JPH08334486A - 乾燥機における水分測定装置 - Google Patents
乾燥機における水分測定装置Info
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- JPH08334486A JPH08334486A JP13911395A JP13911395A JPH08334486A JP H08334486 A JPH08334486 A JP H08334486A JP 13911395 A JP13911395 A JP 13911395A JP 13911395 A JP13911395 A JP 13911395A JP H08334486 A JPH08334486 A JP H08334486A
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- grain
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Abstract
(57)【要約】
【目的】この発明は、乾燥機における水分計に関し、測
定性能の向上を図らんとする。 【構成】穀粒を一粒ごと一対の電極ロ−ラ間に取り込ん
でこれを圧砕しながら水分測定を行なう乾燥機の水分計
において、電極ロ−ラ間の間隔を変更する制御手段を設
けている。
定性能の向上を図らんとする。 【構成】穀粒を一粒ごと一対の電極ロ−ラ間に取り込ん
でこれを圧砕しながら水分測定を行なう乾燥機の水分計
において、電極ロ−ラ間の間隔を変更する制御手段を設
けている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、乾燥機の水分測定装
置に関するものである。
置に関するものである。
【０００２】
【従来技術】従来、この種の装置にあっては、電極ロ−
ラ間に穀粒を取り込んでこれを圧砕しながら電気抵抗値
を求め、これから穀粒水分値に換算処理するものが知ら
れている。
ラ間に穀粒を取り込んでこれを圧砕しながら電気抵抗値
を求め、これから穀粒水分値に換算処理するものが知ら
れている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このような従来装置に
あっては、電極ロ−ラの間隔を変更する機構が採用され
ていないために、穀粒の電極ロ−ラへの取り込みが穀物
の種類によっては取り込み難く、例えば、穀粒の大きい
ものは小さいものに比較して取り込みが困難となる欠点
がある。更に、穀物の水分値が高い場合には低水分の場
合に比べこれを圧砕するのが困難であって、このため、
穀物の水分値を電気抵抗値から換算処理する際に測定性
能に影響を与えるという不具合があった。
あっては、電極ロ−ラの間隔を変更する機構が採用され
ていないために、穀粒の電極ロ−ラへの取り込みが穀物
の種類によっては取り込み難く、例えば、穀粒の大きい
ものは小さいものに比較して取り込みが困難となる欠点
がある。更に、穀物の水分値が高い場合には低水分の場
合に比べこれを圧砕するのが困難であって、このため、
穀物の水分値を電気抵抗値から換算処理する際に測定性
能に影響を与えるという不具合があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この発明は前記問題点に
鑑みて提案するものであり、次のような技術的手段を講
じた。即ち、穀粒を一粒ごと一対の電極ロ−ラ間に取り
込んでこれを圧砕しながら水分測定を行なう乾燥機の水
分測定装置において、前記電極ロ−ラ間の間隔を変更す
る制御手段を設けたことを特徴とする穀物乾燥機におけ
る水分測定装置の構成とする。
鑑みて提案するものであり、次のような技術的手段を講
じた。即ち、穀粒を一粒ごと一対の電極ロ−ラ間に取り
込んでこれを圧砕しながら水分測定を行なう乾燥機の水
分測定装置において、前記電極ロ−ラ間の間隔を変更す
る制御手段を設けたことを特徴とする穀物乾燥機におけ
る水分測定装置の構成とする。
【０００５】
【実施例】以下、図面に示す実施例に基づいて、この発
明の実施例を説明する。まず、構成から説明すると、１
は穀物乾燥機の機枠で、この機枠内には上部から貯留タ
ンク２、乾燥室３、集穀室４を縦設し、このうち、乾燥
室３はバ−ナを有するバ−ナ胴に通じる熱風室６と吸引
ファン７を有するファン胴に通じる排風室８との間に穀
物流下通路９、９を形成してなり、各流下通路９、９の
下部に設ける繰出バルブ１０、１０の一定回転により所
定量毎に流下する穀物に熱風を浴びせて乾燥する構成で
ある。
明の実施例を説明する。まず、構成から説明すると、１
は穀物乾燥機の機枠で、この機枠内には上部から貯留タ
ンク２、乾燥室３、集穀室４を縦設し、このうち、乾燥
室３はバ−ナを有するバ−ナ胴に通じる熱風室６と吸引
ファン７を有するファン胴に通じる排風室８との間に穀
物流下通路９、９を形成してなり、各流下通路９、９の
下部に設ける繰出バルブ１０、１０の一定回転により所
定量毎に流下する穀物に熱風を浴びせて乾燥する構成で
ある。
【０００６】そして、上記機枠１外部には集穀室４の一
側に集めた穀物を貯留タンク２に揚上還元する昇穀機１
１を立設している。この昇穀機１１は内部上下一対の駆
動プ−リ１２と被動プ−リとの間にバケットベルト１３
を巻き回しする構成であり、集穀室４下部に横設する下
部移送螺旋１４により一側へ移送された乾燥穀物を掬い
上げ上部に移送できる構成としている。
側に集めた穀物を貯留タンク２に揚上還元する昇穀機１
１を立設している。この昇穀機１１は内部上下一対の駆
動プ−リ１２と被動プ−リとの間にバケットベルト１３
を巻き回しする構成であり、集穀室４下部に横設する下
部移送螺旋１４により一側へ移送された乾燥穀物を掬い
上げ上部に移送できる構成としている。
【０００７】この昇穀機１１で掬われ上部で投てきされ
る穀物は投げ口開口部１５を介して上部移送螺旋１６を
設ける移送樋１７の始端側に案内される。そして、上部
移送螺旋１６で水平移送される穀物は貯留タンク２の中
央上部に配設する回転拡散盤１８に案内され貯留タンク
２内に拡散落下される構成としている。
る穀物は投げ口開口部１５を介して上部移送螺旋１６を
設ける移送樋１７の始端側に案内される。そして、上部
移送螺旋１６で水平移送される穀物は貯留タンク２の中
央上部に配設する回転拡散盤１８に案内され貯留タンク
２内に拡散落下される構成としている。
【０００８】前記昇穀機１１、上部移送螺旋１６及び下
部移送螺旋１４からなる穀物循環系は、昇穀機１１枠の
上部側壁に固定する昇降機モ−タ（図示省略）により回
転連動する。該モ−タ駆動軸には適宜の駆動ベルトをも
って上部移送螺旋１６の軸２２と昇穀機１１のバケット
ベルト１３を巻回する前記駆動プ−リ１２の軸２３を直
接回転連動する。
部移送螺旋１４からなる穀物循環系は、昇穀機１１枠の
上部側壁に固定する昇降機モ−タ（図示省略）により回
転連動する。該モ−タ駆動軸には適宜の駆動ベルトをも
って上部移送螺旋１６の軸２２と昇穀機１１のバケット
ベルト１３を巻回する前記駆動プ−リ１２の軸２３を直
接回転連動する。
【０００９】そして上記昇穀機１１の適宜高さの位置に
おける側壁にはサンプル粒を取り込んでこれを圧砕しな
がらその電気抵抗値を求め、これから穀粒水分値に換算
処理する公知の水分計２６を取り付けている。図２は水
分計２６の概略図であり、固定電極ロ−ラ２８と水平方
向に移動可能な移動電極ロ−ラ２９を備え、この移動電
極ロ−ラ２９は間隔切替用モ−タ３０によってその間隔
が調整できるように構成している。
おける側壁にはサンプル粒を取り込んでこれを圧砕しな
がらその電気抵抗値を求め、これから穀粒水分値に換算
処理する公知の水分計２６を取り付けている。図２は水
分計２６の概略図であり、固定電極ロ−ラ２８と水平方
向に移動可能な移動電極ロ−ラ２９を備え、この移動電
極ロ−ラ２９は間隔切替用モ−タ３０によってその間隔
が調整できるように構成している。
【００１０】３１は前記穀粒搬送用ロ−ラ３１を駆動す
るウォ−ムギヤ機構であり、これらのウォ−ムギヤ機構
３４や前記電極ロ−ラ２８、２９はモ−タ３５にて回転
駆動される。３６は水分計２６の制御基板である。な
お、図３は水分計２６のブロック図であり、同図により
構成を簡単に説明すると、４０は制御基板３６内に組み
込まれた水分計２６のＣＰＵであり、このＣＰＵ４０に
は切替回路４１を介して前記モ−タ３０が接続され、出
力回路４２を介してモ−タ３５が接続されている。
るウォ−ムギヤ機構であり、これらのウォ−ムギヤ機構
３４や前記電極ロ−ラ２８、２９はモ−タ３５にて回転
駆動される。３６は水分計２６の制御基板である。な
お、図３は水分計２６のブロック図であり、同図により
構成を簡単に説明すると、４０は制御基板３６内に組み
込まれた水分計２６のＣＰＵであり、このＣＰＵ４０に
は切替回路４１を介して前記モ−タ３０が接続され、出
力回路４２を介してモ−タ３５が接続されている。
【００１１】一対の電極ロ−ラ２８、２９によって穀粒
が圧砕されるとその信号は電流−電圧変換回路４４、Ａ
／Ｄ変換回路４５を経てＣＰＵ４０にフィ−ドバックさ
れる。４６は算出された水分値を温度補正するための温
度センサ、４７は電極ロ−ラ２８、２９の回転が停止す
るような異常状態を検出する回転センサである。
が圧砕されるとその信号は電流−電圧変換回路４４、Ａ
／Ｄ変換回路４５を経てＣＰＵ４０にフィ−ドバックさ
れる。４６は算出された水分値を温度補正するための温
度センサ、４７は電極ロ−ラ２８、２９の回転が停止す
るような異常状態を検出する回転センサである。
【００１２】５０は乾燥機本体に組み込まれているコン
トロ−ラであって、このコントロ−ラ５０と水分計２６
側の制御基板３６とは通信回線５２で接続されている。
図４はメインフロ−チャ−トであるが、同図を用いて説
明すると、乾燥機のコントロ−ラ５０と水分計２６側の
制御基板３６との通信が開始され、作業者が作業開始に
あたって仕上目標水分値や穀物種類を設定すると、その
設定に応じて切替回路４１から切替信号が出力されてモ
−タ３０が駆動され、移動電極モ−タ２９（フロ−チャ
−トではモ−タ２と表示）は水平方向に所定距離だけ移
動する。
トロ−ラであって、このコントロ−ラ５０と水分計２６
側の制御基板３６とは通信回線５２で接続されている。
図４はメインフロ−チャ−トであるが、同図を用いて説
明すると、乾燥機のコントロ−ラ５０と水分計２６側の
制御基板３６との通信が開始され、作業者が作業開始に
あたって仕上目標水分値や穀物種類を設定すると、その
設定に応じて切替回路４１から切替信号が出力されてモ
−タ３０が駆動され、移動電極モ−タ２９（フロ−チャ
−トではモ−タ２と表示）は水平方向に所定距離だけ移
動する。
【００１３】即ち、穀物の種類に応じて電極間の距離が
微調節される。図５は一粒水分電圧波形を示したもので
あって、横軸に時間、縦軸に電圧を採っている。一粒の
電圧波形は図のように山型状になり、このときのピ−ク
電圧を計って水分値を換算処理する。この際、電圧の読
み取りは所定時間ｔ（約６０ｍｓｅｃ）間隔で行なうも
のとしている。
微調節される。図５は一粒水分電圧波形を示したもので
あって、横軸に時間、縦軸に電圧を採っている。一粒の
電圧波形は図のように山型状になり、このときのピ−ク
電圧を計って水分値を換算処理する。この際、電圧の読
み取りは所定時間ｔ（約６０ｍｓｅｃ）間隔で行なうも
のとしている。
【００１４】なお、図６に示すフロ−チャ−トは前記実
施例の一部を改良したものであり、穀粒の取り込み時は
一時的に間隔を拡げて穀粒を取り込み易くし、穀粒が噛
み込んだ後は再び間隔を狭めて圧砕しやすくすると共
に、ピ−ク電圧の検出を容易にして測定精度を向上させ
たものである。図５に示す波形図において、電圧Ｖ1が
穀粒を噛み込んだと判定される電圧に相当し、この電圧
Ｖ1を越えるまでは電極ロ−ラ２８、２９の間隔を拡
げ、この電圧Ｖ1を越えた時点で間隔を狭めるように制
御基板３６から指令を出す。
施例の一部を改良したものであり、穀粒の取り込み時は
一時的に間隔を拡げて穀粒を取り込み易くし、穀粒が噛
み込んだ後は再び間隔を狭めて圧砕しやすくすると共
に、ピ−ク電圧の検出を容易にして測定精度を向上させ
たものである。図５に示す波形図において、電圧Ｖ1が
穀粒を噛み込んだと判定される電圧に相当し、この電圧
Ｖ1を越えるまでは電極ロ−ラ２８、２９の間隔を拡
げ、この電圧Ｖ1を越えた時点で間隔を狭めるように制
御基板３６から指令を出す。
【００１５】次に図７、図８について説明する。先に説
明した実施例では、測定した水分電圧から予め設定した
計算式によって水分値を算出するが、水分値が高い場合
（高水分域）、および、低い場合（低水分域）には実水
分値に対してその値が変化する。即ち、図７に示すよう
に高水分域では点線のように抵抗値が大きく、水分値と
しては低めとなり、逆に低水分域では点線の如く抵抗値
が小さく、水分値としては高めになる傾向が生じる。
明した実施例では、測定した水分電圧から予め設定した
計算式によって水分値を算出するが、水分値が高い場合
（高水分域）、および、低い場合（低水分域）には実水
分値に対してその値が変化する。即ち、図７に示すよう
に高水分域では点線のように抵抗値が大きく、水分値と
しては低めとなり、逆に低水分域では点線の如く抵抗値
が小さく、水分値としては高めになる傾向が生じる。
【００１６】そこで、この改良装置では、高水分域は測
定水分値を高めに補正し、低水分域は低めとなるように
補正するようにしたものである。図８はそのフロ−チャ
−トを示したものであり、一粒水分電圧のピ−ク電圧Ｖ
ｐと電圧Ｖ1、Ｖ2（Ｖ2＜Ｖ1）との大小関係により補正
の内容を変えるようにしている。
定水分値を高めに補正し、低水分域は低めとなるように
補正するようにしたものである。図８はそのフロ−チャ
−トを示したものであり、一粒水分電圧のピ−ク電圧Ｖ
ｐと電圧Ｖ1、Ｖ2（Ｖ2＜Ｖ1）との大小関係により補正
の内容を変えるようにしている。
【００１７】即ち、一粒水分電圧のピ−ク電圧Ｖｐが高
水分域の電圧Ｖ1より大であれば、次の計算式（１）か
ら求めた水分値を１．０５倍する（計算式１：水分値Ｍ
ｓ＝ａ×Ｖｐ＋ｂ、但しａ，ｂは係数である）ものであ
る。ピ−ク電圧Ｖｐが低水分域の電圧Ｖ2よりも小さい
場合には、計算式（３）から求めた水分値を０．９倍す
る（計算式３：水分値Ｍｓ＝ｅ×Ｖｐ＋ｆ、但しｅ，ｆ
は係数である）ものである。
水分域の電圧Ｖ1より大であれば、次の計算式（１）か
ら求めた水分値を１．０５倍する（計算式１：水分値Ｍ
ｓ＝ａ×Ｖｐ＋ｂ、但しａ，ｂは係数である）ものであ
る。ピ−ク電圧Ｖｐが低水分域の電圧Ｖ2よりも小さい
場合には、計算式（３）から求めた水分値を０．９倍す
る（計算式３：水分値Ｍｓ＝ｅ×Ｖｐ＋ｆ、但しｅ，ｆ
は係数である）ものである。
【００１８】そして、ピ−ク電圧ＶｐがＶ2とＶ1の間に
あるときは、計算式（２）により水分値を算出する（計
算式２：水分値Ｍｓ＝ｃ×Ｖｐ＋ｄ、但しｃ，ｄは係数
である）ものである。このように、穀粒を電極ロ−ラ間
で一粒ごとに圧砕して水分測定を行なう水分計におい
て、測定した水分電圧から予め設定した計算式により水
分値を算出するとき高水分域と低水分域に関しては計算
結果を高めにあるいは低めに補正するようにしているの
で、実水分値に近い値に補正されることになる。
あるときは、計算式（２）により水分値を算出する（計
算式２：水分値Ｍｓ＝ｃ×Ｖｐ＋ｄ、但しｃ，ｄは係数
である）ものである。このように、穀粒を電極ロ−ラ間
で一粒ごとに圧砕して水分測定を行なう水分計におい
て、測定した水分電圧から予め設定した計算式により水
分値を算出するとき高水分域と低水分域に関しては計算
結果を高めにあるいは低めに補正するようにしているの
で、実水分値に近い値に補正されることになる。
【００１９】図９乃至図１２は乾燥機の他の部分の改良
について説明したものであって、これらの図に記載され
たものは、昇降機１１内に水分計２６を設けたものであ
る。この実施例の特徴は、昇降機１１内に水分計２６を
収め、水分計２６を支持する機枠をボックス状に形成す
ると共に上部に山型状のスクレ−パ６０ａを形成した点
である。同図において、６１はバケットプ−リ、６２は
モ−タ、６３はギヤ機構、６４は搬送ロ−ル、６５は電
極ロ−ル６４によって送られる穀粒を電極ロ−ラ６５に
導く案内板、６７はバケット、６８はハ−ネス、６８ａ
はコネクタである。
について説明したものであって、これらの図に記載され
たものは、昇降機１１内に水分計２６を設けたものであ
る。この実施例の特徴は、昇降機１１内に水分計２６を
収め、水分計２６を支持する機枠をボックス状に形成す
ると共に上部に山型状のスクレ−パ６０ａを形成した点
である。同図において、６１はバケットプ−リ、６２は
モ−タ、６３はギヤ機構、６４は搬送ロ−ル、６５は電
極ロ−ル６４によって送られる穀粒を電極ロ−ラ６５に
導く案内板、６７はバケット、６８はハ−ネス、６８ａ
はコネクタである。
【００２０】昇降機１１の背面下部には開口部６９が設
けられ、この開口部６９から水分計２６本体を挿入し、
ボルト７０、ナット７１で固定する。この改良装置は上
記のように構成されているので、水分計２６を完全に昇
降機１１内に収めることができると共に、モ−タ６２、
ギヤ機構６３等の駆動系が機枠６０内に収納されるの
で、コンパクトに構成できるのである。
けられ、この開口部６９から水分計２６本体を挿入し、
ボルト７０、ナット７１で固定する。この改良装置は上
記のように構成されているので、水分計２６を完全に昇
降機１１内に収めることができると共に、モ−タ６２、
ギヤ機構６３等の駆動系が機枠６０内に収納されるの
で、コンパクトに構成できるのである。
【００２１】
【発明の効果】この発明は前記の如く構成したので、以
下のような技術的効果を奏する。即ち、穀粒を一粒ごと
一対の電極ロ−ラ間に取り込んでこれを圧砕しながら水
分測定を行なう乾燥機の水分測定装置において、前記電
極ロ−ラ間の間隔を変更する制御手段を設けたものであ
るから、穀物の種類に応じて最適な位置に電極ロ−ラを
セットすることが可能となり、穀粒の水分値検出のため
の時間も短縮されると共に、ピ−ク電圧の検出精度も向
上し、従来装置に比較して測定性能が改善される。
下のような技術的効果を奏する。即ち、穀粒を一粒ごと
一対の電極ロ−ラ間に取り込んでこれを圧砕しながら水
分測定を行なう乾燥機の水分測定装置において、前記電
極ロ−ラ間の間隔を変更する制御手段を設けたものであ
るから、穀物の種類に応じて最適な位置に電極ロ−ラを
セットすることが可能となり、穀粒の水分値検出のため
の時間も短縮されると共に、ピ−ク電圧の検出精度も向
上し、従来装置に比較して測定性能が改善される。
【図１】乾燥機本体の正面断面図である。
【図２】水分計の概略図である。
【図３】水分計のブロック図である。
【図４】メインフロ−チャ−トである。
【図５】一粒水分電圧波形を示した図である。
【図６】改良プログラムのフロ−チャ−トである。
【図７】抵抗−水分値特性グラフである。
【図８】水分値補正のためのフロ−チャ−トである。
【図９】昇降機内に組み込んだ水分計の正面図である。
【図１０】図９の側面図である。
【図１１】図９の平面図である。
【図１２】要部の斜視図である。
１ 機枠 ２ 貯溜タンク ３ 乾燥室 ４ 集穀室 ２６ 水分計 ２８ 固定電極ロ−ラ ２９ 移動電極ロ−ラ ３０ 間隔切替用モ−タ ３１ 穀粒搬送用ロ−ラ
フロントページの続き (72)発明者 宮崎 啓市 愛媛県伊予郡砥部町八倉１番地 井関農機 株式会社技術部内 (72)発明者 上路 仁志 愛媛県伊予郡砥部町八倉１番地 井関農機 株式会社技術部内 (72)発明者 西野 栄治 愛媛県伊予郡砥部町八倉１番地 井関農機 株式会社技術部内 (72)発明者 近本 正幸 愛媛県伊予郡砥部町八倉１番地 井関農機 株式会社技術部内 (72)発明者 弓立 正史 愛媛県伊予郡砥部町八倉１番地 井関農機 株式会社技術部内
Claims (1)
- 【請求項１】穀粒を一粒ごと一対の電極ロ−ラ間に取り
込んでこれを圧砕しながら水分測定を行なう乾燥機の水
分測定装置において、前記電極ロ−ラ間の間隔を変更す
る制御手段を設けたことを特徴とする穀物乾燥機におけ
る水分測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13911395A JPH08334486A (ja) | 1995-06-06 | 1995-06-06 | 乾燥機における水分測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13911395A JPH08334486A (ja) | 1995-06-06 | 1995-06-06 | 乾燥機における水分測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08334486A true JPH08334486A (ja) | 1996-12-17 |
Family
ID=15237799
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13911395A Pending JPH08334486A (ja) | 1995-06-06 | 1995-06-06 | 乾燥機における水分測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08334486A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012185085A (ja) * | 2011-03-07 | 2012-09-27 | Yamamoto Seisakusho Inc | 水分測定装置 |
-
1995
- 1995-06-06 JP JP13911395A patent/JPH08334486A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012185085A (ja) * | 2011-03-07 | 2012-09-27 | Yamamoto Seisakusho Inc | 水分測定装置 |
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