JPH09147111A - プロジェクションの閾値決定装置及び検査装置 - Google Patents
プロジェクションの閾値決定装置及び検査装置Info
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- JPH09147111A JPH09147111A JP7305867A JP30586795A JPH09147111A JP H09147111 A JPH09147111 A JP H09147111A JP 7305867 A JP7305867 A JP 7305867A JP 30586795 A JP30586795 A JP 30586795A JP H09147111 A JPH09147111 A JP H09147111A
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- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 101001139126 Homo sapiens Krueppel-like factor 6 Proteins 0.000 description 2
- 101000911772 Homo sapiens Hsc70-interacting protein Proteins 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 迅速かつ正確に閾値を決定し、容易に製品の
検査を行う。 【解決手段】 ICのモ−ルド面のエッジを跨ぐ複数の
検査範囲を設定し、複数の検査範囲のプロジェクション
を作成し、各々の検査範囲のプロジェクションの閾値を
求める。各々の検査範囲に、閾値と同じ濃度値を有する
1つの点を設定する。その1つの点を通る直線を引き、
当該直線により囲まれた範囲を画像処理範囲とし、その
画像処理範囲において所定の検査を行う。ICのモ−ル
ド面の各辺には、2つの検査範囲が跨る。ICのモ−ル
ド面とその背景の濃度差は、30階調以上で、当該濃度
差を100%とした場合に、n%の濃度を閾値とする。
検査を行う。 【解決手段】 ICのモ−ルド面のエッジを跨ぐ複数の
検査範囲を設定し、複数の検査範囲のプロジェクション
を作成し、各々の検査範囲のプロジェクションの閾値を
求める。各々の検査範囲に、閾値と同じ濃度値を有する
1つの点を設定する。その1つの点を通る直線を引き、
当該直線により囲まれた範囲を画像処理範囲とし、その
画像処理範囲において所定の検査を行う。ICのモ−ル
ド面の各辺には、2つの検査範囲が跨る。ICのモ−ル
ド面とその背景の濃度差は、30階調以上で、当該濃度
差を100%とした場合に、n%の濃度を閾値とする。
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ICのモ−ルド面
などの検査対象物とその背景との境界を定めるためのプ
ロジェクションの閾値を決定する装置、及び検査対象物
の検査装置に関する。
などの検査対象物とその背景との境界を定めるためのプ
ロジェクションの閾値を決定する装置、及び検査対象物
の検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ICのモ−ルド面などの検査対象
物の検査には、画像処理技術がよく用いられている。し
かし、例えばICのモ−ルド面の範囲(画像処理範囲)
を確定するに当たって、従来は、画像処理装置内に取り
入れた画像についてオペレ−タが目視により当該範囲を
確定していた。
物の検査には、画像処理技術がよく用いられている。し
かし、例えばICのモ−ルド面の範囲(画像処理範囲)
を確定するに当たって、従来は、画像処理装置内に取り
入れた画像についてオペレ−タが目視により当該範囲を
確定していた。
【0003】従って、図11及び図12に示すように、
画像20内のICのモ−ルド面21とその背景22(又
はリ−ド23)の濃度差が小さい場合などにおいては、
モ−ルド面21とその背景22の境界、即ち画像処理範
囲Sgは、実際のICのモ−ルド面の範囲S1+S2と
大幅にずれてしまう。
画像20内のICのモ−ルド面21とその背景22(又
はリ−ド23)の濃度差が小さい場合などにおいては、
モ−ルド面21とその背景22の境界、即ち画像処理範
囲Sgは、実際のICのモ−ルド面の範囲S1+S2と
大幅にずれてしまう。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来、画
像処理範囲には、オペレ−タの個人的な誤差が含まれて
いるため、ICのモ−ルド面などの検査対象物の検査を
正確に行うことができない。従って、従来は、検査対象
物とその背景との境界を正確かつ迅速に定めることが困
難であるという欠点がある。
像処理範囲には、オペレ−タの個人的な誤差が含まれて
いるため、ICのモ−ルド面などの検査対象物の検査を
正確に行うことができない。従って、従来は、検査対象
物とその背景との境界を正確かつ迅速に定めることが困
難であるという欠点がある。
【0005】本発明は、上記欠点を解決すべくなされた
もので、その目的は、検査対象物とその背景との境界、
即ち画像処理範囲を正確かつ迅速に定め、その画像処理
範囲において検査対象物の検査を行うことである。
もので、その目的は、検査対象物とその背景との境界、
即ち画像処理範囲を正確かつ迅速に定め、その画像処理
範囲において検査対象物の検査を行うことである。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のプロジェクションの閾値決定装置は、検査
対象物とその背景が写し出された画像のプロジェクショ
ンを作成し、前記検査対象物の濃度と前記背景の濃度を
求める手段と、前記検査対象物と前記背景の濃度差を1
00%とした場合にn%の濃度を閾値とする手段とを備
え、前記検査対象物と前記背景の濃度差は、30階調以
上である。
め、本発明のプロジェクションの閾値決定装置は、検査
対象物とその背景が写し出された画像のプロジェクショ
ンを作成し、前記検査対象物の濃度と前記背景の濃度を
求める手段と、前記検査対象物と前記背景の濃度差を1
00%とした場合にn%の濃度を閾値とする手段とを備
え、前記検査対象物と前記背景の濃度差は、30階調以
上である。
【0007】本発明の検査装置は、検査対象物の全体が
写し出された画像について、前記検査対象物のエッジを
跨ぐ複数の検査範囲を設定する手段と、前記複数の検査
範囲のプロジェクションを作成し、各々の検査範囲のプ
ロジェクションの閾値を求める手段と、各々の検査範囲
に、前記閾値と同じ濃度値を有する少なくとも1つの点
を設定する手段と、前記少なくとも1つの点を通る直線
を引き、前記直線により囲まれた範囲を画像処理範囲と
し、その画像処理範囲において所定の検査を行う手段と
を備えている。
写し出された画像について、前記検査対象物のエッジを
跨ぐ複数の検査範囲を設定する手段と、前記複数の検査
範囲のプロジェクションを作成し、各々の検査範囲のプ
ロジェクションの閾値を求める手段と、各々の検査範囲
に、前記閾値と同じ濃度値を有する少なくとも1つの点
を設定する手段と、前記少なくとも1つの点を通る直線
を引き、前記直線により囲まれた範囲を画像処理範囲と
し、その画像処理範囲において所定の検査を行う手段と
を備えている。
【0008】前記検査対象物は、四角形を有し、前記検
査対象物の各々の辺には、少なくとも2つの検査範囲が
跨っており、同一の辺を跨る少なくとも2つの検査範囲
の各々の点を結ぶ直線を引くことにより画像処理範囲を
確定する。
査対象物の各々の辺には、少なくとも2つの検査範囲が
跨っており、同一の辺を跨る少なくとも2つの検査範囲
の各々の点を結ぶ直線を引くことにより画像処理範囲を
確定する。
【0009】前記検査対象物とその背景の濃度差は、3
0階調以上であり、前記検査対象物と前記背景の濃度差
を100%とした場合に、n%の濃度を前記閾値とす
る。本発明の検査装置は、良品である第1検査対象物の
全体が写し出された画像について、請求項2に記載の検
査装置により求められた画像処理範囲を第1画像処理範
囲とする手段と、第2検査対象物の全体が写し出された
画像について、請求項2に記載の検査装置により求めら
れた画像処理範囲を第2画像処理範囲とする手段と、前
記第1画像処理範囲と前記第2画像処理範囲を比較し、
両者が同じ大きさならば、前記第2検査対象物の前記第
2画像処理範囲において所定の検査を行い、両者が異な
る大きさならば、前記第2検査対象物を不良品とする手
段とを備えている。
0階調以上であり、前記検査対象物と前記背景の濃度差
を100%とした場合に、n%の濃度を前記閾値とす
る。本発明の検査装置は、良品である第1検査対象物の
全体が写し出された画像について、請求項2に記載の検
査装置により求められた画像処理範囲を第1画像処理範
囲とする手段と、第2検査対象物の全体が写し出された
画像について、請求項2に記載の検査装置により求めら
れた画像処理範囲を第2画像処理範囲とする手段と、前
記第1画像処理範囲と前記第2画像処理範囲を比較し、
両者が同じ大きさならば、前記第2検査対象物の前記第
2画像処理範囲において所定の検査を行い、両者が異な
る大きさならば、前記第2検査対象物を不良品とする手
段とを備えている。
【0010】前記検査対象物とその背景の濃度差は、3
0階調以上であり、前記検査対象物と前記背景の濃度差
を100%とした場合に、n%の濃度を前記第1又は第
2閾値とする。
0階調以上であり、前記検査対象物と前記背景の濃度差
を100%とした場合に、n%の濃度を前記第1又は第
2閾値とする。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、本発
明のプロジェクションの閾値決定装置及び検査装置つい
て詳細に説明する。図1乃至図3は、本発明の実施の形
態に関わるプロジェクションの閾値決定装置及び検査装
置を示すものである。なお、図1は、本発明の閾値決定
装置及び検査装置の外観を示す図であり、図2及び図3
は、それぞれ図1の画像処理装置の動作を示すフロ−チ
ャ−トである。
明のプロジェクションの閾値決定装置及び検査装置つい
て詳細に説明する。図1乃至図3は、本発明の実施の形
態に関わるプロジェクションの閾値決定装置及び検査装
置を示すものである。なお、図1は、本発明の閾値決定
装置及び検査装置の外観を示す図であり、図2及び図3
は、それぞれ図1の画像処理装置の動作を示すフロ−チ
ャ−トである。
【0012】本発明の閾値決定装置及び検査装置は、カ
メラ11と、このカメラ11により写し出される画像を
取り込んで所定の処理を行うための画像処理装置12と
から構成されている。カメラ11は、CCDカメラ、ビ
デオカメラ、デジタルカメラなどから構成することがで
きる。なお、13は、検査対象物となるICパッケ−ジ
を示している。
メラ11と、このカメラ11により写し出される画像を
取り込んで所定の処理を行うための画像処理装置12と
から構成されている。カメラ11は、CCDカメラ、ビ
デオカメラ、デジタルカメラなどから構成することがで
きる。なお、13は、検査対象物となるICパッケ−ジ
を示している。
【0013】次に、本発明の閾値決定装置及び検査装置
の動作を図2及び図3のフロ−チャ−トを参照しながら
説明する。なお、以下では、ICのモ−ルド面とその背
景との境界を決定し、ICのモ−ルド面を画像処理範囲
として、所定の検査を行う場合を例として説明する。
の動作を図2及び図3のフロ−チャ−トを参照しながら
説明する。なお、以下では、ICのモ−ルド面とその背
景との境界を決定し、ICのモ−ルド面を画像処理範囲
として、所定の検査を行う場合を例として説明する。
【0014】まず、正常なIC(良品)を所定の位置に
配置し、カメラによりICの全体の画像を画像処理装置
内に取り込む。ここで、画像は、図4に示すように、例
えば1画素が256階調(8ビット)で表され、Px×
Py画素の大きさを有するものと仮定する。また、IC
のモ−ルド面の濃度が高く(暗)、背景の濃度が低く
(明)なるように設定する。
配置し、カメラによりICの全体の画像を画像処理装置
内に取り込む。ここで、画像は、図4に示すように、例
えば1画素が256階調(8ビット)で表され、Px×
Py画素の大きさを有するものと仮定する。また、IC
のモ−ルド面の濃度が高く(暗)、背景の濃度が低く
(明)なるように設定する。
【0015】また、図4に示すように、Px×Py画素
の大きさを有する画像のなかからICのモ−ルド面を表
す範囲の4つの辺(境界)のうちの所定の1つの辺を跨
ぐような複数(例えば8つ)の検査範囲1〜8を設定す
る。
の大きさを有する画像のなかからICのモ−ルド面を表
す範囲の4つの辺(境界)のうちの所定の1つの辺を跨
ぐような複数(例えば8つ)の検査範囲1〜8を設定す
る。
【0016】ここで、ICのモ−ルド面を表す範囲の各
辺に少なくとも2つの検査範囲が跨るようにするのがよ
い(ステップST1,ST11)。次に、図5及び図6
に示すように、各検査範囲k(1〜8)内において、辺
(境界)に垂直な方向(X方向又はY方向)のプロジェ
クションを作成する(ステップST1,ST12)。そ
して、各プロジェクションの形状に基づいて、各プロジ
ェクションの閾値を求める(ステップST1,ST1
3)。
辺に少なくとも2つの検査範囲が跨るようにするのがよ
い(ステップST1,ST11)。次に、図5及び図6
に示すように、各検査範囲k(1〜8)内において、辺
(境界)に垂直な方向(X方向又はY方向)のプロジェ
クションを作成する(ステップST1,ST12)。そ
して、各プロジェクションの形状に基づいて、各プロジ
ェクションの閾値を求める(ステップST1,ST1
3)。
【0017】プロジェクションの閾値の決定方法には、
微分を用いる方法(プロジェクションの傾きが最大の箇
所を閾値とする方法)や、モ−ルド面の濃度と背景の濃
度に基づいて所定濃度を閾値とする方法などを用いるこ
とができる。
微分を用いる方法(プロジェクションの傾きが最大の箇
所を閾値とする方法)や、モ−ルド面の濃度と背景の濃
度に基づいて所定濃度を閾値とする方法などを用いるこ
とができる。
【0018】以下では、モ−ルド面の濃度と背景の濃度
に基づいて閾値を決定する方法について説明する。この
方法は、図6に示すように、モ−ルド面の濃度(最も高
い(暗い)濃度)と、背景又はリ−ドの濃度(最も低い
(明るい)濃度)との濃度差を100%とし、n%の濃
度を閾値とするものである。
に基づいて閾値を決定する方法について説明する。この
方法は、図6に示すように、モ−ルド面の濃度(最も高
い(暗い)濃度)と、背景又はリ−ドの濃度(最も低い
(明るい)濃度)との濃度差を100%とし、n%の濃
度を閾値とするものである。
【0019】即ち、閾値Nthは、式(1)により決定
することができる。 Nth = (A−B) × (H÷100) …(1) (但し、Aは、モ−ルド面の濃度(最も高い濃度)であ
り、Bは、背景(又はリ−ド)の濃度(最も低い濃度)
であり、Hは、補正率である。)なお、Hの値は、経験
則などから任意に決定される。また、モ−ルド面の濃度
とその背景の濃度の差(A−B)は、正確な閾値を求め
るために、30階調(HEX)以上あることが望まし
い。
することができる。 Nth = (A−B) × (H÷100) …(1) (但し、Aは、モ−ルド面の濃度(最も高い濃度)であ
り、Bは、背景(又はリ−ド)の濃度(最も低い濃度)
であり、Hは、補正率である。)なお、Hの値は、経験
則などから任意に決定される。また、モ−ルド面の濃度
とその背景の濃度の差(A−B)は、正確な閾値を求め
るために、30階調(HEX)以上あることが望まし
い。
【0020】その結果、図7に示すように、全ての検査
範囲k(1〜8)のプロジェクションの閾値が求められ
る。そこで、各々の検査範囲の中央部において、閾値を
有する点(画素)Pk(x,y)の座標を求める。但
し、座標の原点は、画像20の4つの角のうちの1つ
(例えばO点)とする。また、kは、1〜8であり、各
々の検査範囲においては、1つの点を求めれば足りる。
範囲k(1〜8)のプロジェクションの閾値が求められ
る。そこで、各々の検査範囲の中央部において、閾値を
有する点(画素)Pk(x,y)の座標を求める。但
し、座標の原点は、画像20の4つの角のうちの1つ
(例えばO点)とする。また、kは、1〜8であり、各
々の検査範囲においては、1つの点を求めれば足りる。
【0021】そして、同一の辺に跨る2つの検査範囲の
それぞれの点を互いに直線で結ぶと、それぞれの直線の
交点PA〜PDが求まり、画像処理範囲S1が確定す
る。この画像処理範囲S1は、後に行われるIC(製
品)のモ−ルド面の検査の基準となるものであるため、
画像処理装置内に登録される(ステップST2)。
それぞれの点を互いに直線で結ぶと、それぞれの直線の
交点PA〜PDが求まり、画像処理範囲S1が確定す
る。この画像処理範囲S1は、後に行われるIC(製
品)のモ−ルド面の検査の基準となるものであるため、
画像処理装置内に登録される(ステップST2)。
【0022】上述のように、ICのモ−ルド面を表す範
囲の各辺に少なくとも2つの検査範囲が跨るようにして
いれば、より正確な画像処理範囲S1が確定される。次
に、検査の対象となるICを所定の位置に配置し、カメ
ラによりそのICの全体の画像を画像処理装置内に取り
込む。ここで、検査の対象となるICの形状は、画像処
理範囲S1を求めた基準となるICの形状と一致してい
るものと仮定する。
囲の各辺に少なくとも2つの検査範囲が跨るようにして
いれば、より正確な画像処理範囲S1が確定される。次
に、検査の対象となるICを所定の位置に配置し、カメ
ラによりそのICの全体の画像を画像処理装置内に取り
込む。ここで、検査の対象となるICの形状は、画像処
理範囲S1を求めた基準となるICの形状と一致してい
るものと仮定する。
【0023】また、図4に示すように、ICのモ−ルド
面を表す範囲の4つの辺(境界)のうちの所定の1つの
辺を跨ぐような複数(例えば8つ)の検査範囲1〜8を
設定する。なお、ICのモ−ルド面を表す範囲の各辺に
は、少なくとも2つの検査範囲が跨るようにするのがよ
い(ステップST3,ST11)。
面を表す範囲の4つの辺(境界)のうちの所定の1つの
辺を跨ぐような複数(例えば8つ)の検査範囲1〜8を
設定する。なお、ICのモ−ルド面を表す範囲の各辺に
は、少なくとも2つの検査範囲が跨るようにするのがよ
い(ステップST3,ST11)。
【0024】次に、図5及び図6に示すように、各検査
範囲k(1〜8)内において、辺(境界)に垂直な方向
(X方向又はY方向)のプロジェクションを作成する
(ステップST3,ST12)。そして、各プロジェク
ションの形状に基づいて、各プロジェクションの閾値を
求める(ステップST3,ST13)。
範囲k(1〜8)内において、辺(境界)に垂直な方向
(X方向又はY方向)のプロジェクションを作成する
(ステップST3,ST12)。そして、各プロジェク
ションの形状に基づいて、各プロジェクションの閾値を
求める(ステップST3,ST13)。
【0025】プロジェクションの閾値の決定方法として
は、微分を用いる方法(プロジェクションの傾きが最大
の箇所を閾値とする方法)や、モ−ルド面の濃度と背景
の濃度に基づいて所定濃度を閾値とする方法などが用い
られる。
は、微分を用いる方法(プロジェクションの傾きが最大
の箇所を閾値とする方法)や、モ−ルド面の濃度と背景
の濃度に基づいて所定濃度を閾値とする方法などが用い
られる。
【0026】例えば、モ−ルド面の濃度と背景の濃度に
基づいて閾値を決定する方法では、図6に示すように、
モ−ルド面の濃度(最も高い(暗い)濃度)と、背景又
はリ−ドの濃度(最も低い(明るい)濃度)との濃度差
を100%とし、n%の濃度を閾値とする。
基づいて閾値を決定する方法では、図6に示すように、
モ−ルド面の濃度(最も高い(暗い)濃度)と、背景又
はリ−ドの濃度(最も低い(明るい)濃度)との濃度差
を100%とし、n%の濃度を閾値とする。
【0027】即ち、閾値Nthは、上記の式(1)によ
り決定することができる。その結果、図7に示すよう
に、全ての検査範囲k(1〜8)のプロジェクションの
閾値が求められる。
り決定することができる。その結果、図7に示すよう
に、全ての検査範囲k(1〜8)のプロジェクションの
閾値が求められる。
【0028】そこで、各々の検査範囲の中央部におい
て、閾値を有する点(画素)Pk(x,y)の座標を求
める。但し、座標の原点は、画像20の4つの角のうち
の1つ(例えばO点)とする。また、kは、1〜8であ
り、各々の検査範囲においては、1つの点を求めれば足
りる。
て、閾値を有する点(画素)Pk(x,y)の座標を求
める。但し、座標の原点は、画像20の4つの角のうち
の1つ(例えばO点)とする。また、kは、1〜8であ
り、各々の検査範囲においては、1つの点を求めれば足
りる。
【0029】そして、同一の辺に跨る2つの検査範囲の
それぞれの点を互いに直線で結ぶと、それぞれの直線の
交点PA〜PDが求まり、画像処理範囲S2が確定する
(ステップST4)。
それぞれの点を互いに直線で結ぶと、それぞれの直線の
交点PA〜PDが求まり、画像処理範囲S2が確定する
(ステップST4)。
【0030】次に、画像処理範囲S1とS2が等しいか
否かを検査する。画像処理範囲S1とS2が等しい場合
には、画像処理範囲(モ−ルド面)S2において欠陥や
汚れなどがあるか否かを検査する(ステップST6)。
画像処理範囲S2に欠陥や汚れなどがない場合には、そ
のIC(製品)は良品と判断され、次のICの処理に移
る。また、画像処理範囲S2に欠陥や汚れなどがある場
合には、そのIC(製品)は不良品と判断され、次のI
Cの処理に移る(ステップST7)。
否かを検査する。画像処理範囲S1とS2が等しい場合
には、画像処理範囲(モ−ルド面)S2において欠陥や
汚れなどがあるか否かを検査する(ステップST6)。
画像処理範囲S2に欠陥や汚れなどがない場合には、そ
のIC(製品)は良品と判断され、次のICの処理に移
る。また、画像処理範囲S2に欠陥や汚れなどがある場
合には、そのIC(製品)は不良品と判断され、次のI
Cの処理に移る(ステップST7)。
【0031】画像処理範囲S1とS2が等しくない場合
について説明する。このような状態は、図8に示すよう
に、ICのモ−ルド面のエッジに欠け24が存在してい
るような場合に発生する。この場合、検査範囲1,2の
プロジェクションは、図9に示すように、モ−ルド面と
その背景の境界部分が曖昧になる。
について説明する。このような状態は、図8に示すよう
に、ICのモ−ルド面のエッジに欠け24が存在してい
るような場合に発生する。この場合、検査範囲1,2の
プロジェクションは、図9に示すように、モ−ルド面と
その背景の境界部分が曖昧になる。
【0032】従って、図10に示すように、画像処理に
より求めたモ−ルド面とその背景の境界S2が、実際の
モ−ルド面とその背景の境界よりも大幅に内側に入り込
んでしまう。
より求めたモ−ルド面とその背景の境界S2が、実際の
モ−ルド面とその背景の境界よりも大幅に内側に入り込
んでしまう。
【0033】従って、画像処理範囲S2は、モ−ルド面
の範囲と大きくずれてしまい、画像処理範囲S1と一致
しなくなる。画像処理範囲S1とS2が等しくない場合
には、そのIC(製品)は不良品と判断され、次のIC
の処理に移る。
の範囲と大きくずれてしまい、画像処理範囲S1と一致
しなくなる。画像処理範囲S1とS2が等しくない場合
には、そのIC(製品)は不良品と判断され、次のIC
の処理に移る。
【0034】このように、本発明では、検査対象物であ
るICのモ−ルド面の各辺に跨るように検査範囲を設
け、その検査範囲のプロジェクションを作成し、かつ、
閾値を求めて、ICのモ−ルド面とその背景との境界、
即ち画像処理範囲を決定している。
るICのモ−ルド面の各辺に跨るように検査範囲を設
け、その検査範囲のプロジェクションを作成し、かつ、
閾値を求めて、ICのモ−ルド面とその背景との境界、
即ち画像処理範囲を決定している。
【0035】従って、目視により画像処理範囲を確定す
る場合に比べて、正確かつ迅速に、検査対象物(ICの
モ−ルド面)とその背景との境界、即ち画像処理範囲を
決定することができる。
る場合に比べて、正確かつ迅速に、検査対象物(ICの
モ−ルド面)とその背景との境界、即ち画像処理範囲を
決定することができる。
【0036】また、本発明では、良品の画像処理範囲S
1を求めた後に、検査の対象となる製品の画像処理範囲
S2を求め、両者を比較することにより、良品と不良品
の区別を行っている。
1を求めた後に、検査の対象となる製品の画像処理範囲
S2を求め、両者を比較することにより、良品と不良品
の区別を行っている。
【0037】即ち、製品の検査(特に、エッジに欠けが
存在するか否かの検査)を、ICのモ−ルド面内の検査
に必要な画像処理範囲を求める際に同時に行うことが可
能であり、検査の容易化を達成することができる。
存在するか否かの検査)を、ICのモ−ルド面内の検査
に必要な画像処理範囲を求める際に同時に行うことが可
能であり、検査の容易化を達成することができる。
【0038】なお、本発明は、検査対象物(ICに限ら
れない)とその背景との境界など、プロジェクションの
閾値を決定する場合に広く適用することができる。例え
ば、ICのリ−ドと背景の境界や、ICのリ−ドとモ−
ルド面の境界などを定めることもできる。また、ICの
モ−ルド面のエッジの欠けのみならず、広く、検査対象
物のエッジの欠けなどの検査に適用することができる。
れない)とその背景との境界など、プロジェクションの
閾値を決定する場合に広く適用することができる。例え
ば、ICのリ−ドと背景の境界や、ICのリ−ドとモ−
ルド面の境界などを定めることもできる。また、ICの
モ−ルド面のエッジの欠けのみならず、広く、検査対象
物のエッジの欠けなどの検査に適用することができる。
【0039】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明のプロジ
ェクションの閾値決定装置及び検査装置によれば、次の
ような効果を奏する。検査対象物の各辺に跨るように検
査範囲を設け、その検査範囲のプロジェクションを作成
し、かつ、閾値を求めて、ICのモ−ルド面とその背景
との境界、即ち画像処理範囲を決定している。従って、
目視により画像処理範囲を確定する場合に比べて、正確
かつ迅速に、検査対象物とその背景との境界、即ち画像
処理範囲を決定することができる。
ェクションの閾値決定装置及び検査装置によれば、次の
ような効果を奏する。検査対象物の各辺に跨るように検
査範囲を設け、その検査範囲のプロジェクションを作成
し、かつ、閾値を求めて、ICのモ−ルド面とその背景
との境界、即ち画像処理範囲を決定している。従って、
目視により画像処理範囲を確定する場合に比べて、正確
かつ迅速に、検査対象物とその背景との境界、即ち画像
処理範囲を決定することができる。
【0040】また、良品の画像処理範囲S1を求めた後
に、検査の対象となる製品の画像処理範囲S2を求め、
両者を比較することにより、良品と不良品の区別を行っ
ている。即ち、製品の検査のうち所定のもの(特に、エ
ッジに欠けが存在するか否かの検査)を、画像処理範囲
を求める際に同時に行うことが可能であり、検査の容易
化を達成することができる。
に、検査の対象となる製品の画像処理範囲S2を求め、
両者を比較することにより、良品と不良品の区別を行っ
ている。即ち、製品の検査のうち所定のもの(特に、エ
ッジに欠けが存在するか否かの検査)を、画像処理範囲
を求める際に同時に行うことが可能であり、検査の容易
化を達成することができる。
【図1】本発明の実施の形態に関わる閾値決定装置及び
検査装置の概略を示す図。
検査装置の概略を示す図。
【図2】図1の画像処理装置の動作を示すフロ−チャ−
ト。
ト。
【図3】図1の画像処理装置の動作を示すフロ−チャ−
ト。
ト。
【図4】画像処理装置内に取り入れた画像を示す図。
【図5】図4の画像の検査範囲を拡大して示す図。
【図6】図5の検査範囲内のプロジェクションを示す
図。
図。
【図7】予め登録される画像処理範囲S1を示す図。
【図8】画像処理装置内に取り入れた画像を示す図。
【図9】図8の画像の検査範囲1,2内のプロジェクシ
ョンを示す図。
ョンを示す図。
【図10】検査されるICの画像処理範囲S2を示す
図。
図。
【図11】従来の画像処理範囲とモ−ルド面の範囲との
関係を示す図。
関係を示す図。
【図12】図11のICを側面から見た場合を示す図。
11 :カメラ、 12 :画像処理装置、 13 :IC、 20 :画像、 21 :モ−ルド面、 22 :背景 23 :リ−ド、 24 :モ−ルドの欠け。
Claims (6)
- 【請求項1】 検査対象物とその背景が写し出された画
像のプロジェクションを作成し、前記検査対象物の濃度
と前記背景の濃度を求める手段と、 前記検査対象物と前記背景の濃度差を100%とした場
合にn%の濃度を閾値とする手段とを具備し、 前記検査対象物と前記背景の濃度差は、30階調以上で
あることを特徴とするプロジェクションの閾値決定装
置。 - 【請求項2】 検査対象物の全体が写し出された画像に
ついて、前記検査対象物のエッジを跨ぐ複数の検査範囲
を設定する手段と、 前記複数の検査範囲のプロジェクションを作成し、各々
の検査範囲のプロジェクションの閾値を求める手段と、 各々の検査範囲に、前記閾値と同じ濃度値を有する少な
くとも1つの点を設定する手段と、 前記少なくとも1つの点を通る直線を引き、当該直線に
より囲まれた範囲を画像処理範囲とし、その画像処理範
囲において所定の検査を行う手段とを具備することを特
徴とする検査装置。 - 【請求項3】 前記検査対象物は、四角形を有し、前記
検査対象物の各々の辺には、少なくとも2つの検査範囲
が跨っており、同一の辺を跨る少なくとも2つの検査範
囲の各々の点を結ぶ直線を引くことにより画像処理範囲
を確定することを特徴とする請求項2に記載の検査装
置。 - 【請求項4】 請求項2に記載の検査装置において、 前記検査対象物とその背景の濃度差は、30階調以上で
あり、前記検査対象物と前記背景の濃度差を100%と
した場合に、n%の濃度を前記閾値とすることを特徴と
する検査装置。 - 【請求項5】 良品である第1検査対象物の全体が写し
出された画像について、請求項2に記載の検査装置によ
り求められた画像処理範囲を第1画像処理範囲とする手
段と、 第2検査対象物の全体が写し出された画像について、請
求項2に記載の検査装置により求められた画像処理範囲
を第2画像処理範囲とする手段と、 前記第1画像処理範囲と前記第2画像処理範囲を比較
し、両者が同じ大きさならば、前記第2検査対象物の前
記第2画像処理範囲において所定の検査を行い、両者が
異なる大きさならば、前記第2検査対象物を不良品とす
る手段と を具備することを特徴とする検査装置。 - 【請求項6】 請求項4に記載の検査装置において、 前記検査対象物とその背景の濃度差は、30階調以上で
あり、前記検査対象物と前記背景の濃度差を100%と
した場合に、n%の濃度を前記第1又は第2閾値とする
ことを特徴とする検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7305867A JPH09147111A (ja) | 1995-11-24 | 1995-11-24 | プロジェクションの閾値決定装置及び検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7305867A JPH09147111A (ja) | 1995-11-24 | 1995-11-24 | プロジェクションの閾値決定装置及び検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09147111A true JPH09147111A (ja) | 1997-06-06 |
Family
ID=17950316
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7305867A Pending JPH09147111A (ja) | 1995-11-24 | 1995-11-24 | プロジェクションの閾値決定装置及び検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09147111A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010164333A (ja) * | 2009-01-13 | 2010-07-29 | Toshiba Corp | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 |
-
1995
- 1995-11-24 JP JP7305867A patent/JPH09147111A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010164333A (ja) * | 2009-01-13 | 2010-07-29 | Toshiba Corp | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 |
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