JPH0862133A - 顕微赤外分光光度計 - Google Patents
顕微赤外分光光度計Info
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- JPH0862133A JPH0862133A JP22251194A JP22251194A JPH0862133A JP H0862133 A JPH0862133 A JP H0862133A JP 22251194 A JP22251194 A JP 22251194A JP 22251194 A JP22251194 A JP 22251194A JP H0862133 A JPH0862133 A JP H0862133A
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- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 abstract description 12
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 abstract description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 非線形現象を利用し、微小領域の赤外吸収ス
ペクトルの測定を可能とする。 【構成】 光源１に波長可変赤外線レーザを用い、試料
を透過した赤外ビーム４を非線形材料の結晶５に入射
し、そこから得られる２次または３次高調波６をアパー
チャ８で絞り込む。その結果、従来の１／２〜１／３の
微小領域のＩＲスペクトル測定が可能となる。
ペクトルの測定を可能とする。 【構成】 光源１に波長可変赤外線レーザを用い、試料
を透過した赤外ビーム４を非線形材料の結晶５に入射
し、そこから得られる２次または３次高調波６をアパー
チャ８で絞り込む。その結果、従来の１／２〜１／３の
微小領域のＩＲスペクトル測定が可能となる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は顕微赤外分光光度計に関
し、特に微小領域の赤外線吸収スペクトルの測定が可能
な顕微赤外分光光度計に関するものである。
し、特に微小領域の赤外線吸収スペクトルの測定が可能
な顕微赤外分光光度計に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図２に従来の微小領域の赤外吸収スペク
トル（以下、ＩＲスペクトルと略す。）の測定法の概略
を透過法を例として示す。微小領域のＩＲスペクトル
は、白色光源２１から出射された２．５〜２５μｍの波
長をもつ赤外ビーム２２をある程度収束し、試料２３に
透過させて試料の情報を含ませ、該情報を含む赤外ビー
ム２４のうち観測対象領域以外の情報をもつ赤外ビーム
をアパーチャ２６で除外し、観察対象領域のビーム２７
のみを検出器２８で検出し、電気信号に変換してデータ
処理装置２９に送り、ＩＲスペクトルに変換することに
より得られる。
トル（以下、ＩＲスペクトルと略す。）の測定法の概略
を透過法を例として示す。微小領域のＩＲスペクトル
は、白色光源２１から出射された２．５〜２５μｍの波
長をもつ赤外ビーム２２をある程度収束し、試料２３に
透過させて試料の情報を含ませ、該情報を含む赤外ビー
ム２４のうち観測対象領域以外の情報をもつ赤外ビーム
をアパーチャ２６で除外し、観察対象領域のビーム２７
のみを検出器２８で検出し、電気信号に変換してデータ
処理装置２９に送り、ＩＲスペクトルに変換することに
より得られる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】アパーチャで絞ること
のできる赤外ビーム径の限界はビームの波長に依存し、
１０μｍの波長をもつビームであれば、１０μｍφ以下
に絞ることは困難である。有用なＩＲスペクトルを得る
には、少なくとも２．５〜１４μｍの波長領域で連続的
な波長をもつ赤外ビームが必要で、この場合、アパーチ
ャで絞れるビーム径の限界は約１４μｍφとなる。従っ
て、それ以下の領域のＩＲスペクトルを得ることはでき
ないという問題点があった。本発明の目的は、このよう
な従来の問題点を解決することにある。
のできる赤外ビーム径の限界はビームの波長に依存し、
１０μｍの波長をもつビームであれば、１０μｍφ以下
に絞ることは困難である。有用なＩＲスペクトルを得る
には、少なくとも２．５〜１４μｍの波長領域で連続的
な波長をもつ赤外ビームが必要で、この場合、アパーチ
ャで絞れるビーム径の限界は約１４μｍφとなる。従っ
て、それ以下の領域のＩＲスペクトルを得ることはでき
ないという問題点があった。本発明の目的は、このよう
な従来の問題点を解決することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、試料にコヒー
レントな赤外光を照射する赤外光光源と、前記試料を透
過した透過赤外ビームを検出する検出器と、前記試料と
前記検出器との間に配置され、前記透過赤外ビームを入
射して２次または３次高調波とする非線形光学材料の結
晶と、前記非線形光学材料結晶の検出器側に配置され
て、前記２次または３次高長波を絞り込むアパーチャと
を備えてなることを特徴とする顕微赤外分光光度計であ
る。ここで、赤外光光源としては、波長可変赤外線レー
ザがあげられる。
レントな赤外光を照射する赤外光光源と、前記試料を透
過した透過赤外ビームを検出する検出器と、前記試料と
前記検出器との間に配置され、前記透過赤外ビームを入
射して２次または３次高調波とする非線形光学材料の結
晶と、前記非線形光学材料結晶の検出器側に配置され
て、前記２次または３次高長波を絞り込むアパーチャと
を備えてなることを特徴とする顕微赤外分光光度計であ
る。ここで、赤外光光源としては、波長可変赤外線レー
ザがあげられる。
【０００５】
【作用】本発明は、波長可変赤外線レーザ等のコヒーレ
ントな光源をもち、非線形光学材料の結晶をアパーチャ
の前に設置し、試料の情報を含んだ赤外ビームを透過さ
せ、そこから得られる波長が１／２の２次高調波、また
は１／３の３次高調波をアパーチャで絞ることで、絞れ
るビーム径の限界を従来の１／２〜１／３に向上させ、
この微小領域のＩＲスペクトルの測定を可能とするもの
である。
ントな光源をもち、非線形光学材料の結晶をアパーチャ
の前に設置し、試料の情報を含んだ赤外ビームを透過さ
せ、そこから得られる波長が１／２の２次高調波、また
は１／３の３次高調波をアパーチャで絞ることで、絞れ
るビーム径の限界を従来の１／２〜１／３に向上させ、
この微小領域のＩＲスペクトルの測定を可能とするもの
である。
【０００６】
【実施例】次に本発明の実施例について、透過法の場合
を例とし、図１を参照して示す。本装置は、コヒーレン
トな赤外ビーム２を試料３に照射する光源１と、試料３
の検出器側に配置された非線形光学材料よりなる結晶５
と、この非線形光学材料の結晶５の検出器側に配置され
たアパーチャ８および検出器１０を含む。光源１から出
たコヒーレントな赤外ビーム２は試料３を透過し、試料
の情報を含む。この試料の情報を含む赤外ビーム４が非
線形光学材料の結晶５を透過したとき、２次または３次
高調波６が得られる。この２次または３次高調波６の波
長は、赤外ビーム２および４の１／２または１／３にな
っている。この２次または３次高調波６の観測対象領域
以外をアパーチャ８で除外し、観測対象領域のビーム９
のみを検出器１０へと導く。観測対象領域のビーム９は
検出器１０で電気信号に変換されデータ処理装置１１へ
送られ、ＩＲスペクトルへ変換される。
を例とし、図１を参照して示す。本装置は、コヒーレン
トな赤外ビーム２を試料３に照射する光源１と、試料３
の検出器側に配置された非線形光学材料よりなる結晶５
と、この非線形光学材料の結晶５の検出器側に配置され
たアパーチャ８および検出器１０を含む。光源１から出
たコヒーレントな赤外ビーム２は試料３を透過し、試料
の情報を含む。この試料の情報を含む赤外ビーム４が非
線形光学材料の結晶５を透過したとき、２次または３次
高調波６が得られる。この２次または３次高調波６の波
長は、赤外ビーム２および４の１／２または１／３にな
っている。この２次または３次高調波６の観測対象領域
以外をアパーチャ８で除外し、観測対象領域のビーム９
のみを検出器１０へと導く。観測対象領域のビーム９は
検出器１０で電気信号に変換されデータ処理装置１１へ
送られ、ＩＲスペクトルへ変換される。
【０００７】非線形現象を利用するためには、コヒーレ
ントな光を非線形光学材料の結晶に入射しなくてはなら
ない。また、ＩＲスペクトルを得るには、２．５〜１４
μｍの波長領域をもつ赤外ビームを試料に照射する必要
がある。したがって、本発明においては、光源１に波長
可変赤外線レーザ等を用い、２．５〜１４μｍの波長領
域を連続的に掃引する。これにより、非線形光学材料の
結晶５を透過したときに得られる２次または３次高調波
の波長は、１．２５〜７μｍ、または０．８３〜４．６
７μｍとなり、アパーチャ８により絞れる限界が、従来
の１４μｍφから、７μｍφまたは４．６７μｍφへと
向上し、ＩＲスペクトルを得ることのできる試料領域
が、従来の１４μｍφから、７μｍφまたは４．６７μ
ｍφへと狭くなり、より狭い領域のＩＲスペクトルを得
ることが可能となる。
ントな光を非線形光学材料の結晶に入射しなくてはなら
ない。また、ＩＲスペクトルを得るには、２．５〜１４
μｍの波長領域をもつ赤外ビームを試料に照射する必要
がある。したがって、本発明においては、光源１に波長
可変赤外線レーザ等を用い、２．５〜１４μｍの波長領
域を連続的に掃引する。これにより、非線形光学材料の
結晶５を透過したときに得られる２次または３次高調波
の波長は、１．２５〜７μｍ、または０．８３〜４．６
７μｍとなり、アパーチャ８により絞れる限界が、従来
の１４μｍφから、７μｍφまたは４．６７μｍφへと
向上し、ＩＲスペクトルを得ることのできる試料領域
が、従来の１４μｍφから、７μｍφまたは４．６７μ
ｍφへと狭くなり、より狭い領域のＩＲスペクトルを得
ることが可能となる。
【０００８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば従
来の１／２〜１／３の微小領域のＩＲスペクトル測定が
可能となる。
来の１／２〜１／３の微小領域のＩＲスペクトル測定が
可能となる。
【図１】本発明による顕微赤外分光光度計の一実施例の
構成図である。
構成図である。
【図２】従来例による顕微赤外分光光度計の一例の構成
図である。
図である。
１ 光源 ２ 赤外ビーム ３ 試料 ４ 試料の情報を含む赤外ビーム ５ 非線形光学材料の結晶 ６ ２次または３次高調波 ８ アパーチャ ９ 観察対象領域のビーム １０ 検出器 １１ データ処理装置 ２１ 光源 ２２ 赤外ビーム ２３ 試料 ２４ 試料の情報を含む赤外ビーム ２６ アパーチャ ２７ 観察対象領域のビーム ２８ 検出器 ２９ データ処理装置
Claims (2)
- 【請求項１】 試料にコヒーレントな赤外光を照射する
赤外光光源と、前記試料を透過した透過赤外ビームを検
出する検出器と、前記試料と前記検出器との間に配置さ
れ、前記透過赤外ビームを入射して２次または３次高調
波とする非線形光学材料の結晶と、前記非線形光学材料
結晶の検出器側に配置されて、前記２次または３次高調
波を絞り込むアパーチャとを備えてなることを特徴とす
る顕微赤外分光光度計。 - 【請求項２】 赤外光光源が波長可変赤外線レーザであ
る請求項１記載の顕微赤外分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22251194A JP2581016B2 (ja) | 1994-08-24 | 1994-08-24 | 顕微赤外分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22251194A JP2581016B2 (ja) | 1994-08-24 | 1994-08-24 | 顕微赤外分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0862133A true JPH0862133A (ja) | 1996-03-08 |
| JP2581016B2 JP2581016B2 (ja) | 1997-02-12 |
Family
ID=16783583
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22251194A Expired - Fee Related JP2581016B2 (ja) | 1994-08-24 | 1994-08-24 | 顕微赤外分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2581016B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2312805A (en) * | 1996-05-03 | 1997-11-05 | Yeda Res & Dev | Scanning laser microscopy using only 3rd harmonics |
| KR101487812B1 (ko) * | 2013-06-07 | 2015-01-30 | 한국과학기술연구원 | 적외선을 이용한 깊이 정보 추출 장치 및 방법 |
| GB2624663A (en) * | 2022-11-24 | 2024-05-29 | Univ Nottingham Trent | A frequency conversion device for use with an infrared imaging system |
-
1994
- 1994-08-24 JP JP22251194A patent/JP2581016B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2312805A (en) * | 1996-05-03 | 1997-11-05 | Yeda Res & Dev | Scanning laser microscopy using only 3rd harmonics |
| US5828459A (en) * | 1996-05-03 | 1998-10-27 | Yeda Research And Development Co. Ltd. | Apparatus and method for scanning laser microscopy |
| GB2312805B (en) * | 1996-05-03 | 2000-06-21 | Yeda Res & Dev | Apparatus and method for scanning laser microscopy |
| DE19718909B4 (de) * | 1996-05-03 | 2004-04-08 | Yeda Research And Development Co., Ltd. | Vorrichtung und Verfahren für Laser-Rastermikroskopie |
| KR101487812B1 (ko) * | 2013-06-07 | 2015-01-30 | 한국과학기술연구원 | 적외선을 이용한 깊이 정보 추출 장치 및 방법 |
| GB2624663A (en) * | 2022-11-24 | 2024-05-29 | Univ Nottingham Trent | A frequency conversion device for use with an infrared imaging system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2581016B2 (ja) | 1997-02-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |