JPH0827535B2 - ポジ型感放射線性樹脂組成物 - Google Patents

ポジ型感放射線性樹脂組成物

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JPH0827535B2
JPH0827535B2 JP62051595A JP5159587A JPH0827535B2 JP H0827535 B2 JPH0827535 B2 JP H0827535B2 JP 62051595 A JP62051595 A JP 62051595A JP 5159587 A JP5159587 A JP 5159587A JP H0827535 B2 JPH0827535 B2 JP H0827535B2
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Japan
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sulfonic acid
naphthoquinonediazide
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acid ester
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仁志 岡
孝夫 三浦
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日本合成ゴム株式会社
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/022Quinonediazides
    • G03F7/0226Quinonediazides characterised by the non-macromolecular additives

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、ポジ型感放射線性樹脂組成物に関し、さら
に詳しくはアルカリ可溶性樹脂および1,2−キノンジア
ジド化合物に特定の構造を有する化合物を添加してな
る、紫外線、遠紫外線、X線、電子線、分子線、γ線、
シンクロトロン放射線、プロトンビーム等の放射線に感
応する、特に集積回路作製のためのレジストとして好適
なポジ型感放射線性樹脂組成物に関する。
(従来の技術) 従来、集積回路を作製するために使用されるレジスト
としては、環化ゴムにビスアジド化合物を配合したネガ
型レジストと、アルカリ可溶性樹脂に1,2−キノンジア
ジド化合物を配合したポジ型レジストとが知られてい
る。ネガ型レジストは、紫外線照射によりビスアジド化
合物が窒素を脱離してナイトレンとなり、環化ゴムを三
次元架橋するため、環化ゴムの溶剤からなる現像液に対
する紫外線照射部分と未照射部分との溶解性に差が生
じ、これによりパターニングされるが、架橋といっても
紫外線照射部分が完全に硬化するわけではないため、現
像液中でのレジストパターンの膨潤が大きく、レジスト
パターンの解像度が悪いという欠点がある。
一方、ポジ型レジストは、アルカリ可溶性樹脂にアル
カリ不溶性の1,2−キノンジアジド化合物を配合するた
め、アルカリ性水溶液からなる現像液に溶解しにくく、
ほとんど膨潤もしない。すなわちポジ型レジストでは紫
外線照射部分の1,2−キノンジアジド化合物がインデン
カルボン酸に変化し、アルカリ性水溶液からなる現像液
で現像されても、レジストパターンとなる未照射部分の
変化が極端に少ないため、マスクのパターンに忠実な、
かつ高い解像度のレジストパターンが得られる。このた
め集積回路の高集積度化が要求される近年は、解像度の
優れたポジ型レジストが多く用いられている。
しかしながら、アルカリ可溶性樹脂と1,2−キノンジ
アジド化合物を溶剤に溶解させてなるポジ型レジストの
場合、長期間保存すると、アルカリ可溶性樹脂の劣化お
よび1,2−キノンジアジド化合物の変質が徐々に進み、
感度変化、レジスト溶液の粘度変化等を起こす問題があ
る。
(発明が解決しようとする問題点) 本発明の目的は、前記従来技術の問題点を解決し、感
度変化および粘度変化に対しての保存安定性に優れたポ
ジ型感放射線性樹脂組成物を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、アルカリ可溶性樹脂と1,2−キノンジアジ
ド化合物とを含有するポジ型感放射線性樹脂組成物にお
いて、構造式(I)〜(IV) の少なくとも1種を分子内に有する化合物ならびにジメ
チルスルホン、ジエチルスルホンおよびジフェニルスル
ホンから選ばれた少なくとも1種を含有し、かつこれら
の化合物の含有量が前記アルカリ可溶性樹脂100重量部
に対して0.001〜10重量部であることを特徴とする。
本発明に用いられる構造式(I)〜(IV)の少なくと
も1種を分子内に有する化合物(以下、化合物(A)と
いうことがある。)としては、例えば構造式(I)を有
する化合物の例として、チオカルバニリド、ジ−o−ト
リルチオウレア、N,N′−ジエチルチオウレア、1,3−ビ
ス(ジメチルアミノプロピル)−2−チオウレア、トリ
メチルチオウレア、テトラメチルチオウレア、2−メル
カプトベンゾイミダゾール、2−メルカプトメチルベン
ゾイミダゾール、2−メルカプトイミダゾリン等のチオ
ウレア類、構造式(II)を有する化合物の例として、メ
ルカプトベンゾチアゾール、N−t−ブチル−2−ベン
ゾチアゾリルスルフェンアミド、N,N′−ジシクロヘキ
シル−2−ベンゾチアゾリルスルフェンアミド、ジベン
ゾチアゾリルジスルフィド、2−(4−モルホリノジチ
オ)ベンゾチアゾール、2−(2,4−ジニトロ−フェニ
ル)メルカプトベンゾチアゾール、メルカプトベンゾチ
アゾールのシクロヘキシルアミン塩、N,N′−ジエチル
チオカルバモイル−2−ベンゾチアゾリルスルフィド、
N,N′−ジイソプロピル−2−ベンゾチアゾールスルフ
ェンアミド、N−シクロヘキシル−2−ベンゾチアゾリ
ルスルフェンアミド、N−オキシジエチレン−2−ベン
ゾチアゾリルスルフェンアミド等のチアゾール類、構造
式(III)を有する化合物の例として、ピペリジニウム
ペンタメチレンジチオカルバメート、ピペコリンピペコ
リルジメチルジチオカルバメート等のジチオカルバミン
類、構造式(IV)を有する化合物の例として、下記一般
式(VII) (式中、Rは炭素数1〜18のアルキル基またはフェニル
基を意味し、4≧n≧1である)を示される化合物、例
えばテトラメチルチウラムジスルフィド、テトラエチル
チウラムジスルフィド、テトラブチルチウラムジスルフ
ィド、テトラメチルチウラムモノスルフィド、テトラエ
チルチウラムモノスルフィド、テトラブチルチウラムモ
ノスルフィド、ジペンタメチレンチウラムテトラスルフ
ィド等のチウラム類が挙げられる。本発明においては、
これらの化合物(A)の他、ジメチルスルホン、ジエチ
ルスルホンおよびジフェニルスルホン(以下、化合物
(B)ということがある。)を用いることができる。こ
れらの化合物(A)および(B)のうち化合物(A)が
好ましく、特に好ましくは構造式(IV)を有する化合物
である。
これらの化合物は、単独でまたは2種以上組み合わせ
て用いることができる。
前記化合物(A)および(B)の使用割合は、アルカ
リ可溶性樹脂100重量部に対し0.001〜10重量部、好まし
くは0.01〜5重量部である。使用割合が0.001重量部未
満では、感度および粘度に対しての保存安定性が悪化
し、また使用割合が10重量部を超えると、感度、残膜
率、解像度等のレジスト性能を悪化するので好ましくな
い。
本発明に用いられるアルカリ可溶性樹脂としては、例
えばアルカリ可溶性ノボラック樹脂(以下、単に「ノボ
ラック樹脂」という)を挙げることができる。ノボラッ
ク樹脂は、フェノール類とアルデヒド類とを酸触媒の存
在下に縮合して得られる。
この際用いられるフェノール類としては、例えばフェ
ノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾ
ール、o−エチルフェノール、m−エチルフェノール、
p−エチルフェノール、o−ブチルフェノール、m−ブ
チルフェノール、p−ブチルフェノール、2,3−キシレ
ノール、2,4−キシレノール、2,5−キシレノール、3,4
−キシレノール、3,5−キシレノール、2,3,5−トリメチ
ルフェノール、p−フェニルフェノール、ヒドロキシノ
ン、カテコール、レゾルシノール、2−メチルレゾルシ
ノール、ピロガロール、α−ナフトール、ビスフェノー
ルA、ジヒドロキシ安息香酸エステル、没食子酸エステ
ル等が挙げられる。これらのフェノール類のうちフェノ
ール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾー
ル、2,5−キシレノール、3,5−キシレノール、2,3,5−
トリメチルフェノール、レゾルシノール、2−メチルレ
ゾルシノールおよびビスフェノールAが好ましい。これ
らのフェノール類は、単独でまたは2種以上組合せて用
いられる。
また、アルデヒド類としては、例えばホルムアルデヒ
ド、パラホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピ
ルアルデヒド、ベンズアルデヒド、フェニルアセトアル
デヒド、α−フェニルプロピルアルデヒド、β−フェニ
ルプロピルアルデヒド、o−ヒドロキシベンズアルデヒ
ド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒドロキシ
ベンズアルデヒド、o−クロロベンズアルデヒド、m−
クロロベンズアルデヒド、p−クロロベンズアルデヒ
ド、o−ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベンズア
ルデヒド、p−ニトロベンズアルデヒド、o−メチルベ
ンズアルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、p−メ
チルベンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデヒド、
p−n−ブチルベンズアルデヒド等が挙げられ、これら
のアルデヒド類のうちホルムアルデヒド、アセトアルデ
ヒドおよびベンズアルデヒドが好ましい。これらのアル
デヒド類は、単独でまたは2種以上組合せて使用するこ
とができる。アルデヒド類の使用量は、フェノール類1
モル当たり、好ましくは0.7〜3モルである。
酸触媒としては、塩酸、硝酸、硫酸等の無機酸、また
は蟻酸、シュウ酸、酢酸等の有機酸が用いられる。これ
らの酸触媒の使用量は、通常、フェノール類1モル当た
り1×10-4〜5×10-1モルである。
縮合反応においては、通常、反応媒質として水を用い
るが、縮合反応において使用するフェノール類がアルデ
ヒド類の水溶液に溶解せず、反応初期から不均一系にな
る場合には、反応媒質として親水性溶媒を使用すること
もできる。この際用いられる親水性溶媒としては、例え
ばメタノール、エタノール、プロパノール、ブタノール
等のアルコール類、またはテトラヒドロフラン、ジオキ
サン等の環状エーテル類が挙げられる。これらの反応媒
質の使用量は、通常、反応原料100重量部当たり、20〜1
000重量部である。
縮合反応の反応温度は、反応原料の反応性に応じて適
宜調整することができるが、通常、10〜200℃である。
縮合反応終了後、系内に存在する未反応原料、酸触媒
および反応媒質を除去し、ノボラック樹脂を回収する。
本発明に用いられるノボラック樹脂以外のアルカリ可
溶性樹脂としては、例えばポリヒドロキシスチレンまた
はその誘導体、スチレン−無水マレイン酸共重合体、ポ
リビニルヒドロキシベンゾエート、カルボキシル基含有
メタアクリル系樹脂等が用いられる。
これらのノボラック樹脂は単独でまたは2種以上組み
合わせて使用することができる。
本発明に用いられる1,2−キノンジアジド化合物は、
特に限定されないが、例えば1,2−ベンゾキノンジアジ
ド−4−スルホン酸エステル、1,2−ナフトキノンジア
ジド−4−スルホン酸エステル、1,2−ナフトキノンジ
アジド−5−スルホン酸エステル等が挙げられる。具体
的にはp−クレゾール−1,2−ベンゾキノンジアジド−
4−スルホン酸エステル、レゾルシノール−1,2−ナフ
トキノンジアジド−4−スルホン酸エステル、ピロガロ
ール−1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸エ
ステル等の(ポリ)ヒドロキシベンゼンの1,2−キノン
ジアジドスルホン酸エステル類、2,4−ジヒドロキシフ
ェニル−プロピルケトン−1,2−ベンゾキノンジアジド
−4−スルホン酸エステル、2,4−ジヒドロキシフェニ
ル−n−ヘキシルケトン−1,2−ナフトキノンジアジド
−4−スルホン酸エステル、2,4−ジヒドロキシベンゾ
フェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン
酸エステル、2,3,4−トリヒドロキシフェニル−n−ヘ
キシルケトン−1,2−ナフトキノンジアジド−4−スル
ホン酸エステル、2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノ
ン−1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホン酸エス
テル、2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン−1,2−ナ
フトキンノンジアジド−5−スルホン酸エステル、2,4,
6−トリヒドロキシベンゾフェノン−1,2−ナフトキノン
ジアジド−4−スルホン酸エステル、2,4,6−トリヒド
ロキシベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−
5−スルホン酸エステル、2,2′,4,4′−テトラヒドロ
キシベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−5
−スルホン酸エステル、2,3,4,4′−テトラヒドロキシ
ベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−5−ス
ルホン酸エステル、2,2′,4,4′−テトラヒドロキシベ
ンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−4−スル
ホン酸エステル、2,3,4,4′−テトラヒドロキシベンゾ
フェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホン
酸エステル、2,2′,3,4,6′−ペンタヒドロキシベンゾ
フェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホン
酸エステル、2,2′,3,4,6′−ペンタヒドロキシベンゾ
フェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン
酸エステル、2,3,3′,4′,5′−ヘキサヒドロキシベン
ゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホ
ン酸エステル、2,3,3′,4,4′,5′−ヘキサヒドロキシ
ベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−5−ス
ルホン酸エステル、2,3′,4,4′,5′,6−ヘキサヒドロ
キシベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジド−4
−スルホン酸エステル、2,3′,4,4′,5′,6−ヘキサヒ
ドロキシベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジド
−5−スルホン酸エステル等の(ポリ)ヒドロキシフェ
ニルアルキルケトンまたは(ポリ)ヒドロキシフェニル
アリールケトンの1,2−キノンジアジドスルホン酸エス
テル類、ビス(p−ヒドロキシフェニル)メタン−1,2
−ナフトキノンジアジド−4−スルホン酸エステル、ビ
ス(2,4−ジヒドロキシフェニル)メタン−1,2−ナフト
キノンジアジド−5−スルホン酸エステル、ビス(2,3,
4−トリヒドロキシフェニル)メタン−1,2−ナフトキノ
ンジアジド−5−スルホン酸エステル、2,2−ビス(p
−ヒドロキシフェニル)プロパン−1,2−ナフトキノン
ジアジド−4−スルホン酸エステル、2,2−ビス(2,4−
ジヒドロキシフェニル)プロパン−1,2−ナフトキノン
ジアジド−5−スルホン酸エステル、2,2−ビス(2,3,4
−トリヒドロキシフェニル)プロパン−1,2−ナフトキ
ノンジアジド−5−スルホン酸エステル等のビス〔(ポ
リ)ヒドロキシフェニル〕アルカンの1,2−キノンジア
ジドスルホン酸エステル類、3,5−ジヒドロキシ安息香
酸ラウリル−1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホ
ン酸エステル、2,3,4−トリヒドロキシ安息香酸フェニ
ル−1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸エス
テル、3,4,5−トリヒドロキシ安息香酸プロピル−1,2−
ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸エステル、3,4,
5−トリヒドロキシ安息香酸フェニル−1,2−ナフトキノ
ンジアジド−5−スルホン酸エステル等の(ポリ)ヒド
ロキシ安息香酸アルキルエステルまたは(ポリ)ヒドロ
キシ安息香酸アリールエステルの1,2−キノンジアジド
スルホン酸エステル類、ビス(2,5−ジヒドロキシベン
ゾイル)メタン−1,2−ナフトキノンジアジド−4−ス
ルホン酸エステル、ビス(2,3,4−トリヒドロキシベン
ゾイル)メタン−1,2−ナフトキノンジアジド−5−ス
ルホン酸エステル、ビス(2,4,6−トリヒドロキシベン
ゾイル)メタン−1,2−ナフトキノンジアジド−5−ス
ルホン酸エステル、p−ビス(2,5−ジヒドロキシベン
ゾイル)ベンゼン−1,2−ナフトキノンジアジド−4−
スルホン酸エステル、p−ビス(2,3,4−トリヒドロキ
シベンゾイル)ベンゼン−1,2−ナフトキノンジアジド
−5−スルホン酸エステル、p−ビス(2,4,6−トリヒ
ドロキシベンゾイル)ベンゼン−1,2−ナフトキノンジ
アジド−5−スルホン酸エステル等のビス〔(ポリ)ヒ
ドロキシベンゾイル〕アルカンまたはビス〔(ポリ)ヒ
ドロキシベンゾイル〕ベンゼンの1,2−キノンジアジド
スルホン酸エステル類、エチレングリコール−ジ(3,5
−ジヒドロキシベンゾエート)−1,2−ナフトキノンジ
アジド−5−スルホン酸エステル、ポリエチレングリコ
ール−ジ(3,4,5−トリヒドロキシベンゾエート)−1,2
−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸エステル等の
(ポリ)エチレングリコール−ジ〔(ポリ)ヒドロキシ
ベンゾエート〕の1,2−キノンジアジドスルホン酸エス
テル類、水酸基を有するα−ピロン系天然色素の1,2−
キノンジアジドスルホン酸エステル類、水酸基を有する
γ−ピロン系天然色素の1,2−キノンジアジドスルホン
酸エステル類、水酸基を有するジアジン系天然色素の1,
2−キノンジアジドスルホン酸エステル類等が挙げられ
る。これらの化合物の他に、J.Kosar著“Light-Sensiti
ve Systems"339〜352(1965)、John Wiley & Sons社
(New York)やW.S.De Forest著“Photoresist"50(197
5)、McGraw-Hill,Inc.,(New York)に掲載されている
1,2−キノンジアジド化合物を用いることもできる。
これらの1,2−キノンジアジド化合物は単独でまたは
2種以上混合して使用される。
これらの1,2−キノンジアジド化合物の配合量は、前
記アルカリ可溶性樹脂100重量部に対して、通常、5〜1
00重量部、好ましくは10〜50重量部用いられる。この配
合量が少なすぎると、1,2−キノンジアジド化合物が放
射線を吸収して生成するカルボン酸量が少ないので、パ
ターニングが困難となり、一方、多すぎると、短時間の
放射線照射では加えた1,2−キノンジアジド化合物の全
てを分解することができず、アルカリ性水溶液からなる
現像液による現像が困難となる。
また本発明においては、前記化合物(A)および
(B)に一般的なフェノール系およびアミン系の老化防
止剤を組み合わせて用いることもできる。防火防止剤と
しては、例えば、p−フェニルフェノール、4,4′−ジ
ヒドロキシフェニル、2,5−ジ−t−アミルヒドロキノ
ン、4,4′−ジヒドロキシジフェニルシクロヘキサン、
2,2′−メチレンビス(4−メチル−6−t−ブチルフ
ェノール)、2,6−ジ−t−ブチル−p−クレゾール、
4,4′−ブチリデン−ビス(6−t−ブチル−m−クレ
ゾール)、オクタデシル−3−(3′,5′−ジ−t−ブ
チル−4−ヒドロキシフェニル)−プロピオネート、2,
4−ビス(n−オクチルチオ)−6−(4−ヒドロキシ
−3,5−t−ブチルアニリド)−1,3,5−トリアジン等の
フェノール系老化防止剤、およびフェニレンジアミン、
ジフェニルアミン、アルドール−α−ナフチルアミン、
フェニル−α−ナフチルアミン、フェニル−β−ナフチ
ルアミン、p,p′−ジメトキシジフェニルアミン、オク
チレーティドジフェニルアミン、N,N′−ジフェニル−
p−フェニレンジアミン、N,N′−ジ−β−ナフチルメ
チル−p−フェニレンジアミン、N−(1,3−ジメチル
−ブチル)−N′−フェニル−p−フェニレンジアミ
ン、N,N′−ビス(1,4−ジメチル−ペンチル)−p−フ
ェニレンジアミン、N−フェニル−N′−シクロヘキシ
ル−p−フェニレンジアミン、N−フェニル−N′−イ
ソプロピル−p−フェニレンジアミン、N,N′−ビス
(1−メチルヘプチル)−p−フェニレンジアミン、N,
N′−ジアリル−p−フェニレンジアミン等のアミン系
老化防止剤が挙げられる。
これらの老化防止剤の使用割合は、前記アルカリ可溶
性樹脂100重量部に対して、通常、0.01〜10重量部、好
ましくは0.01〜5重量部である。
本発明の組成物には、レジストとしての感度を向上さ
せるために、増感剤を配合することができる。これらの
増感剤としては、例えば2H−ピリド〔3,2−b〕−1,4−
オキサジン−3〔4H〕オン類、10H−ピリド〔3,2−b〕
〔1,4〕−ベンゾチアジン類、ウラゾール類、ヒダント
イン類、バルビツール酸類、グリシン無水物類、1−ヒ
ドロキシベンゾトリアゾール類、アロキサン類、マレイ
ミド類、さらに特公昭48-12242号公報、特公昭48-35402
号公報、特開昭58-37641号公報、特開昭58-149042号公
報等に記載されている増感剤が挙げられる。これらの増
感剤の配合量は前記1,2−キノンジアジド化合物100重量
部に対して、通常、100重量部以下、好ましくは4〜60
重量部である。
本発明の組成物には、塗布性、例えばストリエーショ
ンや乾燥塗膜形成後の放射線照射部の現像性を改良する
ために界面活性剤を配合することができる。界面活性剤
としては、例えばポリオキシエチレンラウリルエーテ
ル、ポリオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキ
シエチレンオレイルエーテル等のポリオキシエチレンア
ルキルエーテル類、ポリオキシエチレンオクチルフェノ
ールエーテル、ポリオキシエチレンノニルフェノールエ
ーテル等のポリオキシエチレンアルキルフェノールエー
テル類、ポリエチレングリコールジラウレート、ポリエ
チレングリコールジステアレート等のポリエチレングリ
コールジアルキルエーテル類のノニオン系界面活性剤、
エフトップEF301、EF303、EF352(新秋田化成社製)、
メガファックF171、F173(大日本インキ社製)、特開昭
57-178242号公報に例示されるフッ化アルキル基または
パーフルオロアルキル基を有する直鎖状のフッ素系界面
活性剤、フロラードFC430、FC431(住友スリーエム社
製)、アサヒガードAG710、サーフロンS-382、SC101、S
C102、SC103、SC104、SC105、SC106(旭硝子社製)等の
フッ素系界面活性剤、オルガノシロキサンポリマーKP34
1(信越化学工業社製)、アクリル酸系またはメタクリ
ル酸系(共)重合体ポリフローNo.75、No.95(共栄社油
脂化学工業社製)等が挙げられる。これらの界面活性剤
の配合量は、組成物中のアルカリ可溶性樹脂および1,2
−キノンジアジド化合物の総量100重量部当たり、通
常、2重量部以下、好ましくは1重量部以下である。
また、本発明の組成物には、放射線照射部の潜像を可
視化させたり、放射線照射時のハレーションの影響を少
なくするために着色剤を、また接着性を改良するために
接着助剤を、さらに必要じ応じて消泡剤等を配合するこ
ともできる。
本発明の組成物を基板に塗布するに際しては、前記ア
ルカリ可溶性樹脂、前記1,2−キノンジアジド化合物、
前記化合物(A)および化合物(B)から選ばれた少な
くとも1種および各種配合剤を、例えば濃度が5〜50重
量%となるように適当な溶剤に所定量ずつ溶解し、例え
ば孔径0.2μm程度のフィルターで濾過することにより
組成物溶液を調製し、回転塗布、流し塗布、ロール塗布
等によりシリコンウェーハ等に塗布する。この際に用い
られる溶剤としては、例えばエチレングリコールモノメ
チルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル
等のグリコールエーテル類、メチルセロソルブアセテー
ト、エチルセロソルブアセテート等のセロソルブエステ
ル類、2−オキシプロピオン酸メチル、2−オキシプロ
ピオン酸エチル等のモノオキシモノカルボン酸エステル
類、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類、メチル
エチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、または
酢酸エチル、酢酸ブチル等のエステル類が挙げられる。
これらの溶剤は単独でまたは2種以上組み合わせて用い
られる。また必要に応じベンジルエチルエーテル、ジヘ
キシルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエー
テル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、アセ
トニルアセトン、イソホロン、カプロン酸、カプリル
酸、1−オクタノール、1−ノナノール、ベンジルアル
コール、酢酸ベンジル、安息香酸エチル、シュウ酸ジエ
チル、マレイン酸ジエチル、γ−ブチロラクトン、炭酸
エチレン、炭酸プロピレン、フェニルセロソルブアセテ
ート等の高沸点溶剤を添加することもできる。
本発明の組成物の現像液としては、例えば水酸化ナト
リウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、珪酸ナトリ
ウム、メタ珪酸ナトリウム、アンモニア水等の無機アル
カリ類、エチルアミン、n−プロピルアミン等の第1級
アミン類、ジエチルアミン、ジ−n−プロピルアミン等
の第2級アミン類、トリエチルアミン、メチルジエチル
アミン等の第3級アミン類、ジメチルエタノールアミ
ン、トリエタノールアミン等のアルコールアミン類、テ
トラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルア
ンモニウムヒドロキシド、コリン等の第4級アンモニウ
ム塩、またはピロール、ピペリジン、1,8−ジアザビシ
クロ(5,4,0)−7−ウンデセン、1,5−ジアザビシクロ
(4,3,0)−5−ノナン等の環状アミン類を溶解してな
るアルカリ性水溶液が使用される。
また前記現像液には水溶性有機溶媒、例えばメタノー
ル、エタノール等のアルコール類や界面活性剤を適量添
加して使用することもできる。
(実施例) 以下、本発明を実施例により具体的に説明するが、本
発明はこれらの実施例によって何ら制約されるものでは
ない。
実施例1 フラスコに、m−クレゾール324g(3モル)、3,5−
ジメチルフェノール244g(2モル)、37重量%ホルムア
ルデヒド水溶液770gおよびシュウ酸0.8gを仕込んだ後、
該セパラブルフラスコを油浴に浸し、内温を100℃に保
持しながら1時間反応させ、その後さらにm−クレゾー
ル324g(3モル)および3,5−ジメチルフェノール244g
(2モル)を反応の進行とともに連続的にフラスコに仕
込み、2時間反応させた。次いで油浴温度を180℃まで
上昇させ、同時にフラスコ内を減圧にして水、未反応の
ホルムアルデヒド、m−クレゾールおよび3,5−ジメチ
ルフェノール、シュウ酸等を除去し、ノボラック樹脂を
回収した(以下、この樹脂を「ノボラック樹脂A」と称
する)。
得られたノボラック樹脂A100重量部、(2,3,4,4′−
テトラヒドロキシベンゾフェノンに1,2−ナフトキノン
ジアジド−5−スルホン酸クロライドを平均2.5モル縮
合させた化合物(C)29重量部、および構造式(IV)を
分子内に有するテトラメチルチウラムモノスルフィド0.
1重量部をエチルセロソルブアセテート301重量部に溶解
し、ポジ型感放射線性樹脂組成物の溶液を調製した。
この組成物溶液をポアサイズ0.2μmのフィルターで
濾過した後、粘度および感度を測定した。さらにこの組
成物溶液の一部をビン中に密栓して25℃で3カ月間保存
した後、粘度および感度を測定し、その変化率を求め
た。
なお、上記の粘度は、東京計器社製ELD型粘度計を使
用して測定した。また感度は、常法によりシリコンウェ
ハー上にスピンナーで回転塗布したのち、90℃で2分
間、ホットプレート上にてプレベークして1.2μm厚の
レジスト膜を形成し、次いで縮小投影露光機にて露光
し、2.4重量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド
水溶液を現像液として25℃で60秒間現像し、水でリンス
し乾燥した後、得られたレジストパターンを走査型電子
顕微鏡で観察し2μmパターンのラインとスペースが1
対1になる露光量を求めることにより測定した。その結
果を第1表に示した。
実施例2 フラスコに、m−クレゾール162g(1.5モル)、p−
クレゾール468g(6モル)、37重量%ホルムアルデヒド
水溶液770gおよびシュウ酸0.45gを仕込み、フラスコを
油浴に浸し、内温を100℃に保持しながら1時間反応さ
せ、その後さらにm−クレゾール270g(2.5モル)を反
応の進行とともに連続的にフラスコに仕込み、2時間反
応させた。次いで油浴温度を180℃まで上昇させ、同時
にフラスコ内を減圧にして、水、未反応のホルムアルデ
ヒド、m−クレゾールおよびp−クレゾール、シュウ酸
等を除去し、ノボラック樹脂を回収した(以下、この樹
脂を「ノボラック樹脂B」と称する)。
得られたノボラック樹脂Bを用いた以外は、実施例1
と同様にポジ型感放射線性樹脂組成物溶液を調製し、実
施例1と同様に調製直後と25℃で3カ月間保存した後の
粘度および感度の変化率を求めた。その結果を第1表に
示した。
比較例1 実施例1において、テトラメチルチウラムモノスルフ
ィドを使用しなかった以外は実施例1と同様にポジ型感
放射線性樹脂組成物溶液を調製し、実施例1と同様に調
製直後と25℃で3カ月間保存した後の粘度および感度の
変化率を求めた。その結果を第1表に示した。
比較例2 実施例2において、テトラメチルチウラムモノスルフ
ィドを使用しなかった以外は実施例2と同様にポジ型感
放射線性樹脂組成物溶液を調製し、実施例1と同様に調
製直後と25℃で3カ月間保存した後の粘度および感度の
変化率を求めた。その結果を第1表に示した。
実施例3〜6 実施例1において、テトラメチルチウラムモノスルフ
ィドの代わりに構造式(I)、(II)または(III)を
分子内に含む化合物およびジメチルスルホンをそれぞれ
使用した以外は実施例1と同様にポジ型感放射線性樹脂
組成物溶液を調製し、実施例1と同様に調製直後と25℃
で3カ月間保存した後の粘度および感度の変化率を求め
た。その結果を第1表に示した。
実施例7 実施例2において、テトラメチルチウラムモノスルフ
ィドの代わりにテトラメチルチウラムモノスルフィド0.
05重量部とフェノール系の老化防止剤であるオクタデシ
ル−3−(3′,5′−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシ
フェニル)−プロピオネート0.05重量部を使用した以外
は、実施例2と同様にポジ型感放射線性樹脂組成物溶液
を調製し、実施例1と同様に調製直後と25℃で3カ月間
保存した後の粘度および感度の変化率を求めた。結果を
第1表に示した。
実施例8 実施例2において、テトラメチルチウラムモノスルフ
ィドの代わりにテトラメチルチウラムモノスルフィド0.
05重量部とアミン系の老化防止剤であるN,N′−ビス
(1,4−ジメチルペンチル)−p−フェニレンジアミン
0.05重量部を使用した以外は実施例2と同様にポジ型感
放射線性樹脂組成物溶液を調製し、実施例1と同様に調
製直後と25℃で3カ月間保存した後の粘度および感度の
変化率を求めた。その結果を第1表に示した。
実施例9 実施例1において、化合物(C)を2,3,4−トリヒド
ロキシベンゾフェノインに1,2−ナフトキノンジアジド
−5−スルホン酸クロリドを平均2.2モル縮合させた化
合物(D)に代えた以外は実施例1と同様にポジ型感放
射線性樹脂組成物溶液を調製し、実施例1と同様に調製
直後と25℃で3カ月間保存した後の粘度および感度の変
化率を求めた。結果を第1表に示したが、変化率は小さ
いものであった。
比較例3 実施例9において、テトラメチルチウラムモノスルフ
ィドを使用しなかった以外は実施例9と同様にポジ型感
放射線性樹脂組成物溶液を調製し、実施例1と同様に調
製直後と25℃で3カ月間保存した後の粘度および感度の
変化率を求めた。その結果をを第1表に示した。
(発明の効果) 本発明によれば、アルカリ可溶性樹脂と1,2−キノン
ジアジド化合物とを含むポジ型感放射線性樹脂組成物に
特定の構造を有する化合物を添加することにより、感度
変化および粘度変化に対しての保存安定性に優れた組成
物を得ることができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭48−100202(JP,A) 特開 昭55−133030(JP,A) 特開 昭56−75643(JP,A) 特開 昭61−260239(JP,A) 特開 昭60−237439(JP,A) 特開 昭61−210064(JP,A) 特表 昭58−502169(JP,A)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】アルカリ可溶性樹脂と1,2−キノンジアジ
    ド化合物とを含有するポジ型感放射線性樹脂組成物にお
    いて、構造式(I)〜(IV) の少なくとも1種を分子内に有する化合物ならびにジメ
    チルスルホン、ジエチルスルホンおよびジフェニルスル
    ホンから選ばれた少なくとも1種を含有し、かつこれら
    の化合物の含有量が前記アルカリ可溶性樹脂100重量部
    に対して0.001〜10重量部であることを特徴とするポジ
    型感放射線性樹脂組成物。
JP62051595A 1987-03-06 1987-03-06 ポジ型感放射線性樹脂組成物 Expired - Lifetime JPH0827535B2 (ja)

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