JPH087236B2 - プローブ先端位置確認用プリズム付きプローブカード - Google Patents
プローブ先端位置確認用プリズム付きプローブカードInfo
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- JPH087236B2 JPH087236B2 JP5078887A JP7888793A JPH087236B2 JP H087236 B2 JPH087236 B2 JP H087236B2 JP 5078887 A JP5078887 A JP 5078887A JP 7888793 A JP7888793 A JP 7888793A JP H087236 B2 JPH087236 B2 JP H087236B2
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、透明基板に略垂直に取
り付けられたプローブの先端が被測定物の所定位置にあ
るか否かを視覚的に確認できる構造の簡単なプローブカ
ードに関する。
り付けられたプローブの先端が被測定物の所定位置にあ
るか否かを視覚的に確認できる構造の簡単なプローブカ
ードに関する。
【0002】
【従来の技術】半導体集積回路素子の電気的諸特性の測
定に用いられるプローブカードには、プローブとしてス
プリングピンを利用したものがある。このスプリングピ
ンは、鞘部の中に接触子とスプリングとを納めたもので
あり、接触子が鞘部に対して進退可能になっている。か
かるスプリングピンは、プローブカードの基板に対して
略垂直に取り付けられることが多い。
定に用いられるプローブカードには、プローブとしてス
プリングピンを利用したものがある。このスプリングピ
ンは、鞘部の中に接触子とスプリングとを納めたもので
あり、接触子が鞘部に対して進退可能になっている。か
かるスプリングピンは、プローブカードの基板に対して
略垂直に取り付けられることが多い。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このようなプローブカ
ードでは、基板に略垂直に取り付けられたスプリングピ
ンの先端が被測定物の所定位置に接触しているか否かの
確認は以下のようにして行われる。すなわち、被測定物
に予め略L字形状の導電膜を2つ以上形成しておき、被
測定物に対してプローブカードが所定の位置になると、
各導電膜にそれぞれ2本ずつのスプリングピンが接触し
て導通することを利用している。このようなスプリング
ピンの導通を利用するのは、スプリングピンの先端を視
覚的に直接確認することができないことに由来する。こ
のため、従来のこの種のプローブカードでは、被測定物
に機能とは全く無関係な導電膜を形成しなければなら
ず、半導体集積回路素子に対する小型化の要請に反する
ものとなっていた。
ードでは、基板に略垂直に取り付けられたスプリングピ
ンの先端が被測定物の所定位置に接触しているか否かの
確認は以下のようにして行われる。すなわち、被測定物
に予め略L字形状の導電膜を2つ以上形成しておき、被
測定物に対してプローブカードが所定の位置になると、
各導電膜にそれぞれ2本ずつのスプリングピンが接触し
て導通することを利用している。このようなスプリング
ピンの導通を利用するのは、スプリングピンの先端を視
覚的に直接確認することができないことに由来する。こ
のため、従来のこの種のプローブカードでは、被測定物
に機能とは全く無関係な導電膜を形成しなければなら
ず、半導体集積回路素子に対する小型化の要請に反する
ものとなっていた。
【0004】また、ウエハに形成されたスクライブライ
ンに3個のプローブを接触させ、スクライブラインの段
差をエッジセンサで検出することによる位置確認も行わ
れている。しかし、この方法では位置確認にのみ用いら
れるエッジセンサが必要となる。
ンに3個のプローブを接触させ、スクライブラインの段
差をエッジセンサで検出することによる位置確認も行わ
れている。しかし、この方法では位置確認にのみ用いら
れるエッジセンサが必要となる。
【0005】本発明は上記事情に鑑みて創案されたもの
で、被測定物の特に位置合わせのための導電膜等を形成
する必要もなく、特別なエッジセンサ等を使用すること
なく、プローブの先端の位置を直接的に視覚的に確認す
ることができる構成の簡単なプローブ先端位置確認用プ
リズム付きプローブカードを提供することを目的として
いる。
で、被測定物の特に位置合わせのための導電膜等を形成
する必要もなく、特別なエッジセンサ等を使用すること
なく、プローブの先端の位置を直接的に視覚的に確認す
ることができる構成の簡単なプローブ先端位置確認用プ
リズム付きプローブカードを提供することを目的として
いる。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明に係るプローブ先
端位置確認用プリズム付きプローブカードは、透明基板
に略垂直に取り付けられたプローブの先端が被測定物の
所定位置にあるか否かを確認できるプローブカードであ
って、前記透明基板には前記プローブの配置に対応した
開口が開設されており、当該開口の一端縁部はプリズム
として透明基板に一体に形成されており、プローブの真
上方向から見ると前記プリズムに沿って配置されたプロ
ーブの先端をプリズムを通して視認可能であるように構
成されている。
端位置確認用プリズム付きプローブカードは、透明基板
に略垂直に取り付けられたプローブの先端が被測定物の
所定位置にあるか否かを確認できるプローブカードであ
って、前記透明基板には前記プローブの配置に対応した
開口が開設されており、当該開口の一端縁部はプリズム
として透明基板に一体に形成されており、プローブの真
上方向から見ると前記プリズムに沿って配置されたプロ
ーブの先端をプリズムを通して視認可能であるように構
成されている。
【0007】
【実施例】図1は本発明の一実施例に係るプローブ先端
位置確認用プリズム付きプローブカードに用いられる透
明基板の概略的平面図、図2は図1のA−A線断面図、
図3は他の実施例を示す透明基板の開口部分の断面図、
図4はスプリングピンの概略的断面図、図5は他のプロ
ーブを用いたプローブ先端位置確認用プリズム付きプロ
ーブカードを示す概略的断面図である。
位置確認用プリズム付きプローブカードに用いられる透
明基板の概略的平面図、図2は図1のA−A線断面図、
図3は他の実施例を示す透明基板の開口部分の断面図、
図4はスプリングピンの概略的断面図、図5は他のプロ
ーブを用いたプローブ先端位置確認用プリズム付きプロ
ーブカードを示す概略的断面図である。
【0008】本実施例に係るプローブ先端位置確認用プ
リズム付きプローブカードは、透明基板100に略垂直
に取り付けられたプローブとしてのスプリングピン20
0の先端が被測定物たるICチップ300の所定位置に
あるか否かを確認できるプローブカードであって、前記
透明基板100には前記スプリングピン200の配置に
対応した開口130が開設されており、当該開口130
の一端縁部はプリズム131として透明基板100に一
体に形成されている。
リズム付きプローブカードは、透明基板100に略垂直
に取り付けられたプローブとしてのスプリングピン20
0の先端が被測定物たるICチップ300の所定位置に
あるか否かを確認できるプローブカードであって、前記
透明基板100には前記スプリングピン200の配置に
対応した開口130が開設されており、当該開口130
の一端縁部はプリズム131として透明基板100に一
体に形成されている。
【0009】まず、スプリングピン200は、図4に示
すように、円筒形状の外鞘部210と、この外鞘部21
0に着脱可能に取り付けられる内鞘部220と、この内
鞘部220に進退可能に収納される接触子230と、前
記内鞘部220に収納され、前記接触子230を上下方
向に弾発付勢するスプリング240とを有している。前
記内鞘部220は外鞘部210に対して着脱可能になっ
ており、接触子230が摩耗したり折れ曲がったりした
場合には、内鞘部220ごと接触子230を交換するよ
うになっている。
すように、円筒形状の外鞘部210と、この外鞘部21
0に着脱可能に取り付けられる内鞘部220と、この内
鞘部220に進退可能に収納される接触子230と、前
記内鞘部220に収納され、前記接触子230を上下方
向に弾発付勢するスプリング240とを有している。前
記内鞘部220は外鞘部210に対して着脱可能になっ
ており、接触子230が摩耗したり折れ曲がったりした
場合には、内鞘部220ごと接触子230を交換するよ
うになっている。
【0010】前記透明基板100は、絶縁性を有する透
明な合成樹脂から形成されており、被測定物たるICチ
ップ300に応じた形状、サイズに形成されている。か
かる透明基板100の4隅には、当該透明基板100を
マザーボード(図示省略)に取り付けるためのネジ孔1
10が開設されている。
明な合成樹脂から形成されており、被測定物たるICチ
ップ300に応じた形状、サイズに形成されている。か
かる透明基板100の4隅には、当該透明基板100を
マザーボード(図示省略)に取り付けるためのネジ孔1
10が開設されている。
【0011】また、この透明基板100には、ICチッ
プ300の電極部310に対応した複数個の貫通孔12
0が垂直に開設されている。この貫通孔120は、スプ
リングピン200が嵌め込まれるものであって、スプリ
ングピン200の外鞘部210の外径に対応した直径に
設定されている。なお、貫通孔120に取り付けられた
スプリングピン200は、外鞘部210の後端の開口に
図示しないリードピンを挿入し、このリードピンに接続
されたリード線を引き回すことによって図外の検査装置
等と電気的に接続されている。
プ300の電極部310に対応した複数個の貫通孔12
0が垂直に開設されている。この貫通孔120は、スプ
リングピン200が嵌め込まれるものであって、スプリ
ングピン200の外鞘部210の外径に対応した直径に
設定されている。なお、貫通孔120に取り付けられた
スプリングピン200は、外鞘部210の後端の開口に
図示しないリードピンを挿入し、このリードピンに接続
されたリード線を引き回すことによって図外の検査装置
等と電気的に接続されている。
【0012】さらに、この透明基板100には、前記貫
通孔孔120に沿って長方形状の開口130が設けられ
ている。この開口130の一端縁部、すなわち貫通孔1
20に嵌め込まれたスプリングピン200に沿った縁部
は、エッジ部132の角度が60°であり、かつテーパ
面131Aが上側を向いたプリズム131として形成さ
れている。なお、このエッジ部132の角度を60°と
したのは一例であって、透明基板100を構成する樹脂
等の屈折率等の固有の性質等によって適宜最適な数値を
選択することは勿論である。
通孔孔120に沿って長方形状の開口130が設けられ
ている。この開口130の一端縁部、すなわち貫通孔1
20に嵌め込まれたスプリングピン200に沿った縁部
は、エッジ部132の角度が60°であり、かつテーパ
面131Aが上側を向いたプリズム131として形成さ
れている。なお、このエッジ部132の角度を60°と
したのは一例であって、透明基板100を構成する樹脂
等の屈折率等の固有の性質等によって適宜最適な数値を
選択することは勿論である。
【0013】このような透明基板100では、開口13
0のみならずプリズム131とを同時に例えば射出成形
等によって一気に形成することが可能である。従って、
非常に簡単にプリズム131を有する透明基板100を
多量に形成することが可能になる。
0のみならずプリズム131とを同時に例えば射出成形
等によって一気に形成することが可能である。従って、
非常に簡単にプリズム131を有する透明基板100を
多量に形成することが可能になる。
【0014】このように開口130の一端縁部をプリズ
ム131として形成すると、図2に示すように、スプリ
ングピン200のうちプリズム131に沿ったスプリン
グピン200の接触子230の先端を透明基板100の
表面側、すなわちスプリングピン200の上方から直接
見ることができる。また、接触子230の先端のみなら
ず、その接触子230が接触している部分、すなわちI
Cチップ300の電極部310をも見ることができるの
で、実際に接触子230が所定の電極部310に接触し
ているか否かを容易に目視で確認することができる。
ム131として形成すると、図2に示すように、スプリ
ングピン200のうちプリズム131に沿ったスプリン
グピン200の接触子230の先端を透明基板100の
表面側、すなわちスプリングピン200の上方から直接
見ることができる。また、接触子230の先端のみなら
ず、その接触子230が接触している部分、すなわちI
Cチップ300の電極部310をも見ることができるの
で、実際に接触子230が所定の電極部310に接触し
ているか否かを容易に目視で確認することができる。
【0015】接触子230が電極部310に接触してい
るか否かは、すべてのスプリングピン200について確
認する必要はなく、代表として1本又は2本以上のスプ
リングピン200について確認すればよい。各スプリン
グピン200の相互の位置関係は正確に設定されている
ので、幾つかのスプリングピン200について確認すれ
ば、すべてのスプリングピン200について確認したの
と同じになるからである。従って、開口130は、透明
基板100に1つ又は2つ以上設ければよい。
るか否かは、すべてのスプリングピン200について確
認する必要はなく、代表として1本又は2本以上のスプ
リングピン200について確認すればよい。各スプリン
グピン200の相互の位置関係は正確に設定されている
ので、幾つかのスプリングピン200について確認すれ
ば、すべてのスプリングピン200について確認したの
と同じになるからである。従って、開口130は、透明
基板100に1つ又は2つ以上設ければよい。
【0016】従って、使用者側が任意に選択したスプリ
ングピン200(プリズム131に沿って取り付けられ
たスプリングピン200のうちから)の接触子230の
先端が、ICチップ300の所定の電極部310に接触
しているか否かを確認することによって、すべてのスプ
リングピン200についての位置確認を容易に行うこと
ができる。
ングピン200(プリズム131に沿って取り付けられ
たスプリングピン200のうちから)の接触子230の
先端が、ICチップ300の所定の電極部310に接触
しているか否かを確認することによって、すべてのスプ
リングピン200についての位置確認を容易に行うこと
ができる。
【0017】上述した実施例では、開口130の一端縁
部のプリズム131は、テーパ面131Aが上側を向い
たものであったが、本発明がこれに限定されるわけでは
ない 。例えば、図3に示すように、テーパ面131Aが
下側を向いたプリズム131であっても同様の効果を得
ることができる。
部のプリズム131は、テーパ面131Aが上側を向い
たものであったが、本発明がこれに限定されるわけでは
ない 。例えば、図3に示すように、テーパ面131Aが
下側を向いたプリズム131であっても同様の効果を得
ることができる。
【0018】また、透明基板100に開設された開口1
30は、長方形状であるとして説明したが、本発明がこ
れに限定されるものではなく、被測定物たるICチップ
300の電極部310の配置に対応して配置されたスプ
リングピン200に沿って形成されるものであることは
いうまでもない。
30は、長方形状であるとして説明したが、本発明がこ
れに限定されるものではなく、被測定物たるICチップ
300の電極部310の配置に対応して配置されたスプ
リングピン200に沿って形成されるものであることは
いうまでもない。
【0019】また、他の実施例として、図5に示すよう
なプローブ先端位置確認用プリズム付きプローブカード
もある。かかるプローブ先端位置確認用プリズム付きプ
ローブカードは、スプリングピン200ではなく、中腹
部に湾曲部410が形成されたプローブ400と、2枚
の基板、すなわち上述したのと同様のプリズム531を
有する透明な下基板500と、この下基板500の上に
所定の間隔を空けて設置される上基板600とを有して
いる。
なプローブ先端位置確認用プリズム付きプローブカード
もある。かかるプローブ先端位置確認用プリズム付きプ
ローブカードは、スプリングピン200ではなく、中腹
部に湾曲部410が形成されたプローブ400と、2枚
の基板、すなわち上述したのと同様のプリズム531を
有する透明な下基板500と、この下基板500の上に
所定の間隔を空けて設置される上基板600とを有して
いる。
【0020】プローブ400は、中腹部の湾曲部410
がスプリングとしての機能を果たす。すなわち、プロー
ブ400に加えられた外力は、湾曲部410が撓むこと
によって吸収されるのである。また、前記下基板500
に複数個の貫通孔520が開設されており、当該貫通孔
520に沿って開口530が開設されている。この開口
530の一端縁部は、プリズム531として形成されて
いる。このプリズム531は、上述した透明基板100
におけるプリズム131と同一のものである。
がスプリングとしての機能を果たす。すなわち、プロー
ブ400に加えられた外力は、湾曲部410が撓むこと
によって吸収されるのである。また、前記下基板500
に複数個の貫通孔520が開設されており、当該貫通孔
520に沿って開口530が開設されている。この開口
530の一端縁部は、プリズム531として形成されて
いる。このプリズム531は、上述した透明基板100
におけるプリズム131と同一のものである。
【0021】一方、上基板600は、プローブ400の
湾曲部410のための空間を空けて下基板500の上に
設置されている。かかる上基板600には、前記下基板
500の開口530に対応した開口630が開設される
とともに、貫通孔520に対応した貫通孔620が開設
されている。従って、プローブ400の湾曲部410よ
り下の部分は、下基板500の貫通孔520に、上の部
分は上基板600の貫通孔620にそれぞれ挿入されて
おり、湾曲部410は両基板500、600の間に位置
している。
湾曲部410のための空間を空けて下基板500の上に
設置されている。かかる上基板600には、前記下基板
500の開口530に対応した開口630が開設される
とともに、貫通孔520に対応した貫通孔620が開設
されている。従って、プローブ400の湾曲部410よ
り下の部分は、下基板500の貫通孔520に、上の部
分は上基板600の貫通孔620にそれぞれ挿入されて
おり、湾曲部410は両基板500、600の間に位置
している。
【0022】従って、上基板600の開口630を介し
て下基板500の開口530に形成されたプリズム53
1のテーパ面531Aを真上から見ると、プローブ40
0の先端420を視覚的に直接確認することができる。
て下基板500の開口530に形成されたプリズム53
1のテーパ面531Aを真上から見ると、プローブ40
0の先端420を視覚的に直接確認することができる。
【0023】
【発明の効果】本発明に係るプローブ先端位置確認用プ
リズム付きプローブカードは、透明基板に略垂直に取り
付けられたプローブの先端が被測定物の所定位置にある
か否かを確認できるプローブカードであって、前記透明
基板には前記プローブの配置に対応した開口が開設され
ており、当該開口の一端縁部はプリズムとして透明基板
に一体に形成されており、プローブの真上方向から見る
と前記プリズムに沿って配置されたプローブの先端をプ
リズムを通して視認可能であるように構成されている。
リズム付きプローブカードは、透明基板に略垂直に取り
付けられたプローブの先端が被測定物の所定位置にある
か否かを確認できるプローブカードであって、前記透明
基板には前記プローブの配置に対応した開口が開設され
ており、当該開口の一端縁部はプリズムとして透明基板
に一体に形成されており、プローブの真上方向から見る
と前記プリズムに沿って配置されたプローブの先端をプ
リズムを通して視認可能であるように構成されている。
【0024】従って、ICチップの電極部等に対する位
置合わせのための特別な導電膜等を形成する必要がな
く、エッジセンサ等の特別な部品を使用することなしに
プローブの先端の位置を視覚的に直接確認することがで
きるので非常に簡単な構成の好適なプローブカードとな
る。
置合わせのための特別な導電膜等を形成する必要がな
く、エッジセンサ等の特別な部品を使用することなしに
プローブの先端の位置を視覚的に直接確認することがで
きるので非常に簡単な構成の好適なプローブカードとな
る。
【0025】また、プリズムは開口の一端縁部に透明基
板と一体に形成しているため、透明基板を形成すると同
時に形成することができる。従って、プリズムと、開口
に沿って形成された貫通孔、すなわちプローブが挿入さ
れる貫通孔との相互の位置関係は常に等しいものとなっ
ているので、プローブの先端を確実に視覚的に確認する
ことができる。
板と一体に形成しているため、透明基板を形成すると同
時に形成することができる。従って、プリズムと、開口
に沿って形成された貫通孔、すなわちプローブが挿入さ
れる貫通孔との相互の位置関係は常に等しいものとなっ
ているので、プローブの先端を確実に視覚的に確認する
ことができる。
【0026】また、すべてのプローブではなく、開口に
形成されたプリズムに沿って配置されたプローブの先端
を視認するように構成されているので、プローブの先端
を確認するためのプリズムの構成が簡単になる。これ
は、透明基板の構成が簡単になることを意味し、ひいて
はプローブ先端位置確認用プリズム付きプローブカード
全体の構成が簡単になる。
形成されたプリズムに沿って配置されたプローブの先端
を視認するように構成されているので、プローブの先端
を確認するためのプリズムの構成が簡単になる。これ
は、透明基板の構成が簡単になることを意味し、ひいて
はプローブ先端位置確認用プリズム付きプローブカード
全体の構成が簡単になる。
【0027】また、このプローブ先端位置確認用プリズ
ム付きプローブカードに用いられる透明基板は、プロー
ブに沿った開口を開設し、その開口の一端縁部にプリズ
ムを形成するだけでよいのであるから、従来の基板と略
同等の製造工程及び製造コストで製造することができ
る。従って、視覚的にプローブを確認することができる
という大きなメリットを有するにもかかわらず、コスト
的には従来のものとなんら変わらないプローブカードを
提供することができるのである。
ム付きプローブカードに用いられる透明基板は、プロー
ブに沿った開口を開設し、その開口の一端縁部にプリズ
ムを形成するだけでよいのであるから、従来の基板と略
同等の製造工程及び製造コストで製造することができ
る。従って、視覚的にプローブを確認することができる
という大きなメリットを有するにもかかわらず、コスト
的には従来のものとなんら変わらないプローブカードを
提供することができるのである。
【0028】さらに、プリズムは透明基板と同時に形成
されるため、現在使用されている基板を交換するだけ
で、プローブの先端を視覚的に確認することができるプ
ローブ先端位置確認用プリズム付きプローブカードとす
ることができる。
されるため、現在使用されている基板を交換するだけ
で、プローブの先端を視覚的に確認することができるプ
ローブ先端位置確認用プリズム付きプローブカードとす
ることができる。
【図1】本発明の一実施例に係るプローブ先端位置確認
用プリズム付きプローブカードに用いられる基板の概略
的平面図である。
用プリズム付きプローブカードに用いられる基板の概略
的平面図である。
【図2】図1のA−A線断面図である。
【図3】他の実施例を示す基板の開口部分の断面図であ
る。
る。
【図4】スプリングピンの概略的断面図である。
【図5】他のプローブを用いたプローブ先端位置確認用
プリズム付きプローブカードを示す概略的断面図であ
る。
プリズム付きプローブカードを示す概略的断面図であ
る。
100 透明基板 130 開口 131 プリズム 200 スプリングピン(プローブ)
Claims (1)
- 【請求項1】 透明基板に略垂直に取り付けられたプロ
ーブの先端が被測定物の所定位置にあるか否かを確認で
きるプローブカードであって、前記透明基板には前記プ
ローブの配置に対応した開口が開設されており、当該開
口の一端縁部はプリズムとして透明基板に一体に形成さ
れており、プローブの真上方向から見ると前記プリズム
に沿って配置されたプローブの先端をプリズムを通して
視認可能であることを特徴とするプローブ先端位置確認
用プリズム付きプローブカード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5078887A JPH087236B2 (ja) | 1993-03-12 | 1993-03-12 | プローブ先端位置確認用プリズム付きプローブカード |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5078887A JPH087236B2 (ja) | 1993-03-12 | 1993-03-12 | プローブ先端位置確認用プリズム付きプローブカード |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06265578A JPH06265578A (ja) | 1994-09-22 |
| JPH087236B2 true JPH087236B2 (ja) | 1996-01-29 |
Family
ID=13674326
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5078887A Expired - Fee Related JPH087236B2 (ja) | 1993-03-12 | 1993-03-12 | プローブ先端位置確認用プリズム付きプローブカード |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH087236B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58103383U (ja) * | 1981-12-29 | 1983-07-14 | 富士通株式会社 | プロ−バ |
| JPS58173841A (ja) * | 1982-04-03 | 1983-10-12 | Nippon Denshi Zairyo Kk | プロ−ブカ−ド |
-
1993
- 1993-03-12 JP JP5078887A patent/JPH087236B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06265578A (ja) | 1994-09-22 |
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