JPH0878593A - Chip carrier and manufacturing method thereof - Google Patents
Chip carrier and manufacturing method thereofInfo
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- JPH0878593A JPH0878593A JP6234041A JP23404194A JPH0878593A JP H0878593 A JPH0878593 A JP H0878593A JP 6234041 A JP6234041 A JP 6234041A JP 23404194 A JP23404194 A JP 23404194A JP H0878593 A JPH0878593 A JP H0878593A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 全体の厚みを薄くでき、かつリードフレーム
等の外部接続端子との接合工程を省略したチップキャリ
アを提供すること。
【構成】 チップキャリア1は、ガラスエポキシ基板を
はじめとする絶縁性基板に代えて導体板を支持基板2と
して使用し、これを支持基板2の上に、絶縁層3、5と
導体層4,6を順に積み重て形成した積層部7を設け
る。また、積層部7を設けた後に、当該積層部7の導体
パターンを保護した状態で、反対側の面の支持基板2を
エッチングして形成したリード8を得る。このように支
持基板2上に積層部7を形成した後に、支持基板2をリ
ード8等の外部接続端子に加工するため、従来のような
支持基板がなくなってチップキャリア1の厚みが薄くな
る。
(57) [Abstract] [Purpose] To provide a chip carrier which can be thinned in its entirety and which does not require a bonding step with external connection terminals such as a lead frame. [Structure] The chip carrier 1 uses a conductor plate as a support substrate 2 in place of an insulating substrate such as a glass epoxy substrate, and on the support substrate 2, insulating layers 3, 5 and conductor layers 4, 4 are provided. A laminated portion 7 formed by sequentially stacking 6 is provided. Further, after the laminated portion 7 is provided, the leads 8 formed by etching the support substrate 2 on the opposite surface while the conductor pattern of the laminated portion 7 is protected are obtained. After the laminated portion 7 is formed on the support substrate 2 in this manner, the support substrate 2 is processed into external connection terminals such as the leads 8. Therefore, the conventional support substrate is eliminated and the thickness of the chip carrier 1 is reduced.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積回路素子を
搭載でき、かつ外部回路に接続するための外部接続端子
を有するチップキャリアと、このチップキャリアを製造
する方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a chip carrier on which a semiconductor integrated circuit device can be mounted and which has an external connection terminal for connecting to an external circuit, and a method for manufacturing the chip carrier.
【0002】さらに詳しくは、本発明は、絶縁層と導体
パターンを交互に積み重た構造の積層部を有し、かつ外
部回路に接続するためのクワッド・フラット・パッケー
ジ型の外部接続端子を有する半導体パッケージ向けのチ
ップキャリアに関する。More specifically, the present invention has a laminated portion having a structure in which insulating layers and conductor patterns are alternately stacked and has a quad flat package type external connection terminal for connecting to an external circuit. The present invention relates to a chip carrier for semiconductor packages.
【0003】また、本発明は、絶縁層等の支持基板に導
体板を使用し、この導体板上に絶縁層、導体パターン、
絶縁層、導体パターンというように交互に積み重ねて積
層部を形成した後に、前記支持基板の導体板を加工して
外部接続端子である導体パターンを形成するチップキャ
リアの製造方法に関する。Further, according to the present invention, a conductor plate is used as a supporting substrate such as an insulating layer, and an insulating layer, a conductor pattern,
The present invention relates to a method of manufacturing a chip carrier in which an insulating layer and a conductor pattern are alternately stacked to form a laminated portion, and then the conductor plate of the support substrate is processed to form a conductor pattern that is an external connection terminal.
【0004】[0004]
【従来の技術】この種の半導体装置は、チップキャリア
に半導体集積回路素子(ICチップ)を搭載し、かつこ
れらを樹脂でモールドしてなるものが一般的である。2. Description of the Related Art A semiconductor device of this type is generally one in which a semiconductor integrated circuit element (IC chip) is mounted on a chip carrier and these are molded with resin.
【0005】前記チップキャリアのうちクワッド・フラ
ット・パッケージ(Quad Flat Pakage;以下、「QF
P」という)型の構造のものは、絶縁層と導体パターン
を交互に積み重ねるために、これらを支持する支持基板
を必要とした。そして、支持基板上に必要な絶縁層と導
体パターンをすべて形成したのち、別に用意したリード
フレームを半田付け等の方法で接合し、一体化する方法
がとられていた。Among the chip carriers, a quad flat package (hereinafter referred to as "QF")
The "P" type structure required a supporting substrate for supporting the insulating layers and the conductor patterns in order to stack them alternately. Then, after forming all the necessary insulating layers and conductor patterns on the supporting substrate, a separately prepared lead frame is joined and integrated by a method such as soldering.
【0006】一方、上述したチップキャリアとは別の形
態として、リードフレームのアウターリード部をシート
で覆い、全体にプリプレグと銅箔を貼り合わせて、いわ
ゆる多層プリント配線板の工法と同様に導体パターンを
形成し、最後にアウターリード部のシートと、シート上
の絶縁層を除去して前記アウターリードを露光させてチ
ップキャリアとするというものが提案されている。On the other hand, as a form different from the above-mentioned chip carrier, the outer lead portion of the lead frame is covered with a sheet, and the prepreg and the copper foil are bonded to the whole, and the conductor pattern is formed in the same manner as the so-called multilayer printed wiring board construction method. It is proposed that the sheet of the outer lead portion and the insulating layer on the sheet are finally removed and the outer lead is exposed to form a chip carrier.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前者の
方法で作成したチップキャリアは、本来不要な支持基板
が有るため、支持基板の厚み分、チップキャリアが厚く
なってしまい、このチップキャリアを使用した半導体パ
ッケージが厚くなってしまうという欠点があった。However, since the chip carrier prepared by the former method originally has an unnecessary supporting substrate, the chip carrier becomes thicker by the thickness of the supporting substrate, and this chip carrier is used. There is a drawback that the semiconductor package becomes thick.
【0008】また、同様に前者の方法で得たチップキャ
リアは、支持基板そのものがコストがかかり、しかもリ
ードフレームのインナーリードと積層部とを接合する工
程が必要となってコストがかかり、半導体パッケージ全
体のコストを大幅に引上げるという欠点があった。Similarly, in the chip carrier obtained by the former method, the supporting substrate itself is costly, and a step of joining the inner lead of the lead frame and the laminated portion is required, which is also costly, and the semiconductor package There was a drawback that it drastically increased the overall cost.
【0009】一方、後者の方法で作成したチップキャリ
アは、リードフレームのアウタリード部をシートで覆う
工程と、最後に、当該シートと、そのシート上の絶縁層
を除去する工程とが複雑であり、後で不要となる絶縁層
の割合が多く、そのためにコスト高となるという欠点が
あった。On the other hand, in the chip carrier produced by the latter method, the step of covering the outer lead portion of the lead frame with a sheet and finally the step of removing the sheet and the insulating layer on the sheet are complicated, There is a drawback in that the ratio of the insulating layer that becomes unnecessary later is large, which increases the cost.
【0010】本発明は、上述した欠点を解消し、全体の
厚みを薄くでき、かつリードフレーム等の外部接続端子
との接合工程を省略したチップキャリア及びその製造方
法を提供することを目的としている。It is an object of the present invention to solve the above-mentioned drawbacks, to reduce the overall thickness, and to provide a chip carrier in which a step of joining with an external connection terminal such as a lead frame is omitted, and a manufacturing method thereof. .
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1記載の発明では、導体板からなる支持基板
の所定の位置に絶縁層と導体層とを積層して構成した積
層部と、前記導体板を所定の形状に加工してなるリード
フレーム等の外部接続端子とを備えたことを特徴とする
ものである。In order to achieve the above-mentioned object, in the invention according to claim 1, a laminated portion constituted by laminating an insulating layer and a conductor layer at a predetermined position of a supporting substrate made of a conductor plate. And an external connection terminal such as a lead frame formed by processing the conductor plate into a predetermined shape.
【0012】請求項2記載の導体板は、35μm〜30
0μmの厚さで、かつ150〜300HVの硬度を有す
る金属板であることを特徴とするものである。The conductor plate according to claim 2 has a thickness of 35 μm to 30 μm.
It is a metal plate having a thickness of 0 μm and a hardness of 150 to 300 HV.
【0013】請求項3記載の導体板は、鉄−ニッケル合
金であることを特徴とするものである。A conductor plate according to a third aspect is characterized by being an iron-nickel alloy.
【0014】請求項4記載の導体板は、硬度150HV
以上の銅合金であることを特徴とするものである。The conductor plate according to claim 4 has a hardness of 150 HV.
It is characterized by being the above copper alloy.
【0015】上記目的を達成するために、請求項5記載
の発明では、支持基板の導体板上に絶縁層を形成すると
ともに当該絶縁層に所定の配線パターンに従って透孔を
設け、当該透孔に導体を設けるとともに前記絶縁層上に
所定の配線パターンで導体パターンを設け、これら工程
を所定の回数繰り返して積層部を形成した後に、上記導
体板を加工してリードフレーム等の外部接続端子を形成
することを特徴とするものである。In order to achieve the above object, in the invention according to claim 5, an insulating layer is formed on the conductor plate of the supporting substrate, and a through hole is formed in the insulating layer according to a predetermined wiring pattern, and the through hole is formed. A conductor is provided and a conductor pattern is provided on the insulating layer with a predetermined wiring pattern, and these steps are repeated a predetermined number of times to form a laminated portion, and then the conductor plate is processed to form an external connection terminal such as a lead frame. It is characterized by doing.
【0016】[0016]
【作用】請求項1記載の発明では、ガラスエポキシ基板
をはじめとする絶縁性基板に代えて導体板を支持基板と
して使用し、この支持基板上に、絶縁層と導体層を順に
積み重ねて形成した積層部を設ける。また、積層部を設
けた後に、当該積層部の導体層を保護した状態で、支持
基板の反対側の面を所定のパターンに従ってエッチング
してリードフレーム等の外部接続端子を形成する。この
ように支持基板上に積層部を形成した後に、支持基板自
体をリードフレーム等の外部接続端子に加工するため、
チップキャリアの厚みが薄くなる。According to the first aspect of the present invention, a conductor plate is used as a supporting substrate in place of an insulating substrate such as a glass epoxy substrate, and an insulating layer and a conductor layer are sequentially stacked on the supporting substrate. A laminated portion is provided. Further, after the laminated portion is provided, the surface on the opposite side of the support substrate is etched according to a predetermined pattern while the conductor layer of the laminated portion is protected to form an external connection terminal such as a lead frame. After forming the laminated portion on the support substrate in this manner, the support substrate itself is processed into an external connection terminal such as a lead frame.
The chip carrier becomes thinner.
【0017】請求項2記載の導体板は、35μm〜30
0μmの厚さで、かつ150〜300HVの硬度を有す
る金属板であるので、リードフレーム等の外部接続端子
の形成が容易で、かつリードフレームとしての十分な強
度を有する。The conductor plate according to claim 2 is 35 μm to 30 μm.
Since it is a metal plate having a thickness of 0 μm and a hardness of 150 to 300 HV, it is easy to form an external connection terminal such as a lead frame and has sufficient strength as a lead frame.
【0018】請求項3または4記載の導体板は、鉄−ニ
ッケル合金あるいは硬度150HV以上の銅合金である
ので、リードフレーム等の外部接続端子の形成が容易
で、かつリードフレームとしての十分な強度を有する。Since the conductor plate according to the third or fourth aspect is an iron-nickel alloy or a copper alloy having a hardness of 150 HV or more, it is easy to form an external connection terminal such as a lead frame and has sufficient strength as a lead frame. Have.
【0019】請求項5記載の発明では、支持基板の導体
板上に絶縁層を形成し、ついで当該絶縁層に所定の配線
パターンに従って透孔を設ける。また、導体板を使って
当該透孔に電気めっき等で絶縁層と同一厚みの導体を設
ける。前記絶縁層上に所定の配線パターンで導体パター
ンを設ける。これら工程を所定の回数繰り返して積層部
を形成する。これにより、所定の配線がされた積層部が
得られる。次に、上記導体板を所定のパターンにエッチ
ング加工等してリードフレーム等の外部接続端子に形成
する。これにより、積層部の配線に接続されたリードフ
レーム等の外部接続端子が得られ、かつ支持基板がリー
ドフレーム等の外部接続端子に変化するため、チップキ
ャリア全体の厚みが薄くなり、しかもリードフレームを
接続する工程が不要になる。According to a fifth aspect of the present invention, an insulating layer is formed on the conductor plate of the supporting substrate, and then a through hole is formed in the insulating layer according to a predetermined wiring pattern. Further, a conductor plate is used to provide a conductor having the same thickness as the insulating layer in the through hole by electroplating or the like. A conductor pattern having a predetermined wiring pattern is provided on the insulating layer. These steps are repeated a predetermined number of times to form a laminated portion. As a result, a laminated portion having a predetermined wiring is obtained. Next, the conductor plate is etched into a predetermined pattern to form external connection terminals such as a lead frame. As a result, an external connection terminal such as a lead frame connected to the wiring of the laminated portion can be obtained, and the supporting substrate is changed to an external connection terminal such as a lead frame, so that the thickness of the entire chip carrier is reduced and the lead frame is also reduced. The step of connecting the components becomes unnecessary.
【0020】[0020]
【実施例】以下、本発明について図示の実施例を参照し
て説明する。The present invention will be described below with reference to the illustrated embodiments.
【0021】図1は、本発明のチップキャリアの実施例
を示す裏面図である。図2は、同実施例を示す表面図で
ある。図3は、図2の断面図である。FIG. 1 is a rear view showing an embodiment of the chip carrier of the present invention. FIG. 2 is a front view showing the same embodiment. FIG. 3 is a sectional view of FIG.
【0022】これらの図において、チップキャリア1
は、例えば板厚約125μmの鉄−ニッケル合金の導体
板からなる支持基板2の所定の位置に、詳細は後述する
が、絶縁層3、5と導体層4,6とを積層して構成した
積層部7と、前記導体板2を所定の形状に加工してリー
ド8を形成させるエリア9と、アイランド10とを備え
ている。すなわち、図1では、支持基板2のエリア9部
分に長溝状の透孔部11,11,11,11を形成し、
各透孔部11の各透孔12で挟まれる導体を残してお
く。そして、例えば点線Aの部分を切断することによ
り、図3に示すように、リード8が形成されたチップキ
ャリア1としている。なお、エリア13、13、13、
13は積層部3の電極端子の接続部分である。また、積
層部7の上には、半導体集積回路素子(ICチップ)1
4を搭載している。In these figures, the chip carrier 1
Is formed, for example, by laminating insulating layers 3 and 5 and conductor layers 4 and 6 at predetermined positions on a supporting substrate 2 made of an iron-nickel alloy conductor plate having a plate thickness of about 125 μm. It includes a laminated portion 7, an area 9 in which the conductor plate 2 is processed into a predetermined shape to form a lead 8, and an island 10. That is, in FIG. 1, long groove-shaped through holes 11, 11, 11, 11 are formed in the area 9 of the support substrate 2,
The conductor sandwiched between the through holes 12 of each through hole portion 11 is left. Then, for example, by cutting the part of the dotted line A, the chip carrier 1 having the leads 8 is formed as shown in FIG. Areas 13, 13, 13,
Reference numeral 13 is a connecting portion of the electrode terminals of the laminated portion 3. Further, on the laminated portion 7, a semiconductor integrated circuit element (IC chip) 1
It is equipped with 4.
【0023】このようなチップキャリア1は次のように
構成される。Such a chip carrier 1 is constructed as follows.
【0024】〔第1層目の形成工程〕まず、この実施例
では、支持基板2として、例えば板厚が約150〔μ
m〕の銅合金板17を使用する。この銅合金板17を洗
浄し、よく乾燥させる(図4(a)参照)。[Formation Step of First Layer] First, in this embodiment, the support substrate 2 has, for example, a plate thickness of about 150 μ
m] copper alloy plate 17 is used. The copper alloy plate 17 is washed and dried well (see FIG. 4 (a)).
【0025】その後、この銅合金板17にスクリーン印
刷で感光性樹脂(例えば、プロビコート5000(商品
名);日本ペイント株式会社製)を乾燥後の厚みが例え
ば約30〔μm〕となるように印刷した後、例えば80
〔度C〕で例えば約30分乾燥する。これにより、図4
(b)に示すように、銅合金板17に樹脂層18が形成
される。Then, a photosensitive resin (for example, Provicoat 5000 (trade name); manufactured by Nippon Paint Co., Ltd.) is printed on the copper alloy plate 17 by screen printing so that the thickness after drying is, for example, about 30 μm. After doing, for example, 80
Drying is performed at [degree C] for about 30 minutes, for example. As a result, FIG.
As shown in (b), the resin layer 18 is formed on the copper alloy plate 17.
【0026】次に、図示しないガラスマスクを上記樹脂
層18上に重ね、上から紫外線を例えば約3000〔m
J/cm2 〕照射する。その後に、専用の現像液を約1
分間吹きつけ、紫外線の当たらなかった部分の樹脂を除
去する。この処理を終了した後に、水洗をし、例えば1
40〔度C〕で例えば30〔分〕間加熱して残った樹脂
を硬化させる。これにより、図4(c)に示すように、
銅合金板17の上に樹脂層18に所定の配線パターンに
従って透孔19が設けられた絶縁層3が形成されること
になる。Next, a glass mask (not shown) is placed on the resin layer 18, and ultraviolet rays are applied from above, for example, about 3000 [m.
J / cm2]. After that, about 1 dedicated developer
Blow for minutes to remove the resin in the area not exposed to UV light. After finishing this process, wash with water, for example, 1
The remaining resin is cured by heating at 40 [degrees C] for 30 minutes, for example. As a result, as shown in FIG.
The insulating layer 3 in which the through holes 19 are provided in the resin layer 18 according to a predetermined wiring pattern is formed on the copper alloy plate 17.
【0027】次に、同様に処理した試料をもう1枚用意
し、支持基板2同士を重ねて、支持基板2の内側に処理
液が侵入しないように、周囲をテープ貼りした。このと
き、2枚づつ貼り合わせないで、代わりに支持基板2の
銅合金板17の感光性樹脂を印刷しなかった面20,2
1や、積層部7を設けない面22にレジストとなる絶縁
物を貼り合わせても良い。このようにして硫酸銅めっき
液に浸透し、例えば電流密度5〔A/dm2 〕で例えば
約25分間電気めっきをする。これにより、絶縁層3の
所定の配線パターンに従って設けられた透孔19、すな
わち樹脂層18の一部樹脂を除去した部分に当該樹脂層
18の厚みとほぼ同じ厚さのめっきをつけて導体24を
設ける。これにより、図4(d)に示すように絶縁層4
の所定の配線パターンに従って設けられた透孔19内に
導体24が設けられたものが得られる。Next, another sample treated in the same manner was prepared, the supporting substrates 2 were overlapped with each other, and the periphery thereof was taped so that the processing liquid did not enter the inside of the supporting substrate 2. At this time, the surfaces 20 and 2 of the copper alloy plate 17 of the support substrate 2 on which the photosensitive resin was not printed were not bonded to each other.
An insulating material serving as a resist may be attached to the surface 1 or the surface 22 where the laminated portion 7 is not provided. In this way, it is permeated into the copper sulfate plating solution and electroplated at a current density of 5 [A / dm @ 2] for, for example, about 25 minutes. As a result, the through hole 19 provided in accordance with the predetermined wiring pattern of the insulating layer 3, that is, the portion of the resin layer 18 from which a part of the resin has been removed is plated with a thickness substantially the same as the thickness of the resin layer 18, and the conductor 24 is formed. To provide. As a result, as shown in FIG.
The conductor 24 is provided in the through hole 19 provided according to the predetermined wiring pattern.
【0028】次に、図4(d)に示すような構造のもの
の絶縁層3の表面上に、スパッタリングで例えば約0.
2〔μm〕の銅薄膜を形成した後に、硫酸銅めっきを行
なって、例えば約10〔μm〕の厚さの銅膜を形成す
る。このような銅膜の上に、例えば液状レジスト(PM
ER(商品名);東京応化工業株式会社製)を均一に塗
布して乾燥させて感光層を設ける。Next, on the surface of the insulating layer 3 having the structure shown in FIG.
After forming a copper thin film of 2 [μm], copper sulfate plating is performed to form a copper film having a thickness of, for example, about 10 [μm]. On such a copper film, for example, a liquid resist (PM
ER (trade name); manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) is uniformly applied and dried to form a photosensitive layer.
【0029】その後、この感光層を所定の配線パターン
に従って露光し、その後、これを現像することによって
エッチングレジストパターンを形成した。次に塩化第二
鉄液でエッチングした後、エッチングレジストを剥離し
た。これにより、図4(e)に示すように、絶縁層3の
上に導体層4が形成されたことになる。After that, the photosensitive layer was exposed according to a predetermined wiring pattern, and then developed to form an etching resist pattern. Next, after etching with a ferric chloride solution, the etching resist was peeled off. As a result, as shown in FIG. 4E, the conductor layer 4 is formed on the insulating layer 3.
【0030】これにより、銅合金板17の上に絶縁層3
及び導体層4の第1層目が形成されたことになる。As a result, the insulating layer 3 is formed on the copper alloy plate 17.
Thus, the first layer of the conductor layer 4 is formed.
【0031】〔第2層目の形成工程〕再び、導体層4及
び導体層4が形成されていない絶縁層3の部分等の上に
スクリーン印刷で感光性樹脂(例えば、プロビコート5
000(商品名);日本ペイント株式会社製)を乾燥後
の厚みが例えば約30〔μm〕となるように印刷した
後、例えば80〔度C〕で例えば約30分乾燥して樹脂
層25を形成する。[Second Layer Forming Step] Again, a photosensitive resin (for example, Probicoat 5) is screen-printed on the conductor layer 4 and the portion of the insulating layer 3 where the conductor layer 4 is not formed.
000 (trade name); manufactured by Nippon Paint Co., Ltd.) is printed so that the thickness after drying is, for example, about 30 [μm], and then dried at, for example, 80 [degrees C] for about 30 minutes to form the resin layer 25. Form.
【0032】次に、図示しないガラスマスクを上記樹脂
層25上に重ね、上から紫外線を例えば約3000〔m
J/cm2 〕照射する。その後に、専用の現像液を約1
分間吹きつけ、紫外線の当たらなかった部分の樹脂を除
去する。この処理を終了した後に、水洗をし、例えば1
40〔度C〕で例えば30〔分〕間加熱して残った樹脂
を硬化させる。これにより、図4(f)に示すように、
導体層4及び導体層4のない絶縁層3の部分の上に絶縁
層5が形成され、かつ絶縁層5には所定の配線パターン
に従って透孔26が設けられることになる。Next, a glass mask (not shown) is placed on the resin layer 25, and ultraviolet rays are applied from above, for example, about 3000 [m.
J / cm2]. After that, about 1 dedicated developer
Blow for minutes to remove the resin in the area not exposed to UV light. After finishing this process, wash with water, for example, 1
The remaining resin is cured by heating at 40 [degrees C] for 30 minutes, for example. As a result, as shown in FIG.
The insulating layer 5 is formed on the conductor layer 4 and the portion of the insulating layer 3 without the conductor layer 4, and the through hole 26 is provided in the insulating layer 5 according to a predetermined wiring pattern.
【0033】次に、再び硫酸銅めっき液に浸漬し、例え
ば電流密度5〔A/dm2 〕で例えば約25分間電気め
っきをする。これにより、絶縁層5の所定の配線パター
ンに従って設けられた透孔26、すなわち樹脂層25の
一部樹脂を除去した部分に当該樹脂層25の厚みとほぼ
同じ厚さのめっきをつけて導体27を設ける。これによ
り、図4(g)に示すように絶縁層5の所定の配線パタ
ーンに従って設けられた透孔26内に導体27が設けら
れたものが得られる。Next, it is immersed again in a copper sulfate plating solution and electroplated at a current density of 5 [A / dm2] for, for example, about 25 minutes. Thereby, the through hole 26 provided in accordance with the predetermined wiring pattern of the insulating layer 5, that is, the portion of the resin layer 25 from which a part of the resin is removed is plated with a thickness substantially the same as the thickness of the resin layer 25, and the conductor 27 is formed. To provide. As a result, as shown in FIG. 4 (g), a conductor 27 is provided in the through hole 26 provided according to a predetermined wiring pattern of the insulating layer 5.
【0034】次に、図4(g)に示すような構造のもの
の絶縁層5の表面上に、スパッタリングで例えば約0.
2〔μm〕の銅薄膜を形成した後に、硫酸銅めっきを行
なって、例えば約10〔μm〕の厚さの銅膜を形成す
る。このような銅膜の上に、例えば液状レジスト(PM
ER(商品名);東京応化工業株式会社製)を均一に塗
布して乾燥させて感光層を形成する。Next, on the surface of the insulating layer 5 having the structure shown in FIG.
After forming a copper thin film of 2 [μm], copper sulfate plating is performed to form a copper film having a thickness of, for example, about 10 [μm]. On such a copper film, for example, a liquid resist (PM
ER (trade name); made by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) is uniformly applied and dried to form a photosensitive layer.
【0035】その後、この感光層を所定の配線パターン
に従って露光し、その後、これを現像することによって
エッチングレジストパターンを形成した。次に塩化第二
鉄液でエッチングした後、エッチングレジストを剥離し
た。これにより、図4(h)に示すように、絶縁層5の
上に導体層6が形成されたことになる。After that, the photosensitive layer was exposed according to a predetermined wiring pattern, and then developed to form an etching resist pattern. Next, after etching with a ferric chloride solution, the etching resist was peeled off. As a result, as shown in FIG. 4H, the conductor layer 6 is formed on the insulating layer 5.
【0036】これにより、導体層4の上に絶縁層5及び
導体層6の第2層目が形成されたことになる。As a result, the second layers of the insulating layer 5 and the conductor layer 6 are formed on the conductor layer 4.
【0037】そして、絶縁層3、5及び導体層4,6か
らなる積層部7が形成されることになる。Then, the laminated portion 7 including the insulating layers 3 and 5 and the conductor layers 4 and 6 is formed.
【0038】〔リードフレームの作成工程〕次に、回路
形成した積層部7に耐酸性のあるシートを貼り合わせ、
裏面の支持基板2の全面露光した面にドライフィルムを
貼り合わせた。上記と同じ工程でリード8となるパター
ンを露光・現像し、エッチングした後、ドライフィルム
を剥離することで支持基板2をリード8に加工する。こ
れにより、図4(i)または図1に示す部材が形成され
ることになる。[Lead Frame Making Process] Next, an acid resistant sheet is attached to the circuit-formed laminated portion 7,
A dry film was attached to the exposed surface of the support substrate 2 on the back surface. In the same process as above, the pattern to be the lead 8 is exposed and developed, and after etching, the dry film is peeled off to process the support substrate 2 into the lead 8. As a result, the member shown in FIG. 4I or FIG. 1 is formed.
【0039】なお、必要に応じ、リード8と絶縁層3と
の接着強度を高めるため、リード8上に樹脂を印刷して
リードフレームの先端を固定しても良い。If necessary, in order to increase the adhesive strength between the lead 8 and the insulating layer 3, a resin may be printed on the lead 8 to fix the tip of the lead frame.
【0040】最後に吹き上げ式めっき装置を用い、必要
な部分をマスクしてニッケルめっきを例えば約5〔μ
m〕、金めっきを例えば約0.5〔μm〕つけた。Finally, by using a blow-up type plating device, a necessary portion is masked and nickel plating is performed to, for example, about 5 [μ
m] and gold plating, for example, about 0.5 [μm].
【0041】このように構成した実施例によれば、絶縁
性の支持基板に代えて導体の支持基板2とし、その上に
絶縁層3、5及び導体層4,6を積層して積層部7を形
成し、かつ導体の支持基板2をリード8に形成している
ので、チップキャリア1の不要な厚みを減らすことがで
き、リード8との接合を特別に行なわずに、従来品と同
等以上の性能を有するチップキャリア1を得ることがで
き、全体的なコストダウンを図ることができる。According to the embodiment thus constructed, the conductor supporting substrate 2 is used in place of the insulating supporting substrate, and the insulating layers 3 and 5 and the conductor layers 4 and 6 are laminated on the supporting substrate 2, and the laminated portion 7 is formed. And the support substrate 2 of the conductor is formed on the lead 8, the unnecessary thickness of the chip carrier 1 can be reduced, and the same as or better than the conventional product can be achieved without special joining with the lead 8. The chip carrier 1 having the above performance can be obtained, and the overall cost can be reduced.
【0042】また、上記実施例では、リード8のインナ
ーリードと積層部7との接合に、はんだ等の接合材を使
用しなくて良いため、接合に要するコストをゼロにする
だけでなく、接合時の加熱によるダメージの心配がな
く、このチップキャリア1を使用した半導体パッケージ
をプリント配線板に搭載する時の熱で接合部の強度低下
や著しい場合には、接合部の断線の心配がないため全体
の信頼性が向上する。Further, in the above-mentioned embodiment, since it is not necessary to use a joining material such as solder for joining the inner lead of the lead 8 and the laminated portion 7, not only the cost required for joining is zero but also the joining There is no fear of damage due to heating at the time, and there is no concern of disconnection of the joint portion when the strength of the joint portion is significantly reduced or significantly due to heat when mounting the semiconductor package using this chip carrier 1 on a printed wiring board. Overall reliability is improved.
【0043】〔第2の実施例〕第2の実施例は、支持基
板2に、高強度で厚さが例えば150〔μm〕の銅板
(EFTEC64T(商品名))を使用したものであ
る。また、この支持基板2に樹脂を塗布する前に厚くな
る分をはじめエッチングして最終的にでっぱりがない状
態にしたものである。そして、リード8のエッチング
は、支持基板2の両面から行なう点が異なる他は、積層
部7の形成する工程は第1の実施例と同じである。[Second Embodiment] In the second embodiment, a copper plate (EFTEC64T (trade name)) having a high strength and a thickness of, for example, 150 [μm] is used for the supporting substrate 2. Further, before the resin is applied to the supporting substrate 2, the thickened portion is first etched to finally make it have no protrusion. The process of forming the laminated portion 7 is the same as that of the first embodiment except that the etching of the leads 8 is performed from both sides of the support substrate 2.
【0044】〔第3の実施例〕図5は、本発明の第3の
実施例を示す裏面図である。図5に示すように、支持基
板2aの上に広い面積の絶縁層3aを形成し、かつアイ
ランド10部分に相当する位置に導体層、絶縁層、導体
層からなる積層部7aを形成し、かつ図示のような所定
のパターンでエッチングしてリード8aを形成し、かつ
リード8aのアウターリード30側の端子先端をパッド
状の端子31に形成したものであり、他は第2の実施例
及び第1の実施例と同様である。[Third Embodiment] FIG. 5 is a rear view showing a third embodiment of the present invention. As shown in FIG. 5, the insulating layer 3a having a large area is formed on the support substrate 2a, and the laminated portion 7a including the conductor layer, the insulating layer, and the conductor layer is formed at a position corresponding to the island 10, and The lead 8a is formed by etching in a predetermined pattern as shown, and the terminal tip of the lead 8a on the outer lead 30 side is formed as a pad-shaped terminal 31. This is similar to the first embodiment.
【0045】第3の実施例は、上述したように構成した
ことにより、チップキャリア1の樹脂部(絶縁層3)の
面積を広げ、かつ図のように電気検査用の端子31を設
けることにより、半導体素子搭載後の電気検査が可能と
なった。The third embodiment is configured as described above, so that the area of the resin portion (insulating layer 3) of the chip carrier 1 is widened and the terminals 31 for electrical inspection are provided as shown in the figure. , Electrical inspection after mounting semiconductor devices is now possible.
【0046】[0046]
【発明の効果】以上説明したように請求項1記載の発明
によれば、導体板からなる支持基板の所定の位置に絶縁
層と導体層とを積層して構成した積層部と、前記導体板
を所定の形状に加工してなるリードフレーム等の外部接
続端子とを備えたので、チップキャリアの不要な厚みを
減らすことができ、リードフレームとの接合を特別に行
なわずに、従来品と同等以上の性能を有するチップキャ
リアを得ることができるため全体的なコストダウンをは
かることができる。As described above, according to the first aspect of the invention, a laminated portion formed by laminating an insulating layer and a conductor layer at a predetermined position of a support substrate made of a conductor plate, and the conductor plate. Since it has an external connection terminal such as a lead frame that is processed into a predetermined shape, the unnecessary thickness of the chip carrier can be reduced, and it is equivalent to the conventional product without special joining with the lead frame. Since the chip carrier having the above performance can be obtained, the overall cost can be reduced.
【0047】また、請求項1記載の発明では、リードフ
レームのインナーリードとの接合に、はんだ等の接合材
を使用しなくて良いため、接合工程をなくすことがで
き、かつ接合時の加熱によるダメージの心配がない。Further, in the invention according to claim 1, since it is not necessary to use a joining material such as solder for joining the inner lead of the lead frame, it is possible to eliminate the joining step and to heat the joining. No worries about damage.
【0048】また、請求項1記載の発明によるチップキ
ャリアを使用した半導体パッケージをプリント配線板に
搭載する時に、その熱による接合部の強度低下や、接合
部の断線の心配がないため全体の信頼性が向上する。When mounting a semiconductor package using the chip carrier according to the first aspect of the present invention on a printed wiring board, there is no fear of deterioration of the strength of the joint portion or disconnection of the joint portion due to the heat, so that the overall reliability is improved. The property is improved.
【0049】請求項2記載の導体板は、35μm〜30
0μmの厚さで、かつ150〜300HVの硬度を有す
る金属板であるので、支持基板として適するとともに、
リードフレーム等の外部接続端子を形成させるに適して
いる。The conductor plate according to claim 2 is 35 μm to 30 μm.
Since it is a metal plate having a thickness of 0 μm and a hardness of 150 to 300 HV, it is suitable as a supporting substrate, and
It is suitable for forming external connection terminals such as lead frames.
【0050】請求項3記載の導体板は、鉄−ニッケル合
金であるので、支持基板として適するとともに、リード
フレーム等の外部接続端子を形成させるに適している。The conductor plate according to claim 3 is an iron-nickel alloy, and thus is suitable as a supporting substrate and also for forming an external connection terminal such as a lead frame.
【0051】請求項4記載の導体板はは、硬度150H
V以上の銅合金であるので、支持基板として適するとと
もに、リードフレーム等の外部接続端子を形成させるに
適している。The conductor plate according to claim 4 has a hardness of 150H.
Since it is a copper alloy of V or more, it is suitable as a supporting substrate and also suitable for forming an external connection terminal such as a lead frame.
【0052】請求項5記載の発明によれば、支持基板の
導体板上に絶縁層を形成するとともに当該絶縁層に所定
の配線パターンに従って透孔を設け、当該透孔に導体を
設けるとともに前記絶縁層上に所定の配線パターンで導
体パターンを設け、これら工程を所定の回数繰り返して
積層部を形成した後に、上記導体板を加工してリードフ
レーム等の外部接続端子を形成するので、リードフレー
ム等の外部接続端子の接合工程をなくすことができ、か
つ支持基板がリードフレーム等の外部接続端子になるの
で、全体の厚みを薄くできる。According to the fifth aspect of the present invention, an insulating layer is formed on the conductor plate of the supporting substrate, a through hole is formed in the insulating layer according to a predetermined wiring pattern, and a conductor is provided in the through hole. Since a conductor pattern is provided on a layer with a predetermined wiring pattern and these steps are repeated a predetermined number of times to form a laminated portion, the conductor plate is processed to form an external connection terminal such as a lead frame. Since the step of joining the external connection terminals can be eliminated, and the supporting substrate serves as the external connection terminals such as the lead frame, the overall thickness can be reduced.
【0053】[0053]
【図1】本発明のチップキャリアの実施例を示す裏面図
である。FIG. 1 is a back view showing an embodiment of a chip carrier of the present invention.
【図2】同チップキャリアの実施例を示す表面図であ
る。FIG. 2 is a front view showing an embodiment of the chip carrier.
【図3】同実施例の断面図である。FIG. 3 is a sectional view of the embodiment.
【図4】同実施例の製造方法を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a manufacturing method according to the embodiment.
【図5】同第3の実施例を示す裏面図である。FIG. 5 is a back view showing the third embodiment.
1 チップキャリア 2 支持基板 3、5 絶縁層 4,6 導体層 7 積層部 8 リード 9 エリア 18 樹脂層 1 Chip Carrier 2 Support Substrate 3, 5 Insulating Layer 4, 6 Conductor Layer 7 Laminated Part 8 Lead 9 Area 18 Resin Layer
Claims (5)
絶縁層と導体層とを積層して構成した積層部と、前記導
体板を所定の形状に加工してなる外部接続端子と、を備
えたことを特徴とするチップキャリア。1. A laminated portion formed by laminating an insulating layer and a conductor layer at a predetermined position on a support substrate made of a conductor plate, and an external connection terminal formed by processing the conductor plate into a predetermined shape. A chip carrier characterized by having.
厚さで、かつ150〜300HVの硬度を有する金属板
であることを特徴とする請求項1記載のチップキャリ
ア。2. The chip carrier according to claim 1, wherein the conductor plate is a metal plate having a thickness of 35 μm to 300 μm and a hardness of 150 to 300 HV.
ことを特徴とする請求項1記載のチップキャリア。3. The chip carrier according to claim 1, wherein the conductor plate is an iron-nickel alloy.
合金であることを特徴とする請求項1記載のチップキャ
リア。4. The chip carrier according to claim 1, wherein the conductor plate is a copper alloy having a hardness of 150 HV or more.
とともに当該絶縁層に所定の配線パターンに従って透孔
を設け、当該透孔に導体を設けるとともに前記絶縁層上
に所定の配線パターンで導体パターンを設け、これら工
程を所定の回数繰り返して積層部を形成した後に、上記
導体板を加工して外部接続端子を形成することを特徴と
するチップキャリアの製造方法。5. An insulating layer is formed on a conductor plate of a supporting substrate, a through hole is provided in the insulating layer according to a predetermined wiring pattern, a conductor is provided in the through hole, and a predetermined wiring pattern is formed on the insulating layer. A method for manufacturing a chip carrier, which comprises providing a conductor pattern, repeating these steps a predetermined number of times to form a laminated portion, and then processing the conductor plate to form an external connection terminal.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6234041A JPH0878593A (en) | 1994-09-02 | 1994-09-02 | Chip carrier and manufacturing method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6234041A JPH0878593A (en) | 1994-09-02 | 1994-09-02 | Chip carrier and manufacturing method thereof |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0878593A true JPH0878593A (en) | 1996-03-22 |
Family
ID=16964648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6234041A Pending JPH0878593A (en) | 1994-09-02 | 1994-09-02 | Chip carrier and manufacturing method thereof |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0878593A (en) |
-
1994
- 1994-09-02 JP JP6234041A patent/JPH0878593A/en active Pending
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