JPH0896400A - 超解像記録方法および光ディスク装置 - Google Patents
超解像記録方法および光ディスク装置Info
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- JPH0896400A JPH0896400A JP6232737A JP23273794A JPH0896400A JP H0896400 A JPH0896400 A JP H0896400A JP 6232737 A JP6232737 A JP 6232737A JP 23273794 A JP23273794 A JP 23273794A JP H0896400 A JPH0896400 A JP H0896400A
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】超解像光ディスクと超解像光ヘッドとの相乗効
果によって再生時の読み取り分解能を大きくとり、より
高密度の記録再生を行う。 【構成】光ヘッドのレーザ101からビームスプリッタ
A104に至るまでの光路中に遮光帯103をもうけ、
コリメータレンズ102からの平行光のコリメートビー
ムの周辺部分の高周波成分を透過させ、対物レンズ10
6により集束された集束ビームの中心付近の信号成分を
強調し、集束ビームのビーム光強度の中心を100%と
したとき50%のビーム光強度のビーム直径を遮光帯1
03がない場合のビーム直径の90%以下とし、超解像
光ディスク109に記録された情報を再生する。
果によって再生時の読み取り分解能を大きくとり、より
高密度の記録再生を行う。 【構成】光ヘッドのレーザ101からビームスプリッタ
A104に至るまでの光路中に遮光帯103をもうけ、
コリメータレンズ102からの平行光のコリメートビー
ムの周辺部分の高周波成分を透過させ、対物レンズ10
6により集束された集束ビームの中心付近の信号成分を
強調し、集束ビームのビーム光強度の中心を100%と
したとき50%のビーム光強度のビーム直径を遮光帯1
03がない場合のビーム直径の90%以下とし、超解像
光ディスク109に記録された情報を再生する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光記録再生方法と光デ
ィスク装置に関し、特に、次世代のハイビジョン対応の
超解像技術を使用して高密度記録化を図った光記録再生
方法と光ディスク装置に関する。
ィスク装置に関し、特に、次世代のハイビジョン対応の
超解像技術を使用して高密度記録化を図った光記録再生
方法と光ディスク装置に関する。
【0002】
【従来の技術】コンピュータ用磁気ディスクの高速性ア
クセス性と光ディスクのもつ大容量メモリを併せもつ外
部記憶装置の研究が急速に進展している。次世代のディ
スク装置は高速転送レートやメモリ容量などの観点から
かなりの分野において光ディスク装置が使用されること
が予想されている。
クセス性と光ディスクのもつ大容量メモリを併せもつ外
部記憶装置の研究が急速に進展している。次世代のディ
スク装置は高速転送レートやメモリ容量などの観点から
かなりの分野において光ディスク装置が使用されること
が予想されている。
【0003】そこで、現行の光記録技術の高密度化、高
速転送レート化を図るには、ビーム集束径をできるだけ
小さくすることが必要である。その方法として、光ヘッ
ドにおける超解像光ヘッド技術、記録情報領域と記録情
報をマスクしている領域とを有する光ディスク媒体の超
解像技術、レーザの短波長化および対物レンズの高開口
数化などがあり、これらの技術の組み合わせによってさ
らに高密度化を図ることができる。
速転送レート化を図るには、ビーム集束径をできるだけ
小さくすることが必要である。その方法として、光ヘッ
ドにおける超解像光ヘッド技術、記録情報領域と記録情
報をマスクしている領域とを有する光ディスク媒体の超
解像技術、レーザの短波長化および対物レンズの高開口
数化などがあり、これらの技術の組み合わせによってさ
らに高密度化を図ることができる。
【0004】しかし、この光源のレーザの短波長化およ
び対物レンズの高開口数化においては、集束ビームの直
径はエアリディスクで定められている回折限界までには
絞れない。
び対物レンズの高開口数化においては、集束ビームの直
径はエアリディスクで定められている回折限界までには
絞れない。
【0005】次に、その集束ビームの直径について説明
する。
する。
【0006】以下に、レーザ波長をλ、開口数をNA
と、集束ビームの中心光強度(100%)に対する光強
度50%、13.5%(e-2 )、 0%のビーム直径と
の関係式を示す。この0%に相当するビーム直径がエア
リディスク直径である。
と、集束ビームの中心光強度(100%)に対する光強
度50%、13.5%(e-2 )、 0%のビーム直径と
の関係式を示す。この0%に相当するビーム直径がエア
リディスク直径である。
【0007】 光強度=50% ; ビーム直径=0.52×λ/NA (1) 光強度=13.5%; ビーム直径=0.82×λ/NA (2) 光強度=0% ; ビーム直径=1.22×λ/NA (3) ここで、一例として、λ=0.68μm、NA=0.5
5を式(1),(2),(3)に代入すると、それぞれ
の直径はφ0.64μm、φ1.01μm、1.51μ
mとなる。これらのビーム直径の中で、記録時は光強度
の50%のビーム直径、再生時は光強度の13.5%の
ビーム直径が記録再生の光学変調度(MTF)に関係す
る。
5を式(1),(2),(3)に代入すると、それぞれ
の直径はφ0.64μm、φ1.01μm、1.51μ
mとなる。これらのビーム直径の中で、記録時は光強度
の50%のビーム直径、再生時は光強度の13.5%の
ビーム直径が記録再生の光学変調度(MTF)に関係す
る。
【0008】尚、MTFとは、一定の間隔に記録された
マークを光ビームが走査したときの出力応答であり、マ
ークとその他の部分の反射率の比、もしくはカー回転角
のような偏光軸の回転の比を表わすものである。この比
が大きいほど再生信号のキャリア対ノイズ比(CNR)
が大きくなる。
マークを光ビームが走査したときの出力応答であり、マ
ークとその他の部分の反射率の比、もしくはカー回転角
のような偏光軸の回転の比を表わすものである。この比
が大きいほど再生信号のキャリア対ノイズ比(CNR)
が大きくなる。
【0009】次に、従来の公知の通常の光ヘッドの集束
ビームと超解像光ディスクによる高密度再生について説
明する。
ビームと超解像光ディスクによる高密度再生について説
明する。
【0010】図7は従来の通常の光ヘッドの集束ビーム
と超解像光ディスクによる高密度再生方法を説明するた
め図である。
と超解像光ディスクによる高密度再生方法を説明するた
め図である。
【0011】これについては、日経エレクトロニクスア
ップデート1993.2“飛躍的な高密度化(6倍以上)を達
成する超解像光磁気ディスク技術を開発”PP・11−
13に掲載されている。
ップデート1993.2“飛躍的な高密度化(6倍以上)を達
成する超解像光磁気ディスク技術を開発”PP・11−
13に掲載されている。
【0012】これによると、たとえば光磁気ディスクを
例にとると、光磁気ディスク媒体構造を2層膜としてい
る。この光磁気ディスク媒体は、再生層701と記録層
702の2層構造であり、再生層701はたとえばGdFe
Co(ガドリウム・鉄・コバルト)、記録層702はDyFe
Co(ディプロシウム・鉄・コバルト)等の媒体からな
る。ガウシアン再生光を前記の光磁気ディスク媒体に集
束させたとき、しきい値温度=120 ℃程度で記録層に書
き込まれた磁区703が再生層701の一部分の窓部分
701aに浮き出し、対物レンズ705で集束されたガ
ウシアンビーム706のe-2(13.5%)光強度のビ
ーム直径707で再生していたものに比べて中心光強度
の50%程度の直径708の開口で信号再生すると従来
の直径の1/2以下の直径となる。中心光強度の50%
以上のビーム直径の範囲で、光強度による温度上昇によ
って、再生層が加熱され、垂直磁気異方性を有する記録
層702から窓部分701aを介して記録信号を再生す
る。
例にとると、光磁気ディスク媒体構造を2層膜としてい
る。この光磁気ディスク媒体は、再生層701と記録層
702の2層構造であり、再生層701はたとえばGdFe
Co(ガドリウム・鉄・コバルト)、記録層702はDyFe
Co(ディプロシウム・鉄・コバルト)等の媒体からな
る。ガウシアン再生光を前記の光磁気ディスク媒体に集
束させたとき、しきい値温度=120 ℃程度で記録層に書
き込まれた磁区703が再生層701の一部分の窓部分
701aに浮き出し、対物レンズ705で集束されたガ
ウシアンビーム706のe-2(13.5%)光強度のビ
ーム直径707で再生していたものに比べて中心光強度
の50%程度の直径708の開口で信号再生すると従来
の直径の1/2以下の直径となる。中心光強度の50%
以上のビーム直径の範囲で、光強度による温度上昇によ
って、再生層が加熱され、垂直磁気異方性を有する記録
層702から窓部分701aを介して記録信号を再生す
る。
【0013】尚、一般にレーザから出射されレンズで集
光されるレーザ光は次式に示すガウシアンビームの放射
分布を有することが知られている。
光されるレーザ光は次式に示すガウシアンビームの放射
分布を有することが知られている。
【0014】 I(r)=(2P/πw2 )EXP(−2r2 /w2 ) ここで、 I(r):中心からの距離rにおける光強度 P:ビームのトータルパワー w:出力強度が1/e2 (13.5%)となるビーム半
径 e:指数関数 r:中心からの距離 このガウシアンビームの光学系については、1993年
7月、山田英明著、キ.ノ・メレスグリオ株式会社出版
の「レーザー&オプティクスガイドNo3(2)、レーザ
ー用アクセサリー及びディテクター」のPP・3などで
述べられている。
径 e:指数関数 r:中心からの距離 このガウシアンビームの光学系については、1993年
7月、山田英明著、キ.ノ・メレスグリオ株式会社出版
の「レーザー&オプティクスガイドNo3(2)、レーザ
ー用アクセサリー及びディテクター」のPP・3などで
述べられている。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の超解像
光ディスクと通常の光ヘッドによる記録密度を向上させ
るには、集束ビームの中心の光強度を100%としたと
き50%のビーム光強度のビーム直径ではなく、90%
といった光強度のビーム直径で情報を再生するようにし
て、再生層のマスクをあけて窓部分に大きな変調度を得
られるようにすることが考えられる。しかし、この場
合、90%といった光強度では再生パワーの変動とディ
スク媒体自体の加熱によるキューリ点の変動、バラツキ
によって、安定した再生状態を得ることが困難であっ
た。
光ディスクと通常の光ヘッドによる記録密度を向上させ
るには、集束ビームの中心の光強度を100%としたと
き50%のビーム光強度のビーム直径ではなく、90%
といった光強度のビーム直径で情報を再生するようにし
て、再生層のマスクをあけて窓部分に大きな変調度を得
られるようにすることが考えられる。しかし、この場
合、90%といった光強度では再生パワーの変動とディ
スク媒体自体の加熱によるキューリ点の変動、バラツキ
によって、安定した再生状態を得ることが困難であっ
た。
【0016】それ故に、本発明の第一の目的は、超解像
光ディスクを用いた光ディスク装置において上記の問題
点である高密度再生における安定性を確保する方法とそ
れを使用した光ディスク装置を提供することにある。
光ディスクを用いた光ディスク装置において上記の問題
点である高密度再生における安定性を確保する方法とそ
れを使用した光ディスク装置を提供することにある。
【0017】また、光ヘッドおよび光ディスク媒体は信
号の形態による記録条件(アナログもしくはディジタ
ル)を考慮に入れた記録方法を検討する必要がある。
号の形態による記録条件(アナログもしくはディジタ
ル)を考慮に入れた記録方法を検討する必要がある。
【0018】ディジタルの場合はクロストークは−25
dB程度とれれば充分であるが、アナログの場合は映像
記録の場合、クロストークは−45dBも必要である。
dB程度とれれば充分であるが、アナログの場合は映像
記録の場合、クロストークは−45dBも必要である。
【0019】さらに、従来の光ディスク装置に超解像法
を適用するにあたっては、光ディスク媒体上での集束ビ
ームのサイドローブ発生とそのための光ディスク媒体か
らの反射光を光センサに集束したビームのサイドローブ
の影響が問題であった。
を適用するにあたっては、光ディスク媒体上での集束ビ
ームのサイドローブ発生とそのための光ディスク媒体か
らの反射光を光センサに集束したビームのサイドローブ
の影響が問題であった。
【0020】そこで、本発明の第二の目的は、アナログ
もしくはディジタルの記録形態に沿った最適な集束ビー
ム形態を超解像光ディスク上に集束させることにあり、
しかも、集束ビームの楕円の長軸方向を超解像光ヘッド
技術と併せて総合して記録再生のMTFを向上させるこ
とにあり、さらには、超解像光ディスクと超解像光ヘッ
ドとを組み合わせ、超解像法を適用した光ディスク装置
において上記の問題点である光ディスク媒体上と情報検
出のための光センサ部分での集束ビームにおけるサイド
ローブの影響を低減させ、より高密度の信号再生を行う
ことにある。
もしくはディジタルの記録形態に沿った最適な集束ビー
ム形態を超解像光ディスク上に集束させることにあり、
しかも、集束ビームの楕円の長軸方向を超解像光ヘッド
技術と併せて総合して記録再生のMTFを向上させるこ
とにあり、さらには、超解像光ディスクと超解像光ヘッ
ドとを組み合わせ、超解像法を適用した光ディスク装置
において上記の問題点である光ディスク媒体上と情報検
出のための光センサ部分での集束ビームにおけるサイド
ローブの影響を低減させ、より高密度の信号再生を行う
ことにある。
【0021】
【課題を解決するための手段】本発明は上述した目的を
達成するために、超解像光ディスクの再生状態における
熱しきい値(キューリ温度)を越える温度を満足させる
光強度を有し、さらに、超解像光ヘッドにおける集束ビ
ームによって形成されたサイドローブによる熱的な影響
を受ない温度範囲で、超解像光ヘッドと超解像光ディス
クによって高密度再生を実現できるようにしている。
達成するために、超解像光ディスクの再生状態における
熱しきい値(キューリ温度)を越える温度を満足させる
光強度を有し、さらに、超解像光ヘッドにおける集束ビ
ームによって形成されたサイドローブによる熱的な影響
を受ない温度範囲で、超解像光ヘッドと超解像光ディス
クによって高密度再生を実現できるようにしている。
【0022】さらに、空間フィルタによってサイドロー
プを除去することにより、このサイドローブの影響をな
くし、メインローブのみの光検出を行うことにより、ピ
ット間干渉、もしくは光磁気であればビット間干渉が低
減されるようにしている。
プを除去することにより、このサイドローブの影響をな
くし、メインローブのみの光検出を行うことにより、ピ
ット間干渉、もしくは光磁気であればビット間干渉が低
減されるようにしている。
【0023】このように、本発明の超解像記録方法およ
び光ディスク装置は、超解像光ディスクと超解像光ヘッ
ドによる集束ビーム直径の低減化とを組み合わせること
によって、さらに高密度記録を実現している。
び光ディスク装置は、超解像光ディスクと超解像光ヘッ
ドによる集束ビーム直径の低減化とを組み合わせること
によって、さらに高密度記録を実現している。
【0024】そのため、具体的には、本発明の超解像記
録方法は、少なくとも上層と下層とからなる2層構造以
上を取り得る記録消去可能なディスクのなかで、再生ビ
ームの光強度分布によって決定されるディスクの温度上
昇によって、上層の膜に開口部分を発生させ、この開口
部を通して下層に記録された情報を再生する超解像光デ
ィスクを使用し、情報の記録,再生を行うに際し、レー
ザからビームスプリッタに至るまでの光路中に遮光帯を
もうけた超解像光ヘッドによって、その集束ビームの中
心の光強度を100%としたとき50%の光ビーム強度
のビーム直径を超解像光ヘッドの遮光帯がない場合のビ
ーム直径の90%以下とし、超解像光ディスクに記録さ
れた情報を再生することを特徴としている。
録方法は、少なくとも上層と下層とからなる2層構造以
上を取り得る記録消去可能なディスクのなかで、再生ビ
ームの光強度分布によって決定されるディスクの温度上
昇によって、上層の膜に開口部分を発生させ、この開口
部を通して下層に記録された情報を再生する超解像光デ
ィスクを使用し、情報の記録,再生を行うに際し、レー
ザからビームスプリッタに至るまでの光路中に遮光帯を
もうけた超解像光ヘッドによって、その集束ビームの中
心の光強度を100%としたとき50%の光ビーム強度
のビーム直径を超解像光ヘッドの遮光帯がない場合のビ
ーム直径の90%以下とし、超解像光ディスクに記録さ
れた情報を再生することを特徴としている。
【0025】この超解像光ヘッド技術については、文
献:山中、窪田:“超解像による光ディスクの高密度記
録”「光学」第18巻、第12号、PP.691−69
2に載せられている。これによるとエアリーディスクに
よって制限される集束ビームの80%までしぼることが
可能であるとしている。
献:山中、窪田:“超解像による光ディスクの高密度記
録”「光学」第18巻、第12号、PP.691−69
2に載せられている。これによるとエアリーディスクに
よって制限される集束ビームの80%までしぼることが
可能であるとしている。
【0026】本発明の光ディスク装置は、少なくとも上
層と下層とからなる2層構造以上を取り得る記録消去可
能なディスクのなかで再生ビームの光強度分布によって
決定されるディスクの温度上昇によって上層の膜に開口
部分を発生させこの開口部を通して下層に記録された情
報を再生する超解像光ディスクと、レーザからビームス
プリッタに至るまでの光路中に遮光帯をもうけ超解像光
ディスク上で情報を記録,再生する超解像光ヘッドとを
有する光ディスク装置であって、超解像光ヘッドの遮光
帯を、対物レンズによる集束ビームの中心の光強度を1
00%としたとき50%のビーム光強度のビームの大き
さを超解像光ヘッドの遮光帯がない場合のビームの大き
さの90%以下になるように配置したことを特徴として
いる。
層と下層とからなる2層構造以上を取り得る記録消去可
能なディスクのなかで再生ビームの光強度分布によって
決定されるディスクの温度上昇によって上層の膜に開口
部分を発生させこの開口部を通して下層に記録された情
報を再生する超解像光ディスクと、レーザからビームス
プリッタに至るまでの光路中に遮光帯をもうけ超解像光
ディスク上で情報を記録,再生する超解像光ヘッドとを
有する光ディスク装置であって、超解像光ヘッドの遮光
帯を、対物レンズによる集束ビームの中心の光強度を1
00%としたとき50%のビーム光強度のビームの大き
さを超解像光ヘッドの遮光帯がない場合のビームの大き
さの90%以下になるように配置したことを特徴として
いる。
【0027】本発明の光ディスク装置は、上記の超解像
光ヘッドが、レーザと、レーザから出射されたビームを
平行光に変換するコリメートレンズと、コリメートレン
ズからの平行光のコリメートビームを遮光する遮光帯
と、遮光帯で平行光の低周波部分が遮光されたビームを
透過する第一のビームスプリッタおよび第二のビームス
プリッタと、第二のビームスプリッタを透過したビーム
を超解像光ディスク面に集束ビームの中心付近の信号成
分を強調して集束させその超解像光ディスク面からのメ
インローブとサイドローブからなる反射光ビームを透過
する対物レンズと、対物レンズを透過し第二のビームス
プリンタで直角に偏向した反射光ビームを受光し偏波面
を45度傾ける1/2波長板と、1/2波長板で偏波面
が45度傾けられた反射光ビームのサイドローブを除去
する空間フイルタと、空間フイルタを透過した反射光ビ
ームのメインロープのビームを直線偏光するウォラスト
ンプリズムと、ウォラストンプリズムで直線偏光された
メインロープのビームを受光し差動光磁気検出する二つ
のエレメント光センサと、対物レンズおよび第二のビー
ムスプリンタを透過し第一のビームスプリンタで直角方
向に曲げられた超解像光ディスク面からの反射光ビーム
を受光しフォーカスおよびトラッキング誤差信号を検出
する光センサとを有することを特徴としている。
光ヘッドが、レーザと、レーザから出射されたビームを
平行光に変換するコリメートレンズと、コリメートレン
ズからの平行光のコリメートビームを遮光する遮光帯
と、遮光帯で平行光の低周波部分が遮光されたビームを
透過する第一のビームスプリッタおよび第二のビームス
プリッタと、第二のビームスプリッタを透過したビーム
を超解像光ディスク面に集束ビームの中心付近の信号成
分を強調して集束させその超解像光ディスク面からのメ
インローブとサイドローブからなる反射光ビームを透過
する対物レンズと、対物レンズを透過し第二のビームス
プリンタで直角に偏向した反射光ビームを受光し偏波面
を45度傾ける1/2波長板と、1/2波長板で偏波面
が45度傾けられた反射光ビームのサイドローブを除去
する空間フイルタと、空間フイルタを透過した反射光ビ
ームのメインロープのビームを直線偏光するウォラスト
ンプリズムと、ウォラストンプリズムで直線偏光された
メインロープのビームを受光し差動光磁気検出する二つ
のエレメント光センサと、対物レンズおよび第二のビー
ムスプリンタを透過し第一のビームスプリンタで直角方
向に曲げられた超解像光ディスク面からの反射光ビーム
を受光しフォーカスおよびトラッキング誤差信号を検出
する光センサとを有することを特徴としている。
【0028】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【0029】図1は本発明の超解像光ヘッドと超解像光
ディスクの一実施例を構成図、図2は本発明のディジタ
ル記録に対応した超解像光ヘッドの遮光帯の配置を説明
するための図、図3は図2の超解像光ヘッドを使用して
ディジタル記録に対応した超解像記録再生を説明するた
めの図、図4は本発明のアナログ記録に対応した超解像
光ヘッドの遮光帯の配置を説明するための図、図5は図
4の超解像光ヘッドを使用してディジタル記録に対応し
た超解像記録再生を説明するための図、図6は本発明の
超解像光ヘッドの集束ビームと超解像光ディスクによる
高密度再生方法を説明するため図である。
ディスクの一実施例を構成図、図2は本発明のディジタ
ル記録に対応した超解像光ヘッドの遮光帯の配置を説明
するための図、図3は図2の超解像光ヘッドを使用して
ディジタル記録に対応した超解像記録再生を説明するた
めの図、図4は本発明のアナログ記録に対応した超解像
光ヘッドの遮光帯の配置を説明するための図、図5は図
4の超解像光ヘッドを使用してディジタル記録に対応し
た超解像記録再生を説明するための図、図6は本発明の
超解像光ヘッドの集束ビームと超解像光ディスクによる
高密度再生方法を説明するため図である。
【0030】次に、まず請求項1,2,3,6にかかる
超解像記録方法および光ディスク装置について図1を参
照して説明する。
超解像記録方法および光ディスク装置について図1を参
照して説明する。
【0031】レーザ101から射出したビームはコリメ
ータレンズ102で平行光のコリメートビームになり、
遮光帯103を通し、ビームスプリッタA104,ビー
ムスプリッタB105を直進し、対物レンズ106に至
る。
ータレンズ102で平行光のコリメートビームになり、
遮光帯103を通し、ビームスプリッタA104,ビー
ムスプリッタB105を直進し、対物レンズ106に至
る。
【0032】この集束ビームは前記遮光帯103によっ
て超解像パターンとなり、メインローブ107の集束ビ
ームのほかに、サイドローブ108が生じる。
て超解像パターンとなり、メインローブ107の集束ビ
ームのほかに、サイドローブ108が生じる。
【0033】光ディスク109からの反射光はビームス
プリッタB105まで戻り、光磁気検出される。すなわ
ち、その反射光は、1/2波長板110を通り、偏波面
が光軸を中心に45度傾けられ、ビーム集束レンズ11
1を透過し、超解像のサイドローブを除去する空間フィ
ルタ112を通る。そして、そのビームはウォラストン
プリズム113を通り、2個のエレメントからなる光セ
ンサ114で差動による光磁気検出が行われる。また、
光ディスク109からの反射光の一部は、ビームスプリ
ッタA104によって90°曲げられ光センサ115に
よりフォーカスおよびトラッキング誤差信号が検出され
る。
プリッタB105まで戻り、光磁気検出される。すなわ
ち、その反射光は、1/2波長板110を通り、偏波面
が光軸を中心に45度傾けられ、ビーム集束レンズ11
1を透過し、超解像のサイドローブを除去する空間フィ
ルタ112を通る。そして、そのビームはウォラストン
プリズム113を通り、2個のエレメントからなる光セ
ンサ114で差動による光磁気検出が行われる。また、
光ディスク109からの反射光の一部は、ビームスプリ
ッタA104によって90°曲げられ光センサ115に
よりフォーカスおよびトラッキング誤差信号が検出され
る。
【0034】ここで、光ディスク109は、少なくとも
上層と下層とからなる2層構造以上を取り得る記録消去
可能なディスクのなかで、再生ビームの光強度分布によ
って決定されるディスクの温度上昇によって、上層の膜
に開口部分を発生させ、この開口部を通して下層に記録
された情報を再生する超解像光ディスクで、その一例と
しては、図6に示すものがある。
上層と下層とからなる2層構造以上を取り得る記録消去
可能なディスクのなかで、再生ビームの光強度分布によ
って決定されるディスクの温度上昇によって、上層の膜
に開口部分を発生させ、この開口部を通して下層に記録
された情報を再生する超解像光ディスクで、その一例と
しては、図6に示すものがある。
【0035】このようにこの実施例の超解像記録方法お
よび光ディスクでは、光ヘッドのレーザ101からビー
ムスプリッタA104に至るまでの光路中に遮光帯10
3をもうけ、コリメータレンズ102からの平行光のコ
リメートビームの周辺部分の高周波成分を透過させ、対
物レンズ106により集束された集束ビームの中心付近
の信号成分を強調し、集束ビームのビーム光強度の中心
を100%としたとき50%のビーム光強度のビーム直
径で、情報を再生する。
よび光ディスクでは、光ヘッドのレーザ101からビー
ムスプリッタA104に至るまでの光路中に遮光帯10
3をもうけ、コリメータレンズ102からの平行光のコ
リメートビームの周辺部分の高周波成分を透過させ、対
物レンズ106により集束された集束ビームの中心付近
の信号成分を強調し、集束ビームのビーム光強度の中心
を100%としたとき50%のビーム光強度のビーム直
径で、情報を再生する。
【0036】また、集束ビームの中心のビーム光強度を
100%としたとき50%のビーム光強度のビームの大
きさを極力小さくするため、遮光帯103の幅をコリメ
ート光の直径の10%以上にすると、遮光帯103のな
い超解像がない場合の50%のビーム光強度のビーム直
径の90%以下にでき、これにより光ディスク109の
情報を再生する。
100%としたとき50%のビーム光強度のビームの大
きさを極力小さくするため、遮光帯103の幅をコリメ
ート光の直径の10%以上にすると、遮光帯103のな
い超解像がない場合の50%のビーム光強度のビーム直
径の90%以下にでき、これにより光ディスク109の
情報を再生する。
【0037】次に、これらについて詳細に説明する。
【0038】まず、請求項3にかかるディジタル記録に
対応した超解像記録再生および光ディスク装置について
図2および図3を参照して説明する。
対応した超解像記録再生および光ディスク装置について
図2および図3を参照して説明する。
【0039】図2は超解像光ディスクの回転中心201
を示し、ディジタル方式の遮光帯202の配置と対物レ
ンズ203によって超解像光ディスク上に集束した集束
ビームパターン204を示す。ディジタル方式は隣接ト
ラック間のクロストークはエラー訂正能力にもよるが2
0dB程度であれば問題がないので、超解像光ディスク
半径方向に長尺の遮光帯202を配置している。
を示し、ディジタル方式の遮光帯202の配置と対物レ
ンズ203によって超解像光ディスク上に集束した集束
ビームパターン204を示す。ディジタル方式は隣接ト
ラック間のクロストークはエラー訂正能力にもよるが2
0dB程度であれば問題がないので、超解像光ディスク
半径方向に長尺の遮光帯202を配置している。
【0040】図3は、図2に示す集束ビームを3面図で
示している。すなわち、サイドローブが形成された超解
像集束ビームの光ディスクトラック301上での平面図
302、立面図303、側面図304を示す。光ディス
ク接線方向305に超解像を利かせ、超解像光ディスク
の読み出しの時、ディスク再生層の温度を上昇させ、そ
の下の記録層の信号をマスク(窓)を通して再生する。
この窓部分306を斜線で示す。このとき前記の窓部分
306は温度上昇の関係からサイドローブ308まで広
がらないので、超解像によるビーム集束に伴うサイドロ
ーブ308は大ききな問題点とはならない。前記の窓部
分306の大きさは、立面図303、側面図304に示
すように、サイドローブ308を有する集束ビームの中
心の略ガシアンビームのメインローブ307のビーム中
心の光強度を100%としたとき、50%の光強度のビ
ーム直径の大きさに相当する。この部分を上記の3面図
に斜線で示す。
示している。すなわち、サイドローブが形成された超解
像集束ビームの光ディスクトラック301上での平面図
302、立面図303、側面図304を示す。光ディス
ク接線方向305に超解像を利かせ、超解像光ディスク
の読み出しの時、ディスク再生層の温度を上昇させ、そ
の下の記録層の信号をマスク(窓)を通して再生する。
この窓部分306を斜線で示す。このとき前記の窓部分
306は温度上昇の関係からサイドローブ308まで広
がらないので、超解像によるビーム集束に伴うサイドロ
ーブ308は大ききな問題点とはならない。前記の窓部
分306の大きさは、立面図303、側面図304に示
すように、サイドローブ308を有する集束ビームの中
心の略ガシアンビームのメインローブ307のビーム中
心の光強度を100%としたとき、50%の光強度のビ
ーム直径の大きさに相当する。この部分を上記の3面図
に斜線で示す。
【0041】次に、請求項4にかかるアナログ記録に対
応した超解像記録再生および光ディスク装置について図
4および図5を参照して説明する。
応した超解像記録再生および光ディスク装置について図
4および図5を参照して説明する。
【0042】図4はアナログ記録対応の超解像光ヘッド
を示す。集束ビームの楕円メインローブ401の長軸4
02が光ディスク接線方向に沿ったものを示す。アナロ
グ記録においては隣接トラックのクロストークの影響に
よって画質が劣化し、クロストーク量は−40dB以下
でないと良好な信号再生ができない。このためディスク
半径方向のビーム集束を大きくとれるように超解像効果
を利かせる。このために、光ヘッドのコリメータビーム
403に光ディスク接線方向に伸びる遮光帯404を配
置した。
を示す。集束ビームの楕円メインローブ401の長軸4
02が光ディスク接線方向に沿ったものを示す。アナロ
グ記録においては隣接トラックのクロストークの影響に
よって画質が劣化し、クロストーク量は−40dB以下
でないと良好な信号再生ができない。このためディスク
半径方向のビーム集束を大きくとれるように超解像効果
を利かせる。このために、光ヘッドのコリメータビーム
403に光ディスク接線方向に伸びる遮光帯404を配
置した。
【0043】図5は、図4の集束ビームの楕円メインロ
ーブの長軸が光ディスク接線方向に沿ったものの集束ビ
ームの平面図501、立面図502、側面図503を示
す。
ーブの長軸が光ディスク接線方向に沿ったものの集束ビ
ームの平面図501、立面図502、側面図503を示
す。
【0044】光ディスク半径方向に超解像を利かせ、超
解像光ディスクからの情報の再生時、ディスク再生層の
温度を上昇させ、その下の記録層の信号をマスク(窓部
分)504を通して再生する。このときサイドローブ5
06は温度上昇の関係から前記の窓部分504にかから
ないので、超解像のサイドローブ506は大ききな問題
点とはならない。立面図502、側面図503に実効的
なビームを斜線で示す。この図が示すとおり、サイドロ
ーブ506のメインビーム505への漏れ込みはない。
解像光ディスクからの情報の再生時、ディスク再生層の
温度を上昇させ、その下の記録層の信号をマスク(窓部
分)504を通して再生する。このときサイドローブ5
06は温度上昇の関係から前記の窓部分504にかから
ないので、超解像のサイドローブ506は大ききな問題
点とはならない。立面図502、側面図503に実効的
なビームを斜線で示す。この図が示すとおり、サイドロ
ーブ506のメインビーム505への漏れ込みはない。
【0045】さらに、アナログ記録にとって、隣接する
トラックからの漏れ込み、すなわちクロストークは大き
な問題ではあるが、集束楕円ビームの長軸方向をディス
ク接線方向にしているため、従来の再生方法だと−30
dBのクロストークを得るのが限界だったものが、上記
の超解像光ディスクと超解像光ヘッドの組み合わせによ
って−40dBのクロストークを得ている。
トラックからの漏れ込み、すなわちクロストークは大き
な問題ではあるが、集束楕円ビームの長軸方向をディス
ク接線方向にしているため、従来の再生方法だと−30
dBのクロストークを得るのが限界だったものが、上記
の超解像光ディスクと超解像光ヘッドの組み合わせによ
って−40dBのクロストークを得ている。
【0046】次に、本発明の超解像光ヘッドの集束ビー
ムと超解像光ディスクによる高密度再生方法および光デ
ィスク装置について図6を参照して説明する。
ムと超解像光ディスクによる高密度再生方法および光デ
ィスク装置について図6を参照して説明する。
【0047】従来技術の項で説明したように、超解像光
ディスクとして光磁気ディスク媒体を例にし、光磁気デ
ィスク媒体構造を再生層601と記録層602の2層膜
構造とする。ガウシアン再生光を前記の光磁気ディスク
媒体に集束させたとき、しきい値温度=120 ℃程度で記
録層に書き込まれた磁区603が再生層601の一部分
の窓部分601aに浮き出し、対物レンズ605で集束
されたガウシアンビーム606のe-2(13.5%)光
強度のビーム直径607で再生していたものに比べて中
心光強度の50%程度の直径608の開口で信号再生す
ると従来の直径の1/2以下の直径となる。中心光強度
の50%以上のビーム直径の範囲で、光強度による温度
上昇によって、再生層が加熱され、垂直磁気異方性を有
する記録層602から窓部分601aを介して記録信号
を再生する。ここで、超解像光ヘッドを構成する遮光帯
604と対物レンズ605で集光したガウシアンビーム
606にはサイドローブ609が発生する。しかし、こ
のサイドローブ609による超解像光ディスクである光
磁気ディスク媒体の温度上昇では上述したように、しき
い値温度とならないためこのサイドローブ609による
影響はない。
ディスクとして光磁気ディスク媒体を例にし、光磁気デ
ィスク媒体構造を再生層601と記録層602の2層膜
構造とする。ガウシアン再生光を前記の光磁気ディスク
媒体に集束させたとき、しきい値温度=120 ℃程度で記
録層に書き込まれた磁区603が再生層601の一部分
の窓部分601aに浮き出し、対物レンズ605で集束
されたガウシアンビーム606のe-2(13.5%)光
強度のビーム直径607で再生していたものに比べて中
心光強度の50%程度の直径608の開口で信号再生す
ると従来の直径の1/2以下の直径となる。中心光強度
の50%以上のビーム直径の範囲で、光強度による温度
上昇によって、再生層が加熱され、垂直磁気異方性を有
する記録層602から窓部分601aを介して記録信号
を再生する。ここで、超解像光ヘッドを構成する遮光帯
604と対物レンズ605で集光したガウシアンビーム
606にはサイドローブ609が発生する。しかし、こ
のサイドローブ609による超解像光ディスクである光
磁気ディスク媒体の温度上昇では上述したように、しき
い値温度とならないためこのサイドローブ609による
影響はない。
【0048】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の超解像記
録方法および光ディスク装置は、超解像光ディスクと超
解像光ヘッドとを組み合わせ、再生時に超解像光ディス
クの一部をマスキングし、超解像光ヘッドの空間フィル
タによってサイドロープを除去し、さらにアナログもし
くはディジタルの記録形態に沿った最適な集束ビーム形
態を超解像光ディスク上に集束させることにより、光デ
ィスク装置における信号記録再生の線速方向もしくはデ
ィスク半径方向の光学的な変調度(MTF)を大きくで
ぎ、信号記録再生の高分解能化を図ることができ、次世
代のハイビジョンなどの高密度、高速ビットレート対応
のものに有用な光記録方法および光ディスク装置を提供
することができるという効果を奏する。
録方法および光ディスク装置は、超解像光ディスクと超
解像光ヘッドとを組み合わせ、再生時に超解像光ディス
クの一部をマスキングし、超解像光ヘッドの空間フィル
タによってサイドロープを除去し、さらにアナログもし
くはディジタルの記録形態に沿った最適な集束ビーム形
態を超解像光ディスク上に集束させることにより、光デ
ィスク装置における信号記録再生の線速方向もしくはデ
ィスク半径方向の光学的な変調度(MTF)を大きくで
ぎ、信号記録再生の高分解能化を図ることができ、次世
代のハイビジョンなどの高密度、高速ビットレート対応
のものに有用な光記録方法および光ディスク装置を提供
することができるという効果を奏する。
【図1】本発明の超解像光ヘッドと超解像光ディスクの
一実施例を構成図である。
一実施例を構成図である。
【図2】本発明のディジタル記録に対応した超解像光ヘ
ッドの遮光帯の配置を説明するための図である。
ッドの遮光帯の配置を説明するための図である。
【図3】図2の超解像光ヘッドを使用してディジタル記
録に対応した超解像記録再生を説明するための図であ
る。
録に対応した超解像記録再生を説明するための図であ
る。
【図4】本発明のアナログ記録に対応した超解像光ヘッ
ドの遮光帯の配置を説明するための図である。
ドの遮光帯の配置を説明するための図である。
【図5】図4の超解像光ヘッドを使用してディジタル記
録に対応した超解像記録再生を説明するための図であ
る。
録に対応した超解像記録再生を説明するための図であ
る。
【図6】本発明の超解像光ヘッドの集束ビームと超解像
光ディスクによる高密度再生方法を説明するため図であ
る。
光ディスクによる高密度再生方法を説明するため図であ
る。
【図7】従来例の超解像光ヘッドの集束ビームと超解像
光ディスクを説明するための図である。
光ディスクを説明するための図である。
【符号の説明】 101 レーザ 102 コリメータレンズ 103 遮光帯 104 ビームスプリッタA 105 ビームスプリッタB 106 対物レンズ 103 遮光帯 107 メインローブ 108 サイドローブ 109 光ディスク 110 1/2波長板 111 ビーム集束レンズ 112 空間フィルタ 113 ウォラストンプリズム 114 光センサ 115 光センサ 201 回転中心 202 遮光帯 203 対物レンズ 204 集束ビームパターン 301 光ディスクトラック 302 平面図 303 立面図 304 側面図 305 接線方向 306 窓部分 307 メインローブ 308 サイドローブ 401 メインローブ 402 長軸 403 コリメータビーム 404 遮光帯 501 平面図 502 立面図 503 側面図 504 窓部分 505 メインローブ 506 サイドローブ 601 再生層 601a 窓部分 602 記録層 603 磁区 604 遮光帯 605 対物レンズ 606 ガウシアンビーム 607 ビーム直径 608 50%程度の直径 609 サイドロープ 701 再生層 701a 窓部分 702 記録層 703 磁区 705 対物レンズ 706 ガウシアンビーム 707 ビーム直径 708 50%程度の直径
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G11B 11/10 D 9296−5D
Claims (6)
- 【請求項1】 少なくとも上層と下層とからなる2層構
造以上を取り得る記録消去可能なディスクのなかで、再
生ビームの光強度分布によって決定されるディスクの温
度上昇によって、前記上層の膜に開口部分を発生させ、
この開口部を通して前記下層に記録された情報を再生す
る超解像光ディスクを使用し、情報の記録,再生を行う
に際し、レーザからビームスプリッタに至るまでの光路
中に遮光帯をもうけた超解像光ヘッドによって、その集
束ビームの中心の光強度を100%としたとき50%の
ビーム光強度のビーム直径を前記超解像光ヘッドの遮光
帯がない場合のビーム直径の90%以下とし、前記超解
像光ディスクに記録された情報を再生することを特徴と
する超解像記録方法。 - 【請求項2】少なくとも上層と下層とからなる2層構造
以上を取り得る記録消去可能なディスクのなかで再生ビ
ームの光強度分布によって決定されるディスクの温度上
昇によって前記上層の膜に開口部分を発生させこの開口
部を通して前記下層に記録された情報を再生する超解像
光ディスクと、レーザからビームスプリッタに至るまで
の光路中に遮光帯をもうけ前記超解像光ディスク上で情
報を記録,再生する超解像光ヘッドとを有する光ディス
ク装置であって、前記超解像光ヘッドの遮光帯を、対物
レンズによる集束ビームの中心の光強度を100%とし
たとき50%のビーム光強度のビームの直径を前記超解
像光ヘッドの遮光帯がない場合のビームの直径の90%
以下になるように配置したことを特徴とする光ディスク
装置。 - 【請求項3】 超解像光ヘッドが、レーザと、前記レー
ザから出射されたビームを平行光に変換するコリメート
レンズと、前記コリメートレンズからの平行光のコリメ
ートビームを遮光する遮光帯と、前記遮光帯で前記平行
光の低周波部分が遮光されたビームを透過する第一のビ
ームスプリッタおよび第二のビームスプリッタと、前記
第二のビームスプリッタを透過したビームを前記超解像
光ディスク面に集束ビームの中心付近の信号成分を強調
して集束させその超解像光ディスク面からのメインロー
ブとサイドローブからなる反射光ビームを透過する対物
レンズと、前記対物レンズを透過し前記第二のビームス
プリンタで直角に偏向した前記反射光ビームを受光し偏
波面を45度傾ける1/2波長板と、前記1/2波長板
で偏波面が45度傾けられた反射光ビームのサイドロー
ブを除去する空間フイルタと、前記空間フイルタを透過
した反射光ビームのメインロープのビームを直線偏光す
るウォラストンプリズムと、前記ウォラストンプリズム
で直線偏光されたメインロープのビームを受光し差動光
磁気検出する二つのエレメント光センサと、前記対物レ
ンズおよび前記第二のビームスプリンタを透過し前記第
一のビームスプリンタで直角方向に曲げられた前記超解
像光ディスク面からの反射光ビームを受光しフォーカス
およびトラッキング誤差信号を検出する光センサとを有
することを特徴とする請求項2記載光ディスク装置。 - 【請求項4】 前記遮光帯を、前記超解像光ディスク面
の接線方向に長軸をもつ楕円光に対して前記超解像光デ
ィスク面半径方向に前記集束ビームの中心付近の信号成
分を強調するように配置したことを特徴とする請求項2
または請求項3記載の光ディスク装置。 - 【請求項5】 前記遮光帯を、前記ビームの向きと直角
になるようにビームを配置し、前記超解像光ディスク面
の接線方向に前記集束ビームの中心付近の信号成分を強
調するように配置したことを特徴とする請求項2または
請求項3記載の光ディスク装置。 - 【請求項6】 前記遮光帯の幅を前記コリメートビーム
直径の10%以下にしたことを特徴とする請求項2から
請求項5のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6232737A JP2663877B2 (ja) | 1994-09-28 | 1994-09-28 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6232737A JP2663877B2 (ja) | 1994-09-28 | 1994-09-28 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0896400A true JPH0896400A (ja) | 1996-04-12 |
| JP2663877B2 JP2663877B2 (ja) | 1997-10-15 |
Family
ID=16943985
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6232737A Expired - Fee Related JP2663877B2 (ja) | 1994-09-28 | 1994-09-28 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2663877B2 (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04294948A (ja) * | 1991-03-19 | 1992-10-19 | Honda Motor Co Ltd | 検査用マーキング機構を備えた治具 |
| JPH0512673A (ja) * | 1991-07-03 | 1993-01-22 | Mitsubishi Electric Corp | 光デイスク装置の高密度記録再生方式 |
| JPH0822620A (ja) * | 1994-06-30 | 1996-01-23 | Victor Co Of Japan Ltd | 光記録媒体の再生方法及びその再生装置 |
-
1994
- 1994-09-28 JP JP6232737A patent/JP2663877B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04294948A (ja) * | 1991-03-19 | 1992-10-19 | Honda Motor Co Ltd | 検査用マーキング機構を備えた治具 |
| JPH0512673A (ja) * | 1991-07-03 | 1993-01-22 | Mitsubishi Electric Corp | 光デイスク装置の高密度記録再生方式 |
| JPH0822620A (ja) * | 1994-06-30 | 1996-01-23 | Victor Co Of Japan Ltd | 光記録媒体の再生方法及びその再生装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2663877B2 (ja) | 1997-10-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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