JPH08241918A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JPH08241918A
JPH08241918A JP4542195A JP4542195A JPH08241918A JP H08241918 A JPH08241918 A JP H08241918A JP 4542195 A JP4542195 A JP 4542195A JP 4542195 A JP4542195 A JP 4542195A JP H08241918 A JPH08241918 A JP H08241918A
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lifter pin
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    • HELECTRICITY
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板サイズが大型化し、または基板の板厚が
小さくなって基板が撓みやすくなっても、基板を基板載
置手段から容易に持ち上げることが可能な基板処理装置
を提供する。 【構成】 基板載置手段としてのプレート11に設けら
れた貫通孔に主リフターピン32が上下方向Zに昇降可
能に設けられ、基板載置面12(処理位置)に対して上
下方向に出退自在となっている。また、プレート11に
は、主リフターピン32以外に補助リフターピン41
が、主リフターピン32と同様に上下方向Zに昇降可能
に設けられ、基板載置面12に対して上下方向Zに出退
自在となっている。 【効果】 主リフターピンと補助リフターピンとが同時
に上方に上昇し、それらの上端部で基板を支持しながら
プレートから基板を持ち上げるため、基板の持ち上げ処
理が容易となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶用ガラス角型基
板,カラーフィルタ用基板,プリント基板,半導体ウエ
ハなどの基板を所定の処理位置に載置し、その基板に対
し加熱,冷却,密着強化剤塗布などの基板処理を行う基
板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、搬送ロボットの搬送用アームによ
って搬入されてきた基板を所定の処理位置に載置し、当
該基板に対して加熱処理,冷却処理,密着強化剤塗布処
理などの基板処理を行う装置が種々知られている。ここ
で、基板を処理位置に載置する基板載置手段としては、
例えば基板が直接載置される基板載置面を有するプレー
トがある。このプレートを基板載置手段として用いる基
板処理装置では、基板載置面が処理位置となり、また基
板をしっかり保持するために基板載置面に載置された基
板を吸着してプレートに密着させる吸着手段をさらに備
えることがある。別の基板載置手段としては、プレート
から複数のプロキシミティーピンを突設し、これらのピ
ンの先端で基板をプレートから少し浮かせた状態で載置
するものがある。この基板載置手段を用いた基板処理装
置では、プレートからプロキシミティーピンの高さ分だ
け上方に離れた位置が処理位置となる。
【0003】基板処理装置においては、いずれのタイプ
の基板載置手段を有するかを問わず、搬送ロボットの搬
送用アームと基板載置手段との間で基板を受け渡すため
の基板受渡機構が必要である。この基板受渡機構は、搬
送用アームに保持されながら基板載置手段の上方の基板
受渡し位置まで搬入されてきた基板を受け取って処理位
置に載置する一方、処理された基板を基板受渡し位置に
移動させ、基板処理装置の外部に搬出するために処理済
基板を搬送用アームに受け渡す。
【0004】そこで、従来では、処理位置から上下方向
に出退自在な複数のリフターピンを基板受渡機構として
設けていた。例えば、基板をプレートの基板載置面に直
接載置するタイプの基板処理装置においては、リフター
ピンはプレートの基板載置面(処理位置)から上方に突
出可能であるとともにその基板載置面から退避可能とな
っており、基板受渡し位置に突出されたリフターピンに
よって搬送用アームから基板を受け取った後、リフター
ピンを退避させることでプレート上に基板を載置する一
方、そのリフターピンを突出させることで基板載置面上
の処理済基板をプレートから持ち上げ、基板受渡し位置
まで移動させ、搬送用アームに受け渡す。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このリフタ
ーピンは搬送用アームの進退と干渉しない位置に配置す
る必要があるが、近年、基板サイズが大型化し、かつ基
板厚が縮小されつつあるので、このリフターピンのみで
は基板受渡し位置まで持ち上げることが困難となってき
ている。というのも、基板の中央部が基板処理を必要と
する有効エリアであり、基板を搬送用アームやリフター
ピンで移動する際、搬送用アームやリフターピンは有効
エリア外の領域を支持するが、角型基板においては搬送
ロボットによる基板搬送時の基板の撓みをできるだけ小
さくするために搬送用アームは有効エリア外の領域のう
ち基板長辺側端縁領域を支持し、リフターピンは基板短
辺側端縁領域を支持しなければならないからである。さ
らにいえば、このようにリフターピンにより基板短辺側
端縁領域を支持した場合、基板の長辺に沿った両端近傍
を上方に押し上げて基板を基板載置手段から離して持ち
上げることになるので、基板の撓みは大きく、基板を基
板載置手段から離すことが困難となったり、あるいは基
板が持ち上げられなくなってしまうからである。
【0006】また、基板処理装置が設置されるクリーン
ルームでは、ダウンフローが形成されており、常時基板
表面に風圧がかかっており、基板サイズの大型化にとも
なってリフターピンによる基板の持上げ初期の慣性が大
きくなっている。このため、リフターピンのみで大型の
基板を持ち上げるのが困難となっている。
【0007】さらに、特に吸着手段によってプレートに
密着保持した場合、吸着保持を解除したとしても、直ち
に吸着力が全くなくなるわけではなく、この残留する吸
着力に逆らって基板を持ち上げる必要が生じるため、剥
離しにくく、リフターピンのみによって基板をプレート
から持ち上げるのが困難となる。
【0008】本発明は、上述のような問題を解消するた
めになされたもので、基板サイズが大型化し、または基
板の板厚が小さくなって基板が撓みやすくなっても、基
板を基板載置手段から容易に持ち上げることが可能な基
板処理装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1は、基板を所定
の処理位置に載置して基板処理を行う基板処理装置であ
って、上記目的を達成するため、処理されるべき基板が
載置されてその基板を処理位置に保持する基板載置手段
と、前記処理位置に対して上下方向に出退自在で、処理
位置から上方に突出することにより処理位置にある基板
をその上端部で支持しながら処理位置より上方の上方位
置に移動させる複数の補助移動部材と、前記処理位置に
対して上下方向に出退自在で、上方位置にある基板をそ
の上端部で支持しながら上方位置より上方の基板受渡し
位置に移動させる複数の主移動部材と、を備えている。
【0010】請求項2は、その中央部にパターンが形成
される有効エリアが配置される角型形状の基板を対象と
し、有効エリアの外の基板端縁部において基板短辺側の
領域を主移動部材で支持し、基板長辺側の領域を補助移
動部材で支持している。
【0011】請求項3は、前記処理位置からの複数の補
助移動部材の突出量を処理位置からの複数の主移動部材
の突出量よりも小さくしている。
【0012】請求項4は、主移動部材との間で基板の受
け渡しを行う搬送用アームを、上方位置と基板受渡し位
置との間の空間に進入可能としている。
【0013】請求項5は、基板載置手段に、基板が載置
される基板載置面を有するプレートを含めており、基板
載置面に載置された基板を吸着してプレートに密着させ
る吸着手段をさらに備えている。
【0014】
【作用】請求項1の発明では、補助移動部材が処理位置
から上方に突出して、その上端部で基板を支持しながら
上方位置に移動させる。このため、基板は基板載置手段
から容易に持ち上げられる。
【0015】請求項2の発明では、パターンが形成され
る有効エリアを除く領域(有効エリア外の領域)のう
ち、基板短辺側端縁領域を複数の主移動部材がそれぞれ
支持する一方、基板長辺側端縁領域を複数の補助移動部
材がそれぞれ支持する。このため、基板短辺側端縁領域
のみを支持していた従来技術に比べて、基板長辺側端縁
領域をも支持するようにしたことで、基板の撓みを軽減
できる。また、このように有効エリア外の領域のみを支
持することで、主および補助移動部材により基板の有効
エリアを傷付けるという弊害を防止することができる。
【0016】請求項3の発明では、処理位置からの複数
の補助移動部材の突出量が処理位置からの複数の主移動
部材の突出量よりも小さいため、主移動部材との間で基
板の受け渡しを行う搬送用アームが補助移動部材と干渉
するのを防止することができる。
【0017】請求項4の発明では、上方位置と基板受渡
し位置との間の空間に搬送用アームが進入可能となるた
め、補助移動部材の動作と無関係に、主移動部材と搬送
用アームとの間での基板の受渡し処理を行うことができ
る。
【0018】請求項5の発明では、基板載置面に載置さ
れた基板を吸着してプレートに密着させる吸着手段が備
えられ、吸着手段を設けない場合に比べて基板をプレー
トから持ち上げるのが困難となるが、補助移動部材を設
けたことで基板の持ち上げが容易となる。
【0019】
【実施例】以下、この発明にかかる基板処理装置の一実
施例を図面を参照にしながら説明するが、これにより本
発明の技術的範囲が、限定されるものではない。
【0020】図1は、この発明にかかる基板処理装置の
一実施例を示す斜視図である。図2は、図1のA−A線
位置からY方向に見た断面図である。また、図3は、図
1の基板処理装置の平面図である。
【0021】この基板処理装置では、基板載置手段とし
てのプレート11の上面12に基板Wを載置可能となっ
ており、この上面12が基板載置面として機能し、処理
位置P1(図2)となる。
【0022】このプレート11の基板載置面12には、
複数の吸着口(図示省略)が設けられ、プレート11の
内部に形成された吸着孔21を介して真空吸着機構22
に連結されている。このため、基板載置面12上に基板
Wを載置した後、真空吸着機構22を作動させること
で、基板Wをプレート11に密着保持することができ
る。
【0023】また、プレート11には、4つの貫通孔3
1が上下方向Zに設けられるとともに、各貫通孔31内
で主移動部材たる主リフターピン32が上下方向Zに昇
降可能に設けられている。また、これらの主リフターピ
ン32の配設位置は、図3に示すように、基板Wの有効
エリア(パターンが形成される領域)EAの外の領域の
うち、基板短辺側端縁領域RSに対応した位置となって
いる。このように配設された主リフターピン32には、
図2に示すように、主リフターピン駆動機構33が連結
されており、この主リフターピン駆動機構33を作動さ
せて主リフターピン32を上方側(Z方向)に駆動させ
ると、その上端部が処理位置P1(基板載置面12)か
ら突出して後述する搬送用アームとの間で基板Wの受け
渡しを行う基板受渡し位置P2まで移動する。逆に、主
リフターピン32を下方側(−Z方向)に駆動させる
と、主リフターピン32全体が貫通孔31内に入り込
み、処理位置P1(基板載置面12)から退避する。こ
のように、この実施例では、主リフターピン32は、処
理位置P1に対して上下方向Zに出退自在となってい
る。
【0024】さらに、プレート11には、主リフターピ
ン32以外に補助移動部材として機能する補助リフター
ピン41が設けられている。すなわち、プレート11に
は、基板Wの有効エリアEAの外の領域のうち、基板長
辺側端縁領域RL(図3)に対応した位置に対応して4
つの貫通孔42が上下方向Zに設けられるとともに、各
貫通孔42内に補助リフターピン駆動機構43と連結さ
れた補助リフターピン41が配設されている。このた
め、補助リフターピン駆動機構43を作動することで、
主リフターピン32と同様に、処理位置P1(基板載置
面12)に対して上下方向に出退自在となっている。た
だし、主リフターピン32とは、処理位置P1からの突
出量が異なる。つまり、補助リフターピン41の突出量
ΔSは主リフターピン32の突出量ΔMより小さく設定さ
れており、補助リフターピン41が突出した時の位置は
基板受渡し位置P2よりも低い位置P3となる。
【0025】一方、主リフターピン32との間で基板W
の受け渡しを行う搬送ロボット(図示省略)の搬送用ア
ームARはY方向に進退自在であるとともに、上下方向
(Z方向)にも昇降可能であり、補助リフターピン41
の上方位置で後述するようにして主リフターピン32と
の間で基板Wの受け渡しを行う。したがって、補助リフ
ターピン41と干渉せず、しかも昇降状態に関係なく、
基板Wの受け渡しを行うことができる。
【0026】次に、上記のように構成された基板処理装
置の動作について、基板を搬入する際の動作および搬出
する際の動作を順番に図4ないし図9を参照しながら説
明する。
【0027】まず、基板を搬入する際には、図4に示す
ように、予め主リフターピン32を処理位置P1から突
出量ΔMだけ突出させて、その上端部を基板受渡し位置
P2に位置させる一方、補助リフターピン41について
は、その全体を貫通孔42内に後退させ、処理位置P1
(基板載置面12)から退避させておく。また、この時
点では、真空吸着機構22を停止させておく。このよう
な状態で、基板Wを保持した搬送用アームARを主リフ
ターピン32の直上、つまり基板受渡し位置P2の直上
に移動させる。
【0028】そして、搬送用アームARを基板受渡し位
置P2よりも低い位置まで降下させることで、基板Wを
搬送用アームARから主リフターピン32の上端部に移
す(図5)。こうして基板Wの主リフターピン32への
受渡しが完了すると、搬送用アームARを後退させる。
【0029】それに続いて、基板Wを支持したままで主
リフターピン32を(−Z)方向に降下させ、主リフタ
ーピン32全体を貫通孔31内に後退させることで、基
板Wをプレート11の基板載置面12に載置し、処理位
置P1に位置させる(図6)。そして、真空吸着機構2
2を作動させて基板Wをプレート11上に密着保持す
る。これにより、基板Wの基板処理装置への搬入が完了
する。
【0030】なお、基板搬入後は、所定の処理手順にし
たがって搬入された未処理基板Wに所望の処理が施され
る。
【0031】一方、基板Wの所望の処理が完了すると、
真空吸着機構22による基板吸着を解除した後、主リフ
ターピン32および補助リフターピン41を同時に上方
(Z方向)に駆動する。これにより、基板Wは、図7に
示すように、両ピン32,41が位置P3に位置するま
で、これらのピン32,41に支持されながらプレート
11から持ち上げられる。
【0032】このように基板Wを持ち上げる際に、主リ
フターピン32のみならず補助リフターピン41によっ
ても基板Wを支持しているので、主リフターピン32の
みにより基板Wを支持する従来例に比べて、容易にプレ
ート11から基板Wを持ち上げることができ、特に真空
吸着を解除した直後においても確実に基板Wをプレート
11から持ち上げることができる。しかも、この実施例
では、基板処理を必要とする有効エリアEAを除く領域
のうち、基板短辺側端縁領域RSを主リフターピン32
が、また基板長辺側端縁領域RLを補助リフターピン4
1がそれぞれ支持するため、基板短辺側端縁領域RSの
みを支持していた従来例に比べて、基板Wの撓みを軽減
できる。また、このように有効エリアEAの外の領域R
S,RLのみを支持することで、主および補助リフターピ
ン32,41により基板Wの有効エリアEAが傷付けら
れるという事態を回避することができる。
【0033】上記のようにして基板Wを位置P3まで持
ち上げた後は、主リフターピン32をさらに上方(Z方
向)に上昇させて、基板Wを基板受渡し位置P2に位置
決めする(図8)。そして、搬送用アームARを基板受
渡し位置P2よりも低い高さ位置で前進させて、基板W
の直下位置に位置決めする(図9)。
【0034】それに続いて、搬送用アームARを上方
(Z方向)に上昇させることで、主リフターピン32か
ら搬送用アームARに基板Wを移す(図4参照)。ま
た、補助リフターピン41については、下方(−Z方
向)に後退させる。
【0035】こうして処理済み基板Wの搬送用アームA
Rへの受渡しが完了すると、搬送用アームARによって
基板Wを基板処理装置から搬出する。
【0036】以上の処理を繰り返すことで、複数の基板
Wに対して所望の基板処理を順次施すことができる。
【0037】なお、上記実施例では、図7に示すよう
に、主および補助リフターピン32,41で基板Wを支
持しながら両ピン32,41を同時に駆動することで、
プレート11から基板Wを持ち上げているが、図10に
示すように、補助リフターピン41のみによって基板W
をプレート11から持ち上げるようにしてもよい。この
場合、補助リフターピン41は基板長辺側端縁領域RL
を支持することになるため、基板短辺側端縁領域RSを
支持して基板Wを持ち上げていた従来例に比べて、基板
Wの撓みを抑えることができる。もちろん、補助リフタ
ーピン41の上昇端位置P3よりも上方の空間を搬送用
アームARが移動するため、補助リフターピン41との
干渉を問題とすることもない。
【0038】さらに、上記実施例では補助リフターピン
41を主リフターピン32とともにその上昇端位置P3
まで上昇させ、その後に主リフターピン32のみを基板
受渡し位置P2まで上昇させるように構成されていた
が、これに代えて、補助リフターピン41を主リフター
ピン32とともに基板受渡し位置P2まで一旦上昇さ
せ、その後に補助リフターピン41のみをその上昇端位
置P3もしくは処理位置P1以下に下降させても良い。
【0039】また、上記においては、プレート11の基
板載置面12に直接基板Wを載置するタイプの基板処理
装置に本発明を適用した場合について説明したが、プレ
ート11から突設されたプロキシミティーピンによりプ
レート11から少し浮かせた状態で基板Wを載置するタ
イプの基板処理装置にも本発明を適用することができ
る。
【0040】
【発明の効果】以上のように、請求項1の発明によれ
ば、補助移動部材を処理位置から上方に突出すること
で、その上端部で基板を支持しながら上方位置に移動さ
せるように構成しているので、基板を基板載置手段から
容易に持ち上げることができる。
【0041】請求項2の発明によれば、有効エリア外の
領域のうち、基板短辺側端縁領域を主移動部材により、
また基板長辺側端縁領域を補助移動部材により、それぞ
れ支持するようにしているため、基板の撓みを軽減する
ことができる。また、このように有効エリア外の領域の
みを支持しているので、主および補助移動部材により基
板の有効エリアを傷付けるという弊害を防止することが
できる。
【0042】請求項3の発明によれば、処理位置からの
補助移動部材の突出量を処理位置からの主移動部材の突
出量よりも小さくしているため、主移動部材との間で基
板の受け渡しを行う搬送用アームが補助移動部材と干渉
するのを防止することができる。
【0043】請求項4の発明によれば、基板受渡し位置
を処理位置から突出した補助移動部材の上方位置とし、
搬送用アームが上方位置と当該基板受渡し位置との間の
空間に進入可能となるように構成しているので、補助移
動部材の動作と無関係に、主移動部材と搬送用アームと
の間での基板の受渡し処理を行うことができる。
【0044】請求項5の発明によれば、吸着手段により
基板載置面に載置された基板を吸着してプレートに密着
させるようにしたことで吸着手段を設けない場合に比べ
て基板をプレートから持ち上げるのが困難となるが、補
助移動部材を設けたことで基板の持ち上げが容易とな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明にかかる基板処理装置の一実施例を示
す斜視図である。
【図2】図1のA−A線位置からY方向に見た断面図で
ある。
【図3】図1の基板処理装置の平面図である。
【図4】図1の基板処理装置の動作を示す図である。
【図5】図1の基板処理装置の動作を示す図である。
【図6】図1の基板処理装置の動作を示す図である。
【図7】図1の基板処理装置の動作を示す図である。
【図8】図1の基板処理装置の動作を示す図である。
【図9】図1の基板処理装置の動作を示す図である。
【図10】この発明にかかる基板処理装置の他の実施例
の動作を示す図である。
【符号の説明】
11 プレート 12 基板載置面 32 主リフターピン(主移動部材) 41 補助リフターピン(補助移動部材) AR 搬送用アーム P1 処理位置 P2 基板受渡し位置 P3 位置(上方位置)

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を所定の処理位置に載置して基板処
    理を行う基板処理装置において、 処理されるべき基板が載置されてその基板を処理位置に
    保持する基板載置手段と、 前記処理位置に対して上下方向に出退自在で、処理位置
    から上方に突出することにより処理位置にある基板をそ
    の上端部で支持しながら処理位置より上方の上方位置に
    移動させる複数の補助移動部材と、 前記処理位置に対して上下方向に出退自在で、上方位置
    にある基板をその上端部で支持しながら上方位置より上
    方の基板受渡し位置に移動させる複数の主移動部材と、
    を備えることを特徴とする基板処理装置。
  2. 【請求項2】 前記基板はその中央部にパターンが形成
    される有効エリアが配置される角型形状であるととも
    に、有効エリアの外の基板端縁部において基板短辺側の
    領域を主移動部材が支持し、基板長辺側の領域を補助移
    動部材が支持する請求項1記載の基板処理装置。
  3. 【請求項3】 前記処理位置からの複数の補助移動部材
    の突出量が処理位置からの複数の主移動部材の突出量よ
    りも小さい請求項2記載の基板処理装置。
  4. 【請求項4】 主移動部材との間で基板の受け渡しを行
    う搬送用アームは、上方位置と基板受渡し位置との間の
    空間に進入可能である請求項3記載の基板処理装置。
  5. 【請求項5】 基板載置手段は基板が載置される基板載
    置面を有するプレートを含むとともに、基板載置面に載
    置された基板を吸着してプレートに密着させる吸着手段
    をさらに備える請求項4記載の基板処理装置。
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US08/610,712 US5823736A (en) 1995-03-06 1996-03-04 Substrate processing device and method for substrate from the substrate processing device

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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003017550A (ja) * 2001-06-27 2003-01-17 Shin Sti Technology Kk 基板固定用チャックおよびこのチャックからの基板剥離方法
KR100537057B1 (ko) * 1998-07-03 2006-05-03 삼성전자주식회사 칩 분리용 홀더 어셈블리
US7384322B2 (en) 2002-02-22 2008-06-10 Lg.Philips Lcd Co., Ltd. Apparatus and method for manufacturing liquid crystal display devices
CN100409424C (zh) * 2005-04-26 2008-08-06 大日本网目版制造株式会社 基板处理装置
JP2009010085A (ja) * 2007-06-27 2009-01-15 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 減圧乾燥装置
JP2009059864A (ja) * 2007-08-31 2009-03-19 Ulvac Japan Ltd 基板リフト装置
JP2010157640A (ja) * 2008-12-29 2010-07-15 Toray Eng Co Ltd 基板受渡し装置およびその方法
CN112740387A (zh) * 2018-10-30 2021-04-30 Tes股份有限公司 基板处理装置
JP2022058790A (ja) * 2018-03-29 2022-04-12 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置、及び被処理体の搬送方法

Families Citing this family (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW318258B (ja) * 1995-12-12 1997-10-21 Tokyo Electron Co Ltd
US6102164A (en) * 1996-02-28 2000-08-15 Applied Materials, Inc. Multiple independent robot assembly and apparatus for processing and transferring semiconductor wafers
US20040005211A1 (en) * 1996-02-28 2004-01-08 Lowrance Robert B. Multiple independent robot assembly and apparatus and control system for processing and transferring semiconductor wafers
US5885353A (en) * 1996-06-21 1999-03-23 Micron Technology, Inc. Thermal conditioning apparatus
US5984391A (en) * 1997-02-03 1999-11-16 Novellus Systems, Inc. Microfeature wafer handling apparatus and methods
JPH11288995A (ja) * 1998-04-04 1999-10-19 Tokyo Electron Ltd 搬送システム及び処理装置
US6215897B1 (en) 1998-05-20 2001-04-10 Applied Komatsu Technology, Inc. Automated substrate processing system
US6176668B1 (en) * 1998-05-20 2001-01-23 Applied Komatsu Technology, Inc. In-situ substrate transfer shuttle
US6517303B1 (en) 1998-05-20 2003-02-11 Applied Komatsu Technology, Inc. Substrate transfer shuttle
US6178361B1 (en) * 1998-11-20 2001-01-23 Karl Suss America, Inc. Automatic modular wafer substrate handling device
KR100551806B1 (ko) * 1999-09-06 2006-02-13 동경 엘렉트론 주식회사 반도체 처리용 반송 장치 및 수용 장치와, 반도체 처리시스템
EP1174910A3 (en) * 2000-07-20 2010-01-06 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for dechucking a substrate
JP2002064132A (ja) * 2000-08-22 2002-02-28 Tokyo Electron Ltd 被処理体の受け渡し方法、被処理体の載置機構及びプローブ装置
JP2002137352A (ja) * 2000-08-25 2002-05-14 Internatl Business Mach Corp <Ibm> シート材の積層方法、シート材の積層装置、液晶表示パネルの製造方法および液晶表示パネルの製造装置
CA2343338C (en) * 2001-04-09 2006-10-03 Charles Ciccarello Apparatus for roughing surfaces of concrete casted blocks
US6530157B1 (en) 2001-09-04 2003-03-11 Process Integration Precise positioning device for workpieces
JP4244555B2 (ja) * 2002-02-25 2009-03-25 東京エレクトロン株式会社 被処理体の支持機構
US20040096636A1 (en) * 2002-11-18 2004-05-20 Applied Materials, Inc. Lifting glass substrate without center lift pins
JP4084293B2 (ja) * 2002-12-05 2008-04-30 株式会社アドヴァンスド・ディスプレイ・プロセス・エンジニアリング Fpd製造装置
TWI224719B (en) * 2003-05-28 2004-12-01 Gudeng Prec Ind Co Ltd Reinforced structure device of mask frame
JP2005072559A (ja) * 2003-08-05 2005-03-17 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および基板処理方法
US7301623B1 (en) * 2003-12-16 2007-11-27 Nanometrics Incorporated Transferring, buffering and measuring a substrate in a metrology system
US7434712B2 (en) * 2004-07-09 2008-10-14 Blackhawk Industries Product Group Unlimited Llc Hooded holster
US20060005770A1 (en) * 2004-07-09 2006-01-12 Robin Tiner Independently moving substrate supports
US7699021B2 (en) 2004-12-22 2010-04-20 Sokudo Co., Ltd. Cluster tool substrate throughput optimization
US7798764B2 (en) 2005-12-22 2010-09-21 Applied Materials, Inc. Substrate processing sequence in a cartesian robot cluster tool
US7651306B2 (en) 2004-12-22 2010-01-26 Applied Materials, Inc. Cartesian robot cluster tool architecture
US7819079B2 (en) 2004-12-22 2010-10-26 Applied Materials, Inc. Cartesian cluster tool configuration for lithography type processes
US7396412B2 (en) 2004-12-22 2008-07-08 Sokudo Co., Ltd. Coat/develop module with shared dispense
JP4754304B2 (ja) * 2005-09-02 2011-08-24 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、ロードロック室ユニット、および搬送装置の搬出方法
CN101366111B (zh) * 2006-02-01 2010-06-09 奥林巴斯株式会社 基板交换装置和基板处理装置以及基板检查装置
US7694688B2 (en) 2007-01-05 2010-04-13 Applied Materials, Inc. Wet clean system design
US7950407B2 (en) 2007-02-07 2011-05-31 Applied Materials, Inc. Apparatus for rapid filling of a processing volume
US8802545B2 (en) * 2011-03-14 2014-08-12 Plasma-Therm Llc Method and apparatus for plasma dicing a semi-conductor wafer
US9168658B2 (en) * 2011-12-02 2015-10-27 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Panel pickup and placing method and combined pickup device for performing the method
CN105448787A (zh) * 2014-06-05 2016-03-30 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 一种传输装置及半导体加工设备
CN105810628A (zh) * 2014-12-31 2016-07-27 南京瀚宇彩欣科技有限责任公司 衬底支持装置
CN105458983B (zh) * 2015-12-24 2018-03-20 格力电器(重庆)有限公司 组装显示器组件的工装
CN108098622B (zh) * 2017-09-11 2019-11-08 凯茂科技(深圳)有限公司 一种玻璃定位治具及玻璃定位方法
JP7018801B2 (ja) * 2018-03-29 2022-02-14 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置、及び被処理体の搬送方法
CN110823922A (zh) * 2018-08-10 2020-02-21 鸿富锦精密电子(天津)有限公司 外观检测装置
JP7135841B2 (ja) * 2018-12-25 2022-09-13 株式会社Sumco ウェーハ移載装置、気相成長装置、ウェーハ移載方法およびエピタキシャルシリコンウェーハの製造方法
CN112318416B (zh) * 2020-10-15 2022-05-03 友达光电(苏州)有限公司 拆解设备及拆解显示屏与盖板的方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0491885A (ja) * 1990-08-03 1992-03-25 Sony Corp 真空チャンバ装置、レーザ照射装置、およびレーザ照射方法
JPH05190414A (ja) * 1992-01-17 1993-07-30 Nikon Corp 基板吸着装置
JPH06338555A (ja) * 1992-12-21 1994-12-06 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3817402A (en) * 1970-10-08 1974-06-18 California Injection Molding C Molding articles containing inserts
US5374147A (en) * 1982-07-29 1994-12-20 Tokyo Electron Limited Transfer device for transferring a substrate
JPS60169148A (ja) * 1984-02-13 1985-09-02 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板の搬送方法及びその装置
US4776745A (en) * 1987-01-27 1988-10-11 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Substrate handling system
JPS6484434A (en) * 1987-09-25 1989-03-29 Konishiroku Photo Ind Production of magnetic recording medium
JP2662982B2 (ja) * 1988-06-20 1997-10-15 東京エレクトロン株式会社 加熱装置
JPH0414237A (ja) * 1990-05-07 1992-01-20 Tokyo Electron Ltd 半導体製造装置
US5197089A (en) * 1990-05-21 1993-03-23 Hampshire Instruments, Inc. Pin chuck for lithography system
JP3238432B2 (ja) * 1991-08-27 2001-12-17 東芝機械株式会社 マルチチャンバ型枚葉処理装置
US5345639A (en) * 1992-05-28 1994-09-13 Tokyo Electron Limited Device and method for scrubbing and cleaning substrate
GB2285759B (en) * 1994-01-05 1998-01-07 Murata Manufacturing Co Apparatus for pushing chip components into holding plate

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0491885A (ja) * 1990-08-03 1992-03-25 Sony Corp 真空チャンバ装置、レーザ照射装置、およびレーザ照射方法
JPH05190414A (ja) * 1992-01-17 1993-07-30 Nikon Corp 基板吸着装置
JPH06338555A (ja) * 1992-12-21 1994-12-06 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100537057B1 (ko) * 1998-07-03 2006-05-03 삼성전자주식회사 칩 분리용 홀더 어셈블리
JP2003017550A (ja) * 2001-06-27 2003-01-17 Shin Sti Technology Kk 基板固定用チャックおよびこのチャックからの基板剥離方法
US7384322B2 (en) 2002-02-22 2008-06-10 Lg.Philips Lcd Co., Ltd. Apparatus and method for manufacturing liquid crystal display devices
CN100409424C (zh) * 2005-04-26 2008-08-06 大日本网目版制造株式会社 基板处理装置
JP2009010085A (ja) * 2007-06-27 2009-01-15 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 減圧乾燥装置
JP2009059864A (ja) * 2007-08-31 2009-03-19 Ulvac Japan Ltd 基板リフト装置
JP2010157640A (ja) * 2008-12-29 2010-07-15 Toray Eng Co Ltd 基板受渡し装置およびその方法
JP2022058790A (ja) * 2018-03-29 2022-04-12 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置、及び被処理体の搬送方法
CN112740387A (zh) * 2018-10-30 2021-04-30 Tes股份有限公司 基板处理装置

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