JPH088922A - 系切り替え装置および系切り替え方法 - Google Patents
系切り替え装置および系切り替え方法Info
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- JPH088922A JPH088922A JP6135529A JP13552994A JPH088922A JP H088922 A JPH088922 A JP H088922A JP 6135529 A JP6135529 A JP 6135529A JP 13552994 A JP13552994 A JP 13552994A JP H088922 A JPH088922 A JP H088922A
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- CIWBSHSKHKDKBQ-JLAZNSOCSA-N Ascorbic acid Chemical compound OC[C@H](O)[C@H]1OC(=O)C(O)=C1O CIWBSHSKHKDKBQ-JLAZNSOCSA-N 0.000 description 5
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Landscapes
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 現用系と予備系のセル位相の同期確立を短時
間で行なえ、伝送の品質を損なわない系切り替え装置を
提供する。 【構成】 0系入力1はFIFOメモリである0系メモリ2
に入力される。0系メモリ2の出力は、セレクタ9に入
力されるとともに0系レジスタ3にも入力される。ま
た、0系メモリ2および0系レジスタ3は比較回路4に
接続されている。さらに比較回路4に連動してカウンタ
5が設けられている。1系入力6は1系メモリ7に入力
される。1系メモリの出力は、セレクタ9に入力される
とともに1系レジスタ8にも入力される。また、1系メ
モリ7および1系レジスタ8は比較回路4に接続されて
いる。セレクタ9の出力に選択出力10が得られる。0
系メモリ2、0系レジスタ3、カウンタ5、1系メモリ
7、1系レジスタ8、およびセレクタ9の動作は、全て
制御回路11により制御されている。
間で行なえ、伝送の品質を損なわない系切り替え装置を
提供する。 【構成】 0系入力1はFIFOメモリである0系メモリ2
に入力される。0系メモリ2の出力は、セレクタ9に入
力されるとともに0系レジスタ3にも入力される。ま
た、0系メモリ2および0系レジスタ3は比較回路4に
接続されている。さらに比較回路4に連動してカウンタ
5が設けられている。1系入力6は1系メモリ7に入力
される。1系メモリの出力は、セレクタ9に入力される
とともに1系レジスタ8にも入力される。また、1系メ
モリ7および1系レジスタ8は比較回路4に接続されて
いる。セレクタ9の出力に選択出力10が得られる。0
系メモリ2、0系レジスタ3、カウンタ5、1系メモリ
7、1系レジスタ8、およびセレクタ9の動作は、全て
制御回路11により制御されている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、ATM通信装置等にお
いて、冗長構成された装置の系の切り替えに関するもの
である。
いて、冗長構成された装置の系の切り替えに関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】ATM(非同期転送モード)通信装置やパ
ケット交換機等の通信網では、伝送装置は高い信頼性を
要求されるため、伝送路や装置内の主要部分の二重化を
行なっている。二重化された部分では信号が2系統ある
ため、どちらかの系を選択するための伝送路選択切り替
え回路が設けられている。この伝送路選択切り替え回路
で、まずどちらかの系を選択して使用し、それを現用系
とする。現用系に故障が起きた場合や、配線工事等の保
守等の理由で現用系が使用できなくなる場合には、もう
一方の系である予備系に強制切り替えを行なう。強制切
り替えは実際に伝送路を使用しているときに必要となる
ので、運用中のユーザに影響を与えないためには無瞬断
で行なわれなければならない。ここで言うATM伝送方式
の無瞬断とは、セルの損失、セル順序の逆転およびセル
の2度送り等が発生しないことをいうものとする。
ケット交換機等の通信網では、伝送装置は高い信頼性を
要求されるため、伝送路や装置内の主要部分の二重化を
行なっている。二重化された部分では信号が2系統ある
ため、どちらかの系を選択するための伝送路選択切り替
え回路が設けられている。この伝送路選択切り替え回路
で、まずどちらかの系を選択して使用し、それを現用系
とする。現用系に故障が起きた場合や、配線工事等の保
守等の理由で現用系が使用できなくなる場合には、もう
一方の系である予備系に強制切り替えを行なう。強制切
り替えは実際に伝送路を使用しているときに必要となる
ので、運用中のユーザに影響を与えないためには無瞬断
で行なわれなければならない。ここで言うATM伝送方式
の無瞬断とは、セルの損失、セル順序の逆転およびセル
の2度送り等が発生しないことをいうものとする。
【0003】従来の伝送路選択切り替え回路における無
瞬断切り替え方法では、切り替え要求が発生したときの
現用系と予備系のセルが一致していないとき、まず予備
系のセル位相が進んでいると仮定して予備系のセルの読
み出しを停止する。セルが到着すると、現用系では到着
したセルを現用系メモリにいったん格納し、読みだす。
予備系では到着したセルを予備系メモリに格納してい
き、さらに予備系メモリに格納されたセルのうち先頭セ
ルと現用系メモリに一旦格納されたセルを比較する。こ
のような動作を繰り返して同期探索を行なう。
瞬断切り替え方法では、切り替え要求が発生したときの
現用系と予備系のセルが一致していないとき、まず予備
系のセル位相が進んでいると仮定して予備系のセルの読
み出しを停止する。セルが到着すると、現用系では到着
したセルを現用系メモリにいったん格納し、読みだす。
予備系では到着したセルを予備系メモリに格納してい
き、さらに予備系メモリに格納されたセルのうち先頭セ
ルと現用系メモリに一旦格納されたセルを比較する。こ
のような動作を繰り返して同期探索を行なう。
【0004】予備系メモリがフルになっても同期が確立
できないとき、今度は現用系が進んでいると仮定して現
用系メモリの読み出しを停止し、同様の同期探索を行な
う。セルの欠落等により、それでもなお同期の確立がで
きないとき再び予備系が進んでいると仮定して、予備系
メモリの読み出しを停止し、同期探索を行なう。
できないとき、今度は現用系が進んでいると仮定して現
用系メモリの読み出しを停止し、同様の同期探索を行な
う。セルの欠落等により、それでもなお同期の確立がで
きないとき再び予備系が進んでいると仮定して、予備系
メモリの読み出しを停止し、同期探索を行なう。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな無瞬断切り替え方法では、到着したセルをメモリに
格納することにより、遅延を付与しながら両系のセル位
相比較を行うことになるため、メモリがフルになっても
同期が確立しなかった場合には、メモリに格納されたセ
ルを処理してから次の同期探索に移行しなければならな
い。予備系メモリの読み出しを停止して同期探索を行な
った場合には、予備系は実際に伝送に使用されていない
ので、メモリに格納されているセルはそのまま一度に廃
棄することができるが、現用系メモリの読み出しを停止
して同期探索を行なった場合には、現用系は実際に伝送
に使用されている系であるため、メモリに格納されたセ
ルは廃棄することができず、読みだす必要があった。1
つのセルの読み出しには1つのタイムスロットが必要で
ある。このため、メモリに格納されたセルを全て読みだ
すためには、メモリに格納されたセルの数の分のセルの
到着しないタイムスロットが発生する必要がある。伝送
路の利用率が低い場合は、セルの到着しないタイムスロ
ットの発生頻度も高いので、比較的早くメモリは空にな
る。しかし、伝送路の利用率が高いような場合には、セ
ルが到着しないタイムスロットの発生頻度も少ないた
め、現用系メモリが空になるまでの時間が非常に長くな
り、直ちに次の同期探索動作に移行できないことがあっ
た。このようなとき、結局は同期確立に時間がかかり、
さらには切り替え要求が発生しながら実際に切り替えが
行なわれるまでに多大な時間を要することになる。
うな無瞬断切り替え方法では、到着したセルをメモリに
格納することにより、遅延を付与しながら両系のセル位
相比較を行うことになるため、メモリがフルになっても
同期が確立しなかった場合には、メモリに格納されたセ
ルを処理してから次の同期探索に移行しなければならな
い。予備系メモリの読み出しを停止して同期探索を行な
った場合には、予備系は実際に伝送に使用されていない
ので、メモリに格納されているセルはそのまま一度に廃
棄することができるが、現用系メモリの読み出しを停止
して同期探索を行なった場合には、現用系は実際に伝送
に使用されている系であるため、メモリに格納されたセ
ルは廃棄することができず、読みだす必要があった。1
つのセルの読み出しには1つのタイムスロットが必要で
ある。このため、メモリに格納されたセルを全て読みだ
すためには、メモリに格納されたセルの数の分のセルの
到着しないタイムスロットが発生する必要がある。伝送
路の利用率が低い場合は、セルの到着しないタイムスロ
ットの発生頻度も高いので、比較的早くメモリは空にな
る。しかし、伝送路の利用率が高いような場合には、セ
ルが到着しないタイムスロットの発生頻度も少ないた
め、現用系メモリが空になるまでの時間が非常に長くな
り、直ちに次の同期探索動作に移行できないことがあっ
た。このようなとき、結局は同期確立に時間がかかり、
さらには切り替え要求が発生しながら実際に切り替えが
行なわれるまでに多大な時間を要することになる。
【0006】また、このように現用系メモリの読み出し
を停止する場合では、実際に伝送に使用されている現用
系のセル流を止めることになる。さらにその後、メモリ
に格納されていたセルを読み出すために、セルの読み出
しが非常に密になる。このようなことが頻繁に起こる
と、遅延揺らぎ等が発生する原因となったり、伝送路の
利用率に影響を与えたりする可能性もあった。
を停止する場合では、実際に伝送に使用されている現用
系のセル流を止めることになる。さらにその後、メモリ
に格納されていたセルを読み出すために、セルの読み出
しが非常に密になる。このようなことが頻繁に起こる
と、遅延揺らぎ等が発生する原因となったり、伝送路の
利用率に影響を与えたりする可能性もあった。
【0007】この発明は、以上述べた課題を解決するた
めになされたもので、現用系から予備系に無瞬断に強制
切り替えする際に、現用系と予備系のセル位相の同期確
立にかかる時間を短縮でき、伝送の品質を損なわない系
切り替え装置を提供することを目的とする。
めになされたもので、現用系から予備系に無瞬断に強制
切り替えする際に、現用系と予備系のセル位相の同期確
立にかかる時間を短縮でき、伝送の品質を損なわない系
切り替え装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】複数の系を有するネット
ワークで、第1の系の入力セルを格納する第1のメモリ
と、第2の系の入力セルを格納する第2のメモリと、使
用される系を選択する選択回路とを有する切り替え装置
において、前記第1のメモリもしくは前記第2のメモリ
の格納セルの情報を記憶するレジスタと、前記第1のメ
モリの格納セルおよび前記第2のメモリの格納セルとを
比較するか、あるいは前記第1のメモリの格納セル又は
前記第2のメモリの格納セルと前記レジスタに記憶され
た前記情報とを比較する比較回路と、前記比較回路に接
続され、前記第1の系と前記第2の系の位相差を算出す
るカウンタを設けた。
ワークで、第1の系の入力セルを格納する第1のメモリ
と、第2の系の入力セルを格納する第2のメモリと、使
用される系を選択する選択回路とを有する切り替え装置
において、前記第1のメモリもしくは前記第2のメモリ
の格納セルの情報を記憶するレジスタと、前記第1のメ
モリの格納セルおよび前記第2のメモリの格納セルとを
比較するか、あるいは前記第1のメモリの格納セル又は
前記第2のメモリの格納セルと前記レジスタに記憶され
た前記情報とを比較する比較回路と、前記比較回路に接
続され、前記第1の系と前記第2の系の位相差を算出す
るカウンタを設けた。
【0009】
【作用】現用系から予備系への切り替え要求が発生する
と、現用系の到着セルと予備系の到着セルを比較する。
一致していないとき、まず予備系のセル位相が進んでい
ると仮定して、予備系のメモリの読み出しを停止して同
期探索を行なう。予備系メモリの格納セル数が、予備系
メモリのメモリ容量以下に設定された第1のしきい値以
上になっても同期が確立できなかったとき、現用系のセ
ル位相が進んでいると仮定して同期探索を行なう。現用
系の到着セル情報をレジスタに記憶し、予備系の到着セ
ルと比較する。これが不一致である回数をカウントし、
カウント値が現用系のメモリ容量以下に設定された第2
のしきい値以上になっても同期が確立できなかったと
き、再び予備系のセル位相が進んでいると仮定して同期
探索を繰り返す。
と、現用系の到着セルと予備系の到着セルを比較する。
一致していないとき、まず予備系のセル位相が進んでい
ると仮定して、予備系のメモリの読み出しを停止して同
期探索を行なう。予備系メモリの格納セル数が、予備系
メモリのメモリ容量以下に設定された第1のしきい値以
上になっても同期が確立できなかったとき、現用系のセ
ル位相が進んでいると仮定して同期探索を行なう。現用
系の到着セル情報をレジスタに記憶し、予備系の到着セ
ルと比較する。これが不一致である回数をカウントし、
カウント値が現用系のメモリ容量以下に設定された第2
のしきい値以上になっても同期が確立できなかったと
き、再び予備系のセル位相が進んでいると仮定して同期
探索を繰り返す。
【0010】
【実施例】図1に実施例の伝送路選択切り替え装置ブロ
ック図を示す。この実施例では、二重化構成を考え、0
系および1系の2つの伝送路を設けている。0系入力1
は0系メモリ2に入力される。0系メモリ2はFIFOメモ
リと呼ばれるもので、先に読み込まれたものほど早く読
みだされる先入れ先出し方式のメモリである。0系メモ
リ2の出力は、セレクタ9に入力されるとともに0系レ
ジスタ3にも入力される。また、0系メモリ2および0
系レジスタ3は比較回路4に接続されている。さらに比
較回路4に連動してカウンタ5が設けられている。
ック図を示す。この実施例では、二重化構成を考え、0
系および1系の2つの伝送路を設けている。0系入力1
は0系メモリ2に入力される。0系メモリ2はFIFOメモ
リと呼ばれるもので、先に読み込まれたものほど早く読
みだされる先入れ先出し方式のメモリである。0系メモ
リ2の出力は、セレクタ9に入力されるとともに0系レ
ジスタ3にも入力される。また、0系メモリ2および0
系レジスタ3は比較回路4に接続されている。さらに比
較回路4に連動してカウンタ5が設けられている。
【0011】1系入力6は1系メモリ7に入力される。
1系メモリ7も先入れ先出し方式のFIFOメモリである。
1系メモリの出力は、セレクタ9に入力されるとともに
1系レジスタ8にも入力される。また、1系メモリ7お
よび1系レジスタ8は比較回路4に接続されている。セ
レクタ9の出力に選択出力10が出力される。0系メモ
リ2、0系レジスタ3、カウンタ5、1系メモリ7、1
系レジスタ8、およびセレクタ9の動作は、全て制御回
路11により制御されている。なお、図1において制御
信号は点線で示している。
1系メモリ7も先入れ先出し方式のFIFOメモリである。
1系メモリの出力は、セレクタ9に入力されるとともに
1系レジスタ8にも入力される。また、1系メモリ7お
よび1系レジスタ8は比較回路4に接続されている。セ
レクタ9の出力に選択出力10が出力される。0系メモ
リ2、0系レジスタ3、カウンタ5、1系メモリ7、1
系レジスタ8、およびセレクタ9の動作は、全て制御回
路11により制御されている。なお、図1において制御
信号は点線で示している。
【0012】セルの切り替え動作説明図を図2に、切り
替え動作のフローチャートを図3に示す。図2、図3を
参照してセルの切り替え動作を説明する。図2に示され
る0系及び1系のセル流のうち、0系を現用系、1系を
予備系とし、現用系から予備系への切り替えを考える。
図2から分かるように、まず予備系の1系セル位相が現
用系の0系セル位相より2セル分進んでいる。
替え動作のフローチャートを図3に示す。図2、図3を
参照してセルの切り替え動作を説明する。図2に示され
る0系及び1系のセル流のうち、0系を現用系、1系を
予備系とし、現用系から予備系への切り替えを考える。
図2から分かるように、まず予備系の1系セル位相が現
用系の0系セル位相より2セル分進んでいる。
【0013】切り替え要求が発生する以前には、0系入
力1より入力したセルは、0系メモリ2に書き込まれ、
直ちに読みだされ、セレクタ9に入力される。また、1
系入力6より入力したセルは、1系メモリ7に書き込ま
れ、直ちに読みだされ、セレクタ9に入力される。一般
的には同一セルのメモリへの書き込みおよび読み出しは
1タイムスロットの間では行なわれないことが多い。し
かし、説明の便宜上、ここでは0系メモリ2および1系
メモリ7は、1タイムスロットの間に同一セルの書き込
みおよび読み出しが行なわれるものとする。つまり、そ
れぞれのメモリにセルが到着すると同一時刻内にそのセ
ルが読みだされ、次の時刻にセルが到着するときには再
びメモリは空の状態で、次のセルの書き込みが行なわれ
る。なお、実際の装置において、メモリの同一セルの書
き込みおよび読み出しが1タイムスロットの間に行なわ
れない場合においても、以下に詳細に説明する無瞬断切
り替え装置は同様な動作をする。
力1より入力したセルは、0系メモリ2に書き込まれ、
直ちに読みだされ、セレクタ9に入力される。また、1
系入力6より入力したセルは、1系メモリ7に書き込ま
れ、直ちに読みだされ、セレクタ9に入力される。一般
的には同一セルのメモリへの書き込みおよび読み出しは
1タイムスロットの間では行なわれないことが多い。し
かし、説明の便宜上、ここでは0系メモリ2および1系
メモリ7は、1タイムスロットの間に同一セルの書き込
みおよび読み出しが行なわれるものとする。つまり、そ
れぞれのメモリにセルが到着すると同一時刻内にそのセ
ルが読みだされ、次の時刻にセルが到着するときには再
びメモリは空の状態で、次のセルの書き込みが行なわれ
る。なお、実際の装置において、メモリの同一セルの書
き込みおよび読み出しが1タイムスロットの間に行なわ
れない場合においても、以下に詳細に説明する無瞬断切
り替え装置は同様な動作をする。
【0014】ここでは0系を現用系としたので、セレク
タ9では、制御回路11より0系を現用系として動作す
る旨の指示を受けている。このため、セレクタ9はセレ
クタ9に入力された0系メモリ6からのセルと1系メモ
リ7からのセルのうち、0系メモリ6からのセルを選択
し、これを選択出力10として出力する。
タ9では、制御回路11より0系を現用系として動作す
る旨の指示を受けている。このため、セレクタ9はセレ
クタ9に入力された0系メモリ6からのセルと1系メモ
リ7からのセルのうち、0系メモリ6からのセルを選択
し、これを選択出力10として出力する。
【0015】図2において時刻t0で、現用系の0系か
ら予備系の1系への切り替え要求が発生する。これは図
3に示す切り替え動作のフローチャートのs1である。
切り替え要求が発生すると、t0において0系メモリ2
に書き込まれたセルと1系メモリ7に書き込まれたセル
とが、比較回路4にて比較される(s2)。もし、0系
メモリ2に書き込まれたセルと1系メモリ7に書き込ま
れたセルとが一致していれば、現用系の0系と予備系の
1系のセル位相の同期が確立しているとして、任意の時
刻に現用系から予備系へと無瞬断で切り替えることがで
きる(s3)。しかし、一般的には、0系と1系のセル
位相は伝送路長の差やその他の要因によって一致してい
ないことが多い。この実施例においては、予備系の1系
セル位相が現用系の0系セル位相より2セル分進んでい
るため、t0において、現用系の0系メモリ2に書き込
まれたセルはセルY、予備系の1系メモリ7に書き込ま
れたセルはセルAと一致していない。0系メモリ2に書
き込まれたセルと1系メモリ7に書き込まれたセルを比
較回路4で比較した結果が、このように不一致のとき、
制御回路11の制御により予備系のメモリ、ここでは1
系メモリ7の読み出しが停止される(s4)。このため
1系メモリ7にはセルAが格納されたままとなり、セレク
タ9には0系メモリ2から読みだされたセルYのみが入
力される。0系が現用系であるので、制御回路11の制
御により、選択出力10には0系メモリ2から入力され
たセルが出力される。
ら予備系の1系への切り替え要求が発生する。これは図
3に示す切り替え動作のフローチャートのs1である。
切り替え要求が発生すると、t0において0系メモリ2
に書き込まれたセルと1系メモリ7に書き込まれたセル
とが、比較回路4にて比較される(s2)。もし、0系
メモリ2に書き込まれたセルと1系メモリ7に書き込ま
れたセルとが一致していれば、現用系の0系と予備系の
1系のセル位相の同期が確立しているとして、任意の時
刻に現用系から予備系へと無瞬断で切り替えることがで
きる(s3)。しかし、一般的には、0系と1系のセル
位相は伝送路長の差やその他の要因によって一致してい
ないことが多い。この実施例においては、予備系の1系
セル位相が現用系の0系セル位相より2セル分進んでい
るため、t0において、現用系の0系メモリ2に書き込
まれたセルはセルY、予備系の1系メモリ7に書き込ま
れたセルはセルAと一致していない。0系メモリ2に書
き込まれたセルと1系メモリ7に書き込まれたセルを比
較回路4で比較した結果が、このように不一致のとき、
制御回路11の制御により予備系のメモリ、ここでは1
系メモリ7の読み出しが停止される(s4)。このため
1系メモリ7にはセルAが格納されたままとなり、セレク
タ9には0系メモリ2から読みだされたセルYのみが入
力される。0系が現用系であるので、制御回路11の制
御により、選択出力10には0系メモリ2から入力され
たセルが出力される。
【0016】つぎに、t1においては、現用系の0系入
力1からはセルZが、予備系の1系入力6からはセルBが
入力され、それぞれ0系メモリ2および1系メモリ7に
書き込まれる。予備系の1系メモリ7にはt0において
書き込まれたセルAが格納されているので、セルBが書
き込まれると1系メモリ7の格納セルはセルAおよびBの
2セルとなる。
力1からはセルZが、予備系の1系入力6からはセルBが
入力され、それぞれ0系メモリ2および1系メモリ7に
書き込まれる。予備系の1系メモリ7にはt0において
書き込まれたセルAが格納されているので、セルBが書
き込まれると1系メモリ7の格納セルはセルAおよびBの
2セルとなる。
【0017】第1の比較として、予備系の1系メモリ7
に格納されているセルの先頭のセルAと現用系の0系メ
モリ2に書き込まれたセルZとが比較回路10にて比較
される(s5)。これらのセルは一致していないので、
予備系の1系メモリ7からは読み出しが行なわれず、現
用系の0系メモリ2から読み出されたセルのみがセレク
タ9に入力され、さらに選択出力10として出力され
る。
に格納されているセルの先頭のセルAと現用系の0系メ
モリ2に書き込まれたセルZとが比較回路10にて比較
される(s5)。これらのセルは一致していないので、
予備系の1系メモリ7からは読み出しが行なわれず、現
用系の0系メモリ2から読み出されたセルのみがセレク
タ9に入力され、さらに選択出力10として出力され
る。
【0018】次に予備系の1系メモリ7の格納セル数と
第1のしきい値が比較される(s8)。第1のしきい値
は予備系メモリのメモリ容量以下に設定された値であ
り、ここでは4としている。メモリの容量はハードウェ
アの構成等により決定されるものであり、この実施例で
は4セル以上の容量であればよい。t1において、1系
メモリ7に格納されているセルは2セルであるので、第
1のしきい値の4より小さい(s9)。予備系の1系メ
モリ7の格納セル数が第1のしきい値より小さいので、
s5からの同期探索動作が繰り返される。
第1のしきい値が比較される(s8)。第1のしきい値
は予備系メモリのメモリ容量以下に設定された値であ
り、ここでは4としている。メモリの容量はハードウェ
アの構成等により決定されるものであり、この実施例で
は4セル以上の容量であればよい。t1において、1系
メモリ7に格納されているセルは2セルであるので、第
1のしきい値の4より小さい(s9)。予備系の1系メ
モリ7の格納セル数が第1のしきい値より小さいので、
s5からの同期探索動作が繰り返される。
【0019】このように、1系メモリ7の読み出しの停
止は、0系メモリ2に書き込まれたセルと、1系メモリ
7に格納されているセルの先頭セルとが一致するまで、
もしくは、1系メモリ7の格納セル数が第1のしきい値
以上になるまで続けられる。時刻t2において現用系の
0系入力1からはセルAが、予備系の1系入力6からは
セルCが入力され、それぞれ0系メモリ2および1系メ
モリ7に書き込まれる。1系メモリ7にはすでにセルA
およびBが格納されているので、さらにセルCが書き込ま
れると、1系メモリ7の格納セル数は3セルとなる。1
系メモリ7に格納されているセルの先頭セルAと、0系
メモリ2に書き込まれたセルAが比較される(s5)。
これらのセルは一致しているので、1系メモリ7からの
セルの読み出しが再開される(s6)。このように、0
系メモリ2から読みだされたセルと、1系メモリ7から
読みだされたセルとが一致したとき、現用系と予備系の
セル位相の同期が確立したことになる。
止は、0系メモリ2に書き込まれたセルと、1系メモリ
7に格納されているセルの先頭セルとが一致するまで、
もしくは、1系メモリ7の格納セル数が第1のしきい値
以上になるまで続けられる。時刻t2において現用系の
0系入力1からはセルAが、予備系の1系入力6からは
セルCが入力され、それぞれ0系メモリ2および1系メ
モリ7に書き込まれる。1系メモリ7にはすでにセルA
およびBが格納されているので、さらにセルCが書き込ま
れると、1系メモリ7の格納セル数は3セルとなる。1
系メモリ7に格納されているセルの先頭セルAと、0系
メモリ2に書き込まれたセルAが比較される(s5)。
これらのセルは一致しているので、1系メモリ7からの
セルの読み出しが再開される(s6)。このように、0
系メモリ2から読みだされたセルと、1系メモリ7から
読みだされたセルとが一致したとき、現用系と予備系の
セル位相の同期が確立したことになる。
【0020】t3においては現用系の0系入力1からは
セルBが、予備系の1系入力6からはセルDが入力され
る。1系メモリ7にはすでにセルB、およびCが格納され
ており、セルDが書き込まれて格納セルはセルB、C、お
よびDとなる。1系メモリ7からは格納されているセル
のうち先頭セルであるセルBが読みだされ、0系メモリ
2からはt3で書き込まれたセルBが読みだされる。こ
のように現用系と予備系のセルの位相同期が確立してい
る時、0系メモリ2及び1系メモリ7から読みだされる
セルが常に一致しているので現用系から予備系へ無瞬断
で切り替えを行なうことができる(s7)。
セルBが、予備系の1系入力6からはセルDが入力され
る。1系メモリ7にはすでにセルB、およびCが格納され
ており、セルDが書き込まれて格納セルはセルB、C、お
よびDとなる。1系メモリ7からは格納されているセル
のうち先頭セルであるセルBが読みだされ、0系メモリ
2からはt3で書き込まれたセルBが読みだされる。こ
のように現用系と予備系のセルの位相同期が確立してい
る時、0系メモリ2及び1系メモリ7から読みだされる
セルが常に一致しているので現用系から予備系へ無瞬断
で切り替えを行なうことができる(s7)。
【0021】この実施例の無瞬断切り替え回路では、現
用系と予備系のセルの位相のずれが、使用しているメモ
リの容量より小さいときに対応できる。ここでは、メモ
リ容量は4セル以上であるとし、しきい値を4と設定し
たので、現用系と予備系のセル位相のずれが4セル以内
であれば無瞬断で切り替えることができる。
用系と予備系のセルの位相のずれが、使用しているメモ
リの容量より小さいときに対応できる。ここでは、メモ
リ容量は4セル以上であるとし、しきい値を4と設定し
たので、現用系と予備系のセル位相のずれが4セル以内
であれば無瞬断で切り替えることができる。
【0022】以上説明した予備系のセル位相が進んでい
るときの無瞬断切り替え動作の、各セルの関係を図4に
示す。時刻t0、t1、…のときの0系および1系にお
けるメモリへの到着セル、メモリ格納セル、比較対象セ
ル、メモリ読みだしセルを示す。この動作の場合は、レ
ジスタにセルの記憶はないので表に示さなかった。ま
た、表中、空欄はその動作に対応するセルがないことを
示す。
るときの無瞬断切り替え動作の、各セルの関係を図4に
示す。時刻t0、t1、…のときの0系および1系にお
けるメモリへの到着セル、メモリ格納セル、比較対象セ
ル、メモリ読みだしセルを示す。この動作の場合は、レ
ジスタにセルの記憶はないので表に示さなかった。ま
た、表中、空欄はその動作に対応するセルがないことを
示す。
【0023】つぎに図2のセル切り替え動作説明図にお
いて、1系を現用系、0系を予備系とし、現用系の1系
セル位相は予備系の0系セル位相より2セル進んでいる
ときの現用系から予備系への切り替えを説明する。切り
替え要求が発生する以前の動作は、先に説明したものと
同様であり、セレクタ9では制御回路11から1系を現
用系とする旨の指示を受けているため、選択出力10に
は1系メモリ7から読みだされたセルが出力される。図
2におけるt0で、現用系の1系から予備系の0系への
切り替え要求が発生する(s1)。切り替え要求が発生
したので0系メモリ2に書き込まれたセルYと1系メモ
リ7に書き込まれたセルAとが比較回路4で比較され
(s2)、その不一致が確認されると(s4)、予備系
の0系メモリ2の読み出しが停止される。
いて、1系を現用系、0系を予備系とし、現用系の1系
セル位相は予備系の0系セル位相より2セル進んでいる
ときの現用系から予備系への切り替えを説明する。切り
替え要求が発生する以前の動作は、先に説明したものと
同様であり、セレクタ9では制御回路11から1系を現
用系とする旨の指示を受けているため、選択出力10に
は1系メモリ7から読みだされたセルが出力される。図
2におけるt0で、現用系の1系から予備系の0系への
切り替え要求が発生する(s1)。切り替え要求が発生
したので0系メモリ2に書き込まれたセルYと1系メモ
リ7に書き込まれたセルAとが比較回路4で比較され
(s2)、その不一致が確認されると(s4)、予備系
の0系メモリ2の読み出しが停止される。
【0024】予備系のセル位相が進んでいるときの動作
で説明したように、予備系の0系メモリ2の読み出しの
停止は、予備系の0系メモリ2に格納されているセルの
先頭セルと現用系の1系メモリ7に書き込まれたセルと
が一致するまで、もしくは、予備系の0系メモリ2の格
納セル数が第1のしきい値以上になるまで続けられる。
で説明したように、予備系の0系メモリ2の読み出しの
停止は、予備系の0系メモリ2に格納されているセルの
先頭セルと現用系の1系メモリ7に書き込まれたセルと
が一致するまで、もしくは、予備系の0系メモリ2の格
納セル数が第1のしきい値以上になるまで続けられる。
【0025】t1において、予備系の0系入力1からは
セルZが、現用系の1系入力6からはセルBが入力され、
それぞれ0系メモリ2および1系メモリ7に書き込まれ
る。予備系の0系メモリ2にはすでにセルYが格納され
ているので、セルZが書き込まれると、0系メモリ6の
格納セルはセルYおよびZの2セルとなる。予備系の0系
メモリ2に格納されているセルの先頭セルYと、t1で
現用系の1系メモリ7に書き込まれたセルBとが比較さ
れる(s5)。この結果は不一致であるので、予備系の
0系メモリ2の格納セル数2セルと、第1のしきい値の
4が比較される。
セルZが、現用系の1系入力6からはセルBが入力され、
それぞれ0系メモリ2および1系メモリ7に書き込まれ
る。予備系の0系メモリ2にはすでにセルYが格納され
ているので、セルZが書き込まれると、0系メモリ6の
格納セルはセルYおよびZの2セルとなる。予備系の0系
メモリ2に格納されているセルの先頭セルYと、t1で
現用系の1系メモリ7に書き込まれたセルBとが比較さ
れる(s5)。この結果は不一致であるので、予備系の
0系メモリ2の格納セル数2セルと、第1のしきい値の
4が比較される。
【0026】予備系の0系メモリ2の格納セル数の方が
小さいので、s5からの同様の同期探索の動作が繰り返
されることになる。t2において予備系の0系入力1か
らはセルAが、現用系の1系入力6からはセルCが入力さ
れ、これらの同期探索動作が行なわれ、同期の確立はで
きない。
小さいので、s5からの同様の同期探索の動作が繰り返
されることになる。t2において予備系の0系入力1か
らはセルAが、現用系の1系入力6からはセルCが入力さ
れ、これらの同期探索動作が行なわれ、同期の確立はで
きない。
【0027】t3において、予備系の0系入力1からは
セルBが、現用系の1系入力6からはセルDが入力され、
それぞれ0系メモリ2および1系メモリ7に書き込まれ
る。予備系の0系メモリ2にはすでにセルY、Z、および
Aの3セルが格納されており、セルBが書き込まれて、格
納セルは4セルとなる。予備系の0系メモリ2に格納さ
れているセルの先頭セルYと、現用系の1系メモリ7に
書き込まれたセルDが比較される(s5)。これらは一
致していないので、予備系の0系メモリ2からの読みだ
しは行なわれない。次に、予備系の0系メモリ2の格納
セル数の4セルと第1のしきい値の4とが比較される。
0系メモリ2の格納セル数は第1のしきい値以上である
ので、予備系の0系メモリ2に格納されているセルは全
て廃棄してクリアされ(s10)、予備系の0系メモリ
2は空の状態となる。このように予備系は実際の伝送に
使用していない系であるので、予備系メモリに格納され
ているセルを廃棄することができる。
セルBが、現用系の1系入力6からはセルDが入力され、
それぞれ0系メモリ2および1系メモリ7に書き込まれ
る。予備系の0系メモリ2にはすでにセルY、Z、および
Aの3セルが格納されており、セルBが書き込まれて、格
納セルは4セルとなる。予備系の0系メモリ2に格納さ
れているセルの先頭セルYと、現用系の1系メモリ7に
書き込まれたセルDが比較される(s5)。これらは一
致していないので、予備系の0系メモリ2からの読みだ
しは行なわれない。次に、予備系の0系メモリ2の格納
セル数の4セルと第1のしきい値の4とが比較される。
0系メモリ2の格納セル数は第1のしきい値以上である
ので、予備系の0系メモリ2に格納されているセルは全
て廃棄してクリアされ(s10)、予備系の0系メモリ
2は空の状態となる。このように予備系は実際の伝送に
使用していない系であるので、予備系メモリに格納され
ているセルを廃棄することができる。
【0028】予備系のセル位相が現用系のセル位相より
進んでいると仮定して、予備系の0系メモリ2が第1の
しきい値になるまで0系メモリ2の読み出しを停止して
も、同期確立ができなかったとき、今度は現用系のセル
位相が予備系のセル位相より進んでいると仮定して同期
探索を行なう。
進んでいると仮定して、予備系の0系メモリ2が第1の
しきい値になるまで0系メモリ2の読み出しを停止して
も、同期確立ができなかったとき、今度は現用系のセル
位相が予備系のセル位相より進んでいると仮定して同期
探索を行なう。
【0029】t4において、予備系の0系入力1からは
セルCが、現用系の1系入力6からはセルEが入力され、
それぞれ0系メモリ2及び1系メモリ7に書き込まれ
る。
セルCが、現用系の1系入力6からはセルEが入力され、
それぞれ0系メモリ2及び1系メモリ7に書き込まれ
る。
【0030】現用系の1系メモリ7にセルEが書き込ま
れると、1系レジスタ8に現用系のセルがセルEである
という情報が記憶される(s11)。なおここでいうレ
ジスタにセルが記憶されるとは、メモリに書き込まれ読
みだされるセルが何であるかが記憶されるのみで、メモ
リから読みだされたセルはセレクタに入力され、レジス
タに格納されたままとはならないことをいうものとす
る。
れると、1系レジスタ8に現用系のセルがセルEである
という情報が記憶される(s11)。なおここでいうレ
ジスタにセルが記憶されるとは、メモリに書き込まれ読
みだされるセルが何であるかが記憶されるのみで、メモ
リから読みだされたセルはセレクタに入力され、レジス
タに格納されたままとはならないことをいうものとす
る。
【0031】次に、比較回路4に連動したカウンタ5の
値と第2のしきい値が比較される。カウンタ5は、0系
メモリ2に書き込まれたセルと1系レジスタ8に記憶さ
れたセルとが比較回路4で比較された結果が不一致の時
に、カウントアップされるものである。また、第2のし
きい値は現用系メモリのメモリ容量以下に設定された値
であり、ここでは4としている。このため、t4におい
てはカウント0であり、カウンタ5の値のほうが第2の
しきい値より小さい。カウンタ5の値の方が小さいと
き、第2の比較として、予備系の0系メモリ2に書き込
まれたセルCと、1系レジスタ8に記憶されたセルEとが
比較回路4で比較される(s13)。比較した結果が不
一致であるので、カウンタ5がカウントアップされ(s
14)、カウント1となる。0系メモリ2及び1系メモ
リ7からはそれぞれセルの読み出しが行なわれ、セレク
タ9に入力される。ここでは1系が現用系であるので、
制御回路11からの指示で、セレクタ9からは1系メモ
リ7から読みだされたセルが選択出力10として出力さ
れる。
値と第2のしきい値が比較される。カウンタ5は、0系
メモリ2に書き込まれたセルと1系レジスタ8に記憶さ
れたセルとが比較回路4で比較された結果が不一致の時
に、カウントアップされるものである。また、第2のし
きい値は現用系メモリのメモリ容量以下に設定された値
であり、ここでは4としている。このため、t4におい
てはカウント0であり、カウンタ5の値のほうが第2の
しきい値より小さい。カウンタ5の値の方が小さいと
き、第2の比較として、予備系の0系メモリ2に書き込
まれたセルCと、1系レジスタ8に記憶されたセルEとが
比較回路4で比較される(s13)。比較した結果が不
一致であるので、カウンタ5がカウントアップされ(s
14)、カウント1となる。0系メモリ2及び1系メモ
リ7からはそれぞれセルの読み出しが行なわれ、セレク
タ9に入力される。ここでは1系が現用系であるので、
制御回路11からの指示で、セレクタ9からは1系メモ
リ7から読みだされたセルが選択出力10として出力さ
れる。
【0032】現用系の1系レジスタ8に記憶されたセル
と予備系の0系メモリ2に書き込まれたセルとの比較
は、これらが一致するまで、もしくはカウンタ5の値が
第2のしきい値以上となるまで繰り返される。
と予備系の0系メモリ2に書き込まれたセルとの比較
は、これらが一致するまで、もしくはカウンタ5の値が
第2のしきい値以上となるまで繰り返される。
【0033】t5において、予備系の0系入力1からは
セルDが、現用系の1系入力6からはセルFが入力され、
それぞれ0系メモリ2および1系メモリ7に書き込まれ
る。カウンタ5の値と第2のしきい値が比較されると
(s11)、カウンタ5の値はカウント1であるので第
2のしきい値より小さい。このため、t4において現用
系の1系レジスタ8に記憶したセルEと、t5で0系メ
モリ2に書き込まれたセルDが比較回路4で比較される
(s13)。この比較結果は不一致なので、位相差カウ
ンタ5はカウントアップされカウント2となる。
セルDが、現用系の1系入力6からはセルFが入力され、
それぞれ0系メモリ2および1系メモリ7に書き込まれ
る。カウンタ5の値と第2のしきい値が比較されると
(s11)、カウンタ5の値はカウント1であるので第
2のしきい値より小さい。このため、t4において現用
系の1系レジスタ8に記憶したセルEと、t5で0系メ
モリ2に書き込まれたセルDが比較回路4で比較される
(s13)。この比較結果は不一致なので、位相差カウ
ンタ5はカウントアップされカウント2となる。
【0034】t6において、予備系の0系入力1からは
セルEが、現用系の1系入力6からはセルGが入力され、
それぞれ0系メモリ2および1系メモリ7に書き込まれ
る。カウンタ5の値はカウント2で第2のしきい値より
小さいので(s13)、現用系の1系レジスタ8に記憶
されているセルEと、予備系の0系メモリ2に書き込ま
れたセルEとが比較される。これらは一致しているの
で、t6のときのカウンタ5の値が現用系と予備系の位
相差である。カウンタ5の値は2であるので、制御回路
11は現用系の1系セル位相が予備系の0系セル位相よ
り2セル進んでいることが認識できる。
セルEが、現用系の1系入力6からはセルGが入力され、
それぞれ0系メモリ2および1系メモリ7に書き込まれ
る。カウンタ5の値はカウント2で第2のしきい値より
小さいので(s13)、現用系の1系レジスタ8に記憶
されているセルEと、予備系の0系メモリ2に書き込ま
れたセルEとが比較される。これらは一致しているの
で、t6のときのカウンタ5の値が現用系と予備系の位
相差である。カウンタ5の値は2であるので、制御回路
11は現用系の1系セル位相が予備系の0系セル位相よ
り2セル進んでいることが認識できる。
【0035】現用系の1系セル位相が予備系の0系セル
位相より2セル進んでいるので、現用系の1系メモリ7
の読み出しを2セル分停止すれば現用系と予備系のセル
の位相同期が確立できることになる。このためt6およ
びt7においては現用系の1系メモリ7からはセルの読
み出しを行なわない(s15)。t6において現用系の
1系メモリ7に書き込まれたセルGおよびt7において
書き込まれたセルHを読みださずに格納したままとす
る。
位相より2セル進んでいるので、現用系の1系メモリ7
の読み出しを2セル分停止すれば現用系と予備系のセル
の位相同期が確立できることになる。このためt6およ
びt7においては現用系の1系メモリ7からはセルの読
み出しを行なわない(s15)。t6において現用系の
1系メモリ7に書き込まれたセルGおよびt7において
書き込まれたセルHを読みださずに格納したままとす
る。
【0036】t8において、予備系の0系入力1からは
セルGが、現用系の1系入力6からはセルIが入力され、
それぞれ0系メモリ2および1系メモリ7に書き込まれ
る。1系メモリ7にセルIが書き込まれると、格納され
ているセルはセルG、H、Iの3セルとなる。1系メモリ
7からは格納されているセルの先頭セルのセルGが読み
だされ、セレクタ9に入力される。0系メモリからはt
8で書き込まれたセルGが読みだされセレクタ9に入力
される。このように、現用系の1系セル位相と予備系の
0系セル位相の位相差分の現用系の1系メモリ7の読み
出しの停止を行なったので、現用系と予備系のセルの位
相同期が確立し、それぞれのメモリから出力されるセル
は常に一致する。このため、その後には現用系から予備
系に無瞬断で切り替えを行なうことができる(s1
6)。
セルGが、現用系の1系入力6からはセルIが入力され、
それぞれ0系メモリ2および1系メモリ7に書き込まれ
る。1系メモリ7にセルIが書き込まれると、格納され
ているセルはセルG、H、Iの3セルとなる。1系メモリ
7からは格納されているセルの先頭セルのセルGが読み
だされ、セレクタ9に入力される。0系メモリからはt
8で書き込まれたセルGが読みだされセレクタ9に入力
される。このように、現用系の1系セル位相と予備系の
0系セル位相の位相差分の現用系の1系メモリ7の読み
出しの停止を行なったので、現用系と予備系のセルの位
相同期が確立し、それぞれのメモリから出力されるセル
は常に一致する。このため、その後には現用系から予備
系に無瞬断で切り替えを行なうことができる(s1
6)。
【0037】以上説明した現用系のセル位相が進んでい
るときの無瞬断切り替え動作の各セルの関係を図5に示
す。時刻t0、t1…のときの0系および1系における
メモリへの到着セル、レジスタ記憶セル、メモリ格納セ
ル、比較対象セル、メモリ読みだしセルを示す。
るときの無瞬断切り替え動作の各セルの関係を図5に示
す。時刻t0、t1…のときの0系および1系における
メモリへの到着セル、レジスタ記憶セル、メモリ格納セ
ル、比較対象セル、メモリ読みだしセルを示す。
【0038】次に、図6はセル欠落時のセル切り替え動
作の説明図である。図6におけるセルの位相関係では、
1系のセル位相が0系のセル位相より進んでいる。さら
に0系のセルに欠落がある。0系を現用系、1系を予備
系として、セル欠落時の現用系から予備系への無瞬断切
り替えの動作を説明する。
作の説明図である。図6におけるセルの位相関係では、
1系のセル位相が0系のセル位相より進んでいる。さら
に0系のセルに欠落がある。0系を現用系、1系を予備
系として、セル欠落時の現用系から予備系への無瞬断切
り替えの動作を説明する。
【0039】t0において切り替え要求が発生すると、
まず予備系が進んでいると仮定して、予備系の1系メモ
リ7の読み出しを停止し、同期探索を行なう。このとき
の動作は予備系が進んでいるときの切り替え動作で説明
したものと同様である。ここでは現用系のセル流のうち
セルAが欠落しているため同期の確立が認識できず、t
3で予備系の1系メモリ7の格納セル数が4セルとな
り、第1のしきい値の4以上になる。このため、予備系
の 1系メモリ7に格納されているセルを廃棄し(s1
0)、つぎに現用系が進んでいると仮定して同期探索を
行なう。このときの動作は、現用系が進んでいるときの
切り替え動作の説明と同様である。
まず予備系が進んでいると仮定して、予備系の1系メモ
リ7の読み出しを停止し、同期探索を行なう。このとき
の動作は予備系が進んでいるときの切り替え動作で説明
したものと同様である。ここでは現用系のセル流のうち
セルAが欠落しているため同期の確立が認識できず、t
3で予備系の1系メモリ7の格納セル数が4セルとな
り、第1のしきい値の4以上になる。このため、予備系
の 1系メモリ7に格納されているセルを廃棄し(s1
0)、つぎに現用系が進んでいると仮定して同期探索を
行なう。このときの動作は、現用系が進んでいるときの
切り替え動作の説明と同様である。
【0040】t4において予備系の1系入力6からはセ
ルEが、現用系の0系入力1からはセルD が入力され、
それぞれ1系メモリ7及び0系メモリ2に書き込まれ
る。さらに、現用系の0系メモリに書き込まれたセルが
セルDであるという情報が0系レジスタ3に記憶される
(s11)。次に、比較回路4に連動したカウンタ5の
値と第2のしきい値が比較される。カウンタ5はまだカ
ウントアップされておらず0であるので、カウンタ5の
値の方が小さい。カウンタ5の値の方が小さいので、予
備系の1系メモリ7に書き込まれたセルEと現用系の0
系レジスタ3に記憶されたセルDとが比較回路4で比較
される(s13)。比較した結果は不一致であるので、
カウンタ5がカウントアップされ(s14)、カウント
1となる。0系メモリ2及び1系メモリ7からはそれぞ
れセルの読みだしが行なわれ、セレクタ9に入力され
る。ここでは0系が現用系であるので、選択出力10に
は0系メモリ2から読みだされたセルが出力される。
ルEが、現用系の0系入力1からはセルD が入力され、
それぞれ1系メモリ7及び0系メモリ2に書き込まれ
る。さらに、現用系の0系メモリに書き込まれたセルが
セルDであるという情報が0系レジスタ3に記憶される
(s11)。次に、比較回路4に連動したカウンタ5の
値と第2のしきい値が比較される。カウンタ5はまだカ
ウントアップされておらず0であるので、カウンタ5の
値の方が小さい。カウンタ5の値の方が小さいので、予
備系の1系メモリ7に書き込まれたセルEと現用系の0
系レジスタ3に記憶されたセルDとが比較回路4で比較
される(s13)。比較した結果は不一致であるので、
カウンタ5がカウントアップされ(s14)、カウント
1となる。0系メモリ2及び1系メモリ7からはそれぞ
れセルの読みだしが行なわれ、セレクタ9に入力され
る。ここでは0系が現用系であるので、選択出力10に
は0系メモリ2から読みだされたセルが出力される。
【0041】t5、t6、t7においても、同様に現用
系の0系レジスタ3に記憶されているセルDと、各時刻
で予備系の1系メモリ7に書き込まれたセルとが比較さ
れ、その結果が不一致であるのでカウンタ5がカウント
アップされる。このためt7においてカウンタ5の値は
4となる。
系の0系レジスタ3に記憶されているセルDと、各時刻
で予備系の1系メモリ7に書き込まれたセルとが比較さ
れ、その結果が不一致であるのでカウンタ5がカウント
アップされる。このためt7においてカウンタ5の値は
4となる。
【0042】カウンタ5の値が4で、第2のしきい値の
4以上になったので、4セル以内で現用系が進んでいる
と仮定しての同期確立ができなかった。このため、現用
系の0系レジスタ3に記憶されている情報がクリアされ
る(s12)。現用系の0系レジスタ3では、現用系が
進んでいると仮定して同期探索を開始する時刻における
現用系の到着セルが何であるかの情報が記憶されている
のみであったため、遅延等の挿入はなく、同期が確立し
なかったときには現用系のセル位相に影響することなく
情報がクリアされることができる。その後、再び予備系
のセル位相が進んでいると仮定して、図3のs2からの
同期探索動作が繰り返される。
4以上になったので、4セル以内で現用系が進んでいる
と仮定しての同期確立ができなかった。このため、現用
系の0系レジスタ3に記憶されている情報がクリアされ
る(s12)。現用系の0系レジスタ3では、現用系が
進んでいると仮定して同期探索を開始する時刻における
現用系の到着セルが何であるかの情報が記憶されている
のみであったため、遅延等の挿入はなく、同期が確立し
なかったときには現用系のセル位相に影響することなく
情報がクリアされることができる。その後、再び予備系
のセル位相が進んでいると仮定して、図3のs2からの
同期探索動作が繰り返される。
【0043】この例では、t9のときに同期が確立し、
その後には現用系から予備系へと無瞬断で切り替えを行
なうことができる。
その後には現用系から予備系へと無瞬断で切り替えを行
なうことができる。
【0044】以上説明したセル欠落時の無瞬断切り替え
動作の各セルの関係を図7に示す。
動作の各セルの関係を図7に示す。
【0045】このように、この実施例の無瞬断切り替え
装置では、予備系のセル位相が進んでいるときには予備
系のメモリの読み出しを停止して逐次遅延を挿入して同
期探索を行なうので、セル位相の同期が確立するとすぐ
に無瞬断で切り替えを行なうことができる。また、現用
系が進んでいるときには位相差を算出してから一括して
遅延を挿入して同期探索を行なうので、同期が確立しな
かったときに直ちに次の同期探索動作に移行することが
できる。
装置では、予備系のセル位相が進んでいるときには予備
系のメモリの読み出しを停止して逐次遅延を挿入して同
期探索を行なうので、セル位相の同期が確立するとすぐ
に無瞬断で切り替えを行なうことができる。また、現用
系が進んでいるときには位相差を算出してから一括して
遅延を挿入して同期探索を行なうので、同期が確立しな
かったときに直ちに次の同期探索動作に移行することが
できる。
【0046】この実施例では、ATM装置の無瞬断に系を
切り替える装置として、伝送路の切り替えを例にとって
説明したが、複数の系のセル順序の逆転がないように管
理すれば、装置内の冗長構成部に対する切り替え装置に
も適用できる。また、この実施例では0系および1系の
メモリは先入れ先出し方式のFIFOメモリを使用するもの
としたが、制御回路において、書き込みと読み出しアド
レスの管理を行なえば、通常のRAMを用いることもでき
る。
切り替える装置として、伝送路の切り替えを例にとって
説明したが、複数の系のセル順序の逆転がないように管
理すれば、装置内の冗長構成部に対する切り替え装置に
も適用できる。また、この実施例では0系および1系の
メモリは先入れ先出し方式のFIFOメモリを使用するもの
としたが、制御回路において、書き込みと読み出しアド
レスの管理を行なえば、通常のRAMを用いることもでき
る。
【0047】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、無瞬断切り
替えを行なうことにより、同期確立までの時間を短縮で
き、特に、セルの欠落等のある場合においても、直ちに
次の同期探索過程に移行することができるので、切り替
え要求が発生してから比較的短時間で無瞬断切り替えを
行なうことができる。さらに、現用系のセル位相が進ん
でいると仮定した場合に、不必要なセル流の停止を行な
わないため、遅延揺らぎ等が発生しにくく、伝送の品質
を損なわずに無瞬断で切り替えることができる。
替えを行なうことにより、同期確立までの時間を短縮で
き、特に、セルの欠落等のある場合においても、直ちに
次の同期探索過程に移行することができるので、切り替
え要求が発生してから比較的短時間で無瞬断切り替えを
行なうことができる。さらに、現用系のセル位相が進ん
でいると仮定した場合に、不必要なセル流の停止を行な
わないため、遅延揺らぎ等が発生しにくく、伝送の品質
を損なわずに無瞬断で切り替えることができる。
【図1】実施例の伝送路選択切り替え装置のブロック図
を示している。
を示している。
【図2】セル切り替え動作の説明図である。
【図3】切り替え動作のフローチャートを示している。
【図4】予備系のセル位相が進んでいるときのセル関係
図を示している。
図を示している。
【図5】現用系のセル位相が進んでいるときのセル関係
図を示している。
図を示している。
【図6】セル欠落時のセル切り替え動作の説明図を示し
ている。
ている。
【図7】セル欠落時のセル関係図を示している。
1 0系入力 2 0系メモリ 3 0系レジスタ 4 比較回路 5 カウンタ 6 1系入力 7 1系メモリ 8 1系レジスタ 9 セレクタ 10 選択出力 11 制御回路
Claims (2)
- 【請求項1】 複数の系を有するネットワークで、第1
の系の入力セルを順次格納し出力する第1のメモリと、
第2の系の入力セルを順次格納し出力する第2のメモリ
と、伝送に使用される系のセルを選択する選択回路とを
有し、前記第1のメモリの格納セルと前記第2のメモリ
の格納セルとの比較からセル位相の同期を確認して系を
切り替える系切り替え装置において、 前記第1のメモリもしくは前記第2のメモリにおいて格
納され出力されるセルを記憶するレジスタと、 前記第1のメモリの格納セルまたは前記第2のメモリの
格納セルと前記レジスタに記憶された前記セルとを比較
して、その一致または不一致を判定する比較回路と、 前記比較回路の不一致の回数を計数して前記第1の系と
前記第2の系の位相差を算出するカウンタとを設けたこ
とを特徴とする系切り替え装置。 - 【請求項2】 伝送に使用されている第1の系から予備
として設けられた第2の系に切り替える方法において、 切り替え要求が発生したときに前記第1の系と前記第2
の系のセル位相の同期が確立している場合には系を切り
替え、 切り替え要求が発生したときに前記第1の系と前記第2
の系のセル位相の同期が確立していない場合には、前記
第2の系の第2のメモリからのセルの読み出しを停止
し、 前記第1の系の第1のメモリに順次格納されるセルと前
記第2のメモリに格納されているセルの先頭セルとの第
1の比較をし、前記第1の比較の結果が一致したときは
系を切り替え、 前記第1の比較の結果が不一致のときであって前記第2
のメモリの格納セル数が前記第2のメモリのメモリ容量
以下に設定された第1のしきい値より小さいときは前記
第1の比較からの過程を行ない、 前記第2のメモリの格納セル数が前記第1のしきい値以
上になったときは、前記第2のメモリに格納されたセル
を廃棄し、次に前記第1のメモリに格納されたセルの情
報をレジスタに記憶し、 前記レジスタに記憶された前記情報のセルと前記第2の
メモリに順次格納され出力されるセルとの第2の比較を
し、前記第2の比較の結果が不一致である回数を計数
し、 前記第2の比較の結果が不一致であって、前記計数値が
前記第1のメモリのメモリ容量以下に設定された第2の
しきい値より小さいときには前記第2の比較からの過程
を行ない、 前記第2の比較結果が一致しているときは計数値分の前
記第1のメモリからの読み出しを停止した後に系を切り
替え、 前記計数値が前記第2のしきい値以上になったときに
は、再び前記第1の比較からの過程を行ない、 セル位相の同期が確立したのちに系を切り替えることを
特徴とする系切り替え方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6135529A JPH088922A (ja) | 1994-06-17 | 1994-06-17 | 系切り替え装置および系切り替え方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6135529A JPH088922A (ja) | 1994-06-17 | 1994-06-17 | 系切り替え装置および系切り替え方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH088922A true JPH088922A (ja) | 1996-01-12 |
Family
ID=15153907
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6135529A Pending JPH088922A (ja) | 1994-06-17 | 1994-06-17 | 系切り替え装置および系切り替え方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH088922A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100309595B1 (ko) * | 1998-12-05 | 2001-12-17 | 강성일 | 브라운관검사용소켓삽입장치 |
| KR100317546B1 (ko) * | 1999-12-30 | 2001-12-24 | 서평원 | 교환기의 이중화 프로세서에서의 메모리 일치 검증 장치및 방법 |
| JP2012119987A (ja) * | 2010-12-01 | 2012-06-21 | Yokogawa Electric Corp | 通信システム、通信方法、及び管理装置 |
| JP2012209659A (ja) * | 2011-03-29 | 2012-10-25 | Oki Electric Ind Co Ltd | 冗長化通信システム |
-
1994
- 1994-06-17 JP JP6135529A patent/JPH088922A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100309595B1 (ko) * | 1998-12-05 | 2001-12-17 | 강성일 | 브라운관검사용소켓삽입장치 |
| KR100317546B1 (ko) * | 1999-12-30 | 2001-12-24 | 서평원 | 교환기의 이중화 프로세서에서의 메모리 일치 검증 장치및 방법 |
| JP2012119987A (ja) * | 2010-12-01 | 2012-06-21 | Yokogawa Electric Corp | 通信システム、通信方法、及び管理装置 |
| JP2012209659A (ja) * | 2011-03-29 | 2012-10-25 | Oki Electric Ind Co Ltd | 冗長化通信システム |
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