JPH087064B2 - タイヤの真円度測定方法 - Google Patents
タイヤの真円度測定方法Info
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- JPH087064B2 JPH087064B2 JP62159576A JP15957687A JPH087064B2 JP H087064 B2 JPH087064 B2 JP H087064B2 JP 62159576 A JP62159576 A JP 62159576A JP 15957687 A JP15957687 A JP 15957687A JP H087064 B2 JPH087064 B2 JP H087064B2
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- tire
- waveform
- value
- tread portion
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- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、タイヤの真円度測定方法に係わり、更に
詳しくは測定タイヤのトレッド部に、非接触センサーを
使用してタイヤの真円度を測定する方法に関するもので
ある。
詳しくは測定タイヤのトレッド部に、非接触センサーを
使用してタイヤの真円度を測定する方法に関するもので
ある。
タイヤのユニフォミティーの特性の一つとして、タイ
ヤを外見的に見た「寸法」の均一性があり、このタイヤ
の寸法の不均一は、タイヤの縦方向の振れ（フリー・ラ
ジアル・ランナウト:FRRO）と横方向の振れ（フリー・
ラテラル・ランナウト）を招き、この振れが車体振動や
ハンドル振れの原因になる。
ヤを外見的に見た「寸法」の均一性があり、このタイヤ
の寸法の不均一は、タイヤの縦方向の振れ（フリー・ラ
ジアル・ランナウト:FRRO）と横方向の振れ（フリー・
ラテラル・ランナウト）を招き、この振れが車体振動や
ハンドル振れの原因になる。
そこで、タイヤのユニフォミティーを測定する場合、
タイヤの真円度を予め測定することが行われている。
タイヤの真円度を予め測定することが行われている。
従来、タイヤの真円度を予め測定する場合、第１図に
示すようにタイヤトレッド部Ｘに、接触タイプのセンサ
ー１を使用し、そしてセンサー１からの出力をアナログ
アンプ２を介して制御装置３（コンピュータ）で演算処
理することによりタイヤの真円度を測定していた。
示すようにタイヤトレッド部Ｘに、接触タイプのセンサ
ー１を使用し、そしてセンサー１からの出力をアナログ
アンプ２を介して制御装置３（コンピュータ）で演算処
理することによりタイヤの真円度を測定していた。
然しながら、このような従来測定方法の場合センサー
１が接触タイプであるために、センサー１の耐久性や寿
命が短くなると言う問題があり、またタイヤのブロック
パターンの溝の影響をもろに受けて正確な測定を行うこ
とができず、更にタイヤトレッド部Ｘにセンサー１を押
しつけて使用するため、この押しつけのための影響があ
ると言う問題があった。
１が接触タイプであるために、センサー１の耐久性や寿
命が短くなると言う問題があり、またタイヤのブロック
パターンの溝の影響をもろに受けて正確な測定を行うこ
とができず、更にタイヤトレッド部Ｘにセンサー１を押
しつけて使用するため、この押しつけのための影響があ
ると言う問題があった。
この発明は、かかる従来の問題点に着目して案出され
たもので、その目的とするところはタイヤのブロックパ
ターン等でも溝の影響を受けずに測定することが出来る
と共に、非接触タイプのセンサーを使用することによ
り、センサーの寿命を述ばすことが出来る上、精度の良
い測定を行うことが出来るタイヤの真円度測定方法を提
供するものである。
たもので、その目的とするところはタイヤのブロックパ
ターン等でも溝の影響を受けずに測定することが出来る
と共に、非接触タイプのセンサーを使用することによ
り、センサーの寿命を述ばすことが出来る上、精度の良
い測定を行うことが出来るタイヤの真円度測定方法を提
供するものである。
この発明は上記目的を達成するため、測定タイヤのト
レッド部に、非接触センサーを位置させて測定タイヤを
回転し、前記非接触センサーからの出力を波形処理器に
より波形処理して測定タイヤの振れを測定する一方、ト
レッド部の溝の影響を除去するように演算し、この溝を
除去した波形を制御装置に入力してタイヤ一回転におけ
る波形のピーク位置とピーク位置とを計算し、この計算
値と基準値とを比較演算することによりタイヤの真円度
を測定することを要旨とするものである。
レッド部に、非接触センサーを位置させて測定タイヤを
回転し、前記非接触センサーからの出力を波形処理器に
より波形処理して測定タイヤの振れを測定する一方、ト
レッド部の溝の影響を除去するように演算し、この溝を
除去した波形を制御装置に入力してタイヤ一回転におけ
る波形のピーク位置とピーク位置とを計算し、この計算
値と基準値とを比較演算することによりタイヤの真円度
を測定することを要旨とするものである。
以下添付図面に基いて、この発明の実施例を説明す
る。
る。
第２図は、この発明を実施したタイヤの真円度測定装
置の概略構成図を示し、10はタイヤトレッド部Ｘに配設
されたレーザセンサー等の非接触センサーであって、11
は増幅器、12は波形処理器、13は制御装置（コンピュー
タ）を示している。
置の概略構成図を示し、10はタイヤトレッド部Ｘに配設
されたレーザセンサー等の非接触センサーであって、11
は増幅器、12は波形処理器、13は制御装置（コンピュー
タ）を示している。
そして、タイヤの真円度の測定方法としては、測定タ
イヤのトレッド部Ｘに、非接触センサー10を位置させて
測定タイヤを１回転させ、前記非接触センサー10からの
出力を増幅器11を介して波形処理器12により波形処理し
て測定タイヤの振れを測定する一方、トレッド部の溝の
影響を除去するように演算し、この溝を除去した波形を
制御装置13に入力してタイヤ一回転における波形のピー
ク位置とピーク位置とを計算し、この計算値と基準値と
を比較演算することによりタイヤの真円度を測定するの
である。
イヤのトレッド部Ｘに、非接触センサー10を位置させて
測定タイヤを１回転させ、前記非接触センサー10からの
出力を増幅器11を介して波形処理器12により波形処理し
て測定タイヤの振れを測定する一方、トレッド部の溝の
影響を除去するように演算し、この溝を除去した波形を
制御装置13に入力してタイヤ一回転における波形のピー
ク位置とピーク位置とを計算し、この計算値と基準値と
を比較演算することによりタイヤの真円度を測定するの
である。
上記、波形処理器12による波形処理方法を、第３図及
び第４図を参照しながら更に詳細に説明すると、回転し
ているタイヤトレッド部Ｘに非接触センサー10を位置さ
せて、非接触センサー10からの出力を増幅器11で増幅
し、そしてその増幅値をA/D（アナログ・デジタル）変
換処理回路12aでアナログ値をデジタル値に変換する。
この基本原理を説明すると、タイヤの回転方向の軸をX,
変位方向の軸をＹとすると、タイヤトレッド部の波形
は、第６図に示すように表される。
び第４図を参照しながら更に詳細に説明すると、回転し
ているタイヤトレッド部Ｘに非接触センサー10を位置さ
せて、非接触センサー10からの出力を増幅器11で増幅
し、そしてその増幅値をA/D（アナログ・デジタル）変
換処理回路12aでアナログ値をデジタル値に変換する。
この基本原理を説明すると、タイヤの回転方向の軸をX,
変位方向の軸をＹとすると、タイヤトレッド部の波形
は、第６図に示すように表される。
従って、トレッド波形の変化，微分量（Ｓ）は、傾き
（Δｋ）で表され、 にて表される。
（Δｋ）で表され、 にて表される。
また、Δｘ＝x2−x1は、サンプリング間隔で一定の
為、Δｘ＝ｋとすれば、 ∴Ｓ＝Δｋ・Ｋ＝y2−y1となり、 S1とS2の変化量で表される。
為、Δｘ＝ｋとすれば、 ∴Ｓ＝Δｋ・Ｋ＝y2−y1となり、 S1とS2の変化量で表される。
この変化量が、記述値より大きい場合、溝と判断し、
S1の位置を保持し、点線をトレースし、溝を除去する。
S1の位置を保持し、点線をトレースし、溝を除去する。
そして、計算回路12bにて、第３図に示す前回のA/D値
（基準値:S1）から今回のA/D値（実測値:S2）を引き、
その差を計算により求める。この求めた差の値Ｐと溝Ｖ
の基準値とを比較回路12cにて比較し、この比較値が基
準値と差が無い場合には、前記A/D値をD/A領域にセット
し（12d）、また比較値が基準値と差が有る場合には、
前回のA/D値に補正値を加えてD/A領域にセットする（12
e）。
（基準値:S1）から今回のA/D値（実測値:S2）を引き、
その差を計算により求める。この求めた差の値Ｐと溝Ｖ
の基準値とを比較回路12cにて比較し、この比較値が基
準値と差が無い場合には、前記A/D値をD/A領域にセット
し（12d）、また比較値が基準値と差が有る場合には、
前回のA/D値に補正値を加えてD/A領域にセットする（12
e）。
そして、今回のD/A値を記憶させ（12f）、D/A値を出
力処理する（12g）。この処理されたD/A値は、次に制御
装置13に出力され、制御装置13のA/D（アナログ・デジ
タル）変換処理回路13aでアナログ値をデジタル値に変
換し、演算回路13bにてタイヤ１回転に於ける波形のピ
ーク値とピーク値（Ｐ−Ｐ）とを求め、更に測定タイヤ
の真円度が規格値に入るか否かを規格判定回路13cにて
判定を行うのである。
力処理する（12g）。この処理されたD/A値は、次に制御
装置13に出力され、制御装置13のA/D（アナログ・デジ
タル）変換処理回路13aでアナログ値をデジタル値に変
換し、演算回路13bにてタイヤ１回転に於ける波形のピ
ーク値とピーク値（Ｐ−Ｐ）とを求め、更に測定タイヤ
の真円度が規格値に入るか否かを規格判定回路13cにて
判定を行うのである。
上記のような波形処理器12により波形処理前の波形と
波形処理後の波形とを表したのが第５図であり、タイヤ
の縦方向の振れ（FRRO）の波形処理の場合、波形の山の
部分（トレッドの溝）の立上がりを無視して、立下がり
を有効なデータとして山の部分を削除している。
波形処理後の波形とを表したのが第５図であり、タイヤ
の縦方向の振れ（FRRO）の波形処理の場合、波形の山の
部分（トレッドの溝）の立上がりを無視して、立下がり
を有効なデータとして山の部分を削除している。
即ち、上側の出力波形（波形処理前の波形）は、W1の
波形の下の部分のポイントを結んだ形が下側の出力波形
（波形処理後の波形）となるのである。
波形の下の部分のポイントを結んだ形が下側の出力波形
（波形処理後の波形）となるのである。
この発明は、上記のように測定タイヤのトレッド部
に、非接触センサーを位置させて測定タイヤを回転し、
前記非接触センサーからの出力を波形処理器により波形
処理して測定タイヤの振れを測定する一方、トレッド部
の溝の影響を除去するように演算し、この溝を除去した
波形を制御装置に入力してタイヤ一回転における波形の
ピーク位置とピーク位置とを計算し、この計算値と基準
値とを比較演算することによりタイヤの真円度を測定す
るので、タイヤのブロックパターン等でも溝の影響を受
けずに測定することが出来、また非接触タイプのセンサ
ーを使用することにより、センサーの寿命を伸ばすこと
が出来る上、精度の良い測定を行うことが出来る効果が
ある。
に、非接触センサーを位置させて測定タイヤを回転し、
前記非接触センサーからの出力を波形処理器により波形
処理して測定タイヤの振れを測定する一方、トレッド部
の溝の影響を除去するように演算し、この溝を除去した
波形を制御装置に入力してタイヤ一回転における波形の
ピーク位置とピーク位置とを計算し、この計算値と基準
値とを比較演算することによりタイヤの真円度を測定す
るので、タイヤのブロックパターン等でも溝の影響を受
けずに測定することが出来、また非接触タイプのセンサ
ーを使用することにより、センサーの寿命を伸ばすこと
が出来る上、精度の良い測定を行うことが出来る効果が
ある。
第１図は従来の接触タイプのセンサーを使用してタイヤ
の真円度を測定する方法を示す説明図、第２図はこの発
明を実施した非接触タイプのセンサーを使用してタイヤ
の真円度を測定する方法を示す説明図、第３図はタイヤ
トレッド部の説明図、第４図は波形処理器の説明図、第
５図は波形処理器により測定した波形処理前と波形処理
後の波形説明図、第６図は基本原理のタイヤトレッド部
の波形説明図である。 10……非非接触センサー、11……増幅器、12……波形処
理器、13……制御装置（コンピュータ）、Ｘ……タイヤ
トレッド部。
の真円度を測定する方法を示す説明図、第２図はこの発
明を実施した非接触タイプのセンサーを使用してタイヤ
の真円度を測定する方法を示す説明図、第３図はタイヤ
トレッド部の説明図、第４図は波形処理器の説明図、第
５図は波形処理器により測定した波形処理前と波形処理
後の波形説明図、第６図は基本原理のタイヤトレッド部
の波形説明図である。 10……非非接触センサー、11……増幅器、12……波形処
理器、13……制御装置（コンピュータ）、Ｘ……タイヤ
トレッド部。
Claims (1)
- 【請求項１】測定タイヤのトレッド部に、非接触センサ
ーを位置させて測定タイヤを回転し、前記非接触センサ
ーからの出力を波形処理器により波形処理して測定タイ
ヤの振れを測定する一方、トレッド部の溝の影響を除去
するように演算し、この溝を除去した波形を制御装置に
入力してタイヤ一回転における波形のピーク位置とピー
ク位置とを計算し、この計算値と基準値とを比較演算す
ることによりタイヤの真円度を測定することを特徴とす
るタイヤの真円度測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62159576A JPH087064B2 (ja) | 1987-06-29 | 1987-06-29 | タイヤの真円度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62159576A JPH087064B2 (ja) | 1987-06-29 | 1987-06-29 | タイヤの真円度測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS646714A JPS646714A (en) | 1989-01-11 |
| JPH087064B2 true JPH087064B2 (ja) | 1996-01-29 |
Family
ID=15696731
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62159576A Expired - Fee Related JPH087064B2 (ja) | 1987-06-29 | 1987-06-29 | タイヤの真円度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH087064B2 (ja) |
-
1987
- 1987-06-29 JP JP62159576A patent/JPH087064B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS646714A (en) | 1989-01-11 |
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Legal Events
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