JPH09172231A - セラミック基板の分割方法 - Google Patents

セラミック基板の分割方法

Info

Publication number
JPH09172231A
JPH09172231A JP33057295A JP33057295A JPH09172231A JP H09172231 A JPH09172231 A JP H09172231A JP 33057295 A JP33057295 A JP 33057295A JP 33057295 A JP33057295 A JP 33057295A JP H09172231 A JPH09172231 A JP H09172231A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ceramic substrate
dividing
dicing
conductor
ground conductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP33057295A
Other languages
English (en)
Inventor
Mamoru Ando
守 安藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP33057295A priority Critical patent/JPH09172231A/ja
Publication of JPH09172231A publication Critical patent/JPH09172231A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0306Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0097Processing two or more printed circuits simultaneously, e.g. made from a common substrate, or temporarily stacked circuit boards

Landscapes

  • Devices For Post-Treatments, Processing, Supply, Discharge, And Other Processes (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 蒸着金属により導体パターンと裏面の接地導
体を形成したセラミック基板の分割に際し、裏面側にバ
リが突出しない分割方法を提供する。 【構成】 ダイシングラインに対応する部分のセラミッ
ク基板12裏面に分離溝11を形成し、分離溝11を覆
うように全面に接地導体14を形成する。表面側からダ
イシングすることによりセラミック基板12を分離して
個々の基板に分離する。ダイシング時に発生する接地導
体14のバリは分離溝11の中に収まる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、特に放熱板上にセ
ラミック基板を搭載する半導体装置用の、セラミック基
板の分割方法に関する。
【0002】
【従来の技術】TV、HDTV、CRT等の偏向回路を
集積化したビデオパック(商品名)なる半導体装置が本
願出願人において商品化されている。半導体素子その他
を固着したセラミック基板を一つのパッケージに収納し
たものであるが、低コスト化の当然の指向として樹脂モ
ールドで製品を供給することがなされている。また、製
造ラインに投入しやすいように他の半導体装置と同様に
リードフレームを用いる手法を例えば特開平6ー258
411号に提案している。
【0003】この様な半導体装置では、セラミック基板
を半田ペーストなどにより放熱板に固着するためおよび
セラミック基板の浮遊容量を減じるために、セラミック
基板の裏面側にも全面に金属導体を形成する必要が生じ
る。そして前記セラミック基板に形成したスルーホール
を通して前記金属導体を接地するものである。前記セラ
ミック基板は、一枚の大きなセラミック基板を複数に分
割することにより形成する。図3(A)を参照して、先
ずセラミック基板1の表面側には回路網を構成するため
の配線パターン2を、金属導体の蒸着とホトマスクを用
いたパターニングで形成し、同じく裏面側には蒸着によ
り接地導体3を形成した一枚の大きな基板1を準備す
る。続いて図3(B)を参照して、セラミック基板1の
表面側からダイシングによりセラミック基板1を個々の
基板に分割するものである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ダイシ
ングブレードによりフルカットするとは言え、裏面に形
成した接地導体がブレードに引きずられて、図3(B)
のバリ4が生じやすく、これが製造工程(セラミック基
板上に能動素子、受動素子を搭載する工程)において平
坦面を滑らせる搬送時のトラブルを発生させるという欠
点があった。
【0005】セラミック基板上の配線導体を蒸着に依ら
ず印刷パターンで形成する場合には、セラミック基板に
V溝を形成してブレイキングに依り分割することも可能
ではあるが、高周波用の微細化パターンを形成するには
印刷パターンは不向きである。またV溝上に金属導体を
蒸着、パターニングするには、ホトレジスト形成時にホ
トレジストがV溝上に盛り上がるような形になり、これ
がホトマスクと接触してしまうために実施が困難であ
る。故にホトマスクを用いたパターニングを用いるため
には、セラミック基板上からのダイシングがセラミック
基板分割の唯一の手法である。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は上記従来の課題
に鑑みなされたもので、セラミック基板のダイシングラ
イン予定部分に分割溝を形成し、その上に接地導体を形
成すると共に、セラミック基板の表面側からダイシング
によってセラミック基板を個々に分割することにより、
前記接地導体のバリが前記分割溝内に収まるようにする
ものである。
【0007】
【発明の実施の形態】以下に本発明の具体的な実施の形
態を図面を参照しながら詳細に説明する。図1は本発明
の製造方法を示す断面図である。先ず図1(A)に示す
ように、裏面側のダイシングラインに相当する部分に深
さ500μ、幅500μ程度のV字型の分離溝11を形
成した、板厚0.5〜0.8mmのセラミック基板12
を準備する。分離溝11の形状はU字型等でもよい。形
成は、焼成前のセラミック素材に鋳型を押しつけて分離
溝11を形成した後に、前記セラミック素材を焼成する
ことで形成することができる。
【0008】次いで図1(B)に示すように、セラミッ
ク基板12の表面に金等の導電材料を全面に蒸着した
後、その上にホトレジスト膜を形成し、ホトマスクを用
いて露光、現像してレジスト膜を形成し、該レジスト膜
をマスクにして前記導電材料のエッチングを行うことに
より回路網構成に必要な導電パターンを13を形成す
る。また、セラミック基板12の裏面の全面には膜厚1
000オングストローム程度の金を蒸着して接地導体1
4とする。この接地導体14は分離溝11内にも同様の
膜厚で被着される。表面側の導電パターンの内接地電位
(GND)を印加するパターンと接地導体とは基板12
に形成したビアホールを介して電気的に接続される。セ
ラミック基板12表面側のダイシングライン15部分は
平坦なセラミック素材が露出しているものとする。
【0009】次いで図1(C)に示すように、ダイシン
グライン15上からダイシングブレードによりセラミッ
ク基板12を完全に切断して、横10mm縦8mmの如
き複数の基板に分離する。ダイシングブレードがセラミ
ック基板12を貫通するとき、ブレードが分離溝11内
の接地導体14を引きずり図面下方へ押し出してバリ1
6を発生させる。このバリ16はダイシングブレードの
切断速度と接地導体14の膜厚との関係に依るが、高さ
が概ね数十μの範囲内に収まることが確認されている。
従って、分離溝11の深さを適当な値(バリ16の突起
が分離溝11の深さを超えない様な深さ)にしておくこ
とにより、バリ16は接地導体14の水平面から突出す
ることがない。
【0010】個々の基板に分離した後、セラミック基板
12に能動素子、受動素子をダイボンド、ワイヤボンド
して前記導電パターン13により回路網を構成し、次い
で基板12を鉄系、銅系のリードフレームの放熱板上に
銀ペーストなどで固着し、リードと前記回路網とをワイ
ヤボンドした後全体を樹脂モールドして製品が完成す
る。前記放熱板は前記接地導体と銀ペーストを介して接
地電位が与えられる。
【0011】本発明に依れば、上記のダイボンド、ワイ
ヤボンド工程において、接地導体14の裏面側と作業台
の平坦表面とを当接させながら基板12を滑らせる搬送
時に、バリ16が引っかかってトラブルを発生させると
いうような現象を防止できる。図2は第2の実施の形態
を示すものである。セラミック基板12の分離を、図2
(A)に示すように基板12の途中までダイシングした
後、図2(B)で図示したAの方向に力を加えることに
より、セラミック基板12をブレイキングして分離す
る。ブレイキングでも同様にバリ16が発生するが、先
の実施の形態と同様に分離溝11の深さを適宜設定して
おくことで、接地導体14表面より突出しないように製
造することができる。本実施例ではダイシングがセラミ
ック基板12の途中までで済むので、フルカット工程よ
りは工程を簡素化できる。
【0012】
【発明の効果】以上に説明した通り、本発明によれば、
セラミック基板12裏面側に分離溝11を形成すること
で、搬送時のトラブル要因となる接地導体14のバリ1
6が接地導体14より突出しないようにできる利点を有
する。また、第2の実施の形態に依ればダイシングのハ
ーフカットとブレイキングとの組み合わせであるので、
フルカットよりは工程を簡素にでき、コストを下げられ
る利点を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を説明するための平面図である。
【図2】本発明を説明するための平面図である。
【図3】従来例をを説明するための平面図である。
【符号の説明】
11 分離溝 12 セラミック基板 14 接地導体

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一枚のセラミック基板の裏面に分割溝を
    形成する工程と、 前記セラミック基板の表面側にはダイシングライン部分
    を除いて導電パターンを形成し、前記セラミック基板の
    裏面全面には接地導体を形成する工程と、 前記セラミック基板の表面側からダイシングすることに
    より前記セラミック基板を複数の基板に分割する工程
    と、を具備することを特徴とするセラミック基板の分割
    方法。
  2. 【請求項2】 前記分割が、前記セラミック基板の板厚
    の全部をダイシングすることによることを特徴とする請
    求項1記載のセラミック基板の分割方法。
  3. 【請求項3】 前記分割が、前記セラミック基板の板厚
    の一部を残してダイシングした後にブレイキングにより
    行うことを特徴とする請求項1記載のセラミック基板の
    分割方法。
JP33057295A 1995-12-19 1995-12-19 セラミック基板の分割方法 Pending JPH09172231A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33057295A JPH09172231A (ja) 1995-12-19 1995-12-19 セラミック基板の分割方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33057295A JPH09172231A (ja) 1995-12-19 1995-12-19 セラミック基板の分割方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09172231A true JPH09172231A (ja) 1997-06-30

Family

ID=18234158

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP33057295A Pending JPH09172231A (ja) 1995-12-19 1995-12-19 セラミック基板の分割方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09172231A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020017254A (ko) * 2000-08-29 2002-03-07 이형도 기판의 홀 형성방법
JP2011071181A (ja) * 2009-09-24 2011-04-07 Hitachi Chem Co Ltd プリント配線板
KR101388741B1 (ko) * 2012-10-04 2014-04-25 삼성전기주식회사 전력 모듈용 기판 및 그 제조방법
JP2019004132A (ja) * 2017-06-19 2019-01-10 パナソニックIpマネジメント株式会社 配線基板およびその製造方法とその配線基板を用いた自動車のヘッドライト
JP2019129207A (ja) * 2018-01-24 2019-08-01 三菱マテリアル株式会社 パワーモジュール用基板の製造方法及びセラミックス‐銅接合体

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020017254A (ko) * 2000-08-29 2002-03-07 이형도 기판의 홀 형성방법
JP2011071181A (ja) * 2009-09-24 2011-04-07 Hitachi Chem Co Ltd プリント配線板
KR101388741B1 (ko) * 2012-10-04 2014-04-25 삼성전기주식회사 전력 모듈용 기판 및 그 제조방법
JP2019004132A (ja) * 2017-06-19 2019-01-10 パナソニックIpマネジメント株式会社 配線基板およびその製造方法とその配線基板を用いた自動車のヘッドライト
JP2019129207A (ja) * 2018-01-24 2019-08-01 三菱マテリアル株式会社 パワーモジュール用基板の製造方法及びセラミックス‐銅接合体
WO2019146638A1 (ja) * 2018-01-24 2019-08-01 三菱マテリアル株式会社 パワーモジュール用基板の製造方法及びセラミックス‐銅接合体
US11676882B2 (en) 2018-01-24 2023-06-13 Mitsubishi Materials Corporation Method of manufacturing power module substrate board and ceramic-copper bonded body

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5286679A (en) Method for attaching a semiconductor die to a leadframe using a patterned adhesive layer
US5454905A (en) Method for manufacturing fine pitch lead frame
US6770959B2 (en) Semiconductor package without substrate and method of manufacturing same
US6355981B1 (en) Wafer fabrication of inside-wrapped contacts for electronic devices
US20100237487A1 (en) Methods and systems for packaging integrated circuits
KR960019684A (ko) 리드프레임과 그 제조방법
KR20030046940A (ko) 표면 탄성파 필터 패키지 제조방법
CN101859734A (zh) 导线架及其制造方法与封装结构的制造方法
GB2150755A (en) Semiconductor device structures
TWI221027B (en) Method for the manufacture of an electrical leadframe and a surface mountable semiconductor component
US5978216A (en) Semiconductor package, leadframe, and manufacturing method therefor
JPS624351A (ja) 半導体キヤリアの製造方法
JP3356068B2 (ja) 光電変換素子の製造方法
GB2067354A (en) Mounting for a s.c. device
JPH09172231A (ja) セラミック基板の分割方法
US7135779B2 (en) Method for packaging integrated circuit chips
JP3414663B2 (ja) 半導体装置の製造方法およびそれに用いられる基板フレーム
US5118556A (en) Film material for film carrier manufacture and a method for manufacturing film carrier
US20020048851A1 (en) Process for making a semiconductor package
JPH11238870A (ja) 半導体装置とその製造方法
US6635407B1 (en) Two pass process for producing a fine pitch lead frame by etching
US6228669B1 (en) Planar mount LED element and method for manufacturing the same
US20250308971A1 (en) Semiconductor die singulation using die attach film and plasma dicing
KR100401141B1 (ko) 반도체 패키지 제조용 부재
KR100424168B1 (ko) 웨이퍼 레벨 패키지의 제조방법