール2
内に吸引され、ビアホール2の内壁に第1のタングステ
ンペーストの薄膜3が形成される。
【0016】図2(b)参照 充分に乾燥させた後、真空引きをしないで第2のタング
ステンペースト4をビアホール2内に充填する。本実施
例において使用した第2のタングステンペーストは、粒
径3μmのタングステン粉末100gとエチルセルロー
ス2gとテレフタル酸50gとテレピネオール16ml
との混合物よりなり、粘度は8万〜10万cpsであ
る。なお、混入されたテレフタル酸は、図2(b)にお
いて記号5をもって示してある。
ステンペースト4をビアホール2内に充填する。本実施
例において使用した第2のタングステンペーストは、粒
径3μmのタングステン粉末100gとエチルセルロー
ス2gとテレフタル酸50gとテレピネオール16ml
との混合物よりなり、粘度は8万〜10万cpsであ
る。なお、混入されたテレフタル酸は、図2(b)にお
いて記号5をもって示してある。
【0017】図2(c)参照 ビアホール2に第1と第2のタングステンペースト3・
4が充填された窒化アルミニウムグリーンシート1を8
層積層して積層体を形成し、この積層体を窒素ガス雰囲
気中において600℃の温度で16時間脱脂を実施し、
続いて同じく窒素ガス雰囲気中において1800℃の温
度で9時間焼成する。
4が充填された窒化アルミニウムグリーンシート1を8
層積層して積層体を形成し、この積層体を窒素ガス雰囲
気中において600℃の温度で16時間脱脂を実施し、
続いて同じく窒素ガス雰囲気中において1800℃の温
度で9時間焼成する。
【0018】図1(a)参照 焼成後のビアホール2の内部には、図1(a)に示すよ
うに、テレフタル酸が揮発してその跡に空孔9が形成さ
れた多孔質タングステン導体層6と緻密なタングステン
導体層8とが形成される。
うに、テレフタル酸が揮発してその跡に空孔9が形成さ
れた多孔質タングステン導体層6と緻密なタングステン
導体層8とが形成される。
【0019】図1(b)参照 ビアホール2の上に銅ペレットを載せ、還元性雰囲気中
において1130℃の温度で2時間熱処理を施し、多孔
質タングステン導体層6の空孔9に銅10を含浸する。
この結果、厚さ1.97mmの基板に形成された直径
0.17mmのビアホールに形成されたタングステン導
体の抵抗は5μΩ・cmであった。
において1130℃の温度で2時間熱処理を施し、多孔
質タングステン導体層6の空孔9に銅10を含浸する。
この結果、厚さ1.97mmの基板に形成された直径
0.17mmのビアホールに形成されたタングステン導
体の抵抗は5μΩ・cmであった。
【0020】以上、ビアホールに導体を形成する場合に
ついて述べたが、窒化アルミニウムセラミックス基板の
表面に導体パターンを形成する場合にも、同様にして密
着性が良好で、抵抗の低い導体パターンを形成すること
ができる。
ついて述べたが、窒化アルミニウムセラミックス基板の
表面に導体パターンを形成する場合にも、同様にして密
着性が良好で、抵抗の低い導体パターンを形成すること
ができる。
【0021】
【発明の効果】以上説明したとおり、本発明に係るセラ
ミックス多層基板の製造方法においては、多孔質高融点
金属導体層を直接窒化アルミニウムセラミックス基板に
接することなく、緻密な高融点金属導体層を介して形成
しているので、多孔質高融点金属導体層と窒化アルミニ
ウムセラミックス基板との密着性が向上し、また、多孔
質高融点金属導体層の空孔は窒化アルミニウムセラミッ
クス基板に接していないので、すべての空孔に銅が含浸
されて導体抵抗の低減が可能になる。
ミックス多層基板の製造方法においては、多孔質高融点
金属導体層を直接窒化アルミニウムセラミックス基板に
接することなく、緻密な高融点金属導体層を介して形成
しているので、多孔質高融点金属導体層と窒化アルミニ
ウムセラミックス基板との密着性が向上し、また、多孔
質高融点金属導体層の空孔は窒化アルミニウムセラミッ
クス基板に接していないので、すべての空孔に銅が含浸
されて導体抵抗の低減が可能になる。
【図1】窒化アルミニウムセラミックス基板のビアホー
ルに高融点金属導体を形成する工程図である。
ルに高融点金属導体を形成する工程図である。
【図2】窒化アルミニウムセラミックス基板のビアホー
ルに高融点金属導体を形成する工程図である。
ルに高融点金属導体を形成する工程図である。
【図3】ビアホール内壁に第1の高融点金属ペーストの
薄膜を形成する方法の説明図である。
薄膜を形成する方法の説明図である。
【図4】窒化アルミニウムセラミックス基板のビアホー
ルに高融点金属導体を形成する従来方法の説明図であ
る。
ルに高融点金属導体を形成する従来方法の説明図であ
る。
1 窒化アルミニウムグリーンシート 2 ビアホール 3 第1の高融点金属ペーストの薄膜 4 テレフタル酸が混入された第2の高融点金属ペー
スト 5 テレフタル酸 6 多孔質導体層 7 窒化アルミニウムセラミックス基板 8 緻密な導体層 9 空孔 10 銅 11 真空引き台 12 特殊紙 13 充填マスク 14 第1のタングステンペースト 15 スキージー
スト 5 テレフタル酸 6 多孔質導体層 7 窒化アルミニウムセラミックス基板 8 緻密な導体層 9 空孔 10 銅 11 真空引き台 12 特殊紙 13 充填マスク 14 第1のタングステンペースト 15 スキージー
Claims (2)
- 【請求項1】 窒化アルミニウムグリーンシート(1)
にビアホール(2)を形成し、 該ビアホール(2)の内壁にテレフタル酸末混入の第1
の高融点金属ペーストの薄膜(3)を形成し、 該第1の高融点金属ペーストの薄膜(3)が形成された
前記ビアホール(2)内に、テレフタル酸が混入され、
焼成後に多孔質高融点金属となる第2の高融点金属ペー
スト(4)を充填し、 該第2の高融点金属ペースト(4)の充填された前記窒
化アルミニウムグリーンシート(1)上に前記第1の高
融点金属ペーストと前記第2の高融点金属ペーストとを
順次印刷して導電パターンを形成し、 該導電パターンの形成された前記窒化アルミニウムグリ
ーンシート(1)の複数枚を積層して焼成し、 前記第2の高融点金属ペースト(4)が焼成されて形成
された多孔質高融点金属層(6)に銅を含浸させる工程
を有することを特徴とするセラミックス多層基板の製造
方法。 - 【請求項2】 緻密なセラミックス基板(7)の積層体
を貫通して形成されたビアホール(2)の内壁に緻密な
導体層(8)が形成され、 該内壁に緻密な導体層(8)が形成されているビアホー
ル(2)の内部に、多孔質導体層(6)中に銅(9)が
分散してなる充填材が充填されてなることを特徴とする
セラミックス多層基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22467993A JPH0786741A (ja) | 1993-09-09 | 1993-09-09 | セラミックス多層基板の製造方法及びセラミックス多層基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22467993A JPH0786741A (ja) | 1993-09-09 | 1993-09-09 | セラミックス多層基板の製造方法及びセラミックス多層基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0786741A true JPH0786741A (ja) | 1995-03-31 |
Family
ID=16817530
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22467993A Withdrawn JPH0786741A (ja) | 1993-09-09 | 1993-09-09 | セラミックス多層基板の製造方法及びセラミックス多層基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0786741A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100616061B1 (ko) * | 2004-09-03 | 2006-08-28 | 주식회사 아모텍 | 엘티씨씨 비아 연결 단자 제조방법 |
| WO2014106925A1 (ja) * | 2013-01-07 | 2014-07-10 | 株式会社アライドマテリアル | セラミック配線基板、半導体装置、およびセラミック配線基板の製造方法 |
-
1993
- 1993-09-09 JP JP22467993A patent/JPH0786741A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100616061B1 (ko) * | 2004-09-03 | 2006-08-28 | 주식회사 아모텍 | 엘티씨씨 비아 연결 단자 제조방법 |
| WO2014106925A1 (ja) * | 2013-01-07 | 2014-07-10 | 株式会社アライドマテリアル | セラミック配線基板、半導体装置、およびセラミック配線基板の製造方法 |
| CN104781928A (zh) * | 2013-01-07 | 2015-07-15 | 联合材料公司 | 陶瓷布线基板、半导体装置、及陶瓷布线基板的制造方法 |
| JPWO2014106925A1 (ja) * | 2013-01-07 | 2017-01-19 | 株式会社アライドマテリアル | セラミック配線基板、半導体装置、およびセラミック配線基板の製造方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20001128 |