JPH0922812A - Method of forming external electrode of chip part - Google Patents
Method of forming external electrode of chip partInfo
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- JPH0922812A JPH0922812A JP7171973A JP17197395A JPH0922812A JP H0922812 A JPH0922812 A JP H0922812A JP 7171973 A JP7171973 A JP 7171973A JP 17197395 A JP17197395 A JP 17197395A JP H0922812 A JPH0922812 A JP H0922812A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、抵抗体、コンデンサ等
のチップ部品を弾性体で形成されたキャリアプレートに
挿入し、このチップ部品に外部電極を形成するチップ部
品の外部電極形成方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for forming external electrodes of a chip component, in which chip components such as resistors and capacitors are inserted into a carrier plate made of an elastic material and external electrodes are formed on the chip component. Is.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、この種のチップ部品の外部電極形
成方法として、特公昭62ー29888号公報或いは特
公平4ー70761号公報に開示されたものが知られて
いる。2. Description of the Related Art Conventionally, as a method for forming external electrodes of this type of chip component, the method disclosed in Japanese Patent Publication No. 62-29888 or Japanese Patent Publication No. 4-70761 is known.
【0003】このチップ部品の外部電極形成方法は、チ
ップ部品素体(外部電極が形成されていないチップ部
品)を収容するロードプレートと弾性体で形成されたキ
ャリアプレートとを予め用意し、このキャリアプレート
の上面にロードプレートをセットする。次いで、このロ
ードプレートの収容孔にチップ部品素体を供給し、この
供給されたチップ部品素体をキャリアプレートの保持孔
の周縁で支持し収容孔内に収容する。In this method of forming external electrodes of a chip component, a load plate for accommodating a chip component element body (a chip component in which external electrodes are not formed) and a carrier plate formed of an elastic body are prepared in advance, and the carrier is prepared. Place the load plate on top of the plate. Then, the chip component element body is supplied to the accommodation hole of the load plate, and the supplied chip component element body is supported by the peripheral edge of the holding hole of the carrier plate and accommodated in the accommodation hole.
【0004】しかる後、収容孔の上部開口から押し出し
部材、即ちピンが下方に移動してこの収容孔内の部品素
体を下方に押し出し、この部品素体が保持孔側に移動す
る。ここで、部品素体の移動量は部品素体の上端部がキ
ャリアプレートの上方に突出した状態となるよう設定さ
れている。Thereafter, the pushing member, that is, the pin, moves downward from the upper opening of the housing hole to push the component body in the housing hole downward, and the component body moves to the holding hole side. Here, the movement amount of the component body is set so that the upper end portion of the component body is projected above the carrier plate.
【0005】次いで、このキャリアプレートに保持され
た部品素体は、その突出部分が導体ペーストに浸漬さ
れ、更に乾燥して部品素体の外面に外部電極が形成され
る。Next, the protruding parts of the component body held on the carrier plate are dipped in the conductor paste and dried to form external electrodes on the outer surface of the component body.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】このように、従来のチ
ップ部品の外部電極形成方法では、ロードプレートから
キャリアプレートに部品素体を移動するとき、各ピンを
ロードプレートの収容孔に挿入して部品素体をキャリア
プレートの保持孔に移動するようになっている。As described above, in the conventional method of forming the external electrodes of the chip component, when the component body is moved from the load plate to the carrier plate, each pin is inserted into the accommodation hole of the load plate. The component element body is moved to the holding hole of the carrier plate.
【0007】しかしながら、チップ部品素体の上面面積
が非常に狭く、これにより、このチップ部品素体を押し
出すピンの径も小さくなるため、ピンの強度を十分に取
ることができず、ピン曲がり等の不具合を起こすおそれ
があった。However, the upper surface area of the chip component body is very small, and the diameter of the pin for pushing out this chip component body is also small, so that the pin strength cannot be sufficiently secured, and the pin is bent. There was a risk of causing problems.
【0008】また、ピンの軸線中央とチップ部品素体の
上端面中央とがずれているときは、チップ部品素体の片
押し状態となり、これにより、チップ部品素体がキャリ
アプレートの保持孔に傾いた状態で収容されることがあ
る。しかしながら、このようにチップ部品素体が傾斜し
た状態で収容されるときは、その導電ペーストの塗布面
も傾斜した状態となり、このため、外部電極を均一に形
成できないという問題点を有していた。Further, when the center of the axis of the pin and the center of the upper end surface of the chip component body are displaced, the chip component body is pushed to one side, whereby the chip component body becomes a holding hole of the carrier plate. May be stored in a tilted position. However, when the chip component body is accommodated in a tilted state in this manner, the surface on which the conductive paste is applied is also in a tilted state, which causes a problem that the external electrodes cannot be formed uniformly. .
【0009】本発明の目的は前記従来の課題に鑑み、ロ
ードプレートからキャリアプレートにチップ部品素体を
移し換えるときピン等の押し出し部材が不要で、かつ、
均一にチップ部品素体をキャリアプレートに移し換える
ことができるチップ部品の外部電極形成方法を提供する
ことにある。In view of the above-mentioned conventional problems, an object of the present invention is that a pushing member such as a pin is not required when transferring a chip component body from a load plate to a carrier plate, and
An object of the present invention is to provide a method of forming external electrodes of a chip component, which can uniformly transfer the chip component body to a carrier plate.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】本発明は前記課題を解決
するため、請求項1の発明は、チップ部品素体が挿入さ
れこれを収容する収容空間を多数有するロードプレート
と、該チップ部品素体を弾性力で保持する保持空間を有
するキャリアプレートとを用意し、該収容空間に収容さ
れたチップ部品素体を保持空間に移動し、しかる後、該
保持空間に移動したチップ部品素体に外部電極用の導体
を付与するチップ部品の外部電極形成方法において、前
記ロードプレートはチップ部品素体の挿入側に配置され
厚さ方向に伸縮自在の伸縮プレート部と、該伸縮プレー
ト部側から挿入されたチップ部品素体を支持する支持プ
レート部とからなり、該伸縮プレートと該支持プレート
を上下に配置して該収容空間にチップ部品素体を収容す
る収容工程と、前記収容工程の後に、前記ロードプレー
ト又は前記キャリアプレートの一方を他方に向かって移
動して前記収容空間のチップ部品素体を前記保持空間側
に移し換える移し換え工程と、前記移し換え工程の後
に、前記保持空間に保持されたチップ部品素体で前記キ
ャリアプレートから突出している一端側に前記導体を付
与する導体付与工程とを有することを特徴する。SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a load plate having a plurality of accommodating spaces for accommodating the chip component element bodies and the chip component element bodies. A carrier plate having a holding space for holding the body with elastic force is prepared, and the chip component body housed in the housing space is moved to the holding space, and then, the chip component body moved to the holding space. In the method of forming an external electrode of a chip component for providing a conductor for an external electrode, the load plate is disposed on the insertion side of the chip component body, and is expandable and contractible in the thickness direction, and is inserted from the elastic plate part side. And a support plate portion for supporting the chip component body, the accommodating step of arranging the expandable plate and the support plate vertically and accommodating the chip component body in the accommodating space, After the accommodating step, one of the load plate or the carrier plate is moved toward the other to move the chip component body of the accommodating space to the holding space side, and after the transferring step, A conductor applying step of applying the conductor to one end side of the chip component body held in the holding space, the one end side protruding from the carrier plate.
【0011】請求項2の発明は、請求項1記載のチップ
部品の外部電極形成方法において、前記伸縮プレート部
は伸縮性の樹脂製スポンジで形成されたことを特徴とす
る。According to a second aspect of the invention, in the method of forming an external electrode for a chip component according to the first aspect, the elastic plate portion is formed of an elastic resin sponge.
【0012】請求項3の発明は、請求項1記載のチップ
部品の外部電極形成方法において、前記伸縮プレート部
はバネ手段を介在したことを特徴とする。According to a third aspect of the present invention, in the method of forming an external electrode for a chip component according to the first aspect, the elastic plate portion includes a spring means.
【0013】請求項4の発明は、請求項1乃至請求項3
の何れか1項記載のチップ部品の外部電極形成方法にお
いて、前記収容空間は前記伸縮プレート部が収縮したと
き、前記チップ部品素体の高さ寸法より小さな深さ寸法
となることを特徴とする。The invention of claim 4 is the invention of claims 1 to 3.
In the method of forming an external electrode of a chip component according to any one of the above items, the accommodation space has a depth dimension smaller than a height dimension of the chip component body when the expansion plate portion contracts. .
【0014】請求項5の発明は、請求項1乃至請求項3
の何れか1項記載のチップ部品の外部電極形成方法にお
いて、前記収容空間は前記ロードプレートを貫通する貫
通孔と、該貫通孔に挿入されたピンの上端面との間に形
成され、前記伸縮プレート部が収縮したとき、前記チッ
プ部品素体の高さ寸法より小さな深さ寸法となることを
特徴とする。The invention according to claim 5 is any one of claims 1 to 3.
9. The external electrode forming method for a chip component according to claim 1, wherein the accommodation space is formed between a through hole penetrating the load plate and an upper end surface of a pin inserted in the through hole, and the expansion and contraction is performed. When the plate portion contracts, the depth dimension is smaller than the height dimension of the chip component body.
【0015】請求項6の発明は、請求項1乃至請求項5
の何れか1項記載のチップ部品の外部電極形成方法にお
いて、前記保持空間を前記キャリアプレートを貫通する
貫通孔で形成するとともに、該キャリアプレートの厚さ
寸法を前記チップ部品素体の高さ寸法より小さくしたこ
とを特徴とする。The invention of claim 6 is the first to fifth aspects of the present invention.
In the method of forming an external electrode of a chip component according to any one of claims 1 to 3, the holding space is formed by a through hole that penetrates the carrier plate, and the thickness dimension of the carrier plate is the height dimension of the chip component body. It is characterized by being made smaller.
【0016】請求項7の発明は、請求項1乃至請求項5
の何れか1項記載のチップ部品の外部電極形成方法にお
いて、前記保持空間を前記チップ部品素体の高さ寸法よ
り小さな深さの凹所で構成したことを特徴とする。The invention of claim 7 is from claim 1 to claim 5.
In the method of forming an external electrode of a chip part according to any one of the above 1 to 3, the holding space is formed by a recess having a depth smaller than a height dimension of the chip part body.
【0017】請求項8の発明は、請求項1乃至請求項7
の何れか1項記載のチップ部品の外部電極形成方法にお
いて、前記チップ部品素体を前記収容空間に案内する案
内孔を有する案内プレートを用意し、該収容空間にチッ
プ部品素体を収容するとき、該案内プレートを前記ロー
ドプレート上に載置することを特徴とする。The invention according to claim 8 is the invention according to claims 1 to 7.
The external electrode forming method for a chip component according to any one of claims 1 to 3, wherein a guide plate having a guide hole for guiding the chip component body into the accommodation space is prepared, and the chip component body is accommodated in the accommodation space. The guide plate is placed on the load plate.
【0018】[0018]
【作用】請求項1乃至請求項7の発明によれば、ロード
プレートの収容空間に収容されたチップ部品素体をキャ
リアプレートの保持空間に移し換えるときは、ロードプ
レートの収容空間とキャリアプレートの保持空間とを対
向配置し、ロードプレート或いはキャリアプレートの一
方を他方に向かって移動させる。これにより、ロードプ
レートの伸縮プレート部が収縮するとともに、チップ部
品素体がキャリアプレートの弾性力に抗して徐々に保持
空間に移動し、保持空間に収容される。According to the inventions of claims 1 to 7, when the chip component body accommodated in the accommodation space of the load plate is transferred to the holding space of the carrier plate, the accommodation space of the load plate and the carrier plate are The holding space is arranged to face each other, and one of the load plate and the carrier plate is moved toward the other. As a result, the expandable plate portion of the load plate contracts, and the chip component body gradually moves into the holding space against the elastic force of the carrier plate and is accommodated in the holding space.
【0019】請求項8の発明によれば、チップ部品素体
をロードプレートの収容空間に収容するとき、このチッ
プ部品素体が案内プレートの案内孔により収容空間に案
内され、収容空間に円滑に収容される。According to the invention of claim 8, when the chip component element body is accommodated in the accommodating space of the load plate, the chip component element body is guided into the accommodating space by the guide hole of the guide plate, and smoothly enters the accommodating space. Be accommodated.
【0020】[0020]
【実施例】図1乃至図5は本発明に係るチップ部品の外
部電極形成方法の第1実施例を示すもので、図1はロー
ドプレート及びキャリアプレートの斜視図、図2乃至図
5は外部電極形成方法の各工程を示す断面図である。1 to 5 show a first embodiment of a method for forming external electrodes of a chip component according to the present invention. FIG. 1 is a perspective view of a load plate and a carrier plate, and FIGS. It is sectional drawing which shows each process of an electrode formation method.
【0021】この外部電極形成方法において使用される
部材として、図1に示すように、ロードプレート1及び
キャリアプレート2が使用される。As members used in this external electrode forming method, a load plate 1 and a carrier plate 2 are used as shown in FIG.
【0022】このロードプレート1は樹脂製スポンジで
伸縮自在に形成された伸縮プレート部1aと、金属或い
は硬質樹脂で形成された支持プレート部1bとを上下に
一体に形成したものである。また、この伸縮プレート部
1aには、図2に示すように、チップ部品素体(以下実
施例では部品素体という)3が挿入される多数の貫通孔
1cが形成され、他方、支持プレート部1bの上面には
この貫通孔1cと対向して部品素体3を支持する支持凹
所1dが形成されており、この貫通孔1c及び支持凹所
1dを通じて部品素体3が収容される収容空間1eが構
成されている。The load plate 1 comprises a telescopic plate portion 1a which is made of a resin sponge and can be expanded and contracted, and a support plate portion 1b which is made of a metal or a hard resin and are integrally formed vertically. Further, as shown in FIG. 2, a large number of through holes 1c into which a chip component body (hereinafter referred to as component body) 3 is inserted are formed in the expandable plate portion 1a, while the support plate portion is formed. A support recess 1d for supporting the component body 3 is formed on the upper surface of 1b so as to face the through hole 1c, and a housing space in which the component body 3 is accommodated through the through hole 1c and the support recess 1d. 1e is configured.
【0023】キャリアプレート2は弾性部材、例えばシ
リコーンゴム等で形成されたプレート本体2aを金属枠
2bで囲ったもので、プレート本体2aでロードプレー
ト1の収容空間1aと対応する位置には、部品素体3が
搬送される保持空間2cが多数形成されている。この保
持空間2cはキャリアプレート2を貫通する貫通孔で形
成され、その上下面積は部品素体3の横断面積よりも多
少小さくし、この保持空間2c内に搬送された部品素体
3をキャリアプレート2の弾性力により保持するように
なっている。また、キャリアプレート2の厚さ寸法は部
品素体3の高さ寸法より小さくしている。The carrier plate 2 is an elastic member, for example, a plate body 2a made of silicone rubber or the like surrounded by a metal frame 2b. The plate body 2a is provided with a component at a position corresponding to the accommodating space 1a of the load plate 1. A large number of holding spaces 2c in which the element body 3 is transported are formed. The holding space 2c is formed by a through hole penetrating the carrier plate 2, and the vertical area of the holding space 2c is made slightly smaller than the cross-sectional area of the component body 3, so that the component body 3 conveyed into the holding space 2c is carried by the carrier plate. It is designed to be held by the elastic force of 2. The thickness of the carrier plate 2 is smaller than the height of the component body 3.
【0024】このようなロードプレート1及びキャリア
プレート2を用いて図2乃至図5に示すように外部電極
を形成されるが、以下この外部電極形成方法を説明す
る。External electrodes are formed using the load plate 1 and the carrier plate 2 as shown in FIGS. 2 to 5. The method of forming the external electrodes will be described below.
【0025】まず、図2に示すように、部品素体3をロ
ードプレート1の伸縮プレート部1aの貫通孔1cを通
じて収容空間1eに挿入する。この挿入された部品素体
3は支持凹所1dで支持され、収容空間1eに収容され
る。First, as shown in FIG. 2, the component body 3 is inserted into the accommodation space 1e through the through hole 1c of the expandable plate portion 1a of the load plate 1. The inserted component body 3 is supported by the support recess 1d and is accommodated in the accommodation space 1e.
【0026】次いで、図3に示すように、キャリアプレ
ート2の保持空間2cと各収容空間1eに収容された部
品素体3とを対向配置し、キャリアプレート2を伸縮プ
レート部1eに向かって下降させる。これにより、伸縮
プレート部1aがキャリアプレート2により押圧され、
伸縮プレート部1aで囲われていた部品素体3が伸縮プ
レート部1aの上方に突出した状態となり、この部品素
体3の突出部分がキャリアプレート2の弾性力に抗して
保持空間2cに挿入される。Next, as shown in FIG. 3, the holding space 2c of the carrier plate 2 and the component body 3 housed in each housing space 1e are arranged facing each other, and the carrier plate 2 is lowered toward the telescopic plate portion 1e. Let As a result, the telescopic plate portion 1a is pressed by the carrier plate 2,
The component element body 3 surrounded by the elastic plate portion 1a is projected above the elastic plate portion 1a, and the protruding portion of this component element body 3 is inserted into the holding space 2c against the elastic force of the carrier plate 2. To be done.
【0027】ここで、伸縮プレート部1aの収縮時の厚
さ寸法は、その非収縮時の厚さ寸法が大きいときは大き
くなり、逆に非収縮時の厚さ寸法が小さいときは小さく
なるため、キャリアプレート2の下方への移動量は伸縮
プレート部1aの非収縮時の厚さ寸法の大小によって決
定される。Here, the contracted thickness of the expansion / contraction plate portion 1a becomes large when the non-contracted thickness is large, and conversely becomes small when the non-contracted thickness is small. The amount of downward movement of the carrier plate 2 is determined by the size of the thickness of the telescopic plate portion 1a when it does not contract.
【0028】この実施例では伸縮プレート部1aの厚さ
寸法を大きくとっているため、キャリアプレート2の移
動量が少なく、これにより、部品素体3の下側がキャリ
アプレート2から大きく突出した状態で部品素体3がキ
ャリアプレート2に移し換えられている。なお、ロード
プレート1をキャリアプレート2側に向かって移動する
ときも、同様にして部品素体3を保持空間2cに挿入保
持される。In this embodiment, since the thickness of the telescopic plate portion 1a is large, the amount of movement of the carrier plate 2 is small, so that the lower side of the component body 3 largely projects from the carrier plate 2. The component body 3 has been transferred to the carrier plate 2. When the load plate 1 is moved toward the carrier plate 2 side, the component body 3 is similarly inserted and held in the holding space 2c.
【0029】このような部品素体3の移し換え工程が終
了したときは、このキャリアプレート2を上方に移動し
て、部品素体3全体をロードプレート1から外し、図4
に示すように、部品素体3の下側突出部分をベース4上
の導体ペースト5内に浸漬し、その後、図5に示すよう
に、このキャリアプレート2を上方に引き上げる。これ
により、部品素体3の端部に導体ペーストが付着する。When the transfer process of the component body 3 is completed, the carrier plate 2 is moved upward to remove the entire component body 3 from the load plate 1,
As shown in FIG. 5, the lower projecting portion of the component body 3 is dipped in the conductor paste 5 on the base 4, and then the carrier plate 2 is pulled up as shown in FIG. As a result, the conductor paste adheres to the end of the component body 3.
【0030】この導体付着工程が終了したときは、部品
素体3に付着した導体ペーストを図示しないヒータによ
り乾燥し外部電極6が形成される。When the conductor attaching step is completed, the conductor paste attached to the component body 3 is dried by a heater (not shown) to form the external electrodes 6.
【0031】このようにして外部電極6が形成されたと
きは、キャリアプレート2の保持空間2cを通じて図示
しないピン等を挿入し、この部品素体3をキャリアプレ
ート2から外し、この部品素体3を焼成する。これによ
り、外部電極付きのチップ部品が形成される。When the external electrode 6 is formed in this way, a pin or the like (not shown) is inserted through the holding space 2c of the carrier plate 2, the component body 3 is removed from the carrier plate 2, and the component body 3 is formed. To bake. As a result, a chip component with external electrodes is formed.
【0032】図6乃至図8は本発明に係るチップ部品の
外部電極形成方法の第2実施例を示すもので、各図は外
部電極形成方法の各工程を示す断面図である。6 to 8 show a second embodiment of the external electrode forming method for a chip component according to the present invention, and each drawing is a sectional view showing each step of the external electrode forming method.
【0033】前記第1実施例に係る保持空間2cはキャ
リアプレート2を貫通したものとなっているが、本実施
例に係る保持空間20aはキャリアプレート20中で上
端を閉塞した孔(凹所)で構成されている。また、この
保持空間20aの上下方向の寸法は、部品素体3の上下
方向寸法よりも小さく、かつ、ロードプレート1の収容
空間1e内の部品素体3を保持空間20aに移したと
き、図6に示すように、部品素体3の上面と保持空間2
0aの天井面との間に多少遊びの空間が形成されるよう
設定されている。また、図6に示すように部品素体3を
保持空間20aに移した後に、図7に示すように、レベ
ル調整板7により各部品素体3の突出寸法を調整し、し
かる後に、図8に示すように部品素体3を導体ペースト
5に浸漬するようになっている。Although the holding space 2c according to the first embodiment penetrates the carrier plate 2, the holding space 20a according to the present embodiment has a hole (recess) in which the upper end is closed in the carrier plate 20. It is composed of. Further, the vertical dimension of the holding space 20a is smaller than the vertical dimension of the component body 3, and when the component body 3 in the accommodation space 1e of the load plate 1 is moved to the holding space 20a, As shown in FIG. 6, the upper surface of the component body 3 and the holding space 2
It is set so that a play space is formed between the ceiling surface 0a and the ceiling surface 0a. After moving the component element body 3 to the holding space 20a as shown in FIG. 6, the projecting dimension of each component element body 3 is adjusted by the level adjusting plate 7 as shown in FIG. The component element body 3 is immersed in the conductor paste 5 as shown in FIG.
【0034】本実施例によれば、前記第1実施例と同様
にピン等を用いることなく、ロードプレート1からキャ
リアプレート20に部品素体3を移し換えることができ
る。なお、この実施例でレベル調整板7に導体ペースト
を塗布しておくときは、このレベル調整時に外部電極用
の導体ペーストが部品素体3に付着し、図8の導体ペー
スト付着工程が不要となる。According to this embodiment, the component body 3 can be transferred from the load plate 1 to the carrier plate 20 without using pins or the like as in the first embodiment. When the conductor paste is applied to the level adjusting plate 7 in this embodiment, the conductor paste for external electrodes adheres to the component body 3 during the level adjustment, and the conductor paste attaching step of FIG. 8 becomes unnecessary. Become.
【0035】図9乃至図13は本発明に係るチップ部品
の外部電極形成方法の第3実施例を示すもので、各図は
外部電極形成方法の各工程を示す断面図である。9 to 13 show a third embodiment of the external electrode forming method for a chip component according to the present invention, and each drawing is a sectional view showing each step of the external electrode forming method.
【0036】前記第1実施例及び前記第2実施例に係る
収容空間1eの高さ寸法は伸縮プレート部1aが収縮し
た状態で部品素体3の略半分程度となっているが、本実
施例に係るロードプレート30は、その支持プレート部
30bの上面に配置された伸縮プレート部30aを薄く
形成し、伸縮プレート部30aの収縮状態で部品素体3
の4分の1程度となっており、その収容空間30cの深
さを浅くしている。The height dimension of the accommodation space 1e according to the first embodiment and the second embodiment is about half of that of the component body 3 in the contracted state of the telescopic plate portion 1a. In the load plate 30 according to the above, the elastic plate portion 30a arranged on the upper surface of the support plate portion 30b is thinly formed, and the component base body 3 is contracted in the contracted state of the elastic plate portion 30a.
Approximately one fourth of that, and the depth of the accommodation space 30c is shallow.
【0037】この実施例では、図10に示すように部品
素体3を保持空間2cに移し換えるとき、伸縮プレート
部30aが薄い分、キャリアプレート2の移動量が大き
いため、部品素体3のうちキャリアプレート2の上方か
ら突出する部分の寸法が、キャリアプレート2の下方か
ら突出する部分の寸法より大きくなる。In this embodiment, when the component element body 3 is transferred to the holding space 2c as shown in FIG. 10, since the telescopic plate portion 30a is thin, the movement amount of the carrier plate 2 is large. Of these, the size of the part projecting from above the carrier plate 2 is larger than the size of the part projecting from below the carrier plate 2.
【0038】そこで、キャリアプレート2の上方に突出
した部品素体3を、図11に示すように、反転して突出
寸法の大きな部分を下方に向ける。しかる後、図12に
示すように導体ペースト5に浸漬し、更に図13に示す
ように引き上げ、部品素体3の一端側に導体ペースト5
を付着させる。Therefore, as shown in FIG. 11, the component element body 3 projecting upward from the carrier plate 2 is inverted and the part having a large projecting dimension is directed downward. After that, the conductor paste 5 is dipped in the conductor paste 5 as shown in FIG. 12, and further pulled up as shown in FIG.
To adhere.
【0039】本実施例によれば、部品素体3における収
容空間30cに収容した端部とは反対側の端部に外部電
極6を形成することができる。According to this embodiment, the external electrode 6 can be formed at the end of the component body 3 opposite to the end accommodated in the accommodation space 30c.
【0040】図14及び図15は本発明に係るチップ部
品の外部電極形成方法の第4実施例を示すもので、この
第4実施例ではロードプレート1,30の収容空間1
e,30cに部品素体3を収容するとき、このロードプ
レート1,30の上面に案内プレート8を配置したもの
である。この案内プレート8は上部が大径となった案内
孔8aを有している。14 and 15 show a fourth embodiment of the method for forming external electrodes of a chip component according to the present invention. In this fourth embodiment, the accommodation space 1 for the load plates 1 and 30 is shown.
The guide plates 8 are arranged on the upper surfaces of the load plates 1 and 30 when the component body 3 is housed in the e and 30c. The guide plate 8 has a guide hole 8a whose upper portion has a large diameter.
【0041】この実施例によれば、この案内孔8aを通
じて部品素体3が収容空間1e,30cに円滑に搬送さ
れる。また、図15に示すように、収容空間30cが浅
くなっているときは、部品素体3を収容する空間として
も有効なものとなる。According to this embodiment, the component body 3 is smoothly conveyed to the accommodation spaces 1e and 30c through the guide hole 8a. Further, as shown in FIG. 15, when the accommodation space 30c is shallow, it is also effective as a space for accommodating the component body 3.
【0042】図16はロードプレート1,30の収容空
間1e,30cの他の例を示すもので、前記各実施例で
はロードプレート1,30に凹所を形成して構成してい
るが、この実施例では、ロードプレート40の伸縮プレ
ート部40a及び支持プレート部40bに上下に貫通す
る貫通孔40cを設けるとともに、この貫通孔40cの
下方からピン40dを挿入し、このピン40dの上端面
と貫通孔40cとの間に部品素体3の収容空間40eを
成している。FIG. 16 shows another example of the accommodating spaces 1e and 30c of the load plates 1 and 30. In each of the above-mentioned embodiments, the load plates 1 and 30 are formed with a recess. In the embodiment, the expandable plate portion 40a and the support plate portion 40b of the load plate 40 are provided with through-holes 40c that penetrate vertically, and a pin 40d is inserted from below the through-hole 40c to penetrate the upper end surface of the pin 40d. A housing space 40e for the component body 3 is formed between the hole 40c and the hole 40c.
【0043】この実施例によれば、既存のロードプレー
ト及びピン機構を用いて部品素体3の収容空間を形成す
ることができる。According to this embodiment, the accommodating space for the component body 3 can be formed by using the existing load plate and pin mechanism.
【0044】図17及び図18は本発明に係るチップ部
品の外部電極形成方法の第5実施例を示すものである。
前記各実施例ではロードプレート1,30,40の伸縮
プレート部1a,30a,40aとして樹脂製スポンジ
を使用しているが、本実施例ではロードプレート50の
支持プレート部50b上に載置された伸縮プレート部5
0aをバネ手段により伸縮自在としている。17 and 18 show a fifth embodiment of a method of forming external electrodes of a chip part according to the present invention.
Although resin sponges are used as the elastic plate portions 1a, 30a, 40a of the load plates 1, 30, 40 in each of the above-described embodiments, in the present embodiment, they are placed on the support plate portion 50b of the load plate 50. Telescopic plate part 5
0a is made elastic by spring means.
【0045】即ち、この伸縮プレート部50aは上下プ
レート50c,50dを間隔をおいて対向させ、それぞ
れに部品素体3を挿入する挿入孔50eを支持凹所50
fに対向して多数穿設しており、この上下の各挿入孔5
0e及び支持凹所50fを通じて収容空間50gを構成
している。また、この上下プレート50a,50b間に
はコイルバネ50hが介在されている。That is, the expandable plate portion 50a has the upper and lower plates 50c and 50d facing each other with a space therebetween, and the insertion hole 50e for inserting the component body 3 into each of them is supported in the recess 50.
A large number of holes are formed facing the f, and the upper and lower insertion holes 5
The accommodation space 50g is configured through the 0e and the support recess 50f. A coil spring 50h is interposed between the upper and lower plates 50a and 50b.
【0046】本実施例によれば、図18に示すように、
キャリアプレート2をロードプレート50側に移動する
とき、このキャリアプレート2が上プレート50cを押
圧し、この押圧力によりコイルバネ50hが収縮して上
プレート50cが下方に移動する。この上プレート50
cの移動に伴いキャリアプレート2が下方に移動し、キ
ャリアプレート2の保持空間2cに部品素体3が挿入さ
れる。According to this embodiment, as shown in FIG.
When the carrier plate 2 is moved to the load plate 50 side, the carrier plate 2 presses the upper plate 50c, and the pressing force causes the coil spring 50h to contract and the upper plate 50c to move downward. This top plate 50
The carrier plate 2 moves downward as c moves, and the component body 3 is inserted into the holding space 2c of the carrier plate 2.
【0047】このように、コイルバネ50hを介在した
伸縮プレート部50aによってもピン押し出し機構等を
用いずにキャリアプレート2に部品素体3を移し換える
ことができる。As described above, the component element body 3 can be transferred to the carrier plate 2 without using the pin pushing mechanism or the like by the elastic plate portion 50a with the coil spring 50h interposed.
【0048】なお、前記各実施例では伸縮プレート部1
a,30a,40a,50aと支持プレート部1b,3
0b,40b,50bを一体に形成しているが、これら
の各部を別個に形成し、部品素体3の収容工程時にこれ
らを上下に配置するようにしてもよい。In each of the above-mentioned embodiments, the telescopic plate portion 1
a, 30a, 40a, 50a and support plate portions 1b, 3
Although 0b, 40b, and 50b are formed integrally, each of these parts may be formed separately, and they may be arranged vertically during the step of accommodating the component body 3.
【0049】図19はチップ部品供給装置の第6実施例
を示すもので、前記第1実施例のチップ部品供給装置1
の伸縮プレート部1aを改良したものである。この第7
実施例では伸縮プレート部1aはその上面にポリエチレ
ンフタノール樹脂、アルミ等のフィルムで形成されたカ
バー体1fを接着している。FIG. 19 shows a sixth embodiment of the chip component supplying apparatus, which is the chip component supplying apparatus 1 of the first embodiment.
This is an improvement of the elastic plate portion 1a. This seventh
In the embodiment, the elastic plate portion 1a has a cover body 1f made of a film of polyethylene phthalanol resin, aluminum or the like adhered to the upper surface thereof.
【0050】この実施例によれば、伸縮プレート1aの
スポンジがこのカバー体1fにより保護され、キャリア
プレート2と直接に接触することがないので、スポンジ
の摩耗を防止できる。また、柔軟なスポンジの上面にカ
バー体1fを接着しているので、このスポンジ部分の変
形がカバー体1fにより抑制され、隣接する収容空間1
aのピッチが一定となり、部品素体3が収容空間1eに
円滑に収容される。その他は、第1実施例と同様であ
る。According to this embodiment, the sponge of the expansion / contraction plate 1a is protected by the cover body 1f and does not come into direct contact with the carrier plate 2, so that abrasion of the sponge can be prevented. Further, since the cover body 1f is bonded to the upper surface of the flexible sponge, the deformation of the sponge portion is suppressed by the cover body 1f, and the adjacent accommodation space 1
The pitch of a becomes constant, and the component body 3 is smoothly accommodated in the accommodation space 1e. Others are the same as the first embodiment.
【0051】図20はチップ部品供給装置の第7実施例
を示すもので、前記第5実施例に係るチップ部品供給装
置50のコイルバネ50hの介在位置を変更したもので
ある。即ち、コイルバネ50hを収容空間50gを覆う
ように配置している。FIG. 20 shows a seventh embodiment of the chip component supplying apparatus, in which the interposing position of the coil spring 50h of the chip component supplying apparatus 50 according to the fifth embodiment is changed. That is, the coil spring 50h is arranged so as to cover the accommodation space 50g.
【0052】この実施例によれば、コイルバネ50hの
内側に収容空間50gが形成され、このコイルバネ50
hが収容空間50gへの部品素体案内機能を発揮する。
その他の第5実施例と同様である。According to this embodiment, the accommodation space 50g is formed inside the coil spring 50h.
h exhibits the function of guiding the component body to the accommodation space 50g.
It is similar to the other fifth embodiment.
【0053】[0053]
【発明の効果】以上説明したように、請求項1乃至請求
項7の発明によれば、ロードプレート或いはキャリアプ
レートの一方を他方に向かって移動さることにより、伸
縮プレート部が収縮して収容空間に収容されたチップ部
品素体をキャリアプレートの保持空間に移し換えること
ができる。従って、従来の如くチップ部品素体の移し換
え用のピンが不要となるため、部品点数が少なくなり、
また、均一にチップ部品素体をキャリアプレートに移し
換えることができる。As described above, according to the first to seventh aspects of the present invention, by moving one of the load plate and the carrier plate toward the other, the telescopic plate portion contracts to accommodate the accommodation space. It is possible to transfer the chip component body housed in the carrier plate to the holding space of the carrier plate. Therefore, unlike the conventional case, the pin for transferring the chip component body is not required, and the number of components is reduced,
Moreover, the chip component body can be uniformly transferred to the carrier plate.
【0054】請求項8の発明によれば、チップ部品素体
をロードプレートの収容空間に収容するとき、このチッ
プ部品素体が案内プレートの案内孔により収容空間に案
内されるため、チップ部品素体が収容空間に円滑に収容
される。According to the invention of claim 8, when the chip component element body is accommodated in the accommodation space of the load plate, the chip component element body is guided to the accommodation space by the guide hole of the guide plate. The body is smoothly accommodated in the accommodation space.
【図1】第1実施例に係るロードプレート及びキャリア
プレートの斜視図FIG. 1 is a perspective view of a load plate and a carrier plate according to a first embodiment.
【図2】第1実施例に係るロードプレートにチップ部品
素体を収容した状態を示す断面図FIG. 2 is a cross-sectional view showing a state where the chip component body is housed in the load plate according to the first embodiment.
【図3】第1実施例に係るチップ部品素体の移し換え状
態を示す断面図FIG. 3 is a cross-sectional view showing a transferred state of the chip component body according to the first embodiment.
【図4】第1実施例に係るチップ部品素体を導体ペース
トに浸漬した状態を示す断面図FIG. 4 is a sectional view showing a state where the chip component body according to the first embodiment is immersed in a conductor paste.
【図5】第1実施例に係るチップ部品素体に導体ペース
トが付着した状態を示す断面図FIG. 5 is a cross-sectional view showing a state in which a conductor paste is attached to the chip component body according to the first embodiment.
【図6】第2実施例に係るチップ部品素体の移し換え状
態を示す断面図FIG. 6 is a cross-sectional view showing a transferred state of the chip component body according to the second embodiment.
【図7】第2実施例に係るチップ部品素体のレベル調整
状態を示す断面図FIG. 7 is a cross-sectional view showing a level adjustment state of a chip component body according to a second embodiment.
【図8】第2実施例に係るチップ部品素体を導体ペース
トに浸漬した状態を示す断面図FIG. 8 is a cross-sectional view showing a state where the chip component body according to the second embodiment is immersed in a conductor paste.
【図9】第3実施例に係るロードプレートにチップ部品
素体を収容した状態を示す断面図FIG. 9 is a cross-sectional view showing a state where a chip component body is housed in a load plate according to a third embodiment.
【図10】第3実施例に係るチップ部品素体の移し換え
状態を示す断面図FIG. 10 is a cross-sectional view showing a transferred state of the chip component body according to the third embodiment.
【図11】第3実施例に係るチップ部品素体の反転状態
を示す断面図FIG. 11 is a cross-sectional view showing an inverted state of a chip component body according to a third embodiment.
【図12】第3実施例に係るチップ部品素体を導体ペー
ストに浸漬した状態を示す断面図FIG. 12 is a sectional view showing a state in which the chip component body according to the third embodiment is immersed in a conductor paste.
【図13】第3実施例に係るチップ部品素体に導体ペー
ストが付着した状態を示す断面図FIG. 13 is a cross-sectional view showing a state in which a conductor paste is attached to a chip component body according to a third embodiment.
【図14】案内プレートの一例が配置された状態を示す
断面図FIG. 14 is a cross-sectional view showing a state in which an example of a guide plate is arranged.
【図15】案内プレートの他の例が配置された状態を示
す断面図FIG. 15 is a cross-sectional view showing a state in which another example of the guide plate is arranged.
【図16】収容空間の他の例を示す断面図FIG. 16 is a sectional view showing another example of the accommodation space.
【図17】第5実施例に係るロードプレートにチップ部
品素体を収容した状態を示す断面図FIG. 17 is a cross-sectional view showing a state where the chip component body is housed in the load plate according to the fifth embodiment.
【図18】第5実施例に係るチップ部品素体の移し換え
状態を示す断面図FIG. 18 is a cross-sectional view showing a transferred state of the chip component body according to the fifth embodiment.
【図19】第6実施例に係るチップ部品供給装置を示す
断面図FIG. 19 is a sectional view showing a chip component supply device according to a sixth embodiment.
【図20】第7実施例に係るチップ部品供給装置を示す
断面図FIG. 20 is a sectional view showing a chip component supply device according to a seventh embodiment.
1,30,40,50…ロードプレート、1a,30
a,40a,50a…伸縮プレート部、1b,30b,
40b,50b…支持プレート部、1e,30c,40
e,50g…収容空間、2,20…キャリアプレート、
2c,20a…保持空間、3…チップ部品素体、6…外
部電極、8…案内プレート。1, 30, 40, 50 ... Load plate, 1a, 30
a, 40a, 50a ... Telescopic plate portion, 1b, 30b,
40b, 50b ... Support plate portion 1e, 30c, 40
e, 50g ... accommodation space, 2,20 ... carrier plate,
2c, 20a ... Holding space, 3 ... Chip component body, 6 ... External electrode, 8 ... Guide plate.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01G 13/00 391 7922−5E H01G 13/00 391B ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Internal reference number FI Technical indication H01G 13/00 391 7922-5E H01G 13/00 391B
Claims (8)
る収容空間を多数有するロードプレートと、該チップ部
品素体を弾性力で保持する保持空間を有するキャリアプ
レートとを用意し、該収容空間に収容されたチップ部品
素体を保持空間に移動し、しかる後、該保持空間に移動
したチップ部品素体に外部電極用の導体を付与するチッ
プ部品の外部電極形成方法において、 前記ロードプレートはチップ部品素体の挿入側に配置さ
れ厚さ方向に伸縮自在の伸縮プレート部と、該伸縮プレ
ート部側から挿入されたチップ部品素体を支持する支持
プレート部とからなり、該伸縮プレート部と該支持プレ
ート部を上下に配置して該収容空間にチップ部品素体を
収容する収容工程と、 前記収容工程の後に、前記ロードプレート又は前記キャ
リアプレートの一方を他方に向かって移動して前記収容
空間のチップ部品素体を前記保持空間側に移し換える移
し換え工程と、 前記移し換え工程の後に、前記保持空間に保持されたチ
ップ部品素体で前記キャリアプレートから突出している
一端側に前記導体を付与する導体付与工程とを有するこ
とを特徴するチップ部品の外部電極形成方法。1. A load plate having a large number of accommodating spaces for accommodating chip element bodies and accommodating the same, and a carrier plate having a retaining space for elastically retaining the chip component elements are prepared, and the accommodating space is prepared. In the external electrode forming method of the chip component, wherein the chip component body housed in the holding component is moved to the holding space, and thereafter, the conductor for external electrode is applied to the chip component body moved to the holding space. An expandable plate portion arranged on the insertion side of the chip component body and capable of expanding and contracting in the thickness direction, and a support plate portion supporting the chip component body inserted from the expandable plate portion side. An accommodating step of arranging the support plate portions vertically and accommodating a chip component element body in the accommodating space; And a transfer step of moving one toward the other to transfer the chip component body of the accommodation space to the holding space side, and the chip component body held in the holding space after the transfer step. And a conductor applying step of applying the conductor to one end side protruding from the carrier plate.
ポンジで形成されたことを特徴とする請求項1記載のチ
ップ部品の外部電極形成方法。2. The external electrode forming method for a chip part according to claim 1, wherein the elastic plate portion is formed of an elastic resin sponge.
たことを特徴とする請求項1記載のチップ部品の外部電
極形成方法。3. The method for forming an external electrode of a chip component according to claim 1, wherein the elastic plate portion has a spring means interposed.
縮したとき、前記チップ部品素体の高さ寸法より小さな
深さ寸法となることを特徴とする請求項1乃至請求項3
の何れか1項記載のチップ部品の外部電極形成方法。4. The depth dimension of the accommodation space is smaller than the height dimension of the chip component body when the expansion plate portion is contracted.
The external electrode forming method for a chip component according to any one of 1.
通する貫通孔と、該貫通孔に挿入されたピンの上端面と
の間に形成され、前記伸縮プレート部が収縮したとき、
前記チップ部品素体の高さ寸法より小さな深さ寸法とな
ることを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れか1項
記載のチップ部品の外部電極形成方法。5. The accommodation space is formed between a through hole penetrating the load plate and an upper end surface of a pin inserted into the through hole, and when the expandable plate portion contracts,
4. The external electrode forming method for a chip component according to claim 1, wherein the depth dimension is smaller than the height dimension of the chip component body.
貫通する貫通孔で形成するとともに、該キャリアプレー
トの厚さ寸法を前記チップ部品素体の高さ寸法より小さ
くしたことを特徴とする請求項1乃至請求項5の何れか
1項記載のチップ部品の外部電極形成方法。6. The holding space is formed by a through hole penetrating the carrier plate, and the thickness dimension of the carrier plate is smaller than the height dimension of the chip component body. A method for forming external electrodes of a chip component according to claim 5.
さ寸法より小さな深さの凹所で構成したことを特徴とす
る請求項1乃至請求項5の何れか1項記載のチップ部品
の外部電極形成方法。7. The chip part according to claim 1, wherein the holding space is formed by a recess having a depth smaller than a height dimension of the chip part body. External electrode formation method.
内する案内孔を有する案内プレートを用意し、該収容空
間にチップ部品素体を収容するとき、該案内プレートを
前記ロードプレート上に載置することを特徴とする請求
項1乃至請求項7の何れか1項記載のチップ部品の外部
電極形成方法。8. A guide plate having a guide hole for guiding the chip component body into the accommodation space is prepared, and when the chip component body is accommodated in the accommodation space, the guide plate is mounted on the load plate. The method for forming an external electrode of a chip component according to claim 1, wherein the external electrode is formed.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7171973A JPH0922812A (en) | 1995-07-07 | 1995-07-07 | Method of forming external electrode of chip part |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7171973A JPH0922812A (en) | 1995-07-07 | 1995-07-07 | Method of forming external electrode of chip part |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0922812A true JPH0922812A (en) | 1997-01-21 |
Family
ID=15933183
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7171973A Withdrawn JPH0922812A (en) | 1995-07-07 | 1995-07-07 | Method of forming external electrode of chip part |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0922812A (en) |
-
1995
- 1995-07-07 JP JP7171973A patent/JPH0922812A/en not_active Withdrawn
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