JPH0919044A - ディジタル形保護継電装置の試験方法 - Google Patents
ディジタル形保護継電装置の試験方法Info
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- JPH0919044A JPH0919044A JP7165656A JP16565695A JPH0919044A JP H0919044 A JPH0919044 A JP H0919044A JP 7165656 A JP7165656 A JP 7165656A JP 16565695 A JP16565695 A JP 16565695A JP H0919044 A JPH0919044 A JP H0919044A
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- 230000001681 protective effect Effects 0.000 title claims description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 24
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 13
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 abstract description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 4
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- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 2
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Landscapes
- Protection Of Static Devices (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 アナログ周波数の変化に基づくリレー誤動作
を確かめるためのリレー単体試験を、リレー判定の基準
演算ソフトウェアを変えることなく行う。 【構成】 アナログ入力をＡ／Ｄ変換し、その変換され
たサンプリングデータからＣＰＵ部でリレー演算して系
統保護するディジタルリレーにおいて、ＣＰＵ部に単体
試験モード機能を設定してＡ／Ｄ変換のサンプル位相を
一定周期ｔ1毎に変化させ、各一定周期中、それぞれ位
相変化したサンプルデータを用いてリレー演算をしてリ
レーの判定を行い、各一定期間中においてリレー演算が
安定するまでの間ｔ3は前のリレー判定値を保持して出
力し、リレー演算が安定した後新たなリレー判定値を出
力する。
を確かめるためのリレー単体試験を、リレー判定の基準
演算ソフトウェアを変えることなく行う。 【構成】 アナログ入力をＡ／Ｄ変換し、その変換され
たサンプリングデータからＣＰＵ部でリレー演算して系
統保護するディジタルリレーにおいて、ＣＰＵ部に単体
試験モード機能を設定してＡ／Ｄ変換のサンプル位相を
一定周期ｔ1毎に変化させ、各一定周期中、それぞれ位
相変化したサンプルデータを用いてリレー演算をしてリ
レーの判定を行い、各一定期間中においてリレー演算が
安定するまでの間ｔ3は前のリレー判定値を保持して出
力し、リレー演算が安定した後新たなリレー判定値を出
力する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、送電系統を保護するデ
ィジタル形保護継電装置の試験方法に関する。
ィジタル形保護継電装置の試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ディジタル形保護継電装置（ディジタル
リレー）は図４に示すように、電圧，電流などのアナロ
グ入力信号を高調波分除去フィルタ１1〜１nを通してサ
ンプルホールド回路２1〜２nに入力し、図５に示すよう
に入力信号の規定周波数の３０°サンプルでサンプリン
グホールドし、このサンプリングホールドされた各チャ
ネルのアナログ信号をマルチプレクサ３を介して順次Ａ
／Ｄ変換器４に入力し、同時性のあるサンプリングデー
タを得て、ＣＰＵ部５でリレー演算を行い、系統保護す
る。
リレー）は図４に示すように、電圧，電流などのアナロ
グ入力信号を高調波分除去フィルタ１1〜１nを通してサ
ンプルホールド回路２1〜２nに入力し、図５に示すよう
に入力信号の規定周波数の３０°サンプルでサンプリン
グホールドし、このサンプリングホールドされた各チャ
ネルのアナログ信号をマルチプレクサ３を介して順次Ａ
／Ｄ変換器４に入力し、同時性のあるサンプリングデー
タを得て、ＣＰＵ部５でリレー演算を行い、系統保護す
る。
【０００３】上記ディジタルリレーは規定周波数の３０
°サンプル信号でＡ／Ｄ変換しているので、アナログ入
力の周波数が変化するとリレー誤動作となる恐れがあ
る。
°サンプル信号でＡ／Ｄ変換しているので、アナログ入
力の周波数が変化するとリレー誤動作となる恐れがあ
る。
【０００４】そのため、従来ディジタルリレーではその
動作試験を、Ａ／Ｄ変換器４からのサンプリングデータ
を用いＣＰＵ部５で種々のアルゴリズムにより実効値演
算をして、規格値との比較によって行っている。
動作試験を、Ａ／Ｄ変換器４からのサンプリングデータ
を用いＣＰＵ部５で種々のアルゴリズムにより実効値演
算をして、規格値との比較によって行っている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来デ
ィジタルリレーは、その動作値に下記のような種々の誤
差要因がある。
ィジタルリレーは、その動作値に下記のような種々の誤
差要因がある。
【０００６】（１）入力変換器、フィルタ、サンプルホ
ールド回路、Ａ／Ｄ変換器の非線形型誤差 （２）Ａ／Ｄ変換器の量子化誤差 （３）実効値演算アルゴリズムにおけるサンプル位相誤
差 （４）サンプル周期誤差 これらの中で（２）〜（４）は相互に関連して、規定動
作値近辺の入力に対し、リレー動作が不安定な状態とな
る。
ールド回路、Ａ／Ｄ変換器の非線形型誤差 （２）Ａ／Ｄ変換器の量子化誤差 （３）実効値演算アルゴリズムにおけるサンプル位相誤
差 （４）サンプル周期誤差 これらの中で（２）〜（４）は相互に関連して、規定動
作値近辺の入力に対し、リレー動作が不安定な状態とな
る。
【０００７】ディジタルリレーでは一般にヒステリシス
特性を組込むような事をしていないので、リレー試験時
は下記の方法により、動作値、復帰値を測定している。
特性を組込むような事をしていないので、リレー試験時
は下記の方法により、動作値、復帰値を測定している。
【０００８】動作値…完全動作点 復帰値…完全復帰点 即ち、リレー動作のバタツキの開始と安定点を測定して
いる。
いる。
【０００９】以上の現象により、動作値，復帰値は試験
者の判断による影響が大きく、また、試験時の入力とサ
ンプル位相の影響により測定の度に若干値が変わってく
るようなことも発生する。これらはまた、自動試験装置
を採用した場合の入力変化方法や動作値，復帰値判定方
法の設定にも大きな問題を及ぼす。
者の判断による影響が大きく、また、試験時の入力とサ
ンプル位相の影響により測定の度に若干値が変わってく
るようなことも発生する。これらはまた、自動試験装置
を採用した場合の入力変化方法や動作値，復帰値判定方
法の設定にも大きな問題を及ぼす。
【００１０】本発明は、従来のこのような問題点に鑑み
てなされたものであり、その目的とするところは、リレ
ー判定の基本演算ソフトウェアを変えることなくなしう
るディジタル保護継電装置の試験方法を提供することに
ある。
てなされたものであり、その目的とするところは、リレ
ー判定の基本演算ソフトウェアを変えることなくなしう
るディジタル保護継電装置の試験方法を提供することに
ある。
【００１１】
【課題を解決するための手段及び作用】上記目的を達成
するために、本発明におけるディジタル保護継電装置の
試験方法は、アナログ入力をＡ／Ｄ変換し、その変換さ
れたサンプリングデータからＣＰＵ部でリレー演算をし
て系統保護をする保護継電装置において、前記ＣＰＵ部
に単体試験モード機能を設定して前記Ａ／Ｄ変換のサン
プル位相を一定周期毎に変化させ、前記各一定周期中、
位相変化したサンプルデータを用いてリレー演算をな
し、そのリレー演算が安定するまでの間は前回リレー演
算によるリレー判定値を保持し、リレー演算が安定した
後リレー演算された新たなリレー判定値を出力させるよ
うにしたものである。この方法によれば、サンプル位相
を一定周期毎に変化させているので、リレー判定の基本
演算ソフトウェアを変えることなくアナログ入力の周波
数が変化した場合のリレー誤動作を試験できる。
するために、本発明におけるディジタル保護継電装置の
試験方法は、アナログ入力をＡ／Ｄ変換し、その変換さ
れたサンプリングデータからＣＰＵ部でリレー演算をし
て系統保護をする保護継電装置において、前記ＣＰＵ部
に単体試験モード機能を設定して前記Ａ／Ｄ変換のサン
プル位相を一定周期毎に変化させ、前記各一定周期中、
位相変化したサンプルデータを用いてリレー演算をな
し、そのリレー演算が安定するまでの間は前回リレー演
算によるリレー判定値を保持し、リレー演算が安定した
後リレー演算された新たなリレー判定値を出力させるよ
うにしたものである。この方法によれば、サンプル位相
を一定周期毎に変化させているので、リレー判定の基本
演算ソフトウェアを変えることなくアナログ入力の周波
数が変化した場合のリレー誤動作を試験できる。
【００１２】
【実施例】本発明の実施例について図面を参照して説明
する。図１はディジタルリレーの構成を示すもので、前
記従来図４に示したものと同一構成部分は、同一符号を
付してその重複する説明を省略する。図１において、６
はＣＰＵ部５からの指令に基づいたタイミングでＡ／Ｄ
変換がなしうるように、サンプルホールド回路２1〜２n
とマルチプレクサ３及びＡ／Ｄ変換器４を制御するＡ／
Ｄ変換制御回路を示す。
する。図１はディジタルリレーの構成を示すもので、前
記従来図４に示したものと同一構成部分は、同一符号を
付してその重複する説明を省略する。図１において、６
はＣＰＵ部５からの指令に基づいたタイミングでＡ／Ｄ
変換がなしうるように、サンプルホールド回路２1〜２n
とマルチプレクサ３及びＡ／Ｄ変換器４を制御するＡ／
Ｄ変換制御回路を示す。
【００１３】まず、スイッチ，制御ピン等を用いてディ
ジタルリレーのＣＰＵ部５にリレーを単体試験するため
の単体試験モードの設定する機能を教え込み、単体試験
モード設定に切り替えた場合、ＣＰＵ部５からＡ／Ｄ変
換制御回路６に一定周期でＡ／Ｄ変換のサンプリングタ
イミングを変化させるタイミング指令を出力するように
する。しかして単体試験モードに切り替えると、Ａ／Ｄ
変換制御回路６はこのタイミング指令の入力によりサン
プリングホールド回路２1〜２n及びＡ／Ｄ変換器４のサ
ンプルタイミングを制御すると共に、マルチプレクサ回
路３の切替タイミングを制御する。
ジタルリレーのＣＰＵ部５にリレーを単体試験するため
の単体試験モードの設定する機能を教え込み、単体試験
モード設定に切り替えた場合、ＣＰＵ部５からＡ／Ｄ変
換制御回路６に一定周期でＡ／Ｄ変換のサンプリングタ
イミングを変化させるタイミング指令を出力するように
する。しかして単体試験モードに切り替えると、Ａ／Ｄ
変換制御回路６はこのタイミング指令の入力によりサン
プリングホールド回路２1〜２n及びＡ／Ｄ変換器４のサ
ンプルタイミングを制御すると共に、マルチプレクサ回
路３の切替タイミングを制御する。
【００１４】タイミング指令は図２に示すように、一定
周期ｔ1「１」，ｔ1「２」，…毎にサンプルタイミング
（タイミング位相）を３°ずつ変化させる。周期ｔ1は
アルゴリズム上、リレー判定の演算が安定する時間ｔ3
以上とする。一定期ｔ1終了毎に次のサンプル位相の変
化量を設定する時間ｔ2を設ける。
周期ｔ1「１」，ｔ1「２」，…毎にサンプルタイミング
（タイミング位相）を３°ずつ変化させる。周期ｔ1は
アルゴリズム上、リレー判定の演算が安定する時間ｔ3
以上とする。一定期ｔ1終了毎に次のサンプル位相の変
化量を設定する時間ｔ2を設ける。
【００１５】これにより周期ｔ1でそのリレー判定演算
の安定する安定期間に少なくとも１回正常な結果を出力
し、リレー判定演算が安定するまでの時間ｔ3は前の結
果を保持出力することで、短時間に幾つかのサンプル角
でのリレー動作を確認することが可能となる。
の安定する安定期間に少なくとも１回正常な結果を出力
し、リレー判定演算が安定するまでの時間ｔ3は前の結
果を保持出力することで、短時間に幾つかのサンプル角
でのリレー動作を確認することが可能となる。
【００１６】今、ｔ3＝５０ｍｓ，ｔ1＝６０ｍｓ，位相
変化を３°とすると、ｔ＝（６０ｍｓ＋α）×３０／３
＝６００ｍｓ＋（１０・α）ｍｓの時間でサンプル角が
一周する。ただし、α＝３°に相当時間を示す。
変化を３°とすると、ｔ＝（６０ｍｓ＋α）×３０／３
＝６００ｍｓ＋（１０・α）ｍｓの時間でサンプル角が
一周する。ただし、α＝３°に相当時間を示す。
【００１７】上記単体試験モードにおけるリレー動作の
確認は図３に示すフローで行う。すなわち、割込等によ
り単体試験モード設定がなされると、周期ｔ1「１」の
設定、時間ｔ2とサンプル位相量の変化量の設定（変化
量０に設定）、時間ｔ3のスタート及びサンプル時間用
クロックの再スタートさせる（１０１〜１０５）。
確認は図３に示すフローで行う。すなわち、割込等によ
り単体試験モード設定がなされると、周期ｔ1「１」の
設定、時間ｔ2とサンプル位相量の変化量の設定（変化
量０に設定）、時間ｔ3のスタート及びサンプル時間用
クロックの再スタートさせる（１０１〜１０５）。
【００１８】変化量が０に設定されているので、リレー
は通常と同じくサンプルタイミング３０°のリレーとし
て動作し、そのリレー演算値と規定値の比較によりリレ
ー判定される。リレー判定値が安定するまでは前のリレ
ー判定値を出力し、時間ｔ3が経過するとリレー判定値
が出力する（１０６〜１０８）。
は通常と同じくサンプルタイミング３０°のリレーとし
て動作し、そのリレー演算値と規定値の比較によりリレ
ー判定される。リレー判定値が安定するまでは前のリレ
ー判定値を出力し、時間ｔ3が経過するとリレー判定値
が出力する（１０６〜１０８）。
【００１９】周期ｔ1「１」が経過すると、周期ｔ
1「２」の設定、時間ｔ2とサンプル位相量の変化量の設
定（変化量３°に設定）、時間ｔ3のスタート及びサン
プル時間用クロックの再スタートさせる（１０１〜１０
５）。
1「２」の設定、時間ｔ2とサンプル位相量の変化量の設
定（変化量３°に設定）、時間ｔ3のスタート及びサン
プル時間用クロックの再スタートさせる（１０１〜１０
５）。
【００２０】変化量が３°に設定されているので、リレ
ーはサンプルタイミング３３°のリレーとして動作し、
リレー判定される。このリレー判定値が安定するまでの
時間ｔ3の間は前の判定値を保持して出力する（１０
７，１０８）。時間ｔ3が経過するとリレー判定値が出
力する（１０６〜１０８）。
ーはサンプルタイミング３３°のリレーとして動作し、
リレー判定される。このリレー判定値が安定するまでの
時間ｔ3の間は前の判定値を保持して出力する（１０
７，１０８）。時間ｔ3が経過するとリレー判定値が出
力する（１０６〜１０８）。
【００２１】周期ｔ1「２」が経過すると、前と同様に
周期ｔ1「３」の設定、時間ｔ2とサンプル位相量の変化
量の設定（変化量６°に設定）、時間ｔ3のスタート及
びサンプル時間用クロックを再スタートさせる（１０１
〜１０５）。
周期ｔ1「３」の設定、時間ｔ2とサンプル位相量の変化
量の設定（変化量６°に設定）、時間ｔ3のスタート及
びサンプル時間用クロックを再スタートさせる（１０１
〜１０５）。
【００２２】変化量が６°に設定されているので、リレ
ーはサンプルタイミング３６°のリレーとして動作し、
時間ｔ1「３」中、１０６〜１０８のフローが実行され
る。単体試験モード設定中は上記のようにサンプルタイ
ミングを３°ずつ変化させて単体試験を行うが、サンプ
ルタイミングはマイナス側にも変化させる。
ーはサンプルタイミング３６°のリレーとして動作し、
時間ｔ1「３」中、１０６〜１０８のフローが実行され
る。単体試験モード設定中は上記のようにサンプルタイ
ミングを３°ずつ変化させて単体試験を行うが、サンプ
ルタイミングはマイナス側にも変化させる。
【００２３】単体試験モードを通常のリレーモードに切
り替えると、リレーはサンプルタイミング３０°のリレ
ーに戻る。なお、図３中１０９は動作確認シーケンスを
示す。
り替えると、リレーはサンプルタイミング３０°のリレ
ーに戻る。なお、図３中１０９は動作確認シーケンスを
示す。
【００２４】実施例によれば、ｔ1周期で少なくとも１
回は正常な結果を出力し、途中は前の結果を出力するこ
とで、短時間にいくつかのサンプル前でのリレー動作を
確認することができる。
回は正常な結果を出力し、途中は前の結果を出力するこ
とで、短時間にいくつかのサンプル前でのリレー動作を
確認することができる。
【００２５】なお、実施例ではサンプルタイミングの変
化量を３°としているがこれに限定されるものではな
い。
化量を３°としているがこれに限定されるものではな
い。
【００２６】
【発明の効果】本発明は、上述のとおり構成されている
ので、次に記載する効果を奏する。
ので、次に記載する効果を奏する。
【００２７】（１）単体試験時にＡ／Ｄ変換のサンプル
信号のタイミングを変化させているので、複雑なアルゴ
リズムの必要がなく、動作値、復帰値の判定が容易にな
り、試験者の違いや、判定時間の違いによる値のバラツ
キが少なくなる。
信号のタイミングを変化させているので、複雑なアルゴ
リズムの必要がなく、動作値、復帰値の判定が容易にな
り、試験者の違いや、判定時間の違いによる値のバラツ
キが少なくなる。
【００２８】（２）時間ｔを規定することで、自動試験
の場合の入力変化を設定できるので、測定時期によるバ
ラツキが少なくなる。
の場合の入力変化を設定できるので、測定時期によるバ
ラツキが少なくなる。
【図１】ディジタルリレーの構成説明図。
【図２】単体試験のタイムチャート。
【図３】単体試験のフローチャート。
【図４】従来ディジタルリレーの構成説明図。
【図５】サンプリング波形図。
１1〜１n…高調波除去フィルタ ２1〜２ｎ…サンプルホールド回路 ３…マルチプレクサ ４…Ａ／Ｄ変換器 ５…ＣＰＵ部 ６…Ａ／Ｄ変換制御回路
Claims (1)
- 【請求項１】 アナログ入力をＡ／Ｄ変換し、その変換
されたサンプリングデータからＣＰＵ部でリレー演算を
して系統保護をする保護継電装置の試験方法において、 Ａ／Ｄ変換制御回路を設け、 前記ＣＰＵ部に単体試験モード機能を設定して前記Ａ／
Ｄ変換のサンプル位相を一定周期毎に変化させ、 前記各一定周期中、位相変化したサンプルデータを用い
てリレー演算をなし、そのリレー演算が安定するまでの
間は前回リレー演算によるリレー判定値を保持し、リレ
ー演算が安定した後リレー演算された新たなリレー判定
値を出力することを特徴としたディジタル形保護継電装
置の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7165656A JPH0919044A (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | ディジタル形保護継電装置の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7165656A JPH0919044A (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | ディジタル形保護継電装置の試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0919044A true JPH0919044A (ja) | 1997-01-17 |
Family
ID=15816511
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7165656A Pending JPH0919044A (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | ディジタル形保護継電装置の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0919044A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AU707660B2 (en) * | 1996-04-01 | 1999-07-15 | Cic Global Llc | Distributed frequency relay |
-
1995
- 1995-06-30 JP JP7165656A patent/JPH0919044A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AU707660B2 (en) * | 1996-04-01 | 1999-07-15 | Cic Global Llc | Distributed frequency relay |
| US6314378B1 (en) | 1996-04-01 | 2001-11-06 | Clc Global Llc | Distributed frequency relay |
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