JPH09321594A - 半導体素子駆動回路 - Google Patents

半導体素子駆動回路

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JPH09321594A
JPH09321594A JP8158908A JP15890896A JPH09321594A JP H09321594 A JPH09321594 A JP H09321594A JP 8158908 A JP8158908 A JP 8158908A JP 15890896 A JP15890896 A JP 15890896A JP H09321594 A JPH09321594 A JP H09321594A
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semiconductor element
signal
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control signal
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JP8158908A
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Shogo Sugawara
章吾 菅原
Takashi Sano
尚 佐野
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Toyo Electric Manufacturing Ltd
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Toyo Electric Manufacturing Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】インバ−タ等を構成する半導体素子がオフした
直後に電位変動が生じる期間、フォトカプラ等の誤動作
による直流短絡を防止し得る半導体素子駆動回路を提供
するものである。 【解決手段】制御信号絶縁部,バッファ部,駆動部およ
びオフ信号ラッチ回路からなるとともに、駆動回路電源
とは別の制御電源より半導体素子をオフさせる信号が伝
達された際、伝達された瞬間より所定の期間、オフ信号
ラッチ回路にて駆動部から半導体素子をオフさせる出力
が継続して動作する如くに、してなるものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、特に電力変換装置
に用いられる半導体素子の駆動回路に、関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】近年、電力用半導体素子の開発が盛んに
進められ、家電製品から産業用電機品,鉄道用電機品
等、あらゆる分野にて電力変換技術の応用が行われてい
る。バイポ−ラトランジスタ,MOSFET,IGBT
に代表される半導体素子を制御するためには、電力変換
装置全体を制御する制御回路のほか、各々の半導体素子
の特性に合わせた駆動回路が必要である。その駆動回路
においては、バイポ−ラトランジスタはベ−スに電流信
号を印加し、MOSFET,IGBTはゲ−トに電圧信
号を印加することにより、それぞれ駆動することができ
る。これを、図5および図6により、説明する。
【0003】図5は従来例の半導体素子駆動回路を示
し、1は半導体素子、2は駆動回路、3は制御回路であ
る。ここに、駆動回路2において21は制御信号絶縁部、
22はバッファ部、23は駆動部である。図5においては、
IGBT例の半導体素子1を駆動するための駆動回路2
および制御回路3から構成される。その駆動回路2は、
制御信号絶縁部21にて制御回路3からの制御信号DRを
受け取り絶縁して出力し、バッファ部22にて絶縁された
制御信号を受け増幅して後段に伝達し、駆動部23にて半
導体素子1の駆動信号を得て信号発生する如く、構成さ
れている。
【0004】図6はインバータ回路に適用された一相分
の構成例を示し、1P,1Nは半導体素子、2P,2N
は駆動回路、3’は制御回路、4は直流電源、5P,5
Nは半導体素子1P,1Nに逆並列に接続されたダイオ
−ドである。すなわち、直流電源4に半導体素子1P,
1Nの直列回路が接続され、半導体素子1P,1Nの接
続点より負荷に交流電力が供給される構成をなすととも
に、制御回路3’からの制御信号DRp,DRnを受け
る駆動回路2P,2Nによって半導体素子1P,1Nの
電力変換が行われるものである。そのインバータ回路の
制御方法については公知の技術であるため、ここでは説
明を省略する。
【0005】さて、半導体素子1P,1Nは両方が同時
に導通状態になってしまうと、直流短絡となって直流電
源4から短絡過電流が流れてしまう。そのため制御回路
3’においては、半導体素子1Pから半導体素子1N
(もしくは半導体素子1Nから半導体素子1P)に導通
させる半導体素子を変化させる場合に、両方の素子が一
時的にオフ状態となるモードを経て変化させるのが、一
般的な制御信号の出し方である。この一時的に両方オフ
状態にさせている時間のことを、一般的にデッドタイム
と称している。
【0006】デッドタイムを含んだ制御信号と制御信号
による各半導体素子両端のエミッタ−コレクタ電圧Vec
の変化は、図7および図8に示した2種類に大別でき
る。ここで、図7,図8ともに、半導体素子1Pがオン
からオフに変化した後に、半導体素子1Nがオフからオ
ンに変化するタイミングのものであって、DRp,DR
nは図6における制御回路3’出力の制御信号、VPe
c,VNecは半導体素子1P,1Nのエミッタ−コレク
タ電圧、DT1 ,DT2 はデッドタイム、S631 ,S73
1 は後述するフォトカプラの誤動作出力である。すなわ
ち、図7において半導体素子1Pに電流が流れている状
態にて半導体素子1Pをオフさせた場合、半導体素子1
Pのオフと同時にVPecの変化が生じている。そして、
既に半導体素子1PのオフによりVPecが変化している
ため、半導体素子1Nがオンしたときには、見かけ上、
VPecの変化は生じない。また、図8においてダイオー
ド5Pに電流が流れている状態にて半導体素子1Pをオ
フした場合、ダイオード5Pに電流が流れている状態で
半導体素子1Pをオフしても電流の経路の変化が生じな
いため、このタイミングではVPecの変化は生じなく、
つぎの半導体素子1NのオンによりVPecの変化が生ず
る。
【0007】
【発明が解決しようする課題】この種の従来技術におい
ては、図6に示されるインバ−タ回路の適用における図
7,図8に示したような制御信号が伝達されると、VP
ecの変化により電位の変動を生ずる。すなわち、半導体
素子1Pがオフして半導体素子1Nがオンすることによ
り、半導体素子1Pのエミッタ側の電位が直流電源の正
極性側から負極性側へと変化する。ここで、半導体素子
の駆動回路はエミッタ側に接続されており、エミッタを
基準としてゲ−トを駆動している。そのため、半導体素
子自身の電位が変化すると、当然、駆動回路の電位も変
化することになる。一方、制御回路の電位は半導体素子
とは絶縁された電位にあって、半導体素子1Pの電位の
変動があっても、制御回路側の電位は変動しない。その
ため、半導体素子1Pに電位の変動が生じた場合に、そ
の影響を受ける部分は駆動回路内の制御信号絶縁部とな
る。
【0008】一般的に、駆動回路内の制御信号絶縁部
は、実用上、フォトカプラやパルストランスを用いて構
成されている。特にフォトカプラは、小型,安価であっ
て、一次側のダイオ−ドに微少電流を流すだけで制御で
きるために、多用されている。しかしながら、図6の如
き駆動回路内の制御信号絶縁部にフォトカプラが用いら
れたとき、前述の半導体素子の電位変動が生じた際に誤
動作を生じる場合がある。その誤動作を示す例が、図
7,図8のP側ゲート信号に図示されるフォトカプラの
誤動作出力S631 ,S731 である。これは、半導体素子
1Pの電位が直流電源の負極性側から正極性側に変化し
ていく最中に、制御回路にて半導体素子1Pにはオフ状
態の信号を出し続けているにも係わらず、フォトカプラ
の誤動作のため、制御信号とは無関係にバッファ部に半
導体素子をオンさせる信号を伝達してしまう、ことにあ
る。
【0009】図7の場合には半導体素子1Nがオフ状態
であるため直流短絡は起こさないものの、図8の場合に
は、半導体素子1Nのオン動作状態で半導体素子1Pが
制御信号とは無関係にオンするため、両方の半導体素子
がオン状態になってしまい、直流短絡状態となって直流
電源より過電流が流れてしまう。これより、過電流が流
れたところでフォトカプラの誤動作が終了し、半導体素
子1Pは再びオフ状態になるため、過電流を遮断するこ
とになる。かようにして、過電流を急激に遮断するため
に回路内のインダクタンスによる過大な逆起電力が発生
し、しかも、半導体素子1Pの耐圧を越える電圧となっ
て半導体素子1Pを破壊にさせてしまう。さらには、半
導体素子1Pが破壊してしまうと、インバータ自身は当
然機能しなくなってしまうだけでなく、負荷側あるいは
電源側にも損害を与えてしまう。なお、制御回路や駆動
回路の内部に半導体素子の過電流を検出して、過電流状
態になったとき半導体素子の遮断速度を遅くすることに
より、過電流時の保護を行える構成の場合でも、前述し
たようなフォトカプラの誤動作による短時間の短絡およ
び遮断動作には通常対応できず、保護しきれない。
【0010】しかして本発明の目的とするところは、制
御回路から正規には出力されないタイミングにオフ出力
を与えて直流短絡を防ぐようにした格別な半導体素子駆
動回路を提供する、ことにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は上述したような
点に鑑みなされたものであって、つぎの如くに構成した
ものである。すなわち、第1に、制御信号絶縁部,バッ
ファ部,駆動部およびオフ信号ラッチ回路からなるとと
もに、駆動回路電源とは別の制御信号源より半導体素子
をオフさせる信号が伝達された際、伝達された瞬間より
所定の期間、オフ信号ラッチ回路にて駆動部から半導体
素子をオフさせる出力が継続して動作する如くに、して
なるものである。第2に、さらには信号が伝達された瞬
間より半導体素子の主回路電位の変動が終了するまでの
期間、駆動部から半導体素子をオフさせる出力を継続す
るようにしたものである。第3に、さらには信号が伝達
された瞬間よりオフ信号ラッチ回路の内部にて予め設定
された期間、駆動部から半導体素子をオフさせる出力を
継続するようにしたものである。
【0012】かかる解決手段により、駆動回路にオフ信
号が伝達された直後より、半導体素子のVecの変化が終
了するまでの期間またはデッドタイムより制御回路から
はつぎのオン信号が出力されるはずのない期間、制御信
号絶縁部より出力される信号を一時的にカットし、制御
信号絶縁部がオン信号を出したとしても、そのオン信号
は誤動作によるものとして無視することにより、駆動部
出力はオフ状態を続ける。よって、制御信号絶縁部から
出力されたオン信号のうち制御回路から正規には出され
るはずの無いタイミングのものだけをを無視して、駆動
部はオフ出力を続けるため、直流短絡状態になることを
防ぐことができる。
【0013】
【発明の実施の形態】図1は本発明による一実施例を図
5に類して示したものであって、6は駆動回路である。
駆動回路6において、61は駆動部、62はバッファ部、63
は制御信号絶縁部、64はオフ信号ラッチ回路である。す
なわち、駆動回路6内にさらにオフ信号ラッチ回路64
を、図示の如く具備した構成になっている。このオフ信
号ラッチ回路64は、制御信号絶縁部63がオフ信号を出し
た瞬間にラッチ動作を開始し、駆動部61を制御信号絶縁
部63出力に係わらず強制的にオフ動作出力とし、さら
に、半導体素子のVecの監視より半導体素子がオフ動作
を完了してエミッタ−コレクタ間に阻止すべき電圧が印
加されたことを検出し、駆動部61のオフ動作出力の状態
を強制的に解除して制御信号絶縁部63からの出力信号に
て動作するようにするものである。これを、さらに図2
を参照して説明する。
【0014】図2は図1のオフ信号ラッチ回路の具体例
を示す。図2にあって、駆動部61において 611, 612は
トランジスタであり、制御信号絶縁部63において 631は
フォトカプラ, 632は抵抗である。オフ信号ラッチ回路
64において、 641a, 647c, 648aはインバ−タゲ−
ト、641b, 645, 647b, 648bは抵抗、 641c, 64
8cはコンデンサ、 642,643, 644, 649はNANDゲ
−ト、 646はトランジスタ、 647aはダイオ−ドであ
る。ここに、図示の+は駆動回路の制御電源の正側に,
−は負側に接続されているものとする。
【0015】図2においては、制御信号絶縁部63にてフ
ォトカプラ 631の一次側のダイオ−ドに電流を流してい
るときがオン信号とすると、制御信号絶縁部63出力はオ
ン信号で「L」,オフ信号で「H」となる。オフ信号ラ
ッチ回路64にて、インバ−タゲ−ト 641a,NANDゲ
−ト 642,抵抗 641b,コンデンサ 641cは、抵抗 641
bおよびコンデンサ 641cの積分回路を利用した微分回
路となっており、制御信号絶縁部63出力が「L」から
「H」に変化したときにNANDゲ−ト 642は負極性の
パルスを出す。NANDゲ−ト 643, 644はR−Sフリ
ップフロップ構成のラッチ回路であって、NANDゲ−
ト 642が負極性のパルスを出したときにセットされNA
NDゲ−ト 643出力は「H」となり、抵抗 645を介して
トランジスタ 646が導通する。ここで、R−Sフリップ
フロップは一度セットされると、NANDゲ−ト 644に
リセット信号が入らない限り出力は変化しない。トラン
ジスタ 646が導通すると、駆動部61のトタンジスタ 611
はオフしてトランジスタ 612はオンとなり、その結果、
半導体素子1のゲ−トはオフバイアスされた状態とな
る。
【0016】さらに図2のオフ信号ラッチ回路64にて、
ダイオード 647aは主回路電圧を阻止する能力を有する
ものであって、半導体素子1のエミッタ−コレクタ間に
電圧をもっていないときに導通し、電圧があるときには
は阻止状態となる。ダイオード 647aが導通状態にある
ときインバ−タゲ−ト 647cの入力は「L」であって、
阻止状態にあるときは抵抗 647bを介し「H」となる。
すなわち、半導体素子1が電圧を有しているとき
「H」,電圧をもっていないとき「L」である。制御信
号絶縁部63からのオフ信号により半導体素子1がオフし
てエミッタ−コレクタ間に電圧をもつと、インバ−タゲ
−ト 647cの出力は「H」から「L」に変化する。イン
バ−タゲ−ト 648a,抵抗 648b,コンデンサ 648c,
NANDゲ−ト 649も抵抗 648bおよびコンデンサ 648
cの積分回路を利用した微分回路であって、インバ−タ
ゲ−ト 647cの出力が「H」から「L」に変化した瞬間
に、NANDゲ−ト 649より負極性のパルスが出力され
る。NANDゲ−ト 644に負極性のパルスが入力される
と、R−Sフリップフロップはリセットされて、NAN
Dゲ−ト 643出力は「H」から「L」に変化し、駆動部
61は、バッファ部62の信号のみによって制御されるよう
になる。
【0017】つぎに、図3は本発明による他の実施例を
図1に類して示したものであって、7は駆動回路であ
る。駆動回路7において、71は駆動部、72はバッファ
部、73は制御信号絶縁部、74はオフ信号ラッチ回路であ
る。すなわち、駆動回路7も駆動回路6と同様に、さら
にオフ信号ラッチ回路74を具備している。そのオフ信号
ラッチ回路74は、前述のオフ信号ラッチ回路64と動作の
相違点は、半導体素子1のコレクタ−エミッタ間の電圧
を検出せず、制御信号絶縁部73からのオフ信号を検出し
て制御信号絶縁部73よりオフ信号が出力された瞬間から
一定期間、駆動部71を制御信号絶縁部73の信号に係わら
ず、オフ動作出力にするようにしたことである。ここに
おける一定期間とは、制御回路から駆動回路につぎのオ
ン指令信号が出力されるまでの期間をいう。さて、前述
のようにP側とN側の制御信号はデッドタイムを有して
いる。一つの半導体素子を駆動する信号は一度オフ信号
を出したら、つぎのオン信号を出すまでには必ず2倍の
デッドタイムの期間を経過しなければならない。そこ
で、制御信号絶縁部73がオフ信号を出力してから、2倍
のデッドタイムの時間を経過しないうちにオン信号を出
力したら、それは、明らかに制御信号絶縁部73の誤動作
である。そのため、オフ信号ラッチ回路74は一度オフ信
号を検出したら、2倍のデッドタイム相当の期間、制御
信号絶縁部73の出力信号状態に係わらず、駆動部71をオ
フ状態に保ち、2倍のデッドタイムの時間が経過してか
ら、再び制御信号絶縁部73の出力信号によって駆動部71
が動作するように働くものとしている。これを、さらに
図4を参照して説明する。
【0018】図4は図3のオフ信号ラッチ回路の具体例
を示す。図4にあって、駆動部71および制御信号絶縁部
73は図2に示した駆動部61および制御信号絶縁部63と同
様である。またオフ信号ラッチ回路74において、 741は
ORゲ−ト、 742はインバ−タゲ−ト、 743ダイオ−
ド、 744, 747は抵抗、 745はコンデンサ、 746はAN
Dゲ−ト、 748はトランジスタである。ここに、図示の
+は駆動回路の制御電源の正側に,−は負側に接続され
ているものとする。
【0019】図4において制御信号絶縁部73の出力極性
は図3と同様とする。いま、半導体素子1をオフさせる
信号が制御信号絶縁部73より出力されると、ORゲ−ト
741のフォトカプラ 731側の入力は、「L」から「H」
になる。ここで、ANDゲ−ト 746はORゲ−ト 741出
力およびその反転出力が入力されているために定常的な
出力が「L」であって、そのため、ORゲ−ト 741出力
も「L」から「H」に変化する。インバ−タゲ−ト 74
2,抵抗 744,コンデンサ 745,ANDゲ−ト 746は、
抵抗744,コンデンサ 745の積分回路を利用した微分回
路であって、ORゲ−ト 741出力が「L」から「H」に
変化に変化した際、正極性のパルスを出力する。なお、
ダイオード 743は積分回路のリセット動作を早くさせる
ためのものである。その抵抗 744,コンデンサ 745の時
定数を調整することにより、ANDゲ−ト746のパルス
の出力時間を2倍のデッドタイムとし得る、ことは明ら
かである。また、オフ信号ラッチ回路74の入力はAND
ゲ−ト 746出力により自己保持されているため、微分回
路の動作中に制御信号絶縁部73の出力が変化しても、そ
の影響は受けない。そして、ANDゲ−ト 746の出力が
正極性のパルスを出している期間、抵抗 747を介してト
ランジスタ 748hが導通し、駆動部71をオフ出力状態と
する。
【0020】なお、オフ信号ラッチ回路にて制御信号絶
縁部の誤った信号による駆動部の誤動作解消の例による
ものとしたが、制御信号絶縁部出力をバッファ部に伝達
しないようにするオフ信号ラッチ回路の構成としてもよ
く、本発明が適用されることは勿論である。また、イン
バータ回路だけでなく正弦波入力コンバータの駆動回路
であっても、同様の効果が得られることはいうまでもな
い。
【0021】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、半
導体素子のエミッタ−コレクタ電圧の変化により電位変
動が生じ、制御信号絶縁部が誤動作して誤ったオン信号
を出力しても駆動部に伝達されず、駆動部の動作は制御
回路の出力制御信号と同じとなって直流短絡状態にはな
り得ず半導体素子の破壊を防止可能となり、さらには、
半導体素子のスイッチング動作より電流を遮断したり電
位の変動が生じると、制御回路や制御回路から駆動回路
までの配線部分にノイズによる誤動作信号が混入してフ
ォトカプラの誤動作と同様な現象が生じても有効に動作
し得る実用効果の顕著な装置を、提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は本発明による一実施例を示すブロック図
である。
【図2】図2は図1のオフ信号ラッチ回路の具体例を示
す回路図である。
【図3】図3は本発明による他の実施例を示すブロック
図である。
【図4】図4は図2のオフ信号ラッチ回路の具体例を示
す回路図である。
【図5】図5は従来例の半導体素子駆動回路を示すブロ
ック図である。
【図6】図6はインバータ回路に適用された一相分の構
成例を示す回路図である。
【図7】図7は図6の動作波形の例を示す波形図であ
る。
【図8】図8は図6の動作波形の別な例を示す波形図で
ある。
【符号の説明】
1 半導体素子 2 駆動回路 21 制御信号絶縁部 22 バッファ部 23 駆動部 3 制御回路 4 直流電源 5 ダイオ−ド 6 駆動回路 61 駆動部 62 バッファ部 63 制御信号絶縁部 631 フォトカプラ 64 オフ信号ラッチ回路 641a インバ−タゲ−ト 641c NANDゲ−ト 646 トランジスタ 7 駆動回路 741 ORゲ−ト 745 ANDゲ−ト DR 制御信号 VPec エミッタ−コレクタ電圧 DT1 デッドタイム DT2 デッドタイム S631 フォトカプラの誤動作出力 S731 フォトカプラの誤動作出力

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 制御信号絶縁部、バッファ部、駆動部お
    よびオフ信号ラッチ回路からなる半導体素子駆動回路に
    おいて、 駆動回路電源とは別の制御信号源より半導体素子をオフ
    させる信号が伝達された際に該信号が伝達された瞬間よ
    り所定の期間、前記オフ信号ラッチ回路にて駆動部から
    半導体素子をオフさせる出力が継続するよう動作させる
    ようにしたことを特徴とする半導体素子駆動回路。
  2. 【請求項2】 前記信号が伝達された瞬間より半導体素
    子の主回路電位の変動が終了するまでの期間、前記駆動
    部から半導体素子をオフさせる出力が継続するようにし
    た請求項1記載の半導体素子駆動回路。
  3. 【請求項3】 前記信号が伝達された瞬間よりオフ信号
    ラッチ回路の内部にて予め設定された期間、前記駆動部
    から半導体素子をオフさせる出力が継続するようにした
    請求項1記載の半導体素子駆動回路。
JP8158908A 1996-05-30 1996-05-30 半導体素子駆動回路 Pending JPH09321594A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008278612A (ja) * 2007-04-27 2008-11-13 Fuji Electric Device Technology Co Ltd 絶縁トランスの駆動装置および電力変換装置
JP2010252421A (ja) * 2009-04-10 2010-11-04 Fuji Electric Systems Co Ltd 信号伝送回路及び電力変換装置

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