JPH09162154A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JPH09162154A
JPH09162154A JP32004295A JP32004295A JPH09162154A JP H09162154 A JPH09162154 A JP H09162154A JP 32004295 A JP32004295 A JP 32004295A JP 32004295 A JP32004295 A JP 32004295A JP H09162154 A JPH09162154 A JP H09162154A
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JP
Japan
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solvent
vapor
container
cleaning
wafer
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JP32004295A
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English (en)
Inventor
Takamasa Sakai
高正 坂井
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 洗浄用溶媒の沸騰、蒸発及び凝集の相変換の
循環効率を高め、蒸気洗浄乾燥性能を向上する。 【解決手段】 容器2はその上面に加熱ヒータ6を備え
た蓋体3が開閉可能に設けられるとともにその底面22
下部及び側面21のの外周部にそれぞれ加熱ヒータ4,
5が設けられ、その内側面上部に冷却パイプ81と減圧
ポートP2とが設けられている。減圧ポートP2には減
圧部9が接続され、密閉容器2内に収納された溶媒Qが
減圧下で加熱ヒータ4で加熱されて沸騰される一方、冷
却パイプ81で冷却され、溶媒の蒸気が洗浄乾燥室内で
対流するようになっている。容器側面21及び蓋体3は
加熱ヒータ5,6で加熱され、蒸気の側面21及び天井
面31での凝集が防止されるので蒸気の対流が好適に行
われる。蒸気の対流中に曝されたウエハ15は溶媒がウ
エハ表面に凝集し、その液滴で洗浄されるとともに凝集
時に発生した潜熱で乾燥される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、溶媒の蒸気を用い
て半導体ウエハ等の基板の洗浄及び乾燥を行う基板処理
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図6は、従来の蒸気乾燥装置の構成を示
す概略図である。同図に示す蒸気乾燥装置100は、乾
燥室を構成する容器101、この容器101内に収納さ
れる、例えばトリクレン、イソプロピールアルコール
(IPA)等の液体の有機溶媒102、この有機溶媒1
02を気化させるための加熱ヒータ103及び有機溶媒
102の蒸気を液化する冷却パイプ104を備えてい
る。冷却パイプ104は容器101の内側面上部に配設
され、上昇した有機溶媒102の蒸気を冷却して霧状に
液化し、下降させるものである。
【0003】蒸気乾燥装置100では容器101内の略
中央にウエハ105が縦向け(ウエハ周縁が略垂直面内
となる方向)に配置され、加熱ヒータ103により常圧
下で有機溶媒102を沸点以上に加熱して洗浄及び乾燥
が行われる。
【0004】すなわち、液体の有機溶媒102を沸騰さ
せて蒸気に変換し、その蒸気が上昇すると、一部がウエ
ハ105の表面に凝集する。凝集した有機溶媒102の
液滴はウエハ105の表面に沿って流れ、これによりウ
エハ105の表面の洗浄が行われる。また、有機溶媒1
02の凝集による潜熱がウエハ105に付与され、これ
によりウエハ105が加熱されて乾燥が行われる。な
お、ウエハ105の表面を流下した有機溶媒104の液
滴は容器101の底部に落下し、液体の有機溶媒102
に還元される。
【0005】一方、ウエハ105の表面で凝集しなかっ
た有機溶媒102の蒸気は、ウエハ105より上方に上
昇し、冷却パイプ104により冷却されて霧状の液体と
なり、その一部は下降気流となって下降する一方、残り
は容器101の内側面に凝集し、この内側面を流下して
容器底部の有機溶媒102に戻される。
【0006】上記のように、容器101内には有機溶媒
102の蒸気の対流と加熱により補充された有機溶媒1
02の蒸気の上昇気流とが生じ、この蒸気中にウエハ1
05を曝してウエハ105の表面に凝集された有機溶媒
102の液滴の流下と潜熱による加熱とによりウエハ1
05の洗浄と乾燥とが同時に行われる。
【0007】また、特開昭63−10528号公報に
は、蒸気乾燥方法において、減圧下で有機溶媒を低温沸
騰により蒸気化させる方法が示されている。この乾燥方
法は、低温沸騰により有機溶媒を蒸気化することで必要
以上の蒸気発生を抑制し、有機溶媒の爆発等の危険性を
低減するようにしたものである。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の蒸気乾燥装
置は、溶媒102を加熱沸騰させ、溶媒102の蒸発及
び凝集の相変換の循環中にウエハ105を曝すことによ
り洗浄、乾燥を促進するものであるが、常圧下で有機溶
媒102の蒸気化を行っているので、溶媒102の相変
換の循環効率を考慮すると、実質的にトリクレン等の比
較的低沸点を有する有機溶媒しか利用されていない。
【0009】しかし、上記有機溶媒は引火性が強く、危
険性が非常に高いので、好ましくは危険性の少ない純水
を用いる方がよい。従来装置においても溶媒として純水
を利用することは可能であるが、純水は沸点が高く、加
熱エネルギーが大きい割には相変換の循環を効率よく行
うことが困難で、従来の蒸気乾燥装置には適用し難かっ
た。
【0010】一方、特開昭63−10528号公報の乾
燥方法は水滴の付着しているウエハ表面に有機物の膜を
形成して水滴除去の容易化を図るもので、溶媒の蒸発及
び凝集の相変換を利用してウエハの洗浄と乾燥とを同時
に行うものではない。このため、同公報には低圧沸騰に
より有機溶媒を蒸気化することは示されているが、単に
有機溶媒を低圧沸騰させるだけでは溶媒の蒸発及び凝集
の相変換の循環を効率よく行わせることは困難で、同公
報の乾燥方法によりウエハの洗浄と乾燥とを同時に行う
ことは極めて困難である。
【0011】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であり、溶媒の相変換の循環効率を高め、基板の洗浄及
び乾燥を効果的に行うことのできる基板処理装置を提供
するものである。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、溶媒の蒸気を
基板表面に凝集させ、その溶媒の液滴の流下により上記
基板を洗浄するとともに、凝集による潜熱により上記基
板の乾燥を行う基板処理装置であって、液体の上記溶媒
と上記基板とが収納される密閉容器と、上記密閉容器内
の圧力を減圧する減圧手段と、液体の上記容媒を加熱
し、上記溶媒を蒸発させる第1の加熱手段と、上記密閉
容器の側面部の上記基板の収納位置より上方位置に設け
られ、上記溶媒の蒸気を冷却する冷却手段と備えたもの
である(請求項1)。
【0013】上記構成によれば、容媒と基板とが収納さ
れている密閉容器を減圧手段で所定の減圧状態にしつ
つ、液体の容媒を第1の加熱手段で加熱することにより
基板の洗浄及び加熱が行われる。液体の容媒が加熱さ
れ、溶媒の温度が減圧下での沸点に上昇すると、溶媒が
蒸発し、その蒸気が上昇する。溶媒の蒸気の一部は基板
表面に接触し、この基板に冷却されて凝集する。凝集し
た溶媒の液滴は基板表面を流下して容器底面部に落下す
るが、この溶媒の液滴の流下により基板表面が洗浄され
る。また、基板は溶媒の蒸気が凝集による潜熱により加
熱され、これにより基板の乾燥が行われる。
【0014】一方、基板の洗浄及び乾燥に利用されなか
った溶媒の蒸気は、基板の収納位置より上方に上昇する
が、冷却手段により冷却されて霧状の液体となるので、
その冷却位置から下降し、容器底面部の液状の溶媒に還
元される。そして、上述した溶媒の蒸発及び凝集の相変
換の循環により基板が減圧下での溶媒の沸点まで上昇す
ると、液化された溶媒の基板表面での凝集が停止し、洗
浄及び乾燥処理は終了する。
【0015】また、本発明は、上記基板処理装置におい
て、上記密閉容器の天井面を傾斜させたものである(請
求項2)。
【0016】上記構成により、密閉容器の天井面に達し
た溶媒の蒸気は、その天井面で結露し、その液滴は自重
により落下若しくは天井面に沿って流下するが、密閉容
器の天井面は傾斜しているので、天井面で結露した溶媒
の液滴は天井面に沿って流下し、液滴の基板への落下が
阻止される。
【0017】また、本発明は、上記基板処理装置におい
て、上記密閉容器の側面略中央部を加熱する第2の加熱
手段を備えたものである(請求項3)。上記構成によれ
ば、第2の加熱手段により容器側面部を減圧下での溶媒
の沸点以上に加熱することにより、霧状の液体となった
溶媒の容器の側面略中央部への付着及びこの容器側面部
からの容器底面部への還元が抑制され、容器内で溶媒の
蒸気が効率よく対流する。
【0018】また、本発明は、上記基板処理装置におい
て、上記密閉容器の天井部を加熱する第3の加熱手段を
備えたものである(請求項4)。上記構成によれば、第
3の加熱手段により容器天井部を減圧下での溶媒の沸点
以上に加熱することにより天井部まで上昇した溶媒の蒸
気の天井面での凝集が防止される。
【0019】また、本発明は、上記溶媒を純水としたも
のである(請求項5)。溶媒を純水にすることにより引
火性がなくなり、危険性が低減される。
【0020】
【発明の実施の形態】図1は、本発明に係る基板処理装
置の概略図である。同図に示す基板処理装置1は、上面
に半球状の蓋体3が開閉可能に設けられた円筒状の容器
2、加熱ヒータ4,5,6、電源部7、冷却部8、減圧
部9、パージ部10、コンデンサ11及び制御部12を
備えるバッチ式の蒸気洗浄乾燥装置である。
【0021】本基板処理装置1は純水を溶媒として利用
する際に最も好適な蒸気洗浄乾燥が行えるように低圧沸
騰により溶媒を蒸気化するようにしている。これにより
純水を過剰に蒸気化させることなく沸騰、蒸発、凝集の
循環を好適に行わせることが可能で、後述するように安
全かつ高効率で基板の蒸気洗浄乾燥を行うことが可能に
なっている。なお、安全性、洗浄効率等の観点から溶媒
として純水を利用することが好ましいが、IPA等の有
機溶媒を使用することも可能である。
【0022】容器2及び蓋体3は洗浄乾燥室を構成する
もので、石英からなり、容器2と蓋体3との接合面には
密閉された洗浄乾燥室を構成し得るようにOリング等の
シール機構が設けられている。また、容器2は側面21
の下部適所に洗浄用の液体のの溶媒Qを供給する供給ポ
ートP1が設けられ、側面21の上部適所に洗浄乾燥室
内の排気を行う排気ポートP2が設けられ、底面22の
略中央に洗浄乾燥処理後の溶媒Qを排出する排出ポート
P3が設けられている。また、洗浄乾燥室内の適所に室
内圧力を検出する圧力センサ13が設けられている。
【0023】一方、蓋体3は外側に湾曲した半球状をな
し、天井面31の略中央に洗浄乾燥室内の圧力を調節す
るためのパージポートP4が設けられ、このパージポー
トP4にパージ部10が接続されている。各ポートP1
〜P4の基端部にはそれぞれポートの開閉を行うバルブ
B1,B2,B3,B4が設けられている。なお、蓋体
3を湾曲させているのは天井面31に凝集した溶媒Qの
液滴の落下を防止するためのもので、略中央から外周方
向に適宜の角度を傾斜を設けるようにしてもよい。
【0024】加熱ヒータ4は容器2に投入された溶媒Q
を加熱沸騰させるための熱源で、容器2の底面22の下
部に配設されている。また、加熱ヒータ5は洗浄乾燥室
の側面21を加熱するための熱源で、容器2の側面21
の外周部に配設され、加熱ヒータ6は洗浄乾燥室の天井
部を加熱する熱源で、蓋体3の天井面31の外周部に配
設されている。
【0025】加熱ヒータ4〜6は電源部7に接続され、
この電源部7から電源供給される。なお、電源部7の通
電制御は制御部12により行われる。
【0026】冷却部8は冷却管81とこの冷却管81に
水又はフロン等の有機溶剤からなる冷媒を循環させる冷
媒循環器82とからなり、冷却管81は容器2の側面上
部の内周面に沿って配設されている。
【0027】冷却管81は、加熱ヒータ4により加熱沸
騰されて蒸気化した溶媒Qの上昇を阻止し、下降気流を
生成するために容器2の上部に設けられている。溶媒Q
の蒸気が容器2の上方位置に上昇すると、冷却管81に
より冷却されて液体微粒子(霧)Q′に凝集され、この
霧状の溶媒Q′は自重により下降する。
【0028】減圧部9はロータリーポンプ等の真空ポン
プを有し、この真空ポンプで排気ポートP2から洗浄乾
燥室内の空気を吸引して洗浄乾燥室内の圧力を所定値に
減圧するものである。減圧部9は、コンデンサ11を介
して排気ポートP2に接続されている。コンデンサ11
は、排気中の水分を分離するもので、分離された水は底
面に設けられたドレイン111を介して排出されるよう
になっている。
【0029】一方、パージ部10はヘリウム等の不活性
ガスを供給するガス供給部を有し、パージポートP4か
ら減圧された洗浄乾燥室内に不活性ガスを供給して室内
の圧力を常圧にまで上昇させるものである。
【0030】容器2内の略中央位置には被洗浄乾燥物で
あるウエハ15を収納するウエハ収納部14が設けられ
ている。ウエハ収納部14は、例えば図2に示すよう
に、長方形の保持枠141の両長辺に複数対の保持溝1
42,142′が所定間隔で穿設されたもので、ウエハ
15の周縁を各保持溝対142,142′に嵌入させる
ことにより複数枚のウエハ15が垂直に立直して配列保
持されるようになっている。
【0031】なお、ウエハ15は表裏面が水平面に対し
て傾斜されていれば足り、必ずしも表裏面が鉛直方向に
一致している必要はない。従って、保持溝142,14
2′を保持枠141の長辺の長手方向に対して傾斜さ
せ、ウエハ15の表裏面が鉛直方向に対して傾斜するよ
うにしてもよい。
【0032】制御部12は予め設定された洗浄乾燥プロ
セスに従ってウエハ15の洗浄乾燥を集中制御するもの
である。制御部12はバルブB1〜B4、電源部7、冷
却部8、減圧部9及びパージ部10等の各アクチュエー
タの駆動を制御してウエハ15の洗浄乾燥を行う。
【0033】次に、上記基板処理装置による洗浄乾燥動
作について、図3のフローチャートに従って説明する。
まず、蓋体3を上方に開放し、容器2内のウエハ収納部
14にウエハ15がセットされた後、蓋体3が閉鎖され
る(ステップS1)。続いて、供給ポートP1のバルブ
B1を開いて、図略の溶媒供給装置から所定量の液体の
溶媒Qが容器2内に供給した後、バルブB1が閉じられ
る(スイッチS2)。続いて、排気ポートP2のバルブ
B2を開き、減圧部9の真空ポンプを駆動させて洗浄乾
燥室内の圧力が所定値に減圧される(ステップS3)。
また、電源部7を駆動して加熱ヒータ4,5,6に電源
が供給され、容器2の底面22、側面21及び蓋体3の
天井部が減圧下での溶媒Qの沸点TQ以上に加熱される
(ステップS4)。
【0034】洗浄乾燥室が減圧され、加熱ヒータ5が容
器2の底面22を加熱すると、溶媒Qが気化してその蒸
気が上昇する。容器2の側面21は加熱ヒータ5により
加熱されているので、容器2の底部で気化した溶媒Qは
側面21で凝集することなく上方に上昇し、容器2の上
方位置に達すると、冷却管81により冷却されて霧状の
液体微粒子として容媒Q′が凝集する。この霧状の溶媒
Q′は下降して下降気流となるが、下降中に室内温度で
加熱されて蒸気に変換されるので、容器2の底部に達す
る前に再び上昇し、この蒸気化された溶媒Qと液体化さ
れた溶媒Q′とにより洗浄乾燥室内には溶媒Q,Q′の
対流が発生する。なお、蒸発により液体の溶媒Qから奪
われる気化熱は加熱ヒータ4により補充されるので、室
内温度が減圧下での溶媒Qの沸点TQに上昇するまで液
体溶媒Qの蒸気化はスムーズに行われる。
【0035】そして、溶媒Q,Q′の対流発生プロセス
において、溶媒Qの蒸気の一部はウエハ15の表面で凝
集し、その液滴がウエハ表面を流下してウエハ15の洗
浄が行われる。また、溶媒Qの凝集による潜熱がウエハ
15に付与され、これによりウエハ15が加熱されて同
時に乾燥も行われる(ステップ5)。
【0036】なお、溶媒Qの蒸気の一部は蓋体3の湾曲
した天井面31まで上昇するが、蓋体3は加熱されてい
るので、溶媒Qが蓋体3の天井面31に凝集してその液
滴がウエハ15上に落下することはない。
【0037】続いて、予め設定された所定の洗浄乾燥時
間が経過したか否かが判別され(ステップ6)、洗浄乾
燥時間が経過していれば、洗浄乾燥処理が終了したとし
てステップ7に移行する。なお、上記洗浄乾燥時間は、
潜熱により加熱されたウエハ15の温度が減圧下での溶
媒Qの沸点TQにまで上昇する時間である。ウエハ15
がこの温度に上昇すると、溶媒Qのウエハ15での凝集
が生じなくなるので、この時点でウエハ15の実施的な
洗浄乾燥プロセスは終了する。
【0038】ステップ7に移行すると、パージポートP
2のバルブB4を開き、パージ部10から不活性ガスを
洗浄乾燥室に供給して室内の圧力が常圧に戻される。続
いて、蓋体3が開放され、ウエハ15が取り出され(ス
テップ8)、更に排出ポートP2のバルブB2を開き、
容器2内の溶媒Qを排出して(ステップ9)、洗浄乾燥
処理は完了する。
【0039】なお、上記実施の形態では、容器2の供給
ポートP2と排出ポートP3とを別個に設けていたが、
図4に示すように共通ポートP5とし、排出通路の途中
に供給通路を分岐させるようにしてもよい。このように
供給/排出ポートを共通ポートP5にすれば、例えば洗
浄薬液による洗浄の終了後に共通ポートP5から純水を
供給して容器2内の洗浄薬液を容器2の上面からオーバ
ーフローさせることによりウエハ15を外気に触れされ
ることなく洗浄薬液と純水とによる洗浄を連続して行う
ことができる。従って、本発明に係る洗浄乾燥装置を用
いて従来行われている一連の洗浄工程と乾燥工程とを連
続的に行うことも可能である。
【0040】また、図5に示すように、超音波発振器1
6を容器2の上面に支持可能にすれば、洗浄工程で必要
に応じて行われる超音波洗浄処理も同一の洗浄乾燥装置
で行うことができる。この場合は、オーバーフローの状
態となるように溶媒Qを供給しながらこの液面に超音波
発振器16を接触させて超音波エネルギーを直接、溶媒
Qに供給すれば、必要に応じた超音波洗浄を容易に行う
ことができる。
【0041】
【発明の効果】以上説明したように、溶媒の蒸気を基板
表面に凝集させ、その溶媒の液滴の流下により基板を洗
浄するとともに、凝集による潜熱により基板の乾燥を行
う基板処理装置において、減圧下で溶媒を加熱しつつ、
低温沸騰により蒸気化するようにしたので、比較的高沸
点の溶媒も有効かつ安全に基板の蒸気洗浄乾燥に利用す
ることができる。また、低圧沸騰させているので、蒸気
補充のための加熱エネルギーを低減することができる。
【0042】また、密閉容器の天井面を傾斜させたの
で、天井面で凝集した溶媒の液滴の基板への落下を防止
することができる。
【0043】また、密閉容器の側面略中央部を加熱する
ようにしたので、溶媒の蒸気が容器の内側面に凝集する
ことがなく溶媒の蒸気の対流を効果的に生じさせること
ができる。
【0044】更に、上記密閉容器の天井面を加熱するよ
うにしたので、溶媒の蒸気の密閉容器の天井面での露結
が阻止され、溶媒の液滴の基板への落下が防止される。
また、溶媒として純水を用いているので、安全かつ高精
度な洗浄及び乾燥が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る基板処理装置の概略図である。
【図2】ウエハ収納部の構造を示す斜視図である。
【図3】本発明に係る基板処理装置の洗浄乾燥動作を示
すフローチャートである。
【図4】本発明に係る基板処理装置に適用される洗浄乾
燥容器の第2の実施の形態を示す図である。
【図5】本発明に係る基板処理装置を用いて超音波洗浄
を行う方法を示す図である。
【図6】従来の蒸気乾燥装置の構成を示す概略構成図で
ある。
【符号の説明】
1 基板処理装置 2 容器 21 側面 22 底面 3 蓋体 31 天井面 4,5,6 加熱ヒータ 7 電源部 8 冷却部 81 冷却管 82 冷媒循環器 9 減圧部 10 パージ部 11 コンデンサ 12 制御部 13 圧力センサ 14 ウエハ収納部 141 保持枠 142,142′ 保持溝 15 ウエハ 16 超音波発振器 Q 溶媒

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 溶媒の蒸気を基板表面に凝集させ、その
    溶媒の液滴の流下により上記基板を洗浄するとともに、
    凝集による潜熱の付与により上記基板の乾燥を行う基板
    処理装置であって、液体の上記溶媒と上記基板とが収納
    される密閉容器と、上記密閉容器内の圧力を減圧する減
    圧手段と、液体の上記容媒を加熱し、上記溶媒を蒸発さ
    せる第1の加熱手段と、上記密閉容器の側面部の上記基
    板の収納位置より上方位置に設けられ、上記溶媒の蒸気
    を冷却する冷却手段と、を備えたことを特徴とする基板
    処理装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の基板処理装置であって、
    上記密閉容器の天井面は傾斜していることを特徴とする
    基板処理装置。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2記載の基板処理装置であ
    って、上記密閉容器の側面略中央部を加熱する第2の加
    熱手段を備えたことを特徴とする基板処理装置。
  4. 【請求項4】 請求項1〜3のいずれかに記載の基板処
    理装置であって、上記密閉容器の天井部を加熱する第3
    の加熱手段を備えていることを特徴とする基板処理装
    置。
  5. 【請求項5】 請求項1〜4のいずれかに記載の基板処
    理装置であって、上記溶媒は純水であることを特徴とす
    る基板処理装置。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6328809B1 (en) 1998-10-09 2001-12-11 Scp Global Technologies, Inc. Vapor drying system and method
KR100337153B1 (ko) * 2000-06-09 2002-05-18 이준호 납땜용 솔더볼의 세척장치
JP2008232567A (ja) * 2007-03-22 2008-10-02 Honda Motor Co Ltd 減圧乾燥方法及び減圧乾燥装置
JP2011071213A (ja) * 2009-09-24 2011-04-07 Tokyo Electron Ltd 乾燥室、洗浄・乾燥処理装置、乾燥処理方法、および記録媒体
KR101496552B1 (ko) * 2013-07-24 2015-02-26 주식회사 엘지실트론 웨이퍼 건조 장치
JP2020008188A (ja) * 2018-07-04 2020-01-16 ヤマト科学株式会社 真空乾燥機および真空乾燥方法
CN113948425A (zh) * 2021-09-16 2022-01-18 长江存储科技有限责任公司 干燥装置、刻蚀设备及湿法清洗设备

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6328809B1 (en) 1998-10-09 2001-12-11 Scp Global Technologies, Inc. Vapor drying system and method
KR100337153B1 (ko) * 2000-06-09 2002-05-18 이준호 납땜용 솔더볼의 세척장치
JP2008232567A (ja) * 2007-03-22 2008-10-02 Honda Motor Co Ltd 減圧乾燥方法及び減圧乾燥装置
JP2011071213A (ja) * 2009-09-24 2011-04-07 Tokyo Electron Ltd 乾燥室、洗浄・乾燥処理装置、乾燥処理方法、および記録媒体
KR101496552B1 (ko) * 2013-07-24 2015-02-26 주식회사 엘지실트론 웨이퍼 건조 장치
JP2020008188A (ja) * 2018-07-04 2020-01-16 ヤマト科学株式会社 真空乾燥機および真空乾燥方法
CN113948425A (zh) * 2021-09-16 2022-01-18 长江存储科技有限责任公司 干燥装置、刻蚀设备及湿法清洗设备

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