JPH0552905A - 集積回路テストアダプタ - Google Patents
集積回路テストアダプタInfo
- Publication number
- JPH0552905A JPH0552905A JP3212563A JP21256391A JPH0552905A JP H0552905 A JPH0552905 A JP H0552905A JP 3212563 A JP3212563 A JP 3212563A JP 21256391 A JP21256391 A JP 21256391A JP H0552905 A JPH0552905 A JP H0552905A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- contact
- fixing
- cap
- bumps
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 10
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 固定台４に集積回路チップ１１を載せ、固定
キャップ３で蓋をし、固定装置で固定して、接触先付ソ
ケットをバンプ１２に接触させる。 【効果】 バンプと測定端子との接触不良を防止でき
る。
キャップ３で蓋をし、固定装置で固定して、接触先付ソ
ケットをバンプ１２に接触させる。 【効果】 バンプと測定端子との接触不良を防止でき
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は集積回路テストアダプ
タ、特に、バンプ等を備えた集積回路チップを測定する
場合の集積回路テストアダプタに関する。
タ、特に、バンプ等を備えた集積回路チップを測定する
場合の集積回路テストアダプタに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の技術は、バンプを備えた集積回路
チップをベンチテストする場合、測定器の測定端子の先
を測定したいバンプ上へ直接接触させて行なっていた。
チップをベンチテストする場合、測定器の測定端子の先
を測定したいバンプ上へ直接接触させて行なっていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の技術は、３ケ所
のバンプに測定器の測定端子の先を接触させているため
に、測定器のレンジを切り換えたり、波形の位置調整を
行なう場合に、１度バンプから測定端子の先をはずし
て、測定器の調整を行ってから、再びバンプに接触させ
るという煩わしさがあった。またバンプ間が小さい場
合、測定端子の先がバンプと接触不良になることもあ
り、また違うバンプを測定したり、数多くの測定をくり
返すことにより、測定端子の先でバンプをかなり傷つけ
るという問題点があった。
のバンプに測定器の測定端子の先を接触させているため
に、測定器のレンジを切り換えたり、波形の位置調整を
行なう場合に、１度バンプから測定端子の先をはずし
て、測定器の調整を行ってから、再びバンプに接触させ
るという煩わしさがあった。またバンプ間が小さい場
合、測定端子の先がバンプと接触不良になることもあ
り、また違うバンプを測定したり、数多くの測定をくり
返すことにより、測定端子の先でバンプをかなり傷つけ
るという問題点があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の集積回路テスト
アダプタは、集積回路チップをのせるための絶縁物でで
きた固定台と、この固定台にのせた被測定物を固定する
ための絶縁物でできた固定キャップと、前述の固定台と
固定キャップを装着するための絶縁物でできた装着装置
で構成されており集積回路チップの各ピンに触れるため
の接触先付ソケットを固定キャップに備えている。
アダプタは、集積回路チップをのせるための絶縁物でで
きた固定台と、この固定台にのせた被測定物を固定する
ための絶縁物でできた固定キャップと、前述の固定台と
固定キャップを装着するための絶縁物でできた装着装置
で構成されており集積回路チップの各ピンに触れるため
の接触先付ソケットを固定キャップに備えている。
【０００５】
【実施例】次に本発明に関して図面を参照して説明す
る。図１（ａ），（ｂ）は本発明の一実施例を示す断面
図および平面図である。
る。図１（ａ），（ｂ）は本発明の一実施例を示す断面
図および平面図である。
【０００６】固定台４に集積回路チップ１１を装置し、
固定キャップ３にてふたをして、その後固定装置２で固
定する。そうすることにより固定キャップ３に取り付け
られた接触先付ソケット１が被測定物１１のバンプ１２
に確実に接触される。従って、集積回路チップ１１のバ
ンプ１２を確測する場合測定器２１の測定端子２２を接
触先付ソケット１に接続することにより所定の測定が可
能となる。
固定キャップ３にてふたをして、その後固定装置２で固
定する。そうすることにより固定キャップ３に取り付け
られた接触先付ソケット１が被測定物１１のバンプ１２
に確実に接触される。従って、集積回路チップ１１のバ
ンプ１２を確測する場合測定器２１の測定端子２２を接
触先付ソケット１に接続することにより所定の測定が可
能となる。
【０００７】
【発明の効果】以上説明したように、集積回路テストア
ダプタに備えられた接触先付ソケットの接触先が集積回
路チップのバンプに確実に接触されるため、測定器の測
定端子を接触先付ソケットに接続することにより測定の
操作が容易に行なえる。また集積回路チップのバンプに
与える測定器の測定端子による傷も最小限におさえるこ
とができ、バンプと測定端子の接触不良や誤接触をさけ
ることができるという効果がある。
ダプタに備えられた接触先付ソケットの接触先が集積回
路チップのバンプに確実に接触されるため、測定器の測
定端子を接触先付ソケットに接続することにより測定の
操作が容易に行なえる。また集積回路チップのバンプに
与える測定器の測定端子による傷も最小限におさえるこ
とができ、バンプと測定端子の接触不良や誤接触をさけ
ることができるという効果がある。
【図１】（ａ），（ｂ）は本発明の一実施例を示す断面
図および平面図である。
図および平面図である。
１ 接触先付ソケット ２ 固定装置 ３ 固定キャップ ４ 固定台 １１ 集積回路チップ １２ バンプ ２１ 測定器 ２２ 測定端子
Claims (1)
- 【請求項１】 集積回路チップをのせるための絶縁物で
できた固定台と、この固定台にのせた固定キャップと、
前述の固定台と固定キャップを装着するための絶縁物で
できた装着装置で構成されており、集積回路チップの信
号あるいはＧＮＤピンに接触する導電性のあるピンが固
定キャップに取り付けられ、かつキャップの集積回路チ
ップが取り付けられる反対側の面に前記導電性のピンと
電気的に接続された導体が出ていることを特徴とする集
積回路テストアダプタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3212563A JPH0552905A (ja) | 1991-08-26 | 1991-08-26 | 集積回路テストアダプタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3212563A JPH0552905A (ja) | 1991-08-26 | 1991-08-26 | 集積回路テストアダプタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0552905A true JPH0552905A (ja) | 1993-03-02 |
Family
ID=16624774
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3212563A Pending JPH0552905A (ja) | 1991-08-26 | 1991-08-26 | 集積回路テストアダプタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0552905A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100953560B1 (ko) * | 2007-12-17 | 2010-04-21 | 한국전자통신연구원 | 테라헤르츠파 소자의 테스트 지원 장치 |
-
1991
- 1991-08-26 JP JP3212563A patent/JPH0552905A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100953560B1 (ko) * | 2007-12-17 | 2010-04-21 | 한국전자통신연구원 | 테라헤르츠파 소자의 테스트 지원 장치 |
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