JPH0865124A - 低電圧集積電源回路のための電気スイッチ - Google Patents
低電圧集積電源回路のための電気スイッチInfo
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- JPH0865124A JPH0865124A JP7194623A JP19462395A JPH0865124A JP H0865124 A JPH0865124 A JP H0865124A JP 7194623 A JP7194623 A JP 7194623A JP 19462395 A JP19462395 A JP 19462395A JP H0865124 A JPH0865124 A JP H0865124A
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 28
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims abstract description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- QUZPNFFHZPRKJD-UHFFFAOYSA-N germane Chemical group [GeH4] QUZPNFFHZPRKJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/51—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
- H03K17/56—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
- H03K17/687—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors
- H03K17/6871—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors the output circuit comprising more than one controlled field-effect transistor
- H03K17/6872—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors the output circuit comprising more than one controlled field-effect transistor using complementary field-effect transistors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/06—Modifications for ensuring a fully conducting state
- H03K2017/066—Maximizing the OFF-resistance instead of minimizing the ON-resistance
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
- H03K2217/0018—Special modifications or use of the back gate voltage of a FET
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- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ボディ効果の欠点を除去できる簡単な回路の
MOSトランジスタを有する電気スイッチを提供する。 【解決手段】 2つの接続端子(A,B)間に直列に挿
入されたpチャネルトランジスタ(M1,M2)のペア
と、上記ペアトランジスタの接続ノードと最小電圧基準
VSSとの間に挿入されたnチャネルの第3トランジス
タM3と、上記トランジスタペア(M1,M2)と並列
に設けられたnチャネルの第4トランジスタとを備え、
上記ペアのトランジスタの基板は、接続端子(A,B)
に接続され、第3トランジスタM3と第4トランジスタ
M4の両方の基板は電圧基準VSSに接続される。
MOSトランジスタを有する電気スイッチを提供する。 【解決手段】 2つの接続端子(A,B)間に直列に挿
入されたpチャネルトランジスタ(M1,M2)のペア
と、上記ペアトランジスタの接続ノードと最小電圧基準
VSSとの間に挿入されたnチャネルの第3トランジス
タM3と、上記トランジスタペア(M1,M2)と並列
に設けられたnチャネルの第4トランジスタとを備え、
上記ペアのトランジスタの基板は、接続端子(A,B)
に接続され、第3トランジスタM3と第4トランジスタ
M4の両方の基板は電圧基準VSSに接続される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、集積回路のため
のスイッチング回路に関し、特に、CMOS技術を用い
て集積された低電圧電源回路のための電気スイッチに関
するものである。
のスイッチング回路に関し、特に、CMOS技術を用い
て集積された低電圧電源回路のための電気スイッチに関
するものである。
【0002】
【従来の技術】スイッチング回路は、例えば、高調波歪
みが軽減されるフィルタのためのスイッチコンデンサの
ように、種々の集積回路に欠くことができない。このよ
うなフィルタでは、MOSトランジスタで実現される電
気スイッチが、位相の重畳のない別のタイミング信号で
駆動される。
みが軽減されるフィルタのためのスイッチコンデンサの
ように、種々の集積回路に欠くことができない。このよ
うなフィルタでは、MOSトランジスタで実現される電
気スイッチが、位相の重畳のない別のタイミング信号で
駆動される。
【0003】当業者によく使用される電気スイッチのか
なり簡単なタイプは、それぞれのソースとドレイン端子
が相互に並列に接続された2つの相補性CMOSトラン
ジスタを有する所謂パストランジスタ(pass tr
ansistor)である。
なり簡単なタイプは、それぞれのソースとドレイン端子
が相互に並列に接続された2つの相補性CMOSトラン
ジスタを有する所謂パストランジスタ(pass tr
ansistor)である。
【0004】このスイッチは少なくとも5V程度の十分
に高い電源電圧を有する集積回路においては欠点を生じ
ない。
に高い電源電圧を有する集積回路においては欠点を生じ
ない。
【0005】しかし、電源電圧が低くなり、典型的には
3V程度になると、多くの集積回路において生じる傾向
がある、技術文献でボディ(body)効果として知ら
れる効果を考慮する必要が生じる。ここで、ボディとい
う言葉は、トランジスタの実際の基板を示している。
3V程度になると、多くの集積回路において生じる傾向
がある、技術文献でボディ(body)効果として知ら
れる効果を考慮する必要が生じる。ここで、ボディとい
う言葉は、トランジスタの実際の基板を示している。
【0006】実際に、どんなCMOS製造工程において
も、2つの相補性トランジスタの内の1つはウエルまた
はタブとよばれるそれ自身の基板の中に形成される。
も、2つの相補性トランジスタの内の1つはウエルまた
はタブとよばれるそれ自身の基板の中に形成される。
【0007】例えば、NウエルCMOS製造工程におい
ては、Nウエルで定義される独立した基板に設けられる
のは、pチャネルトランジスタであり、pウエルCMO
S製造工程においてはその逆である。
ては、Nウエルで定義される独立した基板に設けられる
のは、pチャネルトランジスタであり、pウエルCMO
S製造工程においてはその逆である。
【0008】当業者において知られているように、CM
OSタイプの集積回路のトランジスタが導通するとき
に、実際のスレッショルド電圧はボディ効果に依存す
る。このボディ効果によって、トランジスタの実際のス
レッショルド電圧VTHは、トランジスタのソースとボ
ディの間の電圧VSBがゼロ以外になったとき、すなわ
ち、トランジスタ基板がソース領域に短絡されず、しか
も、ソース領域が基板から絶縁され最も高くなっている
ときに、その絶対値が増加する。
OSタイプの集積回路のトランジスタが導通するとき
に、実際のスレッショルド電圧はボディ効果に依存す
る。このボディ効果によって、トランジスタの実際のス
レッショルド電圧VTHは、トランジスタのソースとボ
ディの間の電圧VSBがゼロ以外になったとき、すなわ
ち、トランジスタ基板がソース領域に短絡されず、しか
も、ソース領域が基板から絶縁され最も高くなっている
ときに、その絶対値が増加する。
【0009】パストランジスタの最適動作のためには、
nチャネルトランジスタ基板が集積回路内に存在する最
低電位に維持され、一方、pチャネルトランジスタの基
板が最高電位に維持される。
nチャネルトランジスタ基板が集積回路内に存在する最
低電位に維持され、一方、pチャネルトランジスタの基
板が最高電位に維持される。
【0010】電源電圧が大変低い場合は、ある電圧値に
おいて、スイッチの2端子では、ボディ効果のために、
パストランジスタを構成する2つのトランジスタの少な
くとも1つが伝導のためのスイッチを行い、こうしてス
イッチの正しい動作を行うことができなくなる可能性が
ある。
おいて、スイッチの2端子では、ボディ効果のために、
パストランジスタを構成する2つのトランジスタの少な
くとも1つが伝導のためのスイッチを行い、こうしてス
イッチの正しい動作を行うことができなくなる可能性が
ある。
【0011】これに対し、F.Krummenache
r,H.Pinier、そして、A.Gullaume
等による論文“Higher Sampling Ra
tes in SCCircuit by On−Ch
ip Clock−Voltage Multipli
cation”によれば、当業者によって用いられてい
る解決方法は、反対位相の昇圧された電圧(bolta
ge−boosted)、すなわち、この信号は電源電
圧の値に関し殆ど2倍に増幅されている電圧信号でスイ
ッチトランジスタを駆動することである。
r,H.Pinier、そして、A.Gullaume
等による論文“Higher Sampling Ra
tes in SCCircuit by On−Ch
ip Clock−Voltage Multipli
cation”によれば、当業者によって用いられてい
る解決方法は、反対位相の昇圧された電圧(bolta
ge−boosted)、すなわち、この信号は電源電
圧の値に関し殆ど2倍に増幅されている電圧信号でスイ
ッチトランジスタを駆動することである。
【0012】スイッチの正しい動作がこうして低い電源
電圧でも確保される。しかし、この解決方法は、信号を
駆動する昇圧された電圧を発生するための複雑な回路を
必要とするという欠点がある。
電圧でも確保される。しかし、この解決方法は、信号を
駆動する昇圧された電圧を発生するための複雑な回路を
必要とするという欠点がある。
【0013】この発明の技術課題は、ボディ効果の欠点
を除去できる簡単な回路のMOSトランジスタを有する
電気スイッチを提供することにある。
を除去できる簡単な回路のMOSトランジスタを有する
電気スイッチを提供することにある。
【0014】この技術課題は上述したタイプの電気スイ
ッチで、請求項の特徴部分によって明らかにされる電気
スイッチにより解決される。
ッチで、請求項の特徴部分によって明らかにされる電気
スイッチにより解決される。
【0015】この発明による電気スイッチの特徴と効果
が、以下に図面を参照した実施形態により説明される。
が、以下に図面を参照した実施形態により説明される。
【0016】
実施の形態1.この発明の電気スイッチは、どんなCM
OS製造工程においても、2つのトランジスタの内の1
つは、他のトランジスタが設けられる活性基板の反対の
伝導性を有するそれ自身の基板内に設けられるというこ
とを利用することによって提供される。
OS製造工程においても、2つのトランジスタの内の1
つは、他のトランジスタが設けられる活性基板の反対の
伝導性を有するそれ自身の基板内に設けられるというこ
とを利用することによって提供される。
【0017】図に示された回路を利用し、その図に含ま
れる相補性トランジスタの基板を集積回路の最大電位基
準と最小電位基準に適当に接続することにより、ボディ
効果のないこの発明の電気スイッチを得ることができ
る。
れる相補性トランジスタの基板を集積回路の最大電位基
準と最小電位基準に適当に接続することにより、ボディ
効果のないこの発明の電気スイッチを得ることができ
る。
【0018】図1においては、2つの接続端子A,Bの
間のソースとドレインによって互いに直列に挿入された
第1、第2pチャネルトランジスタM1,M2が示され
ている。
間のソースとドレインによって互いに直列に挿入された
第1、第2pチャネルトランジスタM1,M2が示され
ている。
【0019】nチャネルを有する第3トランジスタM3
は、トランジスタM1,M2の接続ノードとこの発明に
よる電気スイッチを有する集積回路の最小電位基準VS
Sの間に挿入される。
は、トランジスタM1,M2の接続ノードとこの発明に
よる電気スイッチを有する集積回路の最小電位基準VS
Sの間に挿入される。
【0020】また、nチャネルを有する第4トランジス
タは、ソースとドレイン端子によって、トランジスタM
1,M2と並列に接続端子A,B間に挿入される。
タは、ソースとドレイン端子によって、トランジスタM
1,M2と並列に接続端子A,B間に挿入される。
【0021】トランジスタM1の基板と、トランジスタ
M2の基板はそれぞれスイッチ接続端子A,Bに接続さ
れている。
M2の基板はそれぞれスイッチ接続端子A,Bに接続さ
れている。
【0022】トランジスタM3,M4の基板は電圧基準
VSSに接続されている。トランジスタM4はゲート端
子を通して、φバー信号で駆動されるトランジスタM
1,M2の逆の位相信号φで駆動される。このφバー信
号は、トランジスタM1,M2のゲート端子とインバー
タを介してφ信号によって駆動されるトランジスタM3
に印加される。
VSSに接続されている。トランジスタM4はゲート端
子を通して、φバー信号で駆動されるトランジスタM
1,M2の逆の位相信号φで駆動される。このφバー信
号は、トランジスタM1,M2のゲート端子とインバー
タを介してφ信号によって駆動されるトランジスタM3
に印加される。
【0023】図2は、反対の極性を有するデュアルケー
スを示す。ここにおいて基準VDDは、集積回路内にお
いて最大電圧基準である。
スを示す。ここにおいて基準VDDは、集積回路内にお
いて最大電圧基準である。
【0024】図3に示されるように、トランジスタM3
はnチャネルに代わるpチャネルを有し、それゆえ、そ
の基板は図1に示す図とは異なり、集積回路の最大電圧
基準VDDに接続され、最小電圧基準VSSには接続さ
れていない。
はnチャネルに代わるpチャネルを有し、それゆえ、そ
の基板は図1に示す図とは異なり、集積回路の最大電圧
基準VDDに接続され、最小電圧基準VSSには接続さ
れていない。
【0025】このトランジスタM3は、トランジスタM
1,M2に関して反対の位相で駆動されなければならな
い。このトランジスタM1,M2の基板はこれらのトラ
ンジスタM1,M2とトランジスタM3の間の接続ノー
ドに接続される。
1,M2に関して反対の位相で駆動されなければならな
い。このトランジスタM1,M2の基板はこれらのトラ
ンジスタM1,M2とトランジスタM3の間の接続ノー
ドに接続される。
【0026】図4は、図3とは異なる反対極性を有する
デュアルケースを示している。図1、図2、図3及び図
4に示される回路図においては、1つのトランジスタM
4が他の2つのトランジスタM1,M2と並列に接続さ
れている。
デュアルケースを示している。図1、図2、図3及び図
4に示される回路図においては、1つのトランジスタM
4が他の2つのトランジスタM1,M2と並列に接続さ
れている。
【0027】これは、通常のCMOS集積製造工程につ
いての最も簡単な解決方法である。しかしながら、例え
ば、Bi−CMOSタイプ一般のように“ツインタブ
(twin tub)”CMOS集積製造工程において
は、その1つのトランジスタM4は他の直列に接続され
たペアのトランジスタと、そのペアのトランジスタを介
して電圧基準に接続された接続ノードとに置き換えるこ
とができる。
いての最も簡単な解決方法である。しかしながら、例え
ば、Bi−CMOSタイプ一般のように“ツインタブ
(twin tub)”CMOS集積製造工程において
は、その1つのトランジスタM4は他の直列に接続され
たペアのトランジスタと、そのペアのトランジスタを介
して電圧基準に接続された接続ノードとに置き換えるこ
とができる。
【0028】図5と図6は、可能な実施形態を示し、そ
れぞれ請求項12、請求項13に対応している。この発
明の基本的な特徴は、直列に接続されたトランジスタの
基板が、全ての動作状態において、それぞれそれら自身
のトランジスタの端子に接続されることである。こうし
て、所謂ボディ効果を避け、トランジスタペアと電圧基
準との間に挿入されたトランジスタは、スイッチが開成
したときに不都合な電荷が注入されることから免れる。
れぞれ請求項12、請求項13に対応している。この発
明の基本的な特徴は、直列に接続されたトランジスタの
基板が、全ての動作状態において、それぞれそれら自身
のトランジスタの端子に接続されることである。こうし
て、所謂ボディ効果を避け、トランジスタペアと電圧基
準との間に挿入されたトランジスタは、スイッチが開成
したときに不都合な電荷が注入されることから免れる。
【0029】信号φバーではなく、信号φで駆動される
後者のトランジスタM3のために、インバータの使用は
不可欠ではないが、直列のトランジスタペアをオフした
後のみそれが駆動されるのを確実にさせることができ
る。
後者のトランジスタM3のために、インバータの使用は
不可欠ではないが、直列のトランジスタペアをオフした
後のみそれが駆動されるのを確実にさせることができ
る。
【0030】明らかに、この発明の範囲から逸脱しない
範囲で、上述した実施例の回路の変形を行うことができ
る。
範囲で、上述した実施例の回路の変形を行うことができ
る。
【図1】伝統的なCMOS製造工程により製造される集
積回路に適用される、この発明の電気スイッチの回路図
である。
積回路に適用される、この発明の電気スイッチの回路図
である。
【図2】伝統的なCMOS製造工程により製造される集
積回路に適用される、この発明の電気スイッチの回路図
である。
積回路に適用される、この発明の電気スイッチの回路図
である。
【図3】伝統的なCMOS製造工程により製造される集
積回路に適用される、この発明の電気スイッチの回路図
である。
積回路に適用される、この発明の電気スイッチの回路図
である。
【図4】伝統的なCMOS製造工程により製造される集
積回路に適用される、この発明の電気スイッチの回路図
である。
積回路に適用される、この発明の電気スイッチの回路図
である。
【図5】請求項12に対応するツインタブタイプのCM
OS製造工程により製造される集積回路に適用される、
この発明の電気スイッチの回路図である。
OS製造工程により製造される集積回路に適用される、
この発明の電気スイッチの回路図である。
【図6】請求項13に対応するツインタブタイプのCM
OS製造工程により製造される集積回路に適用される、
この発明の電気スイッチの回路図である。
OS製造工程により製造される集積回路に適用される、
この発明の電気スイッチの回路図である。
M1 第1トランジスタ、M2 第2トランジスタ、M
3 第3トランジスタ、M4 第4トランジスタ、M5
第5トランジスタ、M6 第6トランジスタ、VSS
電圧基準、VDD 電圧基準、A 第1接続端子、B
第2接続端子。
3 第3トランジスタ、M4 第4トランジスタ、M5
第5トランジスタ、M6 第6トランジスタ、VSS
電圧基準、VDD 電圧基準、A 第1接続端子、B
第2接続端子。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/8238 27/092 H01L 27/08 321 B (72)発明者 ジェルマーノ・ニコッリニ イタリア国、29100 ピアチェンツァ、ヴ ィア・ア・パヴェッシ 6
Claims (15)
- 【請求項1】 CMOS半導体基板上で、少なくとも第
1接続端子(A)、第2接続端子(B)を有し、さら
に、第1、第2端子と制御端子を備えてこれら第1、第
2端子が、上記第1、第2接続端子に接続される第4ト
ランジスタ(M4)を有する低電圧集積電源回路のため
の電気スイッチにおいて、 第1トランジスタ(M1)と、第2トランジスタ(M
2)と、第3トランジスタ(M3)を備え、これら各ト
ランジスタは、第1、第2端子と制御端子を有し、第1
トランジスタ(M1)と第2トランジスタ(M2)は、
第4トランジスタ(M4)と相補性のタイプであり、上
記第1、第2接続端子の間に、それらの第1、第2端子
により互いに直列に挿入され、第3トランジスタ(M
3)は、その第1、第2端子により第1、第2トランジ
スタと第1電圧基準(VSS)との間に挿入され、第3
トランジスタ(M3)は、上記第1電圧基準(VSS)
に接続される基板を有し、上記第1トランジスタ(M
1)、第2トランジスタ(M2)は、それらトランジス
タの第1端子に接続される基板を有することを特徴とす
る低電圧集積電源回路のための電気スイッチ。 - 【請求項2】 請求項1の低電圧集積電源回路のための
電気スイッチにおいて、 上記第3トランジスタ(M3)は、上記第4トランジス
タ(M4)と同じタイプであり、上記第1トランジスタ
(M1)と上記第2トランジスタ(M2)は、それらの
第2端子が共に接続されることを特徴とする低電圧集積
電源回路のための電気スイッチ。 - 【請求項3】 請求項2の低電圧集積電源回路のための
電気スイッチにおいて、 上記第4トランジスタと第3トランジスタはnチャネル
であり、上記第1トランジスタ、上記第2トランジスタ
はpチャネルであり、第1電圧基準の電圧は、上記集積
回路内の最低電圧に等しいことを特徴とする低電圧集積
電源回路のための電気スイッチ。 - 【請求項4】 請求項2の低電圧集積電源回路のための
電気スイッチにおいて、 上記第4トランジスタと上記第3トランジスタはpチャ
ネルであり、上記第1トランジスタと上記第2トランジ
スタはnチャネルであり、上記第1電圧基準の電圧は上
記集積回路内の最高電圧に等しいことを特徴とする低電
圧集積電源回路のための電気スイッチ。 - 【請求項5】 請求項1の低電圧集積電源回路のための
電気スイッチにおいて、 上記第3トランジスタ(M3)は、上記第4トランジス
タ(M4)と相補性のタイプであり、上記第1トランジ
スタ(M1)と上記第2トランジスタ(M2)はそれら
の第1端子によって接続されていることを特徴とする低
電圧集積電源回路のための電気スイッチ。 - 【請求項6】 請求項5の低電圧集積電源回路のための
電気スイッチにおいて、 上記第4トランジスタはnチャネルであり、上記第1、
第2、第3トランジスタはpチャネルであり、上記第1
電圧基準の電圧は、上記集積回路内の最高電圧に等しい
ことを特徴とする低電圧集積電源回路のための電気スイ
ッチ。 - 【請求項7】 請求項5の低電圧集積電源回路のための
電気スイッチにおいて、 上記第4トランジスタはpチャネルであり、上記第1、
第2、第3トランジスタはnチャネルであり、上記第1
電圧基準の電圧は、上記集積回路内の最低電圧に等しい
ことを特徴とする低電圧集積電源回路のための電気スイ
ッチ。 - 【請求項8】 請求項2乃至請求項4のいずれかの低電
圧集積電源回路のための電気スイッチにおいて、 上記第4トランジスタは、上記第1、第2、第3トラン
ジスタが駆動される信号とは反対位相の信号で駆動され
ることを特徴とする低電圧集積電源回路のための電気ス
イッチ。 - 【請求項9】 請求項8の低電圧集積電源回路のための
電気スイッチにおいて、 インバータ回路を備え、上記インバータ回路の出力が上
記第3トランジスタの制御端子に接続され、上記インバ
ータ回路の入力に、上記第4トランジスタが駆動される
信号と同じ信号が印加されることを特徴とする低電圧集
積電源回路のための電気スイッチ。 - 【請求項10】 請求項5乃至請求項7のいずれかの低
電圧集積電源回路のための電気スイッチにおいて、 上記第4、第3トランジスタは、上記第1、第2トラン
ジスタが駆動される信号と反対位相の信号により駆動さ
れることを特徴とする低電圧集積電源回路のための電気
スイッチ。 - 【請求項11】 請求項10の低電圧集積電源回路のた
めの電気スイッチにおいて、 インバータ回路を備え、上記インバータ回路の出力が上
記第3トランジスタの制御端子に接続され、上記インバ
ータ回路の入力に、上記第1、第2トランジスタが駆動
される信号と同じ信号が印加されることを特徴とする低
電圧集積電源回路のための電気スイッチ。 - 【請求項12】 CMOS半導体基板上で、少なくとも
第1接続端子(A)、第2接続端子(B)を有する低電
圧集積電源回路のための電気スイッチにおいて、 それぞれ第1端子、第2端子と制御端子を有し、それら
第1端子と第2端子により、上記第1、第2接続端子の
間で直列に接続された第1トランジスタ(M1)、第2
トランジスタ(M2)と、 それぞれ第1、第2端子と制御端子を有し、上記第1、
第2トランジスタと相補性のタイプであり、それら第1
端子と第2端子により、上記第1、第2接続端子の間で
直列に接続された第3トランジスタ(M3)、第4トラ
ンジスタ(M4)と、 上記第3トランジスタ、第1トランジスタそれぞれと同
じタイプであり、それぞれ、第1、第2端子と制御端子
を有する第5トランジスタ(M5)、第6トランジスタ
(M6)とを備え、 上記第5トランジスタは、上記第1、第2端子により、
第1電圧基準(VDD)と上記第1、第2トランジスタ
の間の接続用第1回路ノードとの間に接続され、上記第
6トランジスタは上記第1、第2端子により、上記第
3、第4トランジスタの間の接続用第2回路ノードと第
2電圧基準(VSS)との間に接続され、 上記第1、第3トランジスタは、上記第1接続端子に接
続された基板を有し、上記第2、第4トランジスタは、
上記第2接続端子に接続された基板を有し、上記第5、
第6トランジスタは、それぞれ、第1、第2電圧基準に
接続された基板を有することを特徴とする低電圧集積電
源回路のための電気スイッチ。 - 【請求項13】 CMOS半導体基板上で、少なくとも
第1接続端子(A)、第2接続端子(B)を有する低電
圧集積電源回路のための電気スイッチにおいて、 それぞれ第1端子、第2端子と制御端子を有し、それら
第1端子と第2端子により、上記第1、第2接続端子の
間で直列に接続された第1トランジスタ(M1)、第2
トランジスタ(M2)と、 それぞれ第1、第2端子と制御端子を有し、上記第1、
第2トランジスタと相補性のタイプであり、上記第1端
子と第2端子により、上記第1、第2接続端子の間で直
列に接続された第3トランジスタ(M3)、第4トラン
ジスタ(M4)と、 上記第3トランジスタ、第1トランジスタそれぞれと同
じタイプであり、それぞれ、第1、第2端子と制御端子
を有する第5トランジスタ(M5)、第6トランジスタ
(M6)とを備え、 上記第5トランジスタは、上記第1、第2端子により、
第1電圧基準(VSS)と上記第1、第2トランジスタ
の間の接続用第1回路ノードとの間に接続され、上記第
6トランジスタは上記第1、第2端子により、上記第
3、第4トランジスタの間の接続用第2回路ノードと第
2電圧基準(VDD)との間に接続され、 上記第1、第2トランジスタは、上記第1接続回路ノー
ドに接続された基板を有し、上記第3、第4トランジス
タは、上記第2接続回路ノードに接続された基板を有
し、上記第5、第6トランジスタは、それぞれ、第1、
第2電圧基準に接続された基板を有することを特徴とす
る低電圧集積電源回路のための電気スイッチ。 - 【請求項14】 請求項12の低電圧集積電源回路のた
めの電気スイッチにおいて、 上記第1、第2、第5トランジスタは、上記第3、第
4、第6トランジスタが駆動される信号と反対位相の信
号により駆動されることを特徴とする低電圧集積電源回
路のための電気スイッチ。 - 【請求項15】 請求項13の低電圧集積電源回路のた
めの電気スイッチにおいて、 上記第1、第2、第6トランジスタは、上記第3、第
4、第5トランジスタが駆動される信号と反対位相の信
号により駆動されることを特徴とする低電圧集積電源回
路のための電気スイッチ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP94830387A EP0698966B1 (en) | 1994-07-29 | 1994-07-29 | MOS transistor switch without body effect |
| IT94830387.0 | 1994-07-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0865124A true JPH0865124A (ja) | 1996-03-08 |
| JP3449830B2 JP3449830B2 (ja) | 2003-09-22 |
Family
ID=8218497
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19462395A Expired - Fee Related JP3449830B2 (ja) | 1994-07-29 | 1995-07-31 | 低電圧集積電源回路のための電気スイッチ |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5617055A (ja) |
| EP (1) | EP0698966B1 (ja) |
| JP (1) | JP3449830B2 (ja) |
| DE (1) | DE69413814T2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| WO2020255501A1 (ja) * | 2019-06-21 | 2020-12-24 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 電子回路 |
Families Citing this family (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 1994-07-29 EP EP94830387A patent/EP0698966B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-07-29 DE DE69413814T patent/DE69413814T2/de not_active Expired - Fee Related
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1995
- 1995-07-31 US US08/509,304 patent/US5617055A/en not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5617055A (en) | 1997-04-01 |
| EP0698966A1 (en) | 1996-02-28 |
| JP3449830B2 (ja) | 2003-09-22 |
| DE69413814T2 (de) | 1999-02-25 |
| DE69413814D1 (de) | 1998-11-12 |
| EP0698966B1 (en) | 1998-10-07 |
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|---|---|---|---|
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