JPH09283932A - 多層プリント配線板の製造方法 - Google Patents
多層プリント配線板の製造方法Info
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- JPH09283932A JPH09283932A JP11191796A JP11191796A JPH09283932A JP H09283932 A JPH09283932 A JP H09283932A JP 11191796 A JP11191796 A JP 11191796A JP 11191796 A JP11191796 A JP 11191796A JP H09283932 A JPH09283932 A JP H09283932A
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 141
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims abstract description 84
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims abstract description 44
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 35
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims abstract description 18
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 16
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 16
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 5
- 239000006082 mold release agent Substances 0.000 claims description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract description 6
- 238000007788 roughening Methods 0.000 abstract description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 10
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 10
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 7
- VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L Calcium carbonate Chemical compound [Ca+2].[O-]C([O-])=O VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 5
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 description 4
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 206010040844 Skin exfoliation Diseases 0.000 description 3
- 229910000019 calcium carbonate Inorganic materials 0.000 description 3
- NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N fluoromethane Chemical compound FC NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N imidazole Natural products C1=CNC=N1 RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000003973 alkyl amines Chemical class 0.000 description 2
- 125000000129 anionic group Chemical group 0.000 description 2
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 2
- 125000002091 cationic group Chemical group 0.000 description 2
- NEHMKBQYUWJMIP-UHFFFAOYSA-N chloromethane Chemical compound ClC NEHMKBQYUWJMIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- -1 fluorocarbon carboxylate Chemical class 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 2
- BFKJFAAPBSQJPD-UHFFFAOYSA-N tetrafluoroethene Chemical group FC(F)=C(F)F BFKJFAAPBSQJPD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NQBXSWAWVZHKBZ-UHFFFAOYSA-N 2-butoxyethyl acetate Chemical compound CCCCOCCOC(C)=O NQBXSWAWVZHKBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N Phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1 ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L Sulfate Chemical compound [O-]S([O-])(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- ZMJZYXKPJWGDGR-UHFFFAOYSA-N aminosulfamic acid Chemical compound NNS(O)(=O)=O ZMJZYXKPJWGDGR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L chromic acid Substances O[Cr](O)(=O)=O KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 description 1
- 125000004428 fluoroalkoxy group Chemical group 0.000 description 1
- AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N furo[3,4-b]pyrazine-5,7-dione Chemical compound C1=CN=C2C(=O)OC(=O)C2=N1 AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229940050176 methyl chloride Drugs 0.000 description 1
- 239000002736 nonionic surfactant Substances 0.000 description 1
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 description 1
- ZMLDXWLZKKZVSS-UHFFFAOYSA-N palladium tin Chemical compound [Pd].[Sn] ZMLDXWLZKKZVSS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 150000003242 quaternary ammonium salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- NVBFHJWHLNUMCV-UHFFFAOYSA-N sulfamide Chemical compound NS(N)(=O)=O NVBFHJWHLNUMCV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M sulfonate Chemical compound [O-]S(=O)=O BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 バイアホール形成用の開口穴の内壁及び層間
絶縁層の表面を容易かつ低コストで粗化することがで
き,層間絶縁層の耐久性に優れた,多層プリント配線板
の製造方法を提供する。 【解決手段】 第1導体回路層51におけるバイアホー
ル形成位置に,少なくともその表面には離型剤を含有し
ているホール成形用柱1を配置する。ホール成形用柱の
頂部17を露出させた状態で,第1導体回路層の表面に
層間絶縁層6を形成する。ホール成形用柱1を取り去っ
た後,層間絶縁層の上面にアンカー形成用粉末4を載置
し,押圧,加熱してアンカー形成用粉末を層間絶縁層の
表面及び開口穴の内壁に埋設する。アンカー形成用粉末
を除去することにより,層間絶縁層の表面及び開口穴の
内壁面を粗化し,これらの表面に金属層を被覆する。
絶縁層の表面を容易かつ低コストで粗化することがで
き,層間絶縁層の耐久性に優れた,多層プリント配線板
の製造方法を提供する。 【解決手段】 第1導体回路層51におけるバイアホー
ル形成位置に,少なくともその表面には離型剤を含有し
ているホール成形用柱1を配置する。ホール成形用柱の
頂部17を露出させた状態で,第1導体回路層の表面に
層間絶縁層6を形成する。ホール成形用柱1を取り去っ
た後,層間絶縁層の上面にアンカー形成用粉末4を載置
し,押圧,加熱してアンカー形成用粉末を層間絶縁層の
表面及び開口穴の内壁に埋設する。アンカー形成用粉末
を除去することにより,層間絶縁層の表面及び開口穴の
内壁面を粗化し,これらの表面に金属層を被覆する。
Description
【0001】
【技術分野】本発明は,導体回路層と層間絶縁層とを交
互に積層することにより,多層プリント配線板を製造す
る,多層プリント配線板の製造方法に関する。
互に積層することにより,多層プリント配線板を製造す
る,多層プリント配線板の製造方法に関する。
【0002】
【従来技術】従来,図15に示すごとく,導体回路層9
0と層間絶縁層93とを交互にビルトアップしてなる多
層プリント配線板9がある。上記多層プリント配線板を
製造する方法としては,従来,例えば,特開平5─10
2669号公報に示す方法がある。
0と層間絶縁層93とを交互にビルトアップしてなる多
層プリント配線板9がある。上記多層プリント配線板を
製造する方法としては,従来,例えば,特開平5─10
2669号公報に示す方法がある。
【0003】即ち,まず,図13に示すごとく,絶縁基
板91の表面に導体回路層90を形成し,その表面にバ
イアホール形成用のホール成形用柱92を形成する。次
いで,絶縁基板91の表面を層間絶縁層93により被覆
する。次いで,ホール成形用柱92の頂部を被覆する層
間絶縁層93をバフ研磨することにより,除去する。次
いで,導体回路層90から除去して,図14に示すごと
く,導体回路層90に達する開口穴95を形成する。
板91の表面に導体回路層90を形成し,その表面にバ
イアホール形成用のホール成形用柱92を形成する。次
いで,絶縁基板91の表面を層間絶縁層93により被覆
する。次いで,ホール成形用柱92の頂部を被覆する層
間絶縁層93をバフ研磨することにより,除去する。次
いで,導体回路層90から除去して,図14に示すごと
く,導体回路層90に達する開口穴95を形成する。
【0004】次いで,酸化剤等によって層間絶縁層93
の表面粗化処理を行う。これにより,層間絶縁層93に
含まれるフィラーだけが溶解して,層間絶縁層93の表
面が粗化される。次いで,図15に示すごとく,絶縁基
板91を貫通する貫通穴98を穿設する。その後,層間
絶縁層93の表面には導体回路層96を,また開口穴9
5,貫通穴98の内壁面には金属層97を形成する。こ
れにより,多層プリント配線板9を得る。
の表面粗化処理を行う。これにより,層間絶縁層93に
含まれるフィラーだけが溶解して,層間絶縁層93の表
面が粗化される。次いで,図15に示すごとく,絶縁基
板91を貫通する貫通穴98を穿設する。その後,層間
絶縁層93の表面には導体回路層96を,また開口穴9
5,貫通穴98の内壁面には金属層97を形成する。こ
れにより,多層プリント配線板9を得る。
【0005】この製造方法においては,ホール成形用柱
92は,感光性樹脂層の露光,現像により形成されるた
め,穴あけ精度が良い。また,層間絶縁層の表面粗化処
理により,層間絶縁層93の表面及び開口穴95の内壁
面に微細な窪み930が形成される。この窪み930に
よって,導体回路層96及び金属層97のアンカー効果
が高められ,両者の密着強度が向上する。
92は,感光性樹脂層の露光,現像により形成されるた
め,穴あけ精度が良い。また,層間絶縁層の表面粗化処
理により,層間絶縁層93の表面及び開口穴95の内壁
面に微細な窪み930が形成される。この窪み930に
よって,導体回路層96及び金属層97のアンカー効果
が高められ,両者の密着強度が向上する。
【0006】
【解決しようとする課題】しかしながら,上記従来の多
層プリント配線板の製造方法においては,バイアホール
形成用のホール成形用柱を除去するに当たって,図13
に示すごとく,その頂部927を被覆する外側導体93
を研磨除去しなければならない。そして,その研磨厚み
は数十μm程度と薄いものの,平行に研磨しないと,絶
縁基板91上の導体回路層90が露出したり,断線する
おそれがある。そのため,精度の高い平行研磨装置を必
要とし,コスト高となる。また,層間絶縁層93の上面
を数十μm程度に平行に研磨することは困難である。
層プリント配線板の製造方法においては,バイアホール
形成用のホール成形用柱を除去するに当たって,図13
に示すごとく,その頂部927を被覆する外側導体93
を研磨除去しなければならない。そして,その研磨厚み
は数十μm程度と薄いものの,平行に研磨しないと,絶
縁基板91上の導体回路層90が露出したり,断線する
おそれがある。そのため,精度の高い平行研磨装置を必
要とし,コスト高となる。また,層間絶縁層93の上面
を数十μm程度に平行に研磨することは困難である。
【0007】また,層間絶縁層93の表面粗化処理によ
って,その表面部分に含まれるフィラーは除去される
が,層間絶縁層93の内部に含まれるフィラーは除去さ
れない。そのため,多量のフィラーが層間絶縁層93の
中に残存したまま,多層プリント配線板が使用に供され
る。すると,使用中の加熱冷却等,過酷な環境に晒され
た場合には,層間絶縁層93とフィラーとの熱膨張係数
の相違により,層間絶縁層93が劣化する場合がある。
って,その表面部分に含まれるフィラーは除去される
が,層間絶縁層93の内部に含まれるフィラーは除去さ
れない。そのため,多量のフィラーが層間絶縁層93の
中に残存したまま,多層プリント配線板が使用に供され
る。すると,使用中の加熱冷却等,過酷な環境に晒され
た場合には,層間絶縁層93とフィラーとの熱膨張係数
の相違により,層間絶縁層93が劣化する場合がある。
【0008】本発明はかかる従来の問題点に鑑み,バイ
アホール形成用の開口穴の内壁及び層間絶縁層の表面を
容易かつ低コストで粗化することができ,層間絶縁層の
耐久性に優れた,多層プリント配線板の製造方法を提供
しようとするものである。
アホール形成用の開口穴の内壁及び層間絶縁層の表面を
容易かつ低コストで粗化することができ,層間絶縁層の
耐久性に優れた,多層プリント配線板の製造方法を提供
しようとするものである。
【0009】
【課題の解決手段】請求項1に記載の発明は,絶縁基板
上に導体回路層と層間絶縁層とを交互にビルトアップし
て,バイアホールを有する多層プリント配線板を製造す
るに当たり,上記絶縁基板に第1導体回路層を形成し,
次いで,該第1導体回路層におけるバイアホール形成位
置に,少なくとも表面に離型剤を含有するホール成形用
柱を配置し,次いで,上記ホール成形用柱の頂部を露出
させた状態で,上記ホール成形用柱の側壁を取り巻くよ
うにして,上記第1導体回路層の表面に上記層間絶縁層
を形成し,次いで,上記ホール成形用柱を取り去って第
1導体回路層に達する開口穴を形成し,次いで,上記層
間絶縁層の上面及び上記開口穴内にアンカー形成用粉末
を配置し,次いで,押圧,加熱して,上記アンカー形成
用粉末を層間絶縁層の表面及び上記開口穴の内壁面に埋
設し,次いで,溶剤を用いて上記アンカー形成用粉末を
溶解除去することにより,層間絶縁層の表面を粗化表面
となすと共に上記開口穴の内壁面を粗化内壁面となし,
その後,層間絶縁層の粗化表面及び開口穴の粗化内壁面
を金属層により被覆して,第2導体回路層及びバイアホ
ールを形成することを特徴とする多層プリント配線板の
製造方法である。
上に導体回路層と層間絶縁層とを交互にビルトアップし
て,バイアホールを有する多層プリント配線板を製造す
るに当たり,上記絶縁基板に第1導体回路層を形成し,
次いで,該第1導体回路層におけるバイアホール形成位
置に,少なくとも表面に離型剤を含有するホール成形用
柱を配置し,次いで,上記ホール成形用柱の頂部を露出
させた状態で,上記ホール成形用柱の側壁を取り巻くよ
うにして,上記第1導体回路層の表面に上記層間絶縁層
を形成し,次いで,上記ホール成形用柱を取り去って第
1導体回路層に達する開口穴を形成し,次いで,上記層
間絶縁層の上面及び上記開口穴内にアンカー形成用粉末
を配置し,次いで,押圧,加熱して,上記アンカー形成
用粉末を層間絶縁層の表面及び上記開口穴の内壁面に埋
設し,次いで,溶剤を用いて上記アンカー形成用粉末を
溶解除去することにより,層間絶縁層の表面を粗化表面
となすと共に上記開口穴の内壁面を粗化内壁面となし,
その後,層間絶縁層の粗化表面及び開口穴の粗化内壁面
を金属層により被覆して,第2導体回路層及びバイアホ
ールを形成することを特徴とする多層プリント配線板の
製造方法である。
【0010】本発明において最も注目すべきことは,第
1導体回路層の表面に,ホール成形用柱の側壁を取り巻
くようにして層間絶縁層を形成すること,及びホール成
形用柱を取り去った後にその抜け跡である開口穴の中及
び層間絶縁層の表面にアンカー形成用粉末を配置し,押
圧,加熱することによって,開口穴の内壁面及び層間絶
縁層の表面を粗化することである。
1導体回路層の表面に,ホール成形用柱の側壁を取り巻
くようにして層間絶縁層を形成すること,及びホール成
形用柱を取り去った後にその抜け跡である開口穴の中及
び層間絶縁層の表面にアンカー形成用粉末を配置し,押
圧,加熱することによって,開口穴の内壁面及び層間絶
縁層の表面を粗化することである。
【0011】次に,本発明の作用効果について説明す
る。本発明の多層プリント配線板の製造方法において
は,第1導体回路層の表面に,ホール成形用柱の側壁を
取り巻くようにして層間絶縁層を形成している。そのた
め,ホール成形用柱の頂部は層間絶縁層により被覆され
ず,露出している。それ故,層間絶縁層を研磨すること
なく,ホール成形用柱を取り去ることができ,多層プリ
ント配線板の製造が容易となる。
る。本発明の多層プリント配線板の製造方法において
は,第1導体回路層の表面に,ホール成形用柱の側壁を
取り巻くようにして層間絶縁層を形成している。そのた
め,ホール成形用柱の頂部は層間絶縁層により被覆され
ず,露出している。それ故,層間絶縁層を研磨すること
なく,ホール成形用柱を取り去ることができ,多層プリ
ント配線板の製造が容易となる。
【0012】また,ホール成形用柱を取り去った跡であ
る開口穴の内壁,及び層間絶縁層の表面には,アンカー
形成用粉末を埋設し,その後アンカー形成用粉末を溶解
除去している。そのため,開口穴には粗化表面が,層間
絶縁層には粗化表面が形成されて,これらの表面にはア
ンカー形成用粉末が残らない。また,層間絶縁層の内部
にも異物が存在しない。従って,層間絶縁層が,異物と
の熱膨張差によって劣化することはなく,耐久性に優れ
ている。
る開口穴の内壁,及び層間絶縁層の表面には,アンカー
形成用粉末を埋設し,その後アンカー形成用粉末を溶解
除去している。そのため,開口穴には粗化表面が,層間
絶縁層には粗化表面が形成されて,これらの表面にはア
ンカー形成用粉末が残らない。また,層間絶縁層の内部
にも異物が存在しない。従って,層間絶縁層が,異物と
の熱膨張差によって劣化することはなく,耐久性に優れ
ている。
【0013】また,層間絶縁層の表面及び開口穴の内壁
に対して,アンカー形成用粉末を配置し,これを押圧,
加熱している。そのため,層間絶縁層の表面及び開口穴
の内壁に,均一な厚みにアンカー形成用粉末が埋設され
る。そのため,アンカー形成用粉末の除去により,層間
絶縁層の表面には粗化表面が,また開口穴の内壁面には
粗化内壁面が,均一に形成される。
に対して,アンカー形成用粉末を配置し,これを押圧,
加熱している。そのため,層間絶縁層の表面及び開口穴
の内壁に,均一な厚みにアンカー形成用粉末が埋設され
る。そのため,アンカー形成用粉末の除去により,層間
絶縁層の表面には粗化表面が,また開口穴の内壁面には
粗化内壁面が,均一に形成される。
【0014】従って,層間絶縁層の粗化表面と金属層と
の間,及び開口穴の粗化内壁面と金属層との間に,アン
カー効果によって,均一な密着力が得られ,金属層が剥
離するおそれはない。また,従来のごとく,上記平行研
磨装置は必要としないため,低コストで多層プリント配
線板を製造することができる。
の間,及び開口穴の粗化内壁面と金属層との間に,アン
カー効果によって,均一な密着力が得られ,金属層が剥
離するおそれはない。また,従来のごとく,上記平行研
磨装置は必要としないため,低コストで多層プリント配
線板を製造することができる。
【0015】また,上記ホール成形用柱は,感光性樹脂
で作製されていることが好ましい。これにより,感光性
樹脂を露光,現像することにより,ホール成形用柱の形
成位置精度が良い。そのため,0.1mm程度の径の小
さいバイアホールであっても正確に形成することができ
る。
で作製されていることが好ましい。これにより,感光性
樹脂を露光,現像することにより,ホール成形用柱の形
成位置精度が良い。そのため,0.1mm程度の径の小
さいバイアホールであっても正確に形成することができ
る。
【0016】また,ホール成形用柱には,少なくともそ
の表面に離型剤を含有している。離型剤は,ホール成形
用柱の中に混合されていることが好ましい。これによ
り,ホール成形用柱全体が,層間絶縁層に対して優れた
離型性を発揮し,ホール成形用柱を層間絶縁層から取去
し易くなり,開口穴を損傷させない。また,ホール成形
用柱の成形と同時にその表面に離型剤を含有させること
ができ,ホール成形用柱の作製が容易である。また,離
型剤は,上記ホール成形用柱の表面に塗布されていても
よい。これにより,離型剤の使用量の減少化を図ること
ができる。
の表面に離型剤を含有している。離型剤は,ホール成形
用柱の中に混合されていることが好ましい。これによ
り,ホール成形用柱全体が,層間絶縁層に対して優れた
離型性を発揮し,ホール成形用柱を層間絶縁層から取去
し易くなり,開口穴を損傷させない。また,ホール成形
用柱の成形と同時にその表面に離型剤を含有させること
ができ,ホール成形用柱の作製が容易である。また,離
型剤は,上記ホール成形用柱の表面に塗布されていても
よい。これにより,離型剤の使用量の減少化を図ること
ができる。
【0017】そして,離型剤は,フッ素系離型剤である
ことが好ましい。これにより,ホール成形用柱が開口穴
の壁面から,一層剥がれやすくなり,ホール成形用柱の
除去が容易となる。上記フッ素系離型剤としては,例え
ば,アニオン系,カチオン系,ノニオン系,又は両性の
フッ素界面活性剤,低分子量四フッ化エチレン樹脂があ
る。これらの離型剤は,ホール成形用柱の表面の滑り性
を一層良くする。
ことが好ましい。これにより,ホール成形用柱が開口穴
の壁面から,一層剥がれやすくなり,ホール成形用柱の
除去が容易となる。上記フッ素系離型剤としては,例え
ば,アニオン系,カチオン系,ノニオン系,又は両性の
フッ素界面活性剤,低分子量四フッ化エチレン樹脂があ
る。これらの離型剤は,ホール成形用柱の表面の滑り性
を一層良くする。
【0018】上記アニオン系フッ素系界面活性剤として
は,フルオロアルコキシポリフルオロアルキル硫酸エス
テル,フルオロカーボンスルホン酸塩,フルオロカーボ
ンカルボン酸塩等がある。上記カチオン系フッ素系界面
活性剤としては,N−フルオロアルキルスルホンアミド
アルキルアミン第4級アンモニウム塩,N−フルオロア
ルキルスルホンアミドアルキルアミン塩等がある。
は,フルオロアルコキシポリフルオロアルキル硫酸エス
テル,フルオロカーボンスルホン酸塩,フルオロカーボ
ンカルボン酸塩等がある。上記カチオン系フッ素系界面
活性剤としては,N−フルオロアルキルスルホンアミド
アルキルアミン第4級アンモニウム塩,N−フルオロア
ルキルスルホンアミドアルキルアミン塩等がある。
【0019】上記ノニオン系界面活性剤としては,フル
オロカーボンスルホアミド,フルオロカーボンアミノス
ルホアミド等がある。上記両性フッ素系界面活性剤とし
ては,ベタイン型フルオロカーボンスルホアミド結合を
有するアルキルアミン,ベタイン型フルオロカーボン酸
アミド結合を有するアルキルアミン等がある。
オロカーボンスルホアミド,フルオロカーボンアミノス
ルホアミド等がある。上記両性フッ素系界面活性剤とし
ては,ベタイン型フルオロカーボンスルホアミド結合を
有するアルキルアミン,ベタイン型フルオロカーボン酸
アミド結合を有するアルキルアミン等がある。
【0020】また,上記溶剤は酸化剤であり,上記アン
カー形成用粉末は該酸化剤によって溶解可能な粉末であ
ることが好ましい。これにより,アンカー形成用粉末の
溶解除去が容易となり,層間絶縁層の粗化表面にアンカ
ー形成用粉末が残るおそれはない。かかるアンカー形成
用粉末としては,例えば,炭酸カルシウム微粉末,エポ
キシ系樹脂微粉末,銅微粉末シリカ超微粉末等を用いる
ことができる。上記酸化剤としては,クロム酸,塩酸等
がある。
カー形成用粉末は該酸化剤によって溶解可能な粉末であ
ることが好ましい。これにより,アンカー形成用粉末の
溶解除去が容易となり,層間絶縁層の粗化表面にアンカ
ー形成用粉末が残るおそれはない。かかるアンカー形成
用粉末としては,例えば,炭酸カルシウム微粉末,エポ
キシ系樹脂微粉末,銅微粉末シリカ超微粉末等を用いる
ことができる。上記酸化剤としては,クロム酸,塩酸等
がある。
【0021】また,請求項2に記載のように,上記ホー
ル成形用柱を配置する際に,少なくとも表面に離型剤を
含有し,電子部品搭載用凹部を形成するためのキャビテ
ィ形成部材を,上記電子部品搭載用凹部の形成位置に配
置し,該キャビティ形成部材は上記金属層形成後に取り
去ることが好ましい。これにより,多層プリント配線板
に電子部品搭載用凹部を容易に形成することができる。
また,キャビティ形成部材の表面は離型剤を含有してい
るため,キャビティ形成部材の電子部品搭載用凹部から
の除去が容易である。また,電子部品搭載用凹部の仕上
がりもよい。
ル成形用柱を配置する際に,少なくとも表面に離型剤を
含有し,電子部品搭載用凹部を形成するためのキャビテ
ィ形成部材を,上記電子部品搭載用凹部の形成位置に配
置し,該キャビティ形成部材は上記金属層形成後に取り
去ることが好ましい。これにより,多層プリント配線板
に電子部品搭載用凹部を容易に形成することができる。
また,キャビティ形成部材の表面は離型剤を含有してい
るため,キャビティ形成部材の電子部品搭載用凹部から
の除去が容易である。また,電子部品搭載用凹部の仕上
がりもよい。
【0022】
【発明の実施の形態】本発明の実施形態例にかかる多層
プリント配線板の製造方法について,図1〜図12を用
いて説明する。本例により製造される多層プリント配線
板8は,図1に示すごとく,絶縁基板3上に第1導体回
路層51と層間絶縁層6と第2導体回路層52とを交互
にビルトアップしたものである。層間絶縁層6には,第
1導体回路層51に達するバイアホール53が設けられ
ている。また,層間絶縁層6には,電子部品を搭載する
ための電子部品搭載用凹部65が形成されている。
プリント配線板の製造方法について,図1〜図12を用
いて説明する。本例により製造される多層プリント配線
板8は,図1に示すごとく,絶縁基板3上に第1導体回
路層51と層間絶縁層6と第2導体回路層52とを交互
にビルトアップしたものである。層間絶縁層6には,第
1導体回路層51に達するバイアホール53が設けられ
ている。また,層間絶縁層6には,電子部品を搭載する
ための電子部品搭載用凹部65が形成されている。
【0023】次に,上記多層プリント配線板の製造方法
について,図2〜図12を用いて説明する。まず,図2
に示すごとく,絶縁基板3の表面に第1導体回路層51
を形成する。絶縁基板3としては,例えば,ガラスエポ
キシ等の樹脂基板を用いる。第1導体回路層51は,銅
箔等を用いて,サブトラクティブ法等により形成する。
次いで,図3に示すごとく,第1導体回路層51におけ
るバイアホール形成位置に,ホール成形用柱1を配置す
る。
について,図2〜図12を用いて説明する。まず,図2
に示すごとく,絶縁基板3の表面に第1導体回路層51
を形成する。絶縁基板3としては,例えば,ガラスエポ
キシ等の樹脂基板を用いる。第1導体回路層51は,銅
箔等を用いて,サブトラクティブ法等により形成する。
次いで,図3に示すごとく,第1導体回路層51におけ
るバイアホール形成位置に,ホール成形用柱1を配置す
る。
【0024】ホール成形用柱1は,図11に示すごと
く,平滑面10を有する,直径0.2mmの円柱であ
る。ホール成形用柱1は,アクリル系樹脂等の感光性樹
脂と離型剤との混合物を,絶縁基板3の上に供給し,こ
れを露光,現像することによって形成する。離型剤とし
ては,低分子量四フッ化エチレン樹脂を用いる。
く,平滑面10を有する,直径0.2mmの円柱であ
る。ホール成形用柱1は,アクリル系樹脂等の感光性樹
脂と離型剤との混合物を,絶縁基板3の上に供給し,こ
れを露光,現像することによって形成する。離型剤とし
ては,低分子量四フッ化エチレン樹脂を用いる。
【0025】また,図3に示すごとく,絶縁基板3上に
おける電子部品搭載用凹部の形成位置に,電子部品搭載
用凹部を形成するためのキャビティ形成部材2を配置す
る。キャビティ形成部材2は,図12に示すごとく,離
型剤230を有する耐熱再剥離フィルムNT75(商品
名,パナック株式会社製,厚み75μm程度)を用い
て,電子部品搭載用凹部の形状に加工したものである。
おける電子部品搭載用凹部の形成位置に,電子部品搭載
用凹部を形成するためのキャビティ形成部材2を配置す
る。キャビティ形成部材2は,図12に示すごとく,離
型剤230を有する耐熱再剥離フィルムNT75(商品
名,パナック株式会社製,厚み75μm程度)を用い
て,電子部品搭載用凹部の形状に加工したものである。
【0026】次いで,図4に示すごとく,ホール成形用
柱1の側壁を取り巻くようにして,第1導体回路層51
の表面に層間絶縁層6を形成する。ホール成形用柱1の
頂部17は,層間絶縁層6の表面より突出させる。
柱1の側壁を取り巻くようにして,第1導体回路層51
の表面に層間絶縁層6を形成する。ホール成形用柱1の
頂部17は,層間絶縁層6の表面より突出させる。
【0027】上記層間絶縁層6を形成するに当たって
は,フェノールノボラック型エポキシ樹脂100重量
部,イミダゾール5重量部からなる原材料を混練し,ブ
チルセロソルブアセテートを10重量%添加する。そし
て,この混合物をホモディスバーにより攪拌した後,3
本ローラで混練する。この樹脂混練物を絶縁基板3の表
面全体に塗布・硬化する。この際,ホール成形用柱1の
頂部17を露出させるようにする。
は,フェノールノボラック型エポキシ樹脂100重量
部,イミダゾール5重量部からなる原材料を混練し,ブ
チルセロソルブアセテートを10重量%添加する。そし
て,この混合物をホモディスバーにより攪拌した後,3
本ローラで混練する。この樹脂混練物を絶縁基板3の表
面全体に塗布・硬化する。この際,ホール成形用柱1の
頂部17を露出させるようにする。
【0028】次いで,図5に示すごとく,ホール成形用
柱1を取り去って,層間絶縁層6に第1導体回路層51
に達する開口穴60を形成する。ホール成形用柱1を取
り去るに当たっては,超音波振動をかけながら,上記絶
縁基板3を,感光性樹脂溶解液(塩化メチル溶液)に3
分間浸漬する。これにより,ホール成形用柱が除去され
て,内径0.2mmの開口穴60が形成される。
柱1を取り去って,層間絶縁層6に第1導体回路層51
に達する開口穴60を形成する。ホール成形用柱1を取
り去るに当たっては,超音波振動をかけながら,上記絶
縁基板3を,感光性樹脂溶解液(塩化メチル溶液)に3
分間浸漬する。これにより,ホール成形用柱が除去され
て,内径0.2mmの開口穴60が形成される。
【0029】次いで,図6に示すごとく,層間絶縁層6
の上面及び開口穴の中に,アンカー形成用粉末4を載置
し,その上方から押圧板45により押圧し,加熱する。
これにより,層間絶縁層6を軟化させて,アンカー形成
用粉末4を層間絶縁層6の表面に埋設する。
の上面及び開口穴の中に,アンカー形成用粉末4を載置
し,その上方から押圧板45により押圧し,加熱する。
これにより,層間絶縁層6を軟化させて,アンカー形成
用粉末4を層間絶縁層6の表面に埋設する。
【0030】アンカー形成用粉末4は,溶剤によって溶
解可能な炭酸カルシウム微粉末である。次いで,図7に
示すごとく,押圧板45を取り去った後,層間絶縁層6
に埋設しなかったアンカー形成用粉末4を除去する。
解可能な炭酸カルシウム微粉末である。次いで,図7に
示すごとく,押圧板45を取り去った後,層間絶縁層6
に埋設しなかったアンカー形成用粉末4を除去する。
【0031】次いで,溶剤である塩酸水溶液に,上記絶
縁基板3を浸漬する。これにより,アンカー形成用粉末
4を溶解除去して,図8に示すごとく,層間絶縁層6に
粗化表面62を形成するとともに,開口穴60の粗化内
壁面61を形成する。なお,かかる粗化処理が施された
絶縁基板には,ドリル等により,必要に応じて貫通スル
ーホール形成用の貫通穴を穿設する。
縁基板3を浸漬する。これにより,アンカー形成用粉末
4を溶解除去して,図8に示すごとく,層間絶縁層6に
粗化表面62を形成するとともに,開口穴60の粗化内
壁面61を形成する。なお,かかる粗化処理が施された
絶縁基板には,ドリル等により,必要に応じて貫通スル
ーホール形成用の貫通穴を穿設する。
【0032】次いで,図9に示すごとく,スクリーン印
刷法により,感光性樹脂を塗布し,層間絶縁層6の表面
における第2導体回路層を形成しない部分を露光し,硬
化させることにより,無電解めっき用のレジスト膜7を
形成する。次いで,上記絶縁基板3をパラジウム─スズ
コロイド触媒溶液で処理して,層間絶縁層6におけるレ
ジスト非形成部分に触媒核を形成する。
刷法により,感光性樹脂を塗布し,層間絶縁層6の表面
における第2導体回路層を形成しない部分を露光し,硬
化させることにより,無電解めっき用のレジスト膜7を
形成する。次いで,上記絶縁基板3をパラジウム─スズ
コロイド触媒溶液で処理して,層間絶縁層6におけるレ
ジスト非形成部分に触媒核を形成する。
【0033】次いで,図10に示すごとく,層間絶縁層
6の粗化表面62及び開口穴60の粗化内壁面61に,
無電解銅めっき法により,金属層5を形成する。これに
より,層間絶縁層6の表面には第2導体回路層52を,
開口穴60にはバイアホール53を形成する。なお,金
属層5は,めっき法の他に,スパッタリング,蒸着,ペ
ースト塗布によっても形成できる。その後,キャビティ
形成部材2及び不要であれば感光性レジスト膜7を除去
する。以上により,図1に示す多層プリント配線板8を
得る。
6の粗化表面62及び開口穴60の粗化内壁面61に,
無電解銅めっき法により,金属層5を形成する。これに
より,層間絶縁層6の表面には第2導体回路層52を,
開口穴60にはバイアホール53を形成する。なお,金
属層5は,めっき法の他に,スパッタリング,蒸着,ペ
ースト塗布によっても形成できる。その後,キャビティ
形成部材2及び不要であれば感光性レジスト膜7を除去
する。以上により,図1に示す多層プリント配線板8を
得る。
【0034】次に,本例の作用効果について説明する。
本例においては,図4に示すごとく,第1導体回路層5
1の表面に,ホール成形用柱1の側壁を取り巻くように
して層間絶縁層6を形成している。そのため,ホール成
形用柱1の頂部17は層間絶縁層6により被覆されず,
露出する。それ故,層間絶縁層6を研磨することなく,
ホール成形用柱1を取り去ることができる。
本例においては,図4に示すごとく,第1導体回路層5
1の表面に,ホール成形用柱1の側壁を取り巻くように
して層間絶縁層6を形成している。そのため,ホール成
形用柱1の頂部17は層間絶縁層6により被覆されず,
露出する。それ故,層間絶縁層6を研磨することなく,
ホール成形用柱1を取り去ることができる。
【0035】また,図7に示すごとく,ホール成形用柱
を取り去った跡である開口穴60の内壁,及び層間絶縁
層6の表面には,アンカー形成用粉末4を埋設し,その
後アンカー形成用粉末4を溶解除去している。そのた
め,図8に示すごとく,開口穴60には粗化表面61
が,層間絶縁層6には粗化表面62が形成されて,これ
らの表面にはアンカー形成用粉末が残らない。
を取り去った跡である開口穴60の内壁,及び層間絶縁
層6の表面には,アンカー形成用粉末4を埋設し,その
後アンカー形成用粉末4を溶解除去している。そのた
め,図8に示すごとく,開口穴60には粗化表面61
が,層間絶縁層6には粗化表面62が形成されて,これ
らの表面にはアンカー形成用粉末が残らない。
【0036】また,層間絶縁層6の内部にも,アンカー
形成用粉末等の異物が存在しない。従って,層間絶縁層
6が,異物との熱膨張差によって劣化することはなく,
耐久性に優れている。しかも,極めて低価格でありなが
ら,その含有により耐湿性に問題を残す炭酸カルシウム
微粉末をアンカー形成用粉末4として使うことができ
る。
形成用粉末等の異物が存在しない。従って,層間絶縁層
6が,異物との熱膨張差によって劣化することはなく,
耐久性に優れている。しかも,極めて低価格でありなが
ら,その含有により耐湿性に問題を残す炭酸カルシウム
微粉末をアンカー形成用粉末4として使うことができ
る。
【0037】また,図6に示すごとく,層間絶縁層6の
表面及び開口穴60の内壁に対して,アンカー形成用粉
末4を配置し,これを押圧,加熱している。そのため,
層間絶縁層6の表面及び開口穴60の内壁に,均一な厚
みにアンカー形成用粉末4が埋設される。そのため,図
7に示すごとく,アンカー形成用粉末の除去により,層
間絶縁層6の表面には粗化表面62が,また開口穴60
の内壁には粗化内壁面61が,均一な厚みに形成され
る。
表面及び開口穴60の内壁に対して,アンカー形成用粉
末4を配置し,これを押圧,加熱している。そのため,
層間絶縁層6の表面及び開口穴60の内壁に,均一な厚
みにアンカー形成用粉末4が埋設される。そのため,図
7に示すごとく,アンカー形成用粉末の除去により,層
間絶縁層6の表面には粗化表面62が,また開口穴60
の内壁には粗化内壁面61が,均一な厚みに形成され
る。
【0038】従って,図10に示すごとく,層間絶縁層
6の粗化表面62と金属層5との間,及び開口穴60の
粗化内壁面61と金属層5との間に,アンカー効果によ
って,均一な密着力が得られ,金属層の剥離を防止でき
る。また,従来のような上記平行研磨装置は必要としな
いため,低コストで多層プリント配線板8を製造するこ
とができる。
6の粗化表面62と金属層5との間,及び開口穴60の
粗化内壁面61と金属層5との間に,アンカー効果によ
って,均一な密着力が得られ,金属層の剥離を防止でき
る。また,従来のような上記平行研磨装置は必要としな
いため,低コストで多層プリント配線板8を製造するこ
とができる。
【0039】
【発明の効果】本発明によれば,バイアホール形成用の
開口穴の内壁及び層間絶縁層の表面を容易かつ低コスト
で粗化することができ,層間絶縁層の耐久性に優れた,
多層プリント配線板の製造方法を提供することができ
る。
開口穴の内壁及び層間絶縁層の表面を容易かつ低コスト
で粗化することができ,層間絶縁層の耐久性に優れた,
多層プリント配線板の製造方法を提供することができ
る。
【図1】実施形態例における,多層プリント配線板の断
面図。
面図。
【図2】実施形態例における,第1導体回路層を形成し
た絶縁基板の説明図。
た絶縁基板の説明図。
【図3】実施形態例における,ホール成形用柱及びキャ
ビティ形成部材を配置した絶縁基板の説明図。
ビティ形成部材を配置した絶縁基板の説明図。
【図4】実施形態例における,表面に層間絶縁層を形成
した絶縁基板の説明図。
した絶縁基板の説明図。
【図5】実施形態例における,ホール成形用柱を取り去
った絶縁基板の説明図。
った絶縁基板の説明図。
【図6】実施形態例における,アンカー形成用粉末を押
圧,加熱する方法を示す説明図。
圧,加熱する方法を示す説明図。
【図7】実施形態例における,アンカー形成用粉末を埋
設した層間絶縁層を示す説明図。
設した層間絶縁層を示す説明図。
【図8】実施形態例における,粗化表面を形成した層間
絶縁層と,粗化内壁面を形成した開口穴とを示す説明
図。
絶縁層と,粗化内壁面を形成した開口穴とを示す説明
図。
【図9】実施形態例における,表面にレジスト膜を形成
した層間絶縁層の説明図。
した層間絶縁層の説明図。
【図10】実施形態例における,金属層を被覆した層間
絶縁層の説明図。
絶縁層の説明図。
【図11】実施形態例における,ホール成形用柱の斜視
図。
図。
【図12】実施形態例における,離型剤を混合したキャ
ビティ形成部材を示す説明図。
ビティ形成部材を示す説明図。
【図13】従来例における,多層プリント配線板の製造
方法の問題点を示す説明図。
方法の問題点を示す説明図。
【図14】従来例における,粗化処理を施した絶縁基板
の説明図。
の説明図。
【図15】従来例における,多層プリント配線板の断面
図。
図。
1,,,ホール成形用柱, 10...平滑面, 230...離型剤, 2...キャビティ形成部材, 3...絶縁基板, 51...第1導体回路層, 52...第2導体回路層, 53...バイアホール, 6...層間絶縁層, 60...開口穴, 61...粗化内壁面, 62...粗化表面, 7...レジスト膜, 8...多層プリント配線板,
Claims (2)
- 【請求項1】 絶縁基板上に導体回路層と層間絶縁層と
を交互にビルトアップして,バイアホールを有する多層
プリント配線板を製造するに当たり,上記絶縁基板に第
1導体回路層を形成し,次いで,該第1導体回路層にお
けるバイアホール形成位置に,少なくとも表面に離型剤
を含有するホール成形用柱を配置し,次いで,上記ホー
ル成形用柱の頂部を露出させた状態で,上記ホール成形
用柱の側壁を取り巻くようにして,上記第1導体回路層
の表面に上記層間絶縁層を形成し,次いで,上記ホール
成形用柱を取り去って第1導体回路層に達する開口穴を
形成し,次いで,上記層間絶縁層の上面及び上記開口穴
内にアンカー形成用粉末を配置し,次いで,押圧,加熱
して,上記アンカー形成用粉末を層間絶縁層の表面及び
上記開口穴の内壁面に埋設し,次いで,溶剤を用いて上
記アンカー形成用粉末を溶解除去することにより,層間
絶縁層の表面を粗化表面となすと共に上記開口穴の内壁
面を粗化内壁面となし,その後,層間絶縁層の粗化表面
及び開口穴の粗化内壁面を金属層により被覆して,第2
導体回路層及びバイアホールを形成することを特徴とす
る多層プリント配線板の製造方法。 - 【請求項2】 請求項1において,上記ホール成形用柱
を配置する際に,少なくとも表面に離型剤を含有し,電
子部品搭載用凹部を形成するためのキャビティ形成部材
を,上記電子部品搭載用凹部の形成位置に配置し,該キ
ャビティ形成部材は上記金属層形成後に取り去ることを
特徴とする多層プリント配線板の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11191796A JPH09283932A (ja) | 1996-04-08 | 1996-04-08 | 多層プリント配線板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11191796A JPH09283932A (ja) | 1996-04-08 | 1996-04-08 | 多層プリント配線板の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09283932A true JPH09283932A (ja) | 1997-10-31 |
Family
ID=14573360
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11191796A Pending JPH09283932A (ja) | 1996-04-08 | 1996-04-08 | 多層プリント配線板の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09283932A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008112996A (ja) * | 2006-10-27 | 2008-05-15 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | 印刷回路基板の製造方法 |
| WO2010140214A1 (ja) * | 2009-06-02 | 2010-12-09 | ソニーケミカル&インフォメーションデバイス株式会社 | 多層プリント配線板の製造方法 |
| WO2011037260A1 (ja) * | 2009-09-28 | 2011-03-31 | 京セラ株式会社 | 構造体およびその製造方法 |
| JPWO2009069683A1 (ja) * | 2007-11-30 | 2011-04-14 | ソニーケミカル&インフォメーションデバイス株式会社 | 多層プリント配線板の製造方法 |
-
1996
- 1996-04-08 JP JP11191796A patent/JPH09283932A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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