JPH09281188A - Ｉｃ試験装置 - Google Patents
Ｉｃ試験装置Info
- Publication number
- JPH09281188A JPH09281188A JP8092205A JP9220596A JPH09281188A JP H09281188 A JPH09281188 A JP H09281188A JP 8092205 A JP8092205 A JP 8092205A JP 9220596 A JP9220596 A JP 9220596A JP H09281188 A JPH09281188 A JP H09281188A
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- Japan
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- test
- performance board
- voltage
- testing device
- current
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 校正に要する時間を短時間に済ませることが
できるＩＣ試験装置を提供する。 【解決手段】 ＩＣ試験装置に備えた直流試験装置を利
用して試験装置の各部の電圧値及び電流値を校正するＩ
Ｃ試験装置において、試験装置２０とパフォーマンスボ
ード１０との間に、これら間を電気的に切離す切離手段
６０を設けた。
できるＩＣ試験装置を提供する。 【解決手段】 ＩＣ試験装置に備えた直流試験装置を利
用して試験装置の各部の電圧値及び電流値を校正するＩ
Ｃ試験装置において、試験装置２０とパフォーマンスボ
ード１０との間に、これら間を電気的に切離す切離手段
６０を設けた。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明はＩＣが正常に動作
するか否かを試験するＩＣ試験装置に関する。
するか否かを試験するＩＣ試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図３に従来のＩＣ試験装置の概略の構成
を示す。図中１０はパフォーマンスボード、１１はこの
パフォーマンスボード１０に搭載したＩＣソケット、１
２はこのＩＣソケット１１に接触させた被試験ＩＣ、１
３はパフォーマンスボード１０を電気的に試験装置に接
続するためのテストヘッド、１４はテストヘッド１３の
上面に突出して設けられたポゴピンと呼ばれる接触子を
示す。被試験ＩＣ１２の各端子はこの接触子１４とケー
ブル１５を介して試験装置２０に接続される。
を示す。図中１０はパフォーマンスボード、１１はこの
パフォーマンスボード１０に搭載したＩＣソケット、１
２はこのＩＣソケット１１に接触させた被試験ＩＣ、１
３はパフォーマンスボード１０を電気的に試験装置に接
続するためのテストヘッド、１４はテストヘッド１３の
上面に突出して設けられたポゴピンと呼ばれる接触子を
示す。被試験ＩＣ１２の各端子はこの接触子１４とケー
ブル１５を介して試験装置２０に接続される。
【０００３】試験装置２０は被試験ＩＣ１２の動作を試
験する機能試験装置３０と、被試験ＩＣ１２の各端子の
直流特性を測定するための直流試験装置４０と、被試験
ＩＣ１２の負荷試験を行なうプログラムロードテスト装
置５０とを具備して構成される。図では被試験ＩＣ１２
の１つの端子を試験する構成だけを示している。機能試
験装置３０は試験パターン信号を被試験ＩＣ１２に与え
るドライバ３１と、被試験ＩＣ１２の出力信号の波形が
所定の電圧の範囲に入っているか否かを判定するコンパ
レータ３２とを具備し、これらドライバ３１とコンパレ
ータ３２を介して被試験ＩＣ１２との信号の授受を行な
う。
験する機能試験装置３０と、被試験ＩＣ１２の各端子の
直流特性を測定するための直流試験装置４０と、被試験
ＩＣ１２の負荷試験を行なうプログラムロードテスト装
置５０とを具備して構成される。図では被試験ＩＣ１２
の１つの端子を試験する構成だけを示している。機能試
験装置３０は試験パターン信号を被試験ＩＣ１２に与え
るドライバ３１と、被試験ＩＣ１２の出力信号の波形が
所定の電圧の範囲に入っているか否かを判定するコンパ
レータ３２とを具備し、これらドライバ３１とコンパレ
ータ３２を介して被試験ＩＣ１２との信号の授受を行な
う。
【０００４】直流試験装置４０は正確な値を持つ電圧を
発生する電圧発生器と、正確な値を持つ電流を出力する
電流発生器と、電圧、電流測定器等を具備し、被試験Ｉ
Ｃ１２の端子に所定の電圧を与えた状態で予定した電流
が流れるか否かを見る電圧印加電流測定試験と、被試験
ＩＣ１２の端子に所定の電流を流した状態でその端子に
予定した電圧が発生するか否かを見る電流印加電圧測定
試験を行なう。
発生する電圧発生器と、正確な値を持つ電流を出力する
電流発生器と、電圧、電流測定器等を具備し、被試験Ｉ
Ｃ１２の端子に所定の電圧を与えた状態で予定した電流
が流れるか否かを見る電圧印加電流測定試験と、被試験
ＩＣ１２の端子に所定の電流を流した状態でその端子に
予定した電圧が発生するか否かを見る電流印加電圧測定
試験を行なう。
【０００５】プログラムロードテスト装置５０は負荷抵
抗器５１と、ダイオードブリッジ５２と、電流源５３，
５４と、可変電圧源５５と、スイッチ５６とを具備して
構成される。スイッチ５６をオンの状態に設定し、被試
験ＩＣ１２の端子に負荷抵抗器５１を接続した状態で被
試験ＩＣ１２から信号を出力させる。この信号の波形を
機能試験装置３０に設けたコンパレータを通じて取り込
み、立上り速度、立下り速度を計測し、出力波形の立上
り速度及び立下り速度が予定した規格の範囲に入ってい
るか否かを試験する。また、他の試験として、スイッチ
５６をオフに設定し、可変電圧源５５の電圧を被試験Ｉ
Ｃ１２の出力波形の中間の電圧ＶＴに設定し、被試験Ｉ
Ｃ１２から出力信号を出力させる。出力信号がＬ論理に
ある状態では被試験ＩＣ１２の端子の電圧が可変電圧源
５５に設定した電圧ＶＴより低いので、ダイオードブリ
ッジ５２を通じて電流源５３を流れる電流ＩＰが被試験
ＩＣ１２の端子に流れ込む状態となる。また、被試験Ｉ
Ｃ１２の端子がＨ論理を出力した状態では、この端子の
電圧が可変電圧源５５の電圧ＶＴより高くなるので、こ
の場合には被試験ＩＣ１２の端子から電流ＩＮが流れ出
し、この電流ＩＮが電流源５４に吸引される。この試験
により、被試験ＩＣ１２がＬ論理の状態と、Ｈ論理の状
態で出力端子に所定の電流を出力するか否かを試験して
いる。
抗器５１と、ダイオードブリッジ５２と、電流源５３，
５４と、可変電圧源５５と、スイッチ５６とを具備して
構成される。スイッチ５６をオンの状態に設定し、被試
験ＩＣ１２の端子に負荷抵抗器５１を接続した状態で被
試験ＩＣ１２から信号を出力させる。この信号の波形を
機能試験装置３０に設けたコンパレータを通じて取り込
み、立上り速度、立下り速度を計測し、出力波形の立上
り速度及び立下り速度が予定した規格の範囲に入ってい
るか否かを試験する。また、他の試験として、スイッチ
５６をオフに設定し、可変電圧源５５の電圧を被試験Ｉ
Ｃ１２の出力波形の中間の電圧ＶＴに設定し、被試験Ｉ
Ｃ１２から出力信号を出力させる。出力信号がＬ論理に
ある状態では被試験ＩＣ１２の端子の電圧が可変電圧源
５５に設定した電圧ＶＴより低いので、ダイオードブリ
ッジ５２を通じて電流源５３を流れる電流ＩＰが被試験
ＩＣ１２の端子に流れ込む状態となる。また、被試験Ｉ
Ｃ１２の端子がＨ論理を出力した状態では、この端子の
電圧が可変電圧源５５の電圧ＶＴより高くなるので、こ
の場合には被試験ＩＣ１２の端子から電流ＩＮが流れ出
し、この電流ＩＮが電流源５４に吸引される。この試験
により、被試験ＩＣ１２がＬ論理の状態と、Ｈ論理の状
態で出力端子に所定の電流を出力するか否かを試験して
いる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述したように試験装
置２０は各種の試験を行なうが、試験の信頼性を確保す
るためには各試験装置の出力電圧、出力電流が正しく校
正されていなければならない。例えば機能試験装置３０
ではドライバ３１から出力される試験パターン信号のＬ
論理の電圧、Ｈ論理の電圧が正しく設定されているか否
か、コンパレータのスレッシュホールド電圧が予定して
いる電圧に設定されているか否か、或はプログラムロー
ドテスト装置５０では電流源５３と５４の電流が予め予
定した電流値に設定されているか否か、可変電圧源５５
の電圧が正しい値であるか否か、等を校正する必要があ
る。
置２０は各種の試験を行なうが、試験の信頼性を確保す
るためには各試験装置の出力電圧、出力電流が正しく校
正されていなければならない。例えば機能試験装置３０
ではドライバ３１から出力される試験パターン信号のＬ
論理の電圧、Ｈ論理の電圧が正しく設定されているか否
か、コンパレータのスレッシュホールド電圧が予定して
いる電圧に設定されているか否か、或はプログラムロー
ドテスト装置５０では電流源５３と５４の電流が予め予
定した電流値に設定されているか否か、可変電圧源５５
の電圧が正しい値であるか否か、等を校正する必要があ
る。
【０００７】これらの校正を行なう場合、直流試験装置
４０に設けられた電圧発生器、電流発生器と、電圧、電
流測定器を利用して校正を行なっている。この校正を行
なう場合、従来はパフォーマンスボード１０を取外し、
ケーブル１５の先に何も接続されない状態にして各部の
電圧、電流を直流試験装置４０によって測定している。
つまり、パフォーマンスボード１０には各種の回路が接
続されているため、パフォーマンスボード１０上の回路
が負荷となって校正に影響を与えるため、パフォーマン
スボード１０を取外して校正を行なう必要がある。
４０に設けられた電圧発生器、電流発生器と、電圧、電
流測定器を利用して校正を行なっている。この校正を行
なう場合、従来はパフォーマンスボード１０を取外し、
ケーブル１５の先に何も接続されない状態にして各部の
電圧、電流を直流試験装置４０によって測定している。
つまり、パフォーマンスボード１０には各種の回路が接
続されているため、パフォーマンスボード１０上の回路
が負荷となって校正に影響を与えるため、パフォーマン
スボード１０を取外して校正を行なう必要がある。
【０００８】パフォーマンスボード１０をテストヘッド
１３から取外すには少なくとも数人の人手を要し、簡単
な作業でなく、取外しとその復旧作業だけで長い時間が
とられ、更に校正作業に要する時間が加わるため、ダウ
ンタイム（不作動時間）が長くなる。この結果ＩＣ試験
の効率が悪くなる欠点がある。この発明の目的は校正作
業を短時間に済ませることができるＩＣ試験装置を提供
しようとするものである。
１３から取外すには少なくとも数人の人手を要し、簡単
な作業でなく、取外しとその復旧作業だけで長い時間が
とられ、更に校正作業に要する時間が加わるため、ダウ
ンタイム（不作動時間）が長くなる。この結果ＩＣ試験
の効率が悪くなる欠点がある。この発明の目的は校正作
業を短時間に済ませることができるＩＣ試験装置を提供
しようとするものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この発明では被試験ＩＣ
の各端子の直流特性を試験する直流試験装置を利用して
ＩＣの機能試験を行なう機能試験装置及びプログラムロ
ードテスト装置の各部の電圧値及び電流値を校正するＩ
Ｃ試験装置において、試験装置とパフォーマンスボード
との間にパフォーマンスボードを電気的に切離す手段を
設けた構成とするものである。
の各端子の直流特性を試験する直流試験装置を利用して
ＩＣの機能試験を行なう機能試験装置及びプログラムロ
ードテスト装置の各部の電圧値及び電流値を校正するＩ
Ｃ試験装置において、試験装置とパフォーマンスボード
との間にパフォーマンスボードを電気的に切離す手段を
設けた構成とするものである。
【００１０】この発明の構成によれば試験装置とパフォ
ーマンスボードを電気的に切離す手段を設けたから、こ
の切離し手段によってパフォーマンスボードをテストヘ
ッドの上から取外さなくても試験装置各部の校正を行な
うことができる。この結果短時間に試験装置各部の校正
を行なうことができ、ＩＣ試験装置を不作動状態におく
時間を大幅に少なくできる利点が得られる。
ーマンスボードを電気的に切離す手段を設けたから、こ
の切離し手段によってパフォーマンスボードをテストヘ
ッドの上から取外さなくても試験装置各部の校正を行な
うことができる。この結果短時間に試験装置各部の校正
を行なうことができ、ＩＣ試験装置を不作動状態におく
時間を大幅に少なくできる利点が得られる。
【００１１】
【発明の実施の形態】図１にこの発明によるＩＣ試験装
置の一実施例を示す。図３と対応する部分には同一符号
を付して示す。この実施例では試験装置２０とケーブル
１５との間にスイッチを接続し、このスイッチを切離手
段６０とした場合を示す。この切離手段６０を設けたこ
とによりパフォーマンスボード１０をテストヘッド１３
の上から取外さなくても試験装置２０からパフォーマン
スボード１０を電気的に切離すことができる。
置の一実施例を示す。図３と対応する部分には同一符号
を付して示す。この実施例では試験装置２０とケーブル
１５との間にスイッチを接続し、このスイッチを切離手
段６０とした場合を示す。この切離手段６０を設けたこ
とによりパフォーマンスボード１０をテストヘッド１３
の上から取外さなくても試験装置２０からパフォーマン
スボード１０を電気的に切離すことができる。
【００１２】従ってスイッチ操作だけで校正作業に取り
掛ることができる。また校正の終了時点でもスイッチ操
作だけで復旧することができるから、校正に要する時間
を短時間にすることができる利点が得られる。図２はこ
の発明の他の実施例を示す。図２に示す実施例ではパフ
ォーマンスボード１０をテストヘッド１３に抑え付ける
抑え付け手段７０に、パフォーマンスボード１０のロッ
クを解いた状態でパフォーマンスボード１０を接触子１
４から引き離す切離手段６０を付加した構成としたもの
である。この実施例に示す切離手段６０は、パフォーマ
ンスボード１０を接触子１４の可動ストローク（ポゴピ
ンは先端にバネによって突出する向に偏倚力が与えられ
た可動部分を有し、その可動部分のストローク）以上に
移動させる手段で構成される。図２の例ではレバー７１
によって抑え付け手段７０と切離手段６０を移動させる
ように構成した場合を示す。
掛ることができる。また校正の終了時点でもスイッチ操
作だけで復旧することができるから、校正に要する時間
を短時間にすることができる利点が得られる。図２はこ
の発明の他の実施例を示す。図２に示す実施例ではパフ
ォーマンスボード１０をテストヘッド１３に抑え付ける
抑え付け手段７０に、パフォーマンスボード１０のロッ
クを解いた状態でパフォーマンスボード１０を接触子１
４から引き離す切離手段６０を付加した構成としたもの
である。この実施例に示す切離手段６０は、パフォーマ
ンスボード１０を接触子１４の可動ストローク（ポゴピ
ンは先端にバネによって突出する向に偏倚力が与えられ
た可動部分を有し、その可動部分のストローク）以上に
移動させる手段で構成される。図２の例ではレバー７１
によって抑え付け手段７０と切離手段６０を移動させる
ように構成した場合を示す。
【００１３】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、切離手段６０によってパフォーマンスボード１０を
試験装置２０から電気的に切離すことができる。従って
パフォーマンスボード１０をテストヘッド１３から取外
す作業を行なわなくて済むため、試験装置２０の各部の
校正を短時間に済ませることができる。よってＩＣ試験
を効率よく実施することができる利点が得られる。
ば、切離手段６０によってパフォーマンスボード１０を
試験装置２０から電気的に切離すことができる。従って
パフォーマンスボード１０をテストヘッド１３から取外
す作業を行なわなくて済むため、試験装置２０の各部の
校正を短時間に済ませることができる。よってＩＣ試験
を効率よく実施することができる利点が得られる。
【図１】この発明の一実施例を示す接続図。
【図２】この発明の変形実施例を示す側面図。
【図３】従来の技術を説明するための接続図。
１０ パフォーマンスボード １１ ＩＣソケット １２ 被試験ＩＣ １３ テストヘッド １４ 接触子 １５ ケーブル ２０ 試験装置 ３０ 機能試験装置 ４０ 直流試験装置 ５０ プログラムロードテスト装置 ６０ 切離手段
Claims (1)
- 【請求項１】 被試験ＩＣを搭載するパフォーマンスボ
ードと、このパフォーマンスボードに設けた各端子を試
験装置に接続するためのテストヘッドとを具備して構成
されるＩＣ試験装置において、 上記テストヘッドとパフォーマンスボードとの間を電気
的に切離す手段を設けたことを特徴とするＩＣ試験装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8092205A JPH09281188A (ja) | 1996-04-15 | 1996-04-15 | Ｉｃ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8092205A JPH09281188A (ja) | 1996-04-15 | 1996-04-15 | Ｉｃ試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09281188A true JPH09281188A (ja) | 1997-10-31 |
Family
ID=14047953
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8092205A Withdrawn JPH09281188A (ja) | 1996-04-15 | 1996-04-15 | Ｉｃ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09281188A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001029571A1 (en) * | 1999-10-19 | 2001-04-26 | Teradyne, Inc. | Circuit and method for improved test and calibration in automated test equipment |
-
1996
- 1996-04-15 JP JP8092205A patent/JPH09281188A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001029571A1 (en) * | 1999-10-19 | 2001-04-26 | Teradyne, Inc. | Circuit and method for improved test and calibration in automated test equipment |
| US6331783B1 (en) | 1999-10-19 | 2001-12-18 | Teradyne, Inc. | Circuit and method for improved test and calibration in automated test equipment |
| JP2003512630A (ja) * | 1999-10-19 | 2003-04-02 | テラダイン・インコーポレーテッド | 自動試験装置における改良試験及び較正回路及び方法 |
| KR100731344B1 (ko) * | 1999-10-19 | 2007-06-21 | 테라다인 인코퍼레이티드 | 자동화된 테스트 장비에서 테스트 및 교정하기 위한 회로및 그 방법 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20030701 |