JPH08503021A - ナノ結晶構造を有するFe−Ni基材の軟質磁性合金から形成された改善された調和マーカー - Google Patents

ナノ結晶構造を有するFe−Ni基材の軟質磁性合金から形成された改善された調和マーカー

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JPH08503021A JP6510333A JP51033394A JPH08503021A JP H08503021 A JPH08503021 A JP H08503021A JP 6510333 A JP6510333 A JP 6510333A JP 51033394 A JP51033394 A JP 51033394A JP H08503021 A JPH08503021 A JP H08503021A
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Abstract

(57)【要約】 本発明は、マーカーの調和出力を高めるための方法を提供し、この方法は、(Fe1-xNixab(B1-ySiyc(「x」は、約0.2から約0.9の範囲であり、「y」は、0から約0.5までの範囲であり、「a」は、約60原子%と約90の原子%との間であり、「b」は、約0.1原子%と約10原子%との間であり、「c」は、約0.1原子%と約30原子%との間であり、Mは、Mo、Cr、Hf、Nb、Ta、Ti、V、W、及び、Zrから成る群から選択された少なくとも1つの金属である)の組成を有すると共に、ナノ結晶相が形成される第1の結晶化温度、及び、第2の結晶質相が形成される第2の結晶化温度である少なくとも2つの結晶化温度を有する非晶質合金を準備する工程と、上記第1及び第2の結晶化温度の間の温度において、上記要素の少なくとも1つの調和特性を増大させるに十分な時間にわたって、上記非晶質合金をアニール処理する工程とを備える。このような方法によって生成される調和マーカーも開示される。

Description

【発明の詳細な説明】ナノ結晶構造を有するFe−Ni基材の軟質磁性合金から形成された 改善された調和マーカー 発明の分野 電子物品監視技術は、良好な調和特性を示す新規な合金を探し続けている。本 件出願人は、(Fe1-xNixab(B1-ySiycの組成を有する合金を、第 1及び第2の結晶化温度の間でアニール処理することにより、そのようなアニー ル処理を受けていない合金の調和出力よりも100%程度大きい調和出力を発生 させることができることを、思いがけなく発見した。上記組成式においては、「 x」は、約0.2から約0.9までの範囲であり、「y」は、0から最大約0. 5までの範囲であり、「a」は、約60原子%乃至約90原子%であり、「b」 は、約0.1原子%乃至約10原子%であり、「c」は、約0.1原子%乃至約 30原子%であって、Mは、Mo、Cr、Hf、Nb、Ta、Ti、V、W、及 び、Zrから成る群から選択された少なくとも1つの金属である。そのような望 ましい調和特性は、Cuを添加することなく、狭い範囲のアニール処理条件にお いて実行される単一工程のアニール処理によって、生成される。従来技術の説明 米国特許第4,945,339号は、Fe−Ni基材の合金から形成される盗 難防止マーカーを開示しており、上記合金は、0.1原子%乃至3.0原子%の Cuと、Nb、W、Ta、Zr、Hf、V、Cr、Ti、及び、Moの群から選 択され、0.1乃至30の原子%を有する、少なくとも1つの元素とを含む。F e−Ni及びFe−Co基材の軟質磁性合金は、結晶化温度よりも高い450゜ Cから700゜Cの温度範囲において、5分間から24時間の時間範囲でアニー ル処理される。Feに溶解しない銅を添加することは、ナノ微結晶を形成するた めの核形成部位をもたらすために、必要とされる。 1992年6月2臼に出願された米国特許出願シリアルNo.896,505 は、(Fe1-xNix60-900.1-10(B1-ySiy0.1-30の一般組成を有する 合金を開示している。この一般組成においては、「a」乃至「c」は、原子%す なわち原子百分率であって、「a」乃至「c」に不純物を加えた合計は、実質的 に100である。「x」の値は、約0.2から約0.9であり、「y」の値は、 0から0.5である。第1の工程においては、第2の結晶化温度のオンセット未 満において、上記合金がアニール処理される。第1のアニール処理工程の後に、 ナノクリスタル合金は、約半時間で、第2のアニール処理温度まで冷却される。 第2のアニール処理工程は、第2の磁気相あるいはナノクリスタル相のキュリー 温度の500゜Cの範囲内の温度、好ましくは、キュリー温度よりも僅かに低い 温度で実行することができ、約2時間で終了する。その結果生ずる合金は、非晶 質合金の核に関して有用である、良好な磁気特性を有するものとして記載されて いる。発明の摘要 本発明は、調和電子監視装置用のマーカー、並びに、そのようなマーカーを形 成する方法に関し、該方法は、(Fe1-xNixab(B1-ySiyc(「x」 は、約0.2から約0.9の範囲であり、「y」は、0から約0.5までの範囲 であり、「a」は、約60原子%から約90原子%の範囲であり、「b」は、約 0.1原子%から約10原子%の範囲であり、「c」は、約0.1原子%から約 30原子%の範囲であり、Mは、Mo、Cr、Hf、Nb、Ta、Ti、V、W 、及び、Zrから成る群から選択された少なくとも1つの金属である)の組成を 有すると共に、ナノクリスタル相が形成される第1の結晶化温度、及び、第2の 結晶質相が形成される第2の結晶化温度である少なくとも2つの結晶化温度を有 する非晶質合金を準備する工程と、 上記第1及び第2の結晶化温度の間の温度において、該非晶質合金の少なくと も1つの調和特性を増大させるに十分な時間にわたって、上記非結質合金をアニ ール処理する工程とを備える。 本発明のマーカーは、本発明によるアニール処理を受けていない同じ材料のマ ーカーに比較して、大幅に改善された信号出力を示す。本発明に従ってアニール 処理された調和マーカーは、そのようなアニール処理を受けていない同じ材料か ら形成されたマーカーよりも、100%高い出力を示す。図面の説明 図1は、アニール処理を受けていないマーカー、10エルステッド(Oe)の 長手方向の磁場において、30分間及び60分間にわたってアニール処理を受け たマーカー、並びに、磁場が与えられない状態でアニール処理を受けたマーカー に関して、アニール処理温度に対して測定された出力電圧(ピーク値同士の)を 示すグラフである。発明の詳細な説明 本発明の磁気材料を生成する際に使用された合金は、(Fe1-xNixab( B1-ySiycの一般式によって表され、この一般式において、「a」乃至「c 」は、原子%すなわち原子百分率であり、「a」乃至「c」に不純物を加えた合 計は、実質的に100である。「x」の値は、約0.2から約0.9であり、約 0.48と約0.9との間であるのが好ましい。「a」で表されるFe−Niの 原子%は、約60から約90であり、約70から約87の原子%であるのが好ま しい。Fe及びNiの量が、約90原子%を超えて増大したり、あるいは、約6 0原子%を下回って減少した場合には、そのような合金は、メルトクエンチ技術 によって鋳造することが困難となり、その結果生じる製品は、不適当な軟質の磁 気特性を示す傾向がある。より詳細に言えば、Fe及びNiが、約60原子%よ りも少ない場合には、良好な軟質磁気材料を生成するには過剰の半金属すなわち メタロイドが存在する。 Mは、Mo、Cr、Hf、Nb、Ta、Ti、V、W、及び、Zrから成る群 から選択された、少なくとも1つの金属である。Mは、Cr、Ta及びMoから 成る群から選択されるのが好ましく、最も好ましいのはMoである。上記組成に おいて「b」で表されるMのパーセント(%)は、約0.1から約10原子%で あり、約1.0から約8.0原子%が好ましく、約2.0から約4.0の原子% が最も好ましい。原子%が、約2.0原子%を下回って減少すると、後に説明す るタイプの有用なアニール処理条件の間に、ナノ結晶粒子を形成することが困難 になる。10原子%を超えるMを含む合金も、メルトクエンチ技術によって鋳造 することが困難である。 「c」によって表されるメタロイド(B及びSi)のパーセンテージすなわち 百分率は、約0.1から約30原子%であり、約13から約30原子%が好まし い範囲である。詳細に言えば、ホウ素の原子%は、約0.1から約30原子%で あり、約13から約22の原子%が好ましい範囲であり、約14から約18原子 %が最も好ましい。Bの原子%が、上記好ましい約22の原子%を超えて増大す ると、ホウ化物の容積%が増大し、これにより、ナノ結晶相の容積%を減少させ 、これに応じて、その合金の磁気特性を低下させる傾向がある。また、約22原 子%を超えるホウ素の量は、非晶質相のFe及びNiと関係し、形成することの できるナノ結晶粒子の量を減少させる。 Siは、ある範囲において、第1の結晶化温度Tx1と第2の結晶化温度Tx2と の間の温度差を増大させることにより、微結晶の形成を促進する。Siも、本発 明の合金のナノ結晶相の前駆体である、非晶質相の形成を助ける。Siの範囲( 上述の式において「y」で表される)は、0から最大約0.5である。従って、 Siは、0から最大約15原子%までの範囲を有する。Siが存在する場合には 、そのようなSiは、最大約10原子%の量で存在するのが好ましく、最大約5 原子%の量で存在するのが最も好ましい。 各組成は、上記望ましい比率で融解され、次に、例えば、本明細書で参照する 米国特許第4,221,257号に開示される、プレーナ・フロー鋳造技術によ って鋳造され、非晶質金属材料のストリップを生成する。 鋳造の後に、非晶質材料は、第2の結晶化温度のオンセット未満で、アニール 処理される。第2の結晶化温のオンセット未満であればどのような温度も用いる ことができるが、温度が低くなればなる程、その温度におけるアニール処理時間 は長くなる。従って、アニール処理を行う温度は、第1の結晶化温度のオンセッ トを超えるのが好ましい。しかしながら、幾つかのアニール処理条件(過度な温 度、時間、あるいは、これらの組み合わせ)は、その結果生ずる製品の全体的な 柔軟な磁気特性を低下させる、第2の結晶質相を形成する。従って、合金は、第 1の結晶化温度のオンセットと第2の結晶化温度のオンセットとの間の温度で、 アニール処理されるのが好ましい。第1及び第2の結晶化温度のオンセットの中 間点付近にあるアニール処理温度は、最も良好な調和特性を達成し、従って、特 に好ましい。例えば、合金Fe40Ni38Mo418は、439゜Cで第1の結晶 化温度を示し、524゜Cで第2の結晶化温度を示す。これら2つの温度の間の 中間点は、482゜Cである。好ましい温度範囲は、約450゜Cから約490 ゜Cであり、最も好ましい温度範囲は、約4700゜Cから約4900゜Cであ る。 本発明の合金は、磁場なしでも、又は、長手方向の磁場の影響下でも、アニー ル処理することができる。磁場アニール処理を受けない合金に関しては、アニー ル処理温度は、第1及び第2の結晶化温度の中間点よりも低いのが好ましく、上 記中間点よりも約10゜Cから約30゜C低いのが最も好ましい。長手方向の磁 場の影響下でアニール処理を受ける合金に関しては、そのような合金は、上記中 間点付近、例えば、上記中間点の±10゜Cの範囲内の温度で、アニール処理さ れるのが好ましい。長手方向の磁場においてアニール処理された合金は、最も高 い調和出力を示すので、好ましい。長手方向の磁場は、約20エルステッドを超 えないのが好ましく、約10エルステッドであるのが最も好ましい。 上述のように、アニール処理の長さは、使用するアニール処理温度、及び、磁 場に応じて変化する。アニール処理温度の好ましい範囲(第1及び第2の結晶化 温度が出現する間の温度範囲)に関しては、アニール処理温度は、約半時間から 約2時間であるのが好ましく、約半時間から約1時間であるのが最も好ましい。 アニール処理は、窒素雰囲気等の不活性雰囲気中で行うのが最も好ましい。 MがMoである合金のファミリーに関しては、上記第1のアニール処理の間に 形成されたナノ結晶粒子は、実質的にfccの結晶構造を示し、NiFeMo構 造から実質的に構成される。これらのナノ結晶粒子は一般に、Ni基材であり、 約100nmよりも大きい有効粒子径まで成長させてはならず、約30nmより も大きい有効粒子径まで成長させないのが好ましい。10nmあるいはそれ以下 の有効粒子径を有するナノ結晶粒子が、最も好ましい。Moを含む合金に関して は、第2の結晶化温度あるいはそれ以上の温度におけるアニール処理が、ホウ化 物基材の第2の結晶質相を形成し、その結果生ずる製品の全体的な軟質磁気特性 を低下させる。 本発明の合金は、鋳造され、次に、アニール処理されるので、そのような合金 は、概ね良好な延性の利点を利用するために、鋳放し状態(as−cast s tate)で加工することができる。 本発明のプロセスに従ってアニール処理された合金は、そのようなアニール処 理を受けていない合金のストリップに比較して、大幅に改善された調和特性を示 すマーカーを生成する。本発明のマーカーの調和信号は、そのようなマーカーの 長さ、幅及び厚みを変化させることにより、更に変えることができる。本発明の マーカーは、一般に使用される物品監視装置を殆どあるいは全く変更することな く、そのような物品監視装置に使用することができる。 以下の例は、例示的なものであり、限定的なものではない。当業者には、種々 の変形例が自明である。本発明の真の精神及び範囲は、添付の請求の範囲によっ て判定されるべきものであり、以下の例によって限定されるべきではない。例 1 Fe40Ni38Mo418の公称組成を有する合金が、プレーナ・フロー鋳造に よって鋳造された。その結果生じた合金は、パーキン・エルマーDSC−2C差 動走査型熱量計の中で、20゜C/minの加熱速度で加熱した時に、439° C及び524°Cにおいて、2つの結晶化温度の出現を示した。第1の結晶化温 度は、Ni−Fe−Mo相に相当し、第2の結晶化温度は、6:23のホウ化物 相に相当する。リボンの長さに沿って切断した、66.7mm×1.59mm (2 5/8インチ×1/16インチ)の寸法の5つのストリップが、下の表1 に示す各々の条件において、アニール処理された。調和信号(15乃至18倍の 強さの調和)が、10kHzの周波数、及び、1.2エルステッドの駆動場にお いて測定された。各々の試験に関する、平均調和信号、及び、標準偏差も、下の 表1に示されている。 * 1つのストリップ破断 ** 2つのストリップ破断 図1は、アニール処理温度の関数として調和信号をプロットしたものを示して いる。鋳放しの非晶質ストリップの信号は、0.29Vpp(出力軸線に沿う白丸 印で示されている)である。10エルステッドの長手方向の磁場の中で1時間ア ニール処理されたマーカーに関する平均調和出力は、白四角印を繋ぐ線で示され ている。磁場を用いずに半時間アニール処理されたマーカーに関する平均調和出 力は、黒四角印を繋ぐ線で示されている。10エルステッドの長手方向の磁場の 中で半時間アニール処理されたマーカーに関する平均調和出力は、×印を繋ぐ線 で示されている。磁場を用いずに半時間アニール処理されたマーカーに関する平 均調和出力は、横棒印を繋ぐ線で示されている。0.82Vppの最大平均調和信 号が、10エルステッドの長手方向の磁場の中で480゜Cで30分間アニール 処理されたストリップに関して測定され、調和信号が183%増大した。440 ゜C及び500゜Cの間の温度で半時間アニール処理された合金、及び、低い温 度で1時間アニール処理された合金は総て、アニール処理されていないマーカー に比較して、改善を示し、非晶質状態からナノ結晶状態へ移行する際に、調和信 号の増大を示した。極端なアニール処理条件(500゜Cよりも高い温度、ある いは、時間及び温度の組み合わせが過度である)においては、調和信号は減少し 、第2の結晶質相が形成されることを示した。10エルステッドの磁場の中で、 460゜C及び500゜Cの間の温度で30分間アニール処理された合金に関す る調和信号は、アニール処理されていない合金よりも、約50%高い調和出力を 示し、また、約470゜C及び490゜Cの間の温度でアニール処理された合金 に関する調和出力は、同じ組成を有するアニール処理されていない合金よりも約 100%高い。このような調和出力の驚くべき増大は、銅を添加することなく、 従来技術に開示されるアニール処理条件よりも概ね緩やかなアニール処理条件で 達成される。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.マーカーの調和出力を高めるための方法において、 (Fe1-xNixab(B1-ySiyc(「X」は、約0.2から約0.9の 範囲であり、「y」は、0から約0.5までの範囲であり、「a」は、約60原 子%と約90の原子%との間であり、「b」は、約0.1原子%と約10原子% との間であり、「c」は、約0.1原子%と約30原子%との間であり、Mは、 Mo、Cr、Hf、Nb、Ta、Ti、V、W、及び、Zrから成る群から選択 された少なくとも1つの金属である)の組成を有すると共に、ナノ結晶相が形成 される第1の結晶化温度、及び、第2の結晶質相が形成される第2の結晶化温度 である少なくとも2つの結晶化温度を有する非晶質合金を準備する工程と、 前記第1及び第2の結晶化温度の間の温度において、マーカーの少なくとも1 つの調和特性を増大させるに十分な時間にわたって、前記アモルファス合金をア ニール処理する工程とを備えることを特徴とする方法。 2.請求項1の方法において、前記非晶質合金が、ストリップであることを特 徴とする方法。 3.請求項2の方法において、前記ストリップが、磁場を受けない状態で、ア ニール処理されることを特徴とする方法。 4.請求項2の方法において、前記ストリップが、前記第1及び第2の結晶化 温度の中間の温度の20゜以内の温度において、アニール処理されることを特徴 とする方法。 5.請求項4の方法において、前記合金のストリップが、約半時間から約1時 間の時間にわたって、アニール処理されることを特徴とする方法。 6.請求項2の方法において、前記ストリップが、前記第1及び第2の結晶化 温度の中間の温度の10゜以内の温度でアニール処理されることを特徴とする方 法。 7.請求項6の方法において、「x」が、約0.48と約0.9との間にあり 、「y」が、0と約0.5との間にあり、「a」が、約70原子%と約87原子 %との間にあり、「b」が、約1.0と約8.0との間にあり、「c」が、約1 3 原子%と30原子%との間にあり、Mが、Cr、Ta及びMoの群から選択され ることを特徴とする方法。 8.調和マーカーにおいて、 非晶質の軟質磁性合金を備え、該合金が、(Fe1-xNixab(B1-ySiy )。(「x」は、約0.2から約0.9の範囲であり、「y」は、0から約0. 5までの範囲であり、「a」は、約60原子%と約90の原子%との間であり、 「b」は、約0.1原子%と約10原子%との間であり、「c」は、約0.1原 子%と約30原子%との間であり、Mは、Mo、Cr、Hf、Nb、Ta、Ti 、V、W、及び、Zrから成る群から選択された少なくとも1つの金属である) の組成を有しており、前記合金が、非晶質マトリックスに対してナノ結晶粒子を 与えるに十分な条件下で、アニール処理されており、そのようなアニール処理を 受けていない合金に比較して改善された少なくとも1つの調和特性を有すること を特徴とする調和マーカー。 9.請求項8の調和マーカーにおいて、前記改善された調和特性が、調和出力 電圧であることを特徴とする調和マーカー。 10.マーカーの調和出力を高めるための方法において、 (Fe1-xNixab(B1-ySiyc(「x」は、約0.2から約0.9の 範囲であり、「y」は、0から約0.5までの範囲であり、「a」は、約60原 子%と約90の原子%との間であり、「b」は、約0.1原子%と約10原子% との間であり、「c」は、約0.1原子%と約30原子%との間であり、Mは、 Mo、Cr、Hf、Nb、Ta、Ti、V、W、及び、Zrから成る群から選択 された少なくとも1つの金属である)の組成を有すると共に、ナノ結晶相が形成 される第1の結晶化温度、及び、第2の結晶質相が形成される第2の結晶化温度 である少なくとも2つの結晶化温度を有する非晶質合金を準備する工程を備え、 前記第1及び第2の結晶化温度の間の温度において、当該マーカーの少なくとも 1つの調和特性を増大させるに十分な時間にわたって、アニール処理が実行され ることを特徴とする方法。
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