JPH0787165A - 抽象試験ケース分割装置 - Google Patents
抽象試験ケース分割装置Info
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- JPH0787165A JPH0787165A JP5226879A JP22687993A JPH0787165A JP H0787165 A JPH0787165 A JP H0787165A JP 5226879 A JP5226879 A JP 5226879A JP 22687993 A JP22687993 A JP 22687993A JP H0787165 A JPH0787165 A JP H0787165A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 7
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 19
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- 238000012545 processing Methods 0.000 description 8
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- 238000012217 deletion Methods 0.000 description 6
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- Communication Control (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、TTCN.GRで記述された試験
系全体の抽象試験ケースからテスタごとのサブ試験ケー
スの分割を効率良く行なうための抽象試験ケース分割装
置を提供することを目的とする。 【構成】 本発明は、TTCN.GRを用いて記述した
抽象試験ケースから、テスタごとのイベントを抽出し、
インデントの付替、不要イベントの削除、サブ判定結果
の付加を行なうことを特徴とするものである。
系全体の抽象試験ケースからテスタごとのサブ試験ケー
スの分割を効率良く行なうための抽象試験ケース分割装
置を提供することを目的とする。 【構成】 本発明は、TTCN.GRを用いて記述した
抽象試験ケースから、テスタごとのイベントを抽出し、
インデントの付替、不要イベントの削除、サブ判定結果
の付加を行なうことを特徴とするものである。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、OSI(Open Systems
Interconnection)参照モデルの2つの(N)層プロト
コル実装情報通信端末間の(N)サービスの相互接続性
の試験を行う相互接続試験システムで使用するTTC
N.GR(Tree and Tabular CombinedNotation,Graphi
cal Form;ISO/IEC9646 ) で記述された試験系全体に対
する抽象試験ケースをテスタごとに分割する抽象試験ケ
ース分割装置の改良に関するものである。
Interconnection)参照モデルの2つの(N)層プロト
コル実装情報通信端末間の(N)サービスの相互接続性
の試験を行う相互接続試験システムで使用するTTC
N.GR(Tree and Tabular CombinedNotation,Graphi
cal Form;ISO/IEC9646 ) で記述された試験系全体に対
する抽象試験ケースをテスタごとに分割する抽象試験ケ
ース分割装置の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、TTCN.GR記述による抽象試
験ケースの分割方法としては、特願平5−2214号に
開示されている。この方法は、試験系全体に対する抽象
試験ケースを各テスタごとに分割し、判定結果のないサ
ブ試験ケースには、「パス(Pass:合格」の判定を
付加するというものである。
験ケースの分割方法としては、特願平5−2214号に
開示されている。この方法は、試験系全体に対する抽象
試験ケースを各テスタごとに分割し、判定結果のないサ
ブ試験ケースには、「パス(Pass:合格」の判定を
付加するというものである。
【0003】この方法では、単純にイベントの分離を行
っているので、複雑な抽象試験ケースに対して処理を行
った場合、矛盾した記述が現れることがある。例えばタ
イムアウト(Timeout)イベントが繰り返し現れ
たり、また、全く同じイベントのブロックが同一インデ
ントに繰り返し現れたりする。このように従来の抽象試
験ケース分割方法では、分割された試験ケースがTTC
N.GRに従った正しい記述とは必ずしもならないとい
う問題があった。また、上記方法による試験ケースの分
割後、人手により修正することも考えられるが専門的な
知識を必要とするため手間のかかる作業となる。
っているので、複雑な抽象試験ケースに対して処理を行
った場合、矛盾した記述が現れることがある。例えばタ
イムアウト(Timeout)イベントが繰り返し現れ
たり、また、全く同じイベントのブロックが同一インデ
ントに繰り返し現れたりする。このように従来の抽象試
験ケース分割方法では、分割された試験ケースがTTC
N.GRに従った正しい記述とは必ずしもならないとい
う問題があった。また、上記方法による試験ケースの分
割後、人手により修正することも考えられるが専門的な
知識を必要とするため手間のかかる作業となる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記の事情に
鑑みてなされたもので、TTCN.GRで記述された試
験系全体の抽象試験ケースを分割し、テスタごとのサブ
試験ケースの出力を効率良く行なうための抽象試験ケー
ス分割装置を提供することを目的とする。
鑑みてなされたもので、TTCN.GRで記述された試
験系全体の抽象試験ケースを分割し、テスタごとのサブ
試験ケースの出力を効率良く行なうための抽象試験ケー
ス分割装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、TTCN.GRを用いて記述した抽象試験
ケース内のイベントごとに検査し、同一インデントイベ
ントの抽出・削除を行なうことにより矛盾のないサブ試
験ケースに分割することを特徴とするものである。
するために、TTCN.GRを用いて記述した抽象試験
ケース内のイベントごとに検査し、同一インデントイベ
ントの抽出・削除を行なうことにより矛盾のないサブ試
験ケースに分割することを特徴とするものである。
【0006】
【作用】本発明は、OSI参照モデルの(N)層プロト
コル実装に対する相互接続試験装置用の抽象試験ケース
の作成において、TTCN.GRで記述した試験系全体
の抽象試験ケースからテスタごとのサブ試験ケースの分
割を自動生成することによりサブ試験ケースの作成を効
率化するものである。
コル実装に対する相互接続試験装置用の抽象試験ケース
の作成において、TTCN.GRで記述した試験系全体
の抽象試験ケースからテスタごとのサブ試験ケースの分
割を自動生成することによりサブ試験ケースの作成を効
率化するものである。
【0007】
【実施例】以下図面を参照して本発明の実施例を詳細に
説明する。図1は、本発明の一実施例にかかわる相互接
続試験システムのブロック図である。図において、10
はTTCN.GRで記述した試験系全体の抽象試験ケー
ス、11は本発明である抽象試験ケース分割装置、12
a,12bはテスタ[1],[2]用サブ試験ケース
[1],[2]、13a,13bは適合性試験スイート
作成装置[1],[2]、20はテストマネージャ、2
1は実行型結果判定テーブル、22は判定結果出力、2
3は結果判定テーブル、24a,24bは通信部
[1],[2]、30a,30bはテスタ[1],
[2]、31a,31bは実行型サブ試験ケース
[1],[2]、32a,32bはテスタ[1],
[2]用のタイマA,B、40a,40bはIUT
[1],[2]、50は下位レイヤ、60は試験チャネ
ルである。
説明する。図1は、本発明の一実施例にかかわる相互接
続試験システムのブロック図である。図において、10
はTTCN.GRで記述した試験系全体の抽象試験ケー
ス、11は本発明である抽象試験ケース分割装置、12
a,12bはテスタ[1],[2]用サブ試験ケース
[1],[2]、13a,13bは適合性試験スイート
作成装置[1],[2]、20はテストマネージャ、2
1は実行型結果判定テーブル、22は判定結果出力、2
3は結果判定テーブル、24a,24bは通信部
[1],[2]、30a,30bはテスタ[1],
[2]、31a,31bは実行型サブ試験ケース
[1],[2]、32a,32bはテスタ[1],
[2]用のタイマA,B、40a,40bはIUT
[1],[2]、50は下位レイヤ、60は試験チャネ
ルである。
【0008】試験系全体の抽象試験ケース10は抽象試
験ケース分割装置11によりテスタ[1]用サブ試験ケ
ース[1]12aとテスタ[2]用サブ試験ケース
[2]12bに分割され、それぞれ適合性試験スイート
作成装置(特願平5−28912号参照)[1]13a
と適合性試験スイート作成装置[2]13bにより実行
型サブ試験ケース[1]31aと実行型サブ試験ケース
[2]31bに変換され、テスタ[1]30aとテスタ
[2]30bに配置される。
験ケース分割装置11によりテスタ[1]用サブ試験ケ
ース[1]12aとテスタ[2]用サブ試験ケース
[2]12bに分割され、それぞれ適合性試験スイート
作成装置(特願平5−28912号参照)[1]13a
と適合性試験スイート作成装置[2]13bにより実行
型サブ試験ケース[1]31aと実行型サブ試験ケース
[2]31bに変換され、テスタ[1]30aとテスタ
[2]30bに配置される。
【0009】テスタ[1]30aおよびテスタ[2]3
0bは、テストマネージャ20からの指示により試験ケ
ースに従いIUT[1]40aおよびIUT[2]40
bに対して試験を実行する。
0bは、テストマネージャ20からの指示により試験ケ
ースに従いIUT[1]40aおよびIUT[2]40
bに対して試験を実行する。
【0010】IUT[1]40aとIUT[2]40b
は、下位レイヤ50に試験チャネル60を確立し相互動
作を行なう。試験実行後、各試験ケースの結果は通信部
[1]24aと通信部[2]24bを介してテストマネ
ージャ20に送られ、結果判定テーブル23に従った実
行型結果判定テーブル21により判定結果出力22が出
力される。
は、下位レイヤ50に試験チャネル60を確立し相互動
作を行なう。試験実行後、各試験ケースの結果は通信部
[1]24aと通信部[2]24bを介してテストマネ
ージャ20に送られ、結果判定テーブル23に従った実
行型結果判定テーブル21により判定結果出力22が出
力される。
【0011】図2は本発明の一実施例に係わる抽象試験
ケースの分割方法の例であり、本例は、IUT[1]か
らIUT[2]へのトランスポートコネクション(Tコ
ネクション)の確立要求、応答の試験のための試験ケー
スをTTCN.GRで記述したものである。
ケースの分割方法の例であり、本例は、IUT[1]か
らIUT[2]へのトランスポートコネクション(Tコ
ネクション)の確立要求、応答の試験のための試験ケー
スをTTCN.GRで記述したものである。
【0012】TTCN.GRの動作記述方法の基本は、
(制御・観測点)(送受信区別)(サービスプリミティ
ブ)の順番でサービスプリミティブの交換動作を記述す
ることである。「?」は受信、「!」は送信を表わす。
制御・観測点は本例では、IUT[1]の上位インタフ
ェース(上位サービスアクセス点(SAP)U1とIU
T[2]の上位インタフェースU2である。サービスプ
リミティブは試験対象の層で標準、例えばISOのIS
(International Standard)により決められている。ま
たタイマ操作にはStart(引数)、Cancel
(引数)があり引数としてタイマの種類を記述する。そ
の他の記述としてTimeoutがある。
(制御・観測点)(送受信区別)(サービスプリミティ
ブ)の順番でサービスプリミティブの交換動作を記述す
ることである。「?」は受信、「!」は送信を表わす。
制御・観測点は本例では、IUT[1]の上位インタフ
ェース(上位サービスアクセス点(SAP)U1とIU
T[2]の上位インタフェースU2である。サービスプ
リミティブは試験対象の層で標準、例えばISOのIS
(International Standard)により決められている。ま
たタイマ操作にはStart(引数)、Cancel
(引数)があり引数としてタイマの種類を記述する。そ
の他の記述としてTimeoutがある。
【0013】さらに判定結果102の欄には判定結果
(Pass(合格)、(Fail(失敗)、(Inco
nc(不確定))のいずれかを記述する。動作記述とし
ては、試験に用いる試験イベントが実行される時間順序
に従ってインデントを付けて記述される。そして、同じ
時間に2つ以上のイベントが起こる可能性がある場合、
同じインデントの位置に複数のイベントを記述する。
(Pass(合格)、(Fail(失敗)、(Inco
nc(不確定))のいずれかを記述する。動作記述とし
ては、試験に用いる試験イベントが実行される時間順序
に従ってインデントを付けて記述される。そして、同じ
時間に2つ以上のイベントが起こる可能性がある場合、
同じインデントの位置に複数のイベントを記述する。
【0014】ここで、100は試験系全体の抽象試験ケ
ース、101は動作記述、102は判定結果、103は
動作内容の説明、104はサブ試験ケースに分離後の該
当行の行き先、105はテスタ1用サブ試験ケース
[1]、106はテスタ2用サブ試験ケース[2]であ
る。なお、動作内容の説明103、サブ試験ケースに分
離後の該当行の行き先104は説明のために付加したも
ので本来の試験ケースでは記述しなくともよい。
ース、101は動作記述、102は判定結果、103は
動作内容の説明、104はサブ試験ケースに分離後の該
当行の行き先、105はテスタ1用サブ試験ケース
[1]、106はテスタ2用サブ試験ケース[2]であ
る。なお、動作内容の説明103、サブ試験ケースに分
離後の該当行の行き先104は説明のために付加したも
ので本来の試験ケースでは記述しなくともよい。
【0015】試験系全体の抽象試験ケース100から各
サブ試験ケースの生成の方法は、各IUTに関連するサ
ービスプリミティブ、この例ではU1がIUT[1]に
関するもの、U2がIUT[2]に関するものでありそ
れぞれIUT[1]用およびIUT[2]用に分離す
る。タイマ操作、この例ではタイマAがIUT[1]に
関するもの、タイマBがIUT[2]に関するものであ
り、これらに対するStart、Cancel、Tim
eoutに対しての記述はそれぞれ各サブ試験ケース
[1]、[2]に分離する。分離したものを元の各行の
順序は変えずに記述したものを各サブ試験ケース[1]
105および[2]106とする。
サブ試験ケースの生成の方法は、各IUTに関連するサ
ービスプリミティブ、この例ではU1がIUT[1]に
関するもの、U2がIUT[2]に関するものでありそ
れぞれIUT[1]用およびIUT[2]用に分離す
る。タイマ操作、この例ではタイマAがIUT[1]に
関するもの、タイマBがIUT[2]に関するものであ
り、これらに対するStart、Cancel、Tim
eoutに対しての記述はそれぞれ各サブ試験ケース
[1]、[2]に分離する。分離したものを元の各行の
順序は変えずに記述したものを各サブ試験ケース[1]
105および[2]106とする。
【0016】各サブ試験ケースの判定結果は元の抽象試
験ケースにあるものはそのまま記述し、タイマ操作を除
く到達可能な最終状態での元の抽象試験ケースでは記述
されないものについては全て合格(Pass)を付加す
る。この例では、テスタ2用サブ試験ケース[2]10
6のPass(107)の記述がこれにあたる。
験ケースにあるものはそのまま記述し、タイマ操作を除
く到達可能な最終状態での元の抽象試験ケースでは記述
されないものについては全て合格(Pass)を付加す
る。この例では、テスタ2用サブ試験ケース[2]10
6のPass(107)の記述がこれにあたる。
【0017】図3は、本発明の一実施例に係わる試験系
全体の抽象試験ケースの例である。本例は、IUT
[1]からIUT[2]へのトランスポートコネクショ
ン(Tコネクション)の確立、開放の試験のための試験
ケースをTTCN.GRで記述したものである。
全体の抽象試験ケースの例である。本例は、IUT
[1]からIUT[2]へのトランスポートコネクショ
ン(Tコネクション)の確立、開放の試験のための試験
ケースをTTCN.GRで記述したものである。
【0018】図4は、本発明の一実施例に係わる図3の
抽象試験ケースを図2に示す方法によりサブ試験ケース
に分割した例である。本例にはTTCN.GR記述とし
て不自然な記述が現れている。テスタ1用サブ試験ケー
ス[1]においては、Timeoutイベントが10
7,108で示すように繰り返されている。Timeo
utイベントは、「タイマがタイムアウトとなると同時
にタイマをリセットする。」というイベントであるため
繰り返されるものではない。また、テスタ2用サブ試験
ケース[2]においては、全く同じイベントのブロック
が109,110に示すように同一インデント上に現れ
ている。つまりイベントのブロック110は余分な記述
ということになる。
抽象試験ケースを図2に示す方法によりサブ試験ケース
に分割した例である。本例にはTTCN.GR記述とし
て不自然な記述が現れている。テスタ1用サブ試験ケー
ス[1]においては、Timeoutイベントが10
7,108で示すように繰り返されている。Timeo
utイベントは、「タイマがタイムアウトとなると同時
にタイマをリセットする。」というイベントであるため
繰り返されるものではない。また、テスタ2用サブ試験
ケース[2]においては、全く同じイベントのブロック
が109,110に示すように同一インデント上に現れ
ている。つまりイベントのブロック110は余分な記述
ということになる。
【0019】図5は、本発明の一実施例に係わる図4の
サブ試験ケースを修正した例である。即ち、図4におい
て、テスタ1用サブ試験ケース[1]の動作記述からT
imeoutイベント107,108を削除し、テスタ
2用サブ試験ケース[2]の動作記述からイベントのブ
ロック110を削除したものである。
サブ試験ケースを修正した例である。即ち、図4におい
て、テスタ1用サブ試験ケース[1]の動作記述からT
imeoutイベント107,108を削除し、テスタ
2用サブ試験ケース[2]の動作記述からイベントのブ
ロック110を削除したものである。
【0020】図6は、本発明の一実施例に係わる抽象試
験ケース分割装置のブロック図である。図において70
はTTCN.GRで記述した試験系全体の抽象試験ケー
ス、71はテスタ情報、80は抽象試験ケース分割装
置、81はイベント解釈部、82a,82bはテスタ
[1],[2]イベント抽出部、83a,83bはSt
art−受信イベント関連解釈部[1],[2]、84
a,84bはインデント付替部[1],[2]、85
a,85bは同一インデントイベント検査・削除部
[1],[2]、86a,86bはTimeoutイベ
ント検査・削除部[1],[2]、87a,87bは判
定結果検査・付加部[1],[2]、88a,88bは
サブ試験ケース検査部[1],[2]、89a,89b
はサブ試験ケース出力部[1],[2]、90a,90
bはテスタ[1],[2]用抽象試験ケース、91a,
91bは試験ケースエラー[1],[2]である。
験ケース分割装置のブロック図である。図において70
はTTCN.GRで記述した試験系全体の抽象試験ケー
ス、71はテスタ情報、80は抽象試験ケース分割装
置、81はイベント解釈部、82a,82bはテスタ
[1],[2]イベント抽出部、83a,83bはSt
art−受信イベント関連解釈部[1],[2]、84
a,84bはインデント付替部[1],[2]、85
a,85bは同一インデントイベント検査・削除部
[1],[2]、86a,86bはTimeoutイベ
ント検査・削除部[1],[2]、87a,87bは判
定結果検査・付加部[1],[2]、88a,88bは
サブ試験ケース検査部[1],[2]、89a,89b
はサブ試験ケース出力部[1],[2]、90a,90
bはテスタ[1],[2]用抽象試験ケース、91a,
91bは試験ケースエラー[1],[2]である。
【0021】TTCN.GRで記述した試験系全体の抽
象試験ケース70は抽象試験ケース分割装置80に入力
され、まずイベント解釈部81でテスタ情報(各テスタ
で使用するPCO名・タイマ種別)71によりテスタ
[1]イベント、テスタ[2]イベントに区分される。
その出力からテスタ[1],[2]イベント抽出部82
a,82bはテスタ[1],[2]イベントのみを抽出
し、Start−受信イベント関連解釈部[1],
[2]83a,83bに送る。Start−受信イベン
ト関連解釈部[1],[2]83a,83bでは各St
artイベントに対応する受信イベントの検査を行な
い、その結果を元にインデント付替部[1],[2]8
4a,84bでインデントの付替を行なう。同一インデ
ントイベント検査・削除部[1],[2]85a,85
bでは同一インデントイベントを検査し、同じイベント
を検出した場合、後のイベントを削除する。また、Ti
meoutイベント検査・削除部[1],[2]86
a,86bではTimeoutイベントの検査を行ない
Timeoutイベントが繰り返されている場合、後の
イベントを削除する。その出力に対し判定結果検査・付
加部[1],[2]87a,87bは判定結果の検査を
行ないTimeoutイベントを除く最終受信イベント
の内「Pass」判定のないイベントに対して仮の「P
ass」判定を付加する。
象試験ケース70は抽象試験ケース分割装置80に入力
され、まずイベント解釈部81でテスタ情報(各テスタ
で使用するPCO名・タイマ種別)71によりテスタ
[1]イベント、テスタ[2]イベントに区分される。
その出力からテスタ[1],[2]イベント抽出部82
a,82bはテスタ[1],[2]イベントのみを抽出
し、Start−受信イベント関連解釈部[1],
[2]83a,83bに送る。Start−受信イベン
ト関連解釈部[1],[2]83a,83bでは各St
artイベントに対応する受信イベントの検査を行な
い、その結果を元にインデント付替部[1],[2]8
4a,84bでインデントの付替を行なう。同一インデ
ントイベント検査・削除部[1],[2]85a,85
bでは同一インデントイベントを検査し、同じイベント
を検出した場合、後のイベントを削除する。また、Ti
meoutイベント検査・削除部[1],[2]86
a,86bではTimeoutイベントの検査を行ない
Timeoutイベントが繰り返されている場合、後の
イベントを削除する。その出力に対し判定結果検査・付
加部[1],[2]87a,87bは判定結果の検査を
行ないTimeoutイベントを除く最終受信イベント
の内「Pass」判定のないイベントに対して仮の「P
ass」判定を付加する。
【0022】以上の操作終了後、サブ試験ケース検査部
[1],[2]88a,88bによりサブ試験ケースの
検査を行ない、異常がない場合はサブ試験ケース出力部
[1],[2]89a,89bによりテスタ[1],
[2]用抽象試験ケース90a,90bとして出力され
る。異常がある場合は、試験ケースエラー[1],
[2]91a,91bを出力する。
[1],[2]88a,88bによりサブ試験ケースの
検査を行ない、異常がない場合はサブ試験ケース出力部
[1],[2]89a,89bによりテスタ[1],
[2]用抽象試験ケース90a,90bとして出力され
る。異常がある場合は、試験ケースエラー[1],
[2]91a,91bを出力する。
【0023】図7(a)は図6のテスタ情報71の一例
である。この情報を元に試験系全体の抽象試験ケースを
テスタごとに分割する。図7(b)は図6のStart
−受信イベント関連解釈部[1],[2]83a,83
bの処理フローである。ここでは、各Startイベン
トに対応する受信イベントの検出を行い複数のイベント
が対応している場合、それらのイベントを同一インデン
ト受信イベントとして検出する。
である。この情報を元に試験系全体の抽象試験ケースを
テスタごとに分割する。図7(b)は図6のStart
−受信イベント関連解釈部[1],[2]83a,83
bの処理フローである。ここでは、各Startイベン
トに対応する受信イベントの検出を行い複数のイベント
が対応している場合、それらのイベントを同一インデン
ト受信イベントとして検出する。
【0024】図8は図6のインデント付替部[1],
[2]84a,84bの処理フローである。ここでは、
Start−受信イベント関連解釈部[1],[2]8
3a,83bで検出した同一インデント受信イベントに
よりインデントの付替を行う。最初のイベントから順番
に1文字ずつインデントを付けていき、同一インデント
受信イベントがある場合にはそれらのインデントを揃
え、以降のイベントのインデントを付け替えていく。
[2]84a,84bの処理フローである。ここでは、
Start−受信イベント関連解釈部[1],[2]8
3a,83bで検出した同一インデント受信イベントに
よりインデントの付替を行う。最初のイベントから順番
に1文字ずつインデントを付けていき、同一インデント
受信イベントがある場合にはそれらのインデントを揃
え、以降のイベントのインデントを付け替えていく。
【0025】図9は図6の判定結果検査・付加部
[1],[2]87a,87bの処理フローである。こ
こでは、「Pass」判定の無い試験ケースに対して仮
の「Pass」判定を付加する。「Pass」判定の無
い試験ケースのTimeoutイベントを除く最終受信
イベントの判定結果を検査し、判定が全て「Fail」
であれば1つ前の受信イベントの検査を行う。判定が全
て「Fail」でなければ「Fail」以外の受信イベ
ントに対し全て「Pass」判定を付加する。
[1],[2]87a,87bの処理フローである。こ
こでは、「Pass」判定の無い試験ケースに対して仮
の「Pass」判定を付加する。「Pass」判定の無
い試験ケースのTimeoutイベントを除く最終受信
イベントの判定結果を検査し、判定が全て「Fail」
であれば1つ前の受信イベントの検査を行う。判定が全
て「Fail」でなければ「Fail」以外の受信イベ
ントに対し全て「Pass」判定を付加する。
【0026】図10は図6のサブ試験ケース検査部
[1],[2]88a,88bの処理フローである。イ
ンデント検査ではインデントが正しく付けられているか
どうかを検査し正しくない場合はインデント付替部
[1],[2]84a,84bからの処理を再実行す
る。同一インデント検査では同一インデントに矛盾した
記述がないかどうかを検査し正しくない場合は抽象試験
ケースエラーとして出力する。タイマ検査ではタイマイ
ベントの記述に矛盾がないかどうかを検査し正しくない
場合は抽象試験ケースエラーとして出力する、判定結果
検査では判定結果が正しく与えられているかどうかを検
査し正しくない場合は判定結果検査・付加部[1],
[2]87a,87bからの処理を再実行する。
[1],[2]88a,88bの処理フローである。イ
ンデント検査ではインデントが正しく付けられているか
どうかを検査し正しくない場合はインデント付替部
[1],[2]84a,84bからの処理を再実行す
る。同一インデント検査では同一インデントに矛盾した
記述がないかどうかを検査し正しくない場合は抽象試験
ケースエラーとして出力する。タイマ検査ではタイマイ
ベントの記述に矛盾がないかどうかを検査し正しくない
場合は抽象試験ケースエラーとして出力する、判定結果
検査では判定結果が正しく与えられているかどうかを検
査し正しくない場合は判定結果検査・付加部[1],
[2]87a,87bからの処理を再実行する。
【0027】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、TT
CN.GRで記述した試験系全体の抽象試験ケースをテ
スタごとに自動的に分割することにより、相互接続試験
装置で使用できる試験ケースを効果的に提供できるとい
う利点がある。
CN.GRで記述した試験系全体の抽象試験ケースをテ
スタごとに自動的に分割することにより、相互接続試験
装置で使用できる試験ケースを効果的に提供できるとい
う利点がある。
【図1】本発明の一実施例に係わる相互接続試験システ
ムを示すブロック図である。
ムを示すブロック図である。
【図2】本発明の一実施例に係わる抽象試験ケースの分
割方法の一例を示す構成説明図である。
割方法の一例を示す構成説明図である。
【図3】本発明の一実施例に係わる試験系全体の抽象試
験ケースの一例を示す構成説明図である。
験ケースの一例を示す構成説明図である。
【図4】本発明の一実施例に係わる図3の抽象試験ケー
スを図2に示す方法によりサブ試験ケースに分割した一
例を示す構成説明図である。
スを図2に示す方法によりサブ試験ケースに分割した一
例を示す構成説明図である。
【図5】本発明の一実施例に係わる図4のサブ試験ケー
スを修正した一例を示す構成説明図である。
スを修正した一例を示す構成説明図である。
【図6】本発明の一実施例に係わる抽象試験ケース分割
装置のブロック図である。
装置のブロック図である。
【図7】本発明の一実施例に係わるテスタ情報の一例を
示す構成説明図とStart−受信イベント関連解釈部
の処理フローを示すフローチャートである。
示す構成説明図とStart−受信イベント関連解釈部
の処理フローを示すフローチャートである。
【図8】本発明の一実施例に係わるインデント付替部の
処理フローを示すフローチャートである。
処理フローを示すフローチャートである。
【図9】本発明の一実施例に係わる判定結果検査・付加
部の処理フローを示すフローチャートである。
部の処理フローを示すフローチャートである。
【図10】本発明の一実施例に係わるサブ試験ケース検
査部の処理フローを示すフローチャートである。
査部の処理フローを示すフローチャートである。
10…TTCN.GRで記述した試験系全体の抽象試験
ケース、11…抽象試験ケース分割装置、12a…テス
タ[1]用サブ試験ケース[1]、12b…テスタ
[2]用サブ試験ケース[2]、13a…適合性試験ス
イート作成装置[1]、13b…適合性試験スイート作
成装置[2]、20…テストマネージャ、21…実行型
結果判定テーブル、22…判定結果出力、23…結果判
定テーブル、24a…通信部[1]、24b…通信部
[2]、30a…テスタ[1]、30b…テスタ
[2]、31a…実行型サブ試験ケース[1]、31b
…実行型サブ試験ケース[2]、32a…タイマA、3
2b…タイマB、40a…IUT[1]、40b…IU
T[2]、50…下位レイヤ、60…試験チャネル、7
0…TTCN.GRで記述した試験系全体の抽象試験ケ
ース、71…テスタ情報、80…抽象試験ケース分割装
置、81…イベント解釈部、82a…テスタ[1]イベ
ント抽出部、82b…テスタ[2]イベント抽出部、8
3a…Start−受信イベント関連解釈部[1]、8
3b…Start−受信イベント関連解釈部[2]、8
4a…インデント付替部[1]、84b…インデント付
替部[2]、85a…同一インデントイベント検査・削
除部[1]、85b…同一インデントイベント検査・削
除部[2]、86a…Timeout検査・削除部
[1]、86b…Timeoutイベント検査・削除部
[2]、87a…判定結果検査・付加部[1]、87b
…判定結果検査・付加部[2]、88a…サブ試験ケー
ス検査部[1]、88b…サブ試験ケース検査部
[2]、89a…サブ試験ケース出力部[1]、89b
…サブ試験ケース出力部[2]、90a…テスタ用
[1]抽象試験ケース、90b…テスタ[2]用抽象試
験ケース、91a…試験ケースエラー[1]、91b…
試験ケースエラー[2]。
ケース、11…抽象試験ケース分割装置、12a…テス
タ[1]用サブ試験ケース[1]、12b…テスタ
[2]用サブ試験ケース[2]、13a…適合性試験ス
イート作成装置[1]、13b…適合性試験スイート作
成装置[2]、20…テストマネージャ、21…実行型
結果判定テーブル、22…判定結果出力、23…結果判
定テーブル、24a…通信部[1]、24b…通信部
[2]、30a…テスタ[1]、30b…テスタ
[2]、31a…実行型サブ試験ケース[1]、31b
…実行型サブ試験ケース[2]、32a…タイマA、3
2b…タイマB、40a…IUT[1]、40b…IU
T[2]、50…下位レイヤ、60…試験チャネル、7
0…TTCN.GRで記述した試験系全体の抽象試験ケ
ース、71…テスタ情報、80…抽象試験ケース分割装
置、81…イベント解釈部、82a…テスタ[1]イベ
ント抽出部、82b…テスタ[2]イベント抽出部、8
3a…Start−受信イベント関連解釈部[1]、8
3b…Start−受信イベント関連解釈部[2]、8
4a…インデント付替部[1]、84b…インデント付
替部[2]、85a…同一インデントイベント検査・削
除部[1]、85b…同一インデントイベント検査・削
除部[2]、86a…Timeout検査・削除部
[1]、86b…Timeoutイベント検査・削除部
[2]、87a…判定結果検査・付加部[1]、87b
…判定結果検査・付加部[2]、88a…サブ試験ケー
ス検査部[1]、88b…サブ試験ケース検査部
[2]、89a…サブ試験ケース出力部[1]、89b
…サブ試験ケース出力部[2]、90a…テスタ用
[1]抽象試験ケース、90b…テスタ[2]用抽象試
験ケース、91a…試験ケースエラー[1]、91b…
試験ケースエラー[2]。
Claims (1)
- 【請求項1】 OSI(Open Systems Interconnectio
n)参照モデルの2つの(N)層プロトコル実装情報通
信端末間の(N)サービスの相互接続性の試験を行う相
互接続試験システムで使用するTTCN.GR(Tree a
nd Tabular Combined Notation,Graphical Form;ISO/IE
C9646 ) で記述された試験系全体に対する抽象試験ケー
スをテスタごとに分割する抽象試験ケース分割装置にお
いて、 発生イベントの順序を変更せずにインデントの付替を行
う手段と、 同一インデントにおける発生イベントから不要となるイ
ベントを検出し、削除する手段と、 「パス」の判定の無い試験ケースに対して仮の「パス」
の判定を付加する手段とを具備することを特徴とする抽
象試験ケース分割装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5226879A JPH0815281B2 (ja) | 1993-09-13 | 1993-09-13 | 抽象試験ケース分割装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5226879A JPH0815281B2 (ja) | 1993-09-13 | 1993-09-13 | 抽象試験ケース分割装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0787165A true JPH0787165A (ja) | 1995-03-31 |
| JPH0815281B2 JPH0815281B2 (ja) | 1996-02-14 |
Family
ID=16852009
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5226879A Expired - Lifetime JPH0815281B2 (ja) | 1993-09-13 | 1993-09-13 | 抽象試験ケース分割装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0815281B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100403264C (zh) * | 2001-11-07 | 2008-07-16 | 华为技术有限公司 | Ttcn测试用例执行方法 |
-
1993
- 1993-09-13 JP JP5226879A patent/JPH0815281B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100403264C (zh) * | 2001-11-07 | 2008-07-16 | 华为技术有限公司 | Ttcn测试用例执行方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0815281B2 (ja) | 1996-02-14 |
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