JPH0841626A - 金属部分膜の形成装置およびその形成方法 - Google Patents
金属部分膜の形成装置およびその形成方法Info
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- JPH0841626A JPH0841626A JP6196051A JP19605194A JPH0841626A JP H0841626 A JPH0841626 A JP H0841626A JP 6196051 A JP6196051 A JP 6196051A JP 19605194 A JP19605194 A JP 19605194A JP H0841626 A JPH0841626 A JP H0841626A
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Abstract
部分膜の形成装置、及びその装置を使用して酸化され易
い金属による耐湿性に優れた金属部分膜を形成させる方
法を提供すること。 [構成] シャッタ機構9付きの、高周波誘導加熱され
るカーボン・ルツボ6を備えた超微粒子生成室1と、超
微粒子を搬送する搬送管3及びノズル4と、X軸方向、
Y軸方向に走査可能なガラス基板8を配置した膜形成室
2と、膜形成室2を吸気する真空ポンプ15、及び吸込
管5を介して超微粒子生成室1を吸気する真空ポンプ1
6と、真空ポンプ15、16の排気を超微粒子生成室1
の底部へ戻す配管の途中に設けたHeガス・リサイクル
機構17とからなる装置を使用し、純度99.99%の
Heガスによって、Cu超微粒子をノズル4から噴射さ
せつつ、ガラス基板8を走査させ、シャッタ機構9によ
ってCu超微粒子の搬送を断続させて、ガラス基板8上
にCu部分膜を形成させる。
Description
よびその形成方法に関するものであり、更に詳しくは、
酸化され易い金属の部分膜を、マスキングやエッチング
を行なうことなく、基板状へ直接に形成させる装置およ
びその形成方法に関するものである。
せる方法として、厚膜ペースト法、スパッタ法、真空蒸
着法、メッキ法等がある。これらの方法において、必要
な個所にのみ金属膜を形成させるには、すなわち、金属
部分膜を形成させるには、基板上の不必要な個所を遮蔽
(スクリーン)して、換言すればマスキングを行なって
膜形成を行なうか、又は基板上の全面に膜を形成させた
後に、必要な個所にレジスト膜を形成させ、レジスト膜
を形成させなかった不必要な個所の膜をエッチングして
除去することが行なわれている。このように金属部分膜
の形成にはマスキング、又はエッチングなどの工程を必
要とし、かつ、マスキングを行なう場合にはマスキング
材料が、またエッチングを行なう場合にはレジスト膜が
使い捨てである。
適用で厚さ1μm以上の厚膜を得やすいが、スパッタ法
や真空蒸着法は膜厚形成速度、すなわち成膜レートが小
さく、厚膜を得るには非常に時間を要して適切でない。
そのほか、メッキ法は水溶性の薬品を使用するので、最
後には水洗し乾燥する工程が必要であり、設備が大がか
りとなる。
い金や白金は高価であるため、一般的な銅、ニッケルな
どを使うことが多いが、これら酸化され易い金属を厚膜
ペースト法やメッキ法で形成させると酸化が生起して比
抵抗が増大し、膜形成後に還元処理を必要とする場合が
ある。更には、これらの膜は経時的にも酸化が進行して
比抵抗が増大するので、これらの金属厚膜を使用した電
気部品は信頼性に劣り、長期の寿命を期待し難い。
願出願人による特許第1531607号、特開平5−2
95525号、特開平5−295550号、特開平6−
93430号、特開平6−101026号、特開平6−
128728の各公報、および特願平5−34184号
において開示されているガスデポジション装置を使用す
る方法がある。何れも蒸発させた金属蒸気からの超微粒
子を搬送ガスと共に基板上へ噴射させて厚膜を形成させ
得るが、これらの装置においては搬送ガスの循環は行な
われておらず、また酸化され易い金属を使用する金属膜
の形成については言及されていない。
に鑑みてなされ、マスキングやエッチングの如き工程を
要さずに、基板上へ直接に金属部分膜を形成させる装置
を提供することを目的とする。
時的に比抵抗が増大しない耐湿性に優れた金属部分膜の
形成方法を提供することを目的とする。
蒸発させる蒸発源が設けられた超微粒子生成室と、下端
が前記超微粒子生成室にあって前記蒸発源の直上方に配
設され、生成された超微粒子を搬送する搬送管と、該搬
送管の上端およびその先端のノズルが挿入され、部分膜
を形成させるべき基板が前記ノズルに近接して配置され
た膜形成室と、前記超微粒子生成室から前記搬送管と前
記ノズルを経て前記膜形成室へ前記超微粒子と共に噴射
される搬送ガスを前記膜形成室から前記超微粒子生成室
へ戻して循環させるための真空ポンプ系および搬送ガス
リサイクル機構とからなり、前記超微粒子生成室内に前
記超微粒子の搬送を断続させるシャッタ機構と、前記膜
形成室内に前記基板をその面内の少なくともX軸方向と
Y軸方向とに走査させる走査機構とが設けられているこ
とを特徴とする金属部分膜の形成装置、によって達成さ
れる。
源が設けられた超微粒子生成室と、下端が前記超微粒子
生成室にあって前記蒸発源の直上方に配設され、生成さ
れた超微粒子を搬送する搬送管と、該搬送管の上端およ
びその先端のノズルが挿入され、部分膜を形成させるべ
き基板が前記ノズルに近接して配置された膜形成室と、
前記超微粒子生成室から前記搬送管と前記ノズルを経て
前記膜形成室へ前記超微粒子と共に噴射される搬送ガス
を前記膜形成室から前記超微粒子生成室へ戻して循環さ
せるための真空ポンプ系および搬送ガスリサイクル機構
とからなり、前記超微粒子生成室内に前記超微粒子の搬
送を断続させるシャッタ機構と、前記膜形成室内に前記
基板をその面内の少なくともX軸方向とY軸方向とに走
査させる走査機構とが設けられている金属部分膜形成装
置において、前記搬送ガスとして純度99.99%また
はそれ以上の不活性ガスを使用し、前記蒸発源から酸化
され易い金属を蒸発させて超微粒子を生成させると共
に、前記シャッタ機構によって前記超微粒子の搬送を断
続させ、かつ前記基板を前記走査機構によって走査させ
つつ、前記ノズルから前記基板上へ前記超微粒子を適用
することを特徴とする金属部分膜の形成方法、によって
達成される。
る金属は超微粒子となり、搬送ガスによって搬送管内を
搬送され、膜形成室内においてノズルから基板上へ噴射
されるが、超微粒子形成室に設けたシャッタ機構によっ
て超微粒子の搬送が断続され、かつ膜形成室内において
基板が少なくともX軸方向とY軸方向とに走査されるの
で、マスキングやエッチングを行なうことなく、基板上
に金属部分膜が形成される。
搬送ガスに純度99.99%またはそれ以上の不活性ガ
スを使用して酸化され易い金属を蒸発源から蒸発させ超
微粒子とすることにより、経時的に比抵抗の増大しない
耐湿性に優れた金属部分膜が形成される。
成装置およびその形成方法について、図面を参照して説
明する。
の全体を示す概略図である。同装置は概しては、超微粒
子生成室1と、膜形成室2と、これらを結ぶ搬送管3
と、膜形成室2および超微粒子生成室1内のHe(ヘリ
ウム)ガスを超微粒子生成室1の底部へ戻し供給するた
めの真空ポンプ15、16とHeガス・リサイクル機構
17とからなっている。
ーボン・ルツボ6(内径5mmφ、外径15mmφ、高
さ10mm)が配設され、蒸発材料22としてCu
(銅)が収容されている。カーボン・ルツボ6の周囲に
は誘導加熱のためのコイル7Cが巻装され、その両端は
超微粒子生成室1の外側に設けた高周波電源(150k
Hz)7に接続されている。なお、ここで高周波誘導加
熱方式を採用しているのは次の理由による。すなわち、
抵抗加熱方式ではルツボをジュール熱で加熱し、内部の
蒸発材料はルツボからの伝熱によって加熱される。溶け
た金属が対流することはあっても粘度は高く、加熱が不
均一で突沸することがあるほか、生成される超微粒子の
粒径分布が大きい。これに対し、高周波誘導加熱方法は
ルツボと蒸発材料とに渦電流を発生させて加熱するの
で、加熱が均一で、生成される超微粒子の粒径分布も均
一なためである。
した搬送管3(内径1/4インチ)の下端が配置され、
その下端の上方には搬送管3と軸心を共有する大径の吸
込管5が設けられている。そして、吸込管5と搬送管3
との間の環状空間はバルブ13を介して真空ポンプ16
の吸気側に接続されている。この吸込管5はカーボン・
ルツボ6の直上部以外の超微粒子生成室1内に滞留する
超微粒子を吸い込ませるべく設けられている。また、カ
ーボン・ルツボ6の底部を支持してシャッタ機構9が設
けられている。シャッタ機構9は図2を参照し、図2の
Aに示すように、カーボン・ルツボ6が搬送管3の直下
となる位置と、この位置から矢印aで示す方向に30m
m程度移動させて、図2のBに示すように、カーボン・
ルツボ6が吸込管5による環状空間の直下となる位置と
の2位置間をプログラムされた図示しないコントローラ
によって移動させて開閉が行なわれる。すなわち、カー
ボン・ルツボ6からの金属蒸気が雰囲気のキャリヤとし
てのHeガスに冷却され、超微粒子となっての立ち昇り
20が図2のAの開時には搬送管3へ吸込まれ、図2の
Bの閉時には吸込管5へ吸込まれる様子を示している。
更には、超微粒子生成室1には真空計1Gが設けられて
いる。
れに取り付けたノズル4が挿入されており、ノズル4の
先端に近接して(0.1〜2.0mmの範囲内で可変)
ガラス基板8が配置されている。ガラス基板8は走査可
能な基板ホールダ10に取り付けられており、図示しな
いデジタル・プログラマブル・コントローラによって水
平なガラス基板8の面内におけるX軸方向とこれに直角
なY軸方向に0.01〜2mm/secの速度で走査可
能とされている。なお、搬送管3は容積を有しているの
で、超微粒子は吸い込まれてからノズル4の出口に達す
るまでに0.1秒単位の時間を要する。従って、ガラス
基板8の走査は、ある地点で停止してシャッタ機構9を
閉とし次の地点へ移るに際しても、超微粒子が搬送管3
から出つくす迄の時間を経過してから次の地点へ移るよ
うにプログラムされている。すなわち、形成される金属
部分膜が尾を引かないようにしている。次の地点に達し
てシャッタ機構9を開とする場合も、超微粒子がノズル
4の先端から噴射されてくるまでの時間が経過してから
移動が開始される。また基板ホールダ10内には、ガラ
ス基板8を加熱するためのヒータ・ユニットが内蔵され
ており、ガラス基板8に取り付けた熱電対11からの温
度信号によってガラス基板8を所定の温度に保持するよ
うになっている。膜形成室2はバルブ14を介して真空
ポンプ15の吸気側と接続されており、膜形成室2には
真空計2Gが設けられている。
の配管は1本にまとめられ、バルブ19を介してHeガ
ス・リサイクル機構17と接続され、更には、バルブ1
2を介して、超微粒子生成室1の底部と接続されて、キ
ャリヤとしてのHeガスを送り込むようになっている。
また、バルブ12には、バルブ21を介して純度99.
99%のHeガスボンベ18が接続されている。なお、
真空ポンプ15、16とバルブ19との中間には、バル
ブ19に近接して、バルブ20を備えた枝管20が設け
られている。
ように構成されるが、次にその作用、すなわち、金属部
分膜の形成方法について説明する。
13、14、20を開、バルブ19、21を閉として、
超微粒子生成室1、膜形成室2を含む全系を真空ポンプ
15、16によって圧力10-4Paまで排気する。次い
で、真空ポンプ15、16の運転は継続したままバルブ
20を閉、バルブ19、21を開として、Heガスボン
ベ18から純度99.99%の所定量のHeガスを導入
し、バルブ21を閉とする。これによってキャリヤとし
てのHeガスの矢印で示す方向の循環が開始されるが、
バルブ13の開度を調節して、超微粒子生成室1内は圧
力2kg/cm2 、膜形成室2内は圧力約1torrの
真空として、両室間に約2kg/cm2の差圧を生起さ
せる。
成室1から搬送管3へ約10SLM(1分間当りの標準
状態リットル数)、吸込管5へは約30SLMに配分さ
れて流れる。吸込管5への流量を大にしているのは、搬
送管3へ吸い込まれずに超微粒子生成室1内に滞留する
超微粒子が存在すると、これらは滞留中に凝集体とな
り、何時かは搬送管3を経由し搬送されて形成中の膜に
悪影響を与えるので、その凝集体の生成を予防するため
である。
6を予め収容されている蒸発材料22、すなわちCuと
共に高周波誘導加熱し、Cuを約1500°Cとして溶
融させ蒸発させる。Cuの蒸気はキャリヤとしてのHe
ガスと衝突し、冷却凝縮されて超微粒子となる。生成し
たCuの超微粒子の大部分は搬送管3内へHeガスと共
に吸い込まれ、ノズル4からガラス基板8上へ噴射され
る。ガラス基板8は予めヒータ・ユニットによって25
0°Cに加熱されており、その面上に超微粒子によるC
u膜が形成される。
形成速度は約10μm/secであり、成膜巾はノズル
4とガラス基板8との間の距離によって異なるが、80
0〜1200μmである。そして、ガラス基板8はその
面内のX軸方向とY軸方向へ走査され得るので、シャッ
タ機構9の作動によるCu超微粒子の搬送の断続と組み
合わせることにより、ガラス基板8上の任意の箇所から
任意の箇所に至る任意のパターンの部分膜を形成させる
ことができる。この方法によって巾0.8mm、長さ2
0mm、厚さ10μmのCu部分膜(A)を形成させ
た。
テストを行ない、比抵抗の変化を観測した結果を図3に
示した。耐湿テストは温度50°C、相対湿度95%R
Hの条件で行ない、比抵抗は四端子法で測定した。Cu
部分膜(A)の形成直後の比抵抗はCuバルク(純Cu
塊)の約1.7倍であり、その後1000時間以上(4
0日間以上)経過しても比抵抗に変化は認められなかっ
た。
る蒸発材料22をNi(ニッケル)とした以外は実施例
1と同様にキャリヤに純度99.99%のHeガスを使
用し、ガラス基板8上に巾0.8mm、長さ20mm、
厚さ10μmのNi部分膜を形成させた。
様、温度50°C、相対湿度95%RHの条件での耐湿
テストを行ない、図4に示す結果を得た。すなわち、N
i部分膜の形成直後の比抵抗はNiバルクの約2.6倍
であり、その後1000時間以上(40日間以上)経過
しても比抵抗に変化は認められなかった。
22としてCuを収容し、キャリヤとして純度99.9
%のHeガスを使用し、実施例1と同様にして、ガラス
基板8上に初期比抵抗の異なる4種のCu部分膜(B)
を形成させた。これらのCu部分膜(B)について、一
般的な外気に相当する温度20°C、相対湿度60%R
Hの条件で行なった耐湿テストの結果を図5に示した。
4種のCu部分膜(B)の形成直後の比抵抗はCuバル
クの30〜90倍を示し、テスト期間40日でCuバル
クの60〜230倍に増大したが、その後も更に増大を
続けた。
うに、キャリヤとしてのHeガスの純度が99.99%
の場合(実施例1のCu部分膜(A))と、Heガスの
純度が99.9%の場合(比較例のCu部分膜(B))
とで、耐湿性は極度に異なるが、このような事実は従来
知られておらず、全く予期し難い現象であった。また、
この事実は純度99.99%以上純度100%までのH
eガスも有効であることを推測させる。これを確認する
べく、純度99.9999%のHeガスを使用し、それ
以外は実施例1と全く同様にして、耐湿性に優れたCu
部分膜(C)を得た。
合金と鉄コバルト合金のそれぞれを蒸発材料22として
カーボン・ルツボ6に収容し、キャリヤとして純度9
9.99%のHeガスを使用して実施例1と同様にそれ
ぞれの部分膜を形成させた。
膜、鉄コバルト合金部分膜はいずれも50°C、95%
RHでの1000時間以上の耐湿テストで比抵抗が変化
せず、優れた耐湿性を持つことを示した。
勿論、本発明はこれらに限られることなく、本発明の技
術的思想に基づいて種々の変形が可能である。
て純度99.99%のHeガスを使用したが、同じく純
度99.99%またはそれ以上のAr(アルゴン)ガ
ス、またはNe(ネオン)ガスを使用してもよい。
4を採用したが、複数本のマルチノズルを使用してもよ
い。
としてカーボン・ルツボ6を移動させる方式を採用した
が、搬送管3をフレキシブルなものとして、その下端部
を曲げてカーボン・ルツボ6の直上から変位させること
により閉、元へ戻すことにより開とするような方式とし
てもよい。
ボ6を採用したが、これ以外の誘導加熱され得る材料、
例えば窒化ボロンのルツボとしてもよい。
採用したが、これ以外の一般に使用される基板、例えば
シリコンやセラミックスの基板であってもよい。
加熱していないが、これらを約300°Cの温度に加熱
すると、その内壁への超微粒子の沈着、凝集体の形成が
抑制されるので、より好ましい金属部分膜が得られる。
ボ6を1個としたが、ルツボを2個として異なる2種の
金属を蒸発させ、生成する2種の超微粒子を混合した部
分膜を形成させることも可能である。
の形成装置およびその形成方法によれば、マスキングや
エッチングなどの処理を必要とせずに、基板上の任意の
箇所へ任意のパターンの金属部分膜を形成させることが
できるので、金属部分膜の形成コストを大巾に削減させ
得る。また、キャリヤとして純度99.99%またはそ
れ以上の不活性ガスを使用するので、酸化され易い金属
の部分膜であっても高湿度下において比抵抗が変化せず
極めて優れた耐湿性を示す。従って、例えばこの方法で
得たCu部分膜からなる厚膜回路を使用した電気部品は
信頼性が極めて高い。また、本発明の金属部分膜の形成
装置及びその形成方法によれば、基板上において導電性
の金属部分膜を形成させ得るだけでなく、電気回路の補
修、任意の箇所での電極の形成、リード線のボンディン
グ、ないしは各種のシーリングが可能である。更には、
この金属部分膜の形成方法は化学薬品を使用するエッチ
ングを必要としないので環境を汚染させない。
体を示す概略図である。
あり、Aは開、Bは閉の状態である。
膜(A)についての耐湿テストの結果を示す図である。
膜についての耐湿テストの結果を示す図である。
種のCu部分膜(B)についての耐湿テストの結果を示
す図である。
Claims (7)
- 【請求項1】 金属を蒸発させる蒸発源が設けられた超
微粒子生成室と、下端が前記超微粒子生成室にあって前
記蒸発源の直上方に配設され、生成された超微粒子を搬
送する搬送管と、該搬送管の上端およびその先端のノズ
ルが挿入され、部分膜を形成させるべき基板が前記ノズ
ルに近接して配置された膜形成室と、前記超微粒子生成
室から前記搬送管と前記ノズルを経て前記膜形成室へ前
記超微粒子と共に噴射される搬送ガスを前記膜形成室か
ら前記超微粒子生成室へ戻して循環させるための真空ポ
ンプ系および搬送ガスリサイクル機構とからなり、前記
超微粒子生成室内に前記超微粒子の搬送を断続させるシ
ャッタ機構と、前記膜形成室内に前記基板をその面内の
少なくともX軸方向とY軸方向とに走査させる走査機構
とが設けられていることを特徴とする金属部分膜の形成
装置。 - 【請求項2】 前記超微粒子生成室内に、前記搬送管の
下端より上方に該搬送管より大径の吸込管が配設され、
該吸込管と前記搬送管との間の環状空間が前記真空ポン
プ系に接続されている請求項1に記載の金属部分膜の形
成装置。 - 【請求項3】 前記シャッタ機構が前記蒸発源とその直
上方の前記搬送管との相対位置をずらせ戻すことによっ
て前記超微粒子の搬送を断続させる請求項1または2に
記載の金属部分膜の形成装置。 - 【請求項4】 金属を蒸発させる蒸発源が設けられた超
微粒子生成室と、下端が前記超微粒子生成室にあって前
記蒸発源の直上方に配設され、生成された超微粒子を搬
送する搬送管と、該搬送管の上端およびその先端のノズ
ルが挿入され、部分膜を形成させるべき基板が前記ノズ
ルに近接して配置された膜形成室と、前記超微粒子生成
室から前記搬送管と前記ノズルを経て前記膜形成室へ前
記超微粒子と共に噴射される搬送ガスを前記膜形成室か
ら前記超微粒子生成室へ戻して循環させるための真空ポ
ンプ系および搬送ガスリサイクル機構とからなり、前記
超微粒子生成室内に前記超微粒子の搬送を断続させるシ
ャッタ機構と、前記膜形成室内に前記基板をその面内の
少なくともX軸方向とY軸方向とに走査させる走査機構
とが設けられている金属部分膜形成装置において、前記
搬送ガスとして純度99.99%またはそれ以上の不活
性ガスを使用し、前記蒸発源から酸化され易い金属を蒸
発させて超微粒子を生成させると共に、前記シャッタ機
構によって前記超微粒子の搬送を断続させ、かつ前記基
板を前記走査機構によって走査させつつ、前記ノズルか
ら前記基板上へ前記超微粒子を適用することを特徴とす
る金属部分膜の形成方法。 - 【請求項5】 前記蒸発源が高周波誘導加熱され蒸発さ
れる金属を収容するるつぼである請求項4に記載の金属
部分膜の形成方法。 - 【請求項6】 前記不活性ガスがヘリウムである請求項
4または5に記載の金属部分膜の形成方法。 - 【請求項7】 前記酸化され易い金属が銅、ニッケル、
錫、鉄ニッケル化合物、鉄コバルト化合物の中の1種ま
たは1種以上である請求項4から請求項6までの何れか
に記載の金属部分膜の形成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19605194A JP3595823B2 (ja) | 1994-07-28 | 1994-07-28 | 金属部分膜の形成装置およびその形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19605194A JP3595823B2 (ja) | 1994-07-28 | 1994-07-28 | 金属部分膜の形成装置およびその形成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0841626A true JPH0841626A (ja) | 1996-02-13 |
| JP3595823B2 JP3595823B2 (ja) | 2004-12-02 |
Family
ID=16351384
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19605194A Expired - Lifetime JP3595823B2 (ja) | 1994-07-28 | 1994-07-28 | 金属部分膜の形成装置およびその形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3595823B2 (ja) |
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