JPH0812053B2 - 外観検査方法およびその装置 - Google Patents
外観検査方法およびその装置Info
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- JPH0812053B2 JPH0812053B2 JP3115525A JP11552591A JPH0812053B2 JP H0812053 B2 JPH0812053 B2 JP H0812053B2 JP 3115525 A JP3115525 A JP 3115525A JP 11552591 A JP11552591 A JP 11552591A JP H0812053 B2 JPH0812053 B2 JP H0812053B2
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Landscapes
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、角板形チップ固定抵抗
器、チップ形コンデンサ等の検体をテーピング作業、テ
ーピング後のリール巻き取り作業、若しくは外観検査作
業等において搬送する途中で、この検体の外形輪郭およ
び表面状態の外観を検査するようにした外観検査方法お
よびその装置に関する。
器、チップ形コンデンサ等の検体をテーピング作業、テ
ーピング後のリール巻き取り作業、若しくは外観検査作
業等において搬送する途中で、この検体の外形輪郭およ
び表面状態の外観を検査するようにした外観検査方法お
よびその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】角板形チップ固定抵抗器等のチップ状電
子部品は、これをプリント基板等に自動実装機により実
装するが、この自動実装機にチップ状電子部品を容易に
供給することができるように、チップ状電子部品をテー
ピングしている。従来、チップ状電子部品のテーピング
に用いるテーピング用テープとしては、チップ状電子部
品を収納するための凹入部を打抜き加工により形成した
タイプと絞り加工により形成したタイプとがある。
子部品は、これをプリント基板等に自動実装機により実
装するが、この自動実装機にチップ状電子部品を容易に
供給することができるように、チップ状電子部品をテー
ピングしている。従来、チップ状電子部品のテーピング
に用いるテーピング用テープとしては、チップ状電子部
品を収納するための凹入部を打抜き加工により形成した
タイプと絞り加工により形成したタイプとがある。
【０００３】図２７（ａ）、（ｂ）は前者のタイプのテ
ーピング用テープを示し、（ａ）は一部平面図、（ｂ）
は縦断面図である。図２７（ａ）、（ｂ）に示すよう
に、テーピング用テープ１は収納用テープ２とカバーテ
ープ３とから構成され、収納用テープ２はテープ本体４
とボトムテープ５とから構成されている。テープ本体４
は紙製、若しくは透明なプラスチック製で、チップ状電
子部品Ｒを収納するための穴６と送り穴７が長手方向に
沿って打抜き加工により列設され、このテープ本体４の
裏面に光透過性を有する薄紙製のボトムテープ５が接着
され、穴６が閉塞されて凹入部８が形成されている。カ
バーテープ３は透明なプラスチックフィルム製で上記収
納用テープ２の表面に凹入部８の両外側部で接着し得る
接着剤層が両側長手縁部に沿って形成され、凹入部８を
閉塞することができるようになっている。そして、収納
用テープ２の凹入部８にチップ状電子部品Ｒを順次供給
し、カバーテープ３を収納用テープ２の表面に重ね、両
者を接着することによりチップ状電子部品Ｒを封入する
ことができる。
ーピング用テープを示し、（ａ）は一部平面図、（ｂ）
は縦断面図である。図２７（ａ）、（ｂ）に示すよう
に、テーピング用テープ１は収納用テープ２とカバーテ
ープ３とから構成され、収納用テープ２はテープ本体４
とボトムテープ５とから構成されている。テープ本体４
は紙製、若しくは透明なプラスチック製で、チップ状電
子部品Ｒを収納するための穴６と送り穴７が長手方向に
沿って打抜き加工により列設され、このテープ本体４の
裏面に光透過性を有する薄紙製のボトムテープ５が接着
され、穴６が閉塞されて凹入部８が形成されている。カ
バーテープ３は透明なプラスチックフィルム製で上記収
納用テープ２の表面に凹入部８の両外側部で接着し得る
接着剤層が両側長手縁部に沿って形成され、凹入部８を
閉塞することができるようになっている。そして、収納
用テープ２の凹入部８にチップ状電子部品Ｒを順次供給
し、カバーテープ３を収納用テープ２の表面に重ね、両
者を接着することによりチップ状電子部品Ｒを封入する
ことができる。
【０００４】図２８は後者のタイプのテーピング用テー
プを示す縦断面図である。図２８に示すように、テーピ
ング用テープ１は収納用テープ２とカバーテープ３とか
ら構成される。収納用テープ２は透明なプラスチックフ
ィルムからなるテープにチップ状電子部品Ｒを収納する
ための凹入部８が長手方向に沿って絞り加工により列設
されると共に、送り穴（図示省略）が長手方向に沿って
打抜き加工により列設されている。カバーテープ３は図
２７（ａ）、（ｂ）に示すテーピング用テープ１の場合
と同様に形成されている。そして、収納用テープ２の凹
入部８にチップ状電子部品Ｒを順次供給し、カバーテー
プ３を収納用テープ２の表面に重ね、両者を接着するこ
とによりチップ状電子部品Ｒを封入することができる。
プを示す縦断面図である。図２８に示すように、テーピ
ング用テープ１は収納用テープ２とカバーテープ３とか
ら構成される。収納用テープ２は透明なプラスチックフ
ィルムからなるテープにチップ状電子部品Ｒを収納する
ための凹入部８が長手方向に沿って絞り加工により列設
されると共に、送り穴（図示省略）が長手方向に沿って
打抜き加工により列設されている。カバーテープ３は図
２７（ａ）、（ｂ）に示すテーピング用テープ１の場合
と同様に形成されている。そして、収納用テープ２の凹
入部８にチップ状電子部品Ｒを順次供給し、カバーテー
プ３を収納用テープ２の表面に重ね、両者を接着するこ
とによりチップ状電子部品Ｒを封入することができる。
【０００５】上記チップ状電子部品Ｒは自身が正常であ
るばかりでなく、テーピング用テープ１に正常な姿勢で
収納しなければ自動実装機によりプリント基板に実装す
る際、トラブルが生じる。このようなトラブルを未然に
防止するには、チップ状電子部品Ｒの外観、すなわち、
外形輪郭および表面状態を検査する必要がある。従来、
チップ状電子部品Ｒの外観を検査するには、上記のよう
にテーピング用テープ１にチップ状電子部品Ｒを封入し
てリールに巻き取り、このテーピング用テープ１を別の
リールに巻き替え、再びリールに巻き取る際、走行する
テーピング用テープ１のカバーテープ３上から肉眼で外
観の良、不良について判断している。
るばかりでなく、テーピング用テープ１に正常な姿勢で
収納しなければ自動実装機によりプリント基板に実装す
る際、トラブルが生じる。このようなトラブルを未然に
防止するには、チップ状電子部品Ｒの外観、すなわち、
外形輪郭および表面状態を検査する必要がある。従来、
チップ状電子部品Ｒの外観を検査するには、上記のよう
にテーピング用テープ１にチップ状電子部品Ｒを封入し
てリールに巻き取り、このテーピング用テープ１を別の
リールに巻き替え、再びリールに巻き取る際、走行する
テーピング用テープ１のカバーテープ３上から肉眼で外
観の良、不良について判断している。
【０００６】また、従来、一般的に検体の外観を自動的
に検査するには、検体を光源により照明し、この照明さ
れた検体の外観を画像処理技術で把握するようにした構
成が知られている。
に検査するには、検体を光源により照明し、この照明さ
れた検体の外観を画像処理技術で把握するようにした構
成が知られている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、電子
部品は益々微小化しつつあり、例えば、角板形チップ固
定抵抗器は、数ｍｍ角ないし１ｍｍ角程度の大きさにな
りつつあり、上記従来例のような肉眼による検査方式で
は電子部品の微小化に対応することができない。また、
最近では１分間に１０００個程度の高速の検査速度が求
められているが、肉眼による検査方式では、このような
検査速度を到底実現することができない。また、肉眼に
よる検査方式では、疲労による検査ミスの発生も懸念さ
れる上に、検査コストもかさみ、チップ状電子部品のコ
ストを上昇させる要因ともなる。更に、肉眼による検査
速度はチップ状電子部品のテーピング速度に比べてはる
かに遅いため、一度巻き取ったテーピング用テープ１を
肉眼で追随することができる速度で再度、巻き替えなが
ら外観検査を行う必要があり、テーピング作業工程とは
別に検査工程を独立して設ける必要があった。
部品は益々微小化しつつあり、例えば、角板形チップ固
定抵抗器は、数ｍｍ角ないし１ｍｍ角程度の大きさにな
りつつあり、上記従来例のような肉眼による検査方式で
は電子部品の微小化に対応することができない。また、
最近では１分間に１０００個程度の高速の検査速度が求
められているが、肉眼による検査方式では、このような
検査速度を到底実現することができない。また、肉眼に
よる検査方式では、疲労による検査ミスの発生も懸念さ
れる上に、検査コストもかさみ、チップ状電子部品のコ
ストを上昇させる要因ともなる。更に、肉眼による検査
速度はチップ状電子部品のテーピング速度に比べてはる
かに遅いため、一度巻き取ったテーピング用テープ１を
肉眼で追随することができる速度で再度、巻き替えなが
ら外観検査を行う必要があり、テーピング作業工程とは
別に検査工程を独立して設ける必要があった。
【０００８】一方、上記従来例の画像処理方式では、検
体をその表面側と背面側のいずれかのみから照明する。
例えば、表面側から照明した場合には、検体の表面状態
を把握することができるものの、検体の周縁にはその厚
みに対応した影が発生するため、外形輸郭を把握するこ
とはできない。これとは逆に背面側から照明した場合に
は、検体の外形輪郭を浮かび上がらせて把握することが
できるものの、得られる映像はシルエット像であるた
め、検体の表面状態の詳細な映像を得ることができな
い。したがって、従来の画像処理方式によれば、検体の
外形輪郭と表面状態を共に把握しようとすれば、照明光
源を変化させて２度撮像するか、あるいは検体の表面側
と背面側にそれぞれ撮像装置を配設し、検体の外形輪郭
と表面状態を別々に撮像した上で、これらを合成するし
かなかった。
体をその表面側と背面側のいずれかのみから照明する。
例えば、表面側から照明した場合には、検体の表面状態
を把握することができるものの、検体の周縁にはその厚
みに対応した影が発生するため、外形輸郭を把握するこ
とはできない。これとは逆に背面側から照明した場合に
は、検体の外形輪郭を浮かび上がらせて把握することが
できるものの、得られる映像はシルエット像であるた
め、検体の表面状態の詳細な映像を得ることができな
い。したがって、従来の画像処理方式によれば、検体の
外形輪郭と表面状態を共に把握しようとすれば、照明光
源を変化させて２度撮像するか、あるいは検体の表面側
と背面側にそれぞれ撮像装置を配設し、検体の外形輪郭
と表面状態を別々に撮像した上で、これらを合成するし
かなかった。
【０００９】また、近年、光センサや静電容量センサを
用いてテーピング状態の電子部品を検査する装置が実用
化されているが、この装置では電子部品の有無等の単純
な検査しか行うことができない。
用いてテーピング状態の電子部品を検査する装置が実用
化されているが、この装置では電子部品の有無等の単純
な検査しか行うことができない。
【００１０】本発明は、上記のような従来の問題を解決
するものであり、撮像装置を用いてチップ状電子部品等
の検体の外形輪郭と表面状態の像を同時に得ることがで
き、したがって、検体の微小化および検査速度の高速化
に対応することができ、また、構成を簡素化することが
でき、したがって、検査コストを低下させることができ
るようにした外観検査方法およびその装置を提供するこ
とを目的とするものである。
するものであり、撮像装置を用いてチップ状電子部品等
の検体の外形輪郭と表面状態の像を同時に得ることがで
き、したがって、検体の微小化および検査速度の高速化
に対応することができ、また、構成を簡素化することが
でき、したがって、検査コストを低下させることができ
るようにした外観検査方法およびその装置を提供するこ
とを目的とするものである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の外観検査方法は、搬送される検体の外形輪郭
の映像を得ることができるように上記検体を第１の照明
手段により照明すると共に、上記検体の表面状態の映像
を得ることができるように上記検体を上記第１の照明手
段の反対側から第２の照明手段により照明し、上記第１
と第２の照明手段により照明される上記検体の外形輪郭
と表面状態を撮像装置により同時に撮像するようにした
ものである。
の本発明の外観検査方法は、搬送される検体の外形輪郭
の映像を得ることができるように上記検体を第１の照明
手段により照明すると共に、上記検体の表面状態の映像
を得ることができるように上記検体を上記第１の照明手
段の反対側から第２の照明手段により照明し、上記第１
と第２の照明手段により照明される上記検体の外形輪郭
と表面状態を撮像装置により同時に撮像するようにした
ものである。
【００１２】また、上記目的を達成するための本発明の
外観検査装置は、搬送される検体の外形輪郭の映像を得
ることができるように上記検体を照明する第１の照明手
段と、上記検体の表面状態の映像を得ることができるよ
うに上記検体を上記第１の照明手段の反対側から照明す
る第２の照明手段と、上記第１と第２の照明手段により
照明される上記検体の外形輪郭と表面状態を同時に撮像
する撮像装置とを備えたものである。
外観検査装置は、搬送される検体の外形輪郭の映像を得
ることができるように上記検体を照明する第１の照明手
段と、上記検体の表面状態の映像を得ることができるよ
うに上記検体を上記第１の照明手段の反対側から照明す
る第２の照明手段と、上記第１と第２の照明手段により
照明される上記検体の外形輪郭と表面状態を同時に撮像
する撮像装置とを備えたものである。
【００１３】そして、上記外観検査装置における第１と
第２の照明手段として、光源と、この光源から放出され
た光を導いて検体を照明する光ファイバとを備えること
ができ、また、撮像装置として、１台の撮像カメラによ
り検体の外形輪郭と表面状態を同時に撮像するように
し、または外形輪郭用の第１の撮像カメラと、表面状態
用の第２の撮像カメラと、これら第１と第２の撮像カメ
ラに同時に光を導く光学手段とを備え、第１と第２の別
々の撮像カメラにより検体の外形輪郭と表面状態を同時
に撮像するようにすることができる。また、上記各外観
検査装置において、第１の照明手段が１箇所から検体を
照明し、第２の照明手段が撮像装置の両側から検体を照
明するように構成することができる。
第２の照明手段として、光源と、この光源から放出され
た光を導いて検体を照明する光ファイバとを備えること
ができ、また、撮像装置として、１台の撮像カメラによ
り検体の外形輪郭と表面状態を同時に撮像するように
し、または外形輪郭用の第１の撮像カメラと、表面状態
用の第２の撮像カメラと、これら第１と第２の撮像カメ
ラに同時に光を導く光学手段とを備え、第１と第２の別
々の撮像カメラにより検体の外形輪郭と表面状態を同時
に撮像するようにすることができる。また、上記各外観
検査装置において、第１の照明手段が１箇所から検体を
照明し、第２の照明手段が撮像装置の両側から検体を照
明するように構成することができる。
【００１４】そして、上記いずれの外観検査方法および
外観検査装置においても、検体を、テーピング用テープ
の収納用テープに列設され、少なくとも底部が光透過性
を有する凹入部に収納し、この検体を上記収納用テープ
の走行により光透過性を有するガイドで離脱を防止した
状態で搬送し、上記検体を上記凹入部の底部側と上記ガ
イド側とから照明することができ、または検体を、テー
ピング用テープの収納用テープに列設され、少なくとも
底部が光透過性を有する凹入部に収納し、この検体を光
透過性を有するプラスチック製のカバーテープにより上
記凹入部に封入された状態で上記テーピング用テープの
走行により搬送し、上記検体を上記凹入部の底部側と上
記カバーテープ側とから照明することができ、または検
体を、垂直軸を中心として回転し得る検測ホイールの外
周に多数形成された収納溝に収納し、この検体を上記検
測ホイールの回転により離脱を防止した状態で搬送し、
上記検体を光透過性を有する基板側と光透過性を有する
カバーガイド側とから照明することができる。上記収納
用テープとしては、テープ本体に穴が列設され、上記テ
ープ本体に光透過性を有する薄紙製のボトムテープが接
着されて凹入部が形成されたものを用い、または透明な
プラスチックからなり、凹入部が絞り加工により形成さ
れたものを用いることができる。また、黒色のテーピン
グ用テープを用いた場合には、可視光に替え、赤外線、
紫外線、Ｘ線等を用いて検体を照明することができる。
また、上記検体を連続的に搬送し、または間歇的に搬送
することができる。
外観検査装置においても、検体を、テーピング用テープ
の収納用テープに列設され、少なくとも底部が光透過性
を有する凹入部に収納し、この検体を上記収納用テープ
の走行により光透過性を有するガイドで離脱を防止した
状態で搬送し、上記検体を上記凹入部の底部側と上記ガ
イド側とから照明することができ、または検体を、テー
ピング用テープの収納用テープに列設され、少なくとも
底部が光透過性を有する凹入部に収納し、この検体を光
透過性を有するプラスチック製のカバーテープにより上
記凹入部に封入された状態で上記テーピング用テープの
走行により搬送し、上記検体を上記凹入部の底部側と上
記カバーテープ側とから照明することができ、または検
体を、垂直軸を中心として回転し得る検測ホイールの外
周に多数形成された収納溝に収納し、この検体を上記検
測ホイールの回転により離脱を防止した状態で搬送し、
上記検体を光透過性を有する基板側と光透過性を有する
カバーガイド側とから照明することができる。上記収納
用テープとしては、テープ本体に穴が列設され、上記テ
ープ本体に光透過性を有する薄紙製のボトムテープが接
着されて凹入部が形成されたものを用い、または透明な
プラスチックからなり、凹入部が絞り加工により形成さ
れたものを用いることができる。また、黒色のテーピン
グ用テープを用いた場合には、可視光に替え、赤外線、
紫外線、Ｘ線等を用いて検体を照明することができる。
また、上記検体を連続的に搬送し、または間歇的に搬送
することができる。
【００１５】上記検体としては、角板形チップ固定抵抗
器、チップ形コンデンサ等の電子部品のほか、錠剤等の
固形物を挙げることができる。
器、チップ形コンデンサ等の電子部品のほか、錠剤等の
固形物を挙げることができる。
【００１６】
【作用】したがって、本発明によれば、搬送される検体
を第１の照明手段で照明することにより、検体の外形輪
郭を浮かび上がらせることができると共に、検体の表面
を第２の照明手段で照明することにより、鮮明にするこ
とができる。そして、撮像装置で検体の外形輪郭と表面
状態を同時に撮像し、両者を関係づけて把握することが
できる。
を第１の照明手段で照明することにより、検体の外形輪
郭を浮かび上がらせることができると共に、検体の表面
を第２の照明手段で照明することにより、鮮明にするこ
とができる。そして、撮像装置で検体の外形輪郭と表面
状態を同時に撮像し、両者を関係づけて把握することが
できる。
【００１７】
【実施例】以下、本発明の第１の実施例について図面を
参照しながら説明する。図１、図２は本発明の第１の実
施例における外観検査装置を示し、図１は正面図、図２
は側面図、図３は本発明の外観検査装置を適用したテー
ピング装置の全体概略構成図、図４はテーピング工程説
明図、図５（ａ）および（ｂ）はテーピング工程説明用
のテーピング用テープの平面図および断面図、図６は角
板形チップ固定抵抗器を収納用テープの凹入部に供給す
るための検測ホイール部を示す断面図、図７は角板形チ
ップ固定抵抗器の外観検査動作説明図、図８（ａ）、
（ｂ）はそれぞれ外観検査装置による撮像例の平面図、
図９は外観検査装置により得られる映像の説明図、図１
０は角板形チップ固定抵抗器がテーピング用テープに正
常に納められている状態を示す平面図、図１１は角板形
チップ固定抵抗器がテーピング用テープに納められてい
ない状態を示す平面図、図１２ないし図２２はテーピン
グ用テープに納められた角板形チップ固定抵抗器の不良
例を示す平面図である。
参照しながら説明する。図１、図２は本発明の第１の実
施例における外観検査装置を示し、図１は正面図、図２
は側面図、図３は本発明の外観検査装置を適用したテー
ピング装置の全体概略構成図、図４はテーピング工程説
明図、図５（ａ）および（ｂ）はテーピング工程説明用
のテーピング用テープの平面図および断面図、図６は角
板形チップ固定抵抗器を収納用テープの凹入部に供給す
るための検測ホイール部を示す断面図、図７は角板形チ
ップ固定抵抗器の外観検査動作説明図、図８（ａ）、
（ｂ）はそれぞれ外観検査装置による撮像例の平面図、
図９は外観検査装置により得られる映像の説明図、図１
０は角板形チップ固定抵抗器がテーピング用テープに正
常に納められている状態を示す平面図、図１１は角板形
チップ固定抵抗器がテーピング用テープに納められてい
ない状態を示す平面図、図１２ないし図２２はテーピン
グ用テープに納められた角板形チップ固定抵抗器の不良
例を示す平面図である。
【００１８】図１９に示すように、検体である角板形チ
ップ固定抵抗器（以下、単にチップ抵抗器という）Ｒ
は、セラミック等からなる基板Ｒ１の外面に抵抗体とな
る炭素皮膜Ｒ２が形成され、この炭素皮膜Ｒ２に所望の
溝が形成されて抵抗値が調整され、炭素皮膜Ｒ２がガラ
ス等からなるコート層Ｒ３により保護され、両端部に電
極Ｒ４がめっき等により形成され、表面側のコート層Ｒ
３上に抵抗値の表示Ｒ５が印刷等により施されている。
ップ固定抵抗器（以下、単にチップ抵抗器という）Ｒ
は、セラミック等からなる基板Ｒ１の外面に抵抗体とな
る炭素皮膜Ｒ２が形成され、この炭素皮膜Ｒ２に所望の
溝が形成されて抵抗値が調整され、炭素皮膜Ｒ２がガラ
ス等からなるコート層Ｒ３により保護され、両端部に電
極Ｒ４がめっき等により形成され、表面側のコート層Ｒ
３上に抵抗値の表示Ｒ５が印刷等により施されている。
【００１９】次に、チップ抵抗器Ｒのテーピング工程に
ついて説明する。図３ないし図５に示すように、リール
１１に巻き取られている上記テープ本体４を繰り出すと
共に、光透過性を有する薄紙製で、リール１２に巻き取
られている上記ボトムテープ５を繰り出し、圧着装置１
３によりテープ本体４の裏面にボトムテープ５を接着
し、凹入部８を形成する。この収納用テープ２をその送
り穴７を利用して送り装置１４により間歇的に走行させ
る。この収納用テープ２の間歇走行の途中で、チップ抵
抗器Ｒを供給装置１５により各凹入部８に順次供給す
る。供給後、収納用テープ２の間歇走行により搬送され
るチップ抵抗器Ｒの外観を本発明の外観検査装置１６に
より検査する。検査後、リール１７に巻き取られている
上記カバーテープ３を収納用テープ２の表面に重ね、圧
着装置１８により両者を接着する。その後、チップ抵抗
器Ｒを収納したテーピング用テープ１を巻き取りリール
１９に巻き取る。
ついて説明する。図３ないし図５に示すように、リール
１１に巻き取られている上記テープ本体４を繰り出すと
共に、光透過性を有する薄紙製で、リール１２に巻き取
られている上記ボトムテープ５を繰り出し、圧着装置１
３によりテープ本体４の裏面にボトムテープ５を接着
し、凹入部８を形成する。この収納用テープ２をその送
り穴７を利用して送り装置１４により間歇的に走行させ
る。この収納用テープ２の間歇走行の途中で、チップ抵
抗器Ｒを供給装置１５により各凹入部８に順次供給す
る。供給後、収納用テープ２の間歇走行により搬送され
るチップ抵抗器Ｒの外観を本発明の外観検査装置１６に
より検査する。検査後、リール１７に巻き取られている
上記カバーテープ３を収納用テープ２の表面に重ね、圧
着装置１８により両者を接着する。その後、チップ抵抗
器Ｒを収納したテーピング用テープ１を巻き取りリール
１９に巻き取る。
【００２０】上記供給装置１５は本実施例においてはチ
ップ抵抗器Ｒの表裏を検出し、抵抗値を測定した後、収
納用テープ２の凹入部８に供給するようになっている。
特に、図４および図６から明らかなように、基台２０に
垂直方向の回転軸２１が軸受２２を介して回転可能に支
持され、回転軸２１には検測ホイール２３が固定されて
いる。検測ホイール２３の外周には多数の収納溝２４が
均等割り位置に形成されている。これら回転軸２１と検
測ホイール２３は駆動装置（図示省略）により間歇回転
され、各収納溝２４が上記のように間歇的に走行する収
納用テープ２の各凹入部８に順次一致されるようになっ
ている。検測ホイール２３の外周部には回転方向の上流
側より下流側に向かって分離供給部２５、表裏検出部２
６、第１検測部２７、第２検測部２８および挿入部２９
が順次配置されている。分離供給部２５はパーツフィー
ダ３０から排出されるチップ抵抗器Ｒを間歇回転される
検測ホイール２３の各収納溝２４に順次供給することが
できるように構成されている。基台２０上には検測ホイ
ール２３の外周部においてガイド３１とカバープレート
３２が順次取り付けられている。基台２０は分離供給部
２５により検測ホイール２３の収納溝２４に供給された
チップ抵抗器Ｒを検測ホイール２３の間歇回転に伴い、
表裏検出部２６、第１検測部２７、第２検測部２８およ
び挿入部２９へ順次搬送することができるように設定さ
れ、ガイド３１とカバープレート３２はこの搬送の際、
チップ抵抗器Ｒが収納溝２４から離脱するのを防止する
ことができるように設定されている。表裏検出部２６は
搬送されるチップ抵抗器Ｒの表裏を検出することがで
き、第１、第２検測部２７、２８はそれぞれチップ抵抗
器Ｒの抵抗値を測定することができ、挿入部２９は測定
後のチップ抵抗器Ｒを収納用テープ２の凹入部８に挿入
することができるように構成されている。
ップ抵抗器Ｒの表裏を検出し、抵抗値を測定した後、収
納用テープ２の凹入部８に供給するようになっている。
特に、図４および図６から明らかなように、基台２０に
垂直方向の回転軸２１が軸受２２を介して回転可能に支
持され、回転軸２１には検測ホイール２３が固定されて
いる。検測ホイール２３の外周には多数の収納溝２４が
均等割り位置に形成されている。これら回転軸２１と検
測ホイール２３は駆動装置（図示省略）により間歇回転
され、各収納溝２４が上記のように間歇的に走行する収
納用テープ２の各凹入部８に順次一致されるようになっ
ている。検測ホイール２３の外周部には回転方向の上流
側より下流側に向かって分離供給部２５、表裏検出部２
６、第１検測部２７、第２検測部２８および挿入部２９
が順次配置されている。分離供給部２５はパーツフィー
ダ３０から排出されるチップ抵抗器Ｒを間歇回転される
検測ホイール２３の各収納溝２４に順次供給することが
できるように構成されている。基台２０上には検測ホイ
ール２３の外周部においてガイド３１とカバープレート
３２が順次取り付けられている。基台２０は分離供給部
２５により検測ホイール２３の収納溝２４に供給された
チップ抵抗器Ｒを検測ホイール２３の間歇回転に伴い、
表裏検出部２６、第１検測部２７、第２検測部２８およ
び挿入部２９へ順次搬送することができるように設定さ
れ、ガイド３１とカバープレート３２はこの搬送の際、
チップ抵抗器Ｒが収納溝２４から離脱するのを防止する
ことができるように設定されている。表裏検出部２６は
搬送されるチップ抵抗器Ｒの表裏を検出することがで
き、第１、第２検測部２７、２８はそれぞれチップ抵抗
器Ｒの抵抗値を測定することができ、挿入部２９は測定
後のチップ抵抗器Ｒを収納用テープ２の凹入部８に挿入
することができるように構成されている。
【００２１】外観検査装置１６は本実施例では図４の実
線位置、すなわち、収納用テープ２の凹入部８に収納さ
れたチップ抵抗器Ｒがカバーテープ３により封入される
前の位置に配置され、図１、図２から明らかなように、
第１の照明手段３５と、第２の照明手段３６と、撮像装
置３７とから構成されている。第１の照明手段３５はハ
ロゲンランプ等の光源（図示省略）と、この光源から放
出された光を導く光ファイバ３８とからなる。そして、
光ファイバ３８の出射部３９がレール４０に沿って走行
する収納用テープ２の凹入部８内のチップ抵抗器Ｒの外
形輪郭の映像を得ることができるようにレール４０の穴
４１部においてチップ抵抗器Ｒをその下方から照明する
ように配置されている（図７参照）。第２の照明手段３
６はハロゲンランプ等の光源（図示省略）と、この光源
から放出された光を導く光ファイバ４２とからなり、光
ファイバ４２の出射部４３には照明角度可変用の反射ミ
ラー４４が設けられている。第２の照明手段３６はその
出射部４３が収納用テープ２の凹入部８内のチップ抵抗
器Ｒの表面状態の映像を得ることができるように離脱防
止用のガイド４５におけるガラス、アクリル樹脂等から
なる光透過性の透明部４６においてチップ抵抗器Ｒをそ
の上方から照明するように配置され、しかも、収納用テ
ープ２の走行方向、すなわち、チップ抵抗器Ｒの搬送方
向に沿って間隔を置いて一対配置されている。撮像装置
３７は収納用テープ２、すなわち、チップ抵抗器Ｒの上
方において、一対の光ファイバ４２の出射部４３の間で
配置されている。この撮像装置３７はケース４７内に１
台の撮像カメラ（ＣＣＤカメラ）４８が備えられ、この
１台の撮像カメラ４８によりチップ抵抗器Ｒの外形輪郭
と表面状態を同時に撮像することができるようになって
いる。撮像装置３７はチップ抵抗器Ｒの外形輪郭と表面
状態を撮像するため、搬送されるチップ抵抗器Ｒの直上
に配置するので、第２の照明手段３６によるチップ抵抗
器Ｒの表面の照明は斜め方向となる。この場合、チップ
抵抗器Ｒを一方向から照明すると、チップ抵抗器Ｒの表
面全体を均一な明るさに照明することができないおそれ
があるが、上記のように撮像装置３７の両側の２方向か
ら照明することにより、チップ抵抗器Ｒの表面全体を均
一な明るさに照明することができる。このため、上記の
ように各第２の照明手段３６の出射部４３は反射ミラー
４４により光ファイバ４２から出射される光を図７に示
すように、撮像装置３７の下方に集めることができるよ
うに構成されている。撮像装置３７の撮像カメラ４８は
少なくとも一つのチップ抵抗器Ｒの全体形状を撮像する
ことができる視野を有し、かつ検査対象であるチップ抵
抗器Ｒの表面状態を把握することができる程度の解像度
を有するものであれば任意のものを採用することができ
る。この撮像装置３７は図８（ａ）に示すように、一視
野で２個のチップ抵抗器Ｒを撮像するようにしてもよ
く、または図８（ｂ）に示すように、一視野で１個のチ
ップ抵抗器Ｒを撮像するようにしてもよく、または一視
野で３個以上のチップ抵抗器Ｒを撮像するようにしても
よい。チップ抵抗器Ｒが収納された収納用テープ２にカ
バーテープ３が接着されるまでの間、収納用テープ２の
走行に際し、チップ抵抗器Ｒが上記ガイド４５により凹
入部８から離脱するのを防止されている。
線位置、すなわち、収納用テープ２の凹入部８に収納さ
れたチップ抵抗器Ｒがカバーテープ３により封入される
前の位置に配置され、図１、図２から明らかなように、
第１の照明手段３５と、第２の照明手段３６と、撮像装
置３７とから構成されている。第１の照明手段３５はハ
ロゲンランプ等の光源（図示省略）と、この光源から放
出された光を導く光ファイバ３８とからなる。そして、
光ファイバ３８の出射部３９がレール４０に沿って走行
する収納用テープ２の凹入部８内のチップ抵抗器Ｒの外
形輪郭の映像を得ることができるようにレール４０の穴
４１部においてチップ抵抗器Ｒをその下方から照明する
ように配置されている（図７参照）。第２の照明手段３
６はハロゲンランプ等の光源（図示省略）と、この光源
から放出された光を導く光ファイバ４２とからなり、光
ファイバ４２の出射部４３には照明角度可変用の反射ミ
ラー４４が設けられている。第２の照明手段３６はその
出射部４３が収納用テープ２の凹入部８内のチップ抵抗
器Ｒの表面状態の映像を得ることができるように離脱防
止用のガイド４５におけるガラス、アクリル樹脂等から
なる光透過性の透明部４６においてチップ抵抗器Ｒをそ
の上方から照明するように配置され、しかも、収納用テ
ープ２の走行方向、すなわち、チップ抵抗器Ｒの搬送方
向に沿って間隔を置いて一対配置されている。撮像装置
３７は収納用テープ２、すなわち、チップ抵抗器Ｒの上
方において、一対の光ファイバ４２の出射部４３の間で
配置されている。この撮像装置３７はケース４７内に１
台の撮像カメラ（ＣＣＤカメラ）４８が備えられ、この
１台の撮像カメラ４８によりチップ抵抗器Ｒの外形輪郭
と表面状態を同時に撮像することができるようになって
いる。撮像装置３７はチップ抵抗器Ｒの外形輪郭と表面
状態を撮像するため、搬送されるチップ抵抗器Ｒの直上
に配置するので、第２の照明手段３６によるチップ抵抗
器Ｒの表面の照明は斜め方向となる。この場合、チップ
抵抗器Ｒを一方向から照明すると、チップ抵抗器Ｒの表
面全体を均一な明るさに照明することができないおそれ
があるが、上記のように撮像装置３７の両側の２方向か
ら照明することにより、チップ抵抗器Ｒの表面全体を均
一な明るさに照明することができる。このため、上記の
ように各第２の照明手段３６の出射部４３は反射ミラー
４４により光ファイバ４２から出射される光を図７に示
すように、撮像装置３７の下方に集めることができるよ
うに構成されている。撮像装置３７の撮像カメラ４８は
少なくとも一つのチップ抵抗器Ｒの全体形状を撮像する
ことができる視野を有し、かつ検査対象であるチップ抵
抗器Ｒの表面状態を把握することができる程度の解像度
を有するものであれば任意のものを採用することができ
る。この撮像装置３７は図８（ａ）に示すように、一視
野で２個のチップ抵抗器Ｒを撮像するようにしてもよ
く、または図８（ｂ）に示すように、一視野で１個のチ
ップ抵抗器Ｒを撮像するようにしてもよく、または一視
野で３個以上のチップ抵抗器Ｒを撮像するようにしても
よい。チップ抵抗器Ｒが収納された収納用テープ２にカ
バーテープ３が接着されるまでの間、収納用テープ２の
走行に際し、チップ抵抗器Ｒが上記ガイド４５により凹
入部８から離脱するのを防止されている。
【００２２】なお、図３において、符号５２は設置台、
５３は撮像装置３７の撮像カメラ４８に接続された画像
処理装置、５４は検査基準の設定、チップ抵抗器Ｒの外
形の設定等を行うためのティーチングボックス、５５は
画像をモニタするためのテレビである。
５３は撮像装置３７の撮像カメラ４８に接続された画像
処理装置、５４は検査基準の設定、チップ抵抗器Ｒの外
形の設定等を行うためのティーチングボックス、５５は
画像をモニタするためのテレビである。
【００２３】次に、本発明の外観検査方法について上記
外観検査装置の動作と共に説明する。図３ないし図５に
示すように、リール１１からテープ本体４を繰り出すと
共に、リール１２からボトムテープ５を繰り出し、圧着
装置１３によりテープ本体４の裏面にボトムテープ５を
接着し、凹入部８を形成する。この収納用テープ２を送
り装置１４により間歇的に走行させる。一方、パーツフ
ィーダ３０から排出されるチップ抵抗器Ｒを分離供給部
２５により間歇回転されている検測ホイール２３の各収
納溝２４に順次供給する。供給されたチップ抵抗器Ｒは
上記のように検測ホイール２３の間歇回転に伴い、順次
搬送され、この間、表裏検出部２６により表裏が検出さ
れ、第１、第２の検測部２７、２８により抵抗値が測定
され、挿入部２９により収納用テープ２の凹入部８内に
表面が上向きとなるようにして収納される。表裏が逆向
きのチップ抵抗器Ｒが検出され、また異なる抵抗値のチ
ップ抵抗器Ｒが測定されると、排出手段（図示省略）に
より自動的に排出され、この排出後の収納溝２４が収納
用テープ２に対して通過し得るように収納用テープ２の
走行が停止される。収納後のチップ抵抗器Ｒは収納用テ
ープ２の間歇的な走行に伴い、間歇的に搬送される。こ
の搬送の途中で、図１、図２および図７に示すように、
外観検査装置１６によりチップ抵抗器Ｒの外形輪郭と表
面状態を検出する。すなわち、下部の第１の照明手段３
５の出射部３９によりチップ抵抗器Ｒを光透過性のボト
ムテープ５側の背後から照明し、チップ抵抗器Ｒの周縁
における影の発生を防止してチップ抵抗器Ｒの外形輪郭
を明確に浮かび上がらせることができ、上部の一対の第
２の照明手段３６の出射部４３によりチップ抵抗器Ｒの
表面全体を透明のガイド４６側から均一に明るく照明す
ることができる。そして、第１の照明手段３５の光と第
２の照明手段３６のチップ抵抗器Ｒによる反射光を撮像
カメラ４８に導き、図９に示すように、チップ抵抗器Ｒ
の外形輪郭Ｆと表面状態Ｓを同時に撮像することができ
る。チップ抵抗器Ｒの検出方法の一例としては、撮像装
置３７により得られた映像を画像処理し、あらかじめ良
品のデータとこのデータからの許容誤差をメモリに登録
しておき、撮像したチップ抵抗器Ｒの映像をメモリ上で
比較する。このほか、チップ抵抗器Ｒの外形輪郭の直線
性を判断するなどの検出方法を採用することもできる。
そして、上記のように撮像装置３７の一視野で複数個の
チップ抵抗器Ｒの外観を検査することができ（図８
（ａ）参照）、また、一視野で１個のチップ抵抗器Ｒの
外観を検査することができ（図８（ｂ）参照）、特に、
一視野で複数個のチップ抵抗器Ｒの外観を検査すること
により収納用テープ２の走行のスピードアップに対応す
ることができる。
外観検査装置の動作と共に説明する。図３ないし図５に
示すように、リール１１からテープ本体４を繰り出すと
共に、リール１２からボトムテープ５を繰り出し、圧着
装置１３によりテープ本体４の裏面にボトムテープ５を
接着し、凹入部８を形成する。この収納用テープ２を送
り装置１４により間歇的に走行させる。一方、パーツフ
ィーダ３０から排出されるチップ抵抗器Ｒを分離供給部
２５により間歇回転されている検測ホイール２３の各収
納溝２４に順次供給する。供給されたチップ抵抗器Ｒは
上記のように検測ホイール２３の間歇回転に伴い、順次
搬送され、この間、表裏検出部２６により表裏が検出さ
れ、第１、第２の検測部２７、２８により抵抗値が測定
され、挿入部２９により収納用テープ２の凹入部８内に
表面が上向きとなるようにして収納される。表裏が逆向
きのチップ抵抗器Ｒが検出され、また異なる抵抗値のチ
ップ抵抗器Ｒが測定されると、排出手段（図示省略）に
より自動的に排出され、この排出後の収納溝２４が収納
用テープ２に対して通過し得るように収納用テープ２の
走行が停止される。収納後のチップ抵抗器Ｒは収納用テ
ープ２の間歇的な走行に伴い、間歇的に搬送される。こ
の搬送の途中で、図１、図２および図７に示すように、
外観検査装置１６によりチップ抵抗器Ｒの外形輪郭と表
面状態を検出する。すなわち、下部の第１の照明手段３
５の出射部３９によりチップ抵抗器Ｒを光透過性のボト
ムテープ５側の背後から照明し、チップ抵抗器Ｒの周縁
における影の発生を防止してチップ抵抗器Ｒの外形輪郭
を明確に浮かび上がらせることができ、上部の一対の第
２の照明手段３６の出射部４３によりチップ抵抗器Ｒの
表面全体を透明のガイド４６側から均一に明るく照明す
ることができる。そして、第１の照明手段３５の光と第
２の照明手段３６のチップ抵抗器Ｒによる反射光を撮像
カメラ４８に導き、図９に示すように、チップ抵抗器Ｒ
の外形輪郭Ｆと表面状態Ｓを同時に撮像することができ
る。チップ抵抗器Ｒの検出方法の一例としては、撮像装
置３７により得られた映像を画像処理し、あらかじめ良
品のデータとこのデータからの許容誤差をメモリに登録
しておき、撮像したチップ抵抗器Ｒの映像をメモリ上で
比較する。このほか、チップ抵抗器Ｒの外形輪郭の直線
性を判断するなどの検出方法を採用することもできる。
そして、上記のように撮像装置３７の一視野で複数個の
チップ抵抗器Ｒの外観を検査することができ（図８
（ａ）参照）、また、一視野で１個のチップ抵抗器Ｒの
外観を検査することができ（図８（ｂ）参照）、特に、
一視野で複数個のチップ抵抗器Ｒの外観を検査すること
により収納用テープ２の走行のスピードアップに対応す
ることができる。
【００２４】図１０に示すように、チップ抵抗器Ｒの外
形輪郭および表面状態が正常であり、かつチップ抵抗器
Ｒが収納用テープ２の凹入部８内に正常な状態で収納さ
れている場合には外観検査結果が正常であるので、収納
用テープ２を送り装置１４により間歇的に走行させ、上
記のようにチップ抵抗器Ｒの凹入部８に対する供給作業
を続行する。図１１ないし図２２は下記のように本発明
により検出可能な不良例を示している。図１１はチップ
抵抗器Ｒが収納用テープ２の凹入部８に収納されていな
い状態である。図１２はチップ抵抗器Ｒが表裏反転して
収納用テープ２の凹入部８に収納されている状態であ
る。図１３はチップ抵抗器Ｒが収納用テープ２の凹入部
８に収納され、更にチップ抵抗器Ｒの一部がテープ本体
４とボトムテープ５の間に入り込んだ状態である。図１
４はチップ抵抗器Ｒが収納用テープ２の凹入部８に起立
した状態で挿入されている状態である。図１５はチップ
抵抗器Ｒの外縁部が欠けている状態である。図１６はチ
ップ抵抗器Ｒが割れている状態である。図１７はチップ
抵抗器Ｒの抵抗器Ｒの電極Ｒ４のめっき不良状態であ
る。図１８はチップ抵抗器Ｒの電極Ｒ４のめっきがずれ
ている不良状態である。図１９はチップ抵抗器Ｒのコー
ト層Ｒ３が欠けている不良状態である。図２０はチップ
抵抗器Ｒの電極Ｒ４のめっきがはみ出した不良状態であ
る。図２１はチップ抵抗器Ｒの抵抗値の表示Ｒ５の不良
状態である。図２２はチップ抵抗器Ｒの抵抗値の表示Ｒ
５の不良状態である。このほか、抵抗値の異なるチップ
抵抗器Ｒが混入している場合もあり、このような各種の
不良が検出されると、収納用テープ２の走行を停止さ
せ、その場で正常なチップ抵抗器Ｒを収納し、または収
納し直し、または交換する。このようにして正常なチッ
プ抵抗器Ｒを収納した収納用テープ２が間歇走行する
と、図３、４に示すように、リール１７から繰り出した
カバーテープ３を収納用テープ２の表面に重ね、圧着装
置１８により両者を接着し、収納完成後のテーピング用
テープ１を巻き取りリール１９に巻き取ることができ
る。
形輪郭および表面状態が正常であり、かつチップ抵抗器
Ｒが収納用テープ２の凹入部８内に正常な状態で収納さ
れている場合には外観検査結果が正常であるので、収納
用テープ２を送り装置１４により間歇的に走行させ、上
記のようにチップ抵抗器Ｒの凹入部８に対する供給作業
を続行する。図１１ないし図２２は下記のように本発明
により検出可能な不良例を示している。図１１はチップ
抵抗器Ｒが収納用テープ２の凹入部８に収納されていな
い状態である。図１２はチップ抵抗器Ｒが表裏反転して
収納用テープ２の凹入部８に収納されている状態であ
る。図１３はチップ抵抗器Ｒが収納用テープ２の凹入部
８に収納され、更にチップ抵抗器Ｒの一部がテープ本体
４とボトムテープ５の間に入り込んだ状態である。図１
４はチップ抵抗器Ｒが収納用テープ２の凹入部８に起立
した状態で挿入されている状態である。図１５はチップ
抵抗器Ｒの外縁部が欠けている状態である。図１６はチ
ップ抵抗器Ｒが割れている状態である。図１７はチップ
抵抗器Ｒの抵抗器Ｒの電極Ｒ４のめっき不良状態であ
る。図１８はチップ抵抗器Ｒの電極Ｒ４のめっきがずれ
ている不良状態である。図１９はチップ抵抗器Ｒのコー
ト層Ｒ３が欠けている不良状態である。図２０はチップ
抵抗器Ｒの電極Ｒ４のめっきがはみ出した不良状態であ
る。図２１はチップ抵抗器Ｒの抵抗値の表示Ｒ５の不良
状態である。図２２はチップ抵抗器Ｒの抵抗値の表示Ｒ
５の不良状態である。このほか、抵抗値の異なるチップ
抵抗器Ｒが混入している場合もあり、このような各種の
不良が検出されると、収納用テープ２の走行を停止さ
せ、その場で正常なチップ抵抗器Ｒを収納し、または収
納し直し、または交換する。このようにして正常なチッ
プ抵抗器Ｒを収納した収納用テープ２が間歇走行する
と、図３、４に示すように、リール１７から繰り出した
カバーテープ３を収納用テープ２の表面に重ね、圧着装
置１８により両者を接着し、収納完成後のテーピング用
テープ１を巻き取りリール１９に巻き取ることができ
る。
【００２５】このように１箇所に配置した撮像装置３７
でチップ抵抗器Ｒの外形輪郭と表面状態の両方を同時に
撮像することにより、表面状態の映像を常に外形輪郭と
一体的に把握することができる。これにより抵抗値の捺
印不良等のチップ抵抗器Ｒの表面状態を外形輪郭との関
係で把握することが可能となり、収納用テープ２の凹入
部８内にチップ抵抗器Ｒがランダムな状態で収納されて
いる場合でも、表面状態の良否を高速で判断することが
できる。したがって、収納用テープ２の走行速度を低下
させることなく、従来どおりの処理速度を維持すること
ができる。しかも、光学倍率を上げることにより、チッ
プ抵抗器Ｒの微小化に対応することができる。また、撮
像装置３７は一台用いればよいので、構成を簡素化し、
検査コストを低下させることができる。また、構成を簡
素化しているので、既存のテーピング装置に簡単に付設
することができる。また、本実施例においては、チップ
抵抗器Ｒを収納用テープ２の凹入部８に収納した後であ
って、カバーテープ３を接着して封入する前の段階で外
観検査を行うので、上記不良を発見すると、その場で正
常なチップ抵抗器Ｒの収納、収納し直し、交換を行うこ
とができる。したがって、テーピング後のチップ抵抗器
Ｒは検査済み製品として取り扱うことができ、従来のよ
うに検査のために、再度、巻き替える手間が不要とな
り、テーピング工程および検査工程の大幅な合理化が可
能となる。
でチップ抵抗器Ｒの外形輪郭と表面状態の両方を同時に
撮像することにより、表面状態の映像を常に外形輪郭と
一体的に把握することができる。これにより抵抗値の捺
印不良等のチップ抵抗器Ｒの表面状態を外形輪郭との関
係で把握することが可能となり、収納用テープ２の凹入
部８内にチップ抵抗器Ｒがランダムな状態で収納されて
いる場合でも、表面状態の良否を高速で判断することが
できる。したがって、収納用テープ２の走行速度を低下
させることなく、従来どおりの処理速度を維持すること
ができる。しかも、光学倍率を上げることにより、チッ
プ抵抗器Ｒの微小化に対応することができる。また、撮
像装置３７は一台用いればよいので、構成を簡素化し、
検査コストを低下させることができる。また、構成を簡
素化しているので、既存のテーピング装置に簡単に付設
することができる。また、本実施例においては、チップ
抵抗器Ｒを収納用テープ２の凹入部８に収納した後であ
って、カバーテープ３を接着して封入する前の段階で外
観検査を行うので、上記不良を発見すると、その場で正
常なチップ抵抗器Ｒの収納、収納し直し、交換を行うこ
とができる。したがって、テーピング後のチップ抵抗器
Ｒは検査済み製品として取り扱うことができ、従来のよ
うに検査のために、再度、巻き替える手間が不要とな
り、テーピング工程および検査工程の大幅な合理化が可
能となる。
【００２６】次に、本発明の第２の実施例について図面
を参照しながら説明する。図２３は本発明の第２の実施
例における外観検査装置を示し、図７と同様の外観検査
動作説明図である。本実施例においては、外観検査装置
１６が図４における一点鎖線で示す位置、すなわち、収
納用テープ２にカバーテープ３を接着し、チップ抵抗器
Ｒをテーピング用テープ１に封入した後の位置に配置さ
れている。チップ抵抗器Ｒの外観検査は、上述したよう
にチップ抵抗器Ｒを収納用テープ２の凹入部８に収納し
た直後に行うのが好ましいが、本実施例のようにチップ
抵抗器Ｒをテーピング用テープ１に封入した状態で、光
透過性を有するボトムテープ５側から第１の照明手段３
５により照明し、光透過性を有する透明なカバーテープ
３側から第２の照明手段３６により照明し、１台の撮像
装置３７によりチップ抵抗器Ｒの外形輪郭と表面状態を
同時に撮像するようにしてもよい。その他の構成につい
ては上記第１の実施例と同様である。
を参照しながら説明する。図２３は本発明の第２の実施
例における外観検査装置を示し、図７と同様の外観検査
動作説明図である。本実施例においては、外観検査装置
１６が図４における一点鎖線で示す位置、すなわち、収
納用テープ２にカバーテープ３を接着し、チップ抵抗器
Ｒをテーピング用テープ１に封入した後の位置に配置さ
れている。チップ抵抗器Ｒの外観検査は、上述したよう
にチップ抵抗器Ｒを収納用テープ２の凹入部８に収納し
た直後に行うのが好ましいが、本実施例のようにチップ
抵抗器Ｒをテーピング用テープ１に封入した状態で、光
透過性を有するボトムテープ５側から第１の照明手段３
５により照明し、光透過性を有する透明なカバーテープ
３側から第２の照明手段３６により照明し、１台の撮像
装置３７によりチップ抵抗器Ｒの外形輪郭と表面状態を
同時に撮像するようにしてもよい。その他の構成につい
ては上記第１の実施例と同様である。
【００２７】本実施例のようにテーピング後のチップ抵
抗器Ｒの外観検査を行う場合には、外観不良を検出する
と、例えば、不良位置のボトムテープ５を破り、正常な
チップ抵抗器Ｒを収納し、または収納し直し、または交
換し、その後、ボトムテープ５を補修する。なお、テー
ピング後のチップ抵抗器Ｒの外観検査を行う場合、上記
のようなカバーテープ３の接着後に限らず、従来のよう
にテーピング用テープ１を巻き替える過程などでチップ
抵抗器Ｒの外観検査を行うことも可能である。この場
合、チップ抵抗器Ｒを連続的に搬送しながら外観検査を
行うことは明らかである。
抗器Ｒの外観検査を行う場合には、外観不良を検出する
と、例えば、不良位置のボトムテープ５を破り、正常な
チップ抵抗器Ｒを収納し、または収納し直し、または交
換し、その後、ボトムテープ５を補修する。なお、テー
ピング後のチップ抵抗器Ｒの外観検査を行う場合、上記
のようなカバーテープ３の接着後に限らず、従来のよう
にテーピング用テープ１を巻き替える過程などでチップ
抵抗器Ｒの外観検査を行うことも可能である。この場
合、チップ抵抗器Ｒを連続的に搬送しながら外観検査を
行うことは明らかである。
【００２８】次に、本発明の第３の実施例について図面
を参照しながら説明する。図２４は本発明の第３の実施
例における外観検査装置を示し、図７と同様の外観検査
動作説明図である。本実施例においては、外観検査装置
１６が図４、図６における二点鎖線で示す位置、すなわ
ち、チップ抵抗器Ｒが検測ホイール２３により搬送され
る途中で、第２検測部２８により抵抗値が測定された後
の位置に配置されている。この外観検査装置１６の位置
においては、基板２０とカバープレート３２にそれぞれ
穴２０ａと３２ａが形成され、これらの穴２０ａと３２
ａ内においてそれぞれ透明な基板２０ｂと透明なカバー
ガイド３２ｂが形成されている。そして、チップ抵抗器
Ｒが検測ホイール２３の収納溝２４に基台２０上で収納
され、検測ホイール２３の間歇回転により外周部のガイ
ド３１（図６参照）と上側のカバープレート３２で離脱
を防止された状態で間歇的に搬送され、透明な基板２０
ｂ側から第１の照明手段３５により照明し、透明なカバ
ーガイド３２ｂ側から第２の照明手段３６により照明
し、１台の撮像装置３７によりチップ抵抗器Ｒの外形輪
郭と表面状態を同時に撮像する。その他の構成は上記第
１の実施例と同様である。
を参照しながら説明する。図２４は本発明の第３の実施
例における外観検査装置を示し、図７と同様の外観検査
動作説明図である。本実施例においては、外観検査装置
１６が図４、図６における二点鎖線で示す位置、すなわ
ち、チップ抵抗器Ｒが検測ホイール２３により搬送され
る途中で、第２検測部２８により抵抗値が測定された後
の位置に配置されている。この外観検査装置１６の位置
においては、基板２０とカバープレート３２にそれぞれ
穴２０ａと３２ａが形成され、これらの穴２０ａと３２
ａ内においてそれぞれ透明な基板２０ｂと透明なカバー
ガイド３２ｂが形成されている。そして、チップ抵抗器
Ｒが検測ホイール２３の収納溝２４に基台２０上で収納
され、検測ホイール２３の間歇回転により外周部のガイ
ド３１（図６参照）と上側のカバープレート３２で離脱
を防止された状態で間歇的に搬送され、透明な基板２０
ｂ側から第１の照明手段３５により照明し、透明なカバ
ーガイド３２ｂ側から第２の照明手段３６により照明
し、１台の撮像装置３７によりチップ抵抗器Ｒの外形輪
郭と表面状態を同時に撮像する。その他の構成は上記第
１の実施例と同様である。
【００２９】本実施例によれば、チップ抵抗器Ｒを収納
用テープ２の凹入部８に収納する前に外観検査を行うの
で、収納用テープ２に対する収納不良を除き、チップ抵
抗器Ｒ自身の不良を検査することができる。したがっ
て、上記第１の実施例と同様、テーピング後のチップ抵
抗器Ｒは検査済み製品として取り扱うことができ、従来
のように検査のために、再度、巻き替える手間が不要と
なり、テーピング工程および検査工程の大幅な合理化が
可能となる。
用テープ２の凹入部８に収納する前に外観検査を行うの
で、収納用テープ２に対する収納不良を除き、チップ抵
抗器Ｒ自身の不良を検査することができる。したがっ
て、上記第１の実施例と同様、テーピング後のチップ抵
抗器Ｒは検査済み製品として取り扱うことができ、従来
のように検査のために、再度、巻き替える手間が不要と
なり、テーピング工程および検査工程の大幅な合理化が
可能となる。
【００３０】次に、本発明の第４の実施例について図面
を参照しながら説明する。図２５、図２６は本発明の第
４の実施例における外観検査装置を示し、図２５は正面
図、図２６は側面図である。本実施例においては、図２
５、図２６に示すように、撮像装置３７はケース４７内
に外形輪郭用の第１の撮像カメラ（ＣＣＤカメラ）４８
ａと表面状態用の第２の撮像カメラ（ＣＣＤカメラ）４
８ｂが支持されている。第１の撮像カメラ４８ａと第２
の撮像カメラ４８ｂの前方にはそれぞれハーフミラー５
０と反射ミラー５１が支持され、ハーフミラー５０によ
り光の一部を透過させて第１の撮像カメラ４８ａに導
き、残る一部を反射させ、更に反射ミラー５１により反
射させて第２の撮像カメラ４８ｂに導くことができるよ
うになっている。その他の構成は上記第１ないし第３の
実施例と同様である。本実施例によれば、第１と第２の
別々の撮像カメラ４８ａと４８ｂによりチップ抵抗器Ｒ
の外形輪郭と表面状態を同時に撮像するようにしている
ので、チップ抵抗器Ｒの表面のコントラストが悪くても
外形輪郭と表面状態を確実に同時に撮像することができ
る。
を参照しながら説明する。図２５、図２６は本発明の第
４の実施例における外観検査装置を示し、図２５は正面
図、図２６は側面図である。本実施例においては、図２
５、図２６に示すように、撮像装置３７はケース４７内
に外形輪郭用の第１の撮像カメラ（ＣＣＤカメラ）４８
ａと表面状態用の第２の撮像カメラ（ＣＣＤカメラ）４
８ｂが支持されている。第１の撮像カメラ４８ａと第２
の撮像カメラ４８ｂの前方にはそれぞれハーフミラー５
０と反射ミラー５１が支持され、ハーフミラー５０によ
り光の一部を透過させて第１の撮像カメラ４８ａに導
き、残る一部を反射させ、更に反射ミラー５１により反
射させて第２の撮像カメラ４８ｂに導くことができるよ
うになっている。その他の構成は上記第１ないし第３の
実施例と同様である。本実施例によれば、第１と第２の
別々の撮像カメラ４８ａと４８ｂによりチップ抵抗器Ｒ
の外形輪郭と表面状態を同時に撮像するようにしている
ので、チップ抵抗器Ｒの表面のコントラストが悪くても
外形輪郭と表面状態を確実に同時に撮像することができ
る。
【００３１】なお、上記各実施例においては、図２７
（ａ）、（ｂ）に示すテーピング用テープ１を用いた場
合について説明したが、図２８に示すテーピング用テー
プ１を用いた場合についても適用することができ、この
ほか、検体を外部から透視できるものであれば、いかな
る形式のテーピング用テープであってもよい。また、検
体の検査表面が下面である場合には、第１の照明手段３
５と第２の照明手段３６および撮像装置３７の配置を入
れ替えればよい。また、第１の照明手段３５、第２の照
明手段３６の形状、配置形態並びに配置台数は上記実施
例に限定されるものではなく、このほか、４方向、全方
向等、それぞれの目的に応じて適宜選択することができ
る。また、第１と第２の撮像カメラ４８ａと４８ｂはハ
ーフミラー５０と反射ミラー５１を用いることなく、例
えば、斜め方向に配置して検体の外形輪郭と表面状態を
撮像するようにしてもよい。また、検体の他方の面や側
面（端面）を検査する必要がある場合には、撮像装置３
７の撮像カメラの台数を増やすことができ、または上記
各実施例の外観検査装置１６とは別の箇所に照明手段と
撮像装置を配置することもできる。また、チップ抵抗器
Ｒをテーピング装置によりテーピングした後、巻き取り
装置のリールに巻き取る途中でチップ抵抗器Ｒの外観検
査を行うこともできる。また、検体は間歇的に搬送する
場合に限らず、連続的に搬送する場合についても外観検
査することができる。また、チップ抵抗器Ｒ等の電子部
品に限らず、錠剤やカプセル等を検査対象とすることも
できる。また、黒色のテーピング用テープを用いた場合
には、可視光に替えて赤外線、紫外線、Ｘ線等を用いる
ことができる。このほか、本発明は、その基本的技術思
想を逸脱しない範囲で種々設計変更することができる。
（ａ）、（ｂ）に示すテーピング用テープ１を用いた場
合について説明したが、図２８に示すテーピング用テー
プ１を用いた場合についても適用することができ、この
ほか、検体を外部から透視できるものであれば、いかな
る形式のテーピング用テープであってもよい。また、検
体の検査表面が下面である場合には、第１の照明手段３
５と第２の照明手段３６および撮像装置３７の配置を入
れ替えればよい。また、第１の照明手段３５、第２の照
明手段３６の形状、配置形態並びに配置台数は上記実施
例に限定されるものではなく、このほか、４方向、全方
向等、それぞれの目的に応じて適宜選択することができ
る。また、第１と第２の撮像カメラ４８ａと４８ｂはハ
ーフミラー５０と反射ミラー５１を用いることなく、例
えば、斜め方向に配置して検体の外形輪郭と表面状態を
撮像するようにしてもよい。また、検体の他方の面や側
面（端面）を検査する必要がある場合には、撮像装置３
７の撮像カメラの台数を増やすことができ、または上記
各実施例の外観検査装置１６とは別の箇所に照明手段と
撮像装置を配置することもできる。また、チップ抵抗器
Ｒをテーピング装置によりテーピングした後、巻き取り
装置のリールに巻き取る途中でチップ抵抗器Ｒの外観検
査を行うこともできる。また、検体は間歇的に搬送する
場合に限らず、連続的に搬送する場合についても外観検
査することができる。また、チップ抵抗器Ｒ等の電子部
品に限らず、錠剤やカプセル等を検査対象とすることも
できる。また、黒色のテーピング用テープを用いた場合
には、可視光に替えて赤外線、紫外線、Ｘ線等を用いる
ことができる。このほか、本発明は、その基本的技術思
想を逸脱しない範囲で種々設計変更することができる。
【００３２】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、搬
送される検体を第１の照明手段で照明することにより、
検体の外形輪郭を浮かび上がらせることができると共
に、検体の表面を第２の照明手段で照明することによ
り、鮮明にすることができる。そして、撮像装置で検体
の外形輪郭と表面状態を同時に撮像し、両者を関係づけ
て把握することができる。このように撮像装置を用いて
検体の外形輪郭と表面状態の像を同時に得ることができ
るので、検体の微小化および検査速度の高速化に対応す
ることができ、また、構成を簡素化することができるの
で、検査コストを低下させることができる。
送される検体を第１の照明手段で照明することにより、
検体の外形輪郭を浮かび上がらせることができると共
に、検体の表面を第２の照明手段で照明することによ
り、鮮明にすることができる。そして、撮像装置で検体
の外形輪郭と表面状態を同時に撮像し、両者を関係づけ
て把握することができる。このように撮像装置を用いて
検体の外形輪郭と表面状態の像を同時に得ることができ
るので、検体の微小化および検査速度の高速化に対応す
ることができ、また、構成を簡素化することができるの
で、検査コストを低下させることができる。
【００３３】また、撮像装置として、１台の撮像カメラ
で検体の外形輪郭と表面状態を同時に撮像するようにす
れば、構成の簡素化および低コスト化を図ることがで
き、また、外形輪郭用の第１の撮像カメラと、表面状態
用の第２の撮像カメラと、これら第１と第２の撮像カメ
ラに同時に光を導く光学手段とを備え、第１と第２の別
々の撮像カメラにより検体の外形輪郭と表面状態を同時
に撮像するようにすれば、検体の表面のコントラストが
悪くても検体の外形輪郭と表面状態を確実に撮像するこ
とができる。また、第１の照明手段が１箇所から検体を
照明し、第２の照明手段が撮像装置の両側から検体を照
明するように構成することにより簡素な構成で検体の外
形輪郭と表面状態の映像を確実に得ることができる。ま
た、検体を、テーピング用テープの収納用テープに列設
され、少なくとも底部が光透過性を有する凹入部に収納
し、この検体を上記収納用テープの走行により光透過性
を有するガイドで離脱を防止した状態で搬送し、上記検
体を上記凹入部の底部側と上記ガイド側とから照明し、
外観検査することにより、テーピング後の検体は検査済
み製品として取り扱うことができ、テーピング工程およ
び検査工程を合理化することができる。また、検体を、
テーピング用テープの収納用テープに列設され、少なく
とも底部が光透過性を有する凹入部に収納し、この検体
を光透過性を有するプラスチック製のカバーテープによ
り上記凹入部に封入した状態で上記テーピング用テープ
の走行により搬送し、上記検体を上記凹入部の底部側と
上記カバーテープ側とから照明することにより、特別な
検体の離脱防止手段を用いることなく検体の外観検査を
行うことができる。また、検体を、垂直軸を中心として
回転し得る検測ホイールの外周に多数形成された収納溝
に収納し、この検体を上記検測ホイールの回転により離
脱を防止した状態で搬送し、上記検体を光透過性を有す
る基板側と光透過性を有するカバーガイド側とから照明
し、外観検査することにより、テーピング後の検体は検
査済み製品として取り扱うことができ、テーピング工程
および検査工程を合理化することができる。
で検体の外形輪郭と表面状態を同時に撮像するようにす
れば、構成の簡素化および低コスト化を図ることがで
き、また、外形輪郭用の第１の撮像カメラと、表面状態
用の第２の撮像カメラと、これら第１と第２の撮像カメ
ラに同時に光を導く光学手段とを備え、第１と第２の別
々の撮像カメラにより検体の外形輪郭と表面状態を同時
に撮像するようにすれば、検体の表面のコントラストが
悪くても検体の外形輪郭と表面状態を確実に撮像するこ
とができる。また、第１の照明手段が１箇所から検体を
照明し、第２の照明手段が撮像装置の両側から検体を照
明するように構成することにより簡素な構成で検体の外
形輪郭と表面状態の映像を確実に得ることができる。ま
た、検体を、テーピング用テープの収納用テープに列設
され、少なくとも底部が光透過性を有する凹入部に収納
し、この検体を上記収納用テープの走行により光透過性
を有するガイドで離脱を防止した状態で搬送し、上記検
体を上記凹入部の底部側と上記ガイド側とから照明し、
外観検査することにより、テーピング後の検体は検査済
み製品として取り扱うことができ、テーピング工程およ
び検査工程を合理化することができる。また、検体を、
テーピング用テープの収納用テープに列設され、少なく
とも底部が光透過性を有する凹入部に収納し、この検体
を光透過性を有するプラスチック製のカバーテープによ
り上記凹入部に封入した状態で上記テーピング用テープ
の走行により搬送し、上記検体を上記凹入部の底部側と
上記カバーテープ側とから照明することにより、特別な
検体の離脱防止手段を用いることなく検体の外観検査を
行うことができる。また、検体を、垂直軸を中心として
回転し得る検測ホイールの外周に多数形成された収納溝
に収納し、この検体を上記検測ホイールの回転により離
脱を防止した状態で搬送し、上記検体を光透過性を有す
る基板側と光透過性を有するカバーガイド側とから照明
し、外観検査することにより、テーピング後の検体は検
査済み製品として取り扱うことができ、テーピング工程
および検査工程を合理化することができる。
【図１】本発明の第１の実施例における外観検査装置を
示す正面図
示す正面図
【図２】同外観検査装置を示す側面図
【図３】同外観検査装置を適用したテーピング装置の全
体概略構成図
体概略構成図
【図４】同テーピング装置のテーピング工程説明図
【図５】（ａ）は同テーピング装置のテーピング工程説
明用のテーピング用テープの平面図（ｂ）は同テーピン
グ装置のテーピング工程説明用のテーピング用テープの
断面図
明用のテーピング用テープの平面図（ｂ）は同テーピン
グ装置のテーピング工程説明用のテーピング用テープの
断面図
【図６】同テーピング装置における角板形のチップ固定
抵抗器を収納用テープの凹入部に供給するための検測ホ
イール部を示す断面図
抵抗器を収納用テープの凹入部に供給するための検測ホ
イール部を示す断面図
【図７】上記外観検査装置による角板形チップ固定抵抗
器の外観検査動作説明図
器の外観検査動作説明図
【図８】（ａ）は上記外観検査装置による撮像の一例を
示す平面図（ｂ）は上記外観検査装置による撮像の他の
例を示す平面図
示す平面図（ｂ）は上記外観検査装置による撮像の他の
例を示す平面図
【図９】上記外観検査装置により得られる映像の説明図
【図１０】角板形チップ固定抵抗器がテーピング用テー
プに正常に納められている状態を示す平面図
プに正常に納められている状態を示す平面図
【図１１】角板形チップ固定抵抗器がテーピング用テー
プに納められていない状態を示す平面図
プに納められていない状態を示す平面図
【図１２】テーピング用テープに納められた角板形チッ
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
【図１３】テーピング用テープに納められた角板形チッ
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
【図１４】テーピング用テープに納められた角板形チッ
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
【図１５】テーピング用テープに納められた角板形チッ
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
【図１６】テーピング用テープに納められた角板形チッ
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
【図１７】テーピング用テープに納められた角板形チッ
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
【図１８】テーピング用テープに納められた角板形チッ
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
【図１９】テーピング用テープに納められた角板形チッ
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
【図２０】テーピング用テープに納められた角板形チッ
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
【図２１】テーピング用テープに納められた角板形チッ
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
【図２２】テーピング用テープに納められた角板形チッ
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
プ固定抵抗器の不良例を示す平面図
【図２３】本発明の第２の実施例における外観検査装置
を示し、図７と同様の外観検査動作説明図
を示し、図７と同様の外観検査動作説明図
【図２４】本発明の第３の実施例における外観検査装置
を示し、図７と同様の外観検査動作説明図
を示し、図７と同様の外観検査動作説明図
【図２５】本発明の第４の実施例における外観検査装置
を示す正面図
を示す正面図
【図２６】同外観検査装置を示す側面図
【図２７】（ａ）はテーピング用テープの一例を示す一
部平面図（ｂ）は同テーピング用テープを示す縦断面図
部平面図（ｂ）は同テーピング用テープを示す縦断面図
【図２８】テーピング用テープの他の例を示す縦断面図
１ テーピング用テープ ２ 収納用テープ ３ カバーテープ ４ テープ本体 ５ ボトムテープ ８ 凹入部 １４ 送り装置 １５ 供給装置 １６ 外観検査装置 ２０ｂ 基板 ２３ 検測ホイール ２４ 収納溝 ２９ 挿入部 ３２ｂ カバーガイド ３５ 第１の照明手段 ３６ 第２の照明手段 ３７ 撮像装置 ３８ 光ファイバ ４２ 光ファイバ ４８ 撮像カメラ ４８ａ 第１の撮像カメラ ４８ｂ 第２の撮像カメラ Ｒ 角板形チップ固定抵抗器（検体）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０１Ｇ 13/00 ３６１ Ｚ 7924−5Ｅ Ｈ０１Ｌ 21/66 Ｊ 7514−4Ｍ Ｈ０４Ｎ 7/18 Ｂ (72)発明者 小島 智幸 東京都新宿区市谷本村町３番26号 正和産 業株式会社内 (72)発明者 宮里 裕茂 京都府京都市南区上鳥羽大柳町１番５ ダ ックエンジニアリング株式会社内 (72)発明者 金城 元一 京都府京都市南区上鳥羽大柳町１番５ ダ ックエンジニアリング株式会社内 (72)発明者 氷上 好孝 京都府京都市南区上鳥羽大柳町１番５ ダ ックエンジニアリング株式会社内 (56)参考文献 特開 昭63−132108（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−277538（ＪＰ，Ａ) 特開 昭56−155802（ＪＰ，Ａ)
Claims (11)
- 【請求項１】 搬送される検体の外形輪郭の映像を得る
ことができるように上記検体を第１の照明手段により照
明すると共に、上記検体の表面状態の映像を得ることが
できるように上記検体を上記第１の照明手段の反対側か
ら第２の照明手段により照明し、上記第１と第２の照明
手段により照明される上記検体の外形輪郭と表面状態を
撮像装置により同時に撮像するようにした外観検査方
法。 - 【請求項２】 検体が、テーピング用テープの収納用テ
ープに列設され、少なくとも底部が光透過性を有する凹
入部に収納され、上記収納用テープの走行により光透過
性を有するガイドで離脱を防止された状態で搬送され、
上記検体を上記凹入部の底部側と上記ガイド側とから照
明する請求項１記載の外観検査方法。 - 【請求項３】 検体が、テーピング用テープの収納用テ
ープに列設され、少なくとも底部が光透過性を有する凹
入部に収納され、光透過性を有するプラスチック製のカ
バーテープにより上記凹入部に封入された状態で上記テ
ーピング用テープの走行により搬送され、上記検体を上
記凹入部の底部側と上記カバーテープ側とから照明する
請求項１記載の外観検査方法。 - 【請求項４】 検体が、垂直軸を中心として回転し得る
検測ホイールの外周に多数形成された収納溝に収納さ
れ、上記検測ホイールの回転により離脱を防止された状
態で搬送され、上記検体を光透過性を有する基板側と光
透過性を有するカバーガイド側とから照明する請求項１
記載の外観検査方法。 - 【請求項５】 搬送される検体の外形輪郭の映像を得る
ことができるように上記検体を照明する第１の照明手段
と、上記検体の表面状態の映像を得ることができるよう
に上記検体を上記第１の照明手段の反対側から照明する
第２の照明手段と、上記第１と第２の照明手段により照
明される上記検体の外形輪郭と表面状態を同時に撮像す
る撮像装置とを備えた外観検査装置。 - 【請求項６】 撮像装置が１台の撮像カメラにより検体
の外形輪郭と表面状態を同時に撮像する請求項５記載の
外観検査装置。 - 【請求項７】 撮像装置が外形輪郭用の第１の撮像カメ
ラと、表面状態用の第２の撮像カメラと、これら第１と
第２の撮像カメラに同時に光を導く光学手段とを備えた
請求項５記載の外観検査装置。 - 【請求項８】 第１の照明手段が１箇所から検体を照明
し、第２の照明手段が撮像装置の両側から検体を照明す
る請求項５ないし７のいずれかに記載の外観検査装置。 - 【請求項９】 検体が、テーピング用テープの収納用テ
ープに列設され、少なくとも底部が光透過性を有する凹
入部に収納され、上記収納用テープの走行により光透過
性を有するガイドで離脱を防止された状態で搬送され、
第１と第２の照明手段が上記検体を上記凹入部の底部側
と上記ガイド側とから照明する請求項５ないし８のいず
れかに記載の外観検査装置。 - 【請求項１０】 検体が、テーピング用テープの収納用
テープに列設され、少なくとも底部が光透過性を有する
凹入部に収納され、光透過性を有するプラスチック製の
カバーテープにより上記凹入部に封入された状態で上記
テーピング用テープの走行により搬送され、第１と第２
の照明手段が上記検体を上記凹入部の底部側と上記カバ
ーテープ側とから照明する請求項５ないし８のいずれか
に記載の外観検査装置。 - 【請求項１１】 検体が、垂直軸を中心として回転し得
る検測ホイールの外周に多数形成された収納溝に収納さ
れ、上記検測ホイールの回転により離脱を防止された状
態で搬送され、第１と第２の照明手段が上記検体を光透
過性を有する基板側と光透過性を有するカバーガイド側
とから照明する請求項５ないし８のいずれかに記載の外
観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3115525A JPH0812053B2 (ja) | 1990-04-28 | 1991-04-19 | 外観検査方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2-114152 | 1990-04-28 | ||
| JP11415290 | 1990-04-28 | ||
| JP3115525A JPH0812053B2 (ja) | 1990-04-28 | 1991-04-19 | 外観検査方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0587546A JPH0587546A (ja) | 1993-04-06 |
| JPH0812053B2 true JPH0812053B2 (ja) | 1996-02-07 |
Family
ID=26452977
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3115525A Expired - Lifetime JPH0812053B2 (ja) | 1990-04-28 | 1991-04-19 | 外観検査方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0812053B2 (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1019527A (ja) * | 1996-06-27 | 1998-01-23 | Nec Toyama Ltd | 電子部品の画像検査装置およびその検査方法 |
| JP3216876B2 (ja) * | 1997-11-07 | 2001-10-09 | 株式会社之技術綜合 | シート包装検査装置 |
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-
1991
- 1991-04-19 JP JP3115525A patent/JPH0812053B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0587546A (ja) | 1993-04-06 |
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