JPH08320349A - 継電器の自動試験方法 - Google Patents
継電器の自動試験方法Info
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- JPH08320349A JPH08320349A JP7126059A JP12605995A JPH08320349A JP H08320349 A JPH08320349 A JP H08320349A JP 7126059 A JP7126059 A JP 7126059A JP 12605995 A JP12605995 A JP 12605995A JP H08320349 A JPH08320349 A JP H08320349A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 57
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 19
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 10
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Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Arc-Extinguishing Devices That Are Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 継電器のヒステリシス現象に影響されること
なく動作点と復帰点を正確に求める。 【構成】 試験対象となる継電器に整定値を設定し（Ｓ
１）、段階的又は連続的に変化する試験信号を継電器に
印加し、最初に継電器の動作信号をキャッチしたときの
第１動作点を継電器の復帰点とし（Ｓ２）、この後に試
験信号の変化量を１／２にして動作信号のキャッチで継
電器の第２動作点を求め（Ｓ３）、さらに変化量を１／
５にした測定で第２動作点を更新し（Ｓ４，Ｓ５）、さ
らに変化量１／１０にした測定で第２動作点を更新し
（Ｓ６，Ｓ７）、動作信号が連続してキャッチされると
きの第２動作点を継電器の完全動作点として求める（Ｓ
８，Ｓ９）。
なく動作点と復帰点を正確に求める。 【構成】 試験対象となる継電器に整定値を設定し（Ｓ
１）、段階的又は連続的に変化する試験信号を継電器に
印加し、最初に継電器の動作信号をキャッチしたときの
第１動作点を継電器の復帰点とし（Ｓ２）、この後に試
験信号の変化量を１／２にして動作信号のキャッチで継
電器の第２動作点を求め（Ｓ３）、さらに変化量を１／
５にした測定で第２動作点を更新し（Ｓ４，Ｓ５）、さ
らに変化量１／１０にした測定で第２動作点を更新し
（Ｓ６，Ｓ７）、動作信号が連続してキャッチされると
きの第２動作点を継電器の完全動作点として求める（Ｓ
８，Ｓ９）。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、保護継電器、継電装
置、制御継電器などの継電器の動作点と復帰点の自動試
験方法に関する。
置、制御継電器などの継電器の動作点と復帰点の自動試
験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種の試験装置は、図３に示す構成に
される。パーソナルコンピュータなどのデータ処理装置
１から試験対象となる継電器２に対して整定点（動作試
験項目別）を設定しておき、データ処理装置１から試験
信号出力装置３に試験信号の発生を指令し、この指令に
より試験信号出力装置３から継電器２に試験信号を印加
する。この試験信号印加は、低い値から一定量づつ段階
的に又は連続的に高めて行く。
される。パーソナルコンピュータなどのデータ処理装置
１から試験対象となる継電器２に対して整定点（動作試
験項目別）を設定しておき、データ処理装置１から試験
信号出力装置３に試験信号の発生を指令し、この指令に
より試験信号出力装置３から継電器２に試験信号を印加
する。この試験信号印加は、低い値から一定量づつ段階
的に又は連続的に高めて行く。
【０００３】この試験信号の印加に対して、継電器２が
動作したときの動作信号を試験信号出力装置３でキャッ
チし、このときの試験信号を動作値としてデータ処理装
置１に転送し、データ処理装置１に継電器２の動作値
（測定値）として記憶する。
動作したときの動作信号を試験信号出力装置３でキャッ
チし、このときの試験信号を動作値としてデータ処理装
置１に転送し、データ処理装置１に継電器２の動作値
（測定値）として記憶する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来の試験方法におい
て、動作点の精度を高めるためには、試験信号の振幅や
位相などを細かく高めて行き、継電器２の動作点を求め
る。
て、動作点の精度を高めるためには、試験信号の振幅や
位相などを細かく高めて行き、継電器２の動作点を求め
る。
【０００５】この試験信号の印加に対して、継電器２は
ヒステリシス現象によるチャタリングを起こすことか
ら、最初に動作信号が得られたときの試験信号を動作点
として判定してしまい、動作点測定値に誤差が含まれて
しまう。
ヒステリシス現象によるチャタリングを起こすことか
ら、最初に動作信号が得られたときの試験信号を動作点
として判定してしまい、動作点測定値に誤差が含まれて
しまう。
【０００６】また、継電器２がヒステリシス現象を持つ
場合の復帰点測定は、試験信号を継電器２の動作点より
高い値から一定量づつ段階的に又は連続的に下げて行
き、継電器２の動作が復帰したときの試験信号を復帰点
として判定・記憶する。
場合の復帰点測定は、試験信号を継電器２の動作点より
高い値から一定量づつ段階的に又は連続的に下げて行
き、継電器２の動作が復帰したときの試験信号を復帰点
として判定・記憶する。
【０００７】このため、継電器２の動作点測定値に誤差
が含まれるときは、復帰点と動作点とが逆転した測定値
になる場合がある。
が含まれるときは、復帰点と動作点とが逆転した測定値
になる場合がある。
【０００８】本発明の目的は、継電器のヒステリシス現
象に影響されることなく動作点と復帰点を正確に求める
自動試験方法を提供することにある。
象に影響されることなく動作点と復帰点を正確に求める
自動試験方法を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記課題の解
決を図るため、試験対象となる継電器に整定値を設定
し、段階的又は連続的に変化する試験信号を該継電器に
印加したときの該継電器からの動作信号をキャッチして
該継電器の動作点又は復帰点を求める継電器の自動試験
方法において、前記試験信号の印加に対して最初に前記
動作信号をキャッチしたときの試験信号を前記継電器の
復帰点として求め、この後に前記試験信号の変化量を順
次小さくしながら前記動作信号のキャッチで継電器の動
作点として更新して行き、該動作信号が連続してキャッ
チされるときの試験信号を継電器の完全動作点として求
めることを特徴とする。
決を図るため、試験対象となる継電器に整定値を設定
し、段階的又は連続的に変化する試験信号を該継電器に
印加したときの該継電器からの動作信号をキャッチして
該継電器の動作点又は復帰点を求める継電器の自動試験
方法において、前記試験信号の印加に対して最初に前記
動作信号をキャッチしたときの試験信号を前記継電器の
復帰点として求め、この後に前記試験信号の変化量を順
次小さくしながら前記動作信号のキャッチで継電器の動
作点として更新して行き、該動作信号が連続してキャッ
チされるときの試験信号を継電器の完全動作点として求
めることを特徴とする。
【００１０】
【作用】試験信号の印加に対して最初に動作信号をキャ
ッチしたときは、継電器のヒステリシス幅の範囲内に入
ったことから、そのときの試験信号を継電器の復帰点と
して求める。
ッチしたときは、継電器のヒステリシス幅の範囲内に入
ったことから、そのときの試験信号を継電器の復帰点と
して求める。
【００１１】最初に動作信号をキャッチした後には、試
験信号の変化量を小さくしながら整定点に近づけ、この
状態で動作信号のキャッチを続けて精度の高い動作点と
して更新しておき、動作信号が連続的にキャッチされる
ときは継電器のチャタリングに影響されることのない完
全動作点として求める。
験信号の変化量を小さくしながら整定点に近づけ、この
状態で動作信号のキャッチを続けて精度の高い動作点と
して更新しておき、動作信号が連続的にキャッチされる
ときは継電器のチャタリングに影響されることのない完
全動作点として求める。
【００１２】
【実施例】図１は、本発明の一実施例を示す試験手順図
である。図３の試験装置による試験手順を図２を参照し
て以下に詳細に説明する。
である。図３の試験装置による試験手順を図２を参照し
て以下に詳細に説明する。
【００１３】（Ｓ１）整定…データ処理装置１から継電
器２に各整定点を設定する。
器２に各整定点を設定する。
【００１４】（Ｓ２）第１動作点の測定…データ処理装
置１から試験信号出力装置３に試験信号の発生を指令
し、継電器２からの動作信号をキャッチしたときの試験
信号をデータ処理装置１に第１動作点として記憶する。
このときの試験信号の変化量は最も高い値１とする。
置１から試験信号出力装置３に試験信号の発生を指令
し、継電器２からの動作信号をキャッチしたときの試験
信号をデータ処理装置１に第１動作点として記憶する。
このときの試験信号の変化量は最も高い値１とする。
【００１５】この測定は、従来の試験方法と同じにな
り、図２のＡ点になる最初の動作信号が得られた点を測
定することになる。この動作点は、継電器２が持つヒス
テリシス現象によるチャタリングにより間欠的に動作信
号が得られるものであり、本実施例では継電器２の復帰
点又は動作限界点とする。
り、図２のＡ点になる最初の動作信号が得られた点を測
定することになる。この動作点は、継電器２が持つヒス
テリシス現象によるチャタリングにより間欠的に動作信
号が得られるものであり、本実施例では継電器２の復帰
点又は動作限界点とする。
【００１６】（Ｓ３）第２動作点の測定…第１動作点を
キャッチしたときの振幅（又は位相）から試験信号を順
次高めていき、この試験信号に対して第１動作点の測定
と同様に、動作点のキャッチ及び記憶をする。但し、試
験信号の変化量は第１の動作点の測定時の半分になる１
／２とし、緩やかにした変化量で試験信号を整定点に向
けて一方向から高めて行く。
キャッチしたときの振幅（又は位相）から試験信号を順
次高めていき、この試験信号に対して第１動作点の測定
と同様に、動作点のキャッチ及び記憶をする。但し、試
験信号の変化量は第１の動作点の測定時の半分になる１
／２とし、緩やかにした変化量で試験信号を整定点に向
けて一方向から高めて行く。
【００１７】この測定は、図２のＡ点からＢ点までの測
定区間で動作信号が得られた点を測定することになる。
この段階での第２動作点は継電器２の整定点に近づいた
ことで変化量を小さくして測定を継続するためのもの
で、仮の動作点としておく。
定区間で動作信号が得られた点を測定することになる。
この段階での第２動作点は継電器２の整定点に近づいた
ことで変化量を小さくして測定を継続するためのもの
で、仮の動作点としておく。
【００１８】（Ｓ４）動作信号の測定継続…第２動作点
の測定の終了時の試験信号から継続して動作信号のキャ
ッチを継続する。
の測定の終了時の試験信号から継続して動作信号のキャ
ッチを継続する。
【００１９】このときの試験信号の変化量は、処理（Ｓ
３）の測定時よりも一層低くした１／５の傾斜とする。
この測定は、図２のＢ点からＣ点までの測定期間におけ
る動作信号のキャッチになる。
３）の測定時よりも一層低くした１／５の傾斜とする。
この測定は、図２のＢ点からＣ点までの測定期間におけ
る動作信号のキャッチになる。
【００２０】（Ｓ５）第２動作点の更新…処理（Ｓ４）
で得られる動作点を第２動作点の測定値として更新して
おく。この更新は、変化量を小さくした動作点を継電器
２のより精度の高い動作点として更新する。
で得られる動作点を第２動作点の測定値として更新して
おく。この更新は、変化量を小さくした動作点を継電器
２のより精度の高い動作点として更新する。
【００２１】（Ｓ６）変化量１／１０に変更…試験信号
の変化量を最も小さくして動作信号のキャッチを行う。
の変化量を最も小さくして動作信号のキャッチを行う。
【００２２】（Ｓ７）第２動作点を更新…変化量１／１
０による動作点の測定結果で第２動作点を更新する。こ
れにより、変化量を最も小さくしたときの動作点を最も
精度の高い動作点として記憶する。この測定は、図２の
Ｃ点からＤ点の期間になる。
０による動作点の測定結果で第２動作点を更新する。こ
れにより、変化量を最も小さくしたときの動作点を最も
精度の高い動作点として記憶する。この測定は、図２の
Ｃ点からＤ点の期間になる。
【００２３】（Ｓ８）動作信号が連続するか否かの判定
…変化量１／１０による試験信号に対して継電器２から
の動作信号が連続して（高い頻度で）キャッチされるか
否かを判定し、連続してキャッチされるまで処理（Ｓ
７）を繰り返しながら試験信号を少しずつ高める。
…変化量１／１０による試験信号に対して継電器２から
の動作信号が連続して（高い頻度で）キャッチされるか
否かを判定し、連続してキャッチされるまで処理（Ｓ
７）を繰り返しながら試験信号を少しずつ高める。
【００２４】（Ｓ９）動作点を記憶…動作信号が連続し
てキャッチされるときに、該動作信号を第２動作点とし
て記憶する。この第２動作点を継電器２のチャタリング
に影響されることのない完全動作点とする。
てキャッチされるときに、該動作信号を第２動作点とし
て記憶する。この第２動作点を継電器２のチャタリング
に影響されることのない完全動作点とする。
【００２５】したがって、本実施例は、試験信号を高め
て行き、最初に動作信号が得られた第１動作点を継電器
２の復帰点として求める。この復帰点は、継電器２が持
つヒステリシス現象によるヒステリシス幅の最小値での
動作を求めることになり、動作信号が連続して得られる
ものでなく、動作限界値になる。
て行き、最初に動作信号が得られた第１動作点を継電器
２の復帰点として求める。この復帰点は、継電器２が持
つヒステリシス現象によるヒステリシス幅の最小値での
動作を求めることになり、動作信号が連続して得られる
ものでなく、動作限界値になる。
【００２６】そして、この第１動作点が得られた後には
試験信号の変化量を徐々に小さくして第２動作点を更新
して行き、動作信号が連続して得られるときの試験信号
を継電器２の精度の最も高い動作点として求める。この
動作点は継電器２の完全動作点とする。
試験信号の変化量を徐々に小さくして第２動作点を更新
して行き、動作信号が連続して得られるときの試験信号
を継電器２の精度の最も高い動作点として求める。この
動作点は継電器２の完全動作点とする。
【００２７】また、継電器２の動作点は復帰点よりも必
ず高い振幅又は位相になり、両者が逆転して求められる
ことはない。
ず高い振幅又は位相になり、両者が逆転して求められる
ことはない。
【００２８】
【発明の効果】以上のとおり、本発明によれば、試験信
号の印加に対して最初に動作信号をキャッチしたときの
試験信号を継電器の復帰点として求め、この後に試験信
号の変化量を順次小さくしながら動作信号のキャッチで
継電器の動作点として更新して行き、該動作信号が連続
してキャッチされるときの試験信号を継電器の完全動作
点として求めるようにしたため、以下の効果がある。
号の印加に対して最初に動作信号をキャッチしたときの
試験信号を継電器の復帰点として求め、この後に試験信
号の変化量を順次小さくしながら動作信号のキャッチで
継電器の動作点として更新して行き、該動作信号が連続
してキャッチされるときの試験信号を継電器の完全動作
点として求めるようにしたため、以下の効果がある。
【００２９】（１）動作信号の連続的なキャッチで動作
点を求めるため、継電器のヒステリシス現象によるチャ
タリングに影響されることがない。
点を求めるため、継電器のヒステリシス現象によるチャ
タリングに影響されることがない。
【００３０】（２）試験信号の変化量を小さくして動作
信号のキャッチが連続的になることで動作点を求めるた
め、精度の高い動作点を求めることができる。
信号のキャッチが連続的になることで動作点を求めるた
め、精度の高い動作点を求めることができる。
【００３１】（３）最初に動作信号をキャッチしたとき
を復帰点とし、その後に試験信号を高めて動作点を求め
るため、復帰点と動作点が逆転することはない。
を復帰点とし、その後に試験信号を高めて動作点を求め
るため、復帰点と動作点が逆転することはない。
【図１】本発明の一実施例を示す試験手順図。
【図２】実施例における試験信号特性。
【図３】継電器の自動試験装置。
１…データ処理装置 ２…被試験継電器 ３…試験信号出力装置
Claims (1)
- 【請求項１】 試験対象となる継電器に整定値を設定
し、段階的又は連続的に変化する試験信号を該継電器に
印加したときの該継電器からの動作信号をキャッチして
該継電器の動作点又は復帰点を求める継電器の自動試験
方法において、 前記試験信号の印加に対して最初に前記動作信号をキャ
ッチしたときの試験信号を前記継電器の復帰点として求
め、 この後に前記試験信号の変化量を順次小さくしながら前
記動作信号のキャッチで継電器の動作点として更新して
行き、該動作信号が連続してキャッチされるときの試験
信号を継電器の完全動作点として求めることを特徴とす
る継電器の自動試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7126059A JPH08320349A (ja) | 1995-05-25 | 1995-05-25 | 継電器の自動試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7126059A JPH08320349A (ja) | 1995-05-25 | 1995-05-25 | 継電器の自動試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08320349A true JPH08320349A (ja) | 1996-12-03 |
Family
ID=14925619
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7126059A Pending JPH08320349A (ja) | 1995-05-25 | 1995-05-25 | 継電器の自動試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08320349A (ja) |
-
1995
- 1995-05-25 JP JP7126059A patent/JPH08320349A/ja active Pending
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