JPH08274823A - Ｇｍｓｋ通信デバイスの試験装置 - Google Patents
Ｇｍｓｋ通信デバイスの試験装置Info
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- JPH08274823A JPH08274823A JP7097907A JP9790795A JPH08274823A JP H08274823 A JPH08274823 A JP H08274823A JP 7097907 A JP7097907 A JP 7097907A JP 9790795 A JP9790795 A JP 9790795A JP H08274823 A JPH08274823 A JP H08274823A
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/24—Testing correct operation
-
- H—ELECTRICITY
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- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L27/00—Modulated-carrier systems
- H04L27/18—Phase-modulated carrier systems, i.e. using phase-shift keying
- H04L27/20—Modulator circuits; Transmitter circuits
- H04L27/2003—Modulator circuits; Transmitter circuits for continuous phase modulation
- H04L27/2007—Modulator circuits; Transmitter circuits for continuous phase modulation in which the phase change within each symbol period is constrained
- H04L27/2017—Modulator circuits; Transmitter circuits for continuous phase modulation in which the phase change within each symbol period is constrained in which the phase changes are non-linear, e.g. generalized and Gaussian minimum shift keying, tamed frequency modulation
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L27/00—Modulated-carrier systems
- H04L27/18—Phase-modulated carrier systems, i.e. using phase-shift keying
- H04L27/22—Demodulator circuits; Receiver circuits
- H04L27/233—Demodulator circuits; Receiver circuits using non-coherent demodulation
- H04L27/2332—Demodulator circuits; Receiver circuits using non-coherent demodulation using a non-coherent carrier
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- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、再生した理想データと、測定位相
データ列との位相オフセットを考慮する必要がない測定
／演算手段を実現する。 【構成】 ２つの直交成分信号を量子化するＡＤ変換器
と、位相回転の中心点であるオフセットと振幅を求める
オフセット抽出部と、前記オフセットを差し引く位相検
出部と、これを微分して周波数データｆ（ｔ）列に変換
する微分器と、これを２乗し、ＤＦＴ処理してビットレ
ートの周波数ｆ0を出力するＤＦＴ処理部と、微分器か
らの周波数データｆ（ｔ）と、ビットレートの周波数ｆ
0を受けてビットデータＢdat（ｔ）を生成するビットデ
ータ再生部と、理想周波数データｆref（ｔ）を生成す
る理想データ生成部と、周波数データｆ（ｔ）に、理想
データｆref（ｔ）を減算する差分演算部と、これを積
分して位相情報に変換し、実効値位相エラーとする積分
／位相エラー出力部を設ける。
データ列との位相オフセットを考慮する必要がない測定
／演算手段を実現する。 【構成】 ２つの直交成分信号を量子化するＡＤ変換器
と、位相回転の中心点であるオフセットと振幅を求める
オフセット抽出部と、前記オフセットを差し引く位相検
出部と、これを微分して周波数データｆ（ｔ）列に変換
する微分器と、これを２乗し、ＤＦＴ処理してビットレ
ートの周波数ｆ0を出力するＤＦＴ処理部と、微分器か
らの周波数データｆ（ｔ）と、ビットレートの周波数ｆ
0を受けてビットデータＢdat（ｔ）を生成するビットデ
ータ再生部と、理想周波数データｆref（ｔ）を生成す
る理想データ生成部と、周波数データｆ（ｔ）に、理想
データｆref（ｔ）を減算する差分演算部と、これを積
分して位相情報に変換し、実効値位相エラーとする積分
／位相エラー出力部を設ける。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、デジタル通信分野に
使用されるＧＳＭ（Global System for Mobile Communi
cations）に使用されるＧＭＳＫ変調方式の通信デバイ
スの試験装置に関する。
使用されるＧＳＭ（Global System for Mobile Communi
cations）に使用されるＧＭＳＫ変調方式の通信デバイ
スの試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】被試験デバイス１００（ＤＵＴ）である
ＧＭＳＫ変調用の通信デバイスの試験項目としては、Ｄ
ＵＴが出力するアナログのベースバンド波形信号Ｉ
（ｔ）、Ｑ（ｔ）が理想信号に対してどの程度の位相ず
れを生じているかを測定する。ＤＵＴ１００は、例えば
伝送速度２７０．８３３ｋｂｐｓの送信データ列ＴＸda
tを受けて、内部でデジタル処理技術によりガウスフィ
ルタ特性となるデジタル演算変換し、ＤＡ変換器してア
ナログのベースバンド波形Ｉ（ｔ）、Ｑ（ｔ）を生成出
力している。
ＧＭＳＫ変調用の通信デバイスの試験項目としては、Ｄ
ＵＴが出力するアナログのベースバンド波形信号Ｉ
（ｔ）、Ｑ（ｔ）が理想信号に対してどの程度の位相ず
れを生じているかを測定する。ＤＵＴ１００は、例えば
伝送速度２７０．８３３ｋｂｐｓの送信データ列ＴＸda
tを受けて、内部でデジタル処理技術によりガウスフィ
ルタ特性となるデジタル演算変換し、ＤＡ変換器してア
ナログのベースバンド波形Ｉ（ｔ）、Ｑ（ｔ）を生成出
力している。
【０００３】従来の測定例としては、図３に示すよう
に、ＤＵＴからのベースバンド波形Ｉ（ｔ）、Ｑ（ｔ）
を、一旦直交変調器１１０により数ＭＨｚの搬送波ｆc
で直交変調した高周波信号１２０rfを受けて測定する場
合で説明する。測定系の構成は、ＡＤ変換器８２と、バ
ッファメモリ８３と、ＩＱ復調部８４と、位相／振幅演
算部８６と、誤差演算部９０とで成る。
に、ＤＵＴからのベースバンド波形Ｉ（ｔ）、Ｑ（ｔ）
を、一旦直交変調器１１０により数ＭＨｚの搬送波ｆc
で直交変調した高周波信号１２０rfを受けて測定する場
合で説明する。測定系の構成は、ＡＤ変換器８２と、バ
ッファメモリ８３と、ＩＱ復調部８４と、位相／振幅演
算部８６と、誤差演算部９０とで成る。
【０００４】ＡＤ変換器８２は、直交変調された高周波
信号１２０rfを受けて、サンプリングクロックｆsmpで
デジタル信号に量子化して一定区間の信号をバッファメ
モリ８３に格納する。ＩＱ復調部８４では、ベースバン
ドのＩＱ信号を抽出した後、位相／振幅演算部８６で振
幅データ列８８ampと位相データ列８７phaseを求めた
後、誤差演算部９０に供給する。
信号１２０rfを受けて、サンプリングクロックｆsmpで
デジタル信号に量子化して一定区間の信号をバッファメ
モリ８３に格納する。ＩＱ復調部８４では、ベースバン
ドのＩＱ信号を抽出した後、位相／振幅演算部８６で振
幅データ列８８ampと位相データ列８７phaseを求めた
後、誤差演算部９０に供給する。
【０００５】誤差演算部９０は、微分／ＩＦ除去部９２
と、ゼロクロス検出／補償部９３と、クロック位相／周
期検出部９４と、同期後ビットパターン抽出部９５と、
理想データ生成部９６と、差分抽出／直線回帰演算部９
７とで成る。
と、ゼロクロス検出／補償部９３と、クロック位相／周
期検出部９４と、同期後ビットパターン抽出部９５と、
理想データ生成部９６と、差分抽出／直線回帰演算部９
７とで成る。
【０００６】微分／ＩＦ除去部９２は、前記の位相デー
タ列８７phaseを受けて、微分処理して周波数データ列
に変換し、これをゼロクロス検出／補償部９３で、ゼロ
クロスによるタイミング再生点を求め、これからクロッ
ク位相／周期検出部９４で、最小二乗法により伝送速度
２７０ｋｂｐｓのボーレートクロック再生を行う。
タ列８７phaseを受けて、微分処理して周波数データ列
に変換し、これをゼロクロス検出／補償部９３で、ゼロ
クロスによるタイミング再生点を求め、これからクロッ
ク位相／周期検出部９４で、最小二乗法により伝送速度
２７０ｋｂｐｓのボーレートクロック再生を行う。
【０００７】同期後ビットパターン抽出部９５では、前
記再生したボーレートクロックによりゼロクロス検出／
補償部９３からのデータと、振幅データ列８８ampを受
けて、実際のデータと同期のとれたビットパターン列を
生成する。理想データ生成部９６では、このビットパタ
ーン列を受けて、理想位相点のデータを生成して比較用
の基準データとして差分抽出／直線回帰演算部９７に供
給する。
記再生したボーレートクロックによりゼロクロス検出／
補償部９３からのデータと、振幅データ列８８ampを受
けて、実際のデータと同期のとれたビットパターン列を
生成する。理想データ生成部９６では、このビットパタ
ーン列を受けて、理想位相点のデータを生成して比較用
の基準データとして差分抽出／直線回帰演算部９７に供
給する。
【０００８】差分抽出／直線回帰演算部９７では、前記
理想データと、位相／振幅演算部８６からの位相データ
列８７phaseと、振幅データ列８８ampを受けて、実際の
データと理想データとの差を算出した後、回帰処理によ
りｒｍｓ位相エラーＰerrと、周波数エラーｆerrを算出
する。
理想データと、位相／振幅演算部８６からの位相データ
列８７phaseと、振幅データ列８８ampを受けて、実際の
データと理想データとの差を算出した後、回帰処理によ
りｒｍｓ位相エラーＰerrと、周波数エラーｆerrを算出
する。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上記説明のような測定
及び演算手段である為に、差分抽出／直線回帰演算部９
７では、理想データと、位相／振幅演算部８６からの位
相データ列８７phaseとの位相差を算出する場合に両者
の位相のオフセットを考慮する必要がある。またゼロク
ロス検出／補償部９３で、ゼロクロスによるタイミング
再生点を求める場合にゼロクロス点の合わせ込みが必要
となる難点がある。また、ベースバンド波形信号Ｉ
（ｔ）、Ｑ（ｔ）のオフセットが判らない点がある。
及び演算手段である為に、差分抽出／直線回帰演算部９
７では、理想データと、位相／振幅演算部８６からの位
相データ列８７phaseとの位相差を算出する場合に両者
の位相のオフセットを考慮する必要がある。またゼロク
ロス検出／補償部９３で、ゼロクロスによるタイミング
再生点を求める場合にゼロクロス点の合わせ込みが必要
となる難点がある。また、ベースバンド波形信号Ｉ
（ｔ）、Ｑ（ｔ）のオフセットが判らない点がある。
【００１０】そこで、本発明が解決しようとする課題
は、再生した理想データと、測定位相データ列との位相
オフセットを考慮する必要がない測定／演算手段を実現
することを目的とする。
は、再生した理想データと、測定位相データ列との位相
オフセットを考慮する必要がない測定／演算手段を実現
することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決する為の手段】上記課題を解決するため
に、本発明の構成では、Ｉ（ｔ）、Ｑ（ｔ）の２つの直
交成分信号を受けて、各々デジタル信号Ｉa（ｔ）、Ｑa
（ｔ）に量子化するＡＤ変換器１１、１２を設け、ＡＤ
変換器１１、１２からのＩＱデータ列を受けて、変調に
より位相回転する円の中心点であるＩ側オフセットＩof
fとＱ側オフセットＱoffとＩ成分振幅、Ｑ成分振幅を求
めるオフセット抽出部１６を設け、デジタル信号Ｉa
（ｔ）、Ｑa（ｔ）を受けて、前記オフセットを差し引
いたデータからtan-1Ｑ／Ｉ演算して位相データＰase
（ｔ）を出力する位相検出部１８を設け、この位相デー
タを微分処理して周波数データｆ（ｔ）列に変換する微
分器２０を設け、この周波数データｆ（ｔ）列を２乗
し、変調のビットレートでＤＦＴ処理して復調のタイミ
ング信号であるビットレートの位相ｐ0を出力するＤＦ
Ｔ処理部２２を設ける。そして、微分器２０からの周波
数データｆ（ｔ）と、ＤＦＴ処理部２２からのビットレ
ートの周波数ｆ0を受けて、ビットデータＢdat（ｔ）を
復調生成するビットデータ再生部２４を設け、これから
理想的な周波数データｆref（ｔ）を生成する理想デー
タ生成部２６を設け、微分器２０からの周波数データｆ
（ｔ）に、前記理想データｆref（ｔ）を減算して周波
数エラーデータを出力する差分演算部２８を設け、この
周波数エラーデータを積分して位相情報に変換し、その
二乗平均（ｒｍｓ：root mean square）を求めてｒｍｓ
位相エラー値を出力する積分／位相エラー出力部３０を
設ける構成手段にする。これにより、ＧＭＳＫ変調用デ
バイスＤＵＴの位相誤差を測定する試験装置を実現す
る。
に、本発明の構成では、Ｉ（ｔ）、Ｑ（ｔ）の２つの直
交成分信号を受けて、各々デジタル信号Ｉa（ｔ）、Ｑa
（ｔ）に量子化するＡＤ変換器１１、１２を設け、ＡＤ
変換器１１、１２からのＩＱデータ列を受けて、変調に
より位相回転する円の中心点であるＩ側オフセットＩof
fとＱ側オフセットＱoffとＩ成分振幅、Ｑ成分振幅を求
めるオフセット抽出部１６を設け、デジタル信号Ｉa
（ｔ）、Ｑa（ｔ）を受けて、前記オフセットを差し引
いたデータからtan-1Ｑ／Ｉ演算して位相データＰase
（ｔ）を出力する位相検出部１８を設け、この位相デー
タを微分処理して周波数データｆ（ｔ）列に変換する微
分器２０を設け、この周波数データｆ（ｔ）列を２乗
し、変調のビットレートでＤＦＴ処理して復調のタイミ
ング信号であるビットレートの位相ｐ0を出力するＤＦ
Ｔ処理部２２を設ける。そして、微分器２０からの周波
数データｆ（ｔ）と、ＤＦＴ処理部２２からのビットレ
ートの周波数ｆ0を受けて、ビットデータＢdat（ｔ）を
復調生成するビットデータ再生部２４を設け、これから
理想的な周波数データｆref（ｔ）を生成する理想デー
タ生成部２６を設け、微分器２０からの周波数データｆ
（ｔ）に、前記理想データｆref（ｔ）を減算して周波
数エラーデータを出力する差分演算部２８を設け、この
周波数エラーデータを積分して位相情報に変換し、その
二乗平均（ｒｍｓ：root mean square）を求めてｒｍｓ
位相エラー値を出力する積分／位相エラー出力部３０を
設ける構成手段にする。これにより、ＧＭＳＫ変調用デ
バイスＤＵＴの位相誤差を測定する試験装置を実現す
る。
【００１２】上記手段に加えて、ＡＤ変換器１１、１２
で量子化したデータを格納するバッファメモリ１３、１
４を設ける試験装置の構成がある。また、上記手段に加
えて、直交変調された中間周波数信号を受けて、ＩＱ信
号に分離復調するＩＱ復調器をＡＤ変換器１１、１２の
前に設けて測定実施する試験装置の構成がある。
で量子化したデータを格納するバッファメモリ１３、１
４を設ける試験装置の構成がある。また、上記手段に加
えて、直交変調された中間周波数信号を受けて、ＩＱ信
号に分離復調するＩＱ復調器をＡＤ変換器１１、１２の
前に設けて測定実施する試験装置の構成がある。
【００１３】
【作用】オフセット抽出部１６は、特願の平成６ー１９
１９３０によるオフセット点の検出手段を用いて、正確
な位相回転の中心点であるオフセット値Ｉoff、Ｑoffを
得る作用がある。微分器２０は、位相データＰase
（ｔ）を受けて、１つ前の位相データとの差分をとる微
分処理をして周波数データｆ（ｔ）列に変換する作用が
あり、ＤＦＴ処理部２２は、この周波数データｆ（ｔ）
列を受けて、これを２乗し、変調のビットレートでＤＦ
Ｔ処理することにより復調のタイミング信号であるビッ
トレートの位相ｐ0が求められる作用がある。
１９３０によるオフセット点の検出手段を用いて、正確
な位相回転の中心点であるオフセット値Ｉoff、Ｑoffを
得る作用がある。微分器２０は、位相データＰase
（ｔ）を受けて、１つ前の位相データとの差分をとる微
分処理をして周波数データｆ（ｔ）列に変換する作用が
あり、ＤＦＴ処理部２２は、この周波数データｆ（ｔ）
列を受けて、これを２乗し、変調のビットレートでＤＦ
Ｔ処理することにより復調のタイミング信号であるビッ
トレートの位相ｐ0が求められる作用がある。
【００１４】ビットデータ再生部２４は、微分器２０か
らの周波数データｆ（ｔ）と、ＤＦＴ処理部２２からの
ビットレートの位相ｐ0を受けて、ビットデータＢdat
（ｔ）を復調生成でき、これから理想的な周波数データ
ｆref（ｔ）を得る作用がある。積分／位相エラー出力
部３０は、差分演算部２８で周波数データｆ（ｔ）に、
理想データｆref（ｔ）を減算した結果を積分して位相
情報に変換し、その位相データのｒｍｓ値からｒｍｓ位
相エラー値を算出することにより、測定信号の位相デー
タ列との位相オフセットを考慮する必要がない特徴があ
る。
らの周波数データｆ（ｔ）と、ＤＦＴ処理部２２からの
ビットレートの位相ｐ0を受けて、ビットデータＢdat
（ｔ）を復調生成でき、これから理想的な周波数データ
ｆref（ｔ）を得る作用がある。積分／位相エラー出力
部３０は、差分演算部２８で周波数データｆ（ｔ）に、
理想データｆref（ｔ）を減算した結果を積分して位相
情報に変換し、その位相データのｒｍｓ値からｒｍｓ位
相エラー値を算出することにより、測定信号の位相デー
タ列との位相オフセットを考慮する必要がない特徴があ
る。
【００１５】
【実施例】本発明の構成は、図１に示すように、ＤＵＴ
１００からのベースバンド波形Ｉ（ｔ）、Ｑ（ｔ）を受
けて、直接測定する場合であって、ＡＤ変換器１１、１
２と、バッファメモリ１３、１４と、オフセット抽出部
１６と、位相検出部１８と、微分器２０と、ＤＦＴ処理
部２２と、ビットデータ再生部２４と、理想データ生成
部２６と、差分演算部２８と、積分／位相エラー出力部
３０とで成る。
１００からのベースバンド波形Ｉ（ｔ）、Ｑ（ｔ）を受
けて、直接測定する場合であって、ＡＤ変換器１１、１
２と、バッファメモリ１３、１４と、オフセット抽出部
１６と、位相検出部１８と、微分器２０と、ＤＦＴ処理
部２２と、ビットデータ再生部２４と、理想データ生成
部２６と、差分演算部２８と、積分／位相エラー出力部
３０とで成る。
【００１６】ＡＤ変換器１１は、デジタル変調されたＩ
（ｔ）信号を、サンプリングクロックでデジタル信号に
量子化してバッファメモリ１３に格納し、ＡＤ変換器１
２は、デジタル変調されたＱ（ｔ）信号を、サンプリン
グクロックでデジタル信号に量子化してバッファメモリ
１４に格納する。ここでＩ（ｔ）、Ｑ（ｔ）のｔは時間
の関数であることを示す。
（ｔ）信号を、サンプリングクロックでデジタル信号に
量子化してバッファメモリ１３に格納し、ＡＤ変換器１
２は、デジタル変調されたＱ（ｔ）信号を、サンプリン
グクロックでデジタル信号に量子化してバッファメモリ
１４に格納する。ここでＩ（ｔ）、Ｑ（ｔ）のｔは時間
の関数であることを示す。
【００１７】オフセット抽出部１６は、特願の平成６ー
１９１９３０によるオフセット点の検出手段を用いて、
バッファメモリ１３からのＩ成分振幅データＩa（ｔ）
を受けて、Ｉ側振幅レベル値のヒストグラム分布を求
め、２つの最大ピーク点を求め、両区間の中間点をオフ
セット値Ｉoffとして正確に求め、両区間をＩ振幅値と
して求める。同様に、バッファメモリ１４からのＱ側振
幅データＱa（ｔ）のヒストグラム分布で、２つの最大
ピーク点からオフセット値ＱoffとＱ振幅を求める。こ
れにより図２に示す位相変調の回転中心である直交座標
の回転中心点と振幅が求まる。
１９１９３０によるオフセット点の検出手段を用いて、
バッファメモリ１３からのＩ成分振幅データＩa（ｔ）
を受けて、Ｉ側振幅レベル値のヒストグラム分布を求
め、２つの最大ピーク点を求め、両区間の中間点をオフ
セット値Ｉoffとして正確に求め、両区間をＩ振幅値と
して求める。同様に、バッファメモリ１４からのＱ側振
幅データＱa（ｔ）のヒストグラム分布で、２つの最大
ピーク点からオフセット値ＱoffとＱ振幅を求める。こ
れにより図２に示す位相変調の回転中心である直交座標
の回転中心点と振幅が求まる。
【００１８】位相検出部１８は、前記オフセットを差し
引いたＩ成分Ｉb（ｔ）＝Ｉa（ｔ）−Ｉoffと、Ｑ成分
Ｑb（ｔ）＝Ｑa（ｔ）−Ｑoffから位相データＰase
（ｔ）＝tan-1（Ｑb（ｔ）／Ｉb（ｔ））を演算して出
力する。微分器２０は、この位相データＰase（ｔ）を
受けて、１つ前の位相データとの差分をとる微分処理を
して周波数データｆ（ｔ）列に変換する。
引いたＩ成分Ｉb（ｔ）＝Ｉa（ｔ）−Ｉoffと、Ｑ成分
Ｑb（ｔ）＝Ｑa（ｔ）−Ｑoffから位相データＰase
（ｔ）＝tan-1（Ｑb（ｔ）／Ｉb（ｔ））を演算して出
力する。微分器２０は、この位相データＰase（ｔ）を
受けて、１つ前の位相データとの差分をとる微分処理を
して周波数データｆ（ｔ）列に変換する。
【００１９】ＤＦＴ処理部２２は、この周波数データｆ
（ｔ）列を受けて、このデータを２乗し、変調のビット
レートでＤＦＴ（discrete Fourier transform）処理し
てフーリエ変換することにより復調のタイミング信号で
あるビットレートの周波数ｆ0求まる。
（ｔ）列を受けて、このデータを２乗し、変調のビット
レートでＤＦＴ（discrete Fourier transform）処理し
てフーリエ変換することにより復調のタイミング信号で
あるビットレートの周波数ｆ0求まる。
【００２０】ビットデータ再生部２４は、微分器２０か
らの周波数データｆ（ｔ）と、ＤＦＴ処理部２２からの
ビットレートの位相ｐ0を受けて、ビットデータＢdat
（ｔ）を復調生成する。理想データ生成部２６は、これ
から理想的な周波数データｆref（ｔ）を出力する。
らの周波数データｆ（ｔ）と、ＤＦＴ処理部２２からの
ビットレートの位相ｐ0を受けて、ビットデータＢdat
（ｔ）を復調生成する。理想データ生成部２６は、これ
から理想的な周波数データｆref（ｔ）を出力する。
【００２１】差分演算部２８は、微分器２０からの周波
数データｆ（ｔ）に、前記理想データｆref（ｔ）を減
算した結果を積分／位相エラー出力部３０に供給する。
積分／位相エラー出力部３０は、前記エラーデータを積
分して位相情報に変換し、そのｒｍｓ（二乗平均値）を
求めてｒｍｓ位相エラー値として出力する。
数データｆ（ｔ）に、前記理想データｆref（ｔ）を減
算した結果を積分／位相エラー出力部３０に供給する。
積分／位相エラー出力部３０は、前記エラーデータを積
分して位相情報に変換し、そのｒｍｓ（二乗平均値）を
求めてｒｍｓ位相エラー値として出力する。
【００２２】上記説明において、バッファメモリ１３、
１４以後の演算処理を高速のＤＳＰによって実現する例
がある。
１４以後の演算処理を高速のＤＳＰによって実現する例
がある。
【００２３】上記実施例の説明では、バッファメモリ１
３、１４を設けて、ＡＤ変換器１１、１２で量子化して
バッファメモリ１３、１４に格納したデータを読みだし
て実施する場合で説明していたが、所望により、高速の
ＤＳＰ等を用いることで、このバッファメモリ１３、１
４を削除した構成としても良い。
３、１４を設けて、ＡＤ変換器１１、１２で量子化して
バッファメモリ１３、１４に格納したデータを読みだし
て実施する場合で説明していたが、所望により、高速の
ＤＳＰ等を用いることで、このバッファメモリ１３、１
４を削除した構成としても良い。
【００２４】また、上記実施例の説明では、ＤＵＴから
のＩ（ｔ）、Ｑ（ｔ）信号を受けてＡＤ変換器１１、１
２で量子化する構成例で説明していたが、この間に、図
３に示すように、一旦直交変調した信号をＩＱ復調して
ＡＤ変換器１１、１２に供給する構成としても良く、同
様にして実施できる。
のＩ（ｔ）、Ｑ（ｔ）信号を受けてＡＤ変換器１１、１
２で量子化する構成例で説明していたが、この間に、図
３に示すように、一旦直交変調した信号をＩＱ復調して
ＡＤ変換器１１、１２に供給する構成としても良く、同
様にして実施できる。
【００２５】また、上記実施例の説明では、ＤＵＴがＩ
（ｔ）、Ｑ（ｔ）信号を出力する形態のデバイスの例で
説明していたが、ＤＵＴ自身が直交信号に変調した信号
を出力する場合でも良く、一旦直交変調した信号をＩＱ
信号に分離復調するＩＱ復調器をＡＤ変換器１１、１２
の前に設けて構成しても良く、同様にして測定実施でき
る。
（ｔ）、Ｑ（ｔ）信号を出力する形態のデバイスの例で
説明していたが、ＤＵＴ自身が直交信号に変調した信号
を出力する場合でも良く、一旦直交変調した信号をＩＱ
信号に分離復調するＩＱ復調器をＡＤ変換器１１、１２
の前に設けて構成しても良く、同様にして測定実施でき
る。
【００２６】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。オ
フセット抽出部１６は、特願の平成６ー１９１９３０に
よるオフセット点の検出手段を用いて、正確な位相回転
の中心点であるオフセット値Ｉoff、Ｑoffが得られる効
果がある。微分器２０は、位相データＰase（ｔ）を受
けて、１つ前の位相データとの差分をとる微分処理をし
て周波数データｆ（ｔ）列に変換する効果がある。ＤＦ
Ｔ処理部２２は、この周波数データｆ（ｔ）列を受け
て、このデータを２乗し、変調のビットレートでＤＦＴ
処理してフーリエ変換することにより復調のタイミング
信号であるビットレートの位相ｐ0が求まる効果があ
る。
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。オ
フセット抽出部１６は、特願の平成６ー１９１９３０に
よるオフセット点の検出手段を用いて、正確な位相回転
の中心点であるオフセット値Ｉoff、Ｑoffが得られる効
果がある。微分器２０は、位相データＰase（ｔ）を受
けて、１つ前の位相データとの差分をとる微分処理をし
て周波数データｆ（ｔ）列に変換する効果がある。ＤＦ
Ｔ処理部２２は、この周波数データｆ（ｔ）列を受け
て、このデータを２乗し、変調のビットレートでＤＦＴ
処理してフーリエ変換することにより復調のタイミング
信号であるビットレートの位相ｐ0が求まる効果があ
る。
【００２７】ビットデータ再生部２４は、微分器２０か
らの周波数データｆ（ｔ）と、ＤＦＴ処理部２２からの
ビットレートの位相ｐ0を受けて、ビットデータＢdat
（ｔ）を復調生成でき、これから理想的な周波数データ
ｆref（ｔ）が得られる。
らの周波数データｆ（ｔ）と、ＤＦＴ処理部２２からの
ビットレートの位相ｐ0を受けて、ビットデータＢdat
（ｔ）を復調生成でき、これから理想的な周波数データ
ｆref（ｔ）が得られる。
【００２８】積分／位相エラー出力部３０は、差分演算
部２８で周波数データｆ（ｔ）に、理想データｆref
（ｔ）を減算した結果を積分して位相情報に変換し、そ
の位相データのｒｍｓからｒｍｓ位相エラー値を算出す
る効果がある。
部２８で周波数データｆ（ｔ）に、理想データｆref
（ｔ）を減算した結果を積分して位相情報に変換し、そ
の位相データのｒｍｓからｒｍｓ位相エラー値を算出す
る効果がある。
【図１】本発明の、ＧＭＳＫ変調用の通信デバイスの試
験構成図例である。
験構成図例である。
【図２】Ｑ信号波形と位相変調の回転位相中心を説明す
る図である。
る図である。
【図３】従来の、ＧＭＳＫ変調用の通信デバイスの試験
構成図例である。
構成図例である。
Claims (3)
- 【請求項１】 ＧＭＳＫ変調用デバイス（ＤＵＴ）の位
相誤差を測定する試験装置においてＩ（ｔ）、Ｑ（ｔ）
の２つの直交成分信号を受けて、各々デジタル信号Ｉa
（ｔ）、Ｑa（ｔ）に量子化するＡＤ変換器を設け、 ＡＤ変換器からのＩＱデータ列を受けて、変調により位
相回転する円の中心点であるＩ側オフセット（Ｉoff）
とＱ側オフセット（Ｑoff）とＩ成分振幅、Ｑ成分振幅
を求めるオフセット抽出部１６を設け、 デジタル信号Ｉa（ｔ）、Ｑa（ｔ）を受けて、前記オフ
セットを差し引いたデータからtan-1（Ｑ／Ｉ）演算し
て位相データＰase（ｔ）を出力する位相検出部を設
け、 この位相データを微分処理して周波数データｆ（ｔ）列
に変換する微分器を設け、 この周波数データｆ（ｔ）列を２乗し、変調のビットレ
ートでＤＦＴ（discrete Fourier transfer）処理して
フーリエ変換して復調のタイミング信号であるビットレ
ートの位相ｐ0を出力するＤＦＴ処理部を設け、 微分器からの周波数データｆ（ｔ）と、ＤＦＴ処理部か
らのビットレートの周波数ｆ0を受けて、ビットデータ
Ｂdat（ｔ）を復調生成するビットデータ再生部を設
け、 これから理想的な周波数データｆref（ｔ）を生成する
理想データ生成部を設け、 微分器からの周波数データｆ（ｔ）に、前記理想データ
ｆref（ｔ）を減算して周波数エラーデータを出力する
差分演算部を設け、 この周波数エラーデータを積分して位相情報に変換し、
その実効値を求めて実効値位相エラー値を出力する積分
／位相エラー出力部を設け、 以上を具備していることを特徴としたＧＭＳＫ通信デバ
イスの試験装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の構成手段に加えて、 ＡＤ変換器で量子化したデータを格納するバッファメモ
リを設けたことを特徴としたＧＭＳＫ通信デバイスの試
験装置。 - 【請求項３】 請求項１記載の構成手段に加えて、 直交変調された中間周波数信号を受けて、ＩＱ信号に分
離復調するＩＱ復調器をＡＤ変換器の前に設けたことを
特徴としたＧＭＳＫ通信デバイスの試験装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09790795A JP3497008B2 (ja) | 1995-03-30 | 1995-03-30 | Ｇｍｓｋ通信デバイスの試験装置 |
| TW085103513A TW299538B (ja) | 1995-03-30 | 1996-03-22 | |
| CN96190138A CN1123183C (zh) | 1995-03-30 | 1996-03-26 | 高斯滤波最小移位键控通讯设备的试验装置 |
| US08/737,721 US5875213A (en) | 1995-03-30 | 1996-03-26 | GMSK communication device test system |
| PCT/JP1996/000786 WO1996031039A1 (en) | 1995-03-30 | 1996-03-26 | Testing device for gmsk communication device |
| DE19680327T DE19680327C2 (de) | 1995-03-30 | 1996-03-26 | GMSK-Kommunikationsgerät-Testsystem |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09790795A JP3497008B2 (ja) | 1995-03-30 | 1995-03-30 | Ｇｍｓｋ通信デバイスの試験装置 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08274823A true JPH08274823A (ja) | 1996-10-18 |
| JP3497008B2 JP3497008B2 (ja) | 2004-02-16 |
Family
ID=14204797
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09790795A Expired - Fee Related JP3497008B2 (ja) | 1995-03-30 | 1995-03-30 | Ｇｍｓｋ通信デバイスの試験装置 |
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|---|---|
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| JP (1) | JP3497008B2 (ja) |
| CN (1) | CN1123183C (ja) |
| DE (1) | DE19680327C2 (ja) |
| TW (1) | TW299538B (ja) |
| WO (1) | WO1996031039A1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004340925A (ja) * | 2003-02-25 | 2004-12-02 | Agilent Technol Inc | 遷移追跡方法およびシステム |
| WO2009116238A1 (ja) * | 2008-03-21 | 2009-09-24 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置、復調装置、試験方法、復調方法および電子デバイス |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7173443B1 (en) * | 1998-11-24 | 2007-02-06 | Advantest Corp. | Semiconductor test system |
| EP1063826A1 (en) * | 1999-06-25 | 2000-12-27 | Sony International (Europe) GmbH | Carrier recovery means in digital quadrature receivers |
| CN1390413A (zh) * | 1999-11-09 | 2003-01-08 | 西门子公司 | 确定和校正在一个调制器上直流电压偏差方法和测试设备 |
| TW555994B (en) * | 2002-06-12 | 2003-10-01 | Mediatek Inc | Group delay test method and device |
| US7526701B2 (en) * | 2002-10-02 | 2009-04-28 | Mediatek Inc. | Method and apparatus for measuring group delay of a device under test |
| US6836227B2 (en) * | 2003-02-25 | 2004-12-28 | Advantest Corporation | Digitizer module, a waveform generating module, a converting method, a waveform generating method and a recording medium for recording a program thereof |
| EP1902519B1 (en) * | 2005-07-04 | 2012-03-21 | Nxp B.V. | Simplified de-rotation in digital fm demodulator architectures |
| JP2007189630A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-07-26 | Agilent Technol Inc | 周波数誤差測定装置およびプログラム |
| KR102509179B1 (ko) * | 2014-10-02 | 2023-03-13 | 자코티 브바 | 저-대기시간 멀티미디어 스트리밍 환경의 문제 패턴 취급 방법 |
| KR102379182B1 (ko) * | 2015-11-20 | 2022-03-24 | 삼성전자주식회사 | 연속 데이터 압축 장치 및 방법 |
| US11146439B2 (en) * | 2019-12-04 | 2021-10-12 | National Instruments Corporation | Robust carrier phase and frequency tracking for M-QAM demodulation |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| FR2661792A1 (fr) * | 1990-05-04 | 1991-11-08 | Alcatel Radiotelephone | Dispositif d'evaluation d'ecart de frequence. |
| KR950003666B1 (ko) * | 1990-12-31 | 1995-04-17 | 삼성전자 주식회사 | 지엠에스케이신호복조방법 및 그 장치 |
| US5283811A (en) * | 1991-09-03 | 1994-02-01 | General Electric Company | Decision feedback equalization for digital cellular radio |
| JPH0837544A (ja) * | 1994-07-22 | 1996-02-06 | Advantest Corp | デジタル変調信号のオフセット検出装置 |
-
1995
- 1995-03-30 JP JP09790795A patent/JP3497008B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-03-22 TW TW085103513A patent/TW299538B/zh active
- 1996-03-26 WO PCT/JP1996/000786 patent/WO1996031039A1/ja not_active Ceased
- 1996-03-26 DE DE19680327T patent/DE19680327C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-03-26 US US08/737,721 patent/US5875213A/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-03-26 CN CN96190138A patent/CN1123183C/zh not_active Expired - Fee Related
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| WO2009116238A1 (ja) * | 2008-03-21 | 2009-09-24 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置、復調装置、試験方法、復調方法および電子デバイス |
| US8159290B2 (en) | 2008-03-21 | 2012-04-17 | Advantest Corporation | Test apparatus, demodulation apparatus, test method, demodulation method and electric device |
| JP5175924B2 (ja) * | 2008-03-21 | 2013-04-03 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置、復調装置、試験方法、復調方法および電子デバイス |
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|---|---|
| US5875213A (en) | 1999-02-23 |
| CN1147887A (zh) | 1997-04-16 |
| CN1123183C (zh) | 2003-10-01 |
| TW299538B (ja) | 1997-03-01 |
| DE19680327T1 (de) | 1997-06-19 |
| WO1996031039A1 (en) | 1996-10-03 |
| DE19680327C2 (de) | 1999-07-15 |
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