JPH08106779A - 半導体記憶装置及び半導体記憶装置におけるシリアルデータ読み出し方法 - Google Patents

半導体記憶装置及び半導体記憶装置におけるシリアルデータ読み出し方法

Info

Publication number
JPH08106779A
JPH08106779A JP6243134A JP24313494A JPH08106779A JP H08106779 A JPH08106779 A JP H08106779A JP 6243134 A JP6243134 A JP 6243134A JP 24313494 A JP24313494 A JP 24313494A JP H08106779 A JPH08106779 A JP H08106779A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
output
serial
common bus
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP6243134A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiyuki Ishida
喜幸 石田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu VLSI Ltd, Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu VLSI Ltd
Priority to JP6243134A priority Critical patent/JPH08106779A/ja
Priority to US08/533,788 priority patent/US5617368A/en
Priority to KR1019950034264A priority patent/KR0182341B1/ko
Publication of JPH08106779A publication Critical patent/JPH08106779A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1075Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for multiport memories each having random access ports and serial ports, e.g. video RAM

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】回路面積の増大を抑えることのできる半導体記
憶装置を提供する。 【構成】RAM用コモンバスCBにはラッチ回路12が
接続されている。ラッチ回路12には、初期アドレスに
応じてメモリセルアレイ1から読み出されたデータが入
力される。ラッチ回路12は、その入力したデータをラ
ッチするとともに、SAM用コモンバスドライバ10へ
出力する。コモンバスドライバ10は、初期アドレスの
場合にはラッチ回路12から出力されるデータを選択
し、初期アドレスの次のアドレス以降のアドレスの場合
にはSAM用センスバッファ9から出力されるデータを
選択し、その選択したデータに基づいて出力バッファ1
1を介してシリアル出力データSD1 を出力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体記憶装置及び半導
体記憶装置におけるシリアルデータ読み出し方法に係
り、詳しくは画像メモリ(VRAM:Video Random Acc
ess Memory)に関するものである。
【0002】近年、TV,VTRや、パーソナルコンピ
ュータ等のコンピュータシステムによる画像表示システ
ムにおいて、グラフィックディスプレイの高機能化、高
性能化が急速に進められている。このような画像表示シ
ステムにおいては、高解像度化、表示色の多色化が要求
されている。そのため、大容量,高速,高機能のVRA
Mが必要とされている。
【0003】
【従来の技術】図6は、一般的なVRAMの構成を示す
ブロック回路図である。VRAMには、ランダムアクセ
スが可能なRAM部31と、シリアルアクセスが可能な
SAM部41とが設けられている。RAM部31は、メ
モリセルアレイ32、入力回路33、コラムアドレスバ
ッファ34、ロウアドレスバッファ35、ロウデコーダ
36、コラムデコーダ37、センスアンプ38、RAM
用入出力バッファ39により構成されている。SAM部
41は、シリアルレジスタ42、転送ゲート43、転送
制御回路44、シリアルアドレスカウンタ45、シリア
ルデコーダ46、SAM用入出力バッファ47により構
成されている。
【0004】メモリセルアレイ32は、一般的なDRA
M(Dymanic Random Access Memory)と同様に、二次元
配列されたメモリセルから構成され、各メモリセルに
は、1ビットの情報が記憶される。
【0005】入力回路33は、外部から各種信号(例え
ばロウアドレスストローブ信号バーRAS等)を入力
し、各種信号に基づいて各種活性化信号及び各種制御信
号を生成し出力する。
【0006】外部からのアドレス信号A0 〜A8 は、コ
ラムアドレスバッファ34及びロウアドレスバッファ3
5に入力される。ロウアドレスバッファ35は、ロウア
ドレスストローブ信号(以下、単にロウ信号という)バ
ーRASに基づいて入力したアドレス信号A0 〜A8 を
ラッチするとともに、ロウアドレス信号RA0 〜RA8
としてロウデコーダ36へ出力する。ロウデコーダ36
は、入力したロウアドレス信号RA0 〜RA8 に基づい
て1本のワード線WLを選択する。そして、選択されたワ
ード線WLに接続されたメモリセルに記憶されたデータが
各ビット線対BL,バーBLに読み出される。
【0007】コラムアドレスバッファ34は、コラムア
ドレスストローブ信号(以下、単にコラム信号という)
バーCASに基づいて入力したアドレス信号A0 〜A8
をラッチするとともに、コラムアドレス信号CA0 〜C
A8 としてコラムデコーダ37へ出力する。コラムデコ
ーダ37は、入力したコラムアドレス信号CA0 〜CA
8 に基づいてビット線BL及び反転ビット線バーBLを選択
する。そして、その選択されたワード線WLとビット線対
BL,バーBLとの交点のメモリセルが決定される。その決
定されたメモリセルには、外部装置からRAM用入出力
バッファ39を介して入力データD1 〜D8 が書き込ま
れる。また、決定されたメモリセルに記憶されたデータ
は、センスアンプ38により増幅され、コモンバスC
B、入出力バッファ39を介して外部装置へ出力データ
D1 〜D8 として出力される。
【0008】シリアルレジスタ42はレジスタにより構
成され、各レジスタは転送ゲート43を介してメモリセ
ルアレイ32のビット線対BL,バーBLに接続されてい
る。転送ゲート43は、入力回路33により生成される
制御信号を入力する転送制御回路44によりオン・オフ
制御され、メモリセルアレイ32に記憶されたデータの
うち、一本のワード線WLに接続されたメモリセルのデー
タがシリアルレジスタ42に転送され、記憶される。こ
のメモリセルアレイ32からシリアルレジスタ42への
転送をリード転送という。
【0009】また、シリアルレジスタ42に記憶された
データが、転送ゲート43を介してメモリセルアレイ3
2に転送され、一本のワード線WLに接続されたメモリセ
ルに記憶される。このシリアルレジスタ42からメモリ
セルアレイ32への転送をライト転送という。
【0010】そして、このリード転送とライト転送は、
ロウ信号バーRASとライトイネーブル信号バーWEと
に基づいて決定される。即ち、ロウ信号バーRASが立
ち下がるときにライトイネーブル信号バーWEがHレベ
ルの場合には、リード転送となる。また、ロウ信号バー
RASが立ち下がるときにライトイネーブル信号バーW
EがLレベルの場合には、ライト転送となる。
【0011】シリアルアドレスカウンタ(以下、単にカ
ウンタという)45は、コラムアドレスバッファ34に
接続され、コラムアドレス信号CA0 〜CA8 を入力す
る。また、カウンタ45は、システムクロック信号SC
を入力する。そして、カウンタ45は、入力したコラム
アドレス信号CA0 〜CA8 に基づいてシリアルレジス
タ42からデータを読み出すアドレス(初期番地)を設
定し、その初期番地を示すシリアルアドレス信号SA0
〜SA8 をシリアルデコーダ46へ出力する。また、カ
ウンタ45は、入力したシステムクロック信号SCをカ
ウントし、そのカウントを初期番地に加算したシリアル
アドレス信号SA0 〜SA8 を出力する。即ち、カウン
タ45は、システムクロック信号SCを入力する毎に1
加算したシリアルアドレス信号SA0 〜SA8 を出力す
る。
【0012】シリアルデコーダ46は、入力したシリア
ルアドレス信号SA0 〜SA8 に基づいてビット線対B
L,バーBLを選択する。その選択したビット線対BL,バ
ーBLに接続されたレジスタに記憶されたデータは、SA
M用入出力バッファ47を介してシリアル出力データS
D1 〜SD8 として出力される。
【0013】図7は、出力データD1 〜D8 及びシリア
ル出力データSD1 〜SD8 のうち、出力データD1 を
読み出すための読み出し回路50と、シリアル出力デー
タSD1 を読み出すための読み出し回路60を示すブロ
ック回路図である。
【0014】図7に示すように、読み出し回路50のメ
モリセルアレイ32は、2つのブロック32a,32b
により構成されている。各ブロック32a,32bに
は、それぞれメモリセルアレイ(区別するために、RA
Mという)51、第1RAM用センスバッファ(第1S
B)52、第2RAM用センスバッファ(第2SB)5
3、RAM用コモンバスドライバ54が設けられてい
る。
【0015】各ブロック32a,32bは、ロウアドレ
ス信号RA8 に基づいて選択される。例えば、ロウアド
レス信号RA8 がLレベルの場合にはブロック32aが
選択され、選択されていないブロック32bは、その駆
動電源電圧が低電位に制御される。、ロウアドレス信号
RA8 がHレベルの場合にはブロック32bが選択され
る。そして、選択されていないブロック32aは、その
駆動電源電圧が低電位に制御される。即ち、選択してい
ないブロックの駆動電源電圧を低電圧化することによ
り、低消費電力化を図っている。
【0016】各ブロック32a,32bのコモンバスド
ライバ54は、それぞれコモンバスCBに共通に接続さ
れるとともに、RAM用出力バッファ55に接続されて
いる。そして、選択されたブロック32a,32bから
読み出されたデータは、コモンバスCB、出力バッファ
55を介して出力データD1 として出力される。尚、コ
モンバスCBにはリセット用のMOSトランジスタ56
が接続されている。MOSトランジスタ56はPチャネ
ルMOSトランジスタであって、そのソースが高電位側
電源Vccに接続され、ドレインがコモンバスCBに接続
されている。MOSトランジスタ56のゲートは、ノア
回路57の出力端子に接続されている。ノア回路57
は、その入力端子にリセット信号RST と制御信号RTRZを
入力している。リセット信号RST は、ロウ信号バーRA
SがHレベルのときにHレベルとなる信号である。制御
信号RTRZは、入力回路33により生成される制御信号で
あって、リード転送に入ったことを示す信号である。制
御信号RTRZは、ロウ信号バーRASの立ち下がりで、デ
ータトランスファ信号バーDTがLレベルのときにHレ
ベルとなる。従って、コモンバスCBは、ロウ信号バー
RASがHレベルのとき、又はリード転送時に高電位側
電源Vccとなるリセットが行われる。
【0017】シリアルレジスタ42には、データの読み
出しを高速にするために、第1SAM用センスバッファ
(第1SB)61と第2SAM用センスバッファ(第2
SB)62とが接続されている。即ち、図9に示すよう
に、シリアルレジスタ42の各レジスタ42aは、Nチ
ャネルMOSトランジスタにより構成されたトランスフ
ァゲート42bを介して第1シリアルデータバス線対SD
B1,バーSDB1又は第2シリアルデータバス線対SDB2,バ
ーSDB2に接続されている。シリアルデコーダ46は、シ
リアルアドレスSA1 〜SA8 に基づいてトランスファ
ゲート42bをオンに制御し、2組のビット線対BL,バ
ーBLを第1,第2シリアルデータバス線対SDB1,バーSD
B1、SDB2,バーSDB2に接続する。その結果、2つのレジ
スタ42aに記憶されたデータが第1シリアルデータバ
ス線対SDB1,バーSDB1を介して第1SB61に転送され
るとともに、第2シリアルデータバス線対SDB2,バーSD
B2を介して第2SB62へ転送される。第1,第2SB
61,62は、それぞれラッチ型のセンスバッファであ
って、レジスタ42aから転送されたデータをそれぞれ
ラッチする。
【0018】第1,第2SB61,62にラッチされた
データは、図7に示すように、シリアルアドレス信号S
A0 に基づいて出力される。例えば、シリアルアドレス
信号SA0 がLレベルのときには第1SB61にラッチ
されたデータが、シリアルアドレス信号がHレベルのと
きには第2SB62にラッチされたデータがSAM用コ
モンバスドライバ63、SAM用出力バッファ64を介
してシリアル出力データSD1 として出力される。この
構成により、シリアルレジスタ(SAM)42からのデ
ータの読み出しを高速化している。
【0019】
【発明が解決しようとする課題】ところで、グラフィッ
クディスプレイ等においては、画像を高速に描画する必
要がある。そのため、上記のように構成されたVRAM
において、SAM42からのデータを、高速に読み出す
ことが必要となる。そして、RAM51からSAM42
へデータを転送するリード転送後においても、高速化す
る必要がある。しかしながら、RAM51からSAM4
2へデータを転送するには時間がかかる。そのため、リ
ード転送後すぐにクロック信号SCを供給しても、SA
M42から読み出すデータが不定となったり、前に読み
出したデータが再び読み出されたりして確実にデータを
読み出すことができない。
【0020】そのため、SAM42には、ラッチ回路6
5,66を設けている。即ち、カウンタ45に供給され
る初期アドレスであるコラムアドレスCA0 〜CA8
は、同時にコラムデコーダ37にも供給されている。従
って、図7に示すように、第1,第2SB52,53の
出力にそれぞれラッチ回路65,66を設け、リード転
送中に、RAM部31から初期アドレスに応じて読み出
したデータを、出力データSD1 として出力することに
より読み出しの高速化を図っている。
【0021】即ち、コラムデコーダ37は、そのコラム
アドレスCA1 〜CA8 に基づいて2組のビット線対B
L,バーBLを選択する。その選択された2組のビット線
対BL,バーBLに読み出されたデータは、図8に示すよう
に、それぞれデータバス線対DB1 ,バーDB1 、DB2 ,バ
ーDB2 、RAM用第1,第2SB52,53を介してラ
ッチ回路65,66に転送され、ラッチされる。
【0022】SAM用コモンバスドライバ63は、シリ
アルアドレスSA0 (コラムアドレスCA0 )に基づい
てラッチ回路65,66の一方を選択し、その選択した
ラッチ回路65,66にラッチされたデータを読み出
し、SAM用出力バッファ64を介して初期アドレスの
出力データSD1 として出力する。
【0023】この出力データSD1 を出力している間
に、RAM51からSAM42へのリード転送が終了す
る。そして、カウンタ45は、クロック信号SCをカウ
ントして初期アドレスに「+1」したシリアルアドレス
SA1 〜SA8 をシリアルデコーダ46へ出力する。シ
リアルデコーダ46は、入力したシリアルアドレスSA
1 〜SA8 に基づいて2つのレジスタ42aを選択す
る。それら選択したレジスタ42aに記憶されたデータ
は、それぞれシリアルデータバス線対SDB1,バーSDB1、
SDB2,バーSDB2を介してSAM用センスバッファ61,
62へ転送され、センスバッファ61,62にそれぞれ
ラッチされる。
【0024】コモンバスドライバ63は、シリアルアド
レスSA0 に基づいてセンスバッファ61,62を選択
し、その選択したセンスバッファ61,62にラッチさ
れたデータを出力バッファ64を介して初期アドレス+
1の出力データSD1 として出力する。
【0025】このように、初期アドレスに応じたデータ
と、そのデータと共に読み出されるデータとをRAM5
1からラッチ回路65,66へ読み出し、シリアルアド
レスSA0 に基づいて選択し、その選択したデータを出
力データSD1 として出力する。そして、初期アドレス
+1以後のデータは、SAM42から読み出したデータ
を出力データSD1 として出力し、リード転送後のデー
タの読み出しを高速化するとともに、安定したデータを
出力することができる。
【0026】しかしながら、上記したVRAMは、8ビ
ットのシリアル出力データSD1 〜SD8 データを出力
するようになっている。即ち、上記したシリアル出力デ
ータSD1 以外のシリアル出力データSD2 〜SD8 の
読み出し回路においても、高速化するとともに、安定し
たデータを出力するために、ラッチ回路65,66をそ
れぞれの読み出し回路に設けている。その結果、ラッチ
回路65,66を形成するための面積が大きくなり、V
RAMのチップ面積が増大するという問題があった。
【0027】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであって、その目的は、回路面積の増大を抑え
ることのできる半導体記憶装置を提供することにある。
【0028】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理説明
図である。即ち、半導体記憶装置には、メモリセルアレ
イ1とシリアルレジスタ2とが設けられている。メモリ
セルアレイ1は、複数のワード線及びビット線対に接続
されたメモリセルにより構成され、それらのメモリセル
のうち、2つのメモリセルに記憶されたデータを同時に
読み出すことが可能となっている。そのメモリセルアレ
イ1から同時によみだされた2つのデータは、第1及び
第2のRAM用センスバッファ3,4にそれぞれ入力さ
れる。第1,第2センスバッファ3,4は、それぞれ入
力したデータを増幅し、その増幅したデータをRAM用
コモンバスドライバ5へ出力する。
【0029】コモンバスドライバ5は、両センスバッフ
ァ3,4から出力されたデータのうちの一方を選択し、
その選択したデータをRAM用コモンバスCBを介して
出力する。RAM用出力バッファ6は、RAM用コモン
バスバッファ5から出力されたデータを入力し、出力デ
ータD1 として外部へ出力する。
【0030】シリアルレジスタ2は転送回路7を介して
メモリセルアレイ1に接続されている。転送回路7は、
メモリセルアレイ1に記憶されたデータのうち、外部か
ら供給されたロウアドレス信号RAに基づいて選択され
た複数のメモリセルに記憶されたデータをシリアルレジ
スタ2へ転送する。シリアルレジスタ2には、シリアル
アドレスカウンタ8が接続されている。カウンタ8は、
外部から供給されるコラムアドレス信号CAに基づいた
て先頭データの初期アドレスを指定するシリアルアドレ
ス信号SAを生成しシリアルレジスタ2へ出力するとと
もに、入力したシステムクロック信号SCをカウント
し、そのカウントを初期アドレスに加算したシリアルア
ドレス信号SAを順次生成しシリアルレジスタ2へ出力
する。
【0031】シリアルレジスタ2は、メモリセルアレイ
1から転送された複数のデータを記憶するとともに、シ
リアルアドレスカウンタ8から出力されるシリアルアド
レス信号SAを入力し、そのシリアルアドレス信号SA
に応じて記憶したデータを順次出力する。SAM用セン
スバッファ9は、シリアルレジスタ2から出力されるデ
ータを入力し、その入力したデータをラッチするととも
に、そのラッチしたデータを出力する。SAM用コモン
バスドライバ10は、SAM用コモンバスSCBに接続
され、SAM用センスバッファ9から出力されるデータ
を入力し、その入力したデータをSAM用コモンバスS
CBを介して出力する。SAM用出力バッファ11は、
SAM用コモンバスSCBに接続され、コモンバスSC
Bを介して入力したデータをシリアル出力データSD1
として出力する。
【0032】RAM用コモンバスCBにはラッチ回路1
2が接続されている。ラッチ回路12には、初期アドレ
スに応じてメモリセルアレイ1から読み出されたデータ
がRAM用コモンバスドライバ5を介して入力される。
ラッチ回路12は、その入力したデータをラッチすると
ともに、SAM用コモンバスドライバ10へ出力する。
コモンバスドライバ10は、先頭データの初期アドレス
の場合にはラッチ回路12から出力されるデータを選択
し、初期アドレスの次のアドレス以降のアドレスの場合
にはSAM用センスバッファ9から出力されるデータを
選択し、その選択したデータに基づいて出力バッファ1
1を介してシリアル出力データSD1 を出力する。
【0033】
【作用】従って、本発明によれば、コモンバスCBにラ
ッチ回路12を接続し、メモリセルアレイ1から同時に
読み出される2つのデータのうち、シリアルレジスタ2
からデータを読み出す初期アドレスに応じたデータをラ
ッチする。そして、そのラッチされたデータはSAM用
コモンバスドライバ10、出力バッファ11を介してシ
リアル出力データSD1 として出力される。その結果、
従来のように、ラッチ回路をRAM用センスバッファ
3,4に対してそれぞれ接続する場合に比べて回路面積
を減少させることができるので、高速な読み出しを行な
うことができるとともに、回路面積の増大を抑えること
ができる。
【0034】
【実施例】以下、本発明を具体化した一実施例を図2〜
図5に従って説明する。尚、説明の便宜上、従来と同様
の構成については同一の符号を付してその説明を一部省
略する。
【0035】図2に示すように、本実施例においては、
ラッチ回路21はRAM用コモンバスCBに接続されて
いる。RAM用コモンバスCBは、従来と同様に、メモ
リセルアレイ32の各ブロック32a,32bに接続さ
れ、各ブロック32a,32bから読み出されたデータ
がコモンバスCBを介して出力バッファ55に入力さ
れ、出力データD1 として出力される。
【0036】また、コモンバスCBには、従来と同様に
リセット用のMOSトランジスタ56が接続されてい
る。但し、本実施例のMOSトランジスタ56のゲート
には、リセット信号RST のみが入力されている。リセッ
ト信号RST は、従来技術で述べたように、外部から入力
されるロウ信号バーRASに基づいて入力回路33によ
り生成される制御信号であって、ロウ信号バーRASの
立ち上がりを所定の時間遅延させた信号である。即ち、
ロウ信号バーRASがLレベルになるとリセット信号RS
T もLレベルとなり、ロウ信号バーRASがHレベルに
なると、リセット信号RST は所定時間遅れてHレベルと
なる。従って、MOSトランジスタ56は、ロウ信号バ
ーRASがHレベルになってから所定時間遅れてオンと
なり、コモンバスCBの電位を高電位側電源Vccにする
リセットを行なう。そして、このリセットは、次にロウ
信号バーRASがLレベルになるまで継続される。
【0037】図3は、本実施例のRAM部31の一部回
路図であって、読み出し回路50の回路図である。図3
に示すように、第1センスバッファ52は、その入力端
子と出力端子とを互いに接続した2つのインバータ回路
52a,52bにより構成され、PチャネルMOSトラ
ンジスタ(PMOSトランジスタ)52c をより高電位
側電源Vccに接続されている。PMOSトランジスタ5
2cのゲートには、インバータ回路52dを介して活性
化信号SBEが入力され、Hレベルの活性化信号SBE
が入力されるとオンとなり、インバータ回路52a,5
2bに高電位側電源Vccを供給する。従って、第1セン
スバッファ52は、Hレベルの活性化信号SBEに基づ
いて活性化し、RAM51から入力したデータを増幅
し、出力する。
【0038】尚、第2センスバッファ53の構成は、第
1センスバッファ52の構成と同一であるので、図示及
びその説明を省略する。また、活性化信号SBEは、図
6に示す入力回路33により生成される。
【0039】第1,第2SB52,53から出力された
データは、切換回路71に入力される。切換回路71
は、PチャネルMOSトランジスタとNチャネルMOS
トランジスタとからなるトランスファゲート71a,7
1bにより構成されている。そして、各トランスファゲ
ート71a,71bは、そのゲート端子にコラムアドレ
ス信号CA0 を直接、又はインバータ回路71cを介し
て入力している。従って、コラムアドレス信号CA0 が
Lレベルの場合、トランスファゲート71aがオンとな
り第1センスバッファ52からのデータが出力される。
一方、コラムアドレス信号CA0 がHレベルの場合、ト
ランスファゲート71bがオンとなり第2センスバッフ
ァ53からのデータが出力される。
【0040】切換回路71からコラムアドレス信号CA
0 に基づいて出力されるデータは、インバータ回路72
を介してコモンバスドライバ54に入力される。コモン
バスドライバ54は、4個のPMOSトランジスタ54
a〜54d、4個のNMOSトランジスタ54e〜54
h,インバータ回路54iにより構成されている。高電
位側電源Vccと低電位側電源Vss間には、PMOSトラ
ンジスタ54aとNMOSトランジスタ54e,54f
とが、PMOSトランジスタ54b,54cとNMOS
トランジスタ54gとが、PMOSトランジスタ54d
とNMOSトランジスタ54hとが直列に接続されてい
る。PMOSトランジスタ54aとNMOSトランジス
タ54fとのゲートには、第1又は第2のセンスバッフ
ァにより増幅されたデータが入力される。
【0041】PMOSトランジスタ54aのドレイン
は、PMOSトランジスタ54b、54c間に接続され
るとともに、PMOSトランジスタ54dのゲートに接
続されている。NMOSトランジスタ54fのドレイン
は、PMOSトランジスタ54cとNMOSトランジス
タ54g間に接続されるとともに、NMOSトランジス
タ54hのゲートに接続されている。PMOSトランジ
スタ54bとNMOSトランジスタ54eのゲートには
活性化信号BKS0Z が入力されている。PMOSトランジ
スタ54cとNMOSトランジスタ54gのゲートには
インバータ回路54iを介して活性化信号BKS0Z が入力
されている。尚、活性化信号BKS0Z は、ブロック32a
のコモンバスドライバ54に入力され、ブロック32b
のコモンバスドライバ54には、活性化信号BKS1Z が入
力されている。
【0042】活性化信号BKS0Z ,BKS1Z は、入力回路3
3によりロウアドレス信号RA8 とロウ信号バーRAS
とに基づいて生成される。即ち、ロウ信号バーRASが
Hレベルの時、活性化信号BKS0Z ,BKS1Z は共にLレベ
ルとなる。ロウ信号バーRASがLレベルであってロウ
アドレス信号RA8 がLレベルのとき、活性化信号BKS0
Z はHレベル、活性化信号BKS1Z はLレベルとなる。ま
た、ロウ信号バーRASがLレベルであってロウアドレ
ス信号RA8 がHレベルのとき、活性化信号BKS0Z はL
レベル、活性化信号BKS1Z はHレベルとなる。
【0043】従って、活性化信号BKS0Z (BKS1Z )がH
レベルの時、PMOSトランジスタ54bとNMOSト
ランジスタ54gとはオフに制御され、PMOSトラン
ジスタ54cとNMOSトランジスタ54eとはオンに
制御される。その結果、PMOSトランジスタ54aと
NMOSトランジスタ54fとからなるインバータ回路
と、PMOSトランジスタ54dとNMOSトランジス
タ54hとからなるインバータ回路とにより入力したデ
ータを増幅し、コモンバスCBを介して出力バッファ5
5へ出力するとともに、ラッチ回路21へ出力する。
【0044】逆に、活性化信号BKS0Z (BKS1Z )がLレ
ベルの時、PMOSトランジスタ54bとNMOSトラ
ンジスタ54gとはオンに制御され、PMOSトランジ
スタ54cとNMOSトランジスタ54eとはオフに制
御される。その結果、PMOSトランジスタ54dとN
MOSトランジスタ54hとは、共にオフとなり、両M
OSトランジスタ54d,54h間をハイインピーダン
ス状態にして、他のコモンバスドライバ54から出力さ
れるデータを有効にしている。
【0045】出力バッファ55は、トランスファゲート
55a,55b、ラッチ回路55c,55d、出力トラ
ンジスタ55e,55f、インバータ回路55g及びリ
セット回路55hにより構成されている。トランスファ
ゲート55a,55bのゲートには、入力回路33によ
り生成される制御信号OPT が直接入力されるとともに、
インバータ回路55iを介して入力されている。そし
て、トランスファゲート55a,55bは、Hレベルの
制御信号OPT を入力すると共にオンとなる。
【0046】コモンバスドライバ54から入力されたデ
ータは、トランスファゲート55a、ラッチ回路55c
を介して出力トランジスタ55eのゲートに入力される
とともに、インバータ回路55g、トランスファゲート
55b、ラッチ回路55dを介して出力トランジスタ5
5fのゲートに入力される。出力トランジスタ55e,
55fはNMOSトランジスタよりなり、高電位側電源
Vccと低電位側電源Vssとの間に直列に接続されてい
る。そして、出力バッファ55は、コモンバスドライバ
54から入力したデータを出力データD1 として外部へ
出力する。
【0047】また、出力バッファ55のトランスファゲ
ート55aとラッチ回路55c間と、トランスファゲー
ト55bとラッチ回路55d間とには、リセット回路5
5hが接続されている。リセット回路55hは、PMO
Sトランジスタにより構成され、そのゲートには入力回
路33により生成される制御信号OPD が入力されてい
る。そしてリセット回路55hは、Lレベルの制御信号
OPD を入力すると各ラッチ回路55c,55dの入力を
高電位側電源Vcc、即ちHレベルにする。すると、出力
トランジスタ55e,55fは、そのゲートがLレベル
となるので、オフとなり、RAM出力はハイインピーダ
ンスとなる。
【0048】図4は、本実施例のSAM部41の一部回
路図であって、シリアル読み出し回路60の回路図であ
る。図4に示すように、ラッチ回路21は、インバータ
回路21a〜21e、トランスファゲート21f,21
gにより構成されている。トランスファゲート21f,
21gは、それぞれPMOSトランジスタとNMOSト
ランジスタとにより構成され、制御信号RDLXに基づいて
オン・オフ制御される。制御信号RDLXは、ロウ信号バー
RASとデータトランスファ信号バーDTとに基づいて
入力回路33により生成される。即ち、入力回路33
は、ロウ信号バーRASが立ち下がるとHレベルの制御
信号RDLXを出力し、データトランスファ信号バーDTが
立ち上がるとLレベルの制御信号RDLXを出力する。即
ち、制御信号RDLXは、転送モードになるとHレベルとな
り、リード転送になってRAM51からSAM42への
転送が開始されるとLレベルとなる。
【0049】そして、トランスファゲート21fを構成
するNMOSトランジスタとトランスファゲート21g
を構成するPMOSトランジスタのゲートには制御信号
RDLXが直接入力される。また、トランスファゲート21
fを構成するPMOSトランジスタのゲートとトランス
ファゲート21gを構成するNMOSトランジスタのゲ
ートにはインバータ回路21aを介して制御信号RDLXが
入力される。従って、制御信号RDLXがHレベルのとき、
トランスファゲート21fがオンに、トランスファゲー
ト21gがオフに制御される。
【0050】制御信号RDLXがHレベル、即ち転送モード
に入ると、トランスファゲート21fがオン、トランス
ファゲート21gがオフに制御され、ラッチ回路21
は、RAM用コモンバスCBのデータをインバータ回路
21b,21cに入力する。そして、制御信号RDLXがL
レベル、即ちリード転送が開始されると、トランスファ
ゲート21fがオフ、トランスファゲート21gがオン
に制御され、コモンバスCBのデータはインバータ回路
21b,21cにラッチされる。更に、インバータ回路
21b,21cにラッチされたデータは、インバータ回
路21d,21eを介してSAM用コモンバスドライバ
63へ出力される。
【0051】一方、SAM42から読み出されたデータ
は、第1,第2のセンスバッファ61,62へ入力され
る。第1のセンスバッファ61は、ラッチ型センスバッ
ファであって、ラッチ61aとフリップフロップ61b
とから構成される。ラッチ61aは、高電位側電源Vcc
に接続されるとともに、活性化信号SSBEを入力してい
る。従って、センスバッファ61は、Lレベルの活性化
信号SSBEを入力すると活性化し、SAM42から入力し
たデータをラッチするとともに、フリップフロップ61
bを介してSAM用コモンバスドライバ63へ出力す
る。尚、第2のセンスバッファ62の構成は、第1のセ
ンスバッファ61の構成と同じであるので、その説明を
省略する。
【0052】SAM用コモンバスドライバ63は、ナン
ド回路63a〜63d、インバータ回路63e〜63g
により構成されている。ナンド回路63aは、ラッチ回
路21からのデータと、制御信号RDOEZ とを入力してい
る。制御信号RDOEZ は、入力回路33により生成される
制御信号であって、図5に示すように、データトランス
ファ信号バーDTの立ち上がりに基づいて、その立ち上
がりから所定時間Hレベルとなる信号である。この制御
信号RDOEZ がHレベルである時間は、システムクロック
信号SCに基づいてSAM42の初期アドレスに応じた
データが読み出されるより長く設定されている。また、
制御信号RDOEZ は、システムクロック信号SCに基づい
てSAM42から初期アドレスの次のデータが読み出さ
れるよりも短く設定されている。従って、ナンド回路6
3aは、制御信号RDOEZ がHレベルである間、即ちSA
M42の初期アドレスに応じたデータが読み出される
間、RAM51から読み出され、ラッチ回路21により
ラッチされたデータをナンド回路63dへ出力する。
【0053】ナンド回路63bは、センスバッファ61
から出力されたデータと、シリアルアドレス信号SA0
と、インバータ回路63eを介した制御信号RDOEZ とを
入力している。従って、ナンド回路63bは、シリアル
アドレス信号SA0 がHレベルであって、制御信号RDOE
Z がLレベルのときに、センスバッファ61から入力し
たデータをナンド回路63dへ出力する。
【0054】ナンド回路63cは、センスバッファ61
から出力されたデータと、インバータ回路63fを介し
たシリアルアドレス信号SA0 と、インバータ回路63
eを介して制御信号RDOEZ とを入力している。従って、
ナンド回路63bは、シリアルアドレス信号SA0 がL
レベルであって、制御信号RDOEZ がLレベルのときに、
センスバッファ62から入力したデータをナンド回路6
3dへ出力する。
【0055】従って、ナンド回路63dは、制御信号RD
OEZ がHレベルのときにラッチ回路21にラッチされた
データを入力し、制御信号RDOEZ がLレベルのときに、
センスバッファ61又はセンスバッファ62にラッチさ
れたデータが入力される。そして、ナンド回路63d
は、入力したデータをインバータ回路63gを介してS
AM用出力バッファ64へ出力する。SAM用出力バッ
ファ64は、ナンド回路64a,64b、フリップフロ
ップ64c、ノア回路64d,64e、インバータ回路
64f、出力トランジスタ64g,64hにより構成さ
れている。ナンド回路64aは、コモンバスドライバ6
3からのデータを入力するとともに、制御信号SOP を入
力している。ナンド回路64bは、コモンバスドライバ
63からのデータを入力するとともに、インバータ回路
64fを介して制御信号SOP を入力している。ナンド回
路64a,64bの出力は、フリップフロップ64cを
介してノア回路64d,64eにそれぞれ入力される。
制御信号SOP は、入力回路33によってシステムクロッ
ク信号SCに基づいて生成される。そして、ナンド回路
64a,64bは、制御信号SOPがHレベルのときに入
力したデータをフリップフロップ64c,64dへそれ
ぞれ出力する。
【0056】ノア回路64d,64eは、シリアルイネ
ーブル信号SEを入力している。シリアルイネーブル信
号SEは、入力回路33によって外部から入力されるシ
リアルイネーブル信号バーSEに基づいて生成される。
ノア回路64d,64eの出力端子は、それぞれ出力ト
ランジスタ64g,64hのゲートに接続されている。
出力トランジスタ64g,64hはNMOSトランジス
タであって、高電位側電源Vccと低電位側電源Vss間に
直列に接続され、両出力トランジスタ64g,64h間
の出力端子からシリアル出力データSD1 を出力する。
【0057】そして、シリアルイネーブル信号SEがL
レベルのとき、ノア回路64d,64eは入力したデー
タをそれぞれ出力トランジスタ64g,64hへ出力す
る。出力トランジスタ64g,64hは、そのゲートに
入力したデータに応じて一方がオンとなり、出力データ
SD1 を出力する。また、シリアルイネーブル信号SE
がHレベルのとき、ノア回路64d,64eはLレベル
の信号を出力トランジスタ64g,64hへ出力する。
出力トランジスタ64g,64hは、Lレベルの信号に
基づいて共にオフとなり、出力端子をハイインピーダン
ス状態にする。
【0058】次に、上記のように構成されたVRAMの
動作を図5に従って説明する。リード転送時モードにお
いて、図5に示すように、ロウ信号バーRASが立ち下
がるときには、Lレベルのデータトランスファ信号バー
DTが外部から入力される。そして、ロウ信号バーRA
Sの立ち下がりに基づいて、入力回路33によりHレベ
ルとなる制御信号RDLXが生成され出力される。
【0059】ロウアドレスバッファ35は、ロウ信号バ
ーRASの立ち下がりに基づいて入力したアドレス信号
A0 〜A8 からロウアドレス信号RA0 〜RA8 を生成
し、ロウデコーダ36へ出力する。ロウデコーダ36
は、入力したロウアドレス信号RA0 〜RA8 に基づい
て1本のワード線WLを選択する。すると、ワード線WLに
接続されたメモリセルのデータがビット線対BL,バーBL
に読み出され、センスアンプ38により増幅される。
【0060】次に、コラムアドレスバッファ34は、コ
ラム信号バーCASの立ち下がりに基づいてコラムアド
レス信号CA0 〜CA8 を生成し、コラムデコーダ37
及びシリアルアドレスカウンタ45へ出力する。
【0061】まず、コラムアドレス信号CA8 に基づい
て、図2に示すブロック32a,32bの一方が選択さ
れる。図7に示すように、コラムデコーダ37は、コラ
ムアドレス信号CA1 〜CA8 に基づいて2組のビット
線対BL,バーBLを選択し、その選択したビット線対BL,
バーBLに読み出されたデータを第1,第2データバス線
対DB1 ,バーDB1 、DB2 ,バーDB2 を介して第1,第2
センスバッファ(SB)52,53へ出力する。図3に
示すように、第1,第2センスバッファ(SB)52,
53は、活性化信号SBE により活性化し、RAM51か
ら読み出されたデータをそれぞれ増幅し、出力する。
【0062】第1,第2SB52,53から出力された
データは、切換回路71に入力される。切換回路71
は、コラムアドレス信号CA0 を入力し、そのコラムア
ドレス信号CA0 に基づいて一方のトランスファゲート
をオンに制御してデータを出力する。その切換回路71
から出力されるデータは、インバータ回路72を介して
コモンバスドライバ54に入力される。
【0063】コモンバスドライバ54は、入力した活性
化信号BKS0Z ,BKS1Z に基づいて活性化し、入力したデ
ータをコモンバスCBを介して出力バッファ55へ出力
するとともに、ラッチ回路21へ出力する。
【0064】図4に示すように、ラッチ回路21は、入
力回路33により生成された制御信号RDLXを入力し、そ
の制御信号RDLXに基づいてRAM部31のコモンバスド
ライバ54から入力したデータをラッチする。そして、
ラッチ回路21は、そのラッチした信号を制御信号RDOE
Z に基づいてSAM用コモンバスドライバ63へ出力す
る。
【0065】一方、SAM部41の転送制御回路44
は、データトランスファ信号バーDTを入力し、そのデ
ータトランスファ信号バーDTの立ち上がりに基づいて
所定の期間だけ転送ゲート43をオンに制御する。この
転送ゲート43がオンに制御されている間に、メモリセ
ルアレイ32の各ビット線対BL,バーBLに読み出された
データが、転送ゲート43を介してシリアルレジスタ4
2へ転送される。そして、転送されたデータは、シリア
ルレジスタ42の各レジスタ42aに記憶される。
【0066】カウンタ45は、入力したコラムアドレス
信号CA0 〜CA8 に基づいて初期番地を指定するシリ
アルアドレス信号SA0 〜SA8 を生成し、出力する。
シリアルデコーダ46は、シリアルアドレス信号SA1
〜SA8 を入力し、そのアドレス信号SA1 〜SA8 に
基づいてレジスタ42aに記憶されたデータをシリアル
データバス線対SDB1,バーSDB1、SDB2,バーSDB2を介し
て第1,第2SB61,62へ出力する。第1,第2S
B61,62は、入力した活性化信号SSBEに基づいて活
性化し、レジスタ42aから読み出されたデータをそれ
ぞれラッチするとともに、そのラッチしたデータをSA
M用コモンバスドライバ63へ出力する。
【0067】このとき、コモンバスドライバ63には、
シリアルアドレス信号SA0 と制御信号RDOEZ とに基づ
いて、ラッチ回路21、各SB61,62にラッチされ
出力されるデータが入力される。即ち、制御信号RDOEZ
がHレベルの場合、即ち、初期アドレスの場合には、コ
モンバスドライバ63は、ラッチ回路21から出力され
たデータを入力する。そして、コモンバスドライバ63
は、入力したデータを出力バッファ64を介して先頭デ
ータとして出力する。
【0068】制御信号RDOEZ がLレベルの場合、コモン
バスドライバ63は、シリアルアドレス信号SA0 に基
づいて第1,第2SB61,62からのデータを入力す
る。そして、コモンバスドライバ63は、入力したデー
タを出力バッファ64を介してシリアル出力データSD
1 として出力する。
【0069】このように、本実施例では、ラッチ回路2
1をRAM用コモンバスCBに接続した。そして、シリ
アルレジスタ42から初期アドレスに応じたデータを読
み出す場合に、その初期アドレスを指定するコラムアド
レス信号CA0 〜CA8 に応じたデータと、そのデータ
とともに読み出されるデータとをメモリセルアレイ32
から読み出し、第1,第2SB52,53にてそれぞれ
増幅する。そして、それらの増幅したデータのうち、コ
ラムアドレス信号CA0 に対応するデータを選択し、そ
の選択したデータをRAM用コモンバスドライバ54、
コモンバスCBを介してラッチ回路21にラッチする。
そして、そのラッチ回路21にラッチされたデータをシ
ルアルレジスタ42から初期アドレスに応じて読み出し
たデータとして、SAM用コモンバスドライバ63、出
力バッファ64を介してシリアル出力データSD1 とし
て出力するようにした。
【0070】その結果、ラッチ回路21のみでシリアル
レジスタ42から読み出されるデータの高速化を図るこ
とができ、従来のように、ラッチ回路65,66を設け
る必要がなく、回路面積の増大を抑えることができる。
【0071】尚、本発明は前記実施例の他、以下の態様
で実施するようにしてもよい。 1)上記実施例では、出力データが8ビット構成のVR
AMに応用したが、1ビット又は2,4,16ビット等
の複数ビットの出力データの構成のVRAMに応用して
もよい。出力データのビット数が多いほど効果がある。
【0072】2)上記実施例において、図3に示す第
1,第2SB52,53、切換回路71、コモンバスド
ライバ54、出力バッファ55、図4に示すラッチ回路
21、第1,第2SB61,62、コモンバスドライバ
63、出力バッファ64の構成を、適宜変更して実施す
る。
【0073】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
回路面積の増大を抑えることの可能な半導体記憶装置を
提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の原理説明図である。
【図2】 一実施例のVRAMを説明する一部ブロック
回路図である。
【図3】 一実施例のRAM部の要部回路図である。
【図4】 一実施例のSAM部の要部回路図である。
【図5】 VRAMの動作を説明する波形図である。
【図6】 一般的なVRAMの構成を示すブロック回路
図である。
【図7】 従来のVRAMを説明する一部ブロック回路
図である。
【図8】 メモリセルアレイの要部回路図である。
【図9】 シリアルレジスタの要部回路図である。
【符号の説明】
1 メモリセルアレイ 2 シリアルレジスタ 3,4 RAM用センスバッファ 5 RAM用コモンバスドライバ 6 RAM用出力バッファ 7 転送回路 8 シリアルアドレスカウンタ 9 SAM用センスバッファ 10 SAM用コモンバスドライバ 11 SAM用出力バッファ 12 ラッチ回路 CB RAM用コモンバス SCB SAM用コモンバス SA シリアルアドレス信号 CA コラムアドレス信号 SC システムクロック信号 RA ロウアドレス信号 D1 出力データ SD1 シリアル出力データ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のワード線及びビット線対に接続さ
    れたメモリセルにより構成され、それらのメモリセルの
    うち、2つのメモリセルに記憶されたデータを同時に読
    み出すことが可能なメモリセルアレイと、 前記メモリセルアレイから読み出された2つのデータを
    それぞれ入力し、その入力したデータを増幅して出力す
    る第1及び第2のRAM用センスバッファと、 前記第1及び第2のRAM用センスバッファから出力さ
    れたデータのうちの一方を選択し、その選択したデータ
    をRAM用コモンバスを介して出力するRAM用コモン
    バスドライバと、 前記RAM用コモンバスバッファから出力されたデータ
    を入力し、出力データとして外部へ出力するRAM用出
    力バッファと、 前記メモリセルアレイに接続され、該メモリセルアレイ
    に記憶されたデータのうち、外部から供給されるロウア
    ドレス信号に基づいて選択されたワード線に接続された
    複数のメモリセルに記憶されたデータを転送する転送回
    路と、 外部から供給されるコラムアドレス信号に基づいた先頭
    データの初期アドレスを指定するシリアルアドレス信号
    を生成し出力するとともに、入力したシステムクロック
    信号をカウントし、そのカウントを前記初期アドレスに
    加算したシリアルアドレス信号を順次生成し出力するシ
    リアルアドレスカウンタと、 前記転送回路に基づいて転送された複数のデータを記憶
    するとともに、前記シリアルアドレスカウンタから出力
    されるシリアルアドレス信号を入力し、そのシリアルア
    ドレス信号に応じて記憶したデータを順次出力するシリ
    アルレジスタと、 前記シリアルレジスタから出力されるデータを入力し、
    その入力したデータをラッチするとともに、そのラッチ
    したデータを出力するSAM用センスバッファと、 SAM用コモンバスに接続され、前記SAM用センスバ
    ッファから出力されるデータを入力し、その入力したデ
    ータをSAM用コモンバスを介して出力するSAM用コ
    モンバスドライバと、 前記SAM用コモンバスに接続され、該コモンバスを介
    して入力したデータをシリアル出力データとして出力す
    るSAM用出力バッファとを備えた半導体記憶装置にお
    いて、 前記RAM用コモンバスにはラッチ回路を接続し、 そのラッチ回路には、初期アドレスに応じてメモリセル
    アレイから読み出した先頭データをラッチし、 前記SAM用コモンバスドライバは、初期アドレスの場
    合にはそのラッチ回路にラッチされ出力される先頭デー
    タを選択し、初期アドレスの次のアドレス以降のアドレ
    スの場合には前記SAM用センスバッファにラッチされ
    出力されるデータを選択し、その選択したデータをSA
    M用コモンバスを介して出力するようにした半導体記憶
    装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の半導体記憶装置におい
    て、 前記RAM用コモンバスはリセット用MOSトランジス
    タを介して高電位側電源に接続され、該リセット用MO
    Sトランジスタは、外部から入力されるロウアドレスス
    トローブ信号に基づいてオン・オフ制御されるようにし
    た半導体記憶装置。
  3. 【請求項3】 ロウアドレス信号とコラムアドレス信号
    とに基づいて選択されるメモリセルアレイ上のメモリセ
    ルのデータをセンスバッファ及びコモンバスドライバを
    介して出力バッファに出力するRAM用データ読み出し
    回路と、 リード転送モードにおいて、前記ロウアドレス信号にて
    選択されるワード線に接続された各メモリセルのデータ
    をシルアルレジスタに記憶し、シリアルアドレスカウン
    タのアドレスに基づいて該各データをシリアルレジスタ
    からセンスバッファ、コモンバスドライバ及び出力バッ
    ファを介して読み出すSAM用データ読み出し回路とを
    備えた半導体記憶装置において、 前記リード転送モードにおいて、ロウアドレス信号とコ
    ラムアドレス信号とに基づいて読み出されてRAM用デ
    ータ読み出し回路のコモンバスドライバから出力される
    データをラッチするラッチ回路を設け、 前記SAM用データ読み出し回路のコモンバスドライバ
    を、ラッチ回路に記憶したデータを出力バッファに出力
    した後にシリアルレジスタからデータを順次出力バッフ
    ァに出力させるようにしたことを特徴とする半導体記憶
    装置。
  4. 【請求項4】 ロウアドレス信号にて選択されるワード
    線に接続された各メモリセルのデータをシリアルレジス
    タに記憶し、シリアルアドレスカウンタのアドレスに基
    づいて該各データをシリアウレジスタからセンスバッフ
    ァ、コモンバスドライバ及び出力バッファを介して読み
    出す半導体記憶装置におけるシリアルデータ読み出し方
    法において、 前記ロウアドレス信号と、そのロウアドレス信号ととも
    に入力されるコラムアドレス信号とに基づいて選択され
    るメモリセルのデータを、前記シリアルデータの先頭デ
    ータとしてラッチ回路に記憶させ、そのラッチ回路に記
    憶した先頭データを出力バッファに出力した後にシリア
    ルレジスタからデータを順次出力バッファに出力させる
    ようにした半導体記憶装置におけるシリアルデータ読み
    出し方法。
JP6243134A 1994-10-06 1994-10-06 半導体記憶装置及び半導体記憶装置におけるシリアルデータ読み出し方法 Withdrawn JPH08106779A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6243134A JPH08106779A (ja) 1994-10-06 1994-10-06 半導体記憶装置及び半導体記憶装置におけるシリアルデータ読み出し方法
US08/533,788 US5617368A (en) 1994-10-06 1995-09-26 Semiconductor memory device equipped with serial data reading circuit and method of outputting serial data from semiconductor memory
KR1019950034264A KR0182341B1 (ko) 1994-10-06 1995-10-06 반도체 기억장치 및 반도체 기억장치의 직렬 데이터 판독방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6243134A JPH08106779A (ja) 1994-10-06 1994-10-06 半導体記憶装置及び半導体記憶装置におけるシリアルデータ読み出し方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08106779A true JPH08106779A (ja) 1996-04-23

Family

ID=17099309

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6243134A Withdrawn JPH08106779A (ja) 1994-10-06 1994-10-06 半導体記憶装置及び半導体記憶装置におけるシリアルデータ読み出し方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5617368A (ja)
JP (1) JPH08106779A (ja)
KR (1) KR0182341B1 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR0154741B1 (ko) * 1995-02-08 1998-11-16 김광호 듀얼포트 메모리 장치 및 듀얼포트 메모리 장치의 시리얼데이타 출력방법
JP3481817B2 (ja) * 1997-04-07 2003-12-22 株式会社東芝 半導体記憶装置
JP3638857B2 (ja) * 2000-06-26 2005-04-13 沖電気工業株式会社 シリアルアクセスメモリおよびデータライト/リード方法
US7173469B1 (en) 2002-01-24 2007-02-06 Cypress Semiconductor Corp. Clocking system and method for a memory
US7054218B2 (en) * 2004-08-26 2006-05-30 Intel Corporation Serial memory address decoding scheme

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05101646A (ja) * 1991-10-07 1993-04-23 Mitsubishi Electric Corp デユアルポートメモリ
JPH06231576A (ja) * 1993-02-04 1994-08-19 Nec Corp 半導体記憶装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR960015575A (ko) 1996-05-22
US5617368A (en) 1997-04-01
KR0182341B1 (ko) 1999-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5991223A (en) Synchronous semiconductor memory device operable in a burst mode
US5155705A (en) Semiconductor memory device having flash write function
JP4627103B2 (ja) 半導体記憶装置及びその制御方法
US6105106A (en) Computer system, memory device and shift register including a balanced switching circuit with series connected transfer gates which are selectively clocked for fast switching times
US6078542A (en) Semiconductor memory device implementing multi-bank configuration with reduced number of signal lines
US5291447A (en) Semiconductor memory device having function of controlling sense amplifiers
JPH03154287A (ja) 半導体記憶装置
US4669064A (en) Semiconductor memory device with improved data write function
KR100297717B1 (ko) 반도체메모리의입출력선프리차아지회로및이를사용하는반도체메모리
US6469924B2 (en) Memory architecture with refresh and sense amplifiers
JPS62202397A (ja) 半導体記憶装置
US6154405A (en) Semiconductor memory device having a dummy cell resetting the bit lines to a reset potential that is based on data read in a previous read data
JPH09320261A (ja) 半導体記憶装置および制御信号発生回路
JP2000207886A (ja) 半導体記憶装置
US6909644B2 (en) Semiconductor memory device
JPH09167486A (ja) メモリ装置
KR0182341B1 (ko) 반도체 기억장치 및 반도체 기억장치의 직렬 데이터 판독방법
US6385108B2 (en) Voltage differential sensing circuit and methods of using same
JPH1166850A (ja) 半導体記憶装置
US4768168A (en) Memory circuit having an improved writing scheme
JP2002093173A (ja) 同期型マルチポートメモリ
JPH09213077A (ja) 半導体記憶装置
JPH1145582A (ja) 半導体集積回路
JPH02116089A (ja) 読出し回路
JPH06333389A (ja) カラム系駆動方式、及び半導体記憶装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20020115