JPH078785U - Ｉｃデバイス搬送トレイを用いたｉｃハンドラ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＩＣデバイス搬送トレイを用いたＩＣハンド
ラにおいて、ＩＣデバイス運搬用のカスタマトレイから
テスト用のテストトレイにＩＣを移し換える時間を短縮
してテスト効率を向上させるＩＣハンドラを提供するこ
とを目的としている。 【構成】 上記目的を達成するために、本考案は、従来
のテストトレイに換え、新型のカスタマトレイを収納す
るフレームだけの搬送枠とし、カスタマトレイは格納さ
れたＩＣデバイスの入出力ピンの下に穴を開けた構成と
してカスタマトレイ自身を搬送枠に挿入し、搬送枠が測
定部に到達したとき測定用ソケットとコンタクトし、Ｉ
Ｃテスタで被測定ＩＣデバイスをテストできる構成とす
る。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

この考案は、被測定ＩＣデバイスがテストトレイに格納されて、水平に搬送さ れ、測定部でテストされるＩＣデバイス搬送トレイを用いたＩＣハンドラに関す る。

【０００２】

【従来の技術】

ＩＣハンドラには、被測定ＩＣデバイスをテストトレイに格納しＩＣハンドラ 内で水平に搬送させて測定部の位置で測定用ソケットと電気的に接続し、ＩＣテ スタを用いてテストを行う方式のものと、ＩＣデバイスの自重で滑らせながらソ ケットに挿入し、テストを行う方式のものとがある。本考案は、前者の被測定Ｉ Ｃデバイスをテストトレイに格納し水平に搬送させてテストする方式で、特にテ ストトレイとカスタマトレイに関する考案である。

【０００３】 図３に従来のテストトレイ１０とカスタマトレイ２０の一例を図示する。被測 定ＩＣデバイス３０は、外部より運搬用のカスタマトレイ２０に格納されてテス ト室に運ばれてくる。この被測定ＩＣデバイス３０は、テストトレイ１０に移さ れ、テストトレイ１０はＩＣハンドラ内をベルトにより或いはレール上を水平に 移動して測定部の測定用ソケット３０の位置に達して被測定ＩＣデバイス３０を ＩＣテスタでテストし、良否を判別する。良否を判別されたＩＣデバイス３０は 、それぞれテスト結果のカテゴリー別に区分されてカスタマトレイ２０に収納さ れ、テストトレイ１０は最初の位置に戻る。

【０００４】 ここで問題になるのは、被測定ＩＣデバイス３０がカスタマトレイ２０からテ ストトレイ１０に１つずつ移されることである。手袋をした人手で１つ１つ移す か、図示していないが、吸着マニュピュレータでカスタマトレイ２０から被測定 ＩＣデバイス３０を１つ１つ吸い上げてテストトレイ１０に自動的に移したりす るが、いずれにしても時間がかかりすぎる。また、移し換えるときに被測定ＩＣ デバイス３０にダメージを与えるおそれもある。

【０００５】

【考案が解決しようとする課題】

本考案は、上記の両トレイに着眼し、速やかに、安全に移動させ、テスト稼動 時間を多くし、テストコストを削減するにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】

上記目的を達成するために、本考案は従来のテストトレイ１０を搬送枠１１即 ち本考案のカスタマトレイ２１を収納するフレームだけのものとし、この中に被 測定ＩＣデバイス３０を格納して運搬されてきた本考案のカスタマトレイ２１を はめ込み、カスタマトレイ２１と従来のテストトレイ１０に代わる搬送枠１１と が一体となり、ＩＣハンドラ内を循環させてテストさせるようにする。

【０００７】

【実施例】

本考案の実施例を図１及び図２に基づいて説明する。

【０００８】 図１に、従来のテストトレイ１０に代わるフレームのみで構成された搬送枠１ １と搬送枠１１の内部にはめ込まれる本考案のカスタマトレイ２１の一実施例を 示す。

【０００９】 搬送枠１１は、テストトレイ２１を複数個収納できる大きさとして、ＩＣハン ドラの搬送機構に連続して繋がる構成とする。そして搬送枠１１の幅Ｘ、長さＹ 、高さＺの寸法は一定とし、カストマトレイ２１を挿入する収納穴は、底辺に突 っ張りが有ってカスタマトレイ２１を支える構造とし、上辺にはカスタマトレイ ２１を抑えて安定させるための鉤等を付ける。カスタマトレイ２１の位置決めの ためには搬送枠１１の底辺または側面の外形で決めてもよいが、搬送枠１１にピ ンを付けカスタマトレイ２１にピン受けを設けて勘合する決め方が確実に位置決 めができる。

【００１０】 運搬用のカスタマトレイ２１の外形は搬送枠１１に丁度入る大きさ、形状とす る。カスタマトレイ２１にはＩＣデバイス格納室２２が複数行、複数列で整然と 並んで有り、その中にＩＣデバイス３０を格納する。そしてカスタマトレイ２１ のＩＣデバイス格納室２２の底辺は、ＩＣデバイス３０の入出力ピン３１の真下 に穴を開けている構造とし、テストの際に測定用ソケット３５のコンタクタ３６ が入出力ピン３１と電気的に接続できるようにする。カスタマトレイ２１が、外 部より運搬されてテスト室で被測定ＩＣデバイス３０をテストする際に、従来は ＩＣデバイス３０を１つ１つテストトレイに移し換えていたが、本考案はカスタ マトレイ２１そのものを搬送枠１１に位置決めして収納すればよい。

【００１１】 搬送枠１１がＩＣハンドラ内を搬送機構により水平に搬送されて、測定部のテ スト位置に到達すると、図２に示すようにコンタクタ３６を有する測定用ソケッ ト３５が下方から上方に突き上げてきて、コンタクタ３６と被測定ＩＣデバイス ３０の入出力ピン３１が電気的に接続される。測定用ソケット３５は、図示して いないがＩＣテスタと接続しており、ここで被測定ＩＣデバイスのテストが開始 する。テストが終了すると測定用ソケット３５は、再び下降し元の位置に戻る。 測定用ソケット３５が元の位置に戻ると、搬送枠１１は移動し、次の被測定ＩＣ デバイス３０の測定準備に移る。このようにして、被測定ＩＣデバイスを順次測 定しながら、搬送枠１１はＩＣハンドラ内を搬送機構により循環する。この循環 の過程で、測定されたＩＣデバイス３０は、測定データに基ずくカテゴリー別に 分類される。

【００１２】

【考案の効果】

以上説明したように、本考案は運搬用のカスタマトレイ２１をそのままテスト トレイ１０の一部として利用するので、被測定ＩＣデバイスを１つ１つ移し換え る必要がなく、カスタマトレイ２１のまま、搬送枠１１にはめ込めばよい。従っ て、その移動は簡単で、短時間で安全に移動できる。そこでテスト準備時間を短 縮でき、テストの稼動時間が多く取れ、テストコストを削減することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例の図である。

【図２】本考案の測定部における実施例の図である。

【図３】従来のテストトレイおよびカスタマトレイの概
略図である。

【符号の説明】

１０ 従来のテストトレイ １１ 搬送枠 ２０ 従来のカスタマトレイ ２１ 本考案のカスタマトレイ ２２ ＩＣデバイス格納室 ３０ ＩＣデバイス ３１ 入出力ピン ３５ 測定用ソケット ３６ コンタクタ

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項】 カスタマトレイ（２１）を収納する搬送枠
   （１１）を連結してＩＣハンドラ内を循環するＩＣデバ
   イス搬送機構と、 ＩＣデバイス格納室（２２）を複数行、複数列有し、該
   ＩＣデバイス格納室（２２）に格納されたＩＣデバイス
   （３０）の入出力ピン（３１）の下方に穴を開けられた
   構造をもつカストマトレイ（２１）と、 該カストマトレイ（２１）を収納した該搬送枠（１１）
   が測定部に到達したとき測定用ソケット（３５）でＩＣ
   デバイス（３０）をテストする機構と、 を有することを特徴とするＩＣデバイス搬送トレイを用
   いたＩＣハンドラ。